CN116202658B - 测试装置及其控制方法、热敏器件测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种测试装置及其控制方法、热敏器件测试方法。测试装置上设置有用于接入待测件的安装位，测试装置还包括加热组件和驱动组件，驱动组件上设置有采样件，包括以下步骤：步骤S100、测试装置获取到第一指令时，控制驱动组件工作，以使驱动组件带动采样件移动，直至采样件与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；步骤S200、控制加热组件工作，以对安装位中的待测件辐射热能；步骤S300、经采样件获取待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数；步骤S400、根据检测参数，确定待测件的工作性能并进行提示。本发明通过优化采样件与待测件采样接口凸出部分的接触方式，以提高对待测件的测试效率。

Description

测试装置及其控制方法、热敏器件测试方法

技术领域

本发明涉及测试设备技术领域，特别涉及一种测试装置及其控制方法、热敏器件测试方法。

背景技术

在对热敏器件进行维修前，需要将其采样接口凸出部分从其它设备上或客户端的产品中拆除，而热敏器件的采样接口凸出部分在安装在其它设备上或客户端的产品时已经被剪短，造成采样接口凸出部分的长度不一，甚至造成采样接口凸出部分的形状变形。不同于出厂时候的热敏器件，其采样接口凸出部分外形完整，且热敏器件的工作性能稳定。现有对热敏器件的性能检验大多是采用焊线与其采样接口凸出部分连接，或重新将热敏器件的采样接口凸出部分焊接于测试装置里，两种办法都会产生复杂的工序。

发明内容

本发明的主要目的是提出一种测试装置及其控制方法、热敏器件测试方法，旨在提高对热敏器件测试的效率。

因此，本发明提出一种测试装置控制方法，所述测试装置上设置有用于接入待测件的安装位，所述测试装置还包括加热组件和驱动组件，所述驱动组件上设置有采样件，包括以下步骤：

步骤S100、测试装置获取到第一指令时，控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动采样件移动，直至所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；

步骤S200、控制所述加热组件工作，以对所述安装位中的待测件辐射热能；

步骤S300、经所述采样件获取所述待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数；

步骤S400、根据所述检测参数，确定待测件的工作性能并进行提示。

可选地，所述预设接触状态为所述采样件与采样接口凸出部分靠近待测件主体的一端紧贴接触。

可选地，所述加热组件的数量为多个，所述测试装置控制所述加热组件工作，以使加热组件对所述安装位中的待测件辐射热能的步骤具体为：

步骤S210、控制多个所述加热组件以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位中的待测件辐射热能。

可选地，所述步骤S210具体为：

步骤S220、控制多个所述加热组件中的一者以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位中的待测件辐射热能；

所述步骤S300具体为：经所述采样件获取所述待测件的采样接口凸出部分输出的受热变化参数；

步骤S230、控制多个所述加热组件同时以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位中的待测件辐射热能；

所述步骤S300具体为：经所述采样件获取所述待测件的采样接口凸出部分输出的受热均匀参数。

可选地，所述步骤S200还包括：

步骤S240、控制所有所述加热组件停止工作；

所述步骤S300具体为：经所述采样件获取所述待测件的采样接口凸出部分输出的受热稳定参数。

可选地，所述直至所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态的步骤具体为：

步骤S110、所述采样件在预设时间内采集到所述待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；

步骤S120、所述采样件在预设时间内无法采集所述待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态；

步骤S130、在确认所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态时，控制所述驱动组件复位，以使所述驱动组件重新带动采样件移动，直至所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态。

如权以上内容所述的测试装置控制方法，所述测试装置控制方法还包括：

步骤S500、在根据所述工作性能，确认待测件异常时，进行提示。

本发明还提出一种测试装置，所述测试装置包括：

测试装置主体，所述测试装置主体上设置有用于接入待测件的安装位；

加热组件，所述加热组件设置于所述测试装置内；

驱动组件，所述驱动组件上设置有采样件；

电控组件，所述电控组件用于在接收到第一指令时，控制所述驱动组件工作，以带动所述采样件移动，直至所述采样件与待测件的采样接口凸出部分上与采样接口凸出部分靠近待测件主体的一端紧贴接触；并控制所述加热组件工作，以对所述安装位中的待测件辐射热能，并根据获取到的待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数，确定待测件的工作性能并进行提示。

可选地，所述加热组件的数量为多个。

可选地，多个所述加热组件设置在所述安装位的下方。

可选地，所述电控组件，用于控制多个所述加热组件以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位中的待测件辐射热能，并根据获取到的待测件的采样接口凸出部分输出的受热变化参数，确定待测件的受热变化性能并进行提示；

所述电控组件，还用于控制多个所述加热组件同时以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位中的待测件辐射热能，并根据获取到的待测件的采样接口凸出部分输出的受热均匀参数，确定待测件的受热均匀性能并进行提示。

可选地，所述电控组件，用于控制所有所述加热组件停止工作，以对所述安装位中的待测件停止辐射热能，并根据获取到的待测件的采样接口凸出部分输出的受热稳定参数，确定待测件的受热稳定性能并进行提示。

可选地，所述驱动组件包括：

驱动电机；

运动滑块，所述运动滑块与所述驱动电机驱动连接，所述运动滑块与所述采样件连接；

所述驱动电机，用于驱动所述运动滑块带动所述采样件移动。

可选地，所述驱动组件的数量为多个，多个所述驱动组件上设置有多个采样件。

可选地，所述安装位的数量为多个，多个所述安装位用于放置多个待测件。

可选地，所述测试装置还包括屏蔽盖，所述屏蔽盖可活动地覆盖于所述测试装置主体的顶部。

可选地，所述测试装置还包括显示组件，所述显示组件设置于所述测试装置主体的侧面。

可选地，所述测试装置还包括触发组件，所述触发组件设置于所述测试装置主体的侧面。

本发明还提出一种热敏器件测试方法，基于如以上内容所述的测试装置，其特征在于，包括以下步骤：

步骤S1000、准备所述测试装置，并将所述测试装置上电；

步骤S2000、将热敏器件倒立放入所述安装位，以使所述热敏器件的采样接口凸出部分向上伸出所述安装位；

步骤S3000、触发所述测试装置输出所述第一指令，以使所述测试装置的电控组件在接收到所述第一指令时，控制所述驱动组件工作，以带动所述采样件移动，直至所述采样件与待测件的采样接口凸出部分上与采样接口凸出部分靠近待测件主体的一端紧贴接触；并控制所述加热组件工作，以对所述安装位中的待测件辐射热能，并根据获取到的待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数，确定待测件的工作性能并进行提示。

本发明公开一种测试装置及其控制方法、热敏器件测试方法。测试装置上设置有用于接入待测件的安装位，测试装置还包括加热组件和驱动组件，驱动组件上设置有采样件，包括以下步骤：步骤S100、测试装置获取到第一指令时，控制驱动组件工作，以使驱动组件带动采样件移动，直至采样件与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；步骤S200、控制加热组件工作，以对安装位中的待测件辐射热能；步骤S300、经采样件获取待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数；步骤S400、根据检测参数，确定待测件的工作性能并进行提示。本发明通过优化采样件与待测件采样接口凸出部分的接触方式，以提高对待测件的测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明测试装置及其控制方法、热敏器件测试方法一实施例的流程示意图；

图2为图1中S200以及S300的细化流程示意图；

图3为图1中S100的细化流程示意图；

图4为本发明测试装置及其控制方法、热敏器件测试方法另一实施例的流程示意图；

图5为本发明测试装置及其控制方法、热敏器件测试方法的结构示意图。

附图标号说明：

10、驱动组件；11、驱动电机；12、运动滑块；20、屏蔽盖；30、显示组件；40、触发组件；50、安装位；60、采样件；70、加热组件。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明实施例中所有方向性指示（诸如上、下、左、右、前、后……）仅用于解释在某一特定姿态（如附图所示）下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

另外，在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

需要理解的是，在针对热敏器件的维修，由于热敏器件的采样接口凸出部分需要从其它设备上或客户端的产品中拆除，再进行检验维修，而热敏器件的采样接口凸出部分在安装在其它设备上或客户端的产品时已经被剪短，造成采样接口凸出部分的长度不一，甚至造成采样接口凸出部分的形状变形。不同于出厂时候的热敏器件，其采样接口凸出部分外形完整，且热敏器件的工作性能稳定。现有对热敏器件的性能检验大多是采用焊线与其采样接口凸出部分连接，或重新将热敏器件的采样接口凸出部分焊接于测试装置里，两种办法都会产生复杂的工序。

因此，本发明提出一种测试装置控制方法，参照图1，所述测试装置上设置有用于接入待测件的安装位50，所述测试装置还包括加热组件70和驱动组件10，所述驱动组件10上设置有采样件60，包括以下步骤：

步骤S100、测试装置获取到第一指令时，控制所述驱动组件10工作，以使所述驱动组件10带动采样件60移动，直至所述采样件60与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；

步骤S200、控制所述加热组件70工作，以对所述安装位50中的待测件辐射热能；

步骤S300、经所述采样件60获取所述待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数；

步骤S400、根据所述检测参数，确定待测件的工作性能并进行提示。

可选的，待测件可以为热敏器件。

本实施例中，以待测件为热敏器件为例进行说明。具体地，参照图1，在实际应用中，用户触发启动测试装置时，测试装置会相应接收到第一指令，同时测试装置控制驱动组件10开始工作，以使驱动组件10带动采样件60平行移动，从而使采样件60与热敏器件的采样接口凸出部分相互接触。采样件60在3秒内采集到热敏器件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认采样件60与热敏器件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；采样件60在3秒内无法采集热敏器件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认采样件60与热敏器件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态；在确认采样件60与热敏器件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态时，控制驱动组件10复位，以使驱动组件10重新带动采样件60移动，直至采样件60与热敏器件的采样接口凸出部分处于预设接触状态。进一步地，在确认采样件60与热敏器件的采样接口凸出部分预设接触时，测试装置控制加热组件70工作，以对安装位50中的热敏器件辐射热能；经采样件60获取热敏器件的采样接口凸出部分输出的检测参数；测试装置根据检测参数，可确定热敏器件的工作性能，且工作性能可通过显示组件30进行提示。用户可以根据提示的热敏器件的工作性能，以判断出热敏器件的优劣情况，从而筛选出不良品。

需要理解的是，在本实施例中，所述预设接触状态为所述采样件60与采样接口凸出部分靠近待测件主体的一端紧贴接触。现有对热敏器件的性能检验大多是采用焊线与其采样接口凸出部分连接，或重新将热敏器件的采样接口凸出部分焊接于测试装置里，其操作工序麻烦。而本实施例中采用采样件60与采样接口凸出部分靠近热敏器件的一端紧贴接触，避免了出现热敏器件的采样接口凸出部分长度不一而造成接触不良，由此提高了对热敏器件检测的有效性。

本发明公开一种测试装置及其控制方法、热敏器件测试方法。测试装置上设置有用于接入待测件的安装位50，测试装置还包括加热组件70和驱动组件10，驱动组件10上设置有采样件60，包括以下步骤：步骤S100、测试装置获取到第一指令时，控制驱动组件10工作，以使驱动组件10带动采样件60移动，直至采样件60与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；步骤S200、控制加热组件70工作，以对安装位50中的待测件辐射热能；步骤S300、经采样件60获取待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数；步骤S400、根据检测参数，确定待测件的工作性能并进行提示。本发明通过优化采样件60与待测件采样接口凸出部分的接触方式，以提高对待测件的测试效率。

在本实施例中，参照图2，所述加热组件70的数量为多个，所述测试装置控制所述加热组件70工作，以使加热组件70对所述安装位50中的待测件辐射热能的步骤具体为：

步骤S210、控制多个所述加热组件70以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位50中的待测件辐射热能。

可以理解的是，在本实施例中，加热组件70的数量设置有多个，以对加热组件70采用不同的加热方法以测量安装位50中热敏器件的检测参数，从而根据测量出的检测参数判断热敏器件相应的工作性能。

可选的，待测件可以为双集成热敏器件和四元热敏器件。

在一实施例中，以待测件为双集成热敏器件展开说明。具体地，其双集成热敏器件具有两个热敏模块，加热组件70的数量相应设置有两个，每一加热组件70对应加热双集成热敏器件的每一内部热敏模块。在实际应用中，用户触发启动测试装置时，测试装置会相应接收到第一指令，同时测试装置控制驱动组件10开始工作，以使驱动组件10带动采样件60平行移动，从而使采样件60与双集成热敏器件的采样接口凸出部分相互接触。

在确认采样件60与热敏器件的采样接口凸出部分预设接触时，测试装置控制两个加热组件70中的一者以固定频率的热输出方式开始工作，即两个加热组件70中的一者以固定频率的频率进行热输出和不热输出的交替工作，从而对安装位50中的热敏器件的单个内部热敏模块辐射热能，此时可测量双集成热敏器件的受热变化参数。

进一步地，在测试装置控制两个加热组件70中的一者加热组件70开始工作的小于10分钟的一段时间后，测试装置进一步地控制两个加热组件70以固定频率的热输出方式同时工作，即两个加热组件70以固定频率的频率进行热输出和不热输出的交替工作（需要理解的是，并非两个加热组件70相互交替热输出，而是两个加热组件70同步进行交替热输出），从而对安装位50中的热敏器件的两个内部热敏模块辐射热能，此时可测量双集成热敏器件的受热均匀参数。

进一步地，在测试装置控制两个加热组件70同时开始工作的小于10分钟的一段时间，测试装置进一步地控制两个加热组件70同时停止工作，此时可测量双集成热敏器件在未接收辐射热能下的受热稳定参数。

在本实施例中，参照图2，所述步骤S210具体为：

步骤S220、控制多个所述加热组件70中的一者以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位50中的待测件辐射热能；

所述步骤S300具体为：经所述采样件60获取所述待测件的采样接口凸出部分输出的受热变化参数；

步骤S230、控制多个所述加热组件70同时以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位50中的待测件辐射热能；

所述步骤S300具体为：经所述采样件60获取所述待测件的采样接口凸出部分输出的受热均匀参数。

需要理解的是，测试装置控制加热组件70加热，以对待测件辐射热能的过程时间太短会出现未完全加热的现象，过程时间太长则会出现过热的现象；无论是过程时间太短还是太长都会影响到待测件对热能的感应，导致降低待测件输出的响应准确率。因此，本实施例中对加热组件70的每一种加热方式的过程时间维持在小于10分钟的 一段时间左右，以防止过短或过长的加热过长会影响待测件输出响应的准确性。

可选的，待测件可以为双集成热敏器件和四元热敏器件。

在一实施例中，以待测件为双集成热敏器件展开说明。具体地， 其双集成热敏器件具有两个热敏模块，加热组件70的数量相应设置有两个，每一加热组件70对应加热双集成热敏器件的每一内部热敏模块。

具体地，在实际应用中，在确认采样件60与热敏器件的采样接口凸出部分预设接触时，测试装置控制两个加热组件70中的一者以固定频率的热输出方式开始工作，即两个加热组件70中的一者以固定频率的频率进行热输出和不热输出的交替工作，从而对安装位50中的热敏器件的单个内部热敏模块辐射热能。需要理解的是，此时双集成热敏器件的单个内部热敏模块感应到热能，而双集成热敏器件另一个内部热敏模块无法感应到热能，双集成热敏器件的两个内部热敏模块之间产生一个热能差，热能差在双集成热敏器件转换成电压差，双集成热敏器件根据电压差通过采样接口凸出部分输出一个相应的受热变化响应。采样件60获取双集成热敏器件的采样接口凸出部分输出的受热变化响应，并将受热变化响应输出至电控组件，以使电控组件根据受热变化响应判断双集成热敏器件相应的受热变化参数。

在测试装置控制其中一组加热组件70开始工作的小于10分钟的 一段时间后，测试装置进一步地控制两个加热组件70以固定频率的热输出方式同时工作，即两个加热组件70以固定频率的频率进行热输出和不热输出的交替工作（需要理解的是，并非两个加热组件70相互交替热输出，而是两个加热组件70同步进行交替热输出），从而对安装位50中的热敏器件的两个内部热敏模块辐射热能。需要理解的是，此时双集成热敏器件两个内部热敏模块均能感应到热能，在双集成热敏器件正常工作的状态下，其两个内部热敏模块感应到的热能相同，而在双集成热敏器件异常工作的状态下，其两个内部热敏模块感应到的热能不相同，因此双集成热敏器件可根据两个内部热敏模块感应到的热能相应输出一个受热均匀响应。采样件60获取双集成热敏器件的采样接口凸出部分输出的受热均匀响应，并将受热均匀响应输出至电控组件，以使电控组件根据受热均匀响应判断双集成热敏器件相应的受热均匀参数。

进一步地，参照图2，所述步骤S200还包括：

步骤S240、控制所有所述加热组件70停止工作；

所述步骤S300具体为：经所述采样件60获取所述待测件的采样接口凸出部分输出的受热稳定参数。

需要理解的是，双集成热敏器件的内部热敏模块无法感应热能的状态下，可根据其采样接口凸出部分输出的响应以判断双集成热敏器件在非工作状态时的响应波动情况，从而检测双集成热敏器件的响应波动、噪声等。而双集成热敏器件的响应波动以及噪声可作为判断双集成热敏器件的受热稳定性能的参照。

具体地，在测试装置控制两个加热组件70同时开始工作的小于10分钟的一段时间后，测试装置进一步地控制两个加热组件70同时停止工作。需要理解的是，此时双集成热敏器件的两个内部热敏模块均无法感应到热能，双集成热敏器件的引脚采样接口凸出部分输出一个受热稳定响应。采样件60获取双集成热敏器件的采样接口凸出部分输出的受热稳定响应，并将受热稳定响应输出至电控组件，以使电控组件根据受热稳定响应输出双集成热敏器件相应的受热稳定参数。

在本实施例中，参照图3，所述直至所述采样件60与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态的步骤具体为：

步骤S110、所述采样件60在预设时间内采集到所述待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认所述采样件60与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；

步骤S120、所述采样件60在预设时间内无法采集所述待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认所述采样件60与待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态；

步骤S130、在确认所述采样件60与待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态时，控制所述驱动组件10复位，以使所述驱动组件10重新带动采样件60移动，直至所述采样件60与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态。

可以理解的是，在测试装置工作的情况下，待测件的采样接口凸出部分和采样件60接触不良，会导致采样的响应不准确，以影响最终显示的结果。因此在驱动组件10带动采样件60移动之后，和控制所述加热组件70工作之前，需要先确保待测件的采样接口凸出部分采样件60之间的接触良好。

具体地，在本实施例中，用户触发启动测试装置时，测试装置会相应接收到第一指令，同时测试装置控制驱动组件10开始工作，以使驱动组件10带动采样件60平行移动，从而使采样件60与热敏器件的采样接口凸出部分相互接触。采样件60在与热敏器件的采样接口凸出部分相互接触的3秒内可采集到待测件的采样接口凸出部分输出的响应，确认采样件60与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；进一步地，电控组件控制加热组件70工作，而使采样件60可获取待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数。

采样件60在与热敏器件的采样接口凸出部分相互接触的3秒内无法采集待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认采样件60与待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态；进一步地，在确认采样件60与待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态时，电控组件控制驱动组件10复位，以使驱动组件10重新带动采样件60移动，直至采样件60与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态，电控组件才对加热组件70进行控制。

需要理解的是，预设接触状态为采样件60与采样接口凸出部分靠近待测件主体的一端紧贴接触。现有对热敏器件的性能检验大多是采用焊线与其采样接口凸出部分连接，或重新将热敏器件的采样接口凸出部分焊接于测试装置里，其操作工序麻烦。而本实施例中采用采样件60与采样接口凸出部分靠近热敏器件的一端紧贴接触，避免了出现热敏器件的采样接口凸出部分长度不一而造成接触不良，由此提高了对热敏器件检测的有效性。

进一步地，参照图4，所述测试装置控制方法还包括：

步骤S500、在根据所述工作性能，确认待测件异常时，进行提示。

需要理解的是，电控组件分别输出受热变化参数、受热均匀参数以及受热稳定参数至测试装置内的电控组件，电控组件可相应判断待测件的受热变化性能、受热均匀性能以及受热稳定性能。具体地，在受热变化性能出现异常时，确认待测件的受热变化性能异常，并控制显示组件30显示出受热变化性能异常的图像，以提示用户。在受热均匀参数出现异常时，确认待测件的受热均匀性能异常，并控制显示组件30显示出受热均匀性能异常的图像，以提示用户。在受热稳定参数出现异常时，确认待测件的受热稳定性能异常，并控制显示组件30显示出受热稳定性能异常的图像，以提示用户。

在本实施例中，参照图5，所述测试装置包括：

测试装置主体，所述测试装置主体上设置有用于接入待测件的安装位50；

加热组件70，所述加热组件70设置于所述测试装置内；

驱动组件10，所述驱动组件10上设置有采样件60；

电控组件，所述电控组件用于在接收到第一指令时，控制所述驱动组件10工作，以带动所述采样件60移动，直至所述采样件60与待测件的采样接口凸出部分上与采样接口凸出部分靠近待测件主体的一端紧贴接触；并控制所述加热组件70工作，以对所述安装位50中的待测件辐射热能，并根据获取到的待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数，确定待测件的工作性能并进行提示。

用户触发启动测试装置时，测试装置内的电控组件会相应接收到第一指令，同时电控组件控制驱动组件10开始工作，以使驱动组件10带动采样件60平行移动，从而使采样件60与待测件的采样接口凸出部分相互接触。采样件60在3秒内采集到待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认采样件60与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；采样件60在3秒内无法采集待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认采样件60与待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态；在确认采样件60与待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态时，电控组件控制驱动组件10复位，以使驱动组件10重新带动采样件60移动，直至采样件60与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态。进一步地，在确认采样件60与待测件的采样接口凸出部分预设接触时，电控组件控制加热组件70工作，以对安装位50中的待测件辐射热能；待测件通过内部热敏模块接收热能并通过采样接口凸出部分输出相应的检测响应；采样件60获取待测件的采样接口凸出部分输出的检测响应；电控组件根据检测响应相应的检测参数判断待测件的工作性能，电控组件确定待测件的工作性能后控制显示组件30显示相应的图像，以对用户进行提示。用户可以根据显示组件30显示待测件的工作性能相关图像，以判断出待测件的优劣情况，从而筛选出不良品。

在本实施例中，所述加热组件70的数量为多个。

可以理解的是，在本实施例中，加热组件70的数量设置有多个，以对加热组件70采用不同的加热方法以测量安装位50中热敏器件的检测参数，从而根据测量出的检测参数判断热敏器件相应的工作性能。

可选的，待测件可以为双集成热敏器件和四元热敏器件。

在一实施例中，以待测件为双集成热敏器件展开说明。具体地，双集成热敏器件设置有两个，分别是第一双集成热敏器件和第二双集成热敏器件，每一双集成热敏器件具有两个内部热敏模块。采样件60相应设置有两个，分别是第一采样件60和第二采样件60，每一采样件60与每一双集成热敏器件的采样接口凸出部分接触。加热组件70的数量与双集成热敏器件的内部热敏模块的数量相同，因此加热组件70相应设置有四个，分别为第一加热组件70、第二加热组件70、第三加热组件70以及第四加热组件70。

需要理解的是，每一加热组件70对应加热每一内部热敏模块。即每一双集成热敏器件的下方位置设置有两个加热组件70。其中，第一加热组件70设置在第一双集成热敏器件下方的一侧，第二加热组件70设置在第一双集成热敏器件下方的另一侧；第三加热组件70设置在第二双集成热敏器件下方的一侧，第四加热组件70设置在第二双集成热敏器件下方的另一侧。

在实际应用中，用户触发启动测试装置时，测试装置会相应接收到第一指令，同时测试装置控制驱动组件10开始工作，以使驱动组件10带动第一采样件60和第二采样件60同时做平行移动，从而使第一采样件60与第一双集成热敏器件的采样接口凸出部分接触，第二采样件60与第二双集成热敏器件的采样接口凸出部分接触。

在确认第一采样件60和第二采样件60分别与第一双集成热敏器件的采样接口凸出部分和第二双集成热敏器件的采样接口凸出部分预设接触时，测试装置同时控制设置在每一双集成热敏器件的两个加热组件70中的一者以固定频率的热输出方式开始工作，即测试装置同时控制第一加热组件70和第三加热组件70以固定频率的热输出方式开始工作，从而对第一双集成热敏器件的单个内部热敏模块辐射热能，以及对第二双集成热敏器件的单个内部热敏模块辐射热能。此时可分别测量第一双集成热敏器件以及第二双集成热敏器件的受热变化参数。

进一步地，在测试装置同时控制第一加热组件70和第三加热组件70以固定频率的热输出方式工作的小于10分钟的一段时间后，测试装置进一步地控制设置在每一双集成热敏器件的两个加热组件70同时以固定频率的热输出方式开始工作，即测试装置同时控制第一加热组件70、第二加热组件70、第三加热组件70和第四加热组件70以固定频率的热输出方式开始工作，此时第一双集成热敏器件的两个内部热敏模块和第二双集成热敏器件的两个内部热敏模块均感应到热能。此时可分别测量第一双集成热敏器件以及第二双集成热敏器件的受热均匀参数。

进一步地，在测试装置同时控制第一加热组件70、第二加热组件70、第三加热组件70和第四加热组件70以固定频率的热输出方式工作的小于10分钟的 一段时间后，测试装置进一步地控制设置在每一双集成热敏器件的两个加热组件70同时停止工作，即测试装置同时控制第一加热组件70、第二加热组件70、第三加热组件70和第四加热组件70停止工作，此时第一双集成热敏器件的内部热敏模块和第二双集成热敏器件的内部热敏模块均无法感应到热能，此时可分别测量双集成热敏器件在未接收辐射热能下的受热稳定参数。

在本实施例中，参照图5多个所述加热组件70设置在所述安装位50的下方。

需要理解的是，安装位50的数量设置有多个，每一安装位50可以用于放置一待测件。此外，加热组件70的数量设置有多个，每一安装位50的下方位置设置有多个加热组件70。

在本实施例中，待测件为双集成热敏器件，双集成热敏器件被放置在安装位50中，此时每一安装位50下方位置设置有两个加热组件70。

在另一实施例中，待测件为四元热敏器件，四元热敏器件被放置在安装位50中，此时每一安装位50下方位置设置有四个加热组件70。

在本实施例中，所述电控组件，用于控制多个所述加热组件70以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位50中的待测件辐射热能，并根据获取到的待测件的采样接口凸出部分输出的受热变化参数，确定待测件的受热变化性能并进行提示；

所述电控组件，还用于控制多个所述加热组件70同时以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位50中的待测件辐射热能，并根据获取到的待测件的采样接口凸出部分输出的受热均匀参数，确定待测件的受热均匀性能并进行提示。

进一步地，所述电控组件，用于控制所有所述加热组件70停止工作，以对所述安装位50中的待测件停止辐射热能，并根据获取到的待测件的采样接口凸出部分输出的受热稳定参数，确定待测件的受热稳定性能并进行提示。

可选的，待测件可以为双集成热敏器件和四元热敏器件。

在一实施例中，以待测件为双集成热敏器件展开说明。具体地，其双集成热敏器件具有两个热敏模块，加热组件70的数量相应设置有两个，每一加热组件70对应加热双集成热敏器件的每一内部热敏模块。在实际应用中，用户触发启动测试装置时，测试装置内的电控组件会相应接收到第一指令，同时电控组件控制驱动组件10开始工作，以使驱动组件10带动采样件60平行移动，从而使采样件60与双集成热敏器件的采样接口凸出部分相互接触。

在确认采样件60与热敏器件的采样接口凸出部分预设接触时，电控组件控制两个加热组件70中的一者以固定频率的热输出方式开始工作，即两个加热组件70中的一者以固定频率的频率进行热输出和不热输出的交替工作，从而对安装位50中的热敏器件的单个内部热敏模块辐射热能，此时可测量双集成热敏器件的受热变化参数。

进一步地，在电控组件控制两个加热组件70中的一者加热组件70开始工作的小于10分钟的 一段时间后，电控组件进一步地控制两个加热组件70以固定频率的热输出方式同时工作，即两个加热组件70以固定频率的频率进行热输出和不热输出的交替工作（需要理解的是，并非两个加热组件70相互交替热输出，而是两个加热组件70同步进行交替热输出），从而对安装位50中的热敏器件的两个内部热敏模块辐射热能，此时可测量双集成热敏器件的受热均匀参数。

进一步地，在电控组件控制两个加热组件70同时开始工作的小于10分钟的一段时间后，电控组件进一步地控制两个加热组件70同时停止工作，此时可测量双集成热敏器件在未接收辐射热能下的受热稳定参数。

本实施例中，参照图5所述驱动组件10包括：

驱动电机11；

运动滑块12，所述运动滑块12与所述驱动电机11驱动连接，所述运动滑块12与所述采样件60连接；

所述驱动电机11，用于驱动所述运动滑块12带动所述采样件60移动。

可以理解的是，驱动组件10上设置有采样件60，即运动滑块12上设置有采样件60，在驱动电机11工作时，可驱动运动滑块12移动，以使运动滑块12上的采样件60与固定在安装位50上的待测件的采样接口凸出部分接触。

在实际应用中，用户将待测件放置在安装位50上，同时触发启动测试装置，测试装置内的电控组件相应接收到第一指令，同时电控组件控制驱动电机11开始工作。具体地，驱动电机11驱动运动滑块12移动，以使运动滑块12向安装位50的方向平行移动，直到运动滑块12上的采样件60与安装位50上的待测件的采样接口凸出部分接触。

本实施例中，所述驱动组件10的数量为多个，多个所述驱动组件10上设置有多个采样件60。

可以理解的是，驱动组件10的数量为多个，即运动滑块12的数量为多个，且每一运动滑块12上设置有多个采样件60。

在本实施例中，驱动组件10的数量为两个，即运动滑块12的数量为两个，分别为第一运动滑块12和第二运动滑块12；安装位50的数量为两个，分别是第一安装位50和第二安装位50；待测件的数量为两个，分别为第一待测件和第二待测件。需要理解的是，每一安装位50用于放置一待测件，每一运动滑块12上设置有两个采样件60；其中，第一运动滑块12上设置第一采样件60和第二采样件60，第二运动滑块12上设置第三采样件60和第四采样件60。

具体地，在实际应用中，用户将第一待测件放置在第一安装位50上，第二待测件放置在第二安装位50上。同时用户触发启动测试装置，测试装置内的电控组件相应接收到第一指令，并控制驱动电机11开始工作。具体地，驱动电机11同时驱动第一运动滑块12和第运动二滑块平行移动并相互靠近，以使第一采样件60和第三采样件60同时夹住第一待测件的采样接口凸出部分，以及使第二采样件60和第四采样件60同时夹住第二待测件的采样接口凸出部分。在确认第一待测件的采样接口凸出部分与第一采样件60和第三采样件60处于预设接触状态，以及确认第二待测件的采样接口凸出部分与第二采样件60和第四采样件60处于预设接触状态时，电控组件控制加热组件70开始工作，以进一步对第一待测件和第二待测件辐射热能；第一采样件60和第三采样件60获取到第一待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数，第二采样件60和第四采样获取到第二待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数；电控组件接收该第一待测件的检测参数和第二待测件的检测参数，并根据检测参数确定第一待测件和第二待测件相应的工作性能，同时控制显示组件30对该工作性能进行显示，以提示用户；用户可以根据显示的待测件的工作性能，以判断出待测件的优劣情况，从而筛选出不良品。

本实施例中，所述安装位50的数量为多个，多个所述安装位50用于放置多个待测件。

需要理解的是，单个安装位50无法满足同时对多个待测件的检验，在多个待测件出现异常时，只能通过检测装置逐个去对待测件进行检验，导致检验的效率变低。因此，本实施例中的安装位50设置有多个，以放置多个待测件。

具体地，在本实施例中，安装位50的数量为两个，分别是第一安装位50和第二安装位50，每一安装位50用于放置一待测件。

在一实施例中，以安装位50的数量为三个以例子说明。具体地，安装位50的数量为三个。运动滑块12的数量为两个，分别为第一运动滑块12和第二运动滑块12；其中，第一运动滑块12上设置有第一采样件60、第二采样件60、第三采样件60；第二运动滑块12上设置有第四采样件60、第五采样件60、第六采样件60。待测件的数量为三个，分别是第一待测件、第二待测件、第三待测件。需要理解的是，每一安装位50用于放置一待测件，每一运动滑块12上设置有三个采样件60。

具体地，在实际应用中，用户将第一待测件、第二待测件和第三待测件分别放置在三个安装位50上。同时用户触发启动测试装置，测试装置内的电控组件相应接收到第一指令，并控制驱动电机11开始工作。具体地，驱动电机11同时驱动第一运动滑块12和第运动二滑块平行移动并相互靠近，以使第一采样件60和第四采样件60同时夹住第一待测件的采样接口凸出部分，以及使第二采样件60和第五采样件60同时夹住第二待测件的采样接口凸出部分，以及使第三采样件60和第六采样件60同时夹住第三待测件的采样接口凸出部分。在确认第一待测件的采样接口凸出部分与第一采样件60和第四采样件60处于预设接触状态，以及确认第二待测件的采样接口凸出部分与第二采样件60和第五采样件60处于预设接触状态，以及确认第三待测件的采样接口凸出部分与第三采样件60和第六采样处于预设接触状态时，电控组件控制加热组件70开始工作，以进一步对第一待测件、第二待测件和第三待测件辐射热能；第一采样件60和第四采样获取第一待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数，第二采样件60和第五采样获取第二待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数，第三采样件60和第六采样获取第三待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数；电控组件接收第一待测件检测参数、第二待测件的检测参数以及第三待测件的检测参数，并根据该检测参数确定第一待测件、第二待测件和第三待测件相应的工作性能，同时控制显示组件30对该工作性能进行显示，以提示用户；用户可以根据显示的待测件的工作性能，以判断出待测件的优劣情况，从而筛选出不良品。

本实施例中，参照图5，所述测试装置还包括屏蔽盖20，所述屏蔽盖20可活动地覆盖于所述测试装置主体的顶部。

可以理解的是，在测试装置被触发启动时，电控组件控制加热组件70加热，为避免加热组件70在加热的过程中出现热量的散发，以导致影响对待测件进行热能的辐射。因而本实施例中的测试装置还设置有屏蔽盖20，在测试装置被触发启动时，屏蔽盖20可覆盖于测试装置主体的顶部，以防止加热组件70在加热的过程中出现热量的散发，同时还能防止外界环境对待测件造成响应干扰，而导致出现待测件输出的响应准确率下降的现象。

本实施例中，参照图5，所述测试装置还包括显示组件30，所述显示组件30设置于所述测试装置主体的侧面。

可以理解的是，测试装置控制加热组件70加热，以对待测件辐射热能，从而使待测件受热并输出相应的检测参数，然而，用户无法得知当前待测件输出的具体检测参数，本实施例还设置有显示组件30，显示组件30用于显示待测件的相关工作性能，以使用户通过显示组件30判断待测件的工作性能处于正常或异常，从而筛选出良品和不良品。

可选的，显示组件30可采用LED显示屏和液晶显示屏实现。

在本实施例中，以显示组件30为LED显示屏为例子展开说明。具体地，实际应用中，用户触发启动电控组件时，电控组件会相应接收到第一指令，同时电控组件控制驱动组件10开始工作，以使驱动组件10带动采样件60平行移动，从而使采样件60与待测件的采样接口凸出部分相互接触。采样件60在3秒内采集到待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认采样件60与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；采样件60在3秒内无法采集待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认采样件60与待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态；在确认采样件60与待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态时，控制驱动组件10复位，以使驱动组件10重新带动采样件60移动，直至采样件60与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态。进一步地，在确认采样件60与待测件的采样接口凸出部分预设接触时，电控组件控制加热组件70工作，以对安装位50中的待测件辐射热能；经采样件60获取待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数；电控组件根据检测参数，可确定待测件的工作性能。同时电控组件控制LED显示屏幕显示待测件的工作性能，例如待测件的受热变化图像、待测件的受热均匀图像以及待测件的受热稳定图像等等。用户可根据LED显示屏显示的图像，以综合判断待测件的工作性能。

此外，电控组件根据工作性能确认待测件的工作性能异常时，还会控制LED显示屏显示相应的图像以对用户进行提示。例如，在待测件的受热变化性能异常时，LED显示屏显示受热变化异常的警告图像；在待测件的受热均匀性能异常时，LED显示屏显示受热均匀异常的警告图像；在待测件的受热稳定性能异常时，LED显示屏显示受热稳定异常的警告图像。

本实施例中，所述测试装置还包括触发组件40，所述触发组件40设置于所述测试装置主体的侧面。

可选的，触发组件40可以采用触发按钮和触控屏实现。

本实施例中，触发组件40采用触发按钮实现，且触发组件40用于触发测试装置启动并开始工作。具体地，在实际应用中，用户按下触发按钮，触发按钮以触发启动测试装置，测试装置内的电控组件相应接收到第一指令，同时电控组件控制驱动组件10开始工作，以使驱动组件10带动采样件60移动，从而使采样件60与热敏器件的采样接口凸出部分相互接触。进一步地，在确认采样件60与热敏器件的采样接口凸出部分预设接触时，电控组件控制加热组件70工作，以对安装位50中的热敏器件辐射热能；经采样件60获取热敏器件的采样接口凸出部分输出的检测参数；电控组件根据检测参数，可确定热敏器件的工作性能，且工作性能可通过显示组件30进行提示。用户可以根据显示组件30显示的热敏器件工作性能的图像，以判断出热敏器件的优劣情况，从而筛选出不良品。

本发明还提出一种热敏器件测试方法，基于以上内容所述的测试装置，包括以下步骤：

步骤S1000、准备所述测试装置，并将所述测试装置上电；

步骤S2000、将热敏器件倒立放入所述安装位50，以使所述热敏器件的采样接口凸出部分向上伸出所述安装位50；

步骤S3000、触发所述测试装置输出所述第一指令，以使所述测试装置的电控组件在接收到所述第一指令时，控制所述驱动组件10工作，以带动所述采样件60移动，直至所述采样件60与待测件的采样接口凸出部分上与采样接口凸出部分靠近待测件主体的一端紧贴接触；并控制所述加热组件70工作，以对所述安装位50中的待测件辐射热能，并根据获取到的待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数，确定待测件的工作性能并进行提示。

在本实施例中，待测件采用热敏器件实现。

需要理解的是，由于热敏器件的采样接口凸出部分是通过其它设备上或客户端的产品中拆除，其采样接口凸出部分在安装在其它设备上或客户端的产品时已经被剪短，造成了采样接口凸出部分的长度不一。若将热敏器件的采样接口凸出部分向下放入安装位50，以使采样接口凸出部分与安装位50的底部接触，其长短不一的采样接口凸出部分会造成与安装位50的底部未完全接触的现象，而相应地导致采样件60难以与采样接口凸出部分完全接触，以使采样件60难以获取热敏器件的采样接口凸出部分输出的响应；此外，将热敏器件的采样接口凸出部分向下放入安装位50，其热敏器件的内部热敏模块向上伸出安装位50，而相应地加热组件70需要设置在安装位50的上方位置，在加热的过程中会有热能被散发的可能性，加热组件70的热能被散发也会导致影响对热敏器件辐射热能的过程，出现热敏器件受热不充分或者受热不均匀的现象，进而影响热敏器件输出响应的准确性。

因此，本实施例中的热敏器件采用倒立放入安装位50的方式，以提高对热敏器件的测试效率。具体地，在实际应用中，用户在触发启动测试装置前，先将测试装置接上电源，并将热敏器件倒立放入安装位50，以使热敏器件的采样接口凸出部分向上伸出安装位50，且热敏器件的内部热敏模块向下与安装位50的底部接触。进一步地，用户触发测试装置输出第一指令，以使测试装置的电控组件在接收到第一指令时，控制驱动组件10工作，以带动采样件60移动，直至采样件60与待测件的采样接口凸出部分上与采样接口凸出部分靠近待测件主体的一端紧贴接触；并控制加热组件70工作，以对安装位50中的待测件辐射热能，并根据获取到的待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数，确定待测件的工作性能并进行提示。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (16)

1.一种测试装置控制方法，所述测试装置上设置有用于接入待测件的安装位，所述测试装置还包括加热组件和驱动组件，所述加热组件的数量为多个，所述驱动组件上设置有采样件，其特征在于，包括以下步骤：

步骤S100、测试装置获取到第一指令时，控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动采样件移动，直至所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；

步骤S200、控制多个所述加热组件中的一者以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位中的待测件辐射热能；

控制多个所述加热组件同时以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位中的待测件辐射热能；

控制所有所述加热组件停止工作；

步骤S300、经所述采样件获取所述待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数；

步骤S400、根据所述检测参数，确定待测件的工作性能并进行提示；其中，所述检测参数包括受热变化参数、受热均匀参数以及受热稳定参数。

2.如权利要求1所述的测试装置控制方法，其特征在于，所述预设接触状态为所述采样件与采样接口凸出部分靠近待测件主体的一端紧贴接触。

3.如权利要求1所述的测试装置控制方法，其特征在于，所述直至所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态的步骤具体为：

步骤S110、所述采样件在预设时间内采集到所述待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；

步骤S120、所述采样件在预设时间内无法采集所述待测件的采样接口凸出部分输出不响应时，确认所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态；

步骤S130、在确认所述采样件与所述待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态时，控制所述驱动组件复位，以使所述驱动组件重新带动采样件移动，直至所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态。

4.如权利要求1-3任一所述的测试装置控制方法，其特征在于，所述测试装置控制方法还包括：

步骤S500、在根据所述工作性能，确认待测件异常时，进行提示。

5.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：

测试装置主体，所述测试装置主体上设置有用于接入待测件的安装位；

加热组件，所述加热组件设置于所述测试装置内；

驱动组件，所述驱动组件上设置有采样件；

电控组件，所述电控组件用于在接收到第一指令时，控制所述驱动组件工作，以带动所述采样件移动，直至所述采样件与待测件的采样接口凸出部分上与采样接口凸出部分靠近待测件主体的一端紧贴接触；并控制所述加热组件工作，以对所述安装位中的待测件辐射热能，并根据获取到的待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数，确定待测件的工作性能并进行提示。

6.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述加热组件的数量为多个。

7.如权利要求6所述的测试装置，其特征在于，多个所述加热组件设置在所述安装位的下方。

8.如权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述电控组件，用于控制多个所述加热组件以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位中的待测件辐射热能，并根据获取到的待测件的采样接口凸出部分输出的受热变化参数，确定待测件的受热变化性能并进行提示；

所述电控组件，还用于控制多个所述加热组件同时以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位中的待测件辐射热能，并根据获取到的待测件的采样接口凸出部分输出的受热均匀参数，确定待测件的受热均匀性能并进行提示。

9.如权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述电控组件，用于控制所有所述加热组件停止工作，以对所述安装位中的待测件停止辐射热能，并根据获取到的待测件的采样接口凸出部分输出的受热稳定参数，确定待测件的受热稳定性能并进行提示。

10.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述驱动组件包括：

驱动电机；

运动滑块，所述运动滑块与所述驱动电机驱动连接，所述运动滑块与所述采样件连接；

所述驱动电机，用于驱动所述运动滑块带动所述采样件移动。

11.如权利要求10所述的测试装置，其特征在于，所述驱动组件的数量为多个，多个所述驱动组件上设置有多个采样件。

12.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述安装位的数量为多个，多个所述安装位用于放置多个待测件。

13.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括屏蔽盖，所述屏蔽盖可活动地覆盖于所述测试装置主体的顶部。

14.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括显示组件，所述显示组件设置于所述测试装置主体的侧面。

15.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括触发组件，所述触发组件设置于所述测试装置主体的侧面。

16.一种热敏器件测试方法，基于如权利要求5-15任一项所述的测试装置，其特征在于，包括以下步骤：

步骤S1000、准备所述测试装置，并将所述测试装置上电；

步骤S2000、将热敏器件倒立放入所述安装位，以使所述热敏器件的采样接口凸出部分向上伸出所述安装位；

步骤S3000、触发所述测试装置输出所述第一指令，以使所述测试装置的电控组件在接收到所述第一指令时，控制所述驱动组件工作，以带动所述采样件移动，直至所述采样件与待测件的采样接口凸出部分上与采样接口凸出部分靠近待测件主体的一端紧贴接触；并控制所述加热组件工作，以对所述安装位中的待测件辐射热能，并根据获取到的待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数，确定待测件的工作性能并进行提示。