CN116007506A - 电池极片的检测方法、装置、计算机设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例属于电池检测技术领域，涉及一种电池极片的检测方法、装置、计算机设备以及存储介质。该方法包括：首先获取至少一个极片样品；然后测量极片样品的第一面涂布的第一尺寸数据，以及测量极片样品的第二面涂布的第二尺寸数据，其中第一面和第二面是电池相对的两个面；最后根据第一尺寸数据和第二尺寸数据检测第一面和第二面是否发生涂布错误，即比较两个量化的数据，第一尺寸数据和第二尺寸数据，进而确定是否发生涂布错误，由此可以通过数值直观、准确的确定是否发生涂布错误，另外一方面可以进一步通过数值确定涂布错误的程度，因此可提高检测的准确性，并且可对检测结果进行量化表示。
Description
技术领域
本申请涉及电池检测技术领域，尤其涉及一种电池极片的检测方法、装置、计算机设备及存储介质。
背景技术
随着消费类电子产品以及新能源电动汽车的广泛应用，高比能量锂离子电池成为了科研工作者的研究热点之一，而高比能量意味着更高的风险。据统计数据显示，2021年中国发生的电动汽车起火事故已达到3000起，电动汽车保有量大约为784万辆，起火概率已近4％，几倍数于燃油车。
其中，电动汽车发生安全事故的最重要原因是电池安全问题。当电池极片表面石墨缺失时，锂电池在充电过程中锂离子还原时会形成树枝状金属锂。树枝状金属锂晶(即锂枝晶)生长是影响锂离子电池安全性和稳定性的根本问题之一。锂枝晶的生长会导致锂离子电池在循环过程中电极和电解液界面的不稳定，破坏生成的固体电解质界面(SEI)膜，锂枝晶在生长过程中会不断消耗电解液并导致金属锂的不可逆沉积，形成死锂造成低库伦效率。锂枝晶的形成甚至还会刺穿隔膜导致锂离子电池内部短接，造成电池的热失控引发燃烧***。
而电池极片表面石墨缺失的其中一个原因是在电池极片制造过程中，电池正负极的极片涂布错位，从而导致极片边缘石墨缺失，后续充放电过程中形成锂枝晶，导致发生安全事故。
对于电池的双面(正极面和负极面)涂布，常规的涂布错位检测方法通常采用针刺穿孔测试，通过刺孔观察涂布两面涂膜差异。该方法较为便利，但对操作人员有一定的要求，且测量精度较低，无法量化。
发明内容
本申请实施例的目的在于提出一种电池极片的检测方法、装置、计算机设备及存储介质，以解决现有技术检测精度较低即无法量化的技术问题。
为了解决上述技术问题，本申请实施例提供一种电池极片的检测方法，采用了如下所述的技术方案：
所述方法包括：
获取至少一个极片样品；
测量所述极片样品的第一面涂布的第一尺寸数据；
测量所述极片样品的第二面涂布的第二尺寸数据，其中所述第一面和所述第二面是所述极片相对的两个面；
根据所述第一尺寸数据和所述第二尺寸数据检测所述第一面和所述第二面是否发生涂布错误。
进一步的，所述测量所述极片样品的第一面涂布的第一尺寸数据的步骤，还包括：
采用影像测量仪测量所述极片样品中第一面的第一涂布区域的尺寸数据，以及所述第一涂布区域两侧的尺寸数据；
所述测量所述极片样品的第二面涂布的第二尺寸数据的步骤，还包括：
采用影像测量仪测量所述极片样品中第二面的第二涂布区域的尺寸数据，以及所述第二涂布区域两侧的尺寸数据。
进一步的，所述根据所述第一尺寸数据和所述第二尺寸数据检测所述第一面和所述第二面是否发生涂布错误的步骤，还包括：
将所述第一涂布区域的尺寸数据和所述第二涂布区域的尺寸数据进行差值比较，以及将所述第一涂布区域两侧的尺寸数据与所述第二涂布区域两侧的尺寸数据进行差值比较，判断所述比较结果是否大于预设的阈值范围；
若判断的结果为是，则确定所述电池的第一面和所述第二面发生涂布错位。
进一步的，所述获取至少一个极片样品的步骤，还包括：
在完成一个周期的极片涂布流程后，获取周期尾部完成的多个极片样品。
进一步的，所述测量所述极片样品的第一面涂布的第一尺寸数据的步骤，还包括：
以所述多个极片样品的一侧的边缘作为基准线，采用影像测量仪测量所述5每个极片样品中第一面的第一涂布区域的尺寸数据，以及所述第一涂布区域两侧的尺寸数据，所述尺寸数据为基于所述基准线的测量值；
所述测量所述极片样品的第二面涂布的第二尺寸数据的步骤，还包括：
以所述多个极片样品的所述一侧的边缘作为基准线，采用影像测量仪测量所述每个极片样品中第二面的第二涂布区域的尺寸数据，以及所述第二涂布区0域两侧的尺寸数据，所述尺寸为基于所述基准线的测量值。
进一步的，所述测量所述极片样品的第一面涂布的第一尺寸数据的步骤，还包括：
将多个所述极片样品分为两部分，其中一部分极片样品以所述多个极片样品的一侧的边缘作为基准线，另一部分所述极片样品以所述多个极片样品的另5一侧的边缘作为基准线，采用影像测量仪测量所述每个极片样品中第一面的第一涂布区域的尺寸，以及所述第一涂布区域两侧的尺寸，所述尺寸为基于所述极片样品对应的基准线的测量值；
所述测量所述极片样品的第二面涂布的第二尺寸数据的步骤，还包括：
将多个所述极片样品分为两部分，其中一部分极片样品以所述多个极片样0品的一侧的边缘作为基准线，另一部分所述极片样品以所述多个极片样品的另一侧的边缘作为基准线，采用影像测量仪测量所述每个极片样品中第二面的第二涂布区域的尺寸，以及所述第二涂布区域两侧的尺寸，所述尺寸为基于所述极片样品对应的基准线的测量值。
进一步的，所述根据所述第一尺寸数据和所述第二尺寸数据检测所述第一5面涂布和所述第二面涂布是否发生涂布错误的步骤，还包括：
基于所述基准线，将所述第一面的第一涂布区域的尺寸和第二面中对应的所述第二涂布区域的尺寸进行差值比较，以及将所述第一涂布区域两侧的尺寸与对应的所述第二涂布区域两侧的尺寸进行差值比较，判断所述比较结果是否在大于预设的阈值范围；
若判断的结果为是，则确定所述电池的第一面和所述第二面发生涂布错位。
为了解决上述技术问题，本申请实施例还提供一种电池极片的检测装置，采用了如下所述的技术方案：
所述装置包括：
获取模块，用于获取至少一个极片样品；
第一测量模块，用于测量所述极片样品的第一面涂布的第一尺寸数据；
第二测量模块，用于测量所述极片样品的第二面涂布的第二尺寸数据，其中所述第一面和所述第二面是所述极片相对的两个面；
检测模块，用于根据所述第一尺寸数据和所述第二尺寸数据检测所述第一面涂布和所述第二面涂布是否发生涂布错误。
为了解决上述技术问题，本申请实施例还提供一种计算机设备，采用了如下所述的技术方案：
所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机可读指令，所述处理器执行所述计算机可读指令时实现前文所述的电池极片的检测方法的步骤。
为了解决上述技术问题，本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，采用了如下所述的技术方案：
所述计算机可读存储介质上存储有计算机可读指令，所述计算机可读指令被处理器执行时实现如前文所述的电池极片的检测方法的步骤。
与现有技术相比，本申请实施例主要有以下有益效果：本申请提供一种电池极片的检测方法、装置、计算机设备以及存储介质。该方法包括：首先获取至少一个极片样品；然后测量极片样品的第一面涂布的第一尺寸数据，以及测量极片样品的第二面涂布的第二尺寸数据，其中第一面和第二面是电池相对的两个面，通过测量涂布的第一尺寸数据和第二尺寸数据，可以得到涂布的量化的数值；最后根据第一尺寸数据和第二尺寸数据检测第一面和第二面是否发生涂布错误，即比较两个量化的数据，第一尺寸数据和第二尺寸数据，进而确定是否发生涂布错误，由此可以通过数值直观、准确的确定是否发生涂布错误，另外一方面可以进一步通过数值确定涂布错误的程度，因此可提高检测的准确性，并且可对检测结果进行量化表示。
附图说明
为了更清楚地说明本申请中的方案，下面将对本申请实施例描述中所需要使用的附图作一个简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请可以应用于其中的示例性***架构图；
图2是根据本申请的电池极片的检测方法的一种实施例的流程图；
图3A是本申请基于电池极片的检测方法的一个具体例子的示意图；
图3B是本申请基于电池极片的检测方法的另一个具体例子的示意图；
图3c是本申请基于电池极片的检测方法的又一个具体例子的示意图；
图4是根据本申请的电池的大电流测试装置的一个实施例的结构示意图；
图5是根据本申请的计算机设备的一个实施例的结构示意图。
具体实施方式
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同；本文中在申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请；本申请的说明书和权利要求书及上述附图说明中的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。本申请的说明书和权利要求书或上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。
在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
电池的涂布效果影响着电池的安全使用，在现有技术中，通常采用针刺穿孔测试，具体而言，在极片的一面，如在负极片面的涂布边缘位置通过针刺孔,针穿过极片样品到达正极片面，然后观察针在正极片面的位置是否处于正极片面的涂布边缘，以此验证正负极片的涂布是否错位。现有技术的针刺穿孔检测方法，主要是通过人工穿刺，操作人员需要经过严格的培训，对操作人员的技术要求高，容易受到操作人员技术影响，检测精度不高，此外，针刺穿孔检测方法仅能检测到正负极片两面的涂布是否不在同一个针穿刺的位置，依次来证明是否涂布错位，在发生涂布错位的时候，不能进一步对错位的程度进行量化。基于此，本申请提供一种电池的极片检测方法，以解决现有技术中检测精度不高以及无法量化的问题。具体请参阅下文详述。
请参阅图1，图1是本申请可以应用于其中的示例性***架构图。如图1所示，***架构100可以包括终端设备101、102、103，网络104和服务器105。网络104用以在终端设备101、102、103和服务器105之间提供通信链路的介质。网络104可以包括各种连接类型，例如有线、无线通信链路或者光纤电缆等等。
用户可以使用终端设备101、102、103通过网络104与服务器105交互，以接收或发送消息等。终端设备101、102、103上可以安装有拍摄应用，例如摄像头、扫描仪、雷达、传感器等；终端设备101、102、103上还可以安装有各种通讯客户端应用，例如网页浏览器应用、购物类应用、搜索类应用、即时通信工具、邮箱客户端、社交平台软件等。
终端设备101、102、103可以是具有显示屏并且支持网页浏览的各种电子设备，包括但不限于智能手机、平板电脑、电子书阅读器、MP3播放器(Moving Picture ExpertsGroup Audio Layer III，动态影像专家压缩标准音频层面3)、MP4(Moving PictureExperts Group Audio Layer IV，动态影像专家压缩标准音频层面4)播放器、膝上型便携计算机和台式计算机等等。
服务器105可以是提供各种服务的服务器，例如对终端设备101、102、103上显示的页面提供支持的后台服务器。
需要说明的是，本申请实施例所提供的电池极片的检测方法一般由服务器/终端设备执行，在实际应用中，服务器/终端设备可将电池极片的检测方法中的指令信息向移动终端发送，移动终端可根据指令执行对应的操作。相应地，基于电池极片的检测装置一般设置于服务器/终端设备中。
应该理解，图1中的终端设备、网络和服务器的数目仅仅是示意性的。根据实现需要，可以具有任意数目的终端设备、网络和服务器。
继续参考图2，示出了根据本申请的电池极片的检测方法的一个实施例的结构示意图。如图2所示，本实施例的方法包括：
步骤S201：获取至少一个极片样品。
在电池制造过程中，通过在箔材基板上涂膜形成涂布区域，例如在箔材基板的两个相对的表面上涂膜形成涂布区域，该两个表面上的涂布区域后续可形成电池的正极和负极。
本步骤中，获取极片样品即为获取涂布了膜层形成涂布区域的箔材基板样品。在一实施例中，可在极片涂布周期完成后，获取周期尾部的极片样品。具体来说，在对极片进行涂布时，可首先提供一个连续的箔材基板，然后依次在箔材基板上涂膜层形成每个电池的涂布区域，例如每个涂布周期规定涂布100个涂布区域，那么提供可涂布100个涂布区域的箔材，然后依次在该箔材上涂膜层，完成100个涂布区域后，即完成了一个周期的涂布。在完成一个周期的涂布后，获取涂布周期尾部的极片作为极片样品，例如可获取最后一个极片作为极片样品，或者获取最后预设个极片作为极片样品。
应理解，极片样品上，箔材基板大于涂布区域，即涂布区域未覆盖全部的箔材基板。
步骤S202：测量所述极片样品的第一面涂布的第一尺寸数据。
如前文所述，极片样品上，箔材基板大于涂布区域，即涂布区域未覆盖全部的箔材基板。因此，本步骤中测量的是第一面中第一涂布区域的尺寸数据以及第一涂布区域两侧的尺寸数据。如果极片样品为一个，则测量的是第一面中，箔材基板的边缘位置到第一涂布区域的尺寸数据，第一涂布区域两侧的尺寸数据。如图3a，本步骤以箔材基板300一侧的边缘301为基准线，测量边缘301到第一涂布区域的一边缘302之间的尺寸，得到尺寸数据A1；进一步测量第一涂布区域的边缘302到第一涂布区域的边缘303的尺寸，或者测量箔材基板300的边缘301到第一涂布区域的边缘303的尺寸，得到尺寸数据A2；最后测量第一涂布区域的边缘303到箔材基板300另一侧的边缘304的尺寸，或者测量箔材基板300的边缘301到边缘304的尺寸，得到尺寸数据A3。
类似的，如果获取的极片样品为多个，则本步骤以所述多个极片样品的一侧的边缘作为基准线，测量所述每个极片样品中第一面的第一涂布区域的尺寸数据，以及所述第一涂布区域两侧的尺寸数据，所述尺寸数据为基于所述基准线的测量值。具体而言，可参与图3B所示。在箔材基板300的第一面上，以箔材基板300一侧的边缘301为基准线，测量边缘301到第一涂布区域的一边缘302之间的尺寸，得到尺寸数据A1；进一步测量第一涂布区域的边缘302到第一涂布区域的边缘303的尺寸，或者测量箔材基板300的边缘301到第一涂布区域的边缘303的尺寸，得到尺寸数据A2；最后测量第一涂布区域的边缘303到箔材基板300另一侧的边缘304的尺寸，或者测量箔材基板300的边缘301到边缘304的尺寸，得到尺寸数据A3。依次类推，依次测量其他第一涂布区域的尺寸，得到如图所示的A4、A5、A6、A7、A8以及A9。
值得注意的是，上述多个极片样品的尺寸数据计算方案均是以箔材基板300一侧的边缘301为基准线。在另一实施例中，特别是极片样品较多的情况
下，可将极片样品分为两部分，一部分极片样品以箔材基板300的边缘301为5基准线，测量每个极片样品中第一面的第一涂布区域的尺寸，以及所述第一涂布区域两侧的尺寸；另一部分极片样品以箔材基板300的边缘304为基准线，测量每个极片样品中第一面的第一涂布区域的尺寸，以及所述第一涂布区域两侧的尺寸。举例而言，区域A1、A2、A3、A4以及A5是以箔材基板300的边
缘301为基准线测量的尺寸数据。区域A6、A7、A8、A9是以箔材基板300的0边缘305为基准线测量的尺寸数据。
本步骤具体可采用影像测量仪，例如CNC(Computerized Numerical Control，数控机床)影像测量仪测量对箔材基板300进行拍摄，以测量上述尺寸数据。
步骤S203：测量所述极片样品的第二面涂布的第二尺寸数据，其中所述第5一面和所述第二面是所述电池相对的两个面。
与步骤S202类似，本步骤中测量的是第二面中第二涂布区域的尺寸数据以及第二涂布区域两侧的尺寸数据。如果极片样品为一个，则测量的是第二面中，箔材基板的边缘位置到第二涂布区域的尺寸数据，第二涂布区域两侧的尺
寸数据。如图3a，本步骤以箔材基板300一侧的边缘305为基准线，测量边缘0 305到第二涂布区域的一边缘306之间的尺寸，得到尺寸数据A4；进一步测量
第二涂布区域的边缘306到第二涂布区域的边缘307的尺寸，或者测量箔材基板300的边缘305到第二涂布区域的边缘307的尺寸，得到尺寸数据A5；最后测量第二涂布区域的边缘307到箔材基板300另一侧的边缘308的尺寸，或者
测量箔材基板300的边缘305到边缘308的尺寸，得到尺寸数据A6。
5类似的，如果获取的极片样品为多个，则本步骤以所述多个极片样品的一侧的边缘作为基准线，测量所述每个极片样品中第二面的第二涂布区域的尺寸数据，以及所述第二涂布区域两侧的尺寸数据，所述尺寸数据为基于所述基准线的测量值。具体而言，可参与图3B所示。在箔材基板300的第二面上，以箔材基板300一侧的边缘306为基准线，测量边缘306到第二涂布区域的一边缘307之间的尺寸，得到尺寸数据A10；进一步测量第二涂布区域的边缘307到第二涂布区域的边缘308的尺寸，或者测量箔材基板300的边缘306到第二涂布区域的边缘308的尺寸，得到尺寸数据A11；最后测量第二涂布区域的边缘308到箔材基板300另一侧的边缘309的尺寸，或者测量箔材基板300的边缘306到边缘309的尺寸，得到尺寸数据A12。依次类推，依次测量其他第二涂布区域的尺寸，得到如图所示的A13、A14、A15、A16、A17以及A18。
值得注意的是，上述多个极片样品的尺寸数据计算方案均是以箔材基板300一侧的边缘306为基准线。在另一实施例中，特别是极片样品较多的情况下，可将极片样品分为两部分，一部分极片样品以箔材基板300的边缘306为基准线，测量每个极片样品中第二面的第二涂布区域的尺寸，以及所述第二涂布区域两侧的尺寸；另一部分极片样品以箔材基板300的边缘310为基准线，测量每个极片样品中第二面的第二涂布区域的尺寸，以及所述第二涂布区域两侧的尺寸。举例而言，区域A10、A11、A12、A13、A14是以箔材基板300的边缘306为基准线测量的尺寸数据。区域A15、A16、A17、A18是以箔材基板300的边缘310为基准线测量的尺寸数据。
步骤S204：根据所述第一尺寸数据和所述第二尺寸数据检测所述第一面和所述第二面是否发生涂布错误。
具体的，将所述第一涂布区域的尺寸数据和所述第二涂布区域的尺寸数据进行差值比较，以及将所述第一涂布区域两侧的尺寸数据与所述第二涂布区域两侧的尺寸数据进行差值比较，判断所述比较结果是否大于预设的阈值范围，若判断的结果为是，则确定所述电池的第一面和所述第二面发生涂布错位。例如图3A中，将A1和A4进行差值比较，A2和A5进行差值比较，A3和A6进行差值比较，判断是否差值都大于预设的阈值范围，若判断的结果为是，则确定第一面和第二面发生涂布错位。此外，因为每个尺寸都有量化数值，因此可以知道涂布错位的量化数值是多少，方便校正。
此外，若获取的极片样品为多个，则本步骤基于所述基准线，将所述第一面的第一涂布区域的尺寸和第二面中对应的所述第二涂布区域的尺寸进行差值比较，以及将所述第一涂布区域两侧的尺寸与对应的所述第二涂布区域两侧的尺寸进行差值比较，判断所述比较结果是否在大于预设的阈值范围，若判断的结果为是，则确定所述电池的第一面和所述第二面发生涂布错位。例如图3B所示，将A1和A4进行差值比较，A2和A5进行差值比较，A3和A6进行差值比较，依次类推，最后将A8与A17进行差值比较，A9与A18进行差值比较，判断是否差值都大于预设的阈值范围，若判断的结果为是，则确定第一面和第二面发生涂布错位。此外，因为每个尺寸都有量化数值，因此可以知道涂布错位的量化数值是多少，方便校正。
根据上述介绍的电池的极片检测方法举例说明，请参阅图3C，取涂布后尾部极片样品100～200mm。首先第一面朝上平铺在CNC影像测量仪检测台上进行尺寸检测，按以下方法进行测量：
第一步：以8幅4条为例，以上箔材边缘为基准线，采用点位法，按图3C标记，分别测量出尺寸L1～L9；
第二步：按图3C中翻面线进行极片样品翻面，第二面朝上，按第一步的步骤中方法测量尺寸L10-L18；
第三步：根据第一面和第二面错位原理，多幅涂布双面错位值即各单条膜区边缘坐标差值，例如：图3C中最上一条涂布膜区，第一面和第二面错位值分别为：
外侧L1-L10，内侧∑(L1,L2)-∑(L10,L11)，即最上一条涂布膜区中，涂布区域的外侧箔材尺寸的错位值为：L1-L10；因为每个尺寸都是以箔材边缘为基准线测量的，因此，涂布区域的内侧尺寸的错位值为：(L1+L2)-(L10+L11)。依次类推，图3C中最下一条涂布膜区，第一面和第二面错位值分别为：
涂布区域的外侧箔材尺寸的错位值为：∑(L1～L7)-∑(L10～L16)，涂布区域的内侧尺寸的错位值为：∑(L1～L8)-∑(L10～L17)。
综上所述，本申请的电池的极片检测方法便于操作，涂布尺寸是关键指标，可测量涂布尺寸的同时可根据尺寸测量值，按上述方法计算出第一面和第二面的错位值，可量化调整，根据错位值给予涂布过程尺寸CCD合适的补偿值；此外，检测精度更高，相较于针刺穿孔测量，该方法精度可达0.001mm。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机可读指令来指令相关的硬件来完成，该计算机可读指令可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，前述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)等非易失性存储介质，或随机存储记忆体(Random Access Memory，RAM)等。
应该理解的是，虽然附图的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，其可以以其他的顺序执行。而且，附图的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，其执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其他步骤或者其他步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
进一步参考图4，作为对上述图2所示方法的实现，本申请提供了一种电池极片的检测装置的一个实施例，该装置实施例与图2所示的方法实施例相对应，该装置具体可以应用于各种电子设备中。
如图4所示，本实施例所述的电池极片的检测装置400包括获取模块401、第一测量模块402、第二测量模块403以及检测模块404。其中：
获取模块401用于获取至少一个极片样品。
获取模块401获取极片样品即为获取涂布了膜层形成涂布区域的箔材基板样品。在一实施例中，可在极片涂布周期完成后，获取周期尾部的极片样品。具体来说，在对极片进行涂布时，可首先提供一个连续的箔材基板，然后依次在箔材基板上涂膜层形成每个电池的涂布区域，例如每个涂布周期规定涂布100个涂布区域，那么提供可涂布100个涂布区域的箔材，然后依次在该箔材上涂膜层，完成100个涂布区域后，即完成了一个周期的涂布。在完成一个周期的涂布后，获取涂布周期尾部的极片作为极片样品，例如可获取最后一个极片作为极片样品，或者获取最后预设个极片作为极片样品。
应理解，极片样品上，箔材基板大于涂布区域，即涂布区域未覆盖全部的箔材基板。
第一测量模块402用于测量所述极片样品的第一面涂布的第一尺寸数据。
如前文所述，极片样品上，箔材基板大于涂布区域，即涂布区域未覆盖全部的箔材基板。因此，第一测量模块402测量的是第一面中第一涂布区域的尺寸数据以及第一涂布区域两侧的尺寸数据。如果极片样品为一个，则测量的是第一面中，箔材基板的边缘位置到第一涂布区域的尺寸数据，第一涂布区域两侧的尺寸数据。
类似的，如果获取的极片样品为多个，则第一测量模块402以所述多个极片样品的一侧的边缘作为基准线，测量所述每个极片样品中第一面的第一涂布区域的尺寸数据，以及所述第一涂布区域两侧的尺寸数据，所述尺寸数据为基于所述基准线的测量值。
值得注意的是，上述多个极片样品的尺寸数据计算方案均是以箔材基板一侧的边缘为基准线。在另一实施例中，特别是极片样品较多的情况下，可将极片样品分为两部分，一部分极片样品以箔材基板的一侧边缘，例如图3B中的边缘301为基准线，测量每个极片样品中第一面的第一涂布区域的尺寸，以及所述第一涂布区域两侧的尺寸；另一部分极片样品以箔材基板300的另一侧边缘，如图3B中边缘304为基准线，测量每个极片样品中第一面的第一涂布区域的尺寸，以及所述第一涂布区域两侧的尺寸。
在本实施例的一些可选的实现方式中，第一测量模块402具体可采用影像测量仪，例如CNC(Computerized Numerical Control，数控机床)影像测量仪测量对箔材基板进行拍摄，以测量上述尺寸数据。
第二测量模块403用于测量所述极片样品的第二面涂布的第二尺寸数据，其中所述第一面和所述第二面是所述极片相对的两个面。
与第一测量模块402类似，第二测量模块403测量的是第二面中第二涂布区域的尺寸数据以及第二涂布区域两侧的尺寸数据。如果极片样品为一个，则测量的是第二面中，箔材基板的边缘位置到第二涂布区域的尺寸数据，第二涂布区域两侧的尺寸数据。具体如前文所述。
类似的，如果获取的极片样品为多个，则第二测量模块403以所述多个极片样品的一侧的边缘作为基准线，测量所述每个极片样品中第二面的第二涂布区域的尺寸数据，以及所述第二涂布区域两侧的尺寸数据，所述尺寸数据为基于所述基准线的测量值。
值得注意的是，上述多个极片样品的尺寸数据计算方案均是以箔材基板一侧的边缘，如图3B的边缘306为基准线。在另一实施例中，特别是极片样品较多的情况下，可将极片样品分为两部分，一部分极片样品以箔材基板一侧的边缘，如图3B的边缘306为基准线，测量每个极片样品中第二面的第二涂布区域的尺寸，以及所述第二涂布区域两侧的尺寸；另一部分极片样品以箔材基板另一侧的边缘，如图3B的310的边缘为基准线，测量每个极片样品中第二面的第二涂布区域的尺寸，以及所述第二涂布区域两侧的尺寸
检测模块404用于根据所述第一尺寸数据和所述第二尺寸数据检测。
在本实施例的一些可选的实现方式中，检测模块404将所述第一涂布区域的尺寸数据和所述第二涂布区域的尺寸数据进行差值比较，以及将所述第一涂布区域两侧的尺寸数据与所述第二涂布区域两侧的尺寸数据进行差值比较，判断所述比较结果是否大于预设的阈值范围，若判断的结果为是，则确定所述电池的第一面和所述第二面发生涂布错位。具体如前文所述，在此不在赘述。
在本实施例的一些可选的实现方式中，若获取的极片样品为多个，检测模块404基于所述基准线，将所述第一面的第一涂布区域的尺寸和第二面中对应的所述第二涂布区域的尺寸进行差值比较，以及将所述第一涂布区域两侧的尺寸与对应的所述第二涂布区域两侧的尺寸进行差值比较，判断所述比较结果是否在大于预设的阈值范围，若判断的结果为是，则确定所述电池的第一面和所述第二面发生涂布错位。具体如前文所述，在此不在赘述。
综上所述，本申请的电池的极片检测方法便于操作，涂布尺寸是关键指标，可测量涂布尺寸的同时可根据尺寸测量值，按上述方法计算出第一面和第二面的错位值，可量化调整，根据错位值给予涂布过程尺寸CCD合适的补偿值；此外，检测精度更高，相较于针刺穿孔测量，该方法精度可达0.001mm。
为解决上述技术问题，本申请实施例还提供计算机设备。具体请参阅图5，图5为本实施例计算机设备基本结构框图。
所述计算机设备6包括通过***总线相互通信连接存储器61、处理器62、网络接口63。需要指出的是，图中仅示出了具有组件61-63的计算机设备6，但是应理解的是，并不要求实施所有示出的组件，可以替代的实施更多或者更少的组件。其中，本技术领域技术人员可以理解，这里的计算机设备是一种能够按照事先设定或存储的指令，自动进行数值计算和/或信息处理的设备，其硬件包括但不限于微处理器、专用集成电路(ApplicationSpecific Integrated Circuit，ASIC)、可编程门阵列(Field－Programmable GateArray，FPGA)、数字处理器(Digital Signal Processor，DSP)、嵌入式设备等。
所述计算机设备可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。所述计算机设备可以与用户通过键盘、鼠标、遥控器、触摸板或声控设备等方式进行人机交互。
所述存储器61至少包括一种类型的可读存储介质，所述可读存储介质包括闪存、硬盘、多媒体卡、卡型存储器(例如，SD或DX存储器等)、随机访问存储器(RAM)、静态随机访问存储器(SRAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、可编程只读存储器(PROM)、磁性存储器、磁盘、光盘等。在一些实施例中，所述存储器61可以是所述计算机设备6的内部存储单元，例如该计算机设备6的硬盘或内存。在另一些实施例中，所述存储器61也可以是所述计算机设备6的外部存储设备，例如该计算机设备6上配备的插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card,SMC)，安全数字(Secure Digital,SD)卡，闪存卡(FlashCard)等。当然，所述存储器61还可以既包括所述计算机设备6的内部存储单元也包括其外部存储设备。本实施例中，所述存储器61通常用于存储安装于所述计算机设备6的操作***和各类应用软件，例如电池的大电流测试方法的计算机可读指令等。此外，所述存储器61还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的各类数据。
所述处理器62在一些实施例中可以是中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、控制器、微控制器、微处理器、或其他数据处理芯片。该处理器62通常用于控制所述计算机设备6的总体操作。本实施例中，所述处理器62用于运行所述存储器61中存储的计算机可读指令或者处理数据，例如运行所述电池极片的检测方法的计算机可读指令。
所述网络接口63可包括无线网络接口或有线网络接口，该网络接口63通常用于在所述计算机设备6与其他电子设备之间建立通信连接。
本申请还提供了另一种实施方式，即提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可读指令，所述计算机可读指令可被至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行如上述的电池极片的检测方法的步骤。
本申请的电池极片的检测包括：首先获取至少一个极片样品；然后测量极片样品的第一面涂布的第一尺寸数据，以及测量极片样品的第二面涂布的第二尺寸数据，其中第一面和第二面是电池相对的两个面，通过测量涂布的第一尺寸数据和第二尺寸数据，可以得到涂布的量化的数值；最后根据第一尺寸数据和第二尺寸数据检测第一面和第二面是否发生涂布错误，即比较两个量化的数据，第一尺寸数据和第二尺寸数据，进而确定是否发生涂布错误，由此可以通过数值直观、准确的确定是否发生涂布错误，另外一方面可以进一步通过数值确定涂布错误的程度，因此可提高检测的准确性，并且可对检测结果进行量化表示。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述的方法。
显然，以上所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例，附图中给出了本申请的较佳实施例，但并不限制本申请的专利范围。本申请可以以许多不同的形式来实现，相反地，提供这些实施例的目的是使对本申请的公开内容的理解更加透彻全面。尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来而言，其依然可以对前述各具体实施方式所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等效替换。凡是利用本申请说明书及附图内容所做的等效结构，直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理在本申请专利保护范围之内。
Claims (10)
1.一种电池极片的检测方法，其特征在于，所述方法包括：
获取至少一个极片样品；
测量所述极片样品的第一面涂布的第一尺寸数据；
测量所述极片样品的第二面涂布的第二尺寸数据，其中所述第一面和所述第二面是所述电池相对的两个面；
根据所述第一尺寸数据和所述第二尺寸数据检测所述第一面和所述第二面是否发生涂布错误。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测量所述极片样品的第一面涂布的第一尺寸数据的步骤，还包括：
采用影像测量仪测量所述极片样品中第一面的第一涂布区域的尺寸数据，以及所述第一涂布区域两侧的尺寸数据；
所述测量所述极片样品的第二面涂布的第二尺寸数据的步骤，还包括：
采用影像测量仪测量所述极片样品中第二面的第二涂布区域的尺寸数据，以及所述第二涂布区域两侧的尺寸数据。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一尺寸数据和所述第二尺寸数据检测所述第一面和所述第二面是否发生涂布错误的步骤，还包括：
将所述第一涂布区域的尺寸数据和所述第二涂布区域的尺寸数据进行差值比较，以及将所述第一涂布区域两侧的尺寸数据与所述第二涂布区域两侧的尺寸数据进行差值比较，判断所述比较结果是否大于预设的阈值范围；
若判断的结果为是，则确定所述电池的第一面和所述第二面发生涂布错位。
4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述获取至少一个极片样品的步骤，还包括：
在完成一个周期的极片涂布流程后，获取周期尾部完成的多个极片样品。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述测量所述极片样品的第一面涂布的第一尺寸数据的步骤，还包括：
以所述多个极片样品的一侧的边缘作为基准线，采用影像测量仪测量所述每个极片样品中第一面的第一涂布区域的尺寸数据，以及所述第一涂布区域两侧的尺寸数据，所述尺寸数据为基于所述基准线的测量值；
所述测量所述极片样品的第二面涂布的第二尺寸数据的步骤，还包括：
以所述多个极片样品的所述一侧的边缘作为基准线，采用影像测量仪测量所述每个极片样品中第二面的第二涂布区域的尺寸数据，以及所述第二涂布区域两侧的尺寸数据，所述尺寸为基于所述基准线的测量值。
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述测量所述极片样品的第一面涂布的第一尺寸数据的步骤，还包括：
将多个所述极片样品分为两部分，其中一部分极片样品以所述多个极片样品的一侧的边缘作为基准线，另一部分所述极片样品以所述多个极片样品的另一侧的边缘作为基准线，采用影像测量仪测量所述每个极片样品中第一面的第一涂布区域的尺寸，以及所述第一涂布区域两侧的尺寸，所述尺寸为基于所述极片样品对应的基准线的测量值；
所述测量所述极片样品的第二面涂布的第二尺寸数据的步骤，还包括：
将多个所述极片样品分为两部分，其中一部分极片样品以所述多个极片样品的一侧的边缘作为基准线，另一部分所述极片样品以所述多个极片样品的另一侧的边缘作为基准线，采用影像测量仪测量所述每个极片样品中第二面的第二涂布区域的尺寸，以及所述第二涂布区域两侧的尺寸，所述尺寸为基于所述极片样品对应的基准线的测量值。
7.根据权利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一尺寸数据和所述第二尺寸数据检测所述第一面涂布和所述第二面涂布是否发生涂布错误的步骤，还包括：
基于所述基准线，将所述第一面的第一涂布区域的尺寸和第二面中对应的所述第二涂布区域的尺寸进行差值比较，以及将所述第一涂布区域两侧的尺寸与对应的所述第二涂布区域两侧的尺寸进行差值比较，判断所述比较结果是否在大于预设的阈值范围；
若判断的结果为是，则确定所述电池的第一面和所述第二面发生涂布错位。
8.一种电池极片的检测装置，其特征在于，所述装置包括：
获取模块，用于获取至少一个极片样品；
第一测量模块，用于测量所述极片样品的第一面涂布的第一尺寸数据；
第二测量模块，用于测量所述极片样品的第二面涂布的第二尺寸数据，其中所述第一面和所述第二面是所述极片相对的两个面；
检测模块，用于根据所述第一尺寸数据和所述第二尺寸数据检测所述第一面涂布和所述第二面涂布是否发生涂布错误。
9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机可读指令，所述处理器执行所述计算机可读指令时实现如权利要求1至7中任一项所述的电池极片的检测方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机可读指令，所述计算机可读指令被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的电池极片的检测方法的步骤。
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