CN116067623A - 投影光机的质量检测方法、设备及介质 - Google Patents

Abstract

本公开提供了一种投影光机的质量检测方法、设备及介质，该方法包括：在投影显示测试画面的第一测试中，在设定的多个第一时刻分别采集第一测试画面，得到多组第一测试图像；针对每一第一时刻，根据第一时刻的第一测试图像，确定在设定的多个测试区域处的检测值，得到第一时刻对应的多个第一检测值；对于多个第一时刻中的相邻时刻，根据相邻时刻的多个第一检测值，得到相邻时刻对应的检测数据；根据多个相邻时刻对应的多个检测数据，确定第一稳定时间点；在投影显示测试画面的第二测试中，在所述第一稳定时间点之前的多个第二时刻分别采集所述第二测试画面，得到多组第二测试图像；根据多组第二测试图像，确定投影光机的质量检测结果。

Description

投影光机的质量检测方法、设备及介质

技术领域

本公开实施例涉及投影光机的技术领域，更具体地，涉及一种投影光机的质量检测方法、一种投影光机的质量检测设备及一种计算机可读存储介质。

背景技术

随着科学技术的发展，投影光机的投影质量得到不断提升。为了保障投影质量的可靠性，本领域技术人员常通过在投影光机上预存图片，并通过预存图片投影出的图像来检测投影光机的投影质量。例如，通过将投影的图像和预存图片的色彩饱和度、对比度、亮度等数值进行对比以检测投影光机的投影质量。

但是，在对投影光机进行投影质量的检测时，可能存在测试环境和投影光机两者共同影响投影质量的情况。例如，由于投影光机的LED灯受温度影响，导致投影光机的热平衡达到相应的程度之后，才会稳定下来。再例如，由于光机本身组装的问题，导致相对投影平面的倾斜程度不同，光机的敏感程度不同等。又例如，测试环境的环境温度是否在测试过程中保持恒定等。在此种情况下，质量检测的结果往往不能客观评价投影光机的投影质量，更无法便于用户从多个投影光机中挑选出质量最好的产品。

因此，亟需提供一种投影光机的质量检测方法，以准确反映投影光机的成像质量。

发明内容

本公开实施例的一个目的是提供一种投影光机的质量检测的新的技术方案。

根据本公开实施例的第一方面，提供了一种投影光机的质量检测方法，所述方法包括：

在所述投影光机投影显示第一测试画面的第一测试过程中，在设定的多个第一采样时刻分别采集所述第一测试画面，得到多组第一测试图像；

针对每一第一采样时刻，根据所述第一采样时刻对应的第一测试图像，确定所述投影光机在设定的多个测试区域处的检测值，得到所述第一采样时刻对应的多个第一检测值；

对于所述多个第一采样时刻中的相邻采样时刻，根据所述相邻采样时刻的所述多个第一检测值，得到所述相邻采样时刻对应的检测数据；其中，所述检测数据包括每一测试区域在所述相邻采样时刻的第一检测值的落差值；

根据多个相邻采样时刻对应的多个检测数据，确定所述投影光机的第一稳定时间点；

在所述投影光机投影显示第二测试画面的第二测试过程中，在所述第一稳定时间点之前的多个第二采样时刻分别采集所述第二测试画面，得到多组第二测试图像；

根据所述多组第二测试图像，确定所述投影光机的质量检测结果

可选地，所述根据所述多组第二测试图像，得到所述投影光机的质量检测结果，包括：

针对每一第二采样时刻，通过所述第二采样时刻对应的第二测试图像，确定所述投影光机在所述多个测试区域中的第一测试区域处的第二检测值，得到与所述多个第二采样时刻一一对应的多个第二检测值；

根据所述多个第二检测值的变化情况，确定所述投影光机的质量检测结果。

可选地，所述根据所述多个第二检测值的变化情况，确定所述投影光机的质量检测结果，包括：

根据所述多个第二检测值的变化情况，得到所述投影光机的第二稳定时间点；其中，所述第二稳定时间点为使得所述多个第二检测值从此时开始的变化量小于或者等于设定阈值的第二采样时刻；

根据所述多个第二检测值的变化情况，得到所述多个第二检测值的最大落差值；

根据所述第二稳定时间点和所述最大落差值，确定所述投影光机的质量检测结果。

可选地，所述第一测试画面和所述第二测试画面为同一画面。

可选地，所述多个测试区域包括位于所述投影光机的投影中心处的测试区域，位于所述投影中心的左上角的投影区域的至少一个测试区域，位于所述投影中心的左下角的投影区域的至少一个测试区域，位于所述投影中心的右上角的投影区域的至少一个测试区域，以及位于所述投影中心的右下角的投影区域的至少一个测试区域。

可选地，所述第一检测值为所述投影光机的镜头模组的模量传递函数值。

根据本公开实施例的第二方面，提供了一种投影光机的质量检测设备，所述设备包括：

采集模块，用于在所述投影光机投影显示第一测试画面的第一测试过程中，在设定的多个第一采样时刻分别采集所述第一测试画面，得到多组第一测试图像；

检测模块，用于针对每一第一采样时刻，根据所述第一采样时刻对应的第一测试图像，确定所述投影光机在设定的多个测试区域处的检测值，得到所述第一采样时刻对应的多个第一检测值；

计算模块，用于对于所述多个第一采样时刻中的相邻采样时刻，根据所述相邻采样时刻的所述多个第一检测值，得到所述相邻采样时刻对应的检测数据；其中，所述检测数据包括每一测试区域在所述相邻采样时刻的第一检测值的落差值；

确定模块，用于根据多个相邻采样时刻对应的多个检测数据，确定所述投影光机的第一稳定时间点；

所述采集模块用于在所述投影光机投影显示第二测试画面的第二测试过程中，在所述第一稳定时间点之前的多个第二采样时刻分别采集所述第二测试画面，得到多组第二测试图像；

所述确定模块用于根据所述多组第二测试图像，确定所述投影光机的质量检测结果。

根据本公开实施例的第三方面，提供了一种投影光机的质量检测设备，所述投影光机设备还包括：

存储器，用于存储可执行的计算机指令；

处理器，用于根据所述可执行的计算机指令的控制，执行根据以上第一方面所述的质量检测方法。

根据本公开的第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，所述计算机指令被处理器运行时执行以上第一方面所述的方法。

本公开实施例的一个有益效果在于，在对投影光机进行质量检测前，通过对第一样品的预测试，确定测试环境不会影响质量检测结果，在此种情况下，再对投影光机进行质量检测，可以避免测试环境对投影光机的质量检测结果的影响，提高质量检测的准确性。在质量检测时，通过第一检测确定第一稳定时间点，然后在第一稳定时间点之前确定多个第二采样时刻，再进行第二测试，可以在提高投影光机的质量检测准确性的同时，提高质量检测的效率。

通过以下参照附图对本说明书的示例性实施例的详细描述，本说明书的其它特征及其优点将会变得清楚。

附图说明

被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本说明书的实施例，并且连同其说明一起用于解释本说明书的原理。

图1是根据本公开实施例的投影光机的质量检测设备的硬件配置示意图；

图2是根据本公开实施例的投影光机的质量检测方法的流程示意图；

图3是根据本公开实施例的测试区域的的示意图；

图4是根据本公开实施例的第一样品的调制函数落差值的变化图；

图5是根据本公开实施例的第一样品的LED灯的温度变化图；

图6a是根据本公开实施例的第一样品的多个测试区域中一个测试区域的调制函数的变化图；

图6b根据本公开实施例的第一样品的多个测试区域中另一个测试区域的调制函数的变化图；

图7是根据本公开实施例的投影光机的第一检测值的变化图；

图8是根据本公开实施例的投影光机的第一检测值的落差值的变化图；

图9是根据本公开实施例的不同投影光机在其中一个测试区域的第二检测值的变化图；

图10是根据本公开实施例的投影光机的质量检测设备的原理框图；

图11是根据本公开实施例的投影光机的质量检测设备的硬件结构示意图。

具体实施方式

现在将参照附图来详细描述本公开的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本公开实施例的范围。

以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本公开及其应用或使用的任何限制。

对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。。

在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

<硬件配置>

图1是可用于实现本公开实施例的电子设备的结构示意图。

该电子设备1000可以是智能手机、便携式电脑、台式计算机、平板电脑、服务器等，在此不做限定。

该电子设备1000可以包括但不限于处理器1100、存储器1200、接口装置1300、通信装置1400、显示装置1500、输入装置1600、扬声器1700、麦克风1800等等。其中，处理器1100可以是中央处理器CPU、图形处理器GPU、微处理器MCU等，用于执行计算机程序，该计算机程序可以采用比如x86、Arm、RISC、MIPS、SSE等架构的指令集编写。存储器1200例如包括ROM(只读存储器)、RAM(随机存取存储器)、诸如硬盘的非易失性存储器等。接口装置1300例如包括USB接口、串行接口、并行接口等。通信装置1400例如能够利用光纤或电缆进行有线通信，或者进行无线通信，具体地可以包括WiFi通信、蓝牙通信、2G/3G/4G/5G通信等。显示装置1500例如是液晶显示屏、触摸显示屏等。输入装置1600例如可以包括触摸屏、键盘、体感输入等。扬声器1700用于输出音频信号。麦克风1800用于采集音频信号。

应用于本公开实施例中，电子设备1000的存储器1200用于存储计算机程序，该计算机程序用于控制所述处理器1100进行操作以实现根据本公开实施例的方法。技术人员可以根据本公开所公开方案设计该计算机程序。该计算机程序如何控制处理器进行操作，这是本领域公知，故在此不再详细描述。该电子设备1000可以安装有智能操作***(例如Windows、Linux、安卓、IOS等***)和应用软件。

本领域技术人员应当理解，尽管在图1中示出了电子设备1000的多个装置，但是，本公开实施例的电子设备1000可以仅涉及其中的部分装置，例如，只涉及处理器1100和存储器1200等。

下面，参照附图描述根据本发明的各个实施例和例子。

<方法实施例>

图2是根据一个实施例的投影光机的投影质量检测方法的流程示意图，该实施例可以由电子设备和待检测的投影光机共同实施。例如，该电子设备可以是如图1所示的电子设备1000。

如图2所示，该实施例提供的投影光机的质量检测方法可以包括以下步骤S2100～S2600。

步骤S2100，在所述投影光机投影显示第一测试画面的第一测试过程中，在设定的多个第一采样时刻分别采集所述第一测试画面，得到多组第一测试图像。

在本实施例中，在一些场景下，例如，在投影光机出厂前，技术人员可以对投影光机投影在幕布上的图像进行质量检测，以确定投影光机的投影质量是否合格。还例如，在用户需要对比多种不同类型的投影光机的投影质量以挑选出质量最好的投影光机的情况下，可以对不同类型的投影光机进行质量检测，以挑选其中质量最好的投影光机。在这些场景下，需要对投影光机进行质量检测。本领域技术人员应当理解，此处投影光机的质量检测场景仅为本申请的示例性说明，不能作为对本申请的限制。

在一个实施例中，在对所述投影光机进行质量检测之前，对第一样品进行预测试。

本实施例中，在对投影光机进行质量检测前，可以先随机选取任一个投影光机进行预测试，以检测所述测试环境是否合格。为了便于描述，这里将随机选取的投影光机标记为第一样品。

在一个实施例中，可以通过调制传递函数对所述第一样品进行预测试。

本实施例中，在通过调制传递函数对所述第一样品进行预测试之前，可以针对第一样品选取多个测试区域，其中，所述多个测试区域包括位于所述第一样品的投影中心处的测试区域，位于所述第一样品的左上角的投影区域的至少一个测试区域，位于所述投影中心的左下角的投影区域的至少一个测试区域，位于所述投影中心的右上角的投影区域的至少一个测试区域，以及位于所述投影中心的右下角的投影区域的至少一个测试区域。

也就是说，在预测试开始前，可以针对第一样品选取多个测试区域。例如，可以选取如图3所示的26个测试区域。

另外，在预测试开始前，在电子设备与第一样品建立通信连接的情况下，用户可以通过操作电子设备设置预测试的总时长和多个第三采样时刻。

在预测试过程中，通过所述第一样品投影显示第三测试画面，并在所述多个第三采样时刻通过电子设备的相机采集多组所述第一样品投影显示第三测试画面的第三测试图像。电子设备在获取到该多组第三测试图像后，可以获取每个第三测试图像在所述多个测试区域的调制传递函数值，从而得到多组第三测试图像的多组调制传递函数值。

例如，多个第三采集时刻分别是0,3,5,8,10,13,15分钟时刻，多个测试区域为上述选定的26个测试区域，从而得到多组第三测试图像的多组调制传递函数值。并且，以该26个测试区域为横坐标，以【0-3】、【3-5】、【5-8】、【8-10】、【10-13】、【13-15】分钟的调制传递函数值的落差值为纵坐标，绘制该26个位置的调制传递函数值的落差值图像，如图4所示，可以看出虚线对应的时间段的落差值在1以内，即在【8-10】分钟的曲线落差值在1以内，已经趋向于稳定。

为了确定在预测试过程中，LED灯的温度是否会影响调制传递函数值的变化。在一个实施例中，在对所述第一样品进行预测试的过程中，在所述多个第三采样时刻获取所述第一样品的LED灯的温度。

具体地，可以在所述第一样品的LED灯处设置热敏元件，例如热敏电阻等，以检测LED灯的温度。在预测试过程中，电子设备可以按照所述多个第三采样时刻获取温度值以检测在预测试过程中的LED灯的温度变化情况。

例如，第一样品是4LED的投影光机，则可以针对4个LED灯分别设置热敏元件。并且，在预测试的总时长为15分钟，并设置第三采样时刻为：0,3,5,8,10,13,15分钟时刻，在每个所述第三采样时刻获取10次温度数据，然后生成以横坐标为测温次数，纵坐标为温度的曲线图。该曲线图如图5所示。从图5可以看出，4个LED灯基本都在3分钟以内温度达到稳定。

可见，调制传递函数的落差值稳定在LED灯的温度稳定之后，说明还有其他因素导致调制传递函数值的变化。在通过一些实验分析可以得出，投影光机的镜头模组的热胀冷缩有一定过程，镜头模组的稳定时间接近10分钟。

根据本申请实施例，在预测试过程中，通过检测LED灯的温度，进而确定LED灯温度稳定的时间，再将该稳定时间与调制传递函数的稳定时间进行对比，可以确定调制传递函数值的变化与LED灯的温度无关。

在一个实施例中，为了避免因多个测试区域的选取不当而影响质量检测的准确性，本申请实施例还对所述多个测试区域中每一测试区域在预测试过程中的调制传递函数值进行分析。

在本申请实施例中，电子设备还可以在预测试结束后，生成每个测试区域对于测量次数的变化情况。例如，在预测试的过程中，可以针对每个第三采样时刻取三次第三测试图像。也就是说，在0,3,5,8,10,13,15分钟时刻分别取三次第三测试图像，共计获得21个第三测试图像。针对每一个第三测试图像的26个测试区域中的每一测试区域，获取调制传递函数值。并生成横坐标为测量次数(21次)，纵坐标为26个测试区域中任意两个测试区域的曲线图，可以得出，该两个测试区域的调制传递函数值随着时间的变化有变大或者变小的趋势。

根据本申请实施例，在预测试过程中，通过针对所述多个测试区域中每一测试区域分析调制传递函数值随测量时间的变化情况，可以确定设定的多个测试区域是否存在选取不当的问题，从而避免因测试区域选取不当而影响质量检测的准确性。

在一个实施例中，对所述第一样品进行多次预测试，且在每次预测试完成后，待所述第一样品自然冷却后再进行下一次预测试，并且，在每次预测试的过程中，保持环境温度恒定。

本实施例中，可以对第一样品进行三次预测试，每次预测试结束后，需要待第一样品自然冷却后，再进行下一次预测试。并且，在预测试过程中，保持环境温度为25摄氏度。

根据本申请实施例，通过多次对第一样品进行预测试，可以避免因偶然因素导致的测试结果不准确的问题。通过在预测试时，保持环境温度恒定，可以避免环境温度对测试结果的影响，提高预测试的准确性。

在通过预测试确定测试环境对质量检测的结果无影响后，可以进行投影光机的质量检测。该投影光机的质量检测包含第一测试和第二测试。在对投影光机进行第一测试前，电子设备和所述投影光机建立通信连接的情况下，用户可以通过电子设备输入第一测试的总时长和时间间隔。电子设备在接收到用户输入的第一测试的总时长和时间间隔后，可以根据该总时长和时间间隔，确定多个第一采样时刻。

例如，用户可以输入第一测试的总时长为15分钟，时间间隔为3分钟。电子设备可以根据总时长为15分钟，时间间隔为3分钟，确定多个第一采样时刻为0,3,5,8,10,13,15分钟时刻。

在确定好多个第一采样时刻后，用户可以通过电子设备控制投影光机投影显示第一测试画面，并且开启第一测试。其中，第一测试画面可以是在出厂前预存在投影光机内的图片，第一测试画面也可以是在投影光机与电子设备建立通信连接的情况下，由电子设备发送给投影光机的图片，本领域技术人员应当理解，这里对于第一测试画面的具体来源不做限定。

在所述投影光机投影显示第一测试画面的第一测试过程中，电子设备的相机在设定的多个第一采样时刻分别采集所述第一测试画面，得到多组第一测试图像。

步骤S2200,针对每一第一采样时刻，根据所述第一采样时刻对应的第一测试图像，确定所述投影光机在设定的多个测试区域处的检测值，得到所述第一采样时刻对应的多个第一检测值。

本实施例中，电子设备在获取到所述多组第一测试图像的情况下，可以获取设定的多个测试区域，并针对其中一个第一测试图像，根据所述多个测试区域，确定所述第一测试图像的所述多个测试区域的一组第一检测值，则可以得到针对多组第一测试图像的多组第一检测值。

在一个实施例中，所述第一检测值为所述投影光机的镜头模组的调制传递函数值。

本实施例中，可以获取所述第一测试图像中多个测试区域中每一测试区域内的黑色线对和白色线对的数量，并计算黑色线对和白色线对的百分比，得到所述第一测试图像的每一测试区域的第一检测值。

例如，可以设置第一测试的采样时刻为：0,3,5,10,15分钟时刻，第一测试的多个测试区域为预测试的26个测试区域，在电子设备的相机获取到对应该五个时刻的五个第一测试图像后，可以针对每个第一测试图像的26个测试区域确定26个第一检测值，并将该26个第一检测值作为一组第一检测值。最终，可以得到与该五个时刻对应的五组第一检测值。如图7所示，即为得到的五个时刻对应的五组第一检测值的变化图。

步骤S2300、对于所述多个第一采样时刻中的相邻采样时刻，根据所述相邻采样时刻的所述多个第一检测值，得到所述相邻采样时刻对应的检测数据；其中，所述检测数据包括每一测试区域在所述相邻采样时刻的第一检测值的落差值。

步骤S2400、根据多个相邻采样时刻对应的多个检测数据，确定所述投影光机的第一稳定时间点。

本实施例中，在得到与每一第一采样时刻对应的一组第一检测值后，可以将相邻第一采样时刻的两组第一检测值在对应测试区域上求落差值，得到相邻采样时刻对应的检测数据。电子设备可以根据多个相邻采样时刻对应的多个检测数据，确定所述投影光机的第一稳定时间点。

在一个实施例中，可以预设第一阈值，在所述多个相邻采样时刻对应的多个检测数据中第一相邻采样时刻对应的多个检测数据均小于或等于所述第一阈值的情况下，确定所述第一相邻采样时刻为第一稳定时间点。

本实施例中，在所述多个相邻采样时刻对应的多个检测数据中，可能存在多个第一相邻采样时刻对应的多个检测数据均小于或者等于所述第一阈值的情况，此种情况下，可以将所述多个第一相邻采样时刻中相对较小的确定为第一稳定时间点。

例如，可以将3时刻的26个测试区域的第一检测值与0时刻的26个测试区域的第一检测值在对应测试区域上求落差值，得到【0-3】时间段的检测数据。以此类推，也可以得到【3-5】、【5-8】、【8-10】、【10-13】、【13-15】时间段的检测数据。在得到多个检测数据后，可以得到26个检测区域对应的检测数据。如图8所示的曲线图的横坐标为26个测试区域，纵坐标为相邻采样时刻的检测数据。通过该曲线图可以看出，第一稳定时间点为【8-10】分钟的时间段。

S2500、在所述投影光机投影显示第二测试画面的第二测试过程中，在所述第一稳定时间点之前的多个第二采样时刻分别采集所述第二测试画面，得到多组第二测试图像。

本实施例中，在通过第一测试确定好所述投影光机的第一稳定时间点之后，可以对所述投影光机进行第二测试。在进行第二测试之前，电子设备可以根据所述第一稳定时间点，确定在所述第一稳定时间点之前的多个第二采样时刻。例如，在第一稳定时间点为【8-10】的情况下，可以对8分钟之前的时刻进行划分，确定多个第二采样时刻。例如，可以对前7分钟的1,2,3,4,5,6,7分钟时刻作为第二采样时刻。

在确定好多个第二采样时刻后，可以控制所述投影光机投影显示第二测试画面以开始第二测试。其中，第二测试画面可以是与所述第一测试画面不同的画面。第二测试画面也可以是与所述第一测试画面相同的画面。本领域技术人员应当理解，这里对第二测试画面的具体类型和来源不做限定。

在第二测试过程中，电子设备的相机可以在多个第二采样时刻分别采集所述第二测试画面，得到多组第二测试图像。

S2600、根据所述多组第二测试图像，确定所述投影光机的质量检测结果。

在本实施例中，电子设备可以根据该多组第二测试图像，确定所述投影光机的质量检测结果。

根据本申请实施例，在对投影光机进行质量检测前，通过对第一样品的预测试，确定测试环境不会影响质量检测结果，在此种情况下，再对投影光机进行质量检测，可以避免测试环境对投影光机的质量检测结果的影响，提高质量检测的准确性。在质量检测时，通过第一检测确定第一稳定时间点，然后在第一稳定时间点之前确定多个第二采样时刻，再进行第二测试，可以在提高投影光机的质量检测准确性的同时，提高质量检测的效率。

在一个实施例中，所述根据所述多组第二测试图像，得到所述投影光机的质量检测结果，包括：

S3100、针对每一第二采样时刻，通过所述第二采样时刻对应的第二测试图像，确定所述投影光机在所述多个测试区域中的第一测试区域处的第二检测值，得到与所述多个第二采样时刻一一对应的多个第二检测值；

本实施例中，电子设备在得到多组第二测试图像后，用户可以从所述多个测试区域中选定第一测试区域。电子设备在接收到该第一测试区域后，可以获取每一第二测试图像中所述第一测试区域内的黑色线对数量和白色线对数量的百分比，得到所述多个第二采样时刻一一对应的多个所述第一测试区域的第二检测值。例如，可以选定位于所述投影光机的投影中心处的测试区域为第一测试区域，得到该中心测试区域的第二测试值。

S3200、根据所述多个第二检测值的变化情况，确定所述投影光机的质量检测结果。

在一个实施例中，所述根据所述多个第二检测值的变化情况，确定所述投影光机的质量检测结果，包括：

S4100、根据所述多个第二检测值的变化情况，得到所述投影光机的第二稳定时间点；其中，所述第二稳定时间点为使得所述多个第二检测值从此时开始的变化量小于或者等于设定阈值的第二采样时刻；

S4200、根据所述多个第二检测值的变化情况，得到所述多个第二检测值的最大落差值。

S4300、根据所述第二稳定时间点和所述最大落差值，确定所述投影光机的质量检测结果。

本实施例中，可以预设第二阈值，在所述多个第二检测值从此时开始的变化量小于或者等于所述第二阈值的情况下，将此时刻对应的第二采样时刻确定为第二稳定时间点。在得到第二稳定时间点之后，再根据所述多个第二检测值的变化情况，得到所述多个第二检测值的最大落差值。最后，根据所述第二稳定时间点和所述最大落差值，确定所述投影光机的质量检测结果。在所述第二稳定时间点越小，且最大落差值越小的情况下，所述投影光机的质量越好。

例如，在对多个投影光机进行质量检测后，得到第二检测值与第二采样时刻的关系如图9所示。通过该图可以看出，最高的曲线的投影光机的最大落差值最小，并且先于其他曲线在较小的时刻趋向于稳定，即第二稳定时间点较小，因此，可以确定，该曲线对应的投影光机的质量是相对较好的。

根据本申请实施例，通过根据所述第二稳定时间点和所述最大落差值，确定所述投影光机的质量检测结果，可以进一步提高投影光机的质量检测的准确性，也便于用户从多个投影光机中挑选出质量最好的投影光机。

在一个实施例中，所述第一测试画面和所述第二测试画面为同一画面。

本实施例中，由于在质量检测的第一测试和第二测试过程中所使用的测试画面不同，可能导致在第二测试过程中在第一稳定时间点之前仍未出现第二稳定时间点的情况，或者，第二检测值的最大落差值一直处于小于或者等于第二阈值的情况。在此种情况下，无法准确判断所述投影光机的质量检测结果。

为了避免因测试画面变化而影响质量检测结果的准确性，本申请实施例中的第二测试画面与第一测试画面为同一画面。

根据本申请实施例，所述第一测试画面和所述第二测试画面为同一弧面，可以避免因测试画面变化而影响质量检测结果的准确性。

<装置实施例>

本公开实施例提供了一种投影光机的质量检测设备，如图10所示，该投影光机的质量检测设备600可以包括采集模块610、检测模块620、计算模块630，确定模块640。

采集模块610，用于在所述投影光机投影显示第一测试画面的第一测试过程中，在设定的多个第一采样时刻分别采集所述第一测试画面，得到多组第一测试图像；

检测模块620，用于针对每一第一采样时刻，根据所述第一采样时刻对应的第一测试图像，确定所述投影光机在设定的多个测试区域处的检测值，得到所述第一采样时刻对应的多个第一检测值；

计算模块630，用于对于所述多个第一采样时刻中的相邻采样时刻，根据所述相邻采样时刻的所述多个第一检测值，得到所述相邻采样时刻对应的检测数据；其中，所述检测数据包括每一测试区域在所述相邻采样时刻的第一检测值的落差值；

确定模块640，用于根据多个相邻采样时刻对应的多个检测数据，确定所述投影光机的第一稳定时间点；

所述采集模块610用于在所述投影光机投影显示第二测试画面的第二测试过程中，在所述第一稳定时间点之前的多个第二采样时刻分别采集所述第二测试画面，得到多组第二测试图像；

所述确定模块640用于根据所述多组第二测试图像，确定所述投影光机的质量检测结果。

根据本申请实施例，在对投影光机进行质量检测前，通过对第一样品的预测试，确定测试环境不会影响质量检测结果，在此种情况下，再对投影光机进行质量检测，可以避免测试环境对投影光机的质量检测结果的影响，提高质量检测的准确性。在质量检测时，通过第一检测确定第一稳定时间点，然后在第一稳定时间点之前确定多个第二采样时刻，再进行第二测试，可以在提高投影光机的质量检测准确性的同时，提高质量检测的效率。

在一个实施例中，所述确定模块640具体用于针对每一第二采样时刻，通过所述第二采样时刻对应的第二测试图像，确定所述投影光机在所述多个测试区域中的第一测试区域处的第二检测值，得到与所述多个第二采样时刻一一对应的多个第二检测值；根据所述多个第二检测值的变化情况，确定所述投影光机的质量检测结果。

在一个实施例中，所述确定模块640具体用于根据所述多个第二检测值的变化情况，得到所述投影光机的第二稳定时间点；其中，所述第二稳定时间点为使得所述多个第二检测值从此时开始的变化量小于或者等于设定阈值的第二采样时刻；根据所述多个第二检测值的变化情况，得到所述多个第二检测值的最大落差值；根据所述第二稳定时间点和所述最大落差值，确定所述投影光机的质量检测结果。

根据本申请实施例，通过根据所述第二稳定时间点和所述最大落差值，确定所述投影光机的质量检测结果，可以进一步提高投影光机的质量检测的准确性，也便于用户从多个投影光机中挑选出质量最好的投影光机。

在一个实施例中，所述第一测试画面和所述第二测试画面为同一画面。

根据本申请实施例，所述第一测试画面和所述第二测试画面为同一弧面，可以避免因测试画面变化而影响质量检测结果的准确性。

在一个实施例中，所述多个测试区域包括位于所述投影光机的投影中心处的测试区域，位于所述投影中心的左上角的投影区域的至少一个测试区域，位于所述投影中心的左下角的投影区域的至少一个测试区域，位于所述投影中心的右上角的投影区域的至少一个测试区域，以及位于所述投影中心的右下角的投影区域的至少一个测试区域。

在一个实施例中，所述第一检测值为所述投影光机的镜头模组的调制传递函数值。

<设备实施例>

图11是根据一个实施例的投影光机的质量检测设备的硬件结构示意图。如图11所示，该投影光机的质量检测设备700包括显示屏710和相机模块720，该投影光机的质量检测设备700还包括处理器730和存储器740。

该存储器740可以用于存储可执行的计算机指令。

该处理器730可以用于根据所述可执行的计算机指令的控制，执行根据本公开方法实施例所述的投影光机的质量检测方法。

该投影光机的质量检测设备700可以是如图1所示的电子设备1000，也可以是具备其他硬件结构的设备，在此不做限定。该投影光机的质量检测设备700可以是手机、笔记本电脑、台式电脑等，本公开实施例对此不作限定。

<计算机可读存储介质>

本公开实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，所述计算机指令被处理器运行时执行本公开实施例提供的投影光机的质量检测方法。

本公开可以是***、方法和/或计算机程序产品。计算机程序产品可以包括计算机可读存储介质，其上载有用于使处理器实现本公开的各个方面的计算机可读程序指令。

计算机可读存储介质可以是可以保持和存储由指令执行设备使用的指令的有形设备。计算机可读存储介质例如可以是――但不限于――电存储设备、磁存储设备、光存储设备、电磁存储设备、半导体存储设备或者上述的任意合适的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、静态随机存取存储器(SRAM)、便携式压缩盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能盘(DVD)、记忆棒、软盘、机械编码设备、例如其上存储有指令的打孔卡或凹槽内凸起结构、以及上述的任意合适的组合。这里所使用的计算机可读存储介质不被解释为瞬时信号本身，诸如无线电波或者其他自由传播的电磁波、通过波导或其他传输媒介传播的电磁波(例如，通过光纤电缆的光脉冲)、或者通过电线传输的电信号。

这里所描述的计算机可读程序指令可以从计算机可读存储介质下载到各个计算/处理设备，或者通过网络、例如因特网、局域网、广域网和/或无线网下载到外部计算机或外部存储设备。网络可以包括铜传输电缆、光纤传输、无线传输、路由器、防火墙、交换机、网关计算机和/或边缘服务器。每个计算/处理设备中的网络适配卡或者网络接口从网络接收计算机可读程序指令，并转发该计算机可读程序指令，以供存储在各个计算/处理设备中的计算机可读存储介质中。

用于执行本公开操作的计算机程序指令可以是汇编指令、指令集架构(ISA)指令、机器指令、机器相关指令、微代码、固件指令、状态设置数据、或者以一种或多种编程语言的任意组合编写的源代码或目标代码，所述编程语言包括面向对象的编程语言—诸如Smalltalk、C++等，以及常规的过程式编程语言—诸如“C”语言或类似的编程语言。计算机可读程序指令可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络—包括局域网(LAN)或广域网(WAN)—连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。在一些实施例中，通过利用计算机可读程序指令的状态信息来个性化定制电子电路，例如可编程逻辑电路、现场可编程门阵列(FPGA)或可编程逻辑阵列(PLA)，该电子电路可以执行计算机可读程序指令，从而实现本公开的各个方面。

这里参照根据本公开实施例的方法、装置(***)和计算机程序产品的流程图和/或框图描述了本公开的各个方面。应当理解，流程图和/或框图的每个方框以及流程图和/或框图中各方框的组合，都可以由计算机可读程序指令实现。

这些计算机可读程序指令可以提供给通用计算机、专用计算机或其它可编程数据处理装置的处理器，从而生产出一种机器，使得这些指令在通过计算机或其它可编程数据处理装置的处理器执行时，产生了实现流程图和/或框图中的一个或多个方框中规定的功能/动作的装置。也可以把这些计算机可读程序指令存储在计算机可读存储介质中，这些指令使得计算机、可编程数据处理装置和/或其他设备以特定方式工作，从而，存储有指令的计算机可读介质则包括一个制造品，其包括实现流程图和/或框图中的一个或多个方框中规定的功能/动作的各个方面的指令。

也可以把计算机可读程序指令加载到计算机、其它可编程数据处理装置、或其它设备上，使得在计算机、其它可编程数据处理装置或其它设备上执行一系列操作步骤，以产生计算机实现的过程，从而使得在计算机、其它可编程数据处理装置、或其它设备上执行的指令实现流程图和/或框图中的一个或多个方框中规定的功能/动作。

附图中的流程图和框图显示了根据本公开的多个实施例的***、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或指令的一部分，所述模块、程序段或指令的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的***来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。对于本领域技术人员来说公知的是，通过硬件方式实现、通过软件方式实现以及通过软件和硬件结合的方式实现都是等价的。

以上已经描述了本公开的各实施例，上述说明是示例性的，并非穷尽性的，并且也不限于所披露的各实施例。在不偏离所说明的各实施例的范围和精神的情况下，对于本技术领域的普通技术人员来说许多修改和变更都是显而易见的。本文中所用术语的选择，旨在最好地解释各实施例的原理、实际应用或对市场中的技术改进，或者使本技术领域的其它普通技术人员能理解本文披露的各实施例。本公开的范围由所附权利要求来限定。

Claims (10)

1.一种投影光机的质量检测方法，其特征在于，所述方法包括：

在所述投影光机投影显示第一测试画面的第一测试过程中，在设定的多个第一采样时刻分别采集所述第一测试画面，得到多组第一测试图像；

针对每一第一采样时刻，根据所述第一采样时刻对应的第一测试图像，确定所述投影光机在设定的多个测试区域处的检测值，得到所述第一采样时刻对应的多个第一检测值；

对于所述多个第一采样时刻中的相邻采样时刻，根据所述相邻采样时刻的所述多个第一检测值，得到所述相邻采样时刻对应的检测数据；其中，所述检测数据包括每一测试区域在所述相邻采样时刻的第一检测值的落差值；

根据多个相邻采样时刻对应的多个检测数据，确定所述投影光机的第一稳定时间点；

在所述投影光机投影显示第二测试画面的第二测试过程中，在所述第一稳定时间点之前的多个第二采样时刻分别采集所述第二测试画面，得到多组第二测试图像；

根据所述多组第二测试图像，确定所述投影光机的质量检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述多组第二测试图像，得到所述投影光机的质量检测结果，包括：

针对每一第二采样时刻，通过所述第二采样时刻对应的第二测试图像，确定所述投影光机在所述多个测试区域中的第一测试区域处的第二检测值，得到与所述多个第二采样时刻一一对应的多个第二检测值；

根据所述多个第二检测值的变化情况，确定所述投影光机的质量检测结果。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个第二检测值的变化情况，确定所述投影光机的质量检测结果，包括：

根据所述多个第二检测值的变化情况，得到所述投影光机的第二稳定时间点；其中，所述第二稳定时间点为使得所述多个第二检测值从此时开始的变化量小于或者等于设定阈值的第二采样时刻；

根据所述多个第二检测值的变化情况，得到所述多个第二检测值的最大落差值；

根据所述第二稳定时间点和所述最大落差值，确定所述投影光机的质量检测结果。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述第一测试画面和所述第二测试画面为同一画面。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述多个测试区域包括位于所述投影光机的投影中心处的测试区域，位于所述投影中心的左上角的投影区域的至少一个测试区域，位于所述投影中心的左下角的投影区域的至少一个测试区域，位于所述投影中心的右上角的投影区域的至少一个测试区域，以及位于所述投影中心的右下角的投影区域的至少一个测试区域。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述第一检测值为所述投影光机的镜头模组的调制传递函数值。

7.一种投影光机的质量检测设备，其特征在于，所述设备包括：

采集模块，用于在所述投影光机投影显示第一测试画面的第一测试过程中，在设定的多个第一采样时刻分别采集所述第一测试画面，得到多组第一测试图像；

检测模块，用于针对每一第一采样时刻，根据所述第一采样时刻对应的第一测试图像，确定所述投影光机在设定的多个测试区域处的检测值，得到所述第一采样时刻对应的多个第一检测值；

计算模块，用于对于所述多个第一采样时刻中的相邻采样时刻，根据所述相邻采样时刻的所述多个第一检测值，得到所述相邻采样时刻对应的检测数据；其中，所述检测数据包括每一测试区域在所述相邻采样时刻的第一检测值的落差值；

确定模块，用于根据多个相邻采样时刻对应的多个检测数据，确定所述投影光机的第一稳定时间点；

所述采集模块用于在所述投影光机投影显示第二测试画面的第二测试过程中，在所述第一稳定时间点之前的多个第二采样时刻分别采集所述第二测试画面，得到多组第二测试图像；

所述确定模块用于根据所述多组第二测试图像，确定所述投影光机的质量检测结果。

8.根据权利要求7所述的设备，其特征在于，所述确定模块具体用于针对每一第二采样时刻，通过所述第二采样时刻对应的第二测试图像，确定所述投影光机在所述多个测试区域中的第一测试区域处的第二检测值，得到与所述多个第二采样时刻一一对应的多个第二检测值；根据所述多个第二检测值的变化情况，确定所述投影光机的质量检测结果。

9.一种投影光机的质量检测设备，其特征在于，所述投影光机的质量检测设备包括：

存储器，用于存储可执行的计算机指令；

处理器，用于根据所述可执行的计算机指令的控制，执行根据权利要求1-6中任意一项所述的质量检测方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机指令，所述计算机指令被处理器运行时执行权利要求1-6任一项所述的方法。

Images