CN116318449A - 温度校准方法及装置 - Google Patents
温度校准方法及装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN116318449A CN116318449A CN202310575044.6A CN202310575044A CN116318449A CN 116318449 A CN116318449 A CN 116318449A CN 202310575044 A CN202310575044 A CN 202310575044A CN 116318449 A CN116318449 A CN 116318449A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- calibration
- power
- target
- frequency
- temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 98
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 17
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 12
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 12
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 abstract description 16
- 238000013500 data storage Methods 0.000 abstract description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000012887 quadratic function Methods 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 2
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/10—Monitoring; Testing of transmitters
- H04B17/11—Monitoring; Testing of transmitters for calibration
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D18/00—Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
- G01D18/008—Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00 with calibration coefficients stored in memory
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D3/00—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
- G01D3/028—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure
- G01D3/036—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure on measuring arrangements themselves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R35/00—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
- G01R35/005—Calibrating; Standards or reference devices, e.g. voltage or resistance standards, "golden" references
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/20—Monitoring; Testing of receivers
- H04B17/21—Monitoring; Testing of receivers for calibration; for correcting measurements
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/30—Monitoring; Testing of propagation channels
- H04B17/309—Measuring or estimating channel quality parameters
- H04B17/318—Received signal strength
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
Abstract
本发明提供一种温度校准方法及装置，涉及通信技术领域，其中，温度校准方法，包括：获取多个校准功率和多个校准频率；将仪表的输出功率设置为第一校准功率，并将所述仪表的工作频率设置为第一校准频率，所述第一校准功率为任一校准功率，所述第一校准频率为任一校准频率；采集所述仪表分别在至少三个温度下的实际功率，并根据所述第一校准功率、所述至少三个温度以及各所述实际功率进行二次项拟合，得到温度与功率差值对应的拟合系数；将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表中。提高了温度校准的精确度和进行功率补偿的准确性与适应性，极大地减少了数据存储量。
Description
技术领域
本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种温度校准方法及装置。
背景技术
随着通信技术的发展，对于通信所需的测量仪器或仪表中射频链路指标要求得越来越严格，尤其是对功率精度的要求越来越严格。但是由于射频链路中的器件特性，在不同温度环境下，输出的特性指标不同，进而影响了输出功率，导致功率的精度下降，影响仪表测量的准确度；并且随着通信的格式多样性，射频链路也变得越来越复杂，进而对于温度补偿精度的要求也越来越高。因此，亟需一种有效的方法以解决上述问题。
发明内容
针对现有技术存在的问题，本发明实施例提供一种温度校准方法及装置。
本发明提供一种温度校准方法，包括：
获取多个校准功率和多个校准频率；
将仪表的输出功率设置为第一校准功率，并将所述仪表的工作频率设置为第一校准频率，所述第一校准功率为任一校准功率，所述第一校准频率为任一校准频率；
采集所述仪表分别在至少三个温度下的实际功率，并根据所述第一校准功率、所述至少三个温度以及各所述实际功率进行二次项拟合，得到温度与功率差值对应的拟合系数；
将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表中。
根据本发明提供的一种温度校准方法，所述根据所述第一校准功率、所述至少三个温度以及各所述实际功率进行二次项拟合，得到温度与功率差值对应的拟合系数，包括：
计算各所述实际功率与所述第一校准功率的功率差值；
利用最小二乘法，对各所述温度和各所述温度对应的所述功率差值进行二次项拟合，得到温度与功率差值对应的拟合系数。
根据本发明提供的一种温度校准方法，所述将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表中之前，还包括：
获取所述二次项拟合的拟合度；
相应地，所述将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表中，包括：
在所述拟合度大于或等于预设阈值的情况下，将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表。
根据本发明提供的一种温度校准方法，所述获取所述二次项拟合的拟合度之后，还包括：
在所述拟合度小于预设阈值的情况下，对所述仪表进行调整，并继续执行所述将仪表的输出功率设置为第一校准功率的步骤。
根据本发明提供的一种温度校准方法，所述将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表中之后，还包括：
在使用所述仪表进行射频信号功率测量时，识别所述仪表的当前输出功率和当前工作频率；
确定所述当前输出功率关联的至少一个目标校准功率和所述当前工作频率关联的至少一个目标校准频率；
根据所述至少一个目标校准功率和所述至少一个目标校准频率，从所述校准表中获取对应的目标拟合系数，并根据所述目标拟合系数和当前温度，确定目标功率差值；
基于所述目标功率差值，进行功率偏差补偿。
根据本发明提供的一种温度校准方法，所述根据所述至少一个目标校准功率和所述至少一个目标校准频率，从所述校准表中获取对应的目标拟合系数，并根据所述目标拟合系数和当前温度，确定目标功率差值，包括：
在所述当前输出功率为目标校准功率，且所述当前工作频率为目标校准频率的情况下，从所述校准表中获取所述目标校准功率和所述目标校准频率关联存储的目标拟合系数；
将当前目标温度输入至所述目标拟合系数对应的拟合函数中进行计算，得到目标功率差值。
根据本发明提供的一种温度校准方法，所述根据所述至少一个目标校准功率和所述至少一个目标校准频率，从所述校准表中获取对应的目标拟合系数，并根据所述目标拟合系数和当前温度，确定目标功率差值，包括：
在所述当前输出功率不是所述目标校准功率，和/或所述当前工作频率不是所述目标校准频率的情况下，从所述校准表中获取各目标内容关联存储的目标拟合系数，所述目标内容包括任一目标校准功率和任一目标校准频率；
将当前目标温度输入至各所述目标拟合系数对应的拟合函数中进行计算，得到多个初始功率差值；
调用拉格朗日差值法对所述多个初始功率差值进行处理，得到目标功率差值。
本发明还提供一种温度校准装置，包括：
第一获取模块，被配置为获取多个校准功率和多个校准频率；
设置模块，被配置为将仪表的输出功率设置为第一校准功率，并将所述仪表的工作频率设置为第一校准频率，所述第一校准功率为任一校准功率，所述第一校准频率为任一校准频率；
采集模块，被配置为采集所述仪表分别在至少三个温度下的实际功率，并根据所述第一校准功率、所述至少三个温度以及各所述实际功率进行二次项拟合，得到温度与功率差值对应的拟合系数；
存入模块，被配置为将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表中。
本发明还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述任一种所述温度校准方法。
本发明还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述温度校准方法。
本发明还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述温度校准方法。
本发明提供的温度校准方法，通过获取多个校准功率和多个校准频率，将仪表的输出功率设置为第一校准功率，并将仪表的工作频率设置为第一校准频率，分别采集仪表分别在至少三个温度下的实际功率，并根据第一校准功率、至少三个温度以及各实际功率进行二次项拟合，得到温度与功率差值对应的拟合系数；将拟合系数、第一校准功率和第一校准频率关联存入仪表的校准表中。提高了温度校准的精确度，进而可以提高不同仪表进行功率补偿的准确性与适应性，减少了获取到的目标功率差值的误差。且在标准频率和标准功率较多时，无需针对标准频率和标准功率的组合，存储每个温度下的功率差值，只需针对标准频率和标准功率的组合，存储温度与功率差值对应的拟合系数，极大地减少了数据存储量。
附图说明
为了更清楚地说明本发明或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明提供的射频链路的结构示意图；
图2是本发明提供的温度校准方法的流程示意图之一；
图3是本发明提供的温度校准方法的流程示意图之二；
图4是本发明提供的温度校准装置的结构示意图；
图5是本发明提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明中的附图，对本发明中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
为了便于更加清晰地理解本发明各实施例，首先对一些相关的背景知识进行如下介绍。
随着通信技术的发展，对于通信所需的测量仪器或仪表中射频链路指标要求得越来越严格，尤其是对功率精度的要求越来越严格。但是由于射频链路中的器件特性，在不同温度环境下，输出的特性指标不同，进而影响了输出功率，导致功率的精度下降，影响仪表测量的准确度；并且随着通信的格式多样性，射频链路也变得越来越复杂，进而对于温度补偿精度的要求也越来越高。例如图1所示的射频链路，图1是本发明提供的射频链路的结构示意图：中频高速数模转换（Digital-to-Analog Converter，DAC）和本振经过多次混频输出，然后经过信号处理单元（滤波，数控、放大、4级数控衰减器等），最终输出。
现有技术中，通常把仪表放入温箱中，遍历不同的温度，得到不同的功率。完成遍历后，建立温度和功率查询表存储到仪表中。在设置输出功率时，先确定输出功率对应的校准功率，然后基于温度和功率查询表，查找到输出功率对应的校准功率和校准功率对应的校准温度，通过补偿函数：F(X)=(y0-y1) / (x0-x1) * X，确定输出功率对应的温度补偿值，其中F(X)是功率补偿值（功率差值），y0和y1为校准功率，x0为校准功率y0对应的校准温度，x1为校准功率y1对应的校准温度，X表示当前温度。
然而，现在技术需要建立温度和功率查询表，当频率和功率较多时，对应不同频率下的各功率，均需要存储所有温度和该功率的对应关系，导致需要存储的数据量较大。且在采集功率时，无法实时判断数据是否正常，如果发生偶发性误差造成数据不正确，就会建立有误差的温度和功率查询表，而该误差也只能在特殊的温度下才能显示出来，这时候可能就要消耗更多的时间去定位错误。此外，对于不同的射频链路，温度和功率呈现的可能不是单一的一次线性关系，例如在图1所示的射频链路中使用的仪表，在直通链路时，温度和功率差值呈现的是二次项的关系，即以温度和功率之间呈现单一的一次线性关系对于射频链路适应是有限的。
因此，本发明提供了一种温度校准方法及装置，通过获取多个校准功率和多个校准频率，将仪表的输出功率设置为第一校准功率，并将仪表的工作频率设置为第一校准频率，分别采集仪表分别在至少三个温度下的实际功率，并根据第一校准功率、至少三个温度以及各实际功率进行二次项拟合，得到温度与功率差值对应的拟合系数；将拟合系数、第一校准功率和第一校准频率关联存入仪表的校准表中。提高了温度校准的精确度，进而可以提高不同仪表进行功率补偿的准确性与适应性，减少了获取到的目标功率差值的误差。且在标准频率和标准功率较多时，无需针对标准频率和标准功率的组合，存储每个温度下的功率差值，只需针对标准频率和标准功率的组合，存储温度与功率差值对应的拟合系数，极大地减少了数据存储量。
此外，由于温度和功率差值的关系呈线性关系，但是一次项拟合具有局限性，通过最小二乘法进行二次项拟合，求拟合系数，相对比之前采用一次项拟合的方法，能够符合更广泛的链路应用，适用性更广。且对于非校准点采用的是拉格朗日插值法计算得到的，可以根据链路特性，然后自动扩展多次项线性插值，不仅使计算更加灵活，还提高功率补偿的准确率。
下面结合图2-图4描述本发明的温度校准方法及装置。
图2是本发明提供的温度校准方法的流程示意图之一，参见图2所示，包括步骤201-步骤204，其中：
步骤201：获取多个校准功率和多个校准频率。
首先需要说明的是，本发明的执行主体可以是进行温度校准的任何电子设备，主要用于验证通信领域中射频链路的温度补偿。
具体地，校准功率是指用于校准的标准功率。校准频率是指用于校准的标准频率。
实际应用中，获取多个校准功率和多个校准频率的方法有多种。本发明对此不作限定。
示例性地，用户通过温度校准设置页面，填写多个校准功率和多个校准频率，相应地，执行主体获取到多个校准功率和多个校准频率。
示例性地，执行主体接收到温度校准指令或者校准功率和校准频率获取指令，相应地，执行主体从温度校准指令或者校准功率和校准频率获取指令所指向的存储区获取多个校准功率和多个校准频率。
步骤202：将仪表的输出功率设置为第一校准功率，并将所述仪表的工作频率设置为第一校准频率，所述第一校准功率为任一校准功率，所述第一校准频率为任一校准频率。
具体地，仪表是指射频仪表，也即通信所需的测量仪器。输出功率是指设置的仪表的理想功率或者目标功率。工作频率是指设置的仪表在使用时的频率，或者射频链路的频率。
实际应用中，在得到多个校准功率和多个校准频率的基础上，进一步地，可以将不同的校准功率和多个校准频率进行组合，即每个校准功率和每个校准频率进行组合。例如，有2个校准功率和3个校准频率，则将第一个校准功率分别与每个校准频率进行组合，得到3个组合，将第二个校准功率分别与每个校准频率进行组合，又得到3个组合，一共得到6个组合。
每个组合中包括一个校准功率和一个校准频率。针对每个组合，将仪表的输出功率设置为该组合中的校准功率，并将仪表的工作频率设置为该组合中的校准频率。然后，可以进行该校准功率以及该校准频率下的温度校准。
此外，设置前，还可以对仪表进行功率校准，得到相应功率下的对应衰减态。例如，校准频率为6G，校准功率为5dBm和0dBm，通过设置衰减状态T1，使得输出功率为5dBm，通过设置衰减态T2使得输出功率为0dBm。当仪表设置6G，输出功率为5dBm时，就调用T1衰减态，设置输出功率为0dBm时，就调用T2衰减态。输出功率和衰减态一一对应，就是功率校准。如此，可以进一步提高温度校准的准确度。
步骤203：采集所述仪表分别在至少三个温度下的实际功率，并根据所述第一校准功率、所述至少三个温度以及各所述实际功率进行二次项拟合，得到温度与功率差值对应的拟合系数。
具体地，实际功率是指射频信号发出的功率。拟合系数是指拟合形成的函数中的系数。功率差值是指功率偏差值。
实际应用中，在每种校准功率和校准频率的组合下，为提高温度校准的准确度，需要采集至少三个温度下的实际功率。在将仪表的输出功率设置为某校准功率，并将仪表的工作频率设置为某校准频率的情况下，先将仪表的射频模块PCB板调节至第一个温度，并对仪表进行测试，得到该仪表的第一个实际功率。然后将仪表的射频模块PCB板调节至第二个温度，并对仪表进行测试，得到该仪表的第二实际功率，依次类推，直至遍历完至少三个温度，得到至少三个实际功率。
进一步地，将该校准功率对应的至少三个温度和至少三个实际功率进行二次项拟合，得到温度与功率差值的二次函数和二次函数对应的系数，也即拟合系数，二次函数如式（1）所示。
式（1）中，y表示功率差值，x表示温度，a、b和c均为拟合系数。
步骤204：将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表中。
具体地，校准表是指用于进行温度校准的表，其存储在仪表的存储中。
在得到第一校准功率和第一校准频率下，温度与功率差值对应的拟合系数的基础上，进一步地，将该拟合系数、第一校准功率和第一校准频率关联存入仪表的校准表中。
然后，遍历各校准功率和校准频率的组合，得到不同校准功率和不同校准频率的组合对应的拟合系数，并关联存入仪表的校准表。
本发明提供的温度校准方法，通过获取多个校准功率和多个校准频率，将仪表的输出功率设置为第一校准功率，并将仪表的工作频率设置为第一校准频率，分别采集仪表分别在至少三个温度下的实际功率，并根据第一校准功率、至少三个温度以及各实际功率进行二次项拟合，得到温度与功率差值对应的拟合系数；将拟合系数、第一校准功率和第一校准频率关联存入仪表的校准表中。提高了温度校准的精确度，进而可以提高不同仪表进行功率补偿的准确性与适应性，减少了获取到的目标功率差值的误差。且在标准频率和标准功率较多时，无需针对标准频率和标准功率的组合，存储每个温度下的功率差值，只需针对标准频率和标准功率的组合，存储温度与功率差值对应的拟合系数，极大地减少了数据存储量。
可选地，为了提高拟合精准度和拟合效率，可以采用最小二乘法进行二次项拟合。也即所述根据所述第一校准功率、所述至少三个温度以及各所述实际功率进行二次项拟合，得到温度与功率差值对应的拟合系数，具体实现过程可以如下：
计算各所述实际功率与所述第一校准功率的功率差值；
利用最小二乘法，对各所述温度和各所述温度对应的所述功率差值进行二次项拟合，得到温度与功率差值对应的拟合系数。
具体地，最小二乘法，也即最小平方法，是一种数学优化技术，它通过最小化误差的平方和寻找数据的最佳函数匹配；利用最小二乘法可以简便地求得未知的数据，并使得这些求得的数据与实际数据之间误差的平方和为最小；最小二乘法还可用于曲线拟合。
实际应用中，可以先计算第一校准功率与各个实际功率的差，也即功率差值。然后，利用最小二乘法，如式（2）所示，对每个温度和每个温度对应的功率差值，进行二次项拟合，得到第一校准功率和第一校准频率下，温度与功率差值对应的拟合系数。
式（2）中，f（x）表示功率差值，x表示温度，a1至am均为拟合系数，φ1（x）至φm（x）均表示针对温度事先选定的一组线性无关的函数，m表示m个拟合系数。由于是进行二次项拟合，m=3，φ1（x）=x2，φ2（x）=x，φ3（x）=x0=1。
如此，通过最小二乘法进行二次项拟合对温度和功率差值直接采取二次项拟合的方式，得到温度和功率差值的拟合系数，在准确地获取拟合系数的同时，提高获取拟合系数的效率，进而提高温度补偿的效率。
可选地，还可以利用牛顿插值法、牛顿迭代法、区间二分法、弦截法、雅克比迭代法和牛顿科特斯数值积分法等，对各温度和各温度对应的功率差值进行二次项拟合。本发明对此不作任何限定。
在本发明一个或更多个可选的实施例中，在确定了拟合系数的基础上，可以直接将拟合系数、第一校准功率和第一校准频率关联存入仪表的校准表中，如此，可以简化流程，避免其他繁琐的过程，进而提高温度校准的速率。
在本发明一个或更多个可选的实施例中，为了保证温度校准效率，需要对采集的数据（实际功率）进行校验。在校验通过的情况下进行关联存入。也即所述将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表中之前，还包括：
获取所述二次项拟合的拟合度；
相应地，所述将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表中，具体实现过程可以如下：
在所述拟合度大于或等于预设阈值的情况下，将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表。
具体地，拟合优度（Goodness of Fit）是指回归线对观测值的拟合程度，度量拟合优度的统计量是可决系数，也即拟合度，用R²表示，R²的最大值为1：R²的值越接近1，说明回归线对观测值的拟合程度越好；反之，R²的值越小，说明回归线对观测值的拟合程度越差。预设阈值是预先设置的拟合度阈值。
实际应用中，可以在进行二次项拟合时，由于根据拟合度的大小更直观地反映了温度和功率差值的线性关系，可以获取二次项拟合的拟合度。然后通过设置预设阈值，实时判断功率数据（实际功率）采集是否异常：在拟合度大于或等于预设阈值的情况下，说明实际功率采集正常，采集过程没有误差引入，拟合系数准确，此时，可以将拟合系数、第一校准功率和第一校准频率关联存入所述仪表的校准表。
如此，在对温度和功率差值进行拟合时，求得拟合度，根据拟合度和预设阈值比较大小进而判断是否有误差引入，能够提早发现问题，实时检测偶发误差。
在本发明一个或更多个可选的实施例中，所述获取所述二次项拟合的拟合度之后，还包括：
在所述拟合度小于预设阈值的情况下，对所述仪表进行调整，并继续执行所述将仪表的输出功率设置为第一校准功率的步骤。
实际应用中，在拟合度小于预设阈值的情况下，说明实际功率采集异常，采集过程有误差引入，拟合系数不准确，此时，对仪表进行调整，然后重新开始采集实际功率，也即执行将仪表的输出功率设置为第一校准功率以及之后的步骤。
如此，在对温度和功率差值进行拟合时，求得拟合度，根据拟合度和预设阈值比较大小进而判断是否有误差引入，能够提早发现问题，实时检测偶发误差，而在误差引入时，可以重新对温度下的实际功率重新采集，进而有效地保证温度校准的可靠性和准确度。
参见图3，图3是本发明提供的温度校准方法的流程示意图之二：在确定N个校准功率和M个校准频率（N和M均为大于1的整数）的基础上，先设置校准功率，即令i=1，将第i个校准功率作为仪表的输出功率。再设置校准频率，即令j=1，将第j个校准频率作为仪表的工作频率。然后，进行二次项拟合，得到拟合系数和拟合度，即采集仪表分别在K个温度下的实际功率，K为大于2的整数；根据第i个校准功率、K个温度和各实际功率，对温度与功率差值进行拟合，得到拟合系数和拟合度。进而，判断拟合度是否大于或等于预设阈值，若否，返回重新开始，若是，将二次函数的系数、第i个校准功率和第j个校准频率关联存入校准表。
然后，判断是否为最后一个校准频率，若否，返回设置校准频率，即在j小于M的情况下，令j=j+1，继续执行将第j个校准频率作为仪表的工作频率的步骤；否是，判断是否为最后一个校准功率，即，即在j等于M的情况下，判断i是否等于N。若不是最后一个校准功率，则返回设置校准功率，即在i小于N的情况下，令i=i+1和j=1，继续执行将第i个校准功率作为仪表的输出功率的步骤；若是最后一个校准功率，则结束，即在i等于N的情况下，结束采集。
需要说明的是，在对仪表进行温度校准后，还可以使用仪表进行温度补偿，即功率偏差补偿。也即所述将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表中之后，还包括：
在使用所述仪表进行射频信号功率测量时，识别所述仪表的当前输出功率和当前工作频率；
确定所述当前输出功率关联的至少一个目标校准功率和所述当前工作频率关联的至少一个目标校准频率；
根据所述至少一个目标校准功率和所述至少一个目标校准频率，从所述校准表中获取对应的目标拟合系数，并根据所述目标拟合系数和当前温度，确定目标功率差值；
基于所述目标功率差值，进行功率偏差补偿。
具体地，当前输出功率是指仪表当前的输出功率。当前工作频率即仪表当前的工作频率。目标校准功率是指与当前输出功率相对应的校准功率。目标校准频率是指与当前工作频率相对应的校准频率。
实际应用中，在使用仪表进行射频信号功率测量时，仪表的板间温度可能会变化，导致仪表测量的实际功率发生变化，此时需要重新选取当前温度对应的功率差值来对实际功率进行功率偏差补偿，即功率补偿。
可以先识别确定仪表的当前输出功率和当前工作频率，然后根据当前输出功率确定至少一个目标校准功率，根据当前工作频率确定至少一个目标校准频率。进一步地，根据各目标校准功率和各目标校准频率，从校准表中获取对应的目标拟合系数，然后基于目标拟合系数和当前温度，反推出目标功率差值，进而基于目标功率差值进行功率偏差补偿。如此，可以提高基于温度引起的功率补偿的效率。
可选地，可以判断当前输出功率和当前工作频率是否为标准点。针对标准点和非标准点采用不同的方式确定目标功率差值。
示例性地，所述根据所述至少一个目标校准功率和所述至少一个目标校准频率，从所述校准表中获取对应的目标拟合系数，并根据所述目标拟合系数和当前温度，确定目标功率差值，包括：
在所述当前输出功率为目标校准功率，且所述当前工作频率为目标校准频率的情况下，从所述校准表中获取所述目标校准功率和所述目标校准频率关联存储的目标拟合系数；
将当前目标温度输入至所述目标拟合系数对应的拟合函数中进行计算，得到目标功率差值。
具体地，当前目标温度为仪表的当前温度。
实际应用中，在当前输出功率和当前工作频率均为校准点的情况下，即当前输出功率为多个校准功率中的一个，当前工作频率为多个校准频率中的一个，此时，将当前输出功率确定为目标校准功率，将当前工作频率确定为目标校准频率，即目标校准功率和目标校准频率均为一个。进一步地，从校准表中获取与目标校准功率和目标校准频率均关联的目标拟合系数。然后将目标拟合系数代入至二次函数中，得到拟合函数，然后将当前目标温度输入至拟合函数中，得到目标功率差值。如此，在仪表处于校准点的情况下，可以基于校准表快速地确定目标功率差值，从而提高功率补偿的效率。
示例性地，所述根据所述至少一个目标校准功率和所述至少一个目标校准频率，从所述校准表中获取对应的目标拟合系数，并根据所述目标拟合系数和当前温度，确定目标功率差值，具体实现过程可以如下：
在所述当前输出功率不是所述目标校准功率，和/或所述当前工作频率不是所述目标校准频率的情况下，从所述校准表中获取各目标内容关联存储的目标拟合系数，所述目标内容包括任一目标校准功率和任一目标校准频率；
将当前目标温度输入至各所述目标拟合系数对应的拟合函数中进行计算，得到多个初始功率差值；
调用拉格朗日差值法对所述多个初始功率差值进行处理，得到目标功率差值。
实际应用中，在当前输出功率和当前工作频率中至少一个不为校准点的情况下，即当前输出功率不是目标校准功率，和/或所述当前工作频率不是目标校准频率。此时，选取大于当前输出功率且与当前输出功率最接近的至少一个校准功率作为目标校准功率，选取小于当前输出功率且与当前输出功率最接近的至少一个校准功率作为目标校准功率，即得到至少两个目标校准功率；同样地，选取大于当前工作频率且与当前工作频率最接近的至少一个校准频率作为目标校准频率，选取小于当前工作频率且与当前工作频率最接近的至少一个校准频率作为目标校准频率，即得到至少两个目标校准频率。
然后将每个目标校准功率和各目标校准频率进行组合，得到多个目标内容。例如，有2个目标校准功率和2个目标校准频率，第一个目标校准功率和第一个目标校准频率组合，第一个目标校准功率和第二个目标校准频率组合，第二个目标校准功率和第一个目标校准频率组合，第二个目标校准功率和第二个目标校准频率组合，得到4个目标内容。
针对每个目标内容，从校准表中获取与目标内容关联存储的目标拟合系数。进而，针对将当前目标温度输入至各目标拟合系数对应的拟合函数中进行计算，得到多个初始功率差值，再调用拉格朗日差值法对多个初始功率差值进行处理，得到目标功率差值。拉格朗日差值法如式（3）所示。
式（3）中，L（x）表示求得的功率差值，如目标差值功率或备选差值功率；x表示当前目标温度；yj表示第j个系数；lj(x)表示第j个输入的功率差值（如初始差值功率或备选差值功率）对应的函数。
也即对于非校准点（当前输出功率和当前工作频率中至少一个不为校准点），通过选取相应邻近的几个校准点计算出相应的初始功率差值，然后通过拉格朗日插值法计算得到非校准点的目标功率差值。
需要说明的是，对于当前输出功率不是校准功率，且当前工作频率是校准频率的情况，通过拉格朗日插值法的一次项线性拟合多个初始功率差值，得到目标功率差值；对于当前工作频率不是校准频率的情况，则通过拉格朗日插值法的三次项线性拟合多个初始功率差值，得到目标功率差值。如此，对于非校准点采用的是拉格朗日插值法计算得到的，可以根据链路特性，然后自动扩展多次项线性插值，不仅使计算更加灵活，还提高功率补偿的准确率。
可选地，还可以针对所有的当前输出功率和当前工作频率采用相同的方式确定目标功率差值。也即所述根据所述至少一个目标校准功率和所述至少一个目标校准频率，从所述校准表中获取对应的目标拟合系数，并根据所述目标拟合系数和当前温度，确定目标功率差值，具体实现过程可以如下：
从所述校准表中获取各目标内容关联存储的目标拟合系数，所述目标内容包括任一目标校准功率和任一目标校准频率；
将当前目标温度输入至各所述目标拟合系数对应的拟合函数中进行计算，得到多个初始功率差值；
调用拉格朗日差值法的一次项线性拟合所述多个初始功率差值进行处理，得到多个备选功率差值；
调用拉格朗日差值法的三次项线性拟合所述多个备选功率差值进行处理，得到多个目标功率差值。
例如，仪表的当前输出功率为P，根据当前工作频率为F，首先根据当前工作频率为F，获取校准表中对应的校准频率：F1、F2、F3和F4（F1≤F≤F4），然后根据当前输出功率P，从温度校准表中，分别从F1、F2、F3和F4的频点，得到温度表中的校准功率P1和P2（P1≤P≤P2）对应的拟合系数。然后根据当前目标温度，分别计算出F1、F2、F3、F4下，P1和P2的温度引起的初始功率差值，随后根据拉格朗日插值法的一次项线性拟合，求得F1、F2、F3、F4下当前输出功率P的温度引起的备选功率差值；最后，根据F1、F2、F3、F4下当前输出功率P的温度引起的备选功率差值，利用拉格朗日插值法的三次项拟合求得当前工作频率F下当前输出功率P的温度引起的目标功率差值，通过数字域补偿该目标功率差值，即可完成当前工作频率为F以及当前输出功率为P的功率补偿。
如此，针对所有的当前输出功率和当前工作频率采用相同的方式确定目标功率差值，可以避免对其进行判断出错，从而采用错误的方式进行功率补偿，进而提高功率补偿的准确度。
下面对本发明提供的温度校准装置进行描述，下文描述的温度校准装置与上文描述的温度校准方法可相互对应参照。
图4是本发明提供的温度校准装置的结构示意图，如图4所示，该温度校准装置400包括：第一获取模块401、设置模块402、采集模块403和存入模块404，其中：
第一获取模块401，被配置为获取多个校准功率和多个校准频率；
设置模块402，被配置为将仪表的输出功率设置为第一校准功率，并将所述仪表的工作频率设置为第一校准频率，所述第一校准功率为任一校准功率，所述第一校准频率为任一校准频率；
采集模块403，被配置为采集所述仪表分别在至少三个温度下的实际功率，并根据所述第一校准功率、所述至少三个温度以及各所述实际功率进行二次项拟合，得到温度与功率差值对应的拟合系数；
存入模块404，被配置为将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表中。
本发明提供的温度校准装置，通过获取多个校准功率和多个校准频率，将仪表的输出功率设置为第一校准功率，并将仪表的工作频率设置为第一校准频率，分别采集仪表分别在至少三个温度下的实际功率，并根据第一校准功率、至少三个温度以及各实际功率进行二次项拟合，得到温度与功率差值对应的拟合系数；将拟合系数、第一校准功率和第一校准频率关联存入仪表的校准表中。提高了温度校准的精确度，进而可以提高不同仪表进行功率补偿的准确性与适应性，减少了获取到的目标功率差值的误差。且在标准频率和标准功率较多时，无需针对标准频率和标准功率的组合，存储每个温度下的功率差值，只需针对标准频率和标准功率的组合，存储温度与功率差值对应的拟合系数，极大地减少了数据存储量。
可选地，所述采集模块403，进一步被配置为：
计算各所述实际功率与所述第一校准功率的功率差值；
利用最小二乘法，对各所述温度和各所述温度对应的所述功率差值进行二次项拟合，得到温度与功率差值对应的拟合系数。
可选地，所述温度校准装置400还包括第二获取模块，被配置为：
获取所述二次项拟合的拟合度；
相应地，所述存入模块404，进一步被配置为：
在所述拟合度大于或等于预设阈值的情况下，将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表。
可选地，所述温度校准装置400还包括调整模块，被配置为：
在所述拟合度小于预设阈值的情况下，对所述仪表进行调整，并继续执行所述将仪表的输出功率设置为第一校准功率的步骤。
可选地，所述温度校准装置400还包括补偿模块，被配置为：
在使用所述仪表进行射频信号功率测量时，识别所述仪表的当前输出功率和当前工作频率；
确定所述当前输出功率关联的至少一个目标校准功率和所述当前工作频率关联的至少一个目标校准频率；
根据所述至少一个目标校准功率和所述至少一个目标校准频率，从所述校准表中获取对应的目标拟合系数，并根据所述目标拟合系数和当前温度，确定目标功率差值；
基于所述目标功率差值，进行功率偏差补偿。
可选地，所述补偿模块，进一步被配置为：
在所述当前输出功率为目标校准功率，且所述当前工作频率为目标校准频率的情况下，从所述校准表中获取所述目标校准功率和所述目标校准频率关联存储的目标拟合系数；
将当前目标温度输入至所述目标拟合系数对应的拟合函数中进行计算，得到目标功率差值。
可选地，所述补偿模块，进一步被配置为：
在所述当前输出功率不是所述目标校准功率，和/或所述当前工作频率不是所述目标校准频率的情况下，从所述校准表中获取各目标内容关联存储的目标拟合系数，所述目标内容包括任一目标校准功率和任一目标校准频率；
将当前目标温度输入至各所述目标拟合系数对应的拟合函数中进行计算，得到多个初始功率差值；
调用拉格朗日差值法对所述多个初始功率差值进行处理，得到目标功率差值。
图5示例了一种电子设备的实体结构示意图，如图5所示，该电子设备可以包括：处理器（processor）510、通信接口（Communications Interface）520、存储器（memory）530和通信总线540，其中，处理器510，通信接口520，存储器530通过通信总线540完成相互间的通信。处理器510可以调用存储器530中的逻辑指令，以执行温度校准方法，该方法包括：获取多个校准功率和多个校准频率；将仪表的输出功率设置为第一校准功率，并将所述仪表的工作频率设置为第一校准频率，所述第一校准功率为任一校准功率，所述第一校准频率为任一校准频率；采集所述仪表分别在至少三个温度下的实际功率，并根据所述第一校准功率、所述至少三个温度以及各所述实际功率进行二次项拟合，得到温度与功率差值对应的拟合系数；将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表中。
此外，上述的存储器530中的逻辑指令可以通过软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
另一方面，本发明还提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括计算机程序，计算机程序可存储在非暂态计算机可读存储介质上，所述计算机程序被处理器执行时，计算机能够执行上述各方法所提供的温度校准方法，该方法包括：获取多个校准功率和多个校准频率；将仪表的输出功率设置为第一校准功率，并将所述仪表的工作频率设置为第一校准频率，所述第一校准功率为任一校准功率，所述第一校准频率为任一校准频率；采集所述仪表分别在至少三个温度下的实际功率，并根据所述第一校准功率、所述至少三个温度以及各所述实际功率进行二次项拟合，得到温度与功率差值对应的拟合系数；将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表中。
又一方面，本发明还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以执行上述各方法提供的温度校准方法，该方法包括：获取多个校准功率和多个校准频率；将仪表的输出功率设置为第一校准功率，并将所述仪表的工作频率设置为第一校准频率，所述第一校准功率为任一校准功率，所述第一校准频率为任一校准频率；采集所述仪表分别在至少三个温度下的实际功率，并根据所述第一校准功率、所述至少三个温度以及各所述实际功率进行二次项拟合，得到温度与功率差值对应的拟合系数；将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表中。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (10)
1.一种温度校准方法，其特征在于，包括：
获取多个校准功率和多个校准频率；
将仪表的输出功率设置为第一校准功率，并将所述仪表的工作频率设置为第一校准频率，所述第一校准功率为任一校准功率，所述第一校准频率为任一校准频率；
采集所述仪表分别在至少三个温度下的实际功率，并根据所述第一校准功率、所述至少三个温度以及各所述实际功率进行二次项拟合，得到温度与功率差值对应的拟合系数；
将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表中。
2.根据权利要求1所述的温度校准方法，其特征在于，所述根据所述第一校准功率、所述至少三个温度以及各所述实际功率进行二次项拟合，得到温度与功率差值对应的拟合系数，包括：
计算各所述实际功率与所述第一校准功率的功率差值；
利用最小二乘法，对各所述温度和各所述温度对应的所述功率差值进行二次项拟合，得到温度与功率差值对应的拟合系数。
3.根据权利要求1或2所述的温度校准方法，其特征在于，所述将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表中之前，还包括：
获取所述二次项拟合的拟合度；
相应地，所述将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表中，包括：
在所述拟合度大于或等于预设阈值的情况下，将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表。
4.根据权利要求3所述的温度校准方法，其特征在于，所述获取所述二次项拟合的拟合度之后，还包括：
在所述拟合度小于预设阈值的情况下，对所述仪表进行调整，并继续执行所述将仪表的输出功率设置为第一校准功率的步骤。
5.根据权利要求1所述的温度校准方法，其特征在于，所述将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表中之后，还包括：
在使用所述仪表进行射频信号功率测量时，识别所述仪表的当前输出功率和当前工作频率；
确定所述当前输出功率关联的至少一个目标校准功率和所述当前工作频率关联的至少一个目标校准频率；
根据所述至少一个目标校准功率和所述至少一个目标校准频率，从所述校准表中获取对应的目标拟合系数，并根据所述目标拟合系数和当前温度，确定目标功率差值；
基于所述目标功率差值，进行功率偏差补偿。
6.根据权利要求5所述的温度校准方法，其特征在于，所述根据所述至少一个目标校准功率和所述至少一个目标校准频率，从所述校准表中获取对应的目标拟合系数，并根据所述目标拟合系数和当前温度，确定目标功率差值，包括：
在所述当前输出功率为目标校准功率，且所述当前工作频率为目标校准频率的情况下，从所述校准表中获取所述目标校准功率和所述目标校准频率关联存储的目标拟合系数；
将当前目标温度输入至所述目标拟合系数对应的拟合函数中进行计算，得到目标功率差值。
7.根据权利要求5所述的温度校准方法，其特征在于，所述根据所述至少一个目标校准功率和所述至少一个目标校准频率，从所述校准表中获取对应的目标拟合系数，并根据所述目标拟合系数和当前温度，确定目标功率差值，包括：
在所述当前输出功率不是所述目标校准功率，和/或所述当前工作频率不是所述目标校准频率的情况下，从所述校准表中获取各目标内容关联存储的目标拟合系数，所述目标内容包括任一目标校准功率和任一目标校准频率；
将当前目标温度输入至各所述目标拟合系数对应的拟合函数中进行计算，得到多个初始功率差值；
调用拉格朗日差值法对所述多个初始功率差值进行处理，得到目标功率差值。
8.一种温度校准装置，其特征在于，包括：
第一获取模块，被配置为获取多个校准功率和多个校准频率；
设置模块，被配置为将仪表的输出功率设置为第一校准功率，并将所述仪表的工作频率设置为第一校准频率，所述第一校准功率为任一校准功率，所述第一校准频率为任一校准频率；
采集模块，被配置为采集所述仪表分别在至少三个温度下的实际功率，并根据所述第一校准功率、所述至少三个温度以及各所述实际功率进行二次项拟合，得到温度与功率差值对应的拟合系数；
存入模块，被配置为将所述拟合系数、所述第一校准功率和所述第一校准频率关联存入所述仪表的校准表中。
9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至7任一项所述温度校准方法。
10.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述温度校准方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310575044.6A CN116318449B (zh) | 2023-05-22 | 2023-05-22 | 温度校准方法及装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310575044.6A CN116318449B (zh) | 2023-05-22 | 2023-05-22 | 温度校准方法及装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN116318449A true CN116318449A (zh) | 2023-06-23 |
| CN116318449B CN116318449B (zh) | 2023-09-19 |
Family
ID=86798193
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202310575044.6A Active CN116318449B (zh) | 2023-05-22 | 2023-05-22 | 温度校准方法及装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN116318449B (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117670823A (zh) * | 2023-12-05 | 2024-03-08 | 湖北东禾电子科技有限公司 | 一种基于图像识别的pcba线路板元件检测及评价方法 |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106330296A (zh) * | 2016-08-31 | 2017-01-11 | 无锡市电子仪表工业有限公司 | 一种光模块参数校准、补偿和自修正的方法 |
| CN107370464A (zh) * | 2017-07-14 | 2017-11-21 | 重庆微标科技股份有限公司 | 射频功放功率补偿***及方法 |
| US20180092048A1 (en) * | 2016-09-23 | 2018-03-29 | Qualcomm Incorporated | Transmit power gain calibration and compensation |
| CN111665392A (zh) * | 2018-05-16 | 2020-09-15 | 浙江大学台州研究院 | 石英晶片研磨的高精度频率统计校准的方法 |
| CN114487685A (zh) * | 2022-04-01 | 2022-05-13 | 中星联华科技（北京）有限公司 | 具有高精度校准功能的信号分析仪及其高精度校准方法 |
| US20220337324A1 (en) * | 2021-04-15 | 2022-10-20 | Qualcomm Incorporated | Two dimensional gain calibration for analog component |
| CN115276681A (zh) * | 2022-07-27 | 2022-11-01 | 东集技术股份有限公司 | Rfid读写器***、发射功率闭环控制方法及主控制器 |
-
2023
- 2023-05-22 CN CN202310575044.6A patent/CN116318449B/zh active Active
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106330296A (zh) * | 2016-08-31 | 2017-01-11 | 无锡市电子仪表工业有限公司 | 一种光模块参数校准、补偿和自修正的方法 |
| US20180092048A1 (en) * | 2016-09-23 | 2018-03-29 | Qualcomm Incorporated | Transmit power gain calibration and compensation |
| CN107370464A (zh) * | 2017-07-14 | 2017-11-21 | 重庆微标科技股份有限公司 | 射频功放功率补偿***及方法 |
| CN111665392A (zh) * | 2018-05-16 | 2020-09-15 | 浙江大学台州研究院 | 石英晶片研磨的高精度频率统计校准的方法 |
| US20220337324A1 (en) * | 2021-04-15 | 2022-10-20 | Qualcomm Incorporated | Two dimensional gain calibration for analog component |
| CN114487685A (zh) * | 2022-04-01 | 2022-05-13 | 中星联华科技（北京）有限公司 | 具有高精度校准功能的信号分析仪及其高精度校准方法 |
| CN115276681A (zh) * | 2022-07-27 | 2022-11-01 | 东集技术股份有限公司 | Rfid读写器***、发射功率闭环控制方法及主控制器 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 徐爱钧, 彭秀华: "智能仪表***误差的自动校准技术", 工业仪表与自动化装置, no. 06 * |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117670823A (zh) * | 2023-12-05 | 2024-03-08 | 湖北东禾电子科技有限公司 | 一种基于图像识别的pcba线路板元件检测及评价方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN116318449B (zh) | 2023-09-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN111478737B (zh) | 射频测试方法、装置、电子装置及存储介质 | |
| CN116318449B (zh) | 温度校准方法及装置 | |
| US11561166B2 (en) | Focusing linear model correction and linear model correction for multivariate calibration model maintenance | |
| CN108650034B (zh) | 一种射频设备的增益校准方法及装置 | |
| US7474975B2 (en) | Method to verify the outcome of calibration with a network analyzer | |
| CN101473196A (zh) | 测量装置及其使用方法 | |
| CN106506101B (zh) | 一种接收机幅频响应自动化校准方法及装置 | |
| CN104678343A (zh) | 一种波形发生器频响特性校准方法、装置及*** | |
| JP2010166185A (ja) | 電界強度を推定する装置及び方法 | |
| US7373266B2 (en) | Sensor calibration using selectively disconnected temperature | |
| CN104635035A (zh) | 基于分块式结构实现信号源功率快速校准的***及方法 | |
| CN105471455A (zh) | 一种宽温条件下信号接收通道频率响应的补偿方法 | |
| CN117129371B (zh) | 面密度测量仪的标定方法、装置和可读存储介质 | |
| US7639082B2 (en) | System and method for amplifier gain measurement and compensation | |
| CN103092815A (zh) | 校准装置及其对监测装置中的传递函数进行校准的方法 | |
| WO2019192054A1 (zh) | 数字预失真功放定标方法、***和数字预失真装置 | |
| CN116505947B (zh) | 模数转换器校准方法、装置、存储介质及芯片 | |
| Budylina et al. | Methods to ensure the reliability of measurements in the age of Industry 4.0 | |
| TWI345892B (en) | System for determining rf path loss between an rf source and an rf receiver with hysteresis and related methods | |
| Danilov et al. | Calibration of the measurement channels of measurement systems following graduation of the channels | |
| JP7165574B2 (ja) | 信号発生装置とその温度変化に対する補正方法 | |
| CN113542434B (zh) | 一种远程听力设备校准方法、***、存储介质及电子设备 | |
| CN115950787A (zh) | U型振动管式密度计及油品标准密度计算方法 | |
| CN118282538A (zh) | 功率校准方法、装置、电子设备及存储介质 | |
| Doynikov et al. | Accounting for Instability of the Metrological Characteristics of Means of Measurement When Choosing a Verification Method |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |