CN116047121A - 一种多功能微波综合测试仪 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种多功能微波综合测试仪,属于微波综合测试技术领域,包括两个定向耦合器、单刀双掷开关、单刀四掷开关、低噪声放大模块、信号发生模块、频谱分析模块、功率测量模块、噪声源模块、接口模块、控制模块、显示模块和6个对外接口,信号发生模块、频谱分析模块、功率测量模块和噪声源模块均连接接口模块,接口模块依次连接控制模块和显示模块;信号发生模块实现宽带信号发生,经单刀双掷开关后,一路送至信号发生接口,另一路送至定向耦合器,信号经频谱测量接口输入,经单刀四掷开关后进入频谱分析模块;接口模块、控制模块、显示模块为公用模块,负责提供接口、控制传输数据和显示测试结果。
Description
技术领域
本发明公开了一种多功能微波综合测试仪,属于微波综合测试技术领域。
背景技术
由于雷达设备组成复杂,在进行检修维护时需要测量的微波性能参数很多,涉及到频率、功率、噪声系数、驻波等测量,需要用到信号源、频谱仪、功率计、噪声系数分析仪、驻波比测试仪等测试仪器,目前雷达设备检修维护主要有两种方法。一种方法是采用测试***进行测试,测试***内部集成了频谱仪、信号源、功率计、噪声系数分析仪、驻波比测试仪等台式仪器,多采用机柜式结构,体积大、移动不便,因此主要用于室内测试。如图1,另一种方法是采用微波综合测试仪进行测试,目前的微波综合测试仪功能较少,只是集成了信号源、频谱仪等功能,不具备噪声系数测量功能和驻波比测试功能,在进行驻波比测试、噪声系数测试时需要采用专用的驻波比测试仪、噪声系数分析仪进行测试,需要的测试仪器多,测试不便。
发明内容
本发明公开了一种多功能微波综合测试仪,解决现有技术中,微波综合测试仪功能较少的问题。
一种多功能微波综合测试仪,包括两个定向耦合器、单刀双掷开关、单刀四掷开关、低噪声放大模块、信号发生模块、频谱分析模块、功率测量模块、噪声源模块、接口模块、控制模块、显示模块和6个对外接口,6个对外接口包括信号发生接口、驻波比测量接口、频谱测量接口、功率测量接口、噪声系数测量接口和噪声源接口,所述信号发生模块、频谱分析模块、功率测量模块和噪声源模块均连接接口模块,接口模块依次连接控制模块和显示模块;
信号发生模块实现宽带信号发生,经单刀双掷开关后,一路送至信号发生接口,另一路送至定向耦合器,信号经频谱测量接口输入,经单刀四掷开关后进入频谱分析模块,功率测量接口连接功率测量模块;
接口模块、控制模块、显示模块为公用模块,负责提供接口、控制传输数据和显示测试结果。
送至定向耦合器的信号为入射信号,经单刀双掷开关后,入射信号经第一定向耦合器,在耦合端口输出信号为入射耦合信号,经单刀四掷开关后输出至频谱分析模块,测得入射耦合信号功率P2;
入射信号经第二定向耦合器后,经驻波比测量接口输出至被测件,产生反射信号,反射信号经第二定向耦合器,在耦合端口输出信号为反射耦合信号,经单刀四掷开关后输出至频谱分析模块,测得反射耦合信号功率P1;
噪声源模块输出噪声源至噪声源输出接口,用电缆将噪声源输出接口与噪声系数测量接口直接相连,通过接口模块控制噪声源模块为关状态,噪声源模块输出信号经外部电缆进入噪声系数测量接口,经低噪声放大模块、单刀四掷开关后进入频谱分析模块,测出功率值P2C,通过接口模块控制噪声源模块为开状态,测出功率值P2h,计算微波综合测试仪自身噪声系数
用电缆将噪声源输出接口与被测件输入相连,将被测件输出与噪声系数测量接口相连,通过接口模块控制噪声源模块为关状态,噪声源模块输出信号经外部电缆进入噪声系数测量接口,经低噪声放大模块、单刀四掷开关后进入频谱分析模块,测出功率值P1C,通过接口模块控制噪声源模块为开状态,测出功率值P1h;
本发明有益效果为:本发明具有信号发生、频谱分析、功率测量等基本测量功能,同时通过对基本功模块的组合复用,实现驻波比测试功能和噪声系数测试功能,可提高测试效率,降低测试成本,携带更方便。
附图说明
图1是现有微波综合测试仪框图;
图2是本发明微波综合测试仪框图;
图3是驻波比测试示意图;
图4是噪声系数校准连接示意图;
图5是噪声系数测量连接示意图。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明的具体实施方式做进一步说明:
一种多功能微波综合测试仪,如图2,包括两个定向耦合器、单刀双掷开关、单刀四掷开关、低噪声放大模块、信号发生模块、频谱分析模块、功率测量模块、噪声源模块、接口模块、控制模块、显示模块和6个对外接口,6个对外接口包括信号发生接口、驻波比测量接口、频谱测量接口、功率测量接口、噪声系数测量接口和噪声源接口,所述信号发生模块、频谱分析模块、功率测量模块和噪声源模块均连接接口模块,接口模块依次连接控制模块和显示模块;
信号发生模块实现宽带信号发生,经单刀双掷开关后,一路送至信号发生接口,另一路送至定向耦合器,信号经频谱测量接口输入,经单刀四掷开关后进入频谱分析模块,功率测量接口连接功率测量模块;
接口模块、控制模块、显示模块为公用模块,负责提供接口、控制传输数据和显示测试结果。
如图3,驻波比测量功能包括:送至定向耦合器的信号为入射信号,经单刀双掷开关后,入射信号经第一定向耦合器,在耦合端口输出信号为入射耦合信号,经单刀四掷开关后输出至频谱分析模块,测得入射耦合信号功率P2;
入射信号经第二定向耦合器后,经驻波比测量接口输出至被测件,产生反射信号,反射信号经第二定向耦合器,在耦合端口输出信号为反射耦合信号,经单刀四掷开关后输出至频谱分析模块,测得反射耦合信号功率P1;
如图4和图5,噪声系数测量功能包括:
噪声源模块输出噪声源至噪声源输出接口,用电缆将噪声源输出接口与噪声系数测量接口直接相连,通过接口模块控制噪声源模块为关状态,噪声源模块输出信号经外部电缆进入噪声系数测量接口,经低噪声放大模块、单刀四掷开关后进入频谱分析模块,测出功率值P2C,通过接口模块控制噪声源模块为开状态,测出功率值P2h,计算微波综合测试仪自身噪声系数
用电缆将噪声源输出接口与被测件输入相连,将被测件输出与噪声系数测量接口相连,通过接口模块控制噪声源模块为关状态,噪声源模块输出信号经外部电缆进入噪声系数测量接口,经低噪声放大模块、单刀四掷开关后进入频谱分析模块,测出功率值P1C,通过接口模块控制噪声源模块为开状态,测出功率值P1h;
当然,上述说明并非是对本发明的限制,本发明也并不仅限于上述举例,本技术领域的技术人员在本发明的实质范围内所做出的变化、改型、添加或替换,也应属于本发明的保护范围。
Claims (3)
1.一种多功能微波综合测试仪,其特征在于,包括两个定向耦合器、单刀双掷开关、单刀四掷开关、低噪声放大模块、信号发生模块、频谱分析模块、功率测量模块、噪声源模块、接口模块、控制模块、显示模块和6个对外接口,6个对外接口包括信号发生接口、驻波比测量接口、频谱测量接口、功率测量接口、噪声系数测量接口和噪声源接口,所述信号发生模块、频谱分析模块、功率测量模块和噪声源模块均连接接口模块,接口模块依次连接控制模块和显示模块;
信号发生模块实现宽带信号发生,经单刀双掷开关后,一路送至信号发生接口,另一路送至定向耦合器,信号经频谱测量接口输入,经单刀四掷开关后进入频谱分析模块,功率测量接口连接功率测量模块;
接口模块、控制模块、显示模块为公用模块,负责提供接口、控制传输数据和显示测试结果。
3.根据权利要求2所述的一种多功能微波综合测试仪,其特征在于,噪声源模块输出噪声源至噪声源输出接口,用电缆将噪声源输出接口与噪声系数测量接口直接相连,通过接口模块控制噪声源模块为关状态,噪声源模块输出信号经外部电缆进入噪声系数测量接口,经低噪声放大模块、单刀四掷开关后进入频谱分析模块,测出功率值P2C,通过接口模块控制噪声源模块为开状态,测出功率值P2h,计算微波综合测试仪自身噪声系数
用电缆将噪声源输出接口与被测件输入相连,将被测件输出与噪声系数测量接口相连,通过接口模块控制噪声源模块为关状态,噪声源模块输出信号经外部电缆进入噪声系数测量接口,经低噪声放大模块、单刀四掷开关后进入频谱分析模块,测出功率值P1C,通过接口模块控制噪声源模块为开状态,测出功率值P1h;
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CN117007913A (zh) * | 2023-10-07 | 2023-11-07 | 成都菲斯洛克电子技术有限公司 | 一种便携式射频综合自动化测试装置及其测试方法 |
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CN117007913A (zh) * | 2023-10-07 | 2023-11-07 | 成都菲斯洛克电子技术有限公司 | 一种便携式射频综合自动化测试装置及其测试方法 |
CN117007913B (zh) * | 2023-10-07 | 2023-12-22 | 成都菲斯洛克电子技术有限公司 | 一种便携式射频综合自动化测试装置及其测试方法 |
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