CN115691088B - 一种控制信号传输单元、***及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明揭示了一种控制信号传输单元、***及方法，本发明通过设置进入***控制模式的预设脉冲个数，使能子***内部寄存器写权限的高电平保持时间，以及***在控制信号变低电平进入关断模式的低电平保持时间，保证控制信号需要严格满足条件才能让子***正确进入控制模式并进行正确的控制寄存器设置以及正常运行；应用简单，节省***资源，降低了***成本。
Description
技术领域
本发明涉及信号传输领域，具体涉及一种控制信号传输单元、***及方法。
背景技术
对于复杂的***之间，往往需要传输各种控制信号和数据，比较常见的传输方式有IIC控制协议或者SPI控制协议以及其他方式，但这些方式需要占用每个***的2~3个接口来传输时钟信号、控制信号或者数据信号以及片选信号，这些传输方式不仅占用了太多的接口资源，而且控制方式非常复杂，增加通讯成本。
发明内容
本发明的目的在于，提供一种简单灵活、方便且可靠的在***之间传输控制信号的***及方法，可以极大地节省资源，降低通讯成本。
本发明为了实现上述的发明目的，提供了一种控制信号传输单元，包括：高电平检测及脉冲计数模块、高电平延时检测模块、脉冲计数模块、控制寄存器以及控制寄存器设置完成判断模块；
所述高电平检测及脉冲计数模块用于检测并计数控制引脚高电平脉冲，并和***预设的进入控制模式的脉冲个数比较；
所述高电平延时检测模块用于检测控制信号高电平持续时间，并和***设定的使能控制寄存器写权限时间比较；
所述脉冲计数模块用于计数控制信号保持高电平时间超过***设定的使能控制寄存器写权限时间后发送的脉冲个数，并设置为所述控制寄存器的值；
所述控制寄存器设置完成判断模块用于产生高电平的设置完成信号，同时屏蔽脉冲计数模块的计数功能。
可选的，还包括：低电平延时检测模块，所述低电平延时检测模块用于检测***正常运行期间控制引脚的控制信号电平变化。
本发明还提供了一种控制信号传输方法，采用如上所述的控制信号传输单元，包括以下步骤：
子***检测控制引脚高电平脉冲，并计数，并与预设的脉冲个数作比较；若检测到的高电平脉冲个数等于所述预设的脉冲个数，子***进入控制模式，否则重新检测；
进入到控制模式的子***的使能控制寄存器引脚接固定高电平，子***检测控制信号高电平的持续时间，并和预设的使能子***内控制寄存器写权限的时间作比较；当所述持续时间超过所述预设的时间，设置子***内部控制寄存器，否则，重复以上步骤；设置完成后产生高电平的设置完成信号接到控制状态锁存引脚，所述子***控制寄存器值锁定，***进入正常运行模式。
本发明还提供了一种控制信号传输***，采用如上所述的控制信号传输单元，包括：N个子***，所述N个子***的控制引脚接收同一控制信号，第1个所述子***的使能控制寄存器引脚接高电平，第i个所述子***输出的设置完成信号接到下一个子***的使能控制寄存器引脚，第N个所述子***的设置完成信号接到所有子***的控制状态锁存引脚，其中1≤i＜N。
可选的，所述N个子***的控制信号为一个共享。
本发明还提供了一种控制信号传输方法，采用如上所述的控制信号传输***，包括以下步骤：
子***检测控制引脚高电平脉冲，并计数，并与预设的脉冲个数作比较；若检测到的高电平脉冲个数等于所述预设的脉冲个数，子***进入控制模式，否则重新检测；
进入到控制模式的子***中，第1个子***的使能控制寄存器引脚接固定高电平，子***检测控制信号高电平的持续时间，并和预设的使能子***内控制寄存器写权限的时间作比较；当所述持续时间超过所述预设的时间，设置子***内部控制寄存器，否则，重复以上步骤；第1个子***设置完成后产生高电平的设置完成信号接到第2个子***的使能控制寄存器输入引脚，同时屏蔽第1个子***的脉冲计数模块的计数功能；
第1个子***的高电平的设置完成信号使能第2个子***的控制寄存器，第2个子***检测控制信号高电平的持续时间，并和预设的使能子***内控制寄存器写权限的时间作比较；当所述持续时间超过所述预设的时间，设置子***内部控制寄存器，否则子***持续检测控制信号高电平的持续时间；第2个子***设置完成后产生高电平的设置完成信号并接到下一个子***的使能控制寄存器输入引脚，同时屏蔽第2个子***的脉冲计数模块的计数功能；以此类推，直至第N个子***设置完成后产生高电平的设置完成信号；
第N个子***输出高电平的设置完成信号输入到所有子***的控制状态锁存引脚，所有子***控制寄存器值锁定，***进入正常运行模式。
可选的，还包括：当所述持续时间超过所述预设的时间，子***计数后续高电平脉冲个数，根据所述后续高电平脉冲个数设置子***内部控制寄存器的值。
可选的，还包括：正常运行后，子***持续检测控制引脚的控制信号电平，当所述控制信号电平变低，子***检测低电平持续时间，如果所述低电平持续时间小于***预设的关断时间，继续正常运行模式，如果所述低电平持续时间达到所述预设的关断时间，则子***复位内部控制寄存器，子***进入关断模式。
可选的，还包括：在子***进入关断模式之后，子***继续检测控制引脚高电平脉冲，并继续进入控制模式。
与现有技术相比，本发明的一种控制信号控制多个子***，多个子***的控制引脚相连并接收同一控制信号，固定高电平的VDD信号使能第1个子***的控制寄存器，上一个子***输出的高电平的设置完成信号使能下一个子***的控制寄存器，并且最后一个子***的高电平的设置完成信号接回到所有子***的控制状态锁存引脚，所有子***控制寄存器值锁定，***进入正常运行模式。
通过设置严格的判断机制进行限制，预设进入***控制模式的脉冲个数，还有使能子***内部寄存器写权限的高电平保持时间，保证控制信号需要严格满足条件才能让子***正确进入控制模式并进行正确的控制寄存器设置；只需要一个控制引脚就可以方便且可靠地实现在***之间进行各种复杂的控制信号的传输，***可包含最少一个子***或者多个子***，应用非常简单灵活，而且节省***资源，降低了***成本。
附图说明
图1为本发明实施例中控制信号传输单元的示意图；
图2为本发明实施例中控制信号传输方法的流程示意图一；
图3为本发明实施例中控制信号传输***的示意图；
图4为本发明实施例中控制信号传输方法的流程示意图二；
图5为本发明实施例中控制信号传输方法的逻辑流程示意图。
具体实施方式
下面将结合示意图对本发明的一种控制信号传输单元、***及方法进行更详细的描述，其中表示了本发明的优选实施例，应该理解本领域技术人员可以修改在此描述的本发明，而仍然实现本发明的有利效果。因此，下列描述应当被理解为对于本领域技术人员的广泛知道，而并不作为对本发明的限制。
在下列段落中参照附图以举例方式更具体地描述本发明。根据下面说明和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
本发明提供了一种控制信号传输单元，请参考图1，包括：高电平检测及脉冲计数模块、高电平延时检测模块、脉冲计数模块、控制寄存器以及控制寄存器设置完成判断模块；
具体来说，所述高电平检测及脉冲计数模块用于检测并计数控制引脚高电平脉冲，并和***预设的进入控制模式的脉冲个数比较；具体用于限制子***进入到控制模式的条件。
所述高电平延时检测模块用于检测控制信号高电平持续时间，并和***设定的使能控制寄存器写权限时间比较；具体用于限制进入控制模式的条件，防止子***错误地设置内部控制寄存器。
所述脉冲计数模块用于计数控制信号保持高电平时间超过***设定的使能控制寄存器写权限时间后发送的脉冲个数，并设置所述控制寄存器的值。
所述控制寄存器设置完成判断模块用于产生高电平的设置完成信号，同时屏蔽脉冲计数模块的计数功能。
在其他实施例中，控制信号传输单元还包括：低电平延时检测模块，所述低电平延时检测模块用于检测***正常运行期间控制引脚的控制信号电平变化；具体来说用于监控***正常运行过程中的电平变化。
此外，进入正常运行模式的子***与其他模块间进行数据传输。
本发明实施例还提供了一种控制信号传输方法，只包括一个子***，请参考图2，包括以下步骤：
子***检测控制引脚高电平脉冲，并计数，并与预设的脉冲个数作比较；若检测到的高电平脉冲个数等于所述预设的脉冲个数，子***进入控制模式，否则重新检测；
进入到控制模式的子***的使能***控制寄存器引脚为高电平，检测控制信号高电平的持续时间，并和预设的使能子***内控制寄存器写权限的时间作比较；当所述持续时间超过所述预设的时间，设置子***内部控制寄存器，否则，重复以上步骤；设置完成后产生高电平的设置完成信号接到控制状态锁存引脚，所述子***控制寄存器值锁定，***进入正常运行模式。
本发明实施例还提供了一种控制信号传输***，包括：N个子***，所述N个子***的控制引脚接收同一控制信号，第1个所述子***的使能控制寄存器引脚接固定高电平信号，第i个所述子***输出的设置完成信号接到下一个子***的使能控制寄存器引脚，第N个所述子***的设置完成信号接到所有子***的控制状态锁存引脚，其中1≤i＜N。
请参考图3，多个子***的控制引脚相连并接收同一控制信号，固定高电平的VDD信号使能第1个所述子***的控制寄存器，上一个所述子***输出的高电平的设置完成信号使能下一个子***的控制寄存器，并且最后一个子***的高电平的设置完成信号接回到所有子***的控制状态锁存引脚。
本发明实施例还提供了一种控制信号传输方法，请参考图4-5所示，包括以下步骤：
S1、子***检测控制引脚高电平脉冲，并计数，并与预设的脉冲个数作比较；若检测到的高电平脉冲个数等于所述预设的脉冲个数，子***进入控制模式，否则重新检测；
S2、进入到控制模式的子***中，第1个子***的使能控制寄存器引脚接固定高电平，子***检测控制信号高电平的持续时间，并和预设的使能子***内控制寄存器写权限的时间作比较；当所述持续时间超过所述预设的时间，设置子***内部控制寄存器，否则，重复以上步骤；
S3、第1个子***设置完成后产生高电平的设置完成信号接到第2个子***的使能控制寄存器输入引脚，同时屏蔽第1个子***的脉冲计数模块的计数功能；
S4、第1个子***的高电平的设置完成信号使能第2个子***的控制寄存器，第2个子***检测控制信号高电平的持续时间，并和预设的使能子***内控制寄存器写权限的时间作比较；当所述持续时间超过所述预设的时间，设置子***内部控制寄存器，否则子***持续检测控制信号高电平的持续时间；
S5、第2个子***设置完成后产生高电平的设置完成信号并接到下一个子***的使能控制寄存器输入引脚，同时屏蔽第2个子***的脉冲计数模块的计数功能；
S6、重复S4-S5，直至第N个子***设置完成后产生高电平的设置完成信号；
S7、第N个子***输出高电平的设置完成信号输入到所有子***的控制状态锁存引脚，所有子***控制寄存器值锁定，***进入正常运行模式。
在S1中，具体来说，若设定的进入控制模式的脉冲个数是16个高电平脉冲，则需要控制引脚发送16个高电平脉冲，子***就会进入控制模式。如果干扰或者噪声导致控制引脚出现偶发的高电平毛刺信号，这些毛刺信号的脉冲个数很难满足16个脉冲个数的要求，所以干扰或者噪声产生的高电平毛刺脉冲很难让子***错误地进入到控制模式，另外如果是脉冲个数不够16个的错误脉冲信号，也不能让子***进入到控制模式，如此很大程度上避免高电平的毛刺信号或者错误的高电平脉冲信号让子***误进入到控制模式。
具体来说，S2中通过将控制信号高电平的持续时间和预设的使能子***内控制寄存器写权限的时间作比较，可以限制作为进入设置模式的条件，防止干扰信号或者错误的脉冲让子***错误地设置内部的控制寄存器。
在S2中，所述设置子***内部控制寄存器还包括步骤S201：控制信号保持高电平时间超过预设的使能子***内控制寄存器写权限的时间后，第1个子***的脉冲计数模块继续计数后续控制信号的高电平脉冲个数，并根据脉冲个数设置第1个子***内部的控制寄存器的值。
具体的，在S4中，所述设置子***内部控制寄存器还包括步骤S401：控制信号高电平时间超过预设时间后，第2个子***的脉冲计数模块继续计数后续控制信号的高电平脉冲个数，根据脉冲个数设置其内部的控制寄存器的值。
此外，还包括步骤S8，正常运行后的子***持续检测控制引脚的控制信号电平，当控制信号电平变低后，子***检测低电平持续时间，如果低电平持续时间小于***预设的关断时间，子***认为是干扰信号，继续正常运行模式，如果低电平持续时间达到预设的关断时间，则子***复位内部所有控制寄存器，各子***进入关断模式，进入关断模式的***返回S1。
综上所述，本发明技术方案中一种控制信号控制多个子***，多个子***的控制引脚相连并接收同一控制信号，固定高电平的VDD信号使能第1个子***的控制寄存器，上一个子***输出的高电平的设置完成信号使能下一个子***的控制寄存器，并且最后一个子***的高电平的设置完成信号接回到所有子***的控制状态锁存引脚，所有子***控制寄存器值锁定，***进入正常运行模式。
通过设置严格的判断机制进行限制，预设进入***控制模式的脉冲个数，还有使能子***内部寄存器写权限的高电平保持时间，以及***在控制信号变低电平进入关断模式的低电平保持时间，保证控制信号需要严格满足条件才能让子***正确进入控制模式并进行正确的控制寄存器设置以及正常运行；只需要一个控制引脚就可以方便且可靠地实现在***之间进行各种复杂的控制信号的传输，***可包含最少一个子***或者多个子***，应用非常简单灵活，而且节省***资源，降低了***成本。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (9)
1.一种控制信号传输单元，其特征在于，包括：高电平检测及脉冲计数模块、高电平延时检测模块、脉冲计数模块、控制寄存器以及控制寄存器设置完成判断模块；
所述高电平检测及脉冲计数模块用于检测并计数控制引脚高电平脉冲，并和***预设的进入控制模式的脉冲个数比较；
所述高电平延时检测模块用于检测控制信号高电平持续时间，并和***设定的使能控制寄存器写权限时间比较；
所述脉冲计数模块用于计数控制信号保持高电平时间超过***设定的使能控制寄存器写权限时间后发送的脉冲个数，并设置为所述控制寄存器的值；
所述控制寄存器设置完成判断模块用于产生高电平的设置完成信号，同时屏蔽脉冲计数模块的计数功能；
所述控制信号传输单元被配置为当N个所述控制信号传输单元配合使用时，所述N个控制信号传输单元的控制引脚接收同一控制信号，第1个所述控制信号传输单元的使能控制寄存器引脚接高电平，第i个所述控制信号传输单元输出的设置完成信号接到下一个控制信号传输单元的使能控制寄存器引脚，第N个所述控制信号传输单元的设置完成信号接到所有控制信号传输单元的控制状态锁存引脚，其中1≤i＜N。
2.如权利要求1所述的控制信号传输单元，其特征在于，还包括：低电平延时检测模块，所述低电平延时检测模块用于检测***正常运行期间控制引脚的控制信号电平变化。
3.一种控制信号传输方法，其特征在于，采用如权利要求1或2所述的控制信号传输单元，包括以下步骤：
子***检测控制引脚高电平脉冲，并计数，并与预设的脉冲个数作比较；若检测到的高电平脉冲个数等于所述预设的脉冲个数，子***进入控制模式，否则重新检测；
进入到控制模式的子***的使能***控制寄存器引脚为高电平，子***检测控制信号高电平的持续时间，并和预设的使能子***内控制寄存器写权限的时间作比较；当所述持续时间超过所述预设的时间，设置子***内部控制寄存器，否则，重复以上步骤；设置完成后产生高电平的设置完成信号接到控制状态锁存引脚，所述子***控制寄存器值锁定，***进入正常运行模式。
4.一种控制信号传输***，其特征在于，采用权利要求1或2所述的控制信号传输单元，包括：N个子***，所述N个子***的控制引脚接收同一控制信号，第1个所述子***的使能控制寄存器引脚接高电平，第i个所述子***输出的设置完成信号接到下一个子***的使能控制寄存器引脚，第N个所述子***的设置完成信号接到所有子***的控制状态锁存引脚，其中1≤i＜N。
5.如权利要求4所述的控制信号传输***，其特征在于，所述N个子***的控制信号为一个共享。
6.一种控制信号传输方法，其特征在于，采用如权利要求4或5所述的控制信号传输***，包括以下步骤：
子***检测控制引脚高电平脉冲，并计数，并与预设的脉冲个数作比较；若检测到的高电平脉冲个数等于所述预设的脉冲个数，子***进入控制模式，否则重新检测；
进入到控制模式的子***中，第1个子***的使能控制寄存器引脚接固定高电平，子***检测控制信号高电平的持续时间，并和预设的使能子***内控制寄存器写权限的时间作比较；当所述持续时间超过所述预设的时间，设置子***内部控制寄存器，否则，重复以上步骤；第1个子***设置完成后产生高电平的设置完成信号接到第2个子***的使能控制寄存器输入引脚，同时屏蔽第1个子***的脉冲计数模块的计数功能；
第1个子***的高电平的设置完成信号使能第2个子***的控制寄存器，第2个子***检测控制信号高电平的持续时间，并和预设的使能子***内控制寄存器写权限的时间作比较；当所述持续时间超过所述预设的时间，设置子***内部控制寄存器，否则子***持续检测控制信号高电平的持续时间；第2个子***设置完成后产生高电平的设置完成信号并接到下一个子***的使能控制寄存器输入引脚，同时屏蔽第2个子***的脉冲计数模块的计数功能；以此类推，直至第N个子***设置完成后产生高电平的设置完成信号；
第N个子***输出高电平的设置完成信号输入到所有子***的控制状态锁存引脚，所有子***控制寄存器值锁定，***进入正常运行模式。
7.如权利要求6所述的控制信号传输方法，其特征在于，还包括：当所述持续时间超过所述预设的时间，子***计数后续高电平脉冲个数，根据所述后续高电平脉冲个数设置子***内部控制寄存器的值。
8.如权利要求6所述的控制信号传输方法，其特征在于，还包括：正常运行后，子***持续检测控制引脚的控制信号电平，当所述控制信号电平变低，子***检测低电平持续时间，如果所述低电平持续时间小于***预设的关断时间，继续正常运行模式，如果所述低电平持续时间达到所述预设的关断时间，则子***复位内部控制寄存器，子***进入关断模式。
9.如权利要求8所述的控制信号传输方法，其特征在于，还包括：在子***进入关断模式之后，子***继续检测控制引脚高电平脉冲，并继续进入控制模式。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| CB02 | Change of applicant information |
Address after: 201203 No. 10, Lane 36, Xuelin Road, Pudong New Area, Shanghai Applicant after: Shanghai hailichuang Technology Co.,Ltd. Address before: Room 411, 4th floor, main building, No. 835 and 937, Dangui Road, China (Shanghai) pilot Free Trade Zone, Pudong New Area, Shanghai, 200131 Applicant before: Shanghai hailichuang Technology Co.,Ltd. |
|
| CB02 | Change of applicant information | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |