CN116359131A - 极片缺陷检测***的标定方法及极片缺陷检测*** - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种极片缺陷检测***的标定方法及极片缺陷检测***，属于视觉检测技术领域。所述***包括光源、图像采集装置和极片传送机构，所述方法包括：获取所述极片传送机构传送的所述极片的走料角度；基于所述走料角度，调整所述光源的安装位姿，以使所述光源的出光面垂直于所述极片所在的平面；通过所述图像采集装置获取所述光源的第一目标图像；基于所述第一目标图像中的所述第一靶点的像素信息，调整所述图像采集装置的安装位姿；通过所述图像采集装置获取所述极片传送机构传送的所述极片的第二目标图像；基于所述第二目标图像，调整所述图像采集装置的成像参数。该方法可以有效防止标定失效，提高检测精度。
Description
技术领域
本申请属于视觉检测技术领域，尤其涉及一种极片缺陷检测***的标定方法及极片缺陷检测***。
背景技术
锂电池极片在涂布辊压后，需要经过模切机切割出极耳形态，才能进行下一步工艺，在模切机切割锂电池极片时，需要对锂电池极片进行针孔检测和尺寸精度检测。
相关技术中，背光工位下直接对极片材料进行标定，更换其他型号的材料后标定失效，且使用材料标定完成后，若同型号的极片上料时发生左右偏移后，标定同样失效，导致极片尺寸的测量数据不准确，且人为调试过程容易出现误差，导致后续检测出现大范围的测量精度偏差。
发明内容
本申请旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本申请提出一种极片缺陷检测***的标定方法及极片缺陷检测***，可以有效防止标定失效，提高检测精度。
第一方面，本申请提供了一种极片缺陷检测***的标定方法，所述极片缺陷检测***包括光源、图像采集装置和极片传送机构，所述极片传送机构用于传送极片，所述光源位于所述极片的第一面，所述图像采集装置位于所述极片的第二面，所述极片缺陷检测***的标定方法包括：
获取所述极片传送机构传送的所述极片的走料角度；
基于所述走料角度，调整所述光源的安装位姿，以使所述光源的出光面垂直于所述极片所在的平面；
通过所述图像采集装置获取所述光源的第一目标图像，所述光源设有第一靶点；
基于所述第一目标图像中的所述第一靶点的像素信息，调整所述图像采集装置的安装位姿；
通过所述图像采集装置获取所述极片传送机构传送的所述极片的第二目标图像；
基于所述第二目标图像，调整所述图像采集装置的成像参数。
根据本申请的极片缺陷检测***的标定方法，通过调整光源和图像采集装置之间的相对位姿，调整图像采集装置的成像参数，标准化极片缺陷检测***的标定过程，在更换极片材料的情况下，标定不会失效，极片缺陷检测***的检测精度高。
根据本申请的一个实施例，所述极片传送机构还包括抚平组件，所述抚平组件包括两个夹持臂，所述极片与所述两个夹持臂中一个的内表面为同一平面，所述两个夹持臂之间夹持有透明基板，所述透明基板位于所述极片的第二面，所述透明基板设有第二靶点，所述第二目标图像包括所述第二靶点的像素信息。
根据本申请的一个实施例，所述第二靶点的像素信息包括过渡像素信息，所述基于所述第二目标图像，调整所述图像采集装置的成像参数，包括：
在确定所述第二目标图像中的所述过渡像素信息大于像素阈值的情况下，调整所述图像采集装置的成像参数。
根据本申请的一个实施例，所述第二靶点的像素信息包括极片尺寸精度信息，所述基于所述第二目标图像，调整所述图像采集装置的成像参数，包括：
在确定所述第二目标图像中的所述极片尺寸精度信息大于尺寸精度阈值的情况下，调整所述图像采集装置的成像参数。
根据本申请的一个实施例，所述第一靶点包括第一目标靶点和两个第二目标靶点，所述第一目标靶点位于所述光源的中心，所述两个第二目标靶点位于所述光源相对的两边，所述基于所述第一目标图像中的所述第一靶点的像素信息，调整所述图像采集装置的安装位姿，包括：
基于所述第一目标图像中的所述第一目标靶点和所述两个第二目标靶点的像素信息，调整所述图像采集装置的安装位姿，以使所述第一目标靶点的像素信息位于所述第一目标图像的中心位置，所述两个第二目标靶点的像素信息位于所述第一目标图像相对的边缘位置。
第二方面，本申请提供了一种极片缺陷检测***，该***包括：光源、图像采集装置和极片传送机构，所述极片传送机构用于传送极片，所述光源位于所述极片的第一面，所述图像采集装置位于所述极片的第二面；
控制器，控制器与所述光源、所述图像采集装置和所述极片传送机构电连接，所述控制器基于上述的极片缺陷检测***的标定方法，对所述极片缺陷检测***进行标定。
根据本申请的极片缺陷检测***，通过调整光源和图像采集装置之间的相对位姿，调整图像采集装置的成像参数，标准化极片缺陷检测***的标定过程，在更换极片材料的情况下，标定不会失效，极片缺陷检测***的检测精度高。
第三方面，本申请提供了一种极片缺陷检测***的标定装置，所述极片缺陷检测***包括光源、图像采集装置和极片传送机构，所述极片传送机构用于传送极片，所述光源位于所述极片的第一面，所述图像采集装置位于所述极片的第二面，所述极片缺陷检测***的标定装置包括：
第一获取模块，用于获取所述极片传送机构传送的所述极片的走料角度；
第一处理模块，用于基于所述走料角度，调整所述光源的安装位姿，以使所述光源的出光面垂直于所述极片所在的平面；
第二获取模块，用于通过所述图像采集装置获取所述光源的第一目标图像，所述光源设有第一靶点；
第二处理模块，用于基于所述第一目标图像中的所述第一靶点的像素信息，调整所述图像采集装置的安装位姿；
第三获取模块，用于通过所述图像采集装置获取所述极片传送机构传送的所述极片的第二目标图像；
第三处理模块，用于基于所述第二目标图像，调整所述图像采集装置的成像参数。
根据本申请的极片缺陷检测***的标定装置，通过调整光源和图像采集装置之间的相对位姿，调整图像采集装置的成像参数，标准化极片缺陷检测***的标定过程，在更换极片材料的情况下，标定不会失效，极片缺陷检测***的检测精度高。
第四方面，本申请提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述第一方面所述的极片缺陷检测***的标定方法。
第五方面，本申请提供了一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面所述的极片缺陷检测***的标定方法。
第六方面，本申请提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面所述的极片缺陷检测***的标定方法。
本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
附图说明
本申请的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1是本申请实施例提供的极片缺陷检测***的标定方法的流程示意图之一；
图2是本申请实施例提供的背光工位的结构示意图；
图3是本申请实施例提供的极片缺陷检测***的标定方法的流程示意图之二；
图4是本申请实施例提供的极片传送机构的结构示意图之一；
图5是本申请实施例提供的极片传送机构的结构示意图之二；
图6是本申请实施例提供的抚平机构的结构示意图；
图7是本申请实施例提供的极片缺陷检测装置的结构示意图；
图8是本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。
附图标记：
极片210，光源220，图像采集装置230，第一导辊241，第二导辊242，第一夹持臂251，第二夹持臂252，游标卡尺310，角度尺320。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
本申请的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施，且“第一”、“第二”等所区分的对象通常为一类，并不限定对象的个数，例如第一对象可以是一个，也可以是多个。此外，说明书以及权利要求中“和/或”表示所连接对象的至少其中之一，字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
下面结合图1-图8，通过具体的实施例及其应用场景对本申请实施例提供的极片缺陷检测***的标定方法、极片缺陷检测***、极片缺陷检测***的标定装置、电子设备和可读存储介质进行详细地说明。
其中，极片缺陷检测***的标定方法可应用于终端，具体可由，终端中的硬件或软件执行。
该终端包括但不限于具有触摸敏感表面(例如，触摸屏显示器和/或触摸板)的移动电话或平板电脑等便携式通信设备。还应当理解的是，在某些实施例中，该终端可以不是便携式通信设备，而是具有触摸敏感表面(例如，触摸屏显示器和/或触摸板)的台式计算机。
以下各个实施例中，描述了包括显示器和触摸敏感表面的终端。然而，应当理解的是，终端可以包括诸如物理键盘、鼠标和控制杆的一个或多个其它物理用户接口设备。
本申请实施例提供的极片缺陷检测***的标定方法，该极片缺陷检测***的标定方法的执行主体可以为电子设备或者电子设备中能够实现该极片缺陷检测***的标定方法的功能模块或功能实体，本申请实施例提及的电子设备包括但不限于手机、平板电脑、电脑、相机和可穿戴设备等，下面以电子设备作为执行主体为例对本申请实施例提供的极片缺陷检测***的标定方法进行说明。
本申请实施例中，极片缺陷检测***包括光源220、图像采集装置230和极片传送机构，极片传送机构用于传送极片210，光源220位于极片210的第一面，图像采集装置230位于极片210的第二面。
其中，光源220的种类可以包括多种，例如，光源220可以使用LED灯、白炽灯或荧光灯等。
图像采集装置230可以是不同种类的工业相机，例如，图像采集装置230可以是CCD(Charge Coupled Device)工业相机，也可以是CMOS(Complementary Metal OxideSemiconductor)工业相机。
工业相机相比于民用的相机而言，具有更高的图像稳定性，高传输能力和高抗干扰能力。
如图2所示，光源220位于极片210的第一面，图像采集装置230位于极片210的第二面，光源220和图像采集装置230分别位于极片210的两面，极片210不透光，光源220的出光面正对着图像采集装置230，图像采集装置230获取到极片210的图像
如图1所示，极片缺陷检测***的标定方法包括步骤110至步骤160。
步骤110、获取极片传送机构传送的极片210的走料角度。
其中，极片210的走料角度指的是极片210沿着极片传送机构运动时，极片210的走料平面与水平面的夹角。
在一些实施例中，极片传送机构可以包括传送带，极片210在传送带上运动，传送带所在平面即为走料平面，传送带与水平面之间的夹角即为走料角度，可以根据传送带的倾斜角度，确定极片210的走料角度。
在另一些实施例中，极片传送机构可以包括导辊组件，导辊组件包括至少两个导辊，导辊组件用于供极片210绕设。
例如，导辊组件可以包括第一导辊241和第二导辊242，极片210沿着不同方向绕导辊组件运动可以为如下至少一种。
如图4所示，第一种走料情况下，极片210布置于导辊组件两个导辊的同一端，例如，极片210布置于两个导辊的上端。在该实施例中，第一导辊241和第二导辊242的上端连线的平面为极片210的走料平面，可以通过角度尺320等测量工具测量走料平面与水平面之间的角度，即为走料角度，此时，测量角度与走料角度数值相等。
在实际执行中，可以使用游标卡尺310夹持其中一个导辊，以游标卡尺310的尺臂为走料平面，便于测量极片210的走料角度。
如图4所示，游标卡尺310夹持于第一导辊241的上端，游标卡尺310的尺臂紧贴于第二导辊242的上端，将角度尺320放置于游标卡尺310的尺臂，以测量极片210的走料角度。
需要说明的是，角度尺320的精度可以为0.05°，在测量走料角度时，走料角度的精度可以为0.1°。
如图5所示，第二种走料情况下，极片210布置于导辊组件两个导辊的不同端，例如，极片210一端布置于第一导辊241的上端，极片210的另一端布置于第二导辊242的下端。
在该实施例中，第一导辊241的上端和第二导辊242的下端连接的平面为极片210的走料平面，走料平面和水平面之间的角度，即为走料角度。
在实际执行中，可以使用游标卡尺310夹持其中一个导辊，以游标卡尺310的尺臂为走料平面，此时，游标卡尺310所在平面与水平面之间的夹角为测量角度，游标卡尺310所在平面与走料平面之间的夹角为计算角度。
可以通过角度尺320等测量工具获取到游标卡尺310所在平面与水平面之间的夹角，即为测量角度。
通过游标卡尺310获取第一导辊241的直径和第二导辊242的直径，以及第一导辊241和第二导辊242之间的最大距离，基于第一导辊241的直径和第二导辊242的直径，以及第一导辊241和第二导辊242之间的最大距离，通过图形仿真技术，获取到游标卡尺310所在平面与走料平面之间的夹角，即为计算角度。
其中，走料角度在数值上等于测量角度加上计算角度。
步骤120、基于走料角度，调整光源220的安装位姿，以使光源220的出光面垂直于极片210所在的平面。
其中，光源220的安装位姿包括光源220的安装位置和安装姿态，极片210所在的平面即为走料平面。
在该步骤中，将光源220设置在极片210的第一面后，根据极片210走料平面和水平面的走料角度，对光源220相对于极片210的安装位置以及光源220发光的俯仰角度等安装姿态进行调整，使得光源220的出光面垂直于极片210所在的平面，完成极片缺陷检测***中光源220的调节。
步骤130、通过图像采集装置230获取光源220的第一目标图像。
其中，光源220设有第一靶点，第一靶点是用于标记光源220中某一位置的带颜色的像素点。
在实际执行中，第一靶点可以是黑色且尺寸小于2mm*2mm的像素点。
在该实施例中，将第一靶点设置在光源220的某一位置，通过图像采集装置230拍摄光源220，获取到光源220的第一目标图像，第一目标图像包括第一靶点的像素信息。
步骤140、基于第一目标图像中的第一靶点的像素信息，调整图像采集装置230的安装位姿。
其中，图像采集装置230的安装位姿包括图像采集装置230相对于光源220的安装位置和安装姿态。
在该步骤，根据第一目标图像中的第一靶点的像素信息，判断图像采集装置230和光源220之间的相对位置关系，再根据预设位置关系对图像采集装置230相对于光源220的安装位置和安装姿态进行相应的调整。
例如，根据第一目标图像中的第一靶点的像素信息，判断图像采集装置230和光源220没有正对设置，通过调整图像采集装置230的安装位置和安装姿态，使得图像采集装置230可以达到预设的正对设置位置。
步骤150、通过图像采集装置230获取极片传送机构传送的极片210的第二目标图像。
在该实施例中，将极片210设置在极片传送机构上，通过图像采集装置230拍摄极片传送机构上的极片210，获取到极片210的第二目标图像。
步骤160、基于第二目标图像，调整图像采集装置230的成像参数。
其中，图像采集装置230的成像参数包括视场、分辨率、景深、传感器尺寸和主要放大倍率等参数。
在该实施例中，根据图像采集装置230采集的极片210的第二目标图像，判断图像采集装置230是否能够清楚拍摄极片210上细节信息以及尺寸信息，对图像采集装置230视场、分辨率、景深、传感器尺寸和主要放大倍率等参数进行调节，以使通过图像采集装置230采集的极片210的图像，可以准确反映极片210上的缺陷信息和尺寸信息，实现极片缺陷的检测。
相关技术中，背光工位下直接对锂电池材料进行标定，更换其他型号的材料后标定失效，且使用材料标定完成后，若同型号的锂电池上料时发生左右偏移后，标定同样失效，导致锂电池材料的尺寸的测量数据不准确，且人为调试过程容易出现误差，导致后续检测出现大范围的测量精度偏差。
本申请实施例中，通过极片210的走料角度，对光源220进行位姿调整，再通过图像采集装置230拍摄光源220的图像，调整光源220和图像采集装置230之间的相对位姿，最后通过图像采集装置230拍摄极片210的图像，调整图像采集装置230的成像参数，标准化极片缺陷检测***的标定过程，对光源220和图像采集装置230的位姿进行标定后，在更换极片材料的情况下，标定不会失效，极片缺陷检测***的检测精度高。
根据本申请实施例提供的极片缺陷检测***的标定方法，通过调整光源220和图像采集装置230之间的相对位姿，调整图像采集装置230的成像参数，标准化极片缺陷检测***的标定过程，在更换极片材料的情况下，标定不会失效，极片缺陷检测***的检测精度高。
在一些实施例中，极片传送机构还包括抚平组件，抚平组件包括两个夹持臂，极片210与两个夹持臂中一个的内表面为同一平面，两个夹持臂之间夹持有透明基板，透明基板位于极片210的第二面，透明基板设有第二靶点，第二目标图像包括第二靶点的像素信息。
如图6所示，抚平组件包括第一夹持臂251和第二夹持臂252，极片210紧贴第一夹持臂251的内表面，极片210所在的平面与第一夹持臂251的内表面所在的平面为同一平面。
在该实施例中，透明基板可以是透明的亚克力板，透明基板位于极片210的第二面，并且与极片210紧贴。
在实际执行中，图像采集装置230采集的第二目标图像包括极片的像素信息以及透明基板上第二靶点的像素信息。
可以理解的是，极片210不透光，如果将第二靶点直接设置在极片210上，图像采集装置230无法准确获取极片210上的第二靶点的像素信息。
在该实施例中，通过设置透明基板，将第二靶点设置在透明基板上，并将透明基板与极片210紧贴，从而保证了第二目标图像上既有用于标定的像素信息，也不会对极片210产生影响。
在该实施例中，在将极片210设置于极片传送机构后，通过图像采集装置230拍摄位于极片传送机构中的极片210，获取到极片210的第二目标图像，第二目标图像中包括第二靶点的像素信息。
需要说明的是，第二靶点的像素信息可以包括过渡像素信息和极片尺寸精度信息等信息，根据不同像素信息，可以对图像采集装置230不同的成像参数进行调整。
在一些实施例中，步骤160、基于第二目标图像，调整图像采集装置230的成像参数，可以包括：
在确定第二目标图像中的过渡像素信息大于像素阈值的情况下，调整图像采集装置230的成像参数。
其中，过渡像素信息是第二靶点附近的过渡像素数量，过渡像素指的是像素颜色介于白色和黑色之间的灰色像素，像素阈值是预设的满足清晰度检测需求的阈值。
例如，像素阈值可以设置为2，第二目标图像中第二靶点附近的过渡像素数量大于2，调整图像采集装置230清晰度相关的成像参数；第二目标图像中第二靶点附近的过渡像素数量不大于2，无需调整图像采集装置230清晰度相关的成像参数。
在该实施例中，根据第二目标图像中的过渡像素信息，当第二目标图像中的过渡像素数量大于像素阈值时，表明图像采集装置230采集的图像清晰度未达到要求，调整图像采集装置230中清晰度相关的成像参数。
当第二目标图像中的过渡像素信息小于或等于像素阈值时，表明图像采集装置230采集的图像清晰度达到要求，无需调整图像采集装置230中的成像参数。
在该实施例中，根据过渡像素信息调节的图像采集装置230的成像参数可以为分辨率参数。
在图像采集装置230获取到第二目标图像后，第二目标图像中的第二靶点附近的过渡像素数量越少，说明图像采集装置230的成像清晰度越好，在执行检测时，更容易检出极片210中是否存在针孔缺陷等细小缺陷。
在一些实施例中，步骤160、基于第二目标图像，调整图像采集装置230的成像参数，可以包括：
在确定第二目标图像中的极片尺寸精度信息大于尺寸精度阈值的情况下，调整图像采集装置230的成像参数。
在该实施例中，根据第二目标图像中两个像素点之间的距离，可以确定出这两个像素点对应实体结构的间距，根据该间距和极片210的对应两点的距离，调整图像采集装置230尺寸精度相关的成像参数。
例如，第二目标图像中两个像素点之间距离为第一距离，对应实体结构的间距为第一间距，极片210这两个像素点所对应两点之间的距离为第二间距，计算第一间距和第二间距之差，差值大于对应的尺寸精度阈值时，调整图像采集装置230的成像参数。
在该实施例中，第二目标图像中包括第一线条和第二线条，第一线条对应极片210中的第三线条，第二线条对应极片210中的第四线条，第一线条和第二线条相距足够远，第三线条和第四线条相距足够远。
第一线条与第二线条之间的距离为图像距离，根据图像采集装置230的主要放大倍数，同比例放大图像距离即可得到第一间距。
第三线条与第四线条之间的距离为第二间距，其中，极片尺寸精度信息是第一间距与第二间距之间的差。
在实际执行中，可以根据第二目标图像，设计算法获取第二目标图像中多组第一线条和第二线条，确定多个第一间距和第二间距，根据多个第一间距和一个第二间距，确定出多个极片尺寸精度信息，获取多个极片尺寸精度信息与尺寸精度阈值之间的大小关系。
当存在极片尺寸精度信息的绝对值大于尺寸精度阈值时，调节图像采集装置230的主要放大倍数，直至多个极片尺寸精度信息均小于或等于尺寸精度阈值。
例如，尺寸精度阈值可以设置为0.1mm，在确定通过算法获取到的多个极片尺寸精度信息的绝对值均小于或等于尺寸精度阈值情况下，完成图像采集装置230的成像参数调整。
在一些实施例中，第一靶点包括第一目标靶点和两个第二目标靶点，第一目标靶点位于光源220的中心，两个第二目标靶点位于光源220相对的两边，基于第一目标图像中的第一靶点的像素信息，调整图像采集装置230的安装位姿，包括：
基于第一目标图像中的第一目标靶点和两个第二目标靶点的像素信息，调整图像采集装置230的安装位姿，以使第一目标靶点的像素信息位于第一目标图像的中心位置，两个第二目标靶点的像素信息位于第一目标图像相对的边缘位置。
在实际执行中，第一目标靶点和第二目标靶点可以均为尺寸小于2mm*2mm的黑色像素点。
在该实施例中，第一目标靶点设于光源220的中心，对应第一目标图像中的中心位置，第二目标靶点设于光源220相对的两边，对应第一目标图像中相对的两个边缘位置。
通过极片210中第一目标靶点和第二目标靶点的实际位置，与第一目标图像中的第一目标靶点和第二目标靶点的位置一一对应，可以准确标定图像采集装置230和光源220之间的相对位置。
下面介绍一个具体的实施例，用于描述本申请的极片缺陷检测***的标定方法。
如图3所示，调节光源220的姿态及位置，包括：调节光源220的俯仰，以使光源220的出光面与极片210的走料方向垂直，并在光源220的中心位置设有第一目标靶点，在光源220相对的两边分别设有一个第二目标靶点。
调节图像采集装置230的姿态与成像位置，包括：调节图像采集装置230的俯仰以及图像采集装置230，确定在图像采集装置230获取到的第一目标图像中的中心可以看到第一目标靶点，在第一目标图像相对的两边可以看到第二目标靶点，以使图像采集装置230的靶面中心线与光源220出光面的中心线共线，确定图像采集装置230的姿态。
调节图像采集装置230的成像清晰度，统一光源220亮度值范围和图像采集装置230的曝光时间范围要求，使用图像采集装置230对光源220做白平衡，调节光源220亮度和图像采集装置230的曝光时间，以使得图像采集装置230满足预设的成像清晰度要求。
精调成像清晰度，首先根据图像采集装置230中第一目标图像视场中心的横向分辨率，判断极片传送机构中的极片210与图像采集装置230之间的距离是否满足预设的成像清晰度要求，在不满足预设的成像清晰度要求的情况下，调整图像采集装置230的工作位置，以使图像采集装置230中图像的横向分辨率满足预设的成像清晰度要求。
极片210位于抚平机构的两个夹持臂之间，两个夹持臂之间设有透明基板，透明基板与极片210紧贴，第二靶点设置于透明基板上，通过图像采集装置230拍摄极片传送机构中的极片210，获取到第二目标图像，调节图像采集装置230的与分辨率相关的成像参数，以使第二靶点在第二目标图像中对应的位置边缘的过渡像素的数量小于或等于像素阈值。
在无法通过调节图像采集装置230的与分辨率相关的成像参数，使得过渡像素的数量小于或等于像素阈值时，将图像采集装置230返修。
标定横向尺寸测量精度和纵向尺寸测量精度，其中，纵向尺寸测量精度可直接用辊面工位的标定结果。
横向尺寸测量精度的标定首先设计算法计算方案，获取多个极片2尺寸精度，在极片尺寸精度大于尺寸精度阈值时，调整图像采集装置230的主要放大倍数，以使得极片尺寸精度小于或等于尺寸精度阈值。
本申请实施例提供的极片缺陷检测***的标定方法，执行主体可以为极片缺陷检测***的标定装置。本申请实施例中以极片缺陷检测***的标定装置执行极片缺陷检测***的标定方法为例，说明本申请实施例提供的极片缺陷检测***的标定装置。
本申请实施例还提供一种极片缺陷检测***的标定装置，极片缺陷检测***包括光源220、图像采集装置230和极片传送机构，极片传送机构用于传送极片210，光源220位于极片210的第一面，图像采集装置230位于极片210的第二面。
如图7所示，该极片缺陷检测装置包括：
第一获取模块710，用于获取极片传送机构传送的极片210的走料角度；
第一处理模块720，用于基于走料角度，调整光源220的安装位姿，以使光源220的出光面垂直于极片210所在的平面；
第二获取模块730，用于通过图像采集装置230获取光源220的第一目标图像，光源220设有第一靶点；
第二处理模块740，用于基于第一目标图像中的第一靶点的像素信息，调整图像采集装置230的安装位姿；
第三获取模块750，用于通过图像采集装置230获取极片传送机构传送的极片210的第二目标图像；
第三处理模块760，用于基于第二目标图像，调整图像采集装置230的成像参数。
根据本申请实施例提供的极片缺陷检测装置，通过调整光源220和图像采集装置230之间的相对位姿，调整图像采集装置230的成像参数，标准化极片缺陷检测***的标定过程，在更换极片材料的情况下，标定不会失效，极片缺陷检测***的检测精度高。
在一些实施例中，极片传送机构还包括抚平组件，抚平组件包括两个夹持臂，极片210与两个夹持臂中一个的内表面为同一平面，两个夹持臂之间夹持有透明基板，透明基板位于极片210的第二面，透明基板设有第二靶点，第二目标图像包括第二靶点的像素信息。
在一些实施例中，第三处理模块760用于在确定第二目标图像中的过渡像素信息大于像素阈值的情况下，调整图像采集装置230的成像参数。
在一些实施例中，第三处理模块760用于在确定第二目标图像中的极片尺寸精度信息大于尺寸精度阈值的情况下，调整图像采集装置230的成像参数。
在一些实施例中，第二处理模块740用于基于第一目标图像中的第一目标靶点和两个第二目标靶点的像素信息，调整图像采集装置230的安装位姿，以使第一目标靶点的像素信息位于第一目标图像的中心位置，两个第二目标靶点的像素信息位于第一目标图像相对的边缘位置。
本申请实施例还提供一种极片缺陷检测***。
该***包括光源220、图像采集装置230和极片传送机构，极片传送机构用于传送极片210，所述光源220位于极片210的第一面，图像采集装置230位于极片210的第二面；
控制器，控制器与光源220、图像采集装置230和极片传送机构电连接，控制器基于上述的极片缺陷检测***的标定方法，对极片缺陷检测***进行标定。
根据本申请实施例提供的极片缺陷检测***，通过调整光源220和图像采集装置230之间的相对位姿，调整图像采集装置230的成像参数，标准化极片缺陷检测***的标定过程，在更换极片材料的情况下，标定不会失效，极片缺陷检测***的检测精度高。
本申请实施例中的极片缺陷检测装置可以是电子设备，也可以是电子设备中的部件，例如集成电路或芯片。该电子设备可以是终端，也可以为除终端之外的其他设备。示例性的，电子设备可以为手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑、车载电子设备、移动上网装置(Mobile Internet Device，MID)、增强现实(augmented reality，AR)/虚拟现实(virtual reality，VR)设备、机器人、可穿戴设备、超级移动个人计算机(ultra-mobilepersonal computer，UMPC)、上网本或者个人数字助理(personal digital assistant，PDA)等，还可以为服务器、网络附属存储器(Network Attached Storage，NAS)、个人计算机(personal computer，PC)、电视机(television，TV)、柜员机或者自助机等，本申请实施例不作具体限定。
本申请实施例中的极片缺陷检测装置可以为具有操作***的装置。该操作***可以为安卓(Android)操作***，可以为IOS操作***，还可以为其他可能的操作***，本申请实施例不作具体限定。
本申请实施例提供的极片缺陷检测装置能够实现图1至图6的方法实施例实现的各个过程，为避免重复，这里不再赘述。
在一些实施例中，如图8所示，本申请实施例还提供一种电子设备800，包括处理器801、存储器802及存储在存储器802上并可在处理器801上运行的计算机程序，该程序被处理器801执行时实现上述极片缺陷检测方法实施例的各个过程，且能达到相同的技术效果，为避免重复，这里不再赘述。
需要说明的是，本申请实施例中的电子设备包括上述所述的移动电子设备和非移动电子设备。
本申请实施例还提供一种非暂态计算机可读存储介质，该非暂态计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述极片缺陷检测方法实施例的各个过程，且能达到相同的技术效果，为避免重复，这里不再赘述。
其中，所述处理器为上述实施例中所述的电子设备中的处理器。所述可读存储介质，包括计算机可读存储介质，如计算机只读存储器ROM、随机存取存储器RAM、磁碟或者光盘等。
本申请实施例还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述极片缺陷检测方法。
其中，所述处理器为上述实施例中所述的电子设备中的处理器。所述可读存储介质，包括计算机可读存储介质，如计算机只读存储器ROM、随机存取存储器RAM、磁碟或者光盘等。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。此外，需要指出的是，本申请实施方式中的方法和装置的范围不限按示出或讨论的顺序来执行功能，还可包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序来执行功能，例如，可以按不同于所描述的次序来执行所描述的方法，并且还可以添加、省去、或组合各种步骤。另外，参照某些示例所描述的特征可在其他示例中被组合。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以计算机软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端(可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述的方法。
上面结合附图对本申请的实施例进行了描述，但是本申请并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本申请的启示下，在不脱离本申请宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，均属于本申请的保护之内。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
尽管已经示出和描述了本申请的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本申请的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本申请的范围由权利要求及其等同物限定。
Claims (10)
1.一种极片缺陷检测***的标定方法，其特征在于，所述极片缺陷检测***包括光源、图像采集装置和极片传送机构，所述极片传送机构用于传送极片，所述光源位于所述极片的第一面，所述图像采集装置位于所述极片的第二面，所述极片缺陷检测***的标定方法包括：
获取所述极片传送机构传送的所述极片的走料角度；
基于所述走料角度，调整所述光源的安装位姿，以使所述光源的出光面垂直于所述极片所在的平面；
通过所述图像采集装置获取所述光源的第一目标图像，所述光源设有第一靶点；
基于所述第一目标图像中的所述第一靶点的像素信息，调整所述图像采集装置的安装位姿；
通过所述图像采集装置获取所述极片传送机构传送的所述极片的第二目标图像；
基于所述第二目标图像，调整所述图像采集装置的成像参数。
2.根据权利要求1所述的极片缺陷检测***的标定方法，其特征在于，所述极片传送机构还包括抚平组件，所述抚平组件包括两个夹持臂，所述极片与所述两个夹持臂中一个的内表面为同一平面，所述两个夹持臂之间夹持有透明基板，所述透明基板位于所述极片的第二面，所述透明基板设有第二靶点，所述第二目标图像包括所述第二靶点的像素信息。
3.根据权利要求2所述的极片缺陷检测***的标定方法，其特征在于，所述第二靶点的像素信息包括过渡像素信息，所述基于所述第二目标图像，调整所述图像采集装置的成像参数，包括：
在确定所述第二目标图像中的所述过渡像素信息大于像素阈值的情况下，调整所述图像采集装置的成像参数。
4.根据权利要求2所述的极片缺陷检测***的标定方法，其特征在于，所述第二靶点的像素信息包括极片尺寸精度信息，所述基于所述第二目标图像，调整所述图像采集装置的成像参数，包括：
在确定所述第二目标图像中的所述极片尺寸精度信息大于尺寸精度阈值的情况下，调整所述图像采集装置的成像参数。
5.根据权利要求1-4任一项所述的极片缺陷检测***的标定方法，其特征在于，所述第一靶点包括第一目标靶点和两个第二目标靶点，所述第一目标靶点位于所述光源的中心，所述两个第二目标靶点位于所述光源相对的两边，所述基于所述第一目标图像中的所述第一靶点的像素信息，调整所述图像采集装置的安装位姿，包括：
基于所述第一目标图像中的所述第一目标靶点和所述两个第二目标靶点的像素信息，调整所述图像采集装置的安装位姿，以使所述第一目标靶点的像素信息位于所述第一目标图像的中心位置，所述两个第二目标靶点的像素信息位于所述第一目标图像相对的边缘位置。
6.一种极片缺陷检测***，其特征在于，包括：
光源、图像采集装置和极片传送机构，所述极片传送机构用于传送极片，所述光源位于所述极片的第一面，所述图像采集装置位于所述极片的第二面；
控制器，控制器与所述光源、所述图像采集装置和所述极片传送机构电连接，所述控制器基于权利要求1-5任一项所述的极片缺陷检测***的标定方法，对所述极片缺陷检测***进行标定。
7.一种极片缺陷检测***的标定装置，其特征在于，所述极片缺陷检测***包括光源、图像采集装置和极片传送机构，所述极片传送机构用于传送极片，所述光源位于所述极片的第一面，所述图像采集装置位于所述极片的第二面，所述极片缺陷检测***的标定装置包括：
第一获取模块，用于获取所述极片传送机构传送的所述极片的走料角度；
第一处理模块，用于基于所述走料角度，调整所述光源的安装位姿，以使所述光源的出光面垂直于所述极片所在的平面；
第二获取模块，用于通过所述图像采集装置获取所述光源的第一目标图像，所述光源设有第一靶点；
第二处理模块，用于基于所述第一目标图像中的所述第一靶点的像素信息，调整所述图像采集装置的安装位姿；
第三获取模块，用于通过所述图像采集装置获取所述极片传送机构传送的所述极片的第二目标图像；
第三处理模块，用于基于所述第二目标图像，调整所述图像采集装置的成像参数。
8.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-5任一项所述极片缺陷检测***的标定方法。
9.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-5任一项所述的极片缺陷检测***的标定方法。
10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-5任一项所述极片缺陷检测***的标定方法。
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|---|---|---|---|---|
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