CN116324383A - 信息处理装置、粒子分析装置、粒子筛分装置以及信息处理方法 - Google Patents

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Abstract

本发明可以增强数据分析的可靠性。例如，本发明提供了一种信息处理装置，该处理装置包括：存储单元，用于存储包括通过向多个粒子当中的单个粒子发射光而获得的光强度数据的事件数据；以及处理单元，用于处理从多个粒子获取的多个事件数据项。存储单元存储当光强度数据超过阈值时应用的标记。响应于省略施加有标记的光强度数据的指令，处理单元对除了施加有标记的光强度数据以外的多个事件数据项执行处理。

Description

信息处理装置、粒子分析装置、粒子筛分装置以及信息处理 方法
技术领域
本技术涉及信息处理装置、粒子分析装置、粒子筛分装置以及信息处理方法。更具体地，本技术涉及用于提高数据分析的可靠性的信息处理装置、粒子分析装置、粒子筛分装置以及信息处理方法。
背景技术
在过去，已经使用了装置(例如，流式细胞仪)，该装置使用荧光染料标记诸如细胞的粒子，将激光束照射至标记的粒子，并且检测来自照射的粒子的荧光或散射光，以测量粒子的各种特性。在此类设备中，到达光检测器的光被转换成电信号(电压脉冲)并且被数字化。然后，在各种参数下对数字数据进行统计分析等。
近年来，已经实施了多色测量，其包括用多种荧光染料标记粒子并且使用具有不同接收波长带的多个光检测器以检测从不同荧光染料发射的光。在这种多色测量中，每个光检测器可接收从非预期的荧光染料泄漏的荧光。为了解决这个问题，进行荧光补偿，其中，从由每个光检测器测量的荧光强度中减去相当于泄漏的荧光强度，以提高数据分析的可靠性。荧光补偿包括对专用电路上的脉冲施加电或数学校正，使得由光检测器测量的荧光强度变为来自预期荧光染料的真实荧光强度。
例如，专利文献1公开了一种方法，其中通过每个光检测器测量的荧光强度表示为矢量，将预定泄漏矩阵的逆矩阵应用于该矢量以计算目标荧光染料的真实荧光强度。
同时，专利文献2公开了一种方法，其中使用简单染色光谱的线性总和近似测量光谱，而无需求助于预定泄漏矩阵的逆矩阵，以便计算来自各荧光染料的真实荧光强度。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本专利公开号2003-83894
专利文献2：日本专利公开号2011-232259
发明内容
本发明要解决的技术问题
然而，在现有装置中，当来自光检测器的信号从模拟形式转换成数字形式时，可能存在检测极限被高信号电平超过的光检测器。在这种情况下，不仅不能准确地获得输入到该光检测器的信号的数据，而且还影响其他光检测器通过荧光补偿过程获取的信号。这会成为使测量数据整体的可靠性降低的问题因素。同样在这种情况下，为了在数据测量的阶段进行测量的目的，需要调整增益。在数据分析的阶段，同样需要提供门，使得它们将最大值数据从绘制在每个参数轴上的测量数据中排除。
因此，本技术的主要目的是提供用于改善数据分析的可靠性的技术。
问题的解决方案
根据本技术，提供了一种信息处理装置，包括：存储部，被配置为存储包括通过对多个粒子中的一个照射光而获得的光强度数据的事件数据；以及处理部，被配置为处理从多个粒子获取的多个事件数据项。存储部存储在光强度数据超过阈值的情况下被赋予至光强度数据的标记。根据排除标记的光强度数据的指令，处理部处理除标记的光强度数据以外的多个事件数据项。
根据本技术，还提供了一种粒子分析装置，包括：光照射部，被配置为对多个粒子中的一个照射光；光检测部，被配置为检测来自粒子的光；存储部，被配置为存储包括从光检测部获得的光强度数据的事件数据；以及处理部，被配置为处理从多个粒子获取的多个事件数据项。存储部存储在光强度数据超过阈值的情况下被赋予至光强度数据的标记。根据排除标记的光强度数据的指令，处理部处理除标记的光强度数据以外的多个事件数据项。
根据本技术，还提供了一种粒子筛分装置，该粒子筛分装置包括：光照射部，被配置为对多个粒子中的一个照射光；光检测部，被配置为检测来自粒子的光；存储部，被配置为存储包括从光检测部获得的光强度数据的事件数据；以及处理部，被配置为处理从多个粒子获取的多个事件数据项。存储部存储在光强度数据超过阈值的情况下被赋予至光强度数据的标记。根据排除标记的光强度数据的指令，处理部处理除标记的光强度数据以外的多个事件数据项。还包括筛分部，根据排除标记的光强度数据的指令筛分与除包括光强度数据的事件数据以外的多个事件数据项关联的粒子。
根据本技术，另外提供了一种信息处理方法，包括：存储包括通过对多个粒子中的一个照射光而获得的光强度数据的事件数据的步骤；以及处理从多个粒子获取的多个事件数据项的步骤。存储步骤存储在光强度数据超过阈值的情况下被赋予至光强度数据的标记。根据排除标记的光强度数据的指令，处理步骤处理除所标记的光强度数据以外的多个事件数据项。
附图说明
图1是描绘根据本技术的信息处理装置的一个实施方式示例的示意性概念图。
图2中，子图A是描绘不包括超过预定阈值的光强度数据的事件数据的绘图，并且子图B是描绘包括超过预定阈值的光强度数据的事件数据的绘图。
图3中，子图A是在选通不包括超过预定阈值的光强度数据的事件数据的情况下的绘图，以及子图B是选通包括超过预定阈值的光强度数据的事件数据的情况下的绘图。
图4中，子图A、子图B、和子图C是绘图的显示示例。
图5是描绘由输出部显示的显示示例的示图，该显示部输出包括设置有上述标记的光强度数据的事件数据的比率。
图6是描述处理示例1的流程图。
图7中，子图A和子图B是描述处理示例1和示例2的数据显示示例的示意图。
图8是描述处理示例2的流程图。
图9是描述处理示例3的流程图。
图10是描述处理示例4的流程图。
图11是描述处理示例5的流程图。
图12是示出根据本技术的粒子分析装置的实施方式示例的示意性概念图。
图13是示出根据本技术的粒子筛分装置的实施方式示例的示意性概念图。
图14是描述根据本技术的粒子筛分装置的另一实施方式示例的示意性概念图。
具体实施方式
下面描述用于实现本技术的一些优选实施方式。
应注意，以下说明的实施方式仅表示可如何实现本技术并且不应根据其限制性解释。将按照以下顺序进行本技术的描述。
1.第一实施方式(信息处理装置)
(1)存储部11
(2)处理部12
(3)用户接口13
(4)显示部14
(5)由处理部12进行的处理的示例
<处理示例1>
<处理示例2>
<处理示例3>
<处理示例4>
<处理示例5>
2.第二实施方式(粒子分析装置)
(1)光照射部21
(2)光检测部22
(3)处理部12
3.第三实施方式(粒子筛分装置)
(1)筛分部31
4.第四实施方式(信息处理方法)
1.第一实施方式(信息处理装置)
图1是描述第一实施方式的示意性概念图。本实施方式的信息处理装置10包括存储部11和处理部12。信息处理装置10还可以根据需要包括诸如用户接口13和显示部14的其他部分。
(1)存储部11
存储部11存储包括通过对多个粒子中的一个照射光而获得的光强度数据的事件数据。存储部11还存储在光强度数据超过阈值的情况下被赋予至光强度数据的标记。
通过本技术，“粒子”具体是指微粒(microparticle)，该微粒的类型可以根据需要进行选择。对于本技术，微粒可包括生物粒子，诸如细胞、细胞簇、微生物和核糖体，以及合成粒子，包括凝胶粒子、珠、胶乳粒子、聚合物粒子和工业粒子。
生物微粒(也被称为“生物粒子”)可以包括染色体、核糖体、线粒体和包括不同细胞的细胞器(细胞细胞器)。细胞可以包括动物细胞(例如，血细胞)和植物细胞。具体地，细胞可以是血细胞或组织细胞。血细胞可以是漂浮细胞，例如T细胞和B细胞。例如，组织细胞可以是贴壁培养的细胞或从组织中分离的贴壁细胞。细胞簇可包括例如球状体和类器官。微生物可包括细菌如大肠杆菌、病毒如烟草花叶病毒和真菌如酵母。生物微粒还可以包括生物大分子，诸如核酸、蛋白质和它们的复合体。例如，这些生物大分子可以从细胞中提取或包括在血液样品或其他液体样品中。
合成微粒可以是例如包括有机或无机高分子材料或金属的微粒。有机高分子材料可以包括聚苯乙烯、苯乙烯-二乙烯基苯和聚甲基丙烯酸甲酯。无机高分子材料可以包括玻璃、二氧化硅和磁性材料。金属可以包括金胶体和铝。例如，这些合成粒子可以是凝胶粒子或珠粒。具体地，这些合成微粒可以是由寡核苷酸、肽、蛋白质、以及酶中的至少一种或多种组合形成的凝胶粒子或珠粒。
这些粒子在形状上可以是球形的或基本上球形的、或非球形的。可以根据需要选择粒子的尺寸和质量。对于本技术，粒子可根据需要提供化学或生物标记物，如荧光染料或荧光蛋白。可以根据需要选择要提供的标签。标记可以与特异性地与粒子反应的分子(例如，抗体、适配体、DNA或RNA)偶联。
对于本技术，粒子优选为生物粒子，或者具体地，细胞。
用于标记粒子的荧光染料不限于任何具体的荧光染料。可以使用用于染色生物制品的至少一种已知的颜料。例如，可用的荧光染料可以包括藻红蛋白(PE)、异硫氰酸荧光素(FITC)、PE-Cy5、PE-Cy7、PE-Texas Red(注册商标)、别藻蓝蛋白(APC)、APC-Cy7、溴化乙锭、碘化丙锭、Hoechst(注册商标)33258，Hoechst(注册商标)33342、DAPI(4’6-二脒基-2-苯基吲哚)、吖啶橙、色霉素、光神霉素、橄榄霉素、吡喃素Y、噻唑橙、罗丹明101、异硫氰酸酯、BCECF、BCECF-AM、C.SNARF-1、C.SNARF-1-AMA，水母发光蛋白，Indo-1，Indo-1-AM，Fluo-3，Fluo-3-AM，Fura-2，Fura-2-AM，oxanol，TexasRed(注册商标)，罗丹明123，10-N-壬-吖啶橙，荧光素，荧光素二乙酸酯，羧基荧光素、羧基荧光素二乙酸酯、羧基二氯荧光素以及羧基二氯荧光素二乙酸酯。还有可能使用以上列出的荧光染料的衍生物。
在该实施方式中，通过使光检测器接收通过将光照射至粒子而产生的荧光或散射光来产生光强度数据，并且基于光强度数据来生成事件数据。在粒子用荧光染料标记的情况下，光强度数据是通过使光检测器接收从荧光染料发出的荧光而生成的，该荧光染料通过将光照射到用该荧光染料标记的粒子而激发。
更具体地，当接收到荧光或散射光时，光检测器输出与所接收的光对应的电信号，输出电信号被输入至模数转换电路(模数转换器)。模数转换电路设置在光检测器的下游(其输出侧)并与其连接。电信号是来自检测光的光检测器的光电转换的模拟信号。每个模数转换电路将每个输入电信号从模拟形式转换为数字形式。然后，每个模数转换电路将数字化的电信号输出至下游侧。
从各模数转换电路输出的电信号被输入到数据检测电路。数据检测电路设置在每个模数转换电路的下游(输出侧)并与其连接。数据检测电路使用输入电信号中的特定一个作为用于检测粒子的触发信号。即，在触发信号的值满足预定条件的情况下，数据检测电路检测到每个电信号已经从粒子被检测到。数据检测电路读取每个输入电信号的波形，并通过计算读入波形(read-in waveform)的参数(宽度、高度和面积)来生成光强度数据。此外，基于诸如所计算的波形的每个参数的值的每个光强度数据项，数据检测电路生成与对应于该光强度数据的一个粒子相关联的事件数据。在本实施方式中，存储部11存储以上述方式生成的光强度数据和事件数据。
根据本技术，如上所述，存储部11存储在光强度数据超过阈值的情况下被赋予至光强度数据的标记。具体地，存储部11在获取到表示光强度数据超过阈值的信号时，将各光强度数据项与表示各光强度数据项是否超过阈值的信息相关联。更具体地，存储部11向超过阈值的光强度数据赋予标记，并存储标记的光强度数据。
例如，在当由上述光检测器检测到来自粒子的光时超过该光检测器的检测上限的情况下，可以赋予标记。更具体地，例如，在当由上述模数转换电路模数转换来自光检测器的信号时超过该模数转换电路的输入电压范围、或者在当数字信号被处理时超过保持数据的容量的上限的情况下，赋予标记。
在数字信号处理期间超过保持数据的容量的上限的情况例如是超过数据保持容量的上限(即，可以以比特宽度表示的上限)的情况。在这种情况下，需要执行移除(即，剪切)多余部分的处理。可以在剪切处理时赋予该标记。
在处理光强度数据时，在超过数据处理的上限的情况下也可赋予该标记。更具体地，在基于光强度数据生成事件数据时超过保持光强度数据的容量的上限的情况下，或者在光强度数据或事件数据从技术的信息处理装置向数据分析装置(例如，个人计算机或服务器)传送时，超过用于转换为数据传送格式的数据保持容量的上限的情况下，可赋予标记。
在该实施方式中，事件数据可以包括通过向粒子照射多个光束而获得的多个光强度数据项。在这种情况下，可以从能够照射具有不同波长的激发光束的多个光源发射多个光束。在本实施方式中，例如，来自多个光源的光束可被照射至不同位置，使得来自粒子的光可被不同的光检测器检测，以提供多个光强度数据项。
(2)处理部12
处理部12对从多个粒子获取的多个事件数据进行处理。此外，根据移除所标记的光强度数据的指令，处理部12处理在所标记的光强度数据之前的多个事件数据项。
在对来自光检测器的信号进行模数转换时，在检测到光强度数据超过上述阈值的情况下，现有装置没有排除超过光强度数据的手段。在图2中，子图A是描绘不包括超过阈值的光强度数据的事件数据的绘图，并且子图B是描绘包括超过阈值的光强度数据的事件数据的绘图。因此，现有装置不能排除超过阈值的光强度数据。因此，除了在数据测量阶段以不超过阈值的方式调节用于测量的增益以外，还没有选择。
在图3中，子图A是选通不包括超过阈值的光强度数据的事件数据的情况下的绘图，以及子图B是选通包括超过阈值的光强度数据的事件数据的情况下的绘图。例如，在数据分析阶段存在包括超过阈值的光强度数据的事件数据的情况下，现有装置因此只能通过创建门(gate)来允许混合或多或少超过阈值的光强度数据，以排除沿着绘制测量数据的每个参数轴的最大值数据。
此外，如果存在检测到光强度数据超过阈值的光检测器，则不能准确地获得输入到该光检测器的信号的数据。此外，在荧光补偿处理中从其他光检测器获取的信号也受到影响。因此数据分析的可靠性下降的问题。
相反，根据本技术，处理部12根据排除标记的光强度数据的指令处理除所标记的光强度数据以外的多个事件数据项。本技术因此提供一种在显示、分析或处理所获取的事件数据时排除所标记的光强度数据的手段。本技术允许根据需要从测量数据中排除可能降低结果的可靠性的数据，从而提高数据分析的可靠性。
更具体地，在创建用于执行诸如分离或补偿的荧光补偿的信息(例如，光谱参考、补偿矩阵等)的情况下，确定是否排除标记的光强度数据。基于确定结果生成的数据被用于获得更高可靠性的数据。要注意的是，稍后在“(5)由处理部12进行的处理的示例”中讨论该处理。
利用该实施方式，在事件数据包括通过对粒子照射多个光束而获得的多个光强度数据项的情况下，处理部12可以根据排除所标记的光强度数据的指令来处理除包括所标记的光强度数据的事件数据以外的多个事件数据项。
在这种情况下，处理部12可以包括算术处理部121和输出处理部122。算术处理部121计算包括所标记的光强度数据的事件数据的比率。输出处理部122还执行输出包括所标记的光强度数据的发明数据的比率的处理和/或输出绘图的处理。
例如，本实施方式中的算术处理部121可以计算包括所标记的光强度数据的事件数据相对于包括通过对多个粒子中的每个照射多个光束而获得的一系列多个光强度数据项的事件数据(所有事件数据)的比率。可替代地，算术处理部121可以计算包括所标记的光强度数据的事件数据相对于包括在由输出处理部122输出的绘图上所选通的区域中的多个事件数据项的比率，这将在后面讨论。当计算时，这些比率提供指示符，通过这些指示符，用户可以确定是否将所标记的光强度数据从所有事件数据中排除或从包括在绘图上选通的区域中的多个事件数据项排除。
在该实施方式中，输出处理部122还可以输出例如来自从用于分析的多个粒子获得的多个事件数据项中的包括所标记的光强度数据的事件数据的比率。该比率因此输出提供指示符，通过该指示符用户可以确定是否排除例如标记的光强度数据。
此外，输出处理部122可将包括所标记的光强度数据的事件数据的比率输出到显示部14，这将在后面讨论。图5是描述由输出包括所标记的光强度数据的事件数据的比率的显示部14进行显示的显示示例的示图。在这种情况下，通过参考所显示的比率，用户可以经由用户接口13进行输入以确定是否排除标记的光强度数据。
此外，在包括所标记的光强度数据的事件数据的比率已超过阈值的情况下，输出处理部122可向用户输出警告。利用该技术，阈值可以由用户根据需要设置。警告可以显示在稍后讨论的显示部14上，或者可以在听觉上发布，以警告用户。
本实施方式中的输出处理部122还可以输出针对从用于分析的多个粒子获得的多个事件数据项而创建的绘图。在这种情况下，上述算术处理部121还计算包括所标记的光强度数据的事件数据相对于包括在绘图上选通的区域中的多个事件数据项的比率。
这里，包括所标记的光强度数据的事件数据的比率可以由输出处理部122以显示在绘图图上的状态输出，或者可以在不同画面上输出仅事件数据的比率。为了在绘图上显示，可以在新创建的子绘图上显示事件数据相对于包括在选通区域中的多个事件数据项的比率。该输出允许对期望由用户详细分析的事件数据的可靠性进行评估。由此，能够进行精度更高的分析。
此外，在本实施方式中，输出处理部122可包括所标记的光强度数据的事件数据相对于包括在绘图上的选通区域中的多个事件数据项的比率超过阈值的情况下向用户发出警告。利用该技术，阈值可以由用户根据需要设置。警告可以显示在稍后讨论的显示部14上，或者可以可听地发布，以警告用户。
在该实施方式中，根据排除具有标记的光强度数据的指令，处理部12可对与除包括所标记的光强度数据的事件数据以外的多个事件数据项相关的粒子执行筛分处理。该方法使得可以选择性地仅筛分具有高可靠数据的粒子。应注意，该过程将稍后在“(1)筛分部31”中讨论。
此外，本实施方式中的处理部12可以执行在用于显示光谱图的方法之间切换的处理。光谱图是在光检测器的波长频带不同的区域中显示通过照射单一光束获得的光强度数据的图。例如，当根据检测到包括预定光强度数据的事件数据的频率显示时，可以对数据进行颜色编码。在将多个光束照射至粒子的情况下，可以显示带状图，其中，布置对应于不同光束的光谱图(参见图4)。更具体地，在显示方法之间切换的处理包括从根据它们的频率以颜色编码的方式显示通过分析获得的所有光强度数据的方法切换到不显示频率不超过给定阈值的数据的方法。
在图4中，子图A描绘了根据它们的频率以颜色编码的方式显示所有事件数据的绘图；子图B描绘了不显示频率不超过预定阈值的数据的绘图；以及子图C描绘了不显示频率不超过被设置为高于子图B中的阈值的阈值的数据的绘图。当以这种方式切换显示方法时，更容易看到主要群体(例如，单个或多个细胞群体)的荧光光谱波形。
此外，在本实施方式中，阈值可根据用户的期望而改变。可替代地，可以预先设定固定的阈值。在用户根据需要改变阈值的情况下，用户可以输入新的阈值，或者使用滑块选择可选阈值中的一个。
(3)用户接口13
用户接口13允许用户的输入。经由用户接口13，用户可以访问和控制本实施方式的信息处理装置的组件。注意，对于本技术，用户接口13不是强制性的，并且可以替换为外部连接的操作装置。例如，鼠标和键盘可以被用作用户接口13。
在该实施方式中，用户可以经由用户接口13输入和执行指令以排除所标记的光强度数据。排除所标记的光强度数据的指令可根据需要经由用户接口13执行，不仅在输出处理部122输出包括所标记的光强度数据的事件数据的比率或基于该比率输出警告时。例如，可以通过选择在屏幕上显示的按钮等适当地执行指令。
(4)显示部14
显示部14可以显示例如从处理部12输出的信息，以及由装置的任何组件生成的或从装置的任何组件输出的所有分析相关事项。注意，对于本技术，显示部14不是强制性的，并且可以替换为外部连接的显示设备。例如，显示单元和打印机可以用作显示部14。
(5)由处理部12进行的处理的示例
下面参考所附的流程图描述处理部12进行的处理的一些示例。
<处理示例1>
图6是描述处理示例1的流程图。处理示例1是作为光谱参考进行注册的处理。光谱参考通过简单的染色光谱形成，其例如用于分离工艺中。简单的染色光谱是荧光染料的荧光波长分布，即，在光检测器接收到从荧光染料发出的荧光时获得的光强度数据，每个荧光染料标记被光照射激发的粒子。
分离(unmixing)是荧光补偿方法，其中用多种荧光染料标记的粒子是多色测量的，以提供测量光谱，用于通过使用加权最小二乘法(WLSM)的简单染色光谱的线性总和的近似，以便获得源于每种荧光染料的真实光强度数据。执行分离工艺将有关重叠荧光染料的光谱信息分离成有关单个荧光染料的信息。然后可以分离和分析荧光试剂和荧光蛋白，其荧光波长峰彼此非常相似，高度精确地并且以高度可重复的方式。
首先，处理部12接收标记的光强度数据(S1)。注意，这种情况下的光强度数据由上述简单染色光谱形成。算术处理部121然后计算包括所标记的光强度数据的事件数据相对于包括例如通过将多个光束连续地照射至多个粒子中的每个而获得的一系列多个光强度数据项的事件数据(所有事件数据)的比率。输出处理部122输出所计算的比率(S2)。此时，在比率超过阈值的情况下(S3)，输出处理部122向用户输出警告(S4)。然后确定是否排除标记的光强度数据(S5)。注意，可以由用户做出该确定。在这种情况下，用户经由用户接口13输入指令。
在确定标记的光强度数据将被排除(S5)的情况下，处理部12排除标记的光强度数据(S5)，并提供数据显示(S7)。数据显示方法不限于任何特定的方法；例如，可以在显示部14上的绘图(包括一维、二维和三维绘图)、谱和直方图(包括一参数直方图、两参数直方图(细胞图、点图)和三参数直方图)中的任一个中显示数据。具体地，输出处理部122输出针对除包括标记的光强度数据的事件数据以外的多个事件数据项而创建的绘图。图7中的子图A和子图B是描述后面讨论的处理示例1和处理示例2的数据显示示例的示意图。子图A是纵轴表示光强度并且横轴表示光检测器通道的绘图。子图B是直方图，其纵轴表示事件数，横轴表示标记粒子的荧光波长峰处的光强度。另一方面，在确定标记的光强度数据不被排除(S5)的情况下，处理部12提供数据显示而不排除标记的光强度数据(S7)。
在显示的数据中，正群体和负群体均被选通(S8)。注意，选通过程可以由用户执行。在这种情况下，用户经由用户接口13输入指令。然后，处理部12获取正群体(positivepopulation)和负群体(negative population)中的每个的平均光强度值并对其执行差分处理(S9)。最后，将差分处理结果得到的数据作为光谱参考注册在存储部11中(S10)。
<处理示例2>
图8是描述处理示例2的流程图。与处理示例1相同，处理示例2是作为光谱参考注册的处理。
首先，处理部12接收标记的光强度数据(S11)。注意，这种情况下的光强度数据由上述简单染色光谱形成。然后，处理部12提供数据显示(S12)。数据显示方法如上所述。在这种情况下，例如，输出处理部122可输出针对多个事件数据项创建的绘图。在显示的数据中，正群体和负群体均被选通(S13)。注意，选通选通可以由用户执行。在这种情况下，用户经由用户接口13输入指令。
算术处理部121然后计算包括所标记的光强度数据的事件数据相对于输出处理部122输出的绘图上的选通区域中包括的多个事件数据项的比率。输出处理部122输出所计算的比率(S14)。此时，在比率超过阈值的情况下(S15)，输出处理部122向用户输出警告(S16)。然后确定是否排除标记的光强度数据(S17)。注意，可以由用户做出该确定。在这种情况下，用户经由用户接口13输入指令。
在确定所标记的光强度数据要被排除(S17)的情况下，排除所标记的光强度数据(S18)。然后，处理部12获取正和负群体中的每一个的平均光强度值，并对其进行差分处理(S19)。最后，将差分处理结果得到的数据作为光谱参考注册在存储部11中(S20)。另一方面，在确定不排除所标记的光强度数据的情况下(S17)，处理部12在不排除标记光强度数据的情况下执行上述差分处理(S19)，并将由此产生的数据作为光谱参考注册在存储部11中(S20)。
<处理示例3>
图9是描述处理示例3的流程图。处理示例3是自动执行补偿的情况下的处理。此处的补偿涉及补偿泄漏的荧光。在双色测量的情况下，例如，在测量波长彼此重叠的两个荧光的情况下，补偿的方法涉及电或数学地补偿相互泄露的量。在数学上执行荧光补偿的方法可以包括，例如，将由每个光检测器测量的荧光强度表示为向量并且将预定泄漏矩阵的逆矩阵应用于该向量以便计算预期荧光染料的真实荧光强度。通过分析上述简单染色光谱产生的泄漏基质是由所涉及的荧光染料的荧光波长分布形成的列向量阵列。
首先，处理部12接收标记的光强度数据(S21)。注意，这种情况下的光强度数据包括上述简单的染色光谱。算术处理部121然后计算包括标记的光强度数据的事件数据相对于由通过对多个粒子中的每连续照射多个光束而获得的一系列多个光强度数据项形成的事件数据(所有事件数据)的比率。输出处理部122输出所计算的比率(S22)。此时，在比率超过阈值的情况下(S23)，输出处理部122向用户输出警告(S24)。然后确定是否排除标记的光强度数据(S25)。注意，可以由用户做出该确定。在这种情况下，用户经由用户接口13输入指令。
在确定标记的光强度数据要被排除(S25)的情况下，所标记的光强度数据被排除(S26)。处理部件12然后根据排除标记的光强度数据的指令提供数据显示(S27)。数据显示方法不限于任何特定的方法；例如，可以在显示部14上的绘图(包括一维、二维和三维绘图)、谱和直方图(包括一参数直方图、两参数直方图(细胞图、点图)和三参数直方图)中的任一个中显示数据。同样在这种情况下，例如，输出处理部122可输出针对多个事件数据项(除了包括标记的光强度数据的事件数据以外)创建的绘图。另一方面，在确定标记的光强度数据不被排除(S25)的情况下，处理部12提供上述数据显示而不排除标记的光强度数据(S27)。
在显示的数据中，正群体和负群体均被选通(S28)。注意，选通过程可以由用户执行。在这种情况下，用户经由用户接口13输入指令。最后，使用作为选通处理的结果而获得的数据来执行矩阵计算(S29)。
<处理示例4>
图10是描述处理示例4的流程图。与处理示例3一样，处理示例4是在自动执行补偿的情况下的处理。
首先，处理部12接收所标记的光强度数据(S31)。注意，这种情况下的光强度数据包括上述简单染色光谱。然后，处理部12提供数据显示(S32)。数据显示方法如上所述。在这种情况下，例如，输出处理部122可输出针对多个事件数据项创建的绘图。然后，在显示的数据中，分别对正群体和负群体进行选通(S33)。注意，选通过程可以由用户执行。在这种情况下，用户经由用户接口13输入指令。
算术处理部121然后计算包括所标记的光强度数据的事件数据相对于在由输出处理部122输出的绘图上的选通区域中包括的多个事件数据项的比率。输出处理部122输出所计算的比率(S34)。在此该比率超过阈值的情况下(S35)，输出处理部122向用户输出警告(S36)。然后确定是否排除所标记的光强度数据(S37)。注意，可以由用户做出该确定。在这种情况下，用户经由用户接口13输入指令。
在确定标记的光强度数据将被排除(S37)的情况下，标记的光强度数据被排除(S38)。最后，所获得的数据被用于执行矩阵计算(S39)。另一方面，在确定标记的光强度数据不被排除的情况下(S37)，处理部12通过使用获得的数据执行矩阵计算，而不排除标记的光强度数据(S39)。
<处理示例5>
图11是描述处理示例5的流程图。处理示例5是在用户手动执行补偿的情况下的处理。
首先，处理部12接收所标记的光强度数据(S41)。注意，这种情况下的光强度数据包括测量光谱。测量光谱是指通过使光检测器接收从多种荧光染料发出的荧光而获得的光强度数据，该多种荧光染料通过用荧光波长彼此重叠的这些荧光染料多重标记的粒子照射光来激发。算术处理部121然后计算包括所标记的光强度数据的事件数据相对于由通过多个粒子的连续测量获得的一系列多个光强度数据项形成的事件数据(所有事件数据)的比率。输出处理部122输出所计算的比率(S42)。此时，在比率超过阈值的情况下(S43)，输出处理部122向用户输出警告(S44)。然后确定是否排除标记的光强度数据(S45)。注意，可以由用户做出该确定。在这种情况下，用户经由用户接口13输入指令。
在确定标记的光强度数据将被排除(S45)的情况下，标记的光强度数据被排除(S46)。处理部12随后根据排除标记的光强度数据的指令提供数据显示(S47)。数据显示方法不限于任何特定的方法；例如，可以在显示部14上的绘图(包括一维、二维和三维绘图)、谱和直方图(包括一参数直方图、两参数直方图(细胞图、点图)和三参数直方图)中的任一个中显示数据。同样在这种情况下，输出处理部122可输出针对多个事件数据项(除了包括标记的光强度数据的事件数据以外)创建的绘图。另一方面，在确定标记的光强度数据不被排除的情况下(S45)，处理部12提供上述数据显示而不排除标记的光强度数据(S47)。最后，用户在视觉上对所显示的数据执行校正处理(S48)。
2.第二实施方式(粒子分析装置)
图12是描述第二实施方式的示意性概念图。本实施方式的粒子分析装置20包括光照射部21、光检测部22、存储部11和处理部12。粒子分析装置20可根据需要进一步包括其他部分，诸如用户接口13和显示部14。在这个实施方式中，存储部11、用户接口13、以及显示部14与上述那些相似，并且因此在此将不讨论。
(1)光照射部21
光照射部21向多个粒子中的一个粒子照射光(例如激励光)。光照射部21可以包括发射激发光的光源和将激发光聚焦在粒子上的物镜。本领域技术人员可以适当地选择合适的光源。例如，光源可以是激光二极管、SHG激光器、固态激光器、气体激光器、高亮度LED、或这些器件中的两个或更多个的组合。除了光源和物镜以外，光照射部21还可以包括其他光学元件。光照射部21例如可以将光照射到光学探测区域中的单个位置，或者照射到其中的多个位置中的每个位置。
在该实施方式中，光照射部21可以具有多个上述光源，以便照射具有不同波长的激发光束。
(2)光检测部22
光检测部22检测来自单个粒子的光。更具体地，光检测部22检测从由光照射部21照射的粒子发出的散射光和/或荧光。光检测部21可包括，例如，聚焦从粒子发出的荧光和/或散射光的光检测器和聚光透镜。光检测器可以是PMT、光电二极管、CCD或CMOS，但不限于此。根据需要，光检测部22可以包括除了聚光透镜和检测器以外的其他光学元件。例如，光检测部22可以进一步包括光谱部。例如，包括分光部的光学部分可以是光栅、棱镜和滤光器。分光部能够从其他波长的光束中分离并检测待检测的波长的光。
由光检测部22检测的荧光可以是从粒子本身或者从用粒子标记的材料(例如，荧光材料)发出的荧光，但不限于此。由光检测部22检测的散射光可以是前向散射光、侧向散射光、瑞利散射、米氏散射、或这些光束的组合。
(3)处理部12
在该实施方式中，处理部12除了上述那些以外，还可以执行以下处理。
与光检测部22连接的处理部12可以分析由此检测的光学信息。更具体地，例如，给定与从光检测部22接收的光相关的光学信息(例如，荧光或散射光的检测值)，处理部12计算表示每个粒子的尺寸、形式和内部结构的特征量。
应注意，利用本技术，外部分析装置等可用于分析。具体地，个人计算机或CPU可以用于执行分析，将结果作为程序存储到配备有记录介质的硬件资源(例如，非易失性存储器(USB存储器)、HDD、CD)等中，并且允许程序运行。此外，外部分析装置可以经由网络与装置的组件连接。
3.第三实施方式(粒子筛分装置)
图13是描述第三实施方式的一个示例的示意性概念图。此外，图14是描述第三实施方式的另一示例的示意性概念图。本实施方式的粒子筛分装置30包括光照射部21、光检测部22、存储部11、处理部12和筛分部31。粒子筛分装置30可根据需要进一步包括其他部分，诸如用户接口13和显示部14。在该实施方式中，存储部11、处理部12、用户接口13、显示部14、光照射部21和光检测部22与上述那些相似，因此将不再进一步讨论。
(1)筛分部31
筛分部31基于由光检测部22检测的光学信息筛分粒子。更具体地，例如，筛分部31基于包括粒子的尺寸、形式和内部结构的分析结果从光强度数据中筛分流动通道P的下游的粒子。
下面参考单独的附图详细描述筛分分离的方法。
图13中的粒子筛分装置30通过使用以重新确定的振动频率振动的振动元件31a振动主流路P13的全部或部分，从而使主流路P13的排出口排出液滴。注意，在这种情况下，要使用的振动元件31a不限于任何特定的，并且可以根据需要进行选择。例如，可以利用压电振动元件。此外，通过调整供给到样品液体流路P11、鞘液流路P12a和P12b、主流路P13的液体量，以及通过调整排出口的直径和振动元件的振动频率，通过调节液滴尺寸，可以产生各自具有固定数量的粒子的液滴。
然后，根据由光检测部22检测的光学信息，根据诸如粒子的尺寸、形式和内部结构的分析结果，液滴带正电或带负电(见图13中由参考符号31b表示的内容)。带电的液滴通过施加电压的相对电极31c使其路线在期望方向上改变，使得液滴被分离。
此外，在图14中的粒子筛分装置30中，在基板T上形成样品液体流路P1和鞘液流路P12a和P12b。包括筛分流路P14和处置流路P15a和P15b的三个分支流路设置在主流路P13的下游。被确定为满足预定光学特性并且目标为筛分的粒子被带入筛分流动通道P14中。被确定为不满足预定光学特性的粒子不被带入筛分分离流道P14中并且被引导到两个处置流道P15a和P15b中的任一个中。这是如何进行筛分。
任何已知方法可用于将目标用于筛分的粒子带入筛分通道P14中。可替换地，振动元件31a诸如压电元件可用于在筛分通道P14内部产生负压，该负压将包括筛分目标粒子的样品液和鞘液吸入筛分流动通道P14中。作为另一替代方案，阀电磁力、(气体或液体的)流体流等可用于控制或改变层流方向，从而将筛分目标粒子带入筛分流动通道P14中。
在该实施方式中，筛分部31根据排除标记的光强度数据的指令筛分与除包括光强度数据的事件数据以外的多个事件数据项相关的粒子。这使得可以选择性地仅筛分分离具有高可靠数据的粒子。
具体地，在开始分选之前，处理部12可执行基于是否让筛分部31对与包括标记的光强度数据的事件数据相关的粒子进行筛分的设置来确定是否执行筛分的处理。例如，在分拣时，存在“不筛分”与包括标记的光强度数据的事件数据相关联的粒子的设置的情况下，流可以被布置为使得针对分拣的门内的事件将不被分拣。
在本实施方式中，可以在开始排序之前进行设置。该设置可以替代地由用户经由用户接口13来进行。同样对于本技术，可以经由输出处理部122显示包括标记的光强度数据的事件数据相对于所有事件数据或针对分类的事件数据的比率。基于所显示的结果，用户可以确定是否排除包括标记的光强度数据的事件数据。
4.第四实施方式(信息处理方法)
本实施方式的信息处理方法包括存储步骤和处理步骤。根据需要，在该方法中可以包括其他步骤。在存储工序中执行的方法与存储部11中执行的方法相同，在处理工序中执行的方法与处理部12中执行的方法相同。因此将不再进一步讨论这些方法。
应注意，本技术可优选地在以下配置中实现。
(1)
一种信息处理装置，包括：
存储部，被配置为存储包括通过向多个粒子中的一个照射光而获得的光强度数据的事件数据；以及
处理部，被配置为处理从所述多个粒子获取的多个事件数据项，其中，
所述存储部存储在所述光强度数据超过阈值的情况下被赋予至所述光强度数据的标记，并且，
根据排除所述标记的光强度数据的指令，所述处理部处理除所述标记的光强度数据以外的所述多个事件数据项。
(2)
根据(1)所述的信息处理装置，其中，在超过检测来自所述粒子的光的光检测器的检测上限和/或在处理所述光强度数据时超过处理数据的能力的处理上限的情况下，提供所述标记。
(3)
根据(2)的信息处理装置，其中，在来自光检测器的信号进行模数转换时，超过模数转换的输入电压范围的情况下赋予标记。
(4)
根据(2)的信息处理装置，其中，在处理数字信号时超过保持数据的容量的上限的情况下赋予标记。
(5)
根据(2)的信息处理装置，其中，在处理光强度数据时超过处理数据的能力的上限的情况下赋予标记。
(6)
根据(1)至(5)中任一项所述的信息处理装置，其中，指令由用户经由用户接口输入。
(7)
根据(1)所述的信息处理装置，其中
所述事件数据包括通过将多个光束照射至所述粒子而获得的多个光强度数据项，并且，
根据排除标记的光强度数据的指令，处理部处理除包括光强度数据的事件数据以外的多个事件数据项。
(8)
根据(7)的信息处理装置，其中，处理部输出包括标记的光强度数据的事件数据的比率。
(9)
根据(7)或(8)的信息处理装置，其中，根据排除标记的光强度数据的指令，处理部输出针对除包括标记的光强度数据的事件数据以外的多个事件数据项创建的绘图。
(10)
根据(8)所述的信息处理装置，其中，在所述比率超过阈值的情况下，所述处理部向用户输出警告。
(11)
根据(7)至(10)中任一项所述的信息处理装置，其中，根据排除标记的光强度数据的指令，处理部对与除包括光强度数据的事件数据以外的多个事件数据项相关的粒子执行筛分处理。
(12)
根据(7)的信息处理装置，其中，处理部输出针对多个事件数据项创建的绘图。
(13)
根据(12)的信息处理装置，其中，处理部计算包括标记的光强度数据的事件数据相对于包括在绘图上的选通区域中的多个事件数据项的比率。
(14)
根据(13)所述的信息处理装置，其中，在所述比率超过阈值的情况下，所述处理部向用户输出警告。
(15)
一种粒子分析装置，包括：
光照射部，被配置为将光照射至多个粒子中的一个；
光检测部，被配置为检测来自所述粒子的光；
存储部，被配置为存储包括从光检测部获得的光强度数据的事件数据；以及
处理部，被配置为处理从所述多个粒子获取的多个事件数据项，其中，
所述存储部存储在所述光强度数据超过阈值的情况下被赋予至所述光强度数据的标记，以及
根据排除所述标记的光强度数据的指令，所述处理部处理除所标记的光强度数据以外的所述多个事件数据项。
(16)
一种粒子筛分装置，包括：
光照射部，被配置为将光照射至多个粒子中的一个；
光检测部，被配置为检测来自所述粒子的光；
存储部，被配置为存储包括从光检测部获得的光强度数据的事件数据；以及
处理部，被配置为处理从所述多个粒子获取的多个事件数据项，其中，
所述存储部存储在所述光强度数据超过阈值的情况下被赋予至所述光强度数据的标记，
根据排除所述标记的光强度数据的指令，所述处理部处理除所述标记的光强度数据以外的所述多个事件数据项，以及，
进一步设置筛分部以根据排除标记的光强度数据的指令来筛分与除包括光强度数据的事件数据以外的多个事件数据项相关联的粒子。
(17)
一种信息处理方法，包括：
存储包括通过向多个粒子中的一个照射光而获得的光强度数据的事件数据的步骤；以及
处理从所述多个粒子获取的多个事件数据项的步骤，其中，
所述存储步骤存储在所述光强度数据超过阈值的情况下被赋予至所述光强度数据的标记，并且，
根据排除所述标记的光强度数据的指令，所述处理步骤处理除所述标记的光强度数据以外的所述多个事件数据项。
参考标号列表
10信息处理装置
11存储部
12处理部
121算术处理部
122输出处理部
13用户接口
14显示部
20粒子分析装置
21光照射部
22光检测部
30粒子筛分装置
31筛分部。

Claims (17)

1.一种信息处理装置，包括：
存储部，被配置为存储包括通过对多个粒子中的一个照射光而获得的光强度数据的事件数据；以及
处理部，被配置为处理从所述多个粒子获取的多个事件数据项，其中，
所述存储部存储在所述光强度数据超过阈值的情况下被赋予至所述光强度数据的标记，并且，
根据排除所标记的光强度数据的指令，所述处理部处理除所标记的光强度数据以外的多个事件数据项。
2.根据权利要求1所述的信息处理装置，其中，在处理所述光强度数据时，在超过光检测器的检测上限和/或超过处理数据的能力的处理上限的情况下，赋予所述标记，所述光检测器检测来自所述粒子的光。
3.根据权利要求2所述的信息处理装置，其中，在来自所述光检测器的信号的模数转换时，在超过所述模数转换的输入电压的范围的情况下，赋予所述标记。
4.根据权利要求2所述的信息处理装置，其中，在处理数字信号时，在超过保持数据的容量的上限的情况下，赋予所述标记。
5.根据权利要求2所述的信息处理装置，其中，在处理所述光强度数据时，在超过所述处理数据的能力的上限的情况下，赋予所述标记。
6.根据权利要求1所述的信息处理装置，其中，所述指令由用户经由用户接口输入。
7.根据权利要求1所述的信息处理装置，其中，
所述事件数据包括通过对所述粒子照射多个光束而获得的多个光强度数据项，并且，
根据排除所标记的光强度数据的指令，所述处理部处理除包括该光强度数据的事件数据以外的多个事件数据项。
8.根据权利要求7所述的信息处理装置，其中，所述处理部输出包括所标记的光强度数据的事件数据的比率。
9.根据权利要求7所述的信息处理装置，其中，根据排除所标记的光强度数据的指令，所述处理部输出针对除包括所标记的光强度数据的事件数据以外的多个事件数据项而创建的绘图。
10.根据权利要求8所述的信息处理装置，其中，在所述比率超过阈值的情况下，所述处理部向用户输出警告。
11.根据权利要求7所述的信息处理装置，其中，根据排除所标记的光强度数据的所述指令，所述处理部对与除包括该光强度数据的事件数据以外的多个事件数据项相关联的粒子执行筛分处理。
12.根据权利要求7所述的信息处理装置，其中，所述处理部输出针对所述多个事件数据项而创建的绘图。
13.根据权利要求12所述的信息处理装置，其中，所述处理部计算包括所标记的光强度数据的所述事件数据相对于所述绘图上的选通区域中包括的多个事件数据项的比率。
14.根据权利要求13所述的信息处理装置，其中，在所述比率超过阈值的情况下，所述处理部向用户输出警告。
15.一种粒子分析装置，包括：
光照射部，被配置为对多个粒子中的一个照射光；
光检测部，被配置为检测来自所述粒子的光；
存储部，被配置为存储包括从所述光检测部获得的光强度数据的事件数据；以及
处理部，被配置为处理从所述多个粒子获取的多个事件数据项，其中，
所述存储部存储在所述光强度数据超过阈值的情况下被赋予至所述光强度数据的标记，并且，
根据排除所标记的光强度数据的指令，所述处理部处理除所标记的光强度数据以外的多个事件数据项。
16.一种粒子筛分装置，包括：
光照射部，被配置为对多个粒子中的一个照射光；
光检测部，被配置为检测来自所述粒子的光；
存储部，被配置为存储包括从所述光检测部获得的光强度数据的事件数据；以及
处理部，被配置为处理从所述多个粒子获取的多个事件数据项，其中，
所述存储部存储在所述光强度数据超过阈值的情况下被赋予至所述光强度数据的标记，
根据排除所标记的光强度数据的指令，所述处理部处理除所标记的光强度数据以外的多个事件数据项，并且
进一步设置筛分部，以根据排除所标记的光强度数据的指令筛分与包括该光强度数据的事件数据以外的多个事件数据项相关联的粒子。
17.一种信息处理方法，包括：
存储包括通过对多个粒子中的一个照射光而获得的光强度数据的事件数据的步骤；以及
处理从所述多个粒子获取的多个事件数据项的步骤，其中，
存储步骤存储在所述光强度数据超过阈值的情况下被赋予至所述光强度数据的标记，并且，
根据排除所标记的光强度数据的指令，处理步骤处理所标记的光强度数据以外的多个事件数据项。
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