CN115097251B - 测试***与方法、控制模块及可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种测试***与方法、控制模块及可读存储介质，测试***用于对待测试设备进行测试，测试***包括控制模块、N个电源、第一开关模块、第二开关模块与M个用电设备，N个电源依次通过第一开关模块、待测试设备与第二开关模块连接至M个用电设备，第一开关模块包括N个第一开关支路，且N第一开关支路与N个电源一一对应，第二开关模块包括M个第二开关支路，且M个第二开关支路与M个用电设备一一对应。控制模块分别与第一开关支路及第二开关支路连接，控制模块用于获取待测试设备的类型，并根据待测试设备的类型控制第一开关支路与第二开关支路的通断。通过上述方式，能够实现对不同待测试设备进行ATE测试，实用性较强。

Description

测试***与方法、控制模块及可读存储介质

技术领域

本申请涉及测试技术领域，特别是涉及一种测试***与方法、控制模块及可读存储介质。

背景技术

ATE(自动化测试设备)测试主要用于硬件设备的信号测试(如电压、电流、电阻等)。

这些被测设备种类繁多，遵循的标准规范各异。即便是同类被测设备，也存在不同厂家和不同型号之间的差异。因此，对于这些被测设备，虽然存在许多相同或相似的测试需求，但各自也有很多不同的特殊要求，致使目前的ATE测试都只能实现特定领域中的单个设备的测试，实用性较差。

发明内容

本申请旨在提供一种测试***与方法、控制模块及可读存储介质，能够实现对不同待测试设备进行ATE测试，实用性较强。

为实现上述目的，第一方面，本申请提供一种测试***，用于对待测试设备进行测试，所述测试***包括：

N个电源、第一开关模块、第二开关模块与M个用电设备，所述N个电源依次通过第一开关模块、待测试设备与第二开关模块连接至M个用电设备；

其中，所述第一开关模块包括N个第一开关支路，且N第一开关支路与N个电源一一对应连接，所述第二开关模块包括M个第二开关支路，且M个第二开关支路与M个用电设备一一对应连接，N与M均为＞1的整数；

控制模块，所述控制模块分别与所述N个第一开关支路及所述M个第二开关支路连接，所述控制模块用于获取所述待测试设备的类型，控制模块还与待测试设备通讯连接，并根据所述待测试设备的类型控制所述N个第一开关支路与所述M个第二开关支路的通断。

在一种可选的方式中，所述控制模块进一步用于：

若所述待测试设备的类型分别与第j个第一开关支路以及第k个第二开关支路对应，则控制所述第j个第一开关支路与第k个第二开关支路导通，并控制其他的第一开关支路与第二开关支路断开，其中，所述第j个第一开关支路为所述N个第一开关支路中的任一第一开关支路，所述第k个第二开关支路为所述M个第二开关支路中的任一第二开关支路，其中，j与k均为≥1的整数，且j≤N，k≤M。

在一种可选的方式中，所述第一开关支路与所述第二开关支路均包括两个开关；

所述第一开关支路中的第一个开关连接于对应电源的正输出端与待测试设备的正输入端之间，所述第一开关支路中的第二个开关连接于对应电源的负输出端与待测试设备的负输入端之间；

所述第二开关支路中的第一个开关连接于待测试设备的正输出端与对应用电设备的正输入端之间，所述第二开关支路中的第二个开关连接于待测试设备的负输出端与对应用电设备的负输入端之间

在一种可选的方式中，所述控制模块进一步用于：

根据所述待测试设备上的标记获取所述待测试设备的类型与机型；

获取第一测试指令；

若所述第一测试指令对应的类型与所获取的所述待测试设备的类型相同，且所述第一测试指令对应的机型与所获取的所述待测试设备的机型相同，则根据所述待测试设备的类型控制所述N个第一开关支路与所述M个第二开关支路的通断。

在一种可选的方式中，在所述根据所述待测试设备的类型控制所述N个第一开关支路与所述M个第二开关支路的通断之前，所述控制模块还用于：

获取第二测试指令；

根据所述第二测试指令确定对所述待测试设备进行测试的测试类型，并获取所述测试类型中J个测试项目的基准参数，其中，J为≥1的整数；

根据所述待测试设备的机型获取K个测试项目，其中，K为≥1的整数，且所述K个测试项目为所述J个测试项目中的至少部分测试项目。

在一种可选的方式中，在根据所述待测试设备的类型控制所述N个第一开关支路与所述M个第二开关支路的通断之后，所述控制模块还用于：

根据所述K个测试项目依次对待测试设备进行测试，直至所述K个测试项目均测试完成；

其中，若所述K个测试项目中第n个测试项目的测试结果与对应的基准参数相同，或所述K个测试项目中第n个测试项目的测试结果与对应的基准参数之间的差值在对应的预设范围内，则确定所述第n个测试项目的测试结果正常，否则确定所述第n个测试项目的测试结果异常其中，n为≥1的整数，且n≤K。

在一种可选的方式中，所述控制模块还用于：

在所述K个测试项目进行测试的过程中，实时存储所述K个测试项目与对应的测试结果，并显示所述K个测试项目进行测试的总时长、所述K个测试项目中每个测试项目对应的测试结果以及所述K个测试项目中每个测试项目进行测试的时长。

在一种可选的方式中，所述控制模块还用于：

在所述K个测试项目均测试完成后，将测试结果异常的测试项目进行再次测试；

显示所述K个测试项目中每个测试项目的测试结果，并根据所述K个测试项目中每个测试项目的测试结果生成测试报告，将所述测试报告进行保存。

在一种可选的方式中，所述控制模块还用于：获取远程控制指令，并执行与所述远程控制指令对应的操作。

第二方面，本申请提供一种测试方法，用于对待测试设备进行测试，所述测试方法包括：

获取所述待测试设备的类型；

确定与所述待测试设备的类型对应的电源与用电设备，并将所述待测试设备的类型连接在对应的电源与用电设备之间，以对所述待测试设备进行测试。

在一种可选的方式中，所述方法还包括：

获取所述待测试设备的机型；

获取对所述待测试设备进行测试的测试类型，并获取所述测试类型中J个测试项目的基准参数；

确定与所述待测试设备的机型对应的K个测试项目，其中，J为≥1的整数；

根据所述J个测试项目的基准参数与所述K个测试项目对所述待测试设备进行测试，其中，K为≥1的整数，且K≤J。

第三方面，本申请提供一种控制模块，包括：

至少一个处理器以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如上所述的方法。

第四方面，本申请提供一种非易失性计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，当所述计算机可执行指令被处理器执行时，使所述处理器执行如上所述的方法。

本申请的有益效果是：本申请提供的测试***用于对待测试设备进行测试，测试***包括控制模块、N个电源、第一开关模块、第二开关模块与M个用电设备，N个电源依次通过第一开关模块、待测试设备与第二开关模块连接至M个用电设备，控制模块分别与N个第一开关支路、M个第二开关支路与待测试设备连接。其中，第一开关模块包括N个第一开关支路，且N第一开关支路与N个电源一一对应，第二开关模块包括M个第二开关支路，且M个第二开关支路与M个用电设备一一对应，N与M均为＞1的整数。控制模块还与待测试设备通讯连接，控制模块用于获取待测试设备的类型，并根据待测试设备的类型控制N个第一开关支路与M个第二开关支路的通断。因此，在对不同的待测试设备进行测试时，可导通对应的第一开关支路与第二开关支路，以实现通过对应的电源为待测试设备供电，并通过待测试设备为对应的用电设备供电，继而可实现对不同的待测试设备进行ATE测试，实用性较强。

附图说明

一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。

图1为本申请实施例提供的测试***的结构示意图；

图2为本申请实施例提供的控制模块所执行的方法的流程图；

图3为本申请另一实施例提供的控制模块所执行的方法的流程图；

图4为本申请另一实施例提供的测试***的结构示意图；

图5为本申请又一实施例提供的测试***的结构示意图；

图6为本申请实施例提供的测试***中各元器件通讯连接的结构示意图；

图7为本申请实施例提供的测试方法的流程图；

图8为本申请实施例提供的控制模块10的结构示意图。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

请参照图1，图1为本申请实施例提供的测试***的结构示意图。如图1所示，测试***100用于对待测试设备200进行测试。测试***100包括控制模块10、N个电源、第一开关模块20、第二开关模块30与M个用电设备，其中，N个电源依次通过第一开关模块20、待测试设备200与第二开关模块30连接至M个用电设备，N与M均为＞1的整数。

具体地，N个电源包括第一个电源V1、第二个电源V2…第N个电源VN。第一开关模块20包括N个第一开关支路，N个第一开关支路包括第一个第一开关支路S11、第二个第一开关支路S12…第N个第一开关支路S1N。第二开关模块30包括M个第二开关支路，M个第二开关支路包括第一个第二开关支路S21、第二个第二开关支路S22…第M个第二开关支路S2M。M个用电设备包括第一个用电设备PD1、第二个用电设备PD2…第M个用电设备PDM。

其中，第一个电源V1与第一个第一开关支路S11连接，第二个电源V2与第二个第一开关支路S12连接…第N个电源VN与第N个第一开关支路S1N连接。第一个电源V1、第二个电源V2…第N个电源VN可以为相同类型的电源，也可以为不同类型的电源。例如，在一实施方式中，N=2，第一个电源V1为直流电源，第二个电源V2为交流电源。又如，在另一实施方式中，N=2，第一个电源V1与第二个电源V2均为直流电源，但第一个电源V1与第二个电源V2的输出电压的大小不同。第一个电源V1、第二个电源V2…第N个电源VN用于作为供电电源。

第一个第一开关支路S11、第二个第一开关支路S12…第N个第一开关支路S1N还均连接至待测试设备200。当第一个第一开关支路S11导通时，第一个电源V1为待测试设备200供电；当第二个第一开关支路S12导通时，第二个电源V2为待测试设备200供电…当第N个第一开关支路S1N导通时，第N个电源VN为待测试设备200供电。其中，第一个第一开关支路S11、第二个第一开关支路S12…第N个第一开关支路S1N均包括至少一个开关。

第一个第二开关支路S21、第二个第二开关支路S22…第M个第二开关支路S2M均连接至待测试设备200。第一个第二开关支路S21还与第一个用电设备PD1连接，第二个第二开关支路S22还与第二个用电设备PD2连接，第M个第二开关支路S2M还与第M个用电设备PDM连接。当第一个第二开关支路S21导通时，待测试设备200为第一个用电设备PD1供电；当第二个第二开关支路S22导通时，待测试设备200为第二个用电设备PD2供电…当第M个第二开关支路S2M导通时，待测试设备200为第M个用电设备PDM供电。其中，第一个第二开关支路S21、第二个第二开关支路S22…第M个第二开关支路S2M均包括至少一个开关。第一个用电设备PD1、第二个用电设备PD2…第M个用电设备PDM可以为相同类型的用电设备，也可以为不同类型的用电设备。例如，在一实施方式中，N=3，第一个用电设备PD1为直流输入的用电设备，第二个用电设备PD2为交流输入的用电设备，第三个用电设备为交流输入的交流模拟电源。又如，在另一实施方式中，N=2，第一个用电设备PD1与第二个用电设备PD2均为直流输入的用电设备，但第一个用电设备PD1与第二个用电设备PD2的输入电压的大小不同。

控制模块10分别与N个第一开关支路及M个第二开关支路连接，即控制模块10分别与第一个第一开关支路S11、第二个第一开关支路S12…第N个第一开关支路S1N、第一个第二开关支路S21、第二个第二开关支路S22…第M个第二开关支路S2M连接。控制模块10还与待测试设备200通讯连接。控制模块10用于获取待测试设备200的类型，并根据待测试设备的类型控制第一个第一开关支路S11、第二个第一开关支路S12…第N个第一开关支路S1N、第一个第二开关支路S21、第二个第二开关支路S22…第M个第二开关支路S2M的通断(即导通或关断)。

具体地，在获取到待测试设备200的类型之后，可确定与待测试设备200的类型所对应的电源与用电设备。继而，可控制连接在待测试设备200与对应的电源之间的第一开关支路导通，以及控制连接在待测试设备200与对应的用电设备之间的第二开关支路导通。进而可通过对应的电源对该待测试设备200进行供电，以及可通过该待测试设备200为对应的用电设备供电，并可进一步实现对该待测试设备200的检测。从而，在对不同的待测试设备200进行测试时，只需导通对应的第一开关支路与第二开关支路，就能够实现对待测试设备200进行ATE测试，具有较强的实用性。

在一实施例中，控制模块进一步用于：若待测试设备200的类型分别与第j个第一开关支路以及第k个第二开关支路对应，则控制第j个第一开关支路与第k个第二开关支路导通，并控制其他的第一开关支路与第二开关支路断开。待测试设备200的类型分别与第j个第一开关支路以及第k个第二开关支路对应，表示当第j个第一开关支路导通时，第j个第一开关支路所连接的电源能够为待测试设备200进行供电，并且当第k个第二开关支路导通时，待测试设备200能够为第k个第二开关支路所连接的用电设备供电。

其中，j与k均为≥1的整数，且j≤N，k≤M。第j个第一开关支路为N个第一开关支路中的任一第一开关支路，第k个第二开关支路为M个第二开关支路中的任一第二开关支路。

例如，在一实施方式中，待测试设备200为光伏逆变器(光伏逆变器的输入为直流，输出为交流)，则与待测试设备200的类型所对应的电源为直流电源，与待测试设备200的类型所对应的用电设备为交流输入的模拟电源。继而，若第一个电源V1为直流电源，且第一个用电设备PD1为交流输入的模拟电源，则j=k=1，即光伏逆变器分别与第一个第一开关支路S11及第一个第二开关支路S21对应。继而，控制模块10导通第一个第一开关支路S11与第一个第二开关支路S21，则能够进一步实现对光伏逆变器的ATE测试。又如，在另一实施方式中，待测试设备200为直流转直流设备(直流转直流设备的输入与输出均为直流)，则与待测试设备200的类型所对应的电源为直流电源，与待测试设备200的类型所对应的用电设备为直流输入的用电设备。继而，若保持第一个电源V1为直流电源，并设置第二个用电设备PD2为直流输入的用电设备，则j=1，且k=2，即直流转直流设备分别与第一个第一开关支路S11及第二个第二开关支路S22对应。继而，控制模块10导通第一个第一开关支路S11与第二个第二开关支路S22，从而能够进一步实现对直流转直流设备的ATE测试。

在一实施例中，如图2所示，控制模块10还用于进一步执行以下方法步骤：

步骤201：根据待测试设备上的标记获取待测试设备的类型与机型。

其中，待测试设备200上的标记可以为二维码或条形码等，只需能够实现对待测试设备200的识别即可。以条形码为例，控制模块10能够通过扫描设置于待测试设备200上的条形码，则可获取待测试设备的类型与机型。

步骤202：获取第一测试指令。

步骤203：若第一测试指令对应的类型与所识别的待测试设备的类型相同，且第一测试指令对应的机型与所识别的待测试设备的机型相同，则根据待测试设备的类型控制N个第一开关支路与M个第二开关支路的通断。

其中，第一测试指令可以为用户所输入的指令。

具体为，在控制模块10自动获取到待测试设备200的类型与机型之后，可将待测试设备200的类型与机型进行显示并供用户确定是否与实际的类型及机型符合。继而，若用户确定控制模块10获取到的待测试设备200的类型与实际的待测试设备200的类型相同，且控制模块10获取到的待测试设备200的机型与实际的待测试设备200的机型相同，则用户输入的第一测试指令为确定的指令。换言之，此时第一测试指令对应的类型与控制模块10所获取到的待测试设备200的类型相同，且第一测试指令对应的机型与控制模块10所获取到的待测试设备200的机型相同。

反之，若用户确定控制模块10获取到的待测试设备200的类型与实际的待测试设备200的类型不同，和/或，控制模块10获取到的待测试设备200的机型与实际的待测试设备200的机型不同，则用户输入的第一测试指令为取消的指令。换言之，此时第一测试指令对应的类型与控制模块10所获取到的待测试设备200的类型不同，和/或，第一测试指令对应的机型与控制模块10所获取到的待测试设备200的机型不同。

在该实施例中，先自动识别待测试设备200的类型与机型，再由用户进行进一步确认，能够降低因标记错误等异常而导致类型与机型识别错误的风险，从而降低待测试设备200因电源不适配而被损坏的风险，有利于对测试***100与待测试设备200起到保护作用。

在另一实施例中，如图3所示，在控制模块10执行步骤203中根据待测试设备的类型控制N个第一开关支路与M个第二开关支路的通断的过程之前，亦即，在控制模块10确定第一测试指令对应的类型与所识别的待测试设备的类型相同，且第一测试指令对应的机型与所识别的待测试设备的机型相同之后，控制模块10还进一步执行以下方法步骤：

步骤301：获取第二测试指令。

步骤302：根据第二测试指令确定对待测试设备进行测试的测试类型，并获取测试类型中J个测试项目的基准参数。

步骤303：根据待测试设备的机型获取K个测试项目。

其中，J为≥1的整数，K为≥1的整数，且K个测试项目为J个测试项目中的至少部分测试项目，即K≤J。第二测试指令同样可以为用户所输入的指令。

具体地，在控制模块10确定第一测试指令对应的类型与所识别的待测试设备200的类型相同，且第一测试指令对应的机型与所识别的待测试设备200的机型相同之后，用户可根据需求的测试类型输入对应的第二测试指令。继而，控制模块10根据所接收到的第二测试指令可确定测试类型。而每一种测试类型中的测试项目及各测试项目的基准参数预先设置于控制模块10中，则在控制模块10确定测试类型之后，能够直接获取测试类型中J个测试项目的基准参数。其中，在一实施方式中，可将J个测试项目的基准参数作为参数库保存，以便于在需要时可直接进行调用，并且在由于待测试设备200进行更换或更新等原因而需要修改基准参数时，只需对应修改参数库中的基准参数，而无需修改对待测试设备200进行测试的程序，修改更加方便，出错的风险也较低。

其中，基准参数用于作为各测试项目的测试结果是否正常的判断标准。同时，任一测试项目的基准参数可以为具体的数值，例如，测试项目为测试待测试设备200的额定输出功率，则基准参数可以为X瓦，其中X为具体的数值，继而，在根据该测试项目对待测试设备200进行测试时，可根据所检测到待测试设备200的额定输出功率与基准参数之间的关系确定测试结果是否正常；任一测试项目的基准参数还可以为相应功能是否正常(此时基准参数为是或否)，例如，测试项目为当与待测试设备200连接的用电设备改变时，待测试设备200保持输出的功能是否正常，则测试参数可以为是，继而在根据该测试项目对待测试设备200进行测试时，通过改变用电设备，以检测待测试设备200是否继续保持输出即可确定测试结果是否正常。

在一实施方式中，测试类型包括整机***测试、安规并网测试与生产测试三种类型。其中，整机***测试包括对待测试设备200整体性能的测试及对待测试设备200所适用的应用场景测试，例如，测试待测试设备200的最大输入电压、测试待测试设备200对于电网的适应性或并网参数测试等；安规并网测试用于测试待测试设备200是否满足各个国家的安规并网标准；生产测试也可以包括性能测试与并网测试等，生产测试的测试项目为整机***测试中的部分测试项目，用于在多个待测试设备200生产完成时进行抽样测试。

例如，在一些实施方式中，测试类型为整机***测试，测试类型中J个测试项目的基准参数可如表1所示：

表1

其中，表1中示出了在一个类型下，最大输入功率分别为90000W、105000W与120000W三个机型(分别对应机型D1、机型D2与机型D3)的基准参数。例如，待测试设备200的类型为直流转交流光伏逆变器，表1中示出了最大输入功率分别为90000W、105000W与120000W三个机型的直流转交流光伏逆变器的基准参数。

在该实施例中，示例性示出了基准参数包括与待测试设备200输入相关的参数、与待测试设备200输出相关的参数、与待测试设备200效率相关的参数、与待测试设备200保护功能相关的参数。而在其他的实施例中，用户也可以根据需求设置相应的参数，本申请实施例对此不作具体限制。

其中，机型D1的测试项目可如表2所示：

表2

机型D2的测试项目可如表3所示：

表3

机型D3的测试项目可如表4所示：

表4

其中，在该实施例中，表1中包含所有测试项目以及各机型的基准参数。而表2-表4为一个机型的测试项目，每个机型的测试项目为表1中的测试项目的部分或者全部，如表2对应的机型D1的测试项目包括表1中的全部测试项目，而表3与表4对应的机型D2与机型D3则包括表1中的部分测试项目。并且，对于不同机型所设置的测试项目也可由用户根据需求对应设置，本申请实施例对此不作具体限制。同时，不同机型所设置的项目可以相同，也可以不同，例如，机型D1与进行D2的测试项目不同，而机型D2与机型D3的测试项目相同。

综上，在待测试设备200的类型保持不变时，各个机型的测试项目为测试类型中J个测试项目中的至少部分测试项目，则各个机型的测试项目均能够查找到相应的基准参数，以完成对各个机型的测试过程。同时，不同的机型可以设置不同的测试项目，以便于用户可根据不同的需求设置不同的测试项目，即能够满足用户的不同需求，具有较强的实用性。其次，若在控制N个第一开关支路与M个第二开关支路的通断之后，才进行基准参数与测试项目的设置，由于至少存在一个第一开关支路与第二开关支路导通，则会导致额外的功率损耗，换言之，在控制N个第一开关支路与M个第二开关支路的通断之前，先将基准参数与测试项目都预先设置，有利于减少功率损耗。

进一步地，在将基准参数与测试项目都设置完成之后，可实现控制N个第一开关支路与M个第二开关支路的通断，以对待测试设备200进行测试。

具体地，在一实施方式中，若待测试设备200的类型分别与第j个第一开关支路以及第k个第二开关支路对应，则首先控制第j个第一开关支路导通，控制模块10再控制与第j个第一开关支路连接的电源输出电压。接着，可通过控制模块10与待测试设备200进行通讯连接，以使控制模块10获取待测试设备200的电压与电流，并对待测试设备200进行电压校准与电流校准。具体为，首先可增加用于测试待测试设备200的电压与电流的检测设备，例如功率分析仪。以功率分析仪为例，功率分析仪实时检测待测试设备200输入的电压与电流，并以功率分析仪检测的结果作为参考值，控制模块10输出信号控制待测试设备，以实时校准待测试设备200的电压与电流，直至控制模块10所获取到的待测试设备200的电压、电流均与对应的参考值相等，从而完成待测试设备200的输入电压与输入电流的校准过程。

在一实施例中，还可采用多个电压与多个电流对待测试设备200进行校准。以电压校准的过程为例，待测试设备200的输入电压范围为50V-60V，则可以选择50V、55V与60V进行电压校准，在电源输出50V时，功率分析仪检测到50V，控制模块10所获取到的待测试设备200的电压应校准至50V；在电源输出55V时，功率分析仪检测到55V，控制模块10所获取到的待测试设备200的电压应校准至55V；在电源输出60V时，功率分析仪检测到60V，控制模块10所获取到的待测试设备200的电压应校准至60V。以此，还实现了对待测试设备200的输入电压的线性校准过程，能够使待测试设备200在不同输入电压下进行测试时均具有较高的精确度。并且，在电压校准的过程中可同时实现对电流的校准过程，例如，可在电源输出55V时，控制模块10调整待测试设备200具有不同的输入电流，并将功率分析仪所检测到的电流作为电流的基准值，具体实现过程与电压校准的过程类似，这里不再赘述，并且同样实现了对电流的线性校准过程。

继而，控制第k个第二开关支路导通。此时，同样可对待测试设备200的输出电压与输出电流进行校准。具体可通过调节与第k个第二开关支路连接的用电设备的功率，以在不同功率下校准待测试设备200的输出电压，从而在不同功率下使待测试设备200的输出电压能够匹配用电设备所需的供电电压。具体实现过程与对待测试设备200的输入电压与输入电流的线性校准过程类似，并且同样实现了线性校准的过程，能够使待测试设备200在不同用电设备下进行测试时均具有较高的精确度。在完成待测试设备200的输出电压的校准过后，调节用电设备的功率，以使用电设备能够满足当前的测试需求。

接着，可开始对待测试设备200进行测试。在一实施例中，在控制N个第一开关支路与M个第二开关支路的通断之后，控制模块10还用于：根据K个测试项目依次对待测试设备200进行测试，直至K个测试项目均测试完成。其中，若K个测试项目中第n个测试项目的测试结果与对应的基准参数相同，或K个测试项目中第n个测试项目的测试结果与对应的基准参数之间的差值在对应的预设范围内，则确定第n个测试项目的测试结果正常，否则确定第n个测试项目的测试结果异常。其中，n为≥1的整数，且n≤K。

具体地，在采用K个测试项目依次对待测试设备200进行测试的过程中，即使出现测试项目的测试结果异常，也不会停止测试过程，即保持继续进行测试，以提高测试的效率。

其中，若任一测试项目的基准参数为具体的数值，则判断测试结果是否正常的标准为：K个测试项目中第n个测试项目的测试结果与对应的基准参数之间的差值在对应的预设范围内。例如，在一实施例中，如表1所示，第n个测试项目为测试待测试设备D1的最大输入功率，此时对应的基准参数为90000W，则对应的预设范围可以设置为[-100W，100W]，亦即，若检测到待测试设备D1的最大输入功率在[89900W，90100W]的范围内，可确定该测试项目的测试结果正常，反之则确定该测试项目的测试结果异常。

若任一测试项目的基准参数为相应功能是否正常的判断标准，则判断测试结果是否正常的标准为：K个测试项目中第n个测试项目的测试结果与对应的基准参数相同。例如，在一实施例中，第n个测试项目为测试待测试设备D1是否具有孤岛保护功能，若检测到待测试设备D1是具有孤岛保护功能，则确定该测试项目的测试结果正常，反之则确定该测试项目的测试结果异常。

同时，在另一些实施例中，控制模块10还用于：在K个测试项目进行测试的过程中，实时存储K个测试项目与对应的测试结果，并显示K个测试项目进行测试的总时长、K个测试项目中每个测试项目对应的测试结果以及K个测试项目中每个测试项目进行测试的时长。

在该实施例中，一方面，实时存储K个测试项目与对应的测试结果能够防止因停电等异常而导致数据的丢失，有利于提高测试的效率。另一方面，实时显示K个测试项目进行测试的总时长、K个测试项目中每个测试项目对应的测试结果以及K个测试项目中每个测试项目进行测试的时长，便于用户随时直观查看测试的进度，并且用户还能够根据各个项目的实际测试时长，在后续进行对测试项目进行针对性的优化，以进一步提高测试的效率。当然，在其他的实施例中，也可以采用其他的方式对数据进行保持或展示，本申请实施例对此不作具体限制，例如，在一实施方式中，在开始测试后，自动生成测试的文件夹，并根据测试项目与测试结果自动生成表单，以供用户查阅。

在一实施例中，控制模块10还用于：在K个测试项目均测试完成后，将测试结果异常的测试项目进行再次测试。显示K个测试项目中每个测试项目的测试结果，并根据K个测试项目中每个测试项目的测试结果生成测试报告，将测试报告进行保存。

具体地，在K个测试项目均测试完成第一遍之后，将当前测试结果异常的测试项目再次进行测试，以减少误测的几率。并且，在测试结果异常的测试项目中，若存在因无输出信号而导致测试结果异常，则不再对该测试项目进行第二次测试，以提高测试的效率。例如，测试项目为待测试设备200的额定输出功率，若在实际测试过程中待测试设备200的输出功率为零或接近于零，该测试项目的测试结果异常，并且在K个测试项目均测试完成第一遍之后，不再对该测试项目再次进行测试。

继而，在当前测试结果异常的测试项目再次进行测试完成之后，显示K个测试项目中每个测试项目的测试结果，并根据K个测试项目中每个测试项目的测试结果生成测试报告，将测试报告进行保存，其中，测试包括可包括图片与数据等内容。在一实施方式中，可将测试报告保存在云端的服务器中，以方便用户随时进行查看。

在一实施例中，控制模块10还用于：获取远程控制指令，并执行与远程控制指令对应的操作。

具体地，用户不仅可以在直接控制控制模块10执行相应的操作，还可以通过远程实现控制控制模块10执行相应的操作。

例如，当用户需要远程控制第j个第一开关支路以及第k个第二开关支路导通时，可输出与控制第j个第一开关支路以及第k个第二开关支路导通对应的远程控制指令，继而，控制模块10在接收到远程控制指令后，能够自动执行控制第j个第一开关支路以及第k个第二开关支路导通。

又如，当用户需要远程查看各测试项目的测试进程时，可输出与获取各测试项目的测试进程对应的远程控制指令，继而，控制模块10将各测试项目的测试进程发送到对应的显示界面上，以供用户查看。

再如，上述实施例中的第一测试指令与第二测试指令也可以作为远程控制指令发送至控制模块10。

在该实施例中，提供了远程控制控制模块10的方式，能够方便于用户在各种应用场景下实现对待测试设备200的测试过程，具有较强的实用性。

请参照图4，图4中示例性示出了各第一开关支路与第二开关支路的一种结构。如图4所示，第一开关支路与第二开关支路均包括两个开关。

以第一个第一开关支路S11与第一个第二开关支路S12为例。而其他第一开关支路与第二开关支路的具体实现方式可对应参照第一个第一开关支路S11与第一个第二开关支路S12的实现方式，这里不再赘述。

其中，第一个第一开关支路S11中的第一个开关S111连接于对应电源的正输出端(即第一个电源V1的第1端)与待测试设备200的正输入端(即待测试设备200的第1端)之间，第一个第一开关支路S11中的第二个开关S112连接于对应电源的负输出端(即第一个电源V1的第2端)与待测试设备的负输入端(即待测试设备200的第2端)之间。第一个第二开关支路S21中的第一个开关S211连接于待测试设备200的正输出端(即待测试设备200的第3端)与对应用电设备的正输入端(即第一个用电设备PD1的第1端)之间，第一个第二开关支路S21中的第二个开关S212连接于待测试设备200的负输出端(即待测试设备200的第3端)与对应用电设备的负输入端(即第一个用电设备PD1的第1端)之间。

在该实施例中，通过在每个设备(包括电源、待测试设备与用电设备)的进行电能传输的端口均设置了开关，有利于防止不同设备之间的电能互相干扰，能够提高该测试***100的可靠性。

在一实施例中，如图5所示，该测试***100还包括功率分析模块40与波形显示模块50。

其中，功率分别模块40分别与待测试设备200的正输入端、待测试设备200的正输出端以及控制模块10连接，功率分析模块40用于检测待测试设备200的输入功率与输出功率，并将检测的结果输入至控制模块10。在一实施方式中，功率分析模块40可以为功率分析仪。

波形显示模块50分别与待测试设备200的正输入端、待测试设备200的正输出端及控制模块10连接，波形显示模块50用于检测待测试设备200的输出波形，并将其输入至控制模块10中。在一实施方式中，波形显示模块50可以为示波器。

需要说明的是，如图4或图5所示的测试***100的硬件结构仅是一个示例，并且，测试***100可以具有比图中所示出的更多的或者更少的部件，可以组合两个或更多的部件，或者可以具有不同的部件配置，图中所示出的各种部件可以在包括一个或多个信号处理和/或专用集成电路在内的硬件、软件、或硬件和软件的组合中实现。

例如，如图6所示，在一实施例中，图5中所述的各元器件(包括控制模块10、功率分析模块40与波形显示模块50等元器件)之间还可进行通讯连接。其中，为了实现控制模块10对N个电源及M个用电设备之间的信号传输，可设置通讯模块60。即测试***100还包括通讯模块60，通讯模块60与控制模块10通讯连接，N个电源与M个用电设备通过网线等通讯线连接至通讯模块60，并通过通讯模块60建立与控制模块10的通讯连接。其中，在一实施方式中，通讯模块60可以为交换机。与此同时，若功率分析模块40、控制模块10之间的连接也为通讯连接，则功率分析模块40也可通过通讯模块60建立与控制模块10的通讯连接，以将所检测到的电压与电流传输至控制模块10。待测试设备200可通过串口线等通讯线直接连接至控制模块10，以实现与控制模块10的通讯连接。波形显示模块50也可通过USB线等通讯线连接至控制模块10，以实现与控制模块10的通讯连接。

请参照图7，图7为本申请实施例提供的测试方法的流程图。其中，该测试方法用于对待测试设备进行测试。其中，在一些实施方式中，这里的测试方法的具体实现过程可通过如图1、图4或图5所示的电路结构实现，具体实现过程在上述实施例已进行详细描述，这里不再赘述。

该测试方法包括以下步骤：

步骤701：获取待测试设备的类型。

步骤702：确定与待测试设备的类型对应的电源与用电设备，并将待测试设备的类型连接在对应的电源与用电设备之间，以对待测试设备进行测试。

其中，对应的电源指能够为待测试设备提供与之匹配的电源，例如，对于直流输入的待测试设备而言，对应的电源为直流输出的电源；对应的用电设备指待测试设备所提供的电源能与之匹配的设备，例如，对于交流输出的待测试设备而言，对应的用电设备可以为交流输入的设备。因此，在对不同的待测试设备进行测试时，只需在确定待测试设备的类型之后，就能够确定所需连接的电源与用电设备。继而，可将待测试设备分别与对应的电源及用电设备连接，后续即可对待测试设备进行测试。从而实现了对不同的待测试设备进行ATE测试，具有较强的实用性。

在一实施例中，该测试方法还包括以下步骤：获取待测试设备的机型。获取对待测试设备进行测试的测试类型，并获取测试类型中J个测试项目的基准参数。确定与待测试设备的机型对应的K个测试项目。根据J个测试项目的基准参数与K个测试项目对待测试设备进行测试。其中，K为≥1的整数，且K≤J。

应理解，方法实施例中对待测试设备的具体控制以及产生的有益效果，可以参考上述测试***的实施例中的相应描述，为了简洁，这里不再赘述。

请参照图8，图8为本申请另一实施例示出的控制模块10的结构示意图。其中，控制模块10可以采用微控制单元（Microcontroller Unit，MCU）、数字信号处理（DigitalSignal Processing，DSP）控制器、微型机、台式机、一体机、笔记本电脑等实现。

如图8所示，控制模块10包括至少一个处理器11以及存储器12，其中，存储器12可以内置在控制模块10中，也可以外置在控制模块10外部，存储器12还可以是远程设置的存储器，通过网络连接所述控制模块10。

存储器12作为一种非易失性计算机可读存储介质，可用于存储非易失性软件程序、非易失性计算机可执行程序以及模块。存储器12可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作***、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储根据终端的使用所创建的数据等。此外，存储器12可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实施例中，存储器12可选包括相对于处理器11远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至终端。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

处理器11通过运行或执行存储在存储器12 内的软件程序和/或模块，以及调用存储在存储器12内的数据，执行终端的各种功能和处理数据，从而对终端进行整体监控，例如实现本申请任一实施例所述的测试方法。

处理器11可以为一个或多个，图8中以一个处理器11为例。处理器11和存储器12可以通过总线或者其他方式连接。处理器11可包括中央处理单元(CPU)、数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、控制器、现场可编程门阵列(FPGA)设备等。处理器11还可以被实现为计算设备的组合，例如，DSP与微处理器的组合、多个微处理器、结合DSP核心的一个或多个微处理器、或者任何其它此类配置

本申请实施例还提供一种非易失性计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，当计算机可执行指令被处理器执行时，使处理器执行如上任一实施例中的测试方法。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；在本申请的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，步骤可以以任意顺序实现，并存在如上所述的本申请的不同方面的许多其它变化，为了简明，它们没有在细节中提供；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围。

Claims (11)

1.一种测试***，其特征在于，用于对待测试设备进行测试，所述测试***包括：

N个电源、第一开关模块、第二开关模块与M个用电设备，所述N个电源依次通过所述第一开关模块、所述待测试设备与所述第二开关模块连接至所述M个用电设备；

其中，所述第一开关模块包括N个第一开关支路，且所述N个第一开关支路与所述N个电源一一对应连接，所述第二开关模块包括M个第二开关支路，且所述M个第二开关支路与所述M个用电设备一一对应连接，N与M均为＞1的整数；

控制模块，所述控制模块分别与所述N个第一开关支路及所述M个第二开关支路连接，所述控制模块还与所述待测试设备通讯连接；

所述控制模块用于：

根据所述待测试设备上的标记获取所述待测试设备的类型与机型；

获取第一测试指令；

若所述第一测试指令对应的类型与所获取的所述待测试设备的类型相同，且所述第一测试指令对应的机型与所获取的所述待测试设备的机型相同，则根据所述待测试设备的类型控制所述N个第一开关支路与所述M个第二开关支路的通断。

2.根据权利要求1所述的测试***，其特征在于，所述控制模块进一步用于：

若所述待测试设备的类型分别与第j个第一开关支路以及第k个第二开关支路对应，则控制所述第j个第一开关支路与第k个第二开关支路导通，并控制其他的第一开关支路与第二开关支路断开，其中，所述第j个第一开关支路为所述N个第一开关支路中的任一第一开关支路，所述第k个第二开关支路为所述M个第二开关支路中的任一第二开关支路，其中，j与k均为≥1的整数，且j≤N，k≤M。

3.根据权利要求1或2所述的测试***，其特征在于，所述第一开关支路与所述第二开关支路均包括两个开关；

所述第一开关支路中的第一个开关连接于对应电源的正输出端与所述待测试设备的正输入端之间，所述第一开关支路中的第二个开关连接于对应电源的负输出端与所述待测试设备的负输入端之间；

所述第二开关支路中的第一个开关连接于待测试设备的正输出端与对应用电设备的正输入端之间，所述第二开关支路中的第二个开关连接于待测试设备的负输出端与对应用电设备的负输入端之间。

4.根据权利要求1所述的测试***，其特征在于，在所述根据所述待测试设备的类型控制所述N个第一开关支路与所述M个第二开关支路的通断之前，所述控制模块还用于：

获取第二测试指令；

根据所述第二测试指令确定对所述待测试设备进行测试的测试类型，并获取所述测试类型中J个测试项目的基准参数，其中，J为≥1的整数；

根据所述待测试设备的机型获取K个测试项目，其中，K为≥1的整数，且所述K个测试项目为所述J个测试项目中的至少部分测试项目。

5.根据权利要求4所述的测试***，其特征在于，在根据所述待测试设备的类型控制所述N个第一开关支路与所述M个第二开关支路的通断之后，所述控制模块还用于：

根据所述K个测试项目依次对待测试设备进行测试，直至所述K个测试项目均测试完成；

其中，若所述K个测试项目中第n个测试项目的测试结果与对应的基准参数相同，或所述K个测试项目中第n个测试项目的测试结果与对应的基准参数之间的差值在对应的预设范围内，则确定所述第n个测试项目的测试结果正常，否则确定所述第n个测试项目的测试结果异常，其中，n为≥1的整数，且n≤K。

6.根据权利要求5所述的测试***，其特征在于，所述控制模块还用于：

在所述K个测试项目进行测试的过程中，实时存储所述K个测试项目与对应的测试结果，并显示所述K个测试项目进行测试的总时长、所述K个测试项目中每个测试项目对应的测试结果以及所述K个测试项目中每个测试项目进行测试的时长。

7.根据权利要求5或6所述的测试***，其特征在于，所述控制模块还用于：

在所述K个测试项目均测试完成后，将测试结果异常的测试项目进行再次测试；

显示所述K个测试项目中每个测试项目的测试结果，并根据所述K个测试项目中每个测试项目的测试结果生成测试报告，将所述测试报告进行保存。

8.根据权利要求1所述的测试***，其特征在于，所述控制模块还用于：

获取远程控制指令，并执行与所述远程控制指令对应的操作。

9.一种测试方法，其特征在于，用于对待测试设备进行测试，所述测试方法包括：

获取所述待测试设备的类型；

确定与所述待测试设备的类型对应的电源与用电设备，并将所述待测试设备的类型连接在对应的电源与用电设备之间，以对所述待测试设备进行测试；

获取所述待测试设备的机型；

获取对所述待测试设备进行测试的测试类型，并获取所述测试类型中J个测试项目的基准参数；

确定与所述待测试设备的机型对应的K个测试项目，其中，J为≥1的整数；

根据所述J个测试项目的基准参数与所述K个测试项目对所述待测试设备进行测试，其中，K为≥1的整数，且K≤J。

10.一种控制模块，其特征在于，包括：

至少一个处理器以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求9所述的方法。

11.一种非易失性计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，当所述计算机可执行指令被处理器执行时，使所述处理器执行权利要求9所述的方法。

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