CN115079676B - 一种双控制板fct***及其测试方法 - Google Patents

一种双控制板fct***及其测试方法 Download PDF

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Abstract

本发明涉及双MCU变频合板PCBA测试技术领域，提供了一种双控制板FCT***及其测试方法，***包括：第一控制板、第二控制板、显示板、专用治具、电路板、第一微控制单元、第二微控制单元、继电器以及智能终端；电路板安装在专用治具上，第一微控制单元、第二微控制单元分别与电路板电连接，第一控制板分别与显示板、智能终端、第一微控制单元及第二控制板通信连接，第一微控制单元与第二微控制单元通信连接，继电器的输入回路与第二控制板连接，继电器的输出回路与第二微控制单元连接；第一控制板用于测试第一微控制单元的I/O口，第二控制板用于测试第二微控制单元的I/O口。本发明测试效率高，成本低，适用范围广。

Description

一种双控制板FCT***及其测试方法
技术领域
本发明涉及双MCU变频合板PCBA测试技术领域，尤其涉及一种双控制板FCT***及其测试方法。
背景技术
现在智能设备控制器应用越来越普及，通用FCT***也在PCBA生产线开始普及。FCT（功能测试）指的是对测试目标板(UUT：Unit Under Test)提供模拟的运行环境（激励和负载），使其工作于各种设计状态，从而获取到各个状态的参数来验证UUT的功能好坏的测试方法。简单地说，就是对UUT加载合适的激励，测量输出端响应是否合乎要求。
然而，对于双MCU的变频合板，由于测试项目多，使用通用FCT，存在测试速度慢，时间长，效率低的缺点。
发明内容
针对以上相关技术的不足，本发明提出一种对PCBA测试效率高、成本低、使用效果好的双控制板FCT***及其测试方法。
为了解决上述技术问题，第一方面，本发明实施例提供了一种双控制板FCT***，包括：第一控制板、第二控制板、显示板、专用治具、电路板、第一微控制单元、第二微控制单元、继电器以及智能终端；所述电路板安装在所述专用治具上，所述第一微控制单元、所述第二微控制单元分别与所述电路板电连接，所述第一控制板分别与所述显示板、所述智能终端、所述第一微控制单元及所述第二控制板通信连接，所述第一微控制单元与所述第二微控制单元通信连接，所述继电器的输入回路与所述第二控制板连接，所述继电器的输出回路与所述第二微控制单元连接；所述第一控制板用于测试所述第一微控制单元的I/O口，所述第二控制板用于测试第二微控制单元的I/O口，且测试完成后将测试结果发送到所述第一控制板上，所述第一控制板收到所述第二控制板的测试结果并与所述第一控制板的测试结果汇总后，统一发送至所述显示板显示最终测试结果。
优选的，所述第一控制板上设置有第一串口、第二串口、第三串口及第四串口，所述第一串口与所述显示板连接，所述第二串口与所述第一微控制单元连接，所述第三串口与所述第二控制板连接，所述第四串口与所述智能终端连接。
优选的，所述继电器为延时闭合继电器。
优选的，所述第一微控制单元的I/O口包括输入开关口及输入温度口；所述第二微控制单元的I/O口包括PFC开关测试口及IPM测试口。
优选的，所述第二控制板上设置有第五串口、第六串口和第七串口，所述第五串口与所述第一控制板连接，所述第六串口与所述继电器的所述输出回路连接，所述第七串口与所述继电器的输入回路连接。
优选的，所述电路板为PCBA板，所述第一微控制单元为第一MCU，所述第二微控制单元为第二MCU。
第二方面，本发明实施例还提供一种双控制板FCT***的测试方法，所述测试方法包括以下步骤：
S1、按下测试按钮；
S2、第一控制板的测试程序启动电路板上电；
S3、通过所述第一控制板与所述电路板的第一微控制单元的第一串行接口通信连接，用于测试所述第一微控制单元的I/O口；
S4、通过所述电路板的所述第一微控制单元的第二串行接口与所述电路板的第二微控制单元通信连接，通信完毕，保持静默；
S5、所述第一控制板启动第二控制板的测试程序，所述第二控制板控制继电器的输出回路闭合，所述第二控制板通过所述第六串口与所述电路板的所述第二微控制单元通信连接，开始测试所述第二微控制单元的I/O口；
S6、所述第一控制板接收所述第二控制板的测试结果；
S7、通过所述第一控制板将接收到的所述第二控制板的测试结果与所述第一控制板的测试结果汇总后，统一发送至显示板；
S8、所述显示板显示最终测试结果；
S9、所述第一控制板测试程序根据所述最终测试结果控制所述电路板断电。
与相关技术相比，本发明通过第一控制板、第二控制板、显示板、专用治具、电路板、第一微控制单元、第二微控制单元、继电器以及智能终端；通过按下启动测试开关，所述第一控制板的测试程序启动，所述第一控制板直接与所述电路板上的所述第一微控制单元通信开始测试，用于测试与第一微控制单元相关的功能I/O；所述第一控制板与所述第二控制板相连接，启动所述第二控制板也开始测试，所述第二控制板通过所述继电器与所述第二微控制单元通信，用于测试与第二微控制单元相关的功能I/O；当所述第二控制板测试完成后将测试结果发送到所述第一控制板上，所述第一控制板收到所述第二控制板测试结果并与自身的测试结果汇总后，统一发送所述显示板显示最终测试结果，测试结束；通过双控制板对接PCBA的双MCU进行测试，当需要测试双MCU变频合板PCBA时，由于双控制板并行测试，极大地提高了测试速度；当需要测试普通单MCU的PCBA时，撤除增加的控制板，不影响原单控制板FCT的使用；采用模块化的结构，降低了硬件开发难度，开发速度快，费用低，适应范围广。
附图说明
下面结合附图详细说明本发明。通过结合以下附图所作的详细描述，本发明的上述或其他方面的内容将变得更清楚和更容易理解。附图中：
图1为本发明双控制板FCT***的结构示意图；
图2为本发明双控制板FCT***的测试方法的流程图。
图中，1、第一控制板，2、第二控制板，3、专用治具，4、第一微控制单元，5、第二微控制单元，6、电路板，7、继电器，8、显示板，9、智能终端，10、第一串口，11、第二串口，12、第三串口，13、第四串口，14、第五串口，15、第六串口，16、第七串口。
具体实施方式
下面结合附图详细说明本发明的具体实施方式。
在此记载的具体实施方式/实施例为本发明的特定的具体实施方式，用于说明本发明的构思，均是解释性和示例性的，不应解释为对本发明实施方式及本发明范围的限制。除在此记载的实施例外，本领域技术人员还能够基于本申请权利要求书和说明书所公开的内容采用显而易见的其它技术方案，这些技术方案包括采用对在此记载的实施例的做出任何显而易见的替换和修改的技术方案，都在本发明的保护范围之内。
实施例一
请参考图1所示，其中，图1为本发明双控制板FCT***的结构示意图。
本发明提供一种双控制板FCT***，所述双控制板FCT***包括：第一控制板1、第二控制板2、显示板8、专用治具3、电路板6、第一微控制单元4、第二微控制单元5、继电器7以及智能终端9；所述电路板6安装在所述专用治具3上，所述第一微控制单元4、所述第二微控制单元5分别与所述电路板6电连接，所述第一控制板1分别与所述显示板8、所述智能终端9、所述第一微控制单元4及所述第二控制板2通信连接，所述第一微控制单元4与所述第二微控制单元5通信连接，所述继电器7的输入回路与所述第二控制板2连接，所述继电器7的输出回路与所述第二微控制单元5连接；所述第一控制板1用于测试所述第一微控制单元4的I/O口，所述第二控制板2用于测试第二微控制单元5的I/O口，且测试完成后将测试结果发送到所述第一控制板1上，所述第一控制板1收到所述第二控制板2的测试结果并与所述第一控制板1的测试结果汇总后，统一发送至所述显示板8显示最终测试结果，测试结束。
其中，智能终端9可以是电脑，手机等。显示板8可以是液晶显示屏，LED（Light-Emitting Diode）显示屏等。
具体的，专用治具3用于安装双MCU的电路板6，电路板6上设置第一微控制单元4和第二微控制单元5，第一微控制单元4与第二微控制单元5之间相互通信连接。第一控制板1与第一微控制单元4连接，用于测试第一微控制单元4的I/O口。第二控制板2与第二微控制单元5连接，用于测试第二微控制单元5的I/O口。其中，第一控制板1与第二控制板2之间相互通信连接，所述继电器7的输入回路与所述第二控制板2连接，所述继电器7的输出回路与所述第二微控制单元5连接。通过按下启动测试开关，所述第一控制板1的测试程序启动，所述第一控制板1直接与所述电路板6上的所述第一微控制单元4通信并开始测试，用于测试与第一微控制单元4相关的功能；所述第一控制板1与所述第二控制板2相连接，启动所述第二控制板2也开始测试，所述第二控制板2通过所述继电器7与所述第二微控制单元5通信，用于测试与第二微控制单元5相关的功能；当所述第二控制板2测试完成后将测试结果发送到所述第一控制板1上，所述第一控制板1收到所述第二控制板2测试结果与自身的测试结果汇总后，统一发送所述显示板8显示最终测试结果，测试结束。智能终端9与第一控制板1通信连接，方便智能终端9对控制的测试结果进存储、统计，并形成报表。这样通过双控制板对接PCBA的双MCU进行测试，当需要测试双MCU变频合板PCBA时，由于双控制板并行测试，极大地提高了测试速度；当需要测试普通单MCU的PCBA时，可撤除增加的控制板，不影响原单控制板FCT的使用；采用模块化的结构，降低了硬件开发难度，开发速度快，费用低，适应范围广。
在本实施例中，所述第一控制板1上设置有第一串口10、第二串口11、第三串口12及第四串口13，所述第一串口10与所述显示板8连接，所述第二串口11与所述第一微控制单元4连接，所述第三串口12与所述第二控制板2连接，所述第四串口13与所述智能终端9连接。通过在第一控制板1上分别设置的第一串口10、第二串口11、第三串口12及第四串口13，分别与显示板8、第一微控制单元4、第二控制板2及智能终端9连接，方便进行数据相互传输。
在本实施例中，所述继电器7为延时闭合继电器。延时继电器主要用于直流或交流操作的各种保护和自动控制线路中，作为辅助继电器，以增加触点数量和触点容量。可根据需要自由调节延时的时间。
在本实施例中，所述第一微控制单元4的I/O口包括输入开关口及输入温度口；所述第二微控制单元5的I/O口包括PFC开关测试口及IPM测试口。方便第一控制板1控制第一微控制单元4测试其I/O口得到的测试结果，第二控制板2控制第二微控制单元5测试其I/O口得到的测试结果，将测试结果通过第二控制板2汇总给显示板8显示。
在本实施例中，所述第二控制板2上设置有第五串口14、第六串口15和第七串口16，所述第五串口14与所述第一控制板1连接，所述第六串口15与所述继电器7的输出回路连接，所述第七串口16和所述继电器7的输入回路连接，所述第二控制板2通过所述第七串口16控制所述继电器7的输入回路的通断，从而控制所述继电器7的输出回路的通断；所述第六串口15用于在所述继电器7的输出回路闭合时实现所述第二控制板2和第二微控制单元5的通信连接。
在本实施例中，所述电路板6为PCBA板，所述第一微控制单元4为第一MCU，所述第二微控制单元5为第二MCU。其中，第一MCU为MCU1，第二MCU为MCU2。
具体的，将PCBA放入专用治具3后，第一控制板1和第二控制板2分别与PCBA通信，逐项检查温度、电流、电压、拨码开关、开关口、相序、记忆、通信项目、继电器、膨胀阀等，测试结果可以在显示板8查询。
具体的，通过第一控制板1与PCBA的MCU1的serial1通信，测试第一微控制板MCU1的I/O口，包括温度口、开关口、记忆口。第一控制板1启动第二控制板2的测试程序，第二控制板2控制继电器7闭合，第二控制板2的第六串口15与PCBA的MCU2通信，开始测试MCU2的I/O口，其包括PFC开关测试口、IPM输出测试口、短路过流测试口、IPM温度测试口。通过第二控制板2将测试结果通过第五串口14发送到第一控制板1上，第一控制板1将第二控制板2的测试结果与自身的测试结果汇总后，统一发送到显示板8上显示最终测试结果，测试结束。通过第一控制板1将最终测试结果发送到智能终端9上进行存储、统计，形成报表。
本发明的具体操作过程如下：
步骤1、根据所需测试电控板将FCT双控制板与对应的专用治具3连接。该FCT双控制板为第一控制板1和第二控制板2。
步骤2、将FCT双控制板连接电源。
步骤3、打开FCT双控制板的电源开关。
步骤4、测试开始前设置和配置；每个不同型号的产品测试前均需进行设置。
步骤41、参数设置，点击FCT测试仪参数设置即进入。其中，FCT测试仪与FCT双控制板连接。
a)温度设置：配5.1kΩ模拟测试电阻，温度设置值最大为26℃，最小为24℃。把不用测试的温度口设置为0。设置时点击最大值或最小值，在弹出框中输入需设置的最大值或最小值，然后点击确定即完成设置。实际测试中由工程人员负责设定。
b)电流设置：设置方法同温度设置。由于使用的电流对照表不一样，实际测试中由工程人员负责设定。对不用的电流口设置为0。
c)拨码开关四位是设置值5（0101），八位拨码开关设置为55（01010101）。其中，拨码值见下表。
Figure 147122DEST_PATH_IMAGE002
d)电压设置：设置方法同温度设置。220V设置最大250V，最小200V；5V电压设置最大55V，最小40V；12V电压设置由工程人员根据实际进行设置。
e)膨胀阀设置值255KW。
f)测试时间设置:选择相序测试时，设置25s；反之设置15s。
步骤42、测试配置。
a)开关口测试配置：点击所需测试的开关口，钩选。
b)相序测试:需测试时，点击钩选即可。
c)记忆测试：需测试时，点击钩选即可。
d)通信口测试：需测试时，点击钩选即可。
步骤5、所有被测电路板在FCT测试之前均需烧录测试程序或测试出货一体程序。
步骤6、开始测试，将被测电路板放入专用治具3，下压固定，点击测试（ON）按钮，FCT即开始自动测试。可以观察测试进度条，当显示100%时，此时蜂鸣器会响声(长响表示测试不合格，短响表示测试合格)。
步骤7、测试完成。
步骤71、显示测试合格或不合格。
步骤72、参数查询：点击参数查询，可以查询刚刚测试完的当前板的温度值、电流值、拨码开关状态值、220V、12V、5V电压值。
步骤73、故障查询：点击故障查询，可以查询刚刚测试完的当前板的不合格项。智能终端9对控制板的测试结果进行存储、统计，形成报表。通过双控制板对接PCBA的双MCU进行测试，当需要测试双MCU变频合板PCBA时，由于双控制板并行测试，极大地提高了测试速度；当需要测试普通单MCU的PCBA时，撤除增加的控制板，不影响原单控制板FCT的使用；采用模块化的结构，降低了硬件开发难度，开发速度快，费用低，适应范围广。
实施例二
请参照图1-2所示，图1为本发明双控制板FCT***的结构示意图；图2为本发明双控制板FCT***的测试方法的流程图。
本发明实施例还提供一种双控制板FCT***的测试方法，所述测试方法包括以下步骤：
S1、按下测试按钮。
S2、第一控制板1的测试程序启动电路板上电。
S3、通过所述第一控制板1与所述电路板的第一微控制单元4的第一串行接口serial1通信连接，用于测试所述第一微控制单元4的I/O口。
S4、通过所述电路板的所述第一微控制单元4的第二串行接口serial2与所述电路板的第二微控制单元5通信连接，通信完毕，保持静默。
S5、所述第一控制板1启动第二控制板2的测试程序，所述第二控制板2控制继电器7的输出回路闭合，第二控制板2通过第六串口15与所述电路板的所述第二微控制单元5通信连接，开始测试所述第二微控制单元5的I/O口。
S6、所述第一控制板1接收所述第二控制板2的测试结果。
S7、通过所述第一控制板1将接收到的所述第二控制板2的测试结果与所述第一控制板1的测试结果汇总后，统一发送至所述显示板8。
S8、所述显示板显示最终测试结果。
S9、所述第一控制板1测试程序根据所述最终测试结果控制所述电路板断电。
具体的，开始，按下测试按钮；第一控制板1的测试程序启动PCBA板上电；通过所述第一控制板1与所述PCBA板的第一微控制单元4的第一串行接口serial1通信连接，用于测试所述第一微控制单元4的I/O口；通过所述PCBA板的所述第一微控制单元4的第二串行接口serial2与所述PCBA板的第二微控制单元5通信连接，通信完毕，保持静默；所述第一控制板1启动第二控制板2的测试程序，所述第二控制板2控制继电器7的输出回路闭合，通过第二控制板2的第六串口15与所述PCBA板的所述第二微控制单元5通信连接，开始测试所述第二微控制单元5的I/O口；所述第一控制板1接收所述第二控制板2的测试结果；通过所述第一控制板1将接收到所述第二控制板2的测试结果与所述第一控制板1的测试结果汇总后，统一发送至所述显示板8；显示最终测试结果；所述第一控制板1测试程序根据所述最终测试结果控制PCBA板断电。
在本实施例中，所述第一微控制单元4的I/O口包括输入开关口及输入温度口。所述第二微控制单元5的I/O口包括PFC开关测试口及IPM测试口。可选的，所述第二微控制单元5的I/O口还包括短路过流测试口、IPM温度测试口。
具体的，第一控制板1与PCBA的第一微控制单元4的第一串行接口serial1通信，测试MCU1所控制的外接继电器、膨胀阀、温度口、开关口、记忆芯片的读写及电路的12V、5V基准电压。同时PCBA的第一微控制单元4的第二串行接口seiral2向第二微控制单元5发送协议数据，第二微控制单元5收到后按协议约定返回数据，若第一微控制单元4收到约定数据则置标志位1，没收到则置标志位0；此后第一微控制单元4的串口保持静默。第一控制板1同时通过第二控制板2的第五串口14启动第二控制板2的测试程序，第二控制板2测试程序先延时10s(等待第一微控制单元4的第二串行接口serial2进入静默)，然后将继电器7的输出回路闭合，使第二控制板2的第六串口15与第二微控制单元5的串口连接，开始测试第二微控制单元5所控制的PFC、IPM、过流保护、过温保护、直流风机口及电路的母线电压、15V、5V、2.5V基准电压。
与相关技术相比，本发明通过第一控制板1、第二控制板2、显示板8、专用治具3、电路板6、第一微控制单元4、第二微控制单元5、继电器7以及智能终端；通过按下启动测试开关，所述第一控制板1的测试程序启动，所述第一控制板1直接与所述电路板6上的所述第一微控制单元4通信开始测试，用于测试与第一微控制单元4相关的功能I/O；所述第一控制板1与所述第二控制板2相连接，启动所述第二控制板2也开始测试，所述第二控制板2通过所述继电器7与所述第二微控制单元5通信，用于测试与第二微控制单元5相关的功能I/O；当所述第二控制板2测试完成后将测试结果发送到所述第一控制板1上，所述第一控制板1将收到的所述第二控制板2的测试结果与自身的测试结果汇总后，统一发送所述显示板8显示最终测试结果，测试结束；通过双控制板对接PCBA的双MCU进行测试，当需要测试双MCU变频合板PCBA时，由于双控制板并行测试，极大地提高了测试速度；当需要测试普通单MCU的PCBA时，撤除增加的控制板，不影响原单控制板FCT的使用；采用模块化的结构，降低了硬件开发难度，开发速度快，费用低，适应范围广。

Claims (6)

1.一种双控制板FCT***，其特征在于，包括：第一控制板、第二控制板、显示板、专用治具、电路板、第一微控制单元、第二微控制单元、继电器以及智能终端；
所述电路板安装在所述专用治具上，所述第一微控制单元、所述第二微控制单元分别与所述电路板电连接，所述第一控制板分别与所述显示板、所述智能终端、所述第一微控制单元及所述第二控制板通信连接，所述第一微控制单元与所述第二微控制单元通信连接，所述继电器的输入回路与所述第二控制板连接，所述继电器的输出回路与所述第二微控制单元连接；
所述第一控制板用于测试所述第一微控制单元的I/O口，所述第二控制板用于测试第二微控制单元的I/O口，且测试完成后将测试结果发送到所述第一控制板上，所述第一控制板收到所述第二控制板的测试结果并与所述第一控制板的测试结果汇总后，统一发送至所述显示板显示最终测试结果；
所述第一微控制单元的I/O口包括输入开关口及输入温度口；所述第二微控制单元的I/O口包括PFC开关测试口及IPM测试口。
2.如权利要求1所述的双控制板FCT***，其特征在于，所述第一控制板上设置有第一串口、第二串口、第三串口及第四串口，所述第一串口与所述显示板连接，所述第二串口与所述第一微控制单元连接，所述第三串口与所述第二控制板连接，所述第四串口与所述智能终端连接。
3.如权利要求1所述的双控制板FCT***，其特征在于，所述继电器为延时闭合继电器。
4.如权利要求1所述的双控制板FCT***，其特征在于，所述第二控制板上设置有第五串口、第六串口和第七串口，所述第五串口与所述第一控制板连接，所述第六串口与所述继电器的所述输出回路连接，所述第七串口与所述继电器的输入回路连接。
5.如权利要求1所述的双控制板FCT***，其特征在于，所述电路板为PCBA板，所述第一微控制单元为第一MCU，所述第二微控制单元为第二MCU。
6.一种如权利要求1-5任一项所述的双控制板FCT***的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括以下步骤：
S1、按下测试按钮；
S2、第一控制板的测试程序启动电路板上电；
S3、通过所述第一控制板与所述电路板的第一微控制单元的第一串行接口通信连接，用于测试所述第一微控制单元的I/O口；
S4、通过所述电路板的所述第一微控制单元的第二串行接口与所述电路板的第二微控制单元通信连接，通信完毕，保持静默；
S5、所述第一控制板启动第二控制板的测试程序，所述第二控制板控制继电器的输出回路闭合，所述第二控制板与所述电路板的所述第二微控制单元通信连接，开始测试所述第二微控制单元的I/O口；
S6、所述第一控制板接收所述第二控制板的测试结果；
S7、通过所述第一控制板将接收到的所述第二控制板的测试结果与所述第一控制板的测试结果汇总后，统一发送至显示板；
S8、所述显示板显示最终测试结果；
S9、所述第一控制板测试程序根据所述最终测试结果控制所述电路板断电。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN116520788A (zh) * 2023-07-03 2023-08-01 深圳市微克科技有限公司 穿戴设备自动化生产控制方法、***和可读存储介质

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1599504A (zh) * 2003-06-16 2005-03-23 安立股份有限公司 同时测试各类通信***的多个无线通信终端的设备和方法
CN205539367U (zh) * 2016-04-05 2016-08-31 广州红象医疗科技有限公司 Pcba功能自动测试***
CN110618376A (zh) * 2019-11-08 2019-12-27 格力电器（芜湖）有限公司 窗机控制板测试***及其控制方法
CN111366835A (zh) * 2020-02-14 2020-07-03 广东智科电子股份有限公司 电控板测试方法和测试***
CN111538319A (zh) * 2020-06-22 2020-08-14 北京振兴计量测试研究所 一种can总线控制器并行测试方法
CN211293741U (zh) * 2019-12-30 2020-08-18 佛山市顺德海尔智能电子有限公司 控制板测试工装
CN113219940A (zh) * 2021-04-08 2021-08-06 新风光电子科技股份有限公司 一台电脑控制多测试站的fct测试***及控制方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1599504A (zh) * 2003-06-16 2005-03-23 安立股份有限公司 同时测试各类通信***的多个无线通信终端的设备和方法
CN205539367U (zh) * 2016-04-05 2016-08-31 广州红象医疗科技有限公司 Pcba功能自动测试***
CN110618376A (zh) * 2019-11-08 2019-12-27 格力电器（芜湖）有限公司 窗机控制板测试***及其控制方法
CN211293741U (zh) * 2019-12-30 2020-08-18 佛山市顺德海尔智能电子有限公司 控制板测试工装
CN111366835A (zh) * 2020-02-14 2020-07-03 广东智科电子股份有限公司 电控板测试方法和测试***
CN111538319A (zh) * 2020-06-22 2020-08-14 北京振兴计量测试研究所 一种can总线控制器并行测试方法
CN113219940A (zh) * 2021-04-08 2021-08-06 新风光电子科技股份有限公司 一台电脑控制多测试站的fct测试***及控制方法

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