CN115458035A - 一种双端口硬盘测试方法、***、计算机设备及存储介质 - Google Patents

一种双端口硬盘测试方法、***、计算机设备及存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN115458035A
CN115458035A CN202211127246.6A CN202211127246A CN115458035A CN 115458035 A CN115458035 A CN 115458035A CN 202211127246 A CN202211127246 A CN 202211127246A CN 115458035 A CN115458035 A CN 115458035A
Authority
CN
China
Prior art keywords
port
range
test
read
dual
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202211127246.6A
Other languages
English (en)
Inventor
栾玉雪
王帆
孙海涛
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shandong Yunhai Guochuang Cloud Computing Equipment Industry Innovation Center Co Ltd
Original Assignee
Shandong Yunhai Guochuang Cloud Computing Equipment Industry Innovation Center Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shandong Yunhai Guochuang Cloud Computing Equipment Industry Innovation Center Co Ltd filed Critical Shandong Yunhai Guochuang Cloud Computing Equipment Industry Innovation Center Co Ltd
Priority to CN202211127246.6A priority Critical patent/CN115458035A/zh
Publication of CN115458035A publication Critical patent/CN115458035A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2273—Test methods
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2289—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing by configuration test

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)

Abstract

本发明公开了一种双端口硬盘测试方法、***、计算机设备及存储介质，方法包括：配置双端口硬盘的测试场景；基于测试场景配置双端口硬盘的第一端口的写范围和第二端口的写范围，并基于配置的第一端口的写范围和第二端口的写范围对第一端口和第二端口进行写性能测试；基于测试场景配置第一端口的读范围和第二端口的读范围，并基于配置的第一端口的读范围和第二端口的读范围对第一端口和第二端口进行读性能测试；交换第一端口的读范围与第二端口的读范围并基于第一端口与第二端***换后的读范围对第一端口和第二端口进行读性能测试。通过本发明的方案，实现了对双端口硬盘的性能测试，以及双端口硬盘双活模式下的性能均衡情况的验证。

Description

一种双端口硬盘测试方法、***、计算机设备及存储介质
技术领域
本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种双端口硬盘测试方法、***、计算机设备及存储介质。
背景技术
双端口硬盘相较于单端口硬盘来说，具有两套独立的读写端口，因而有更高的带宽，但是目前通过对双端口硬盘进行性能测试的测试方法简单，测试场景单一，不能完全的摸底双端口下硬盘的性能。
发明内容
有鉴于此，本发明提出了一种双端口硬盘测试方法、***、计算机设备及存储介质，通过配置测试场景和双端口硬盘的两个端口的测试范围，可以灵活的在各个测试场景下对双端口硬盘进行性能测试，实现了对双端口硬盘性能的全面测试以及通过交换两个端口的测试范围，实现了对双端口硬盘双活模式下的性能均衡情况的验证。
基于上述目的，本发明实施例的一方面提供了一种双端口硬盘测试方法，具体包括如下步骤：
配置双端口硬盘的测试场景；
基于所述测试场景配置双端口硬盘的第一端口的写范围和第二端口的写范围，并基于配置的所述第一端口的写范围和所述第二端口的写范围对所述第一端口和所述第二端口进行写性能测试；
基于所述测试场景配置所述第一端口的读范围和第二端口的读范围，并基于配置的所述第一端口的读范围和所述第二端口的读范围对所述第一端口和所述第二端口进行读性能测试；
交换所述第一端口的读范围与所述第二端口的读范围并基于所述第一端口与所述第二端***换后的读范围对所述第一端口和所述第二端口进行所述读性能测试。
在一些实施方式中，所述测试场景包括：稳态测试场景、垃圾回收测试场景和重写测试场景。
在一些实施方式中，配置双端口硬盘的测试场景，包括：
响应于所述测试场景为稳态测试场景，则对所述双端口硬盘进行满盘顺序写以形成稳态测试环境。
在一些实施方式中，配置双端口硬盘的测试场景，包括：
响应于所述测试场景为垃圾回收测试场景，对所述双端口硬盘进行满盘随机写；
在满盘随机写结束后，根据所述双端口硬盘的逻辑地址查询对应的物理地址，并基于查询到的所有物理地址生成各个物理地址与所述双端口硬盘的块的多对一映射表；
基于所述多对一映射表中的物理地址使其对应的块进行垃圾回收以形成垃圾回收测试场景。
在一些实施方式中，配置双端口硬盘的测试场景，包括：
响应于所述测试场景为重写测试场景，对所述双端口硬盘进行满盘顺序写；
在满盘顺序写结束后，遍历所述双端口硬盘的所有逻辑地址以获取对应的物理地址；
基于获取的所有物理地址生成所述双端口硬盘的块与各个物理地址的一对多映射表；
基于所述一对多映射表获取所有块的读次数，并基于所述读次数设置读干扰强度以形成重写测试环境。
在一些实施方式中，基于所述测试场景配置双端口硬盘的第一端口的写范围和第二端口的写范围，并基于配置的所述第一端口的写范围和所述第二端口的写范围对所述第一端口和所述第二端口进行写性能测试，包括：
响应于所述测试场景为稳态测试场景，基于所述稳态测试场景配置双端口硬盘的第一端口的写范围和第二端口的写范围，并基于配置的所述第一端口的写范围和所述第二端口的写范围同时对所述第一端口和所述第二端口进行顺序写性能测试，其中，所述第一端口的写范围为a％，所述第二端口的写范围为(100-a)％；
响应于所述测试场景为垃圾回收测试场景或重写测试场景，基于所述垃圾回收测试场景或重写测试场景配置双端口硬盘的第一端口的写范围和第二端口的写范围，并基于配置的所述第一端口的写范围和所述第二端口的写范围同时对所述第一端口和所述第二端口进行随机写性能测试。
在一些实施方式中，基于配置的所述第一端口的读范围和所述第二端口的读范围对所述第一端口和所述第二端口进行读性能测试，包括：
基于配置的所述第一端口和所述第二端口的读范围同时对所述第一端口和所述第二端口进行顺序读性能测试，其中，所述第一端口的读范围为b％，所述第二端口的读范围为(100-b)％；
基于所述第一端口与所述第二端***换后的读范围对所述第一端口和所述第二端口进行所述读性能测试，包括：
基于所述第一端口与所述第二端***换后的读范围同时对所述第一端口和所述第二端口进行所述顺序读性能测试。
本发明实施例的另一方面，还提供了一种双端口硬盘测试***，包括：
配置模块，所述配置模块配置为配置双端口硬盘的测试场景；
写性能测试模块，所述写性能测试模块配置为基于所述测试场景配置双端口硬盘的第一端口的写范围和第二端口的写范围，并基于配置的所述第一端口的写范围和所述第二端口的写范围对所述第一端口和所述第二端口进行写性能测试；
第一读性能测试模块，所述第一读性能测试模块配置为基于所述测试场景配置所述第一端口的读范围和第二端口的读范围，并基于配置的所述第一端口的读范围和所述第二端口的读范围对所述第一端口和所述第二端口进行读性能测试；
第二读性能测试模块，所述第二读性能测试模块配置为交换所述第一端口的读范围与所述第二端口的读范围并基于所述第一端口与所述第二端***换后的读范围对所述第一端口和所述第二端口进行所述读性能测试。
本发明实施例的又一方面，还提供了一种计算机设备，包括：至少一个处理器；以及存储器，所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序由所述处理器执行时实现如上方法的步骤。
本发明实施例的再一方面，还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有被处理器执行时实现如上方法步骤的计算机程序。
本发明至少具有以下有益技术效果：通过配置测试场景和双端口硬盘的两个端口的测试范围，可以灵活的在各个测试场景下对双端口硬盘进行性能测试，实现了对双端口硬盘性能的全面测试以及通过交换两个端口的测试范围，实现了对双端口硬盘双活模式下的性能均衡情况的验证。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的实施例。
图1为本发明提供的双端口硬盘测试方法的一实施例的框图；
图2为本发明提供的双端口硬盘测试***的一实施例的示意图；
图3为本发明提供的计算机设备的一实施例的结构示意图；
图4为本发明提供的计算机可读存储介质的一实施例的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明实施例进一步详细说明。
需要说明的是，本发明实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本发明实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。
基于上述目的，本发明实施例的第一个方面，提出了一种双端口硬盘测试方法的实施例。如图1所示，其包括如下步骤：
S10、配置双端口硬盘的测试场景；
S20、基于所述测试场景配置双端口硬盘的第一端口的写范围和第二端口的写范围，并基于配置的所述第一端口的写范围和所述第二端口的写范围对所述第一端口和所述第二端口进行写性能测试；
S30、基于所述测试场景配置所述第一端口的读范围和第二端口的读范围，并基于配置的所述第一端口的读范围和所述第二端口的读范围对所述第一端口和所述第二端口进行读性能测试；
S40、交换所述第一端口的读范围与所述第二端口的读范围并基于所述第一端口与所述第二端***换后的读范围对所述第一端口和所述第二端口进行所述读性能测试。
具体的，配置双端口硬盘的测试场景，测试场景包括：稳态测试场景、垃圾回收测试场景和重写测试场景，测试场景可以基于测试需求配置上述测试场景中的一个或多个，本发明实施例中为了实现对双端口硬盘的两个端口的全面性能测试，优选配置测试场景时，配置全部测试场景，即配置稳态测试场景、垃圾回收测试场景和重写测试场景。各个测试场景下，配置的第一端口的写范围和第二端口的写范围、第一端口的读范围和第二端口的读范围可以相同或不同。一般若是第一端口的写范围为a％，读范围为b％，则第二端口的写范围为(100-a)％，读范围为(100-b)％。写性能测试与进行的测试场景相对应，基于测试场景的类型而设置对应的写性能测试，写性能测试包括顺序写和随机写。读性能测试与进行的测试场景相对应，基于测试场景的类型而设置对应的读性能测试，读性能测试包括顺序读和随机读。一方面，通过配置双端口硬盘的测试场景，以及配置的测试场景下对第一端口和第二端口的读写性能测试，实现了灵活的在各个测试场景下对双端口硬盘进行性能测试；另一方面，通过对双端口硬盘的全面的测试场景配置以及各个测试场景下对第一端口和第二端口的读写性能测试，实现了对双端口硬盘各个测试场景下的全覆盖性能测试。
每一种测试场景下，均对双端口硬盘的第一端口和第二端口进行写性能测试和读性能测试，其中读性能测试包括两部分，首先为同时对第一端口和第二端口进行各自配置的读范围下的读性能测试，然后交换第一端口和第二端口的读范围，在交换后的读范围下同时对第一端口和第二端口进行各自交换后的读范围下的读性能测试。通过交换两个端口的测试范围，实现了对双端口硬盘双活模式下的性能均衡情况的验证。
在一些实施方式中，所述测试场景包括：稳态测试场景、垃圾回收测试场景和重写测试场景。
在一些实施方式中，配置双端口硬盘的测试场景，包括：
响应于所述测试场景为稳态测试场景，则对所述双端口硬盘进行满盘顺序写以形成稳态测试环境。
在一些实施方式中，配置双端口硬盘的测试场景，包括：
响应于所述测试场景为垃圾回收测试场景，对所述双端口硬盘进行满盘随机写；
在满盘随机写结束后，根据所述双端口硬盘的逻辑地址查询对应的物理地址，并基于查询到的所有物理地址生成各个物理地址与所述双端口硬盘的块的多对一映射表；
基于所述多对一映射表中的物理地址使其对应的块进行垃圾回收以形成垃圾回收测试场景。
在一些实施方式中，配置双端口硬盘的测试场景，包括：
响应于所述测试场景为重写测试场景，对所述双端口硬盘进行满盘顺序写；
在满盘顺序写结束后，遍历所述双端口硬盘的所有逻辑地址以获取对应的物理地址；
基于获取的所有物理地址生成所述双端口硬盘的块与各个物理地址的一对多映射表；
基于所述一对多映射表获取所有块的读次数，并基于所述读次数设置读干扰强度以形成重写测试环境。
在一些实施方式中，基于所述测试场景配置双端口硬盘的第一端口的写范围和第二端口的写范围，并基于配置的所述第一端口的写范围和所述第二端口的写范围对所述第一端口和所述第二端口进行写性能测试，包括：
响应于所述测试场景为稳态测试场景，基于所述稳态测试场景配置双端口硬盘的第一端口的写范围和第二端口的写范围，并基于配置的所述第一端口的写范围和所述第二端口的写范围同时对所述第一端口和所述第二端口进行顺序写性能测试，其中，所述第一端口的写范围为a％，所述第二端口的写范围为(100-a)％；
响应于所述测试场景为垃圾回收测试场景或重写测试场景，基于所述垃圾回收测试场景或重写测试场景配置双端口硬盘的第一端口的写范围和第二端口的写范围，并基于配置的所述第一端口的写范围和所述第二端口的写范围同时对所述第一端口和所述第二端口进行随机写性能测试。
在一些实施方式中，基于配置的所述第一端口的读范围和所述第二端口的读范围对所述第一端口和所述第二端口进行读性能测试，包括：
基于配置的所述第一端口和所述第二端口的读范围同时对所述第一端口和所述第二端口进行顺序读性能测试，其中，所述第一端口的读范围为b％，所述第二端口的读范围为(100-b)％；
基于所述第一端口与所述第二端***换后的读范围对所述第一端口和所述第二端口进行所述读性能测试，包括：
基于所述第一端口与所述第二端***换后的读范围同时对所述第一端口和所述第二端口进行所述顺序读性能测试。
下面通过一具体实施例对本发明的具体实施方式进行说明。
(1)环境部署：准备一台支持双端口的服务器和支持双端口功能的SSD(固态硬盘)，配置fio、nvme等测试工具；
(2)准备fio性能命令，使用下面的参数测试不同场景下的性能
Bs(块大小)＝512\4k\32k\128k\256k\1M\2M
Iodepth(队列深度)＝1\4\16\32\64\128\256\1024
Numjobs(线程数)＝1\2\32\64\128\256\1024
(3)测试场景：
a)稳态场景下的性能测试
S11、对SSD满盘顺序写两遍，以准备稳态的测试环境；
S12、使用fio命令，在端口A(SSD的第一端口)和端口B(SSD的第二端口)同时进行顺序写的测试，且将端口A的写范围配置为a％，端口B的写范围配置为(100-a)％，a＝random.randint(100)；
S13、接着步骤S2，将端口A的读范围配置为b％，端口B的读范围配置为(100-b)％，在端口A和端口B同时进行顺序读的性能测试；
S14、接着步骤S3，端口A使用端口B的读范围(100-b)％，端口B使用端口A的读范围b％，测试顺序读的性能。
b)GC(垃圾回收)场景下的性能测试
垃圾回收是将SSD闪存内部有效的数据整理到一起，删除无效的数据块，即垃圾，以较好的保持SSD的性能以及释放空间用来存放更多整理有效的数据。垃圾回收功能是在SSD固态硬盘后台运行的，会在写入数据时同时进行，因此后台垃圾回收的时候会影响性能。下面基于以下步骤配置垃圾回收测试场景并在配置的垃圾回收测试场景下进行性能测试：
S21、满盘随机写两遍；
S22、根据LBA(Logical Block Addressing，逻辑区块地址，即逻辑地址)查询PBA(Physics Block Addressing，物理区块地址，即物理地址)，获取LBA地址，生成一个PBA和block的多对一的映射表M，实现方式为：nvme rm_debug_entry–o***-p lba；
S23、根据一个block的PBA信息强制让该block做GC。根据映射表M，可以控制让SSD的10％，30％，60％，80％等block同时进行GC，实现方式为：nvme rm_debug_entry–o***–f***-p<PBA>device；
S24、在后台强制进行GC过程中，进行fio的随机读写测试：
S241、在端口A和端口同时进行随机写的测试，且将端口A的写范围配置为a％，端口B的写范围配置为(100-a)％，a＝random.randint(100)；
S242、将端口A的读范围配置为b％，端口B的读范围配置为(100-b)％，在端口A和端口B同时进行顺序读的性能测试；
S243、端口A使用端口B的读范围(100-b)％，端口B使用端口A的读范围b％，测试顺序读的性能。
c)rewrite(重写)模式下的性能测试
S31、满盘顺序写两遍；
S32、遍历SSD的LBA，获取PBA的地址，分析PBA信息，得出block与PBA的多对一的映射表。
S33、根据映射表，获取当前所有block的readcount值，即读次数；
S34、基于获取到的每个block的读次数设置不同的读干扰强度，如10％、30％、50％、80％的block进行rewrite操作
S35、在后台进行不同强度的rewrite的时候进行性能测试：
S351、在端口A和端口同时进行随机写的测试，且将端口A的写范围配置为a％，端口B的写范围配置为(100-a)％，a＝random.randint(100)；
S352、将端口A的读范围配置为b％，端口B的读范围配置为(100-b)％，在端口A和端口B同时进行顺序读的性能测试；
S353、端口A使用端口B的读范围(100-b)％，端口B使用端口A的读范围b％，测试顺序读的性能。
通过上述方案实现了对双端口硬盘性能的全面测试，并且通过交换两个端口的测试范围，还实现了对双端口硬盘双活模式下的性能均衡情况的验证。
基于同一发明构思，根据本发明的另一个方面，如图2所示，本发明的实施例还提供了一种双端口硬盘测试***，包括：
配置模块110，所述配置模块110配置为配置双端口硬盘的测试场景；
写性能测试模块120，所述写性能测试模块120配置为基于所述测试场景配置双端口硬盘的第一端口的写范围和第二端口的写范围，并基于配置的所述第一端口的写范围和所述第二端口的写范围对所述第一端口和所述第二端口进行写性能测试；
第一读性能测试模块130，所述第一读性能测试模块130配置为基于所述测试场景配置所述第一端口的读范围和第二端口的读范围，并基于配置的所述第一端口的读范围和所述第二端口的读范围对所述第一端口和所述第二端口进行读性能测试；
第二读性能测试模块140，所述第二读性能测试模块140配置为交换所述第一端口的读范围与所述第二端口的读范围并基于所述第一端口与所述第二端***换后的读范围对所述第一端口和所述第二端口进行所述读性能测试。
基于同一发明构思，根据本发明的另一个方面，如图3所示，本发明的实施例还提供了一种计算机设备30，在该计算机设备30中包括处理器310以及存储器320，存储器320存储有可在处理器上运行的计算机程序321，处理器310执行程序时执行如上的方法的步骤。
本发明实施例还可以包括相应的计算机设备。计算机设备包括存储器、至少一个处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行程序时执行上述任意一种方法。
其中，存储器作为一种非易失性计算机可读存储介质，可用于存储非易失性软件程序、非易失性计算机可执行程序以及模块，如本申请实施例中的所述双端口硬盘测试方法对应的程序指令/模块。处理器通过运行存储在存储器中的非易失性软件程序、指令以及模块，从而执行***的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例的双端口硬盘测试方法。
存储器可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作***、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储根据***的使用所创建的数据等。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实施例中，存储器可选包括相对于处理器远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至本地模块。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
基于同一发明构思，根据本发明的另一个方面，如图4所示，本发明的实施例还提供了一种计算机可读存储介质40，计算机可读存储介质40存储有被处理器执行时执行如上方法的计算机程序410。
最后需要说明的是，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关硬件来完成，程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，程序的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(ROM)或随机存储记忆体(RAM)等。上述计算机程序的实施例，可以达到与之对应的前述任意方法实施例相同或者相类似的效果。
本领域技术人员还将明白的是，结合这里的公开所描述的各种示例性逻辑块、模块、电路和算法步骤可以被实现为电子硬件、计算机软件或两者的组合。为了清楚地说明硬件和软件的这种可互换性，已经就各种示意性组件、方块、模块、电路和步骤的功能对其进行了一般性的描述。这种功能是被实现为软件还是被实现为硬件取决于具体应用以及施加给整个***的设计约束。本领域技术人员可以针对每种具体应用以各种方式来实现的功能，但是这种实现决定不应被解释为导致脱离本发明实施例公开的范围。
以上是本发明公开的示例性实施例，但是应当注意，在不背离权利要求限定的本发明实施例公开的范围的前提下，可以进行多种改变和修改。根据这里描述的公开实施例的方法权利要求的功能、步骤和/或动作不需以任何特定顺序执行。上述本发明实施例公开实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。此外，尽管本发明实施例公开的元素可以以个体形式描述或要求，但除非明确限制为单数，也可以理解为多个。
应当理解的是，在本文中使用的，除非上下文清楚地支持例外情况，单数形式“一个”旨在也包括复数形式。还应当理解的是，在本文中使用的“和/或”是指包括一个或者一个以上相关联地列出的项目的任意和所有可能组合。
所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本发明实施例公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本发明实施例的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，并存在如上的本发明实施例的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本发明实施例的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明实施例的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种双端口硬盘测试方法，其特征在于，包括：
配置双端口硬盘的测试场景；
基于所述测试场景配置双端口硬盘的第一端口的写范围和第二端口的写范围，并基于配置的所述第一端口的写范围和所述第二端口的写范围对所述第一端口和所述第二端口进行写性能测试；
基于所述测试场景配置所述第一端口的读范围和第二端口的读范围，并基于配置的所述第一端口的读范围和所述第二端口的读范围对所述第一端口和所述第二端口进行读性能测试；
交换所述第一端口的读范围与所述第二端口的读范围并基于所述第一端口与所述第二端***换后的读范围对所述第一端口和所述第二端口进行所述读性能测试。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试场景包括：稳态测试场景、垃圾回收测试场景和重写测试场景。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，配置双端口硬盘的测试场景，包括：
响应于所述测试场景为稳态测试场景，则对所述双端口硬盘进行满盘顺序写以形成稳态测试环境。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，配置双端口硬盘的测试场景，包括：
响应于所述测试场景为垃圾回收测试场景，对所述双端口硬盘进行满盘随机写；
在满盘随机写结束后，根据所述双端口硬盘的逻辑地址查询对应的物理地址，并基于查询到的所有物理地址生成各个物理地址与所述双端口硬盘的块的多对一映射表；
基于所述多对一映射表中的物理地址使其对应的块进行垃圾回收以形成垃圾回收测试场景。
5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，配置双端口硬盘的测试场景，包括：
响应于所述测试场景为重写测试场景，对所述双端口硬盘进行满盘顺序写；
在满盘顺序写结束后，遍历所述双端口硬盘的所有逻辑地址以获取对应的物理地址；
基于获取的所有物理地址生成所述双端口硬盘的块与各个物理地址的一对多映射表；
基于所述一对多映射表获取所有块的读次数，并基于所述读次数设置读干扰强度以形成重写测试环境。
6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，基于所述测试场景配置双端口硬盘的第一端口的写范围和第二端口的写范围，并基于配置的所述第一端口的写范围和所述第二端口的写范围对所述第一端口和所述第二端口进行写性能测试，包括：
响应于所述测试场景为稳态测试场景，基于所述稳态测试场景配置双端口硬盘的第一端口的写范围和第二端口的写范围，并基于配置的所述第一端口的写范围和所述第二端口的写范围同时对所述第一端口和所述第二端口进行顺序写性能测试，其中，所述第一端口的写范围为a％，所述第二端口的写范围为(100-a)％；
响应于所述测试场景为垃圾回收测试场景或重写测试场景，基于所述垃圾回收测试场景或重写测试场景配置双端口硬盘的第一端口的写范围和第二端口的写范围，并基于配置的所述第一端口的写范围和所述第二端口的写范围同时对所述第一端口和所述第二端口进行随机写性能测试。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于配置的所述第一端口的读范围和所述第二端口的读范围对所述第一端口和所述第二端口进行读性能测试，包括：
基于配置的所述第一端口和所述第二端口的读范围同时对所述第一端口和所述第二端口进行顺序读性能测试，其中，所述第一端口的读范围为b％，所述第二端口的读范围为(100-b)％；
基于所述第一端口与所述第二端***换后的读范围对所述第一端口和所述第二端口进行所述读性能测试，包括：
基于所述第一端口与所述第二端***换后的读范围同时对所述第一端口和所述第二端口进行所述顺序读性能测试。
8.一种双端口硬盘测试***，其特征在于，包括：
配置模块，所述配置模块配置为配置双端口硬盘的测试场景；
写性能测试模块，所述写性能测试模块配置为基于所述测试场景配置双端口硬盘的第一端口的写范围和第二端口的写范围，并基于配置的所述第一端口的写范围和所述第二端口的写范围对所述第一端口和所述第二端口进行写性能测试；
第一读性能测试模块，所述第一读性能测试模块配置为基于所述测试场景配置所述第一端口的读范围和第二端口的读范围，并基于配置的所述第一端口的读范围和所述第二端口的读范围对所述第一端口和所述第二端口进行读性能测试；
第二读性能测试模块，所述第二读性能测试模块配置为交换所述第一端口的读范围与所述第二端口的读范围并基于所述第一端口与所述第二端***换后的读范围对所述第一端口和所述第二端口进行所述读性能测试。
9.一种计算机设备，包括：
至少一个处理器；以及
存储器，所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时执行如权利要求1至7任意一项所述的方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时执行如权利要求1至7任意一项所述的方法的步骤。
CN202211127246.6A 2022-09-16 2022-09-16 一种双端口硬盘测试方法、***、计算机设备及存储介质 Pending CN115458035A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202211127246.6A CN115458035A (zh) 2022-09-16 2022-09-16 一种双端口硬盘测试方法、***、计算机设备及存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202211127246.6A CN115458035A (zh) 2022-09-16 2022-09-16 一种双端口硬盘测试方法、***、计算机设备及存储介质

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN115458035A true CN115458035A (zh) 2022-12-09

Family

ID=84305860

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202211127246.6A Pending CN115458035A (zh) 2022-09-16 2022-09-16 一种双端口硬盘测试方法、***、计算机设备及存储介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN115458035A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116662214A (zh) * 2023-05-06 2023-08-29 深圳市晶存科技有限公司 基于fio的硬盘垃圾回收方法、装置、***及介质

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116662214A (zh) * 2023-05-06 2023-08-29 深圳市晶存科技有限公司 基于fio的硬盘垃圾回收方法、装置、***及介质
CN116662214B (zh) * 2023-05-06 2024-05-07 深圳市晶存科技有限公司 基于fio的硬盘垃圾回收方法、装置、***及介质

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9916147B2 (en) Deployment of a tool for testing migrated applications
CN102045191B (zh) 一种***升级后兼容性测试方法及设备
CN107911249B (zh) 一种网络设备的命令行发送方法、装置和设备
CN109697133A (zh) Id生成方法、装置及***
CN107580018A (zh) 一种分布式***的跟踪方法与装置
CN106170757B (zh) 一种数据存储方法及装置
CN115458035A (zh) 一种双端口硬盘测试方法、***、计算机设备及存储介质
CN110413594A (zh) 一种Redis多实例压力测试方法和装置
CN108228444A (zh) 一种测试方法和装置
CN105871631B (zh) 一种基于snmp协议找回丢失ip的方法
CN107632927A (zh) 一种在c/s架构中模拟数据加密的压力测试方法与装置
CN107579879A (zh) 一种网络仿真测试方法、仿真服务器以及存储介质
CN108628760A (zh) 原子写命令的方法与装置
CN105094742B (zh) 一种写数据的方法和设备
CN107341203A (zh) 一种分布式搜索引擎的访问控制和索引优化方法与装置
CN107357808A (zh) 数据管理方法、装置及设备
CN107430533B (zh) 一种数据校验方法和装置
CN106557530B (zh) 业务***、数据修复方法及装置
CN108628761A (zh) 原子命令执行方法与装置
CN109992197B (zh) 一种数据读写方法、装置、电子设备和存储介质
CN116760834A (zh) 一种负载均衡方法、***、设备以及存储介质
CN106897181B (zh) 一种Vdbench测试装置
CN108563578A (zh) Sdk兼容性检测方法、装置、设备及可读存储介质
CN111722959B (zh) 一种存储池扩容的方法、***、设备及介质
CN105068764B (zh) 一种模拟NandFlash的装置及方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination