CN115870233A - 偏光膜rtp前制程与rtp制程的联动方法及*** - Google Patents
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Abstract
本发明公开偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法及***。所述联动方法包括：基于前制程坐标系的偏光膜RTP前制程步骤S1、基于制程坐标系的偏光膜RTP制程步骤S2。所述联动***包括：基于前制程坐标系的偏光膜RTP前制程子***、基于制程坐标系的偏光膜RTP制程子***。所述偏光膜RTP前制程子***具有原卷检测装置、隐形二维码标记喷印装置、原卷裁切装置。所述偏光膜RTP制程子***具有裁切卷检测装置、显影扫描装置、裁切卷裁切装置；本发明的有益效果在于：基于关联后的原卷缺陷表及裁切卷缺陷表对偏光膜裁切卷进行裁切，裁切策略更为合理。
Description
技术领域
本发明涉及偏光膜RTP（Roll To Panel的缩写，卷到面板），特别地是，偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法及***。
背景技术
偏光膜RTP前制程包括：提供一偏光膜原卷；对所述偏光膜原卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜原卷的原卷缺陷表（Defectmap1）；对所述偏光膜原卷进行裁切，得到若干偏光膜裁切卷。
偏光膜RTP制程包括：选取一偏光膜裁切卷；对所述偏光膜裁切卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜裁切卷的裁切卷缺陷表（Defectmap2）；提供目标面板并且将所述目标面板与所述偏光膜裁切片相贴合；对所述目标面板进行缺陷视觉检测，得到关于所述目标面板的面板缺陷表（Defectmap3）；根据所述面板缺陷表（Defectmap3），对所述目标面板进行分拣。
所述偏光膜RTP制程的缺点在于：所述偏光膜裁切卷的裁切策略仅参考到所述裁切卷缺陷表（Defectmap2），而未参考到所述原卷缺陷表（Defectmap1），影响裁切判断效果，造成面板成品不良率略高的问题。
出现上述缺点的原因在于：所述偏光膜裁切卷从所述偏光膜RTP前制程到所述偏光膜RTP制程，需要经过下料、运输、上料等环节，期间所述偏光膜裁切卷的卷头、卷尾存在不确定长度的物料损失，造成所述原卷缺陷表（Defectmap1）、所述裁切卷缺陷表（Defectmap2）两者的坐标系无法统一。
发明内容
本发明的目的在于要解决现有技术中偏光膜RTP制程面板成品不良率略高的问题，提供一种新型的偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法及***。
为了实现上述目的，本发明的技术方案如下：偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法，包括：基于前制程坐标系的偏光膜RTP前制程步骤S1、基于制程坐标系的偏光膜RTP制程步骤S2。
所述偏光膜RTP前制程步骤S1包括：
步骤S11，提供一偏光膜原卷；
步骤S12，对所述偏光膜原卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜原卷的原卷缺陷表；
步骤S13，对所述偏光膜原卷进行隐形二维码标记喷印；
步骤S14，对所述偏光膜原卷进行裁切，得到若干偏光膜裁切卷；
其中，所述隐形二维码标记作为定位标记及信息标记分别关联于所述前制程坐标系、所述偏光膜裁切卷的身份信息及所述原卷缺陷表。
所述偏光膜RTP制程S2包括：
步骤S21，选取一偏光膜裁切卷；
步骤S22，对所述偏光膜裁切卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜裁切卷的裁切卷缺陷表；
步骤S23，对所述偏光膜裁切卷进行显影扫描，得到关于所述偏光膜裁切卷的所述原卷缺陷表，基于所述隐形二维码标记，所述原卷缺陷表与所述制程坐标系建立关联；
步骤S24，根据关联后的所述原卷缺陷表及所述裁切卷缺陷表，对所述偏光膜裁切卷进行裁切，得到若干偏光膜裁切片。
作为偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法的优选方案，所述偏光膜RTP制程S2进一步包括：
步骤S25，提供目标面板并且将所述目标面板与所述偏光膜裁切片相贴合；
步骤S26，对所述目标面板进行缺陷视觉检测，得到关于所述目标面板的面板缺陷表；
步骤S27，根据所述面板缺陷表，对所述目标面板进行分拣。
作为偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法的优选方案，所述偏光膜RTP制程S2再进一步包括：
步骤S28，比较关联所述制程坐标系的所述原卷缺陷表、所述裁切卷缺陷表、所述面板缺陷表，确定所述偏光膜RTP前制程、所述偏光膜RTP制程中存在的工艺隐藏问题，进而优化偏光膜RTP前制、偏光膜RTP制程的工艺流程。
作为偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法的优选方案，所述工艺隐藏问题包括：所述步骤S12是否存在过度检测情形、追溯所述面板缺陷表中缺陷的引起来源中的至少一者。
作为偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法的优选方案，所述原卷缺陷表包括：原卷编号、缺陷编号、缺陷位置、缺陷类型、缺陷大小中的至少一者。
作为偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法的优选方案，所述裁切卷缺陷表包括：裁切卷编号、缺陷编号、缺陷位置、缺陷类型、缺陷大小中的至少一者。
作为偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法的优选方案，所述面板缺陷表包括：面板编号、缺陷编号、缺陷位置、缺陷类型、缺陷大小中的至少一者。
作为偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法的优选方案，所述隐形二维码标记所使用的是隐形墨水，不会影响膜材外观及质量。
本发明还提供偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动***，用于实现所述的联动方法包括：基于前制程坐标系的偏光膜RTP前制程子***、基于制程坐标系的偏光膜RTP制程子***；所述偏光膜RTP前制程子***具有原卷检测装置、隐形二维码标记喷印装置、原卷裁切装置；所述原卷检测装置被配置成：对所述偏光膜原卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜原卷的原卷缺陷表；所述隐形二维码标记喷印装置被配置成：对所述偏光膜原卷进行隐形二维码标记喷印；所述原卷裁切装置被配置成：对所述偏光膜原卷进行裁切，得到若干偏光膜裁切卷；所述偏光膜RTP制程子***具有裁切卷检测装置、显影扫描装置、裁切卷裁切装置；所述裁切卷检测装置被配置成：对所述偏光膜裁切卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜裁切卷的裁切卷缺陷表；所述显影扫描装置被配置成：对所述偏光膜裁切卷进行显影扫描，得到关于所述偏光膜裁切卷的所述原卷缺陷表，基于所述隐形二维码标记，所述原卷缺陷表与所述制程坐标系建立关联；所述裁切卷裁切装置被配置成：根据关联后的所述原卷缺陷表及所述裁切卷缺陷表，对所述偏光膜裁切卷进行裁切，得到若干偏光膜裁切片。
作为偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动***的优选方案，所述偏光膜RTP制程子***还具有面板偏贴装置、面板检测装置、面板分拣装置；所述面板偏贴装置被配置成：提供目标面板并且将所述目标面板与所述偏光膜裁切片相贴合；所述面板检测装置被配置成：对所述目标面板进行缺陷视觉检测，得到关于所述目标面板的面板缺陷表；所述面板分拣装置被配置成：根据所述面板缺陷表，对所述目标面板进行分拣。
与现有技术相比，本发明的有益效果至少在于：基于关联后的所述原卷缺陷表（Defectmap1）及所述裁切卷缺陷表（Defectmap2）对所述偏光膜裁切卷进行裁切，裁切策略更为合理；且所述偏光膜RTP前制程与所述偏光膜RTP制程两者形成一良性的闭环控制***，优化每个工艺段参数之后，可以更好地提升产品良率、降低产品损耗率，最终闭环提升企业效益。
除了上面所描述的本发明解决的技术问题、构成技术方案的技术特征以及由这些技术方案的技术特征所带来的有益效果之外，本发明所能解决的其他技术问题、技术方案中包含的其他技术特征以及这些技术特征带来的有益效果，将连接附图作出进一步详细的说明。
附图说明
图1为本发明的方法流程图。
图2为本发明中步骤S1的方法流程图。
图3为本发明中偏光膜原卷裁切具体示例的结构示意图。
图4为本发明中步骤S2的方法流程图。
图5为本发明中联动***的结构示意图。
具体实施方式
下面通过具体的实施方式结合附图对本发明作进一步详细说明。在此需要说明的是，对于这些实施方式的说明用于帮助理解本发明，但不构成对本发明的限定。此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
请参见图1，图中示出的是一种基于隐形二维码标记的偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法。
所述联动方法包括：基于前制程坐标系的偏光膜RTP前制程步骤S1、基于制程坐标系的偏光膜RTP制程步骤S2。
请参见图2，图中示出的是所述偏光膜RTP前制程步骤S1。所述偏光膜RTP前制程步骤S1包括：
步骤S11，提供一偏光膜原卷。
步骤S12，对所述偏光膜原卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜原卷的原卷缺陷表（Defectmap1）。所述原卷缺陷表（Defectmap1）可包括：原卷编号、缺陷编号、缺陷位置、缺陷类型、缺陷大小等。
步骤S13，对所述偏光膜原卷进行隐形二维码标记喷印。
步骤S14，对所述偏光膜原卷进行裁切，得到若干偏光膜裁切卷：由分条机裁切，裁切成较小尺寸的卷料。
其中，所述偏光膜裁切卷有所述隐形二维码标记。所述偏光膜裁切卷与所述隐形二维码标记呈一一对应关系。所述隐形二维码标记避开所述偏光膜裁切卷的卷头机卷尾位置。
所述隐形二维码标记的第一用途是作为定位标记。所述隐形二维码标记关联于所述前制程坐标系。所述原卷缺陷表（Defetmap1）记载的缺陷位置可配置成基于所述隐形二维码标记的相对坐标。诸如，以所述隐形二维码标记的左上顶点作为坐标原点。
所述隐形二维码标记的第二用途是作为信息标记。所述隐形二维码标记关联于所述偏光膜裁切卷的身份信息、所述原卷缺陷表（Defetmap1）。所述身份信息可包括：裁切卷编号、原卷编号等。
其中，所述隐形二维码标记所使用的是市售的隐形墨水。喷印所述隐形二维码标记，不会影响膜材外观及质量。
请参见图3，图中示出的是一具体示例。具体示例中，所述偏光膜原卷编号为A（长2000m，宽2.5m）。所述偏光膜原卷被裁切成9个所述偏光膜裁切卷，编号分别为A1（长900m，宽0.4m），A2（长900m，宽1.6m），A3（长900m，宽0.5m），A4（长600m，宽0.4m），A5（长600m，宽1.6m），A6（长600m，宽0.5m），A7（长500m，宽0.4m），A8（长500m，宽1.6m），A9（长500m，宽0.5m）。所述偏光膜裁切卷A1-A9均有所述隐形二维码标记。以所述偏光膜裁切卷A1为例，显影扫描其隐形二维码标记，即能够确定其编号为A1，来源于编号A的所述偏光膜原卷，并且得到关于A1的所述原卷缺陷表（Defetmap1）。
请参见图4，图中示出的是所述偏光膜RTP制程。所述偏光膜RTP制程S2包括：
步骤S21，选取一偏光膜裁切卷。
步骤S22，对所述偏光膜裁切卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜裁切卷的裁切卷缺陷表（Defectmap2）。所述裁切卷缺陷表（Defectmap2）可包括：裁切卷编号、缺陷编号、缺陷位置、缺陷类型、缺陷大小等。
步骤S23，对所述偏光膜裁切卷进行显影扫描，得到关于所述偏光膜裁切卷的所述原卷缺陷表（Defetmap1）。基于所述隐形二维码标记，所述原卷缺陷表（Defectmap1）与所述制程坐标系建立关联：所述前制程坐标系与所述制程坐标系是通过所述隐形二维码标记进行转换。
步骤S24，根据关联后的所述原卷缺陷表（Defectmap1）及所述裁切卷缺陷表（Defectmap2），对所述偏光膜裁切卷进行裁切，得到若干偏光膜裁切片。
步骤S25，提供目标面板并且将所述目标面板与所述偏光膜裁切片相贴合。
步骤S26，对所述目标面板进行缺陷视觉检测，得到关于所述目标面板的面板缺陷表（Defectmap3）。所述面板缺陷表（Defectmap3）可包括：面板编号、缺陷编号、缺陷位置、缺陷类型、缺陷大小。
步骤S27，根据所述面板缺陷表（Defectmap3），对所述目标面板进行分拣。
较佳地，所述步骤S25中，所述裁切的方式可包括：定裁、跳裁。
较佳地，所述偏光膜RTP制程S2进一步包括：
步骤S28，比较关联所述制程坐标系的所述原卷缺陷表（Defectmap1）、所述裁切卷缺陷表（Defectmap2）、所述面板缺陷表（Defectmap3），进而确定所述偏光膜RTP前制程、所述偏光膜RTP制程中存在的工艺隐藏问题。所述工艺隐藏问题可包括：所述步骤S12是否存在过度检测情形，追溯所述面板缺陷表（Defectmap3）中缺陷的引起来源：由所述偏光膜RTP前制程引起引起，还是所述偏光膜RTP制程引起，等。
藉由所述步骤S28，所述偏光膜RTP前制程与所述偏光膜RTP制程两者形成一良性的闭环控制***。优化每个工艺段参数之后，可以更好地提升产品良率、降低产品损耗率，最终闭环提升企业效益。
请参见图5，图中示出的是基于隐形二维码标记的偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动***。
所述联动***包括：基于前制程坐标系的偏光膜RTP前制程子***、基于制程坐标系的偏光膜RTP制程子***。
所述偏光膜RTP前制程子***具有原卷检测装置、隐形二维码标记喷印装置、原卷裁切装置。所述原卷检测装置被配置成：对所述偏光膜原卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜原卷的原卷缺陷表（Defectmap1）。所述隐形二维码标记喷印装置被配置成：对所述偏光膜原卷进行隐形二维码标记喷印。所述原卷裁切装置被配置成：对所述偏光膜原卷进行裁切，得到若干偏光膜裁切卷。
所述偏光膜RTP制程子***具有裁切卷检测装置、显影扫描装置、裁切卷裁切装置、面板偏贴装置、面板检测装置、面板分拣装置。所述裁切卷检测装置被配置成：对所述偏光膜裁切卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜裁切卷的裁切卷缺陷表（Defectmap2）。所述显影扫描装置被配置成：对所述偏光膜裁切卷进行显影扫描，得到关于所述偏光膜裁切卷的所述原卷缺陷表（Defetmap1）。基于所述隐形二维码标记，所述原卷缺陷表（Defectmap1）与所述裁切卷缺陷表（Defectmap2）建立关联。所述裁切卷裁切装置被配置成：根据关联后的所述原卷缺陷表（Defectmap1）及所述裁切卷缺陷表（Defectmap2），对所述偏光膜裁切卷进行裁切，得到若干偏光膜裁切片。所述面板偏贴装置被配置成：提供目标面板并且将所述目标面板与所述偏光膜裁切片相贴合。所述面板检测装置被配置成：对所述目标面板进行缺陷视觉检测，得到关于所述目标面板的面板缺陷表（Defectmap3）。所述面板分拣装置被配置成：根据所述面板缺陷表（Defectmap3），对所述目标面板进行分拣。
利用所述联动***，可实现所述联动方法。
以上仅表达了本发明的实施方式，其描述较为具体和详细，但且不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的后提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法，其特征在于，包括：基于前制程坐标系的偏光膜RTP前制程步骤S1、基于制程坐标系的偏光膜RTP制程步骤S2；
所述偏光膜RTP前制程步骤S1包括：
步骤S11，提供一偏光膜原卷；
步骤S12，对所述偏光膜原卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜原卷的原卷缺陷表；
步骤S13，对所述偏光膜原卷进行隐形二维码标记喷印；
步骤S14，对所述偏光膜原卷进行裁切，得到若干偏光膜裁切卷；
其中，所述隐形二维码标记作为定位标记及信息标记分别关联于所述前制程坐标系、所述偏光膜裁切卷的身份信息及所述原卷缺陷表；
所述偏光膜RTP制程S2包括：
步骤S21，选取一偏光膜裁切卷；
步骤S22，对所述偏光膜裁切卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜裁切卷的裁切卷缺陷表；
步骤S23，对所述偏光膜裁切卷进行显影扫描，得到关于所述偏光膜裁切卷的所述原卷缺陷表，基于所述隐形二维码标记，所述原卷缺陷表与所述制程坐标系建立关联；
步骤S24，根据关联后的所述原卷缺陷表及所述裁切卷缺陷表，对所述偏光膜裁切卷进行裁切，得到若干偏光膜裁切片。
2.根据权利要求1所述的偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法，其特征在于，所述偏光膜RTP制程S2进一步包括：
步骤S25，提供目标面板并且将所述目标面板与所述偏光膜裁切片相贴合；
步骤S26，对所述目标面板进行缺陷视觉检测，得到关于所述目标面板的面板缺陷表；
步骤S27，根据所述面板缺陷表，对所述目标面板进行分拣。
3.根据权利要求2所述的偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法，其特征在于，所述偏光膜RTP制程S2再进一步包括：
步骤S28，比较关联所述制程坐标系的所述原卷缺陷表、所述裁切卷缺陷表、所述面板缺陷表，确定所述偏光膜RTP前制程、所述偏光膜RTP制程中存在的工艺隐藏问题，进而优化偏光膜RTP前制、偏光膜RTP制程的工艺流程。
4.根据权利要求3所述的偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法，其特征在于，所述工艺隐藏问题包括：所述步骤S12是否存在过度检测情形、追溯所述面板缺陷表中缺陷的引起来源中的至少一者。
5.根据权利要求1至4中任意一项所述的偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法，其特征在于，所述原卷缺陷表包括：原卷编号、缺陷编号、缺陷位置、缺陷类型、缺陷大小中的至少一者。
6.根据权利要求1至4中任意一项所述的偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法，其特征在于，所述裁切卷缺陷表包括：裁切卷编号、缺陷编号、缺陷位置、缺陷类型、缺陷大小中的至少一者。
7.根据权利要求1至4中任意一项所述的偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法，其特征在于，所述面板缺陷表包括：面板编号、缺陷编号、缺陷位置、缺陷类型、缺陷大小中的至少一者。
8.根据权利要求1至4中任意一项所述的偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法，其特征在于，所述隐形二维码标记所使用的是隐形墨水，不会影响膜材外观及质量。
9.偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动***，用于实现权利要求1至8中任意一项所述的联动方法，其特征在于，包括：基于前制程坐标系的偏光膜RTP前制程子***、基于制程坐标系的偏光膜RTP制程子***；所述偏光膜RTP前制程子***具有原卷检测装置、隐形二维码标记喷印装置、原卷裁切装置；所述原卷检测装置被配置成：对所述偏光膜原卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜原卷的原卷缺陷表；所述隐形二维码标记喷印装置被配置成：对所述偏光膜原卷进行隐形二维码标记喷印；所述原卷裁切装置被配置成：对所述偏光膜原卷进行裁切，得到若干偏光膜裁切卷；所述偏光膜RTP制程子***具有裁切卷检测装置、显影扫描装置、裁切卷裁切装置；所述裁切卷检测装置被配置成：对所述偏光膜裁切卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜裁切卷的裁切卷缺陷表；所述显影扫描装置被配置成：对所述偏光膜裁切卷进行显影扫描，得到关于所述偏光膜裁切卷的所述原卷缺陷表，基于所述隐形二维码标记，所述原卷缺陷表与所述制程坐标系建立关联；所述裁切卷裁切装置被配置成：根据关联后的所述原卷缺陷表及所述裁切卷缺陷表，对所述偏光膜裁切卷进行裁切，得到若干偏光膜裁切片。
10.根据权利要求9所述的偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动***，其特征在于，所述偏光膜RTP制程子***还具有面板偏贴装置、面板检测装置、面板分拣装置；所述面板偏贴装置被配置成：提供目标面板并且将所述目标面板与所述偏光膜裁切片相贴合；所述面板检测装置被配置成：对所述目标面板进行缺陷视觉检测，得到关于所述目标面板的面板缺陷表；所述面板分拣装置被配置成：根据所述面板缺陷表，对所述目标面板进行分拣。
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