CN116298998B - 电池电芯检测方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

电池电芯检测方法、装置、电子设备及存储介质 Download PDF

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Abstract

本申请公开了一种电池电芯检测方法、装置、电子设备及存储介质。该电池电芯检测方法包括:响应于对待测电芯施加的变频激励脉冲信号,得到所述待测电芯在各频域的电压变化数据;根据所述待测电芯在各频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的电芯检测结果。本申请实施例提供的电池电芯检测方法能够提高电芯检测结果的准确性。

Description

电池电芯检测方法、装置、电子设备及存储介质
技术领域
本申请涉及电池技术领域,具体涉及一种电池电芯检测方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术
电池在装配完成后,通常需要对其电芯进行检测,以筛选出一些电芯异常的电池。目前,对于电池的电芯检测,通常是计算电芯的交流阻抗,以根据交流阻抗的计算结果来判断电芯是否异常。
然而,由于电芯通常为卷绕结构,而卷绕结构会对高频的交流电感造成影响,因此这种电池电芯检测方式容易导致电芯检测结果出现误判。
发明内容
鉴于上述问题,本申请提供一种电池电芯检测方法、装置、电子设备及存储介质,能够提高电芯检测结果的准确性。
第一方面,本申请提供了一种电池电芯检测方法,该方法包括:响应于对待测电芯施加的变频激励脉冲信号,得到所述待测电芯在各频域的电压变化数据;根据所述待测电芯在各频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的电芯检测结果;其中,所述变频激励脉冲信号包括多个激励脉冲信号,所述变频激励脉冲信号中存在多种时长不一致的激励脉冲信号间隔时长,所述激励脉冲信号间隔时长为相邻激励脉冲信号之间的间隔时长。
本申请实施例的技术方案中,通过获取施加了变频激励脉冲信号的待测电芯在各频域的电压变化数据,以利用正常电芯在各频域的电压变化数据,与异常电芯在各频域的电压变化数据存在差异的特性,通过待测电芯在各频域的电压变化数据,来判断该待测电芯是否异常,进而在减少了检测电芯所需的检测成本的同时,减小电芯结构对电芯检测结果造成的影响,提高电芯检测结果的准确性。
在一些实施例中,根据对待测电芯施加的激励脉冲信号,得到所述待测电芯的电压变化数据,包括:响应于对待测电芯施加的变频激励脉冲信号,得到所述待测电芯在第一频域以及第二频域的电压变化数据。从而可使后续能够根据待测电芯在第一频域以及第二频域的电压变化数据,来得到待测电芯在第一频域以及第二频域的电芯检测结果,进而能够快速判断电芯异常是属于第一频域还是第二频域,实现异常定位。
根据正常电芯消耗所述激励脉冲信号所需的化学自放电时长,确定所述第一频域和所述第二频域的激励脉冲信号间隔时长;其中,所述第二频域的激励脉冲信号间隔时长大于所述第一频域的激励脉冲信号间隔时长。在向待测电芯依次施加变频激励脉冲信号的情况下,由于第一/第二频域的激励脉冲信号间隔时长根据正常电芯消耗激励脉冲信号所需的化学自放电时长确定,而第二频域的激励脉冲信号间隔时长大于第一频域的激励脉冲信号间隔时长,因此在对待测电芯施加的变频激励脉冲信号后,可得到待测电芯在对应电子传输过程的第一频域的电压变化数据,以及待测电芯在对应离子传输过程和电荷转移过程的第二频域的电压变化数据,从而使后续在确定电芯异常时能够利用异常对应的频域快速进行异常定位。
在一些实施例中,所述第一频域的激励脉冲信号间隔时长小于正常电芯消耗所述激励脉冲信号所需的化学自放电时长,所述第二频域的激励脉冲信号间隔时长大于所述化学自放电时长。从而能够准确地划分出与电子传输过程对应的第一频域,以及与离子传输过程和电荷转移过程对应的第二频域,使后续的异常定位更为准确。
在一些实施例中,所述变频激励脉冲信号的激励脉冲信号间隔时长大于或等于异常电芯消耗激励脉冲信号所需的物理自放电时长。这样,在设定变频激励脉冲信号的激励脉冲信号间隔时长为不小于异常电芯消耗激励脉冲信号所需的物理自放电时长后,即可在向待测电芯施加该变频激励脉冲信号的情况下,通过判断待测电芯在第一频域的电压变化数据是否下降或呈现平稳状态,来判断待测电芯是否异常,进一步提高电芯检测结果的准确性。
在一些实施例中,根据所述待测电芯在各频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的电芯检测结果,包括:根据所述待测电芯在所述第一频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的初始检测结果;在所述待测电芯的初始检测结果为电芯异常的情况下,根据所述初始检测结果,得到所述待测电芯的电芯检测结果。若在待测电芯的初始检测结果为电芯异常的情况下,则表示待测电芯存在物理自放电,此时可直接将该初始检测结果作为待测电芯的电芯检测结果,无需再进行其他频域的电压变化数据的检测,从而提高待测电芯的检测效率。
在一些实施例中,根据所述待测电芯在各频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的电芯检测结果,包括:根据所述待测电芯在所述第一频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的初始检测结果;在所述待测电芯的初始检测结果为电芯正常的情况下,根据所述待测电芯在所述第二频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的电芯检测结果。
在一些实施例中,所述根据所述待测电芯在所述第一频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的初始检测结果,包括:将所述待测电芯在所述第一频域的电压变化数据,与所述正常电芯在所述第一频域的电压变化数据,或所述异常电芯在所述第一频域的电压变化数据进行匹配,得到所述待测电芯的初始检测结果。通过将待测电芯在第一频域的电压变化数据,与正常电芯在第一频域的电压变化数据,或异常电芯在第一频域的电压变化数据中的至少一个进行匹配,来得到待测电芯的初始检测结果,从而使得到的初始检测结果更为准确。
在一些实施例中,所述根据所述待测电芯在所述第一频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的初始检测结果,包括:根据所述待测电芯在所述第一频域的电压变化数据,得到所述待测电芯在所述第一频域对应的斜率;根据所述斜率,得到所述待测电芯的初始检测结果。通过待测电芯在第一频域的电压变化数据,得到待测电芯在第一频域对应的斜率,以利用待测电芯在第一频域对应的斜率,来得到待测电芯的初始检测结果,从而能够准确地判断待测电芯的初始检测结果是否为异常,使得到的初始检测结果更为准确。
在一些实施例中,根据所述待测电芯在所述第二频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的电芯检测结果,包括:将所述待测电芯在所述第二频域的电压变化数据,与所述正常电芯在所述第二频域的电压变化数据,或所述异常电芯在所述第二频域的电压变化数据进行匹配,得到所述待测电芯的电芯检测结果。通过将待测电芯在第二频域的电压变化数据,与正常电芯在第二频域的电压变化数据,或异常电芯在第二频域的电压变化数据中的至少一个进行匹配,来得到待测电芯的电芯检测结果,从而使得到的电芯检测结果更为准确。
在一些实施例中,所述待测电芯在至少一个频域的电压变化数据为经过信号放大的电压变化数据,使最终用于检测的电压变化数据的特征更为明显,从而提高获取到的待测电芯的电芯检测结果的准确性。
第二方面,本申请提供了一种电池电芯检测装置,包括:电压数据获取模块,用于响应于对待测电芯施加的变频激励脉冲信号,得到所述待测电芯在各频域的电压变化数据;检测结果获取模块,用于根据所述待测电芯在各频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的电芯检测结果;其中,所述变频激励脉冲信号包括多个激励脉冲信号,所述变频激励脉冲信号中存在多种时长不一致的激励脉冲信号间隔时长,所述激励脉冲信号间隔时长为相邻激励脉冲信号之间的间隔时长。
本申请实施例的技术方案中,本方案通过对待测电芯施加电流,以根据施加的激励脉冲信号得到的待测电芯的电压变化数据,来确定待测电芯的电芯检测结果。从而可利用物理自放电过程与化学自放电过程在消耗激励脉冲信号的时长上的差异,来判断施加了激励脉冲信号的待测电芯的电压变化数据对应的是物理自放电过程还是化学自放电过程,以快速判断该待测电芯是否异常,进而在减少了检测电芯所需的检测时长的同时,能够有效地对电芯的化学自放电和物理自放电进行区分,提高电芯检测结果的准确性。
在一些实施例中,电压数据获取模块具体用于:响应于对待测电芯施加的变频激励脉冲信号,得到所述待测电芯在第一频域以及第二频域的电压变化数据;其中,所述第一频域和所述第二频域的激励脉冲信号间隔时长根据正常电芯消耗激励脉冲信号所需的化学自放电时长确定,所述第二频域的激励脉冲信号间隔时长大于所述第一频域的激励脉冲信号间隔时长。
在一些实施例中,电压数据获取模块还用于:根据正常电芯消耗所述激励脉冲信号所需的化学自放电时长,确定所述第一频域和所述第二频域的激励脉冲信号间隔时长;其中,所述第二频域的激励脉冲信号间隔时长大于所述第一频域的激励脉冲信号间隔时长。
在一些实施例中,所述第一频域的激励脉冲信号间隔时长小于正常电芯消耗所述激励脉冲信号所需的化学自放电时长,所述第二频域的激励脉冲信号间隔时长大于或等于所述化学自放电时长。
在一些实施例中,所述第一频域的激励脉冲信号间隔时长不小于所述物理自放电时长。
在一些实施例中,所述变频激励脉冲信号的激励脉冲信号间隔时长大于或等于异常电芯消耗激励脉冲信号所需的物理自放电时长。
在一些实施例中,检测结果获取模块具体用于:根据所述待测电芯在所述第一频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的初始检测结果;在所述待测电芯的初始检测结果为电芯异常的情况下,根据所述初始检测结果,得到所述待测电芯的电芯检测结果。
在一些实施例中,检测结果获取模块具体用于:根据所述待测电芯在所述第一频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的初始检测结果;在所述待测电芯的初始检测结果为电芯正常的情况下,根据所述待测电芯在所述第二频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的电芯检测结果。
在一些实施例中,检测结果获取模块具体用于:将所述待测电芯在所述第一频域的电压变化数据,与所述正常电芯在所述第一频域的电压变化数据,或所述异常电芯在所述第一频域的电压变化数据进行匹配,得到所述待测电芯的初始检测结果。
在一些实施例中,检测结果获取模块具体用于:根据所述待测电芯在所述第一频域的电压变化数据,得到所述待测电芯在所述第一频域对应的斜率;根据所述斜率,得到所述待测电芯的初始检测结果。
在一些实施例中,检测结果获取模块具体用于:将所述待测电芯在所述第二频域的电压变化数据,与所述正常电芯在所述第二频域的电压变化数据,或所述异常电芯在所述第二频域的电压变化数据进行匹配,得到所述待测电芯的电芯检测结果。
在一些实施例中,所述待测电芯在至少一个频域的电压变化数据为经过信号放大的电压变化数据。
第三方面,本申请提供一种电子设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时执行第一方面的实施方式中的所述方法。
第四方面,本申请提供一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时执行第一方面的实施方式中的所述方法。
第五方面,本申请提供了一种计算机程序产品,所述计算机程序产品在计算机上运行时,使得计算机执行第一方面、第一方面中任一可选的实现方式或第三方面、第三方面中任一可选的实施方式中的所述方法。
上述说明仅是本申请技术方案的概述,为了能够更清楚了解本申请的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举本申请的具体实施方式。
附图说明
通过阅读对下文优选实施方式的详细描述,各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的,而并不认为是对本申请的限制。而且在全部附图中,用相同的附图标号表示相同的部件。在附图中:
图1为本申请一些实施例的电池电芯检测方法的第一流程图;
图2为本申请一些实施例的变频激励脉冲信号示意图;
图3为本申请一些实施例的电芯反应过程示意图;
图4为本申请一些实施例的电池电芯检测方法的第二流程图;
图5为本申请一些实施例的电池电芯检测方法的第三流程图;
图6为本申请一些实施例的电池电芯检测装置的结构示意图;
图7为本申请一些实施例的电子设备的结构示意图。
具体实施方式中的附图标号如下:
400-电压数据获取模块;401-检测结果获取模块;500-电子设备;501-处理器;502-存储器;503-通信总线。
具体实施方式
下面将结合附图对本申请技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本申请的技术方案,因此只作为示例,而不能以此来限制本申请的保护范围。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同;本文中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本申请;本申请的说明书和权利要求书及上述附图说明中的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含。
在本申请实施例的描述中,技术术语“第一”“第二”等仅用于区别不同对象,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量、特定顺序或主次关系。在本申请实施例的描述中,“多个”的含义是两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本文中提及“实施例”意味着,结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例,也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是,本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
在本申请实施例的描述中,术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B这三种情况。另外,本文中字符“/”,一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
在本申请实施例的描述中,术语“多个”指的是两个以上(包括两个),同理,“多组”指的是两组以上(包括两组),“多片”指的是两片以上(包括两片)。
电池在装配完成后,通常需要对其电芯进行检测,以筛选出一些电芯异常的电池。如筛选出因析锂&黑斑、极片打皱、极耳开裂、水含量或油水异物导致出现SEI成膜异常等异常情况的电芯。目前,对于电池的电芯检测,通常是计算电芯的交流阻抗,以根据交流阻抗的计算结果来判断电芯是否异常。
然而,由于利用交流阻抗方法来判断电芯是否异常时,需要用到成本较高的电化学工作站,且交流模块精细化程度高,在量产环境状态下难以达到精准状态。同时,电芯本身的卷绕结构又会对高频的交流电感造成影响,因此这种电池电芯检测方式的检测成本高,同时容易导致电芯检测结果出现误判。
针对上述技术问题,本申请实施例提供了一种电池电芯检测方法,该方法通过获取施加了变频激励脉冲信号的待测电芯在各频域的电压变化数据,以利用正常电芯在各频域的电压变化数据,与异常电芯在各频域的电压变化数据存在差异的特性,通过待测电芯在各频域的电压变化数据,来判断该待测电芯是否异常,进而在减少了检测电芯所需的检测成本的同时,减小电芯结构对电芯检测结果造成的影响,提高电芯检测结果的准确性。其中,正常电芯是指电芯检测结果为正常的电芯,异常电芯是指电芯检测结果为异常的电芯。
本申请实施例公开的电池电芯检测方法、装置、电子设备及存储介质可应用于控制器中,用于实现电芯的异常检测。其中,该控制器包括服务器,服务器可以是独立的服务器或者是多个服务器组成的服务器集群来实现,还可以是提供云服务、云数据库、云计算、云函数、云存储、网络服务、云通信、中间件服务、域名服务、安全服务、CDN、以及大数据和人工智能采样点设备等基础云计算服务的云服务器。
根据本申请的一些实施例,以本申请一实施例的一种电池电芯检测方法,该电池电芯检测方法可应用于前述的服务器中。如图1所示,该电池电芯检测方法包括:
S101,响应于对待测电芯施加的变频激励脉冲信号,得到待测电芯在各频域的电压变化数据;
S102,根据待测电芯在各频域的电压变化数据,得到待测电芯的电芯检测结果;
其中,变频激励脉冲信号包括多个激励脉冲信号,变频激励脉冲信号中存在多种时长不一致的激励脉冲信号间隔时长,激励脉冲信号间隔时长为相邻激励脉冲信号之间的间隔时长。
在一些实施例中,控制器可以与用于输出变频激励脉冲信号的电源连接,以控制该电源向待测电芯施加变频激励脉冲信号。其中,变频激励脉冲信号包括多个激励脉冲信号,激励脉冲信号可以为脉冲电流,如直流脉冲电流,相邻激励脉冲信号之间的激励脉冲信号间隔时长可存在变化。如图2所示。相邻激励脉冲信号的激励脉冲信号间隔时长,即脉冲静置时间可呈递增趋势,如125ms-250ms-375ms-500ms-625ms。激励脉冲信号的大小可根据实际情况进行设定,如其大小可以为20~200μA。
在向待测电芯施加变频激励脉冲信号的情况下,可获取到待测电芯随时间的整体电压变化数据,如时间-电压曲线。然后按照变频激励脉冲信号的每个频域,对待测电芯随时间的整体电压变化数据进行划分,即可得到各频域的电压变化数据。
在一些实施例中,在得到待测电芯在各频域的电压变化数据后,针对待测电芯在任一频域的电压变化数据,可将待测电芯在该频域的电压变化数据,与正常/异常电芯在施加该频域的激励脉冲信号时得到的电压变化数据进行比较,以判断待测电芯在该频域的电压变化数据是否异常。示例性的,若待测电芯在该频域的电压变化数据,与正常电芯在施加该频域的激励脉冲信号时得到的电压变化数据的相似度大于预设值,如90%,则可确定待测电芯在该频域的电压变化数据正常;否则,确定待测电芯在该频域的电压变化数据异常。或者,若待测电芯在该频域的电压变化数据,与异常电芯在施加该频域的激励脉冲信号时得到的电压变化数据的相似度大于预设值,如90%,则可确定待测电芯在该频域的电压变化数据异常;否则,确定待测电芯在该频域的电压变化数据正常。
若待测电芯在各频域的电压变化数据均正常,则可确定待测电芯的电芯检测结果为正常;若待测电芯在至少一个频域的电压变化数据异常,则可确定待测电芯的电芯检测结果为异常。
上述设计的电池电芯检测方法,通过对待测电芯施加变频激励脉冲信号,以根据施加的变频激励脉冲信号得到的待测电芯在各频域电压变化数据,来确定待测电芯的电芯检测结果。从而可利用正常电芯在各频域的电压变化数据,与异常电芯在各频域的电压变化数据存在差异的特性,通过待测电芯在各频域的电压变化数据,来判断该待测电芯是否异常,进而在减少了检测电芯所需的检测成本的同时,减小电芯结构对电芯检测结果造成的影响,提高电芯检测结果的准确性。
为能够更准确地判断待测电芯是否异常,在一些实施例中,根据对待测电芯施加的激励脉冲信号,得到待测电芯的电压变化数据,包括:
响应于对待测电芯施加的变频激励脉冲信号,得到待测电芯在第一频域以及第二频域的电压变化数据。
在一些实施例中,在向电芯施加激励脉冲信号的情况下,若电芯存在物理自放电,则电芯会先执行电子传输过程,即物理自放电过程,再执行离子传输过程,最后执行电荷转移过程,如图3所示。因物理自放电在电子传输过程中执行,反应时间极快,而离子传输过程和电荷转移过程的反应时间要慢于电子传输过程,因此可按照反应时间的快慢,来将变频激励脉冲信号的频域划分为具有高脉冲频率的第一频域,以及具有中低脉冲频率的第二频域。从而可利用第一频域的电压变化数据来检测是否存在电子传输过程,以及可利用第二频域的电压变化数据来检测离子传输过程和电荷转移过程是否异常,实现异常定位。
为能够更准确地进行异常定位,在一些实施例中,还包括:根据正常电芯消耗所述激励脉冲信号所需的化学自放电时长,确定所述第一频域和所述第二频域的激励脉冲信号间隔时长;其中,所述第二频域的激励脉冲信号间隔时长大于所述第一频域的激励脉冲信号间隔时长。
在控制电源向待测电芯变频激励脉冲信号的情况下,由于物理自放电与化学自放电消耗激励脉冲信号的时长不同,因此可根据正常电芯消耗激励脉冲信号所需的化学自放电时长,来确定第一频域的激励脉冲信号间隔时长,以将间隔时长小于或等于该第一频域的激励脉冲信号间隔时长的两个相邻激励脉冲信号,划分至第一频域。这样,在向待测电芯依次施加变频激励脉冲信号的情况下,若待测电芯为异常,则其在第一频域的电压变化数据的变化趋势会明显区别于正常情况下在第一频域的电压变化数据;若待测电芯为正常,则其在第一频域的电压变化数据的变化趋势会明显区别于异常情况下在第一频域的电压变化数据。同时,可将间隔时长大于该第一频域的激励脉冲信号间隔时长的任意两个相邻激励脉冲信号,划分至第二频域,以对应离子传输过程和电荷转移过程。从而便可基于第一频域和第二频域的激励脉冲信号,来得到待测电芯在第一频域以及第二频域的电压变化数据。
在向待测电芯依次施加变频激励脉冲信号的情况下,由于第一频域的激励脉冲信号间隔时长根据正常电芯消耗激励脉冲信号所需的化学自放电时长,或异常电芯消述激励脉冲信号所需的物理自放电时长中的至少一种确定,而第二频域的激励脉冲信号间隔时长大于第一频域的激励脉冲信号间隔时长,因此在对待测电芯施加的变频激励脉冲信号后,可得到待测电芯在对应电子传输过程的第一频域的电压变化数据,以及待测电芯在对应离子传输过程和电荷转移过程的第二频域的电压变化数据,从而使后续在确定电芯异常时能够利用异常对应的频域快速进行异常定位。
为使划分的频域与电芯反应过程的对应关系更为准确,在一些实施例中,第一频域的激励脉冲信号间隔时长小于化学自放电时长,第二频域的激励脉冲信号间隔时长大于或等于化学自放电时长。
由于第一频域的激励脉冲信号间隔时长小于化学自放电时长,因此在向待测电芯施加变频激励脉冲信号的情况下,若待测电芯正常,即仅存在化学自放电,不存在电子传输过程,则在第一频域内施加的激励脉冲信号无法被完全消耗,充入的激励脉冲信号会累积,待测电芯整体的电压变化缓慢上升,因此其电压变化数据会呈现上升趋势。这样,即可将化学自放电时长作为临界值,将第一频域的激励脉冲信号间隔时长设定为小于化学自放电时长,将第一频域的激励脉冲信号间隔时长设定为大于化学自放电时长,从而准确地划分出与电子传输过程对应的第一频域,以及与离子传输过程和电荷转移过程对应的第二频域,使后续的异常定位更为准确。
其中,对于化学自放电时长的确定,可以是预先通过向正常电芯施加单个激励脉冲信号,以得到正常电芯的电压变化数据。在得到该正常电芯的电压变化数据后,即可从该正常电芯的电压变化数据中,获取向正常电芯施加该单个激励脉冲信号之前,该正常电芯的初始电压的时间点,以及获取向正常电芯施加该单个激励脉冲信号之后,该正常电芯的电压回落至目标电压的时间点。目标电压与初始电压的差值小于或等于预设值,该预设值可根据实际情况设定。示例性的,该目标电压与初始电压的差值可以为0,即获取向正常电芯施加该单个激励脉冲信号之后,该正常电芯的电压回落至初始电压的时间点。然后,便可根据两者之间的时间间隔,确定化学自放电时长,即正常电芯的化学自放电时长。如将两者之间的时间间隔,作为化学自放电时长。或者,可将两者之间的时间间隔,作为向正常电芯施加的单个激励脉冲信号对应的化学自放电时长,然后再将多个激励脉冲信号对应的化学自放电时长进行线性回归或求平均值等操作,即可得到化学自放电时长。
通过对正常电芯施加激励脉冲信号,得到正常电芯的电压变化数据,以根据正常电芯的电压变化数据中初始电压与目标电压的时间间隔,来确定化学自放电时长,从而使得到的化学自放电时长更为精确,进一步提高后续得到的电芯检测结果的准确性。
在一些实施例中,变频激励脉冲信号的激励脉冲信号间隔时长大于异常电芯消耗激励脉冲信号所需的物理自放电时长。由于变频激励脉冲信号的激励脉冲信号间隔时长不小于异常电芯消耗激励脉冲信号所需的时长,因此在向待测电芯施加变频激励脉冲信号的情况下,若待测电芯异常,即存在物理自放电,则在第一频域内施加的激励脉冲信号会被完全消耗,待测电芯整体的电压变化不明显或下降,因此其电压变化数据会呈现平稳或下降趋势。这样,在将施加至待测电芯的变频激励脉冲信号的激励脉冲信号间隔时长设定为不小于异常电芯消耗激励脉冲信号所需的物理自放电时长后,即可在向待测电芯施加定频激励脉冲信号的情况下,通过判断待测电芯在第一频域的电压变化数据是否下降或呈现平稳状态,来判断待测电芯是否异常,进一步提高电芯检测结果的准确性。
其中,对于物理自放电时长的确定,可预先通过向异常电芯施加单个激励脉冲信号,以得到异常电芯的电压变化数据。在得到该异常电芯的电压变化数据后,即可从该异常电芯的电压变化数据中,获取向异常电芯施加该单个激励脉冲信号之前,该异常电芯的初始电压的时间点,以及获取向异常电芯施加该单个激励脉冲信号之后,该异常电芯的电压回落至目标电压的时间点。示例性的,该目标电压与初始电压的差值可以为0,即获取向异常电芯施加该单个激励脉冲信号之后,该异常电芯的电压回落至初始电压的时间点。然后,便可根据两者之间的时间间隔,确定物理自放电时长,即异常电芯的物理自放电时长。如将两者之间的时间间隔,作为物理自放电时长。或者,可将两者之间的时间间隔,作为向异常电芯施加的单个激励脉冲信号对应的物理自放电时长,然后再将多个激励脉冲信号对应的物理自放电时长进行线性回归或求平均值等操作,即可得到物理自放电时长。
通过对异常电芯施加激励脉冲信号,得到异常电芯的电压变化数据,以根据异常电芯的电压变化数据中初始电压与目标电压的时间间隔,来确定物理自放电时长,从而使得到的物理自放电时长更为精确,进一步提高后续得到的电芯检测结果的准确性。
在一些实施例中,在得到待测电芯在第一频域以及第二频域的电压变化数据后,即可根据第一频域以及第二频域的电压变化数据,来得到待测电芯的电芯检测结果。
而为提高待测电芯的检测效率,在一些实施例中,如图4所示,根据待测电芯在各频域的电压变化数据,得到待测电芯的电芯检测结果,包括:
S201,根据待测电芯在第一频域的电压变化数据,得到待测电芯的初始检测结果;
S202,在待测电芯的初始检测结果为电芯异常的情况下,根据初始检测结果,得到待测电芯的电芯检测结果。
在一些实施例中,在得到待测电芯在各频域的电压变化数据后,可先利用待测电芯在第一频域的电压变化数据,来确定待测电芯的初始检测结果。
假设电芯存在物理自放电,此时在给电芯进行激励脉冲信号的滴定的情况下,每次激励脉冲信号中充入的微小电量在该次激励脉冲信号充入完成后的极短静置时间内就被消耗,所以电芯整体的电压变化不明显或下降。若电芯仅存在化学自放电,则此时在给电芯进行激励脉冲信号的滴定的情况下,每次激励脉冲信号中充入的微小电量在该次激励脉冲信号充入完成后的极短静置时间内来不及消耗,因此充入的电量会累积,电芯整体的电压变化缓慢上升。利用上述区别,即可待测电芯在第一频域的电压变化数据,来确定向待测电芯施加的激励脉冲信号被消耗的时长,以根据该时长来判断该待测电芯是否存在物理自放电,从而得到待测电芯的电芯检测结果。
作为一种可能的实施方式,可预先利用电源向至少一个正常电芯或至少一个异常电芯施加激励脉冲信号,并记录正常电芯消耗激励脉冲信号的时长作为预设时长,或记录异常电芯消耗激励脉冲信号的时长作为预设时长。在得到待测电芯在第一频域的电压变化数据后,可从该电压变化数据中,得到待测电芯在施加激励脉冲信号后,电压恢复至待测电芯的初始电压所需的时长,以将该时长确定为激励脉冲信号被消耗的时长。其中,初始电压为向待测电芯在施加激励脉冲信号之前测得的电压。然后,将激励脉冲信号被消耗的时长与预设时长进行比较。在预设时长为正常电芯消耗激励脉冲信号的时长的情况下,若激励脉冲信号的消耗时长小于预设时长,则可确定该待测电芯在第一频域的电压变化数据异常,从而确定待测电芯的初始检测结果为电芯异常;否则,确定该待测电芯在第一频域的电压变化数据正常,从而确定待测电芯的初始检测结果为电芯正常。在预设时长为异常电芯消耗激励脉冲信号的时长的情况下,若激励脉冲信号的消耗时长大于预设时长,则可确定该待测电芯的初始检测结果为电芯正常;否则,确定该待测电芯的初始检测结果为电芯异常。
若在待测电芯的初始检测结果为电芯异常的情况下,则表示待测电芯存在物理自放电,此时可直接将该初始检测结果作为待测电芯的电芯检测结果,无需再进行其他频域的电压变化数据的检测,从而提高待测电芯的检测效率。
为提高初始检测结果的准确性,在一些实施例中,在获取到待测电芯在第一频域的电压变化数据后,可将待测电芯在第一频域的电压变化数据,与正常电芯在第一频域的电压变化数据,或异常电芯在第一频域的电压变化数据中的至少一个进行匹配,来得到待测电芯的电芯检测结果。
作为一种可能的实施方式,可将待测电芯在第一频域的电压变化数据,与正常电芯在在第一频域的电压变化数据进行相似度匹配,如将待测电芯在第一频域的电压-时间曲线,与正常电芯在第一频域的电压-时间曲线进行相似度匹配,以得到待测电芯在第一频域的电压变化数据与正常电芯在第一频域的电压变化数据的相似度。若待测电芯在第一频域的电压变化数据与正常电芯在第一频域的电压变化数据的相似度达到预设相似度,如90%,则可确定该待测电芯的初始检测结果为正常;否则,可确定该待测电芯的初始检测结果为异常。其中,预设相似度可根据实际情况进行设定。
同理,可将待测电芯在第一频域的电压变化数据,与异常电芯在第一频域的电压变化数据进行相似度匹配。若待测电芯在第一频域的电压变化数据与异常电芯在第一频域的电压变化数据的相似度达到预设相似度,如90%,则可确定该待测电芯的初始检测结果为异常;否则,可确定该待测电芯的初始检测结果为正常。
作为又一种可能的实施方式,可将待测电芯在第一频域的电压变化数据,与正常电芯在第一频域的电压变化数据进行相似度匹配,得到待测电芯在第一频域的电压变化数据与正常电芯在第一频域的电压变化数据的相似度,作为第一相似度。并将待测电芯在第一频域的电压变化数据,与异常电芯在第一频域的电压变化数据进行相似度匹配,得到待测电芯在第一频域的电压变化数据与异常电芯在第一频域的电压变化数据的第二相似度。然后比较第一相似度和第二相似度;若第一相似度大于第二相似度,则可确定该待测电芯的初始检测结果为正常;否则,可确定该待测电芯的初始检测结果为异常。
通过将待测电芯在第一频域的电压变化数据,与正常电芯在第一频域的电压变化数据,或异常电芯在第一频域的电压变化数据中的至少一个进行匹配,来得到待测电芯的初始检测结果,从而使得到的初始检测结果更为准确。
除通过将待测电芯在第一频域的电压变化数据,与正常/异常电芯在第一频域的电压变化数据进行比较,以确定待测电芯的初始检测结果外,在一些实施例中,根据待测电芯在第一频域的电压变化数据,得到待测电芯的初始检测结果,包括:根据待测电芯在第一频域的电压变化数据,得到待测电芯在第一频域对应的斜率;根据斜率,得到待测电芯的初始检测结果。
由于物理自放电消耗激励脉冲信号的速度,要大大超过化学自放电消耗激励脉冲信号的速度,因此正常电芯在施加了第一频域的激励脉冲信号后得到的电压变化数据,其斜率与异常电芯施加了第一频域的激励脉冲信号后得到的电压变化数据会存在巨大差别,即正常电芯在第一频域的电压变化数据,其斜率要大于异常电芯在第一频域的电压变化数据。因此,在得到待测电芯在第一频域的电压变化数据后,可通过该待测电芯在第一频域的电压变化数据,来计算该待测电芯在第一频域对应的斜率,以基于该待测电芯在第一频域对应的斜率来确定待测电芯的初始检测结果。
作为一种可能的实施方式,可以将该待测电芯在第一频域对应的斜率,与正常/异常电芯在第一频域对应的斜率进行比对,来确定待测电芯的初始检测结果。示例性的,若待测电芯在第一频域对应的斜率,与正常电芯在第一频域对应的斜率之间的差值小于预设阈值,则确定待测电芯的初始检测结果为正常。或者,若待测电芯在第一频域对应的斜率,与异常电芯在第一频域对应的斜率之间的差值小于预设阈值,则确定待测电芯的初始检测结果为异常。或者,获取待测电芯在第一频域对应的斜率,与正常电芯在第一频域对应的斜率之间的差值作为第一差值,以及获取待测电芯在第一频域对应的斜率,与异常电芯在第一频域对应的斜率之间的差值作为第二差值。若第一差值小于第二差值,则确定待测电芯的初始检测结果为正常;否则,确定待测电芯的初始检测结果为异常。
作为另一种可能的实施方式,由于存在物理自放电的异常电芯在施加第一频域的激励脉冲信号的情况下,其整体的电压变化不明显或下降,即其在第一频域的电压变化数据的斜率通常小于0。因此,在通过待测电芯在第一频域的电压变化数据计算得到待测电芯在第一频域对应的斜率后,可直接判断该斜率是否小于0。若该斜率小于0,则可确定该待测电芯的初始检测结果为异常。
通过待测电芯在第一频域的电压变化数据,得到待测电芯在第一频域对应的斜率,以利用待测电芯在第一频域对应的斜率,来得到待测电芯的初始检测结果,从而能够准确地判断待测电芯的初始检测结果是否为异常,使得到的初始检测结果更为准确。
在一些实施例中,如图5所示,根据待测电芯在各频域的电压变化数据,得到待测电芯的电芯检测结果,包括:
S301,根据待测电芯在第一频域的电压变化数据,得到待测电芯的初始检测结果;
S302,在待测电芯的初始检测结果为电芯正常的情况下,根据待测电芯在第二频域的电压变化数据,得到待测电芯的电芯检测结果。
在一些实施例中,若在待测电芯的初始检测结果为电芯正常的情况下,则表示待测电芯不存在物理自放电,此时则可通过检测第二频域的电压变化数据,来判断待测电芯是否异常。其中,第二频域可包括与离子传输过程的响应时间对应的第一子频域,和与电荷转移过程的响应时间对应的第二子频域。在待测电芯的初始检测结果为电芯正常的情况下,可先通过检测第一子频域的电压变化数据,来判断待测电芯是否异常。若根据第一子频域的电压变化数据确定待测电芯异常,则表示待测电芯的离子传输过程存在异常,无需再对待测电芯进行检测。若根据第一子频域的电压变化数据确定待测电芯正常,则表示待测电芯的离子传输过程正常,此时再通过检测第二子频域的电压变化数据,得到待测电芯在电荷转换过程的检测结果,以将该检测结果作为待测电芯最终的电芯检测结果。
为提高电芯检测结果的准确性,在一些实施例中,根据待测电芯在第二频域的电压变化数据,得到待测电芯的电芯检测结果,包括:将待测电芯在第二频域的电压变化数据,与正常电芯在第二频域的电压变化数据,或异常电芯在第二频域的电压变化数据进行匹配,得到待测电芯的电芯检测结果。
作为一种可能的实施方式,可将待测电芯在第二频域的电压变化数据,与正常电芯在在第二频域的电压变化数据进行相似度匹配,如将待测电芯在第二频域的电压-时间曲线,与正常电芯在第二频域的电压-时间曲线进行相似度匹配,以得到待测电芯在第二频域的电压变化数据与正常电芯在第二频域的电压变化数据的相似度。若待测电芯在第二频域的电压变化数据与正常电芯在第二频域的电压变化数据的相似度达到预设相似度,如90%,则可确定该待测电芯的电芯检测结果为正常;否则,可确定该待测电芯的电芯检测结果为异常。其中,预设相似度可根据实际情况进行设定。
同理,可将待测电芯在第二频域的电压变化数据,与异常电芯在第二频域的电压变化数据进行相似度匹配。若待测电芯在第二频域的电压变化数据与异常电芯在第二频域的电压变化数据的相似度达到预设相似度,如90%,则可确定该待测电芯的电芯检测结果为异常;否则,可确定该待测电芯的电芯检测结果为正常。
作为又一种可能的实施方式,可将待测电芯在第二频域的电压变化数据,与正常电芯在第二频域的电压变化数据进行相似度匹配,得到待测电芯在第二频域的电压变化数据与正常电芯在第二频域的电压变化数据的相似度,作为第一相似度。并将待测电芯在第二频域的电压变化数据,与异常电芯在第二频域的电压变化数据进行相似度匹配,得到待测电芯在第二频域的电压变化数据与异常电芯在第二频域的电压变化数据的第二相似度。然后比较第一相似度和第二相似度;若第一相似度大于第二相似度,则可确定该待测电芯的电芯检测结果为正常;否则,可确定该待测电芯的电芯检测结果为异常。
通过将待测电芯在第二频域的电压变化数据,与正常电芯在第二频域的电压变化数据,或异常电芯在第二频域的电压变化数据中的至少一个进行匹配,来得到待测电芯的电芯检测结果,从而使得到的电芯检测结果更为准确。
为进一步提高获取到的待测电芯的电芯检测结果的准确性,在一些实施例中,待测电芯在至少一个频域的电压变化数据为经过信号放大的电压变化数据。示例性的,由于正常电芯和异常电芯在第二频域的电压变化数据趋于相同,均是呈现下降或平稳趋势,因此对于待测电芯在二频域的电压变化数据,其可以先通过加窗傅里叶变换或小波变换来进行信号放大,使最终用于检测的电压变化数据的特征更为明显,从而提高获取到的待测电芯的电芯检测结果的准确性。
为减少电压变化数据中的噪声对电芯检测结果的干扰,在获取到待测电芯在各频域的电压变化数据后,针对任一频域对应的电压变化数据,可通过最小二乘法对该频域对应的电压变化数据进行线性回归处理,以从该频域对应的电压变化数据中,筛选出噪声较大的各电压数据。如在由电压-时间形成的二维坐标系下,从第一频域对应的电压变化数据中,筛除坐标点到目标直线的距离大于预设距离的电压数据。其中,目标直线由第一频域对应的电压变化数据进行线性回归处理后生成。在从第一频域对应的电压变化数据中,筛除坐标点到目标直线的距离大于预设距离的电压数据后,即可得到第一频域对应的目标电压变化数据。
在得到任一频域对应的目标电压变化数据后,可利用目标电压变化数据与正常/异常电芯在该频域的电压变化数据的相似度,来得到待测电芯在该频域的检测结果,从而减少待测电芯的电压变化数据中的噪声对电芯检测结果的影响,提高获取到的电芯检测结果的准确性。
图6出示了本申请提供一种电池电芯检测装置的结构示意图,应理解,该装置与图1、4和5中执行的方法实施例对应,能够执行前述的方法涉及的步骤,该装置具体的功能可以参见上文中的描述,为避免重复,此处适当省略详细描述。该装置包括至少一个能以软件或固件(firmware)的形式存储于存储器中或固化在装置的操作***(operating system,OS)中的软件功能模块。具体地,该装置包括:电压数据获取模块400,用于响应于对待测电芯施加的变频激励脉冲信号,得到待测电芯在各频域的电压变化数据;检测结果获取模块401,用于根据待测电芯在各频域的电压变化数据,得到待测电芯的电芯检测结果;其中,变频激励脉冲信号包括多个激励脉冲信号,变频激励脉冲信号中存在多种时长不一致的激励脉冲信号间隔时长,激励脉冲信号间隔时长为相邻激励脉冲信号之间的间隔时长。
本申请实施例的技术方案中,通过对待测电芯施加变频激励脉冲信号,以根据施加的变频激励脉冲信号得到的待测电芯在各频域电压变化数据,来确定待测电芯的电芯检测结果。从而可利用正常电芯在各频域的电压变化数据,与异常电芯在各频域的电压变化数据存在差异的特性,通过待测电芯在各频域的电压变化数据,来判断该待测电芯是否异常,进而在减少了检测电芯所需的检测成本的同时,减小电芯结构对电芯检测结果造成的影响,提高电芯检测结果的准确性。
根据本申请的一些实施例,电压数据获取模块400具体用于:响应于对待测电芯施加的变频激励脉冲信号,得到待测电芯在第一频域以及第二频域的电压变化数据。
根据本申请的一些实施例,电压数据获取模块400还用于:根据正常电芯消耗激励脉冲信号所需的化学自放电时长,确定第一频域和第二频域的激励脉冲信号间隔时长;其中,第二频域的激励脉冲信号间隔时长大于第一频域的激励脉冲信号间隔时长。
根据本申请的一些实施例,第一频域的激励脉冲信号间隔时长小于化学自放电时长,第二频域的激励脉冲信号间隔时长大于化学自放电时长。
根据本申请的一些实施例,变频激励脉冲信号的激励脉冲信号间隔时长大于或等于异常电芯消耗激励脉冲信号所需的物理自放电时长。
根据本申请的一些实施例,检测结果获取模块401具体用于:根据待测电芯在第一频域的电压变化数据,得到待测电芯的初始检测结果;在待测电芯的初始检测结果为电芯异常的情况下,根据初始检测结果,得到待测电芯的电芯检测结果。
根据本申请的一些实施例,检测结果获取模块401具体用于:根据待测电芯在第一频域的电压变化数据,得到待测电芯的初始检测结果;在待测电芯的初始检测结果为电芯正常的情况下,根据待测电芯在第二频域的电压变化数据,得到待测电芯的电芯检测结果。
根据本申请的一些实施例,检测结果获取模块401具体用于:将待测电芯在第一频域的电压变化数据,与正常电芯在第一频域的电压变化数据,或异常电芯在第一频域的电压变化数据进行匹配,得到待测电芯的初始检测结果。
根据本申请的一些实施例,检测结果获取模块401具体用于:根据待测电芯在第一频域的电压变化数据,得到待测电芯在第一频域对应的斜率;根据斜率,得到待测电芯的初始检测结果。
根据本申请的一些实施例,检测结果获取模块401具体用于:将待测电芯在第二频域的电压变化数据,与正常电芯在第二频域的电压变化数据,或异常电芯在第二频域的电压变化数据进行匹配,得到待测电芯的电芯检测结果。
根据本申请的一些实施例,待测电芯在至少一个频域的电压变化数据为经过信号放大的电压变化数据。
根据本申请的一些实施例,如图7所示,本申请提供一种电子设备500,包括:处理器501和存储器502,处理器501和存储器502通过通信总线503和/或其他形式的连接机构(未标出)互连并相互通讯,存储器502存储有处理器501可执行的计算机程序,当计算设备运行时,处理器501执行该计算机程序,以执行时执行任一可选的实现方式中外端机执行的方法,例如:响应于对待测电芯施加的变频激励脉冲信号,得到待测电芯在各频域的电压变化数据;根据待测电芯在各频域的电压变化数据,得到待测电芯的电芯检测结果;其中,变频激励脉冲信号包括多个激励脉冲信号,变频激励脉冲信号中存在多种时长不一致的激励脉冲信号间隔时长,激励脉冲信号间隔时长为相邻激励脉冲信号之间的间隔时长。
本申请提供一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器运行时执行前述任一可选的实现方式中的方法。
其中,存储介质可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现,如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory, 简称SRAM),电可擦除可编程只读存储器(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory, 简称EEPROM),可擦除可编程只读存储器(Erasable Programmable Read Only Memory, 简称EPROM),可编程只读存储器(Programmable Red-Only Memory, 简称PROM),只读存储器(Read-OnlyMemory, 简称ROM),磁存储器,快闪存储器,磁盘或光盘。
本申请提供一种计算机程序产品,该计算机程序产品在计算机上运行时,使得计算机执行任一可选的实现方式中的方法。
最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本申请的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本申请进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围,其均应涵盖在本申请的权利要求和说明书的范围当中。尤其是,只要不存在结构冲突,各个实施例中所提到的各项技术特征均可以任意方式组合起来。本申请并不局限于文中公开的特定实施例,而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。

Claims (14)

1.一种电池电芯检测方法,其特征在于,所述方法包括:
响应于对待测电芯施加的变频激励脉冲信号,得到所述待测电芯在各频域的电压变化数据;
根据所述待测电芯在各频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的电芯检测结果;
其中,所述变频激励脉冲信号包括多个激励脉冲信号,所述变频激励脉冲信号中存在多种时长不一致的激励脉冲信号间隔时长,所述激励脉冲信号间隔时长为相邻激励脉冲信号之间的间隔时长。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据对待测电芯施加的激励脉冲信号,得到所述待测电芯的电压变化数据,包括:
响应于对待测电芯施加的变频激励脉冲信号,得到所述待测电芯在第一频域以及第二频域的电压变化数据。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述的方法还包括:
根据正常电芯消耗所述激励脉冲信号所需的化学自放电时长,确定所述第一频域和所述第二频域的激励脉冲信号间隔时长;
其中,所述第二频域的激励脉冲信号间隔时长大于所述第一频域的激励脉冲信号间隔时长。
4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述第一频域的激励脉冲信号间隔时长小于正常电芯消耗所述激励脉冲信号所需的化学自放电时长,所述第二频域的激励脉冲信号间隔时长大于或等于所述化学自放电时长。
5.根据权利要求1-3任意一项所述的方法,其特征在于,所述变频激励脉冲信号的激励脉冲信号间隔时长大于或等于异常电芯消耗激励脉冲信号所需的物理自放电时长。
6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述待测电芯在各频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的电芯检测结果,包括:
根据所述待测电芯在所述第一频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的初始检测结果;
在所述待测电芯的初始检测结果为电芯异常的情况下,根据所述初始检测结果,得到所述待测电芯的电芯检测结果。
7.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述待测电芯在各频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的电芯检测结果,包括:
根据所述待测电芯在所述第一频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的初始检测结果;
在所述待测电芯的初始检测结果为电芯正常的情况下,根据所述待测电芯在所述第二频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的电芯检测结果。
8.根据权利要求6或7所述的方法,其特征在于,所述根据所述待测电芯在所述第一频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的初始检测结果,包括:
将所述待测电芯在所述第一频域的电压变化数据,与正常电芯在所述第一频域的电压变化数据,或异常电芯在所述第一频域的电压变化数据进行匹配,得到所述待测电芯的初始检测结果。
9.根据权利要求6或7所述的方法,其特征在于,所述根据所述待测电芯在所述第一频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的初始检测结果,包括:
根据所述待测电芯在所述第一频域的电压变化数据,得到所述待测电芯在所述第一频域对应的斜率;
根据所述斜率,得到所述待测电芯的初始检测结果。
10.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,根据所述待测电芯在所述第二频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的电芯检测结果,包括:
将所述待测电芯在所述第二频域的电压变化数据,与正常电芯在所述第二频域的电压变化数据,或异常电芯在所述第二频域的电压变化数据进行匹配,得到所述待测电芯的电芯检测结果。
11.根据权利要求1、2、3、6、7或10所述的方法,其特征在于,所述待测电芯在至少一个频域的电压变化数据为经过信号放大的电压变化数据。
12.一种电池电芯检测装置,其特征在于,所述装置包括:
电压数据获取模块,用于响应于对待测电芯施加的变频激励脉冲信号,得到所述待测电芯在各频域的电压变化数据;
检测结果获取模块,用于根据所述待测电芯在各频域的电压变化数据,得到所述待测电芯的电芯检测结果;
其中,所述变频激励脉冲信号包括多个激励脉冲信号,所述变频激励脉冲信号中存在多种时长不一致的激励脉冲信号间隔时长,所述激励脉冲信号间隔时长为相邻激励脉冲信号之间的间隔时长。
13.一种电子设备,包括处理器和存储有计算机程序的存储器,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至11任一项所述的方法。
14.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至11任一项所述的方法。
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