CN115331613A - 驱动电路、驱动方法及显示装置 - Google Patents

Abstract

本申请属于显示领域，具体涉及一种驱动电路、驱动方法及显示装置，驱动电路包括相互连接的控制芯片和驱动芯片，所述驱动电路还包括采样模块和处理模块，采样模块用于采集所述驱动芯片的所述输出电流并转换为第一电压，处理模块包括比较单元、分析单元和补偿单元，所述比较单元用于比较所述第一电压和阈值电压，所述分析单元用于分析所述比较单元的比较结果，所述补偿单元用于根据所述分析单元的分析结果更新所述补偿参数并输出到所述控制芯片，控制芯片根据更新后的补偿参数控制驱动芯片，更新驱动芯片生成的输出电流，使其趋近发光芯片的理想驱动电流，可消除明显的亮暗线，反应到显示面板上，可改善或消除区域发光不均匀现象，提升显示画质。

Description

驱动电路、驱动方法及显示装置

技术领域

本申请属于显示领域，具体涉及一种驱动电路、驱动方法及显示装置。

背景技术

迷你发光二极管(Mini/Micro LED)显示面板在显示同灰阶画面时，理论上每个迷你发光二极管所产生的亮度都一样，但由于工艺制程等原因，实际每个迷你发光二极管均存在差异。驱动装置在驱动一行或多行，一列或多列迷你发光二极管时，会存在亮暗线，反应到显示面板上，会形成区域发光不均匀(即：mura)现象，影响显示效果。

发明内容

本申请的目的在于提供一种驱动电路、驱动方法及显示装置，以改善或消除显示不均匀现象，提升显示画质。

为了达到上述目的，本申请提供了一种驱动电路，包括相互连接的控制芯片和驱动芯片，所述控制芯片用于根据补偿参数控制驱动芯片，所述驱动芯片用于生成输出电流驱动发光芯片，所述驱动电路还包括：

采样模块，用于采集所述驱动芯片的所述输出电流并转换为第一电压；

处理模块，包括比较单元、分析单元和补偿单元，所述比较单元用于比较所述第一电压和阈值电压，所述分析单元用于分析所述比较单元的比较结果，所述补偿单元用于根据所述分析单元的分析结果及所述第一电压更新所述补偿参数并输出到所述控制芯片。

可选的，所述补偿单元包括转换器和补偿器，所述补偿器用于根据所述分析单元的分析结果及所述第一电压对所述第一电压进行补偿生成第二电压，所述转换器将所述第二电压转换成所述补偿参数输出到所述控制芯片。

可选的，所述比较单元包括比较器，所述比较器包括同相输入端、反相输入端和输出端，所述第一电压输出到所述反相输入端，所述阈值电压输出到所述同相输入端，所述比较结果输出到所述分析单元，所述比较结果为方波信号。

可选的，所述采样模块包括电阻，所述第一电压等于所述电阻两端电压。

本申请还提供一种驱动方法，包括：

采集驱动芯片的输出电流并转换为第一电压；

比较第一电压与阈值电压并输出比较结果；

将所述比较结果与预设条件进行对比；

确认所述比较结果满足预设条件时，根据所述第一电压更新补偿参数并输出到控制芯片。

可选的，所述确认所述比较结果满足预设条件时，根据所述第一电压更新补偿参数包括：

确认所述比较结果满足预设条件时，进行补偿计数更新；

根据预设对应关系选择补偿系数对所述第一电压进行补偿生成第二电压，所述预设对应关系为补偿次数和所述补偿系数的对应关系；

将所述第二电压转换成所述补偿参数输出到所述控制芯片。

可选的，所述补偿单元存储有多个所述补偿次数和多个所述补偿系数，所述补偿次数和所述补偿系数一一对应形成所述预设对应关系，所述根据预设对应关系选择补偿系数对所述第一电压进行补偿生成所述第二电压包括：

在所述补偿计数与其中一个所述补偿次数相等时，选择与所述补偿次数对应的所述补偿系数与所述第一电压相乘对所述第一电压进行补偿。

可选的，所述进行补偿计数更新包括：

补偿计数加1或减1。

可选的，所述比较结果为方波信号，所述预设条件为方波信号的占空比大于1％或一帧内方波信号个数大于5。

本申请还提供一种显示装置，包括：

发光芯片；

驱动电路，所述驱动电路的驱动芯片与所述发光芯片连接。

本申请公开的驱动电路、驱动方法及显示装置具有以下有益效果：

本申请中，控制芯片用于根据补偿参数控制驱动芯片，驱动芯片用于生成输出电流驱动发光芯片，采样模块用于采集驱动芯片的输出电流并转换为第一电压，处理模块包括比较单元、分析单元和补偿单元，比较单元用于比较第一电压和阈值电压，分析单元用于分析比较单元的比较结果，例如第一电压超过阈值电压，补偿单元在第一电压基础上进行补偿并更新补偿参数，再将更新后的补偿参数输出到控制芯片，控制芯片根据更新后的补偿参数控制驱动芯片，提高驱动芯片生成的输出电流，使其趋近发光芯片的理想驱动电流。驱动芯片驱动一行或多行迷你发光二极管时，可消除明显的亮暗线，反应到显示面板上，可改善或消除区域发光不均匀现象，提升显示画质。

本申请的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本申请的实践而习得。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例一中驱动电路的结构示意图。

图2是本申请实施例一中处理模块的结构示意图。

图3是本申请实施例二中驱动方法流程图。

图4是本申请实施例二中补偿前后驱动芯片的输出电流对比图。

图5是本申请实施例二中第一电压的波形示意图。

图6是本申请实施例二中比较单元输出的方波信号示意图。

图7是本申请实施例二中补偿次数和补偿系数的对应关系。

图8是本申请实施例三中显示装置的结构示意图。

附图标记说明：

100、控制芯片；

200、驱动芯片；

300、采样模块；

400、处理模块；

410、比较单元；420、分析单元；430、补偿单元；

431、补偿器；432、转换器；

500、发光芯片。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施方式使得本申请将更加全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。

此外，所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本申请的实施例的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本申请的技术方案而没有特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组元、装置、步骤等。在其它情况下，不详细示出或描述公知方法、装置、实现或者操作以避免模糊本申请的各方面。

下面结合附图和具体实施例对本申请作进一步详述。在此需要说明的是，下面所描述的本申请各个实施例中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。

实施例一

参见图1和图2所示，本实施例中驱动电路包括相互连接的控制芯片100和驱动芯片200，控制芯片100用于根据补偿参数控制驱动芯片200，驱动芯片200用于生成输出电流驱动发光芯片，发光芯片包括迷你发光二极管。

驱动电路还包括采样模块300和处理模块400，采样模块300用于采集驱动芯片200的输出电流并转换为第一电压。处理模块400包括比较单元410、分析单元420和补偿单元430，比较单元410用于比较第一电压和阈值电压，分析单元420用于分析比较单元410的比较结果，补偿单元430用于根据分析单元420的分析结果及第一电压更新补偿参数并输出到控制芯片100。

需要说明的是，发光芯片包括迷你发光二极管，但不限于此，发光芯片还可包括发光二极管和有机发光二极管等，具体可视情况而定。发光芯片包括迷你发光二极管，迷你发光二极管采用电流驱动，采样模块300用于采集驱动芯片200的输出电流，但不限于此，在发光芯片采用电压驱动时，采样模块300可配置为采集驱动芯片200的输出电压，具体可视情况而定。

由于每个迷你发光二极管均存一定的差异，迷你发光二极管的理想驱动电流和实际驱动电流也存在差异，驱动芯片200的输出电流难以适配每个迷你发光二极管。同时，驱动电流存在一定线损，驱动芯片200的输出电流通常会小于迷你发光二极管的理想驱动电流，本实施例仅以增大驱动芯片200的输出电流为例说明，在驱动芯片200的输出电流大于迷你发光二极管的理想驱动电流时，也可相应地减小驱动芯片200的输出电流，因此不再赘述。

本实施例中，控制芯片100用于根据补偿参数控制驱动芯片200，驱动芯片200用于生成输出电流驱动发光芯片，采样模块300用于采集驱动芯片200的输出电流并转换为第一电压，处理模块400包括比较单元410、分析单元420和补偿单元430，比较单元410用于比较第一电压和阈值电压，分析单元420用于分析比较单元410的比较结果，例如第一电压小于阈值电压，补偿单元430在第一电压基础上进行补偿并更新补偿参数，再将更新后的补偿参数输出到控制芯片100，控制芯片100根据更新后的补偿参数控制驱动芯片200，提高驱动芯片200生成的输出电流，使其趋近发光芯片的理想驱动电流。驱动芯片200驱动一行或多行迷你发光二极管时，可消除明显的亮暗线，反应到显示面板上，可改善或消除区域发光不均匀现象，提升显示画质。

示例的，参见图1和图2所示，采样模块300包括电阻，第一电压等于电阻两端电压。通过电阻采集驱动芯片200的输出电流，同时将驱动芯片200的输出电流转换成电阻两端电压，即第一电压。

需要说明的是，迷你发光二极管采用电流驱动，采样模块300用于采集驱动芯片200的输出电流，并将输出电流转换成第一电压，第一电压用于和阈值电压进行比较，但不限于此，采样模块300也可直接采集驱动芯片200的输出电流，比较单元410配置为比较驱动芯片200的输出电流和阈值电流，具体可视情况而定。

采样模块300包括电阻，通过电阻采集驱动芯片200的输出电流，同时将驱动芯片200的输出电流转换成电阻两端电压，即第一电压，比较单元410比较第一电压和阈值电压，在第一电压小于阈值电压时，对第一电压进行补偿，与直接比较驱动芯片200的输出电流和阈值电流相比，将电流转换成电压进行比较，更容易实现，电路结构也更简单。

参见图1和图2所示，比较单元410包括同相输入端、反相输入端和输出端，同相输入端与电压源连接，电压源连接提供阈值电压；反相输入端与采样模块300连接，采样模块300将第一电压输出到反相输入端；输出端与分析单元420连接，比较结果输出到分析单元420。比较单元410包括比较器，比较器输出的比较结果为方波信号。

需要说明的是，在采样模块300输出第一电压时，比较单元410可包括比较器，但不限于此，比较单元410也可包括运算放大器，具体可视情况而定。在采样模块300直接采集驱动芯片200的输出电流时，比较单元410也可配置为比较驱动芯片200的输出电流和阈值电流，具体可视情况而定。

比较单元410比较第一电压和阈值电压，与直接比较驱动芯片200的输出电流和阈值电流相比，将电流转换成电压进行比较，更容易实现，电路结构也更简单。此外，在采样模块300输出第一电压时，比较单元410可包括比较器，采样比较器比较第一电压和阈值电压，与采用运算放大器比较第一电压和阈值电压相比，比较器被设计为高速开关，有比运算放大器更快的转换速率和更短的延时。

参见图1和图2所示，补偿单元430包括补偿器431和转换器432，补偿器431用于根据分析单元420的分析结果及第一电压对第一电压进行补偿生成第二电压，转换器432将第二电压转换成补偿参数输出到控制芯片100。补偿参数为数字信号，第一电压和第二电压为模拟信号，转换器432将第二电压转换成补偿电流，再进行数模转换生成补偿参数，控制芯片100根据补偿参数控制驱动芯片200，提高驱动芯片200生成的输出电流，使其趋近发光芯片的理想驱动电流。

需要说明的是，转换器432将第二电压转换成补偿电流，再进行数模转换生成补偿参数，控制芯片100根据补偿参数控制驱动芯片200，但不限于此，在采样模块300直接采集驱动芯片200的输出电流时，比较单元410配置为比较驱动芯片200的输出电流和阈值电流，补偿器431用于补偿驱动芯片200的输出电流生成补偿电流，再进行数模转换生成补偿参数，具体可视情况而定。

补偿器431用于根据分析单元420的分析结果及第一电压对第一电压进行补偿生成第二电压，转换器432将第二电压转换成补偿电流，再进行数模转换生成补偿参数，并补偿参数输出到控制芯片100，实时调节驱动芯片200生成的输出电流，使其趋近发光芯片的理想驱动电流，可迅速消除发光不均匀现象，避免人眼观察到明显的亮暗线，提升显示画质。

实施例二

参见图3所示，本实施例中驱动方法包括以下步骤：

S100：采集驱动芯片200的输出电流并转换为第一电压；

S200：比较第一电压与阈值电压并输出比较结果；

S300：将比较结果与预设条件进行对比；

S400：确认比较结果满足预设条件时，根据第一电压更新补偿参数并输出到控制芯片100。

实施例一中驱动电路用于执行本实施例中驱动方法，其中采样模块300采集驱动芯片200的输出电流并转换为第一电压，比较单元410比较第一电压与阈值电压并输出比较结果，分析单元420将比较结果与预设条件进行对比，并确认比较结果是否满足预设条件，在确认比较结果是否满足预设条件时，补偿单元430根据第一电压更新补偿参数并输出到控制芯片100，控制芯片100根据更新后的补偿参数控制驱动芯片200，提高驱动芯片200生成的输出电流，使其趋近发光芯片的理想驱动电流。参见图4所示，补偿前，驱动芯片200的输出电流偏离理想驱动电流，补偿后，驱动芯片200的输出电流趋近于理想驱动电流。驱动芯片200驱动一行或多行迷你发光二极管时，可消除明显的亮暗线，反应到显示面板上，可改善或消除区域发光不均匀现象，提升显示画质。

步骤S400中确认比较结果满足预设条件时，根据第一电压更新补偿参数包括：

确认比较结果满足预设条件时，进行补偿计数更新；

根据预设对应关系选择补偿系数对第一电压进行补偿生成第二电压，预设对应关系为补偿次数和补偿系数的对应关系；

将第二电压转换成补偿参数输出到控制芯片。

补偿单元430包括补偿器431和转换器432，补偿器431根据预设对应关系选择补偿系数对第一电压进行补偿生成第二电压，转换器432将第二电压转换成补偿电流，再进行数模转换生成补偿参数并输出到控制芯片100。

确认比较结果满足预设条件时，进行补偿计数更新，补偿器431根据预设对应关系对第一电压进行补偿生成第二电压，转换器432将第二电压转换成补偿电流，再进行数模转换生成补偿参数并输出到控制芯片100，控制芯片100根据更新后的补偿参数控制驱动芯片200，提高驱动芯片200生成的输出电流，由于采样模块300持续进行输出电流采样，比较器也会持续比较第一电压和阈值电压，当分析单元420确认比较结果满足预设条件时，会再次进行补偿计数更新，补偿单元430会再次对第一电压进行补偿并更新第二电压及补偿参数，直到比较结果不满足预设条件，此时第一电压不超过阈值电压，驱动芯片200的输出电流趋近于理想驱动电流。

第一电压的波形如图5所示，比较单元410包括比较器，比较器比较第一电压和阈值电压，并输出方波信号，如图6所示。分析单元420将比较结果与预设条件进行对比，并确认比较结果是否满足预设条件。预设条件为方波信号的占空比大于1％或一帧内方波信号个数大于5。

比较器输出的方波信号满足占空比大于1％或一帧内方波信号个数大于5两个条件之一，说明第一电压超过阈值电压，同时驱动芯片200的输出电流与理想的驱动电流差距较大，需再次对驱动芯片200的输出电流进行补偿。通过分析比较器输出的方波信号是否满足预设条件，间接判断第一电压是否超过阈值电压，以及驱动芯片200的输出电流与理想的驱动电流差距情况，判断方式更简单，更容易实施。

在一些实施例中，补偿单元430存储有多个补偿次数和多个补偿系数，补偿次数和补偿系数一一对应形成预设对应关系，根据预设对应关系选择补偿系数对第一电压进行补偿生成第二电压包括：

在补偿计数与其中一个补偿次数相等时，选择与补偿次数对应的补偿系数与第一电压相乘对第一电压进行补偿。

示例的，补偿次数和补偿系数的对应关系如图7所示，多个补偿次数分别为1～8的整数，补偿系数分别为X、5X、10X、15X、20X、25X、30X和35X，其中X大于0。

确认比较结果满足预设条件时，进行补偿计数更新，当补偿计数为1时，补偿系数为X，补偿系数不同，补偿单元430会选择不同电阻对第一电压进行补偿生成第二电压，第二电压为第一电压的X倍；分析单元420再次确认比较结果满足预设条件时，当补偿计数为2时，第二电压为第一电压的5X倍。

在补偿计数与其中一个补偿次数相等时，选择与补偿次数对应的补偿系数与第一电压相乘对第一电压进行补偿生成第二电压，成倍补偿第一电压，在驱动芯片200的输出电流趋近理想驱动电流速度更快，可迅速消除发光不均匀现象，避免人眼观察到明显的亮暗线，提升显示画质。

在一些实施例中，进行补偿计数更新包括补偿计数加1，也就是说，每次分析单元420确认比较结果满足预设条件时，补偿计数加1。补偿计数与补偿系数存在对应关系，补偿计数更新后，对第一电压进行补偿时，补偿单元430会相应地选择与补偿计数对应的补偿系数进行补偿。

需要说明的是，进行补偿计数更新包括补偿计数加1，但不限于此，进行补偿计数更新也可包括补偿计数加减1。

确认比较结果满足预设条件时，进行补偿计数更新，每次更新补偿计数加1，即补偿时依次选择补偿系数X、5X、10X、15X、20X、25X、30X和35X对第一电压进行补偿，使第一电压逐步增大，进而可使驱动芯片200的输出电流逐步增大趋近与理想的驱动电流。确认比较结果满足预设条件时，进行补偿计数更新，每次更新补偿计数减1，即补偿时依次选择补偿系数35X、30X、25X、20X、15X、10X、5X和X对第一电压进行补偿，使第一电压逐步减小，也可使驱动芯片200的输出电流逐步减小趋近与理想的驱动电流。

实施例三

参见图8所示，本实施例中显示装置包括发光芯片500和驱动电路，驱动电路包括实施例一中驱动电路，驱动电路的驱动芯片200与发光芯片500连接。

需要说明的是，发光芯片500包括迷你发光二极管，但不限于此，发光芯片500还可包括发光二极管和有机发光二极管等，具体可视情况而定。

显示装置包括实施例一中驱动电路，驱动电路中控制芯片100用于根据补偿参数控制驱动芯片200，驱动芯片200用于生成输出电流驱动发光芯片500，采样模块300用于采集驱动芯片200的输出电流并转换为第一电压，处理模块400包括比较单元410、分析单元420和补偿单元430，比较单元410用于比较第一电压和阈值电压，分析单元420用于分析比较单元410的比较结果，例如第一电压小于阈值电压，补偿单元430在第一电压基础上进行补偿并更新补偿参数，再将更新后的补偿参数输出到控制芯片100，控制芯片100根据更新后的补偿参数控制驱动芯片200，提高驱动芯片200生成的输出电流，使其趋近发光芯片500的理想驱动电流。驱动芯片200驱动一行或多行迷你发光二极管时，可消除明显的亮暗线，反应到显示面板上，可改善或消除区域发光不均匀现象，提升显示装置的画质。

术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“装配”、“连接”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本说明书的描述中，参考术语“一些实施例”、“示例地”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本申请的限制，本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型，故但凡依本申请的权利要求和说明书所做的变化或修饰，皆应属于本申请专利涵盖的范围之内。

Claims (10)

1.一种驱动电路，包括相互连接的控制芯片和驱动芯片，所述控制芯片用于根据补偿参数控制驱动芯片，所述驱动芯片用于生成输出电流驱动发光芯片，其特征在于，所述驱动电路还包括：

采样模块，用于采集所述驱动芯片的所述输出电流并转换为第一电压；

处理模块，包括比较单元、分析单元和补偿单元，所述比较单元用于比较所述第一电压和阈值电压，所述分析单元用于分析所述比较单元的比较结果，所述补偿单元用于根据所述分析单元的分析结果及所述第一电压更新所述补偿参数并输出到所述控制芯片。

2.根据权利要求1所述的驱动电路，其特征在于，所述补偿单元包括转换器和补偿器，所述补偿器用于根据所述分析单元的分析结果及所述第一电压对所述第一电压进行补偿生成第二电压，所述转换器将所述第二电压转换成所述补偿参数输出到所述控制芯片。

3.根据权利要求2所述的驱动电路，其特征在于，所述比较单元包括比较器，所述比较器包括同相输入端、反相输入端和输出端，所述第一电压输出到所述反相输入端，所述阈值电压输出到所述同相输入端，所述比较结果输出到所述分析单元，所述比较结果为方波信号。

4.根据权利要求1所述的驱动电路，其特征在于，所述采样模块包括电阻，所述第一电压等于所述电阻两端电压。

5.一种驱动方法，其特征在于，包括：

采集驱动芯片的输出电流并转换为第一电压；

比较第一电压与阈值电压并输出比较结果；

将所述比较结果与预设条件进行对比；

确认所述比较结果满足预设条件时，根据所述第一电压更新补偿参数并输出到控制芯片。

6.根据权利要求5所述的驱动方法，其特征在于，所述确认所述比较结果满足预设条件时，根据所述第一电压更新补偿参数包括：

确认所述比较结果满足预设条件时，进行补偿计数更新；

根据预设对应关系选择补偿系数对所述第一电压进行补偿生成第二电压，所述预设对应关系为补偿次数和所述补偿系数的对应关系；

将所述第二电压转换成所述补偿参数输出到所述控制芯片。

7.根据权利要求6所述的驱动方法，其特征在于，所述补偿单元存储有多个所述补偿次数和多个所述补偿系数，所述补偿次数和所述补偿系数一一对应形成所述预设对应关系，所述根据预设对应关系选择补偿系数对所述第一电压进行补偿生成所述第二电压包括：

在所述补偿计数与其中一个所述补偿次数相等时，选择与所述补偿次数对应的所述补偿系数与所述第一电压相乘，对所述第一电压进行补偿。

8.根据权利要求6所述的驱动方法，其特征在于，所述进行补偿计数更新包括：

补偿计数加1或减1。

9.根据权利要求5所述的驱动方法，其特征在于，所述比较结果为方波信号，所述预设条件为方波信号的占空比大于1％或一帧内方波信号个数大于5。

10.一种显示装置，其特征在于，包括：

发光芯片；

如权利要求1～4任意一项所述驱动电路，所述驱动电路的驱动芯片与所述发光芯片连接。

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