CN114942017B - 一种基于波前干涉图像的垂向激光指向校正装置及方法 - Google Patents
一种基于波前干涉图像的垂向激光指向校正装置及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN114942017B CN114942017B CN202210599642.2A CN202210599642A CN114942017B CN 114942017 B CN114942017 B CN 114942017B CN 202210599642 A CN202210599642 A CN 202210599642A CN 114942017 B CN114942017 B CN 114942017B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- signal
- light
- vertical laser
- laser
- interference image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims abstract description 37
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 33
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 36
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 27
- 230000005484 gravity Effects 0.000 claims abstract description 22
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 71
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 21
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 20
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 claims description 12
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 claims description 12
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 9
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 9
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 6
- 238000004556 laser interferometry Methods 0.000 abstract description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- CPBQJMYROZQQJC-UHFFFAOYSA-N helium neon Chemical compound [He].[Ne] CPBQJMYROZQQJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229920002545 silicone oil Polymers 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C15/00—Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
- G01C15/12—Instruments for setting out fixed angles, e.g. right angles
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C15/00—Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
- G01C15/002—Active optical surveying means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
本发明公开了一种基于波前干涉图像的垂向激光指向校正装置及方法,包括:通过垂向激光发生模块获得垂向激光信号,将垂向激光信号传输至一体化传感模块,基于一体化传感模块产生干涉图像信号;将干涉图像信号输入信号处理模块进行高精度解耦运算,获得垂向激光相对于重力方向的角度偏差结果,根据角度偏差结果,实现垂向激光指向的实时校正。本发明的垂向激光指向校正装置完全基于激光干涉测量原理,测量分辨力高,角度测量结果可直接溯源至激光波长,满足了高端装备对超精密垂向激光指向的需求。此外,本发明装置的一体化传感模块便于拆卸与重复安装,方便复用于多套装置,节省成本。
Description
技术领域
本发明属于精密角度测量技术领域,特别是涉及一种基于波前干涉图像的垂向激光指向校正装置及方法。
背景技术
以重力为基准的垂向激光被广泛用于确定垂直基准线和测量相对铅垂线的微小偏差,在工程建设和精密测量中具有重要应用价值。例如,可用于测量并保证楼体、电梯、水坝等建筑物的垂直度,也可用于导轨等机械结构的垂直度和直线度精密检测,以及扭曲度的测量与修正等。随着近些年来精密工程领域的迅速发展,高端装备对垂向激光的指向精度提出了更高的要求。例如,在质量单位“Kg”量子化基准装置中,垂向激光的指向精度决定了装置的整体精度,必须对垂向激光的指向进行超精密测量与校正,保证其与重力方向重合。
垂准仪能够以重力为基准生成垂向激光,并将其用作铅垂线,常用于大型建筑的施工监测和机械设备的安装工程。一般采用平行光管,五角棱镜,直角坐标板和钢直尺等设备对垂准仪中垂向激光与竖轴的同轴度进行校准。中国专利公布号CN104949689A,公布日2015年9月30日,发明《基于源头成像的激光垂准仪数字化校准方法及装置》,通过一成像光源对分划板成像,再将像投射至无穷远处的标靶上,与调试基准中心进行比较校准,降低了校准检测的复杂度,一定程度上提高了精度。但是,受限于工作台水平度,测量尺精度,人眼读数不准确等因素,垂准仪产生的垂向激光在原理上存在指向精度较低、溯源性难以保证的问题,难以用于超精密测量。
在精密计量领域,一些学者也提出了基于新原理的垂向激光指向测量装置。例如,2016年,仪器仪表学报第4期第37卷发表文章《基于高精度电子水平仪的平面镜水平调整方法》,提出一种通过最少的传递环节将垂向激光指向溯源至水平仪的方法,该方法首先基于高精度电子水平仪实现平面镜水平姿态的调整,然后利用平面镜作参考实现激光干涉仪垂向光束指向的校正。该装置最终实现垂向激光指向的合成标准不确定度41μrad,受旋转台旋转轴精度、旋转台水平调整机构精度、电子水平仪引线影响以及电子水平仪自身非线性和加工精度影响,其水平基准的精度严重受限,进而直接限制了垂向光束的指向精度,溯源性也较差。此外,该装置不能将测量结果用于反馈控制以实现光束指向的实时校正。
又如,2016年,Applied Optics第55期发表文章《System for the measurementof the deviation of a laser beam from the vertical direction》,提出基于激光自准直原理的垂向激光指向偏差测量装置,该装置以液面作为基准。其将垂向激光分成两束,一束经过角隅反射镜后透过透镜,一束经过液面反射后透过透镜,由CCD获取两光斑位置,通过光斑距离计算角度。该装置的短期稳定性可以达到2.4μrad,但由于CCD和汇聚透镜等光学元件的加工误差与位置安装误差,直接导致了装置的测量精度受限,溯源性较难提升。此外,该装置只能测量激光指向的偏差角度,不能将其进行校正至重力方向。
综上所述,传统的针对垂准仪的垂向激光指向校准方法精度较低,在原理上无法将光束方向溯源至重力方向;基于电子水平仪的垂向激光指向校正装置受加工误差等因素限制,精度受限,溯源性也较差;基于自准直原理的垂向激光指向测量装置受限于光学元件的装配误差,其测量结果仍然难以直接溯源。此外,上述装置不能将光束指向的测量结果用于实时反馈,并将其校正至重力方向。因此,目前精密角度测量技术领域缺少一种可直接溯源的高精度垂向激光指向校正装置。
发明内容
本发明的目的是提供一种基于波前干涉图像的垂向激光指向校正装置及方法,可实现垂向激光指向的高精度测量与校正,并直接溯源至重力方向。
为实现上述目的,本发明提供了如下方案:一种基于波前干涉图像的垂向激光指向校正装置,包括:
垂向激光发生模块,用于产生垂向激光信号,并对所述垂向激光信号的指向进行微调;
一体化传感模块,与所述垂向激光发生模块连接,用于接收所述垂向激光信号,基于所述垂向激光信号产生干涉图像信号;
信号处理模块,与所述一体化传感模块连接,用于对所述干涉图像信号进行高精度解耦运算,获得垂向激光相对于重力方向的角度偏差结果,根据所述角度偏差结果,实现垂向激光指向的实时校正。
优选地,所述垂向激光发生模块包括单频激光器、单模光纤、光纤准直器、五角棱镜、一体化光源底座、二维精密角度转台;
所述单频激光器用于提供稳频激光信号;
所述单模光纤,与所述单频激光器连接,用于将所述稳频激光信号传导至光纤准直器;
所述光纤准直器,与所述单模光纤连接,用于接收所述稳频激光信号并输出准直激光;
所述五角棱镜用于接收所述准直激光,输出垂向激光信号;
所述一体化光源底座用于固定所述光纤准直器和所述五角棱镜;
所述二维精密角度转台用于放置一体化传感底座和所述一体化光源底座。
优选地,所述一体化传感模块包括一体化传感底座、一号分光角锥棱镜、一号分光镜、一号反射镜、二号分光镜、二号角锥棱镜、二号反射镜、液体容器单元、液体单元、图像传感器;
所述一体化传感底座用于固定所述一号分光角锥棱镜、一号分光镜、一号反射镜、二号分光镜、二号角锥棱镜、二号反射镜、液体容器单元、液体单元、图像传感器;
所述一号分光角锥棱镜用于透射垂向激光信号并反射部分垂向激光信号至所述一号分光镜;
所述一号分光镜用于将所述垂向激光信号分为第一透射光、第一反射光;
所述一号反射镜用于反射所述第一反射光至所述二号分光镜;
所述二号分光镜用于将所述第一透射光分为第二透射光、第二反射光;用于将第一反射光分为第三透射光、第三反射光;用于反射经液面第二次折射的第二透射光,获得第一信号光;用于透射所述二号角锥棱镜反射的第二反射光,获得第二信号光;用于反射经液面第二次折射的第三透射光,获得第三信号光;用于透射所述二号反射镜反射的第三反射光,获得第四信号光;
所述二号角锥棱镜用于反射所述第二反射光至所述二号分光镜;
所述二号反射镜用于反射所述第三反射光至所述二号分光镜;
所述液体容器单元用于放置所述液体单元中的液体;
所述液体单元用于通过液面第一次折射所述第二透射光至液体容器底面,经所述液体容器底面反射、液面第二次折射至所述二号分光镜;用于通过液面第一次折射所述第三透射光至液体容器底面,经液面第二次折射至所述二号分光镜;
所述图像传感器用于探测第一信号光与第二信号光干涉形成的第一干涉图像信号;用于探测第三信号光与第四信号光干涉形成的第二干涉图像信号。
优选地,所述二号反射镜与所述第三反射光不垂直;
所述第一干涉图像信号与所述第二干涉图像信号在空间上不重叠。
优选地,所述信号处理模块包括上位机、信号处理卡;
所述信号处理卡用于通过干涉图像解耦算法,对波前干涉图像信号进行高精度解耦运算,根据测量结果向二维精密角度转台发送反馈控制信号,将垂向激光指向校正并溯源至重力方向,并将所述运算结果上传至上位机;
所述上位机用于接收、显示和存储垂向激光指向校正的测量结果。
一种基于波前干涉图像的垂向激光指向校正方法,包括,
通过垂向激光发生模块获得垂向激光信号,将所述垂向激光信号传输至一体化传感模块,基于所述一体化传感模块产生干涉图像信号;
将所述干涉图像信号输入信号处理模块进行高精度解耦运算,获得垂向激光相对于重力方向的角度偏差结果,根据所述角度偏差结果,实现垂向激光指向的实时校正。
优选地,通过垂向激光发生模块获得垂向激光信号,将所述垂向激光信号传输至一体化传感模块的过程包括,通过单频激光器产生稳频激光信号,经单模光纤将所述稳频激光信号传导至光纤准直器;所述光纤准直器输出准直激光,所述准直激光经五角棱镜获得垂向激光信号后,将所述垂向激光信号传输至一体化传感模块。
优选地,基于所述一体化传感模块产生干涉图像信号的过程包括,
垂向激光信号经一号分光角锥棱镜反射后沿原方向返回,被一号分光镜分为第一透射光与第一反射光;所述第一透射光被二号分光镜分为第二透射光与第二反射光;所述第一反射光经一号反射镜反射后,被所述二号分光镜分为第三透射光与第三反射光;
所述第二透射光经液体单元的液面第一次折射后被液体容器单元的底面反射,经液面第二次折射后被所述二号分光镜反射,获得第一信号光;所述第二反射光经二号角锥棱镜反射后原路返回,再经二号分光镜透射后获得第二信号光;所述第三透射光经液体单元的液面第一次折射后被液体容器单元的底面反射,经液面第二次折射后被所述二号分光镜反射,获得第三信号光;所述第三反射光经二号反射镜反射后,再经二号分光镜透射后获得第四信号光;
所述第一信号光与第二信号光在图像传感器的探测面发生干涉,获得第一干涉图像信号;所述第三信号光与第四信号光在图像传感器的探测面发生干涉,获得第二干涉图像信号;所述第一干涉图像信号与第二干涉图像信号在空间上不重叠。
优选地,所述垂向激光指向的实时校正过程包括,将所述干涉图像信号发送至信号处理卡,所述信号处理卡通过对二维精密角度转台的角度调制和对第一干涉图像信号的高斯拟合,将垂向激光信号溯源至绝对重力方向,再对第二干涉图像信号执行干涉图像解耦算法,实现垂向激光指向的精密测量,最后根据测量结果向二维精密角度转台发送反馈控制信号,实现垂向激光指向的实时校正,同时将测量结果上传至上位机。
优选地,对所述干涉图像信号执行干涉图像解耦算法的过程包括,
将干涉条纹图像转换为二维灰度矩阵,对所述二维灰度矩阵进行基于蝶形运算的二维离散傅里叶变换,获得所述干涉条纹图像的频率空间矩阵,在干涉条纹图像频谱的幅度空间计算不同空间频率成分;
基于所述干涉条纹图像频谱的幅度空间获得幅值最大值点及其在频率空间矩阵中对应的位置,利用幅值最大值点与邻近矩阵点的幅值信息进行二维曲线峰值拟合,得到拟合后的精确频率坐标;
根据拟合得到的精确频率坐标的X向分量和Y向分量,依据角度测量值与干涉条纹图像的空间频率呈线性关系的公式分别获得X向与Y向水平倾角。
本发明公开了以下技术效果:
(1)本发明提供的基于波前干涉图像的垂向激光指向校正装置及方法完全基于激光干涉测量原理,以水平面为参考基准面,测量分辨力高,可将光束指向直接溯源至重力方向。
(2)本发明利用液体对光的折射效应在光学上放大了角度测量范围,角度测量结果可溯源至激光波长。
(3)本发明在对垂向激光指向进行精密测量的基础上,进一步实现了对光束指向的实时反馈精密校正。
(4)本发明装置的一体化传感模块便于拆卸与重复安装,方便复用于多套装置,节省成本。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例的***结构示意图;
1-上位机、2-图像传感器、3-一号分光角锥棱镜、4-一体化传感底座、5-一号分光镜、6-一号反射镜、7-二号分光镜、8-二号角锥棱镜、9-二号反射镜、10-液体容器、11-液体、12-二维精密角度转台、13-五角棱镜、14-一体化光源底座、15-光纤准直器、16-单频激光器、17-单模光纤、18-信号处理卡。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
如图1所示的基于波前干涉图像的垂向激光指向校正装置,包括上位机1、图像传感器2、一号分光角锥棱镜3、一体化传感底座4、一号分光镜5、一号反射镜6、二号分光镜7、二号角锥棱镜8、二号反射镜9、液体容器10、液体11、二维精密角度转台12、五角棱镜13、一体化光源底座14、光纤准直器15、单频激光器16、单模光纤17和信号处理卡18;
其中,光纤准直器15和五角棱镜13固定在一体化光源底座14上,一号分光角锥棱镜3、一号分光镜5、一号反射镜6、二号分光镜7、二号角锥棱镜8、二号反射镜9、液体容器10和图像传感器2均固定在一体化传感底座4上;一体化传感底座4和一体化光源底座14均位于二维精密角度转台12上;一体化传感模块可随时拆卸或安装,并且与一体化光源底座位于同一个平面上。
液体容器10为直径50mm的圆形,底面镀反射膜,可对633nm激光形成有效反射;液体11为硅油,其黏度为350CS,折射率为1.4,液面高度为2mm,作为光束指向的参考基准面。
如图1所示,本发明提供的基于波前干涉图像的垂向激光指向校正装置,包括:垂向激光发生模块、一体化传感模块、信号处理模块;
其中,垂向激光发生模块包括单频激光器、单模光纤、光纤准直器、五角棱镜、一体化光源底座、二维精密角度转台,产生垂向激光信号并对其指向进行微调;
一体化传感模块包括一体化传感底座,一号分光角锥棱镜,一号分光镜,一号反射镜,二号分光镜,二号角锥棱镜,二号反射镜,液体容器,液体,图像传感器;
该垂向激光指向校正装置的工作原理如下:633nm的单频氦氖激光器16提供稳频激光信号,经单模光纤17传导至光纤准直器15,光纤准直器15输出准直激光,经五角棱镜13后成为垂向激光信号;部分垂向激光信号经一号分光角锥棱镜3反射后沿原方向返回,被一号分光镜5分为第一透射光与第一反射光;第一透射光被二号分光镜7分为第二透射光与第二反射光;第一反射光经一号反射镜6反射后,被二号分光镜7分为第三透射光与第三反射光;第二透射光经液体11折射后被液体容器10的底面反射,随后再次经液面折射后被二号分光镜7反射,成为第一信号光;第二反射光经二号角锥棱镜8反射后原路返回,再经二号分光镜7透射后成为第二信号光;第三透射光经液体11折射后被液体容器10的底面反射,随后再次经液面折射后被二号分光镜7反射,成为第三信号光;第三反射光经二号反射镜9反射后,再经二号分光镜7透射后成为第四信号光;第一信号光与第二信号光在图像传感器2的探测面发生干涉,形成圆形第一干涉图像信号,并由图像传感器2进行探测;二号反射镜9与第二反射光不垂直,致使第三信号光与第四信号光的光轴指向产生微小的角度偏差,从而在图像传感器2的探测表面形成条纹状第二干涉图像信号,并由图像传感器2进行探测;第一干涉图像信号与第二干涉图像信号在空间上不重叠;第一干涉图像信号与第二干涉图像信号以数字量的形式发送至信号处理卡18,信号处理卡18中集成了干涉图像解耦算法,对波前干涉图像进行高精度解耦运算,根据测量结果向二维精密角度转台12发送反馈控制信号,将垂向激光指向校正并溯源至重力方向,并同时将测量结果发送至上位机1。
进一步地,垂向激光指向的校正方法包括:
步骤一,垂向激光指向预调节:信号处理卡18驱动二维精密角度转台12分别绕X轴和Y轴转动,使得第一干涉图像信号呈现为近似圆形的光斑;
步骤二,X方向角度初值调节:信号处理卡18驱动二维精密角度转台12绕Y轴往复转动,对垂向激光的指向沿X方向进行正弦调制,调制频率为fm;同时,沿X方向对第一干涉图像信号的强度分布进行实时高斯拟合,并记录拟合曲线的半高宽dx;绕Y轴调节二维精密角度转台的中心角度值,使得dx曲线成为频率为2fm的正弦曲线,此时dx在转台处于中心角度值时达到最大值dx-max;
步骤三,Y方向角度初值调节:信号处理卡18驱动二维精密角度转台12绕X轴往复转动,对垂向激光的指向沿Y方向进行正弦调制,调制频率为fm;同时,沿Y方向对第一干涉图像信号的强度分布进行实时高斯拟合,并记录拟合曲线的半高宽dy;绕X轴调节二维精密角度转台的中心角度值,使得dy曲线成为频率为2fm的正弦曲线,此时dy在转台处于中心角度值时达到最大值dy-max;
步骤四,垂向激光指向初值校正:停止二维精密角度转台12的角度调制,使其在X方向和Y方向上均处于上述中心角度值,同时第一干涉图像信号沿X方向和Y方向的半高宽均达到最大值dx-max和dy-max;同时,对第二干涉图像信号执行干涉图像解耦算法,记录其X向与Y向水平倾角初值θX0和θY0;
步骤五,垂向激光指向监测与实时校正:对第二干涉图像信号执行干涉图像解耦算法,实时测量角度结果θX和θY,则垂向激光相对于重力方向在X方向和Y方向上的角度偏差分别为θ′X=θX-θX0和θ′Y=θY-θY0;同时,信号处理卡18根据测量到的角度偏差,对二维精密角度转台12的姿态进行闭环反馈控制,使得θ′X和θ′Y均为零。
干涉图像解耦算法将角度测量值溯源至激光波长的干涉图像解耦算法包括:
步骤一,将干涉条纹图像转换为二维灰度矩阵,对该矩阵进行基于蝶形运算的二维离散傅里叶变换,获得图像的频率空间矩阵,在图像频谱的幅度空间计算其不同空间频率成分;
步骤二,在干涉条纹图像频谱的幅度空间求得幅值最大值点及其在频率空间矩阵中对应的位置,利用幅值最大值点与邻近矩阵点的幅值信息进行二维曲线峰值拟合,得到拟合后的精确频率坐标;
步骤三,角度测量值θX和θY与干涉条纹图像的空间频率呈线性关系,根据拟合得到的精确频率坐标的X向分量和Y向分量,依据公式1和公式2可以分别求得X向与Y向水平倾角θX和θY。
式中,fX和fY分别为干涉条纹空间频率的X向分量和Y向分量,λ为激光波长,nliq为液体折射率,nair为空气折射率。由于液面永远垂直于重力方向,本方法可以实时计算和监测激光指向相对于重力方向的变化。
本发明提供一种基于波前干涉图像的垂向激光指向校正装置及方法,以水平面为参考基准面,借助圆盘状波前干涉图像,将光束指向溯源至重力方向;通过液体对光的折射,对倾角变化进行光学缩放,并将其转化为条纹状波前干涉图像,通过计算条纹图像在X方向和Y方向上的空间频率,精确测量光束指向相对于重力方向的角度偏差;最终,通过对垂向激光发生模块的姿态进行反馈控制,实现垂向激光指向的精密实时校正。本发明完全基于激光干涉测量原理,测量分辨力高,角度测量结果可直接溯源至激光波长,满足了高端装备对超精密垂向激光指向的需求。此外,本发明装置的一体化传感模块便于拆卸与重复安装,方便复用于多套装置,节省成本。
以上所述的实施例仅是对本发明的优选方式进行描述,并非对本发明的范围进行限定,在不脱离本发明设计精神的前提下,本领域普通技术人员对本发明的技术方案做出的各种变形和改进,均应落入本发明权利要求书确定的保护范围内。
Claims (2)
1.一种基于波前干涉图像的垂向激光指向校正装置,其特征在于,包括:
垂向激光发生模块,用于产生垂向激光信号,并对所述垂向激光信号的指向进行微调;
一体化传感模块,与所述垂向激光发生模块连接,用于接收所述垂向激光信号,基于所述垂向激光信号产生干涉图像信号;
信号处理模块,与所述一体化传感模块连接,用于对所述干涉图像信号进行解耦运算,获得垂向激光相对于重力方向的角度偏差结果,根据所述角度偏差结果,实现垂向激光指向的实时校正;
所述垂向激光发生模块包括单频激光器、单模光纤、光纤准直器、五角棱镜、一体化光源底座、二维精密角度转台;
所述单频激光器用于提供稳频激光信号;
所述单模光纤,与所述单频激光器连接,用于将所述稳频激光信号传导至光纤准直器;
所述光纤准直器,与所述单模光纤连接,用于接收所述稳频激光信号并输出准直激光;
所述五角棱镜用于接收所述准直激光,输出垂向激光信号;
所述一体化光源底座用于固定所述光纤准直器和所述五角棱镜;
所述二维精密角度转台用于放置一体化传感底座和所述一体化光源底座;
所述一体化传感模块包括一体化传感底座、一号分光角锥棱镜、一号分光镜、一号反射镜、二号分光镜、二号角锥棱镜、二号反射镜、液体容器单元、液体单元、图像传感器;
所述一体化传感底座用于固定所述一号分光角锥棱镜、一号分光镜、一号反射镜、二号分光镜、二号角锥棱镜、二号反射镜、液体容器单元、液体单元、图像传感器;
所述一号分光角锥棱镜用于透射垂向激光信号并反射部分垂向激光信号至所述一号分光镜;
所述一号分光镜用于将所述垂向激光信号分为第一透射光、第一反射光;
所述一号反射镜用于反射所述第一反射光至所述二号分光镜;
所述二号分光镜用于将所述第一透射光分为第二透射光、第二反射光;用于将第一反射光分为第三透射光、第三反射光;用于反射经液面第二次折射的第二透射光,获得第一信号光;用于透射所述二号角锥棱镜反射的第二反射光,获得第二信号光;用于反射经液面第二次折射的第三透射光,获得第三信号光;用于透射所述二号反射镜反射的第三反射光,获得第四信号光;
所述二号角锥棱镜用于反射所述第二反射光至所述二号分光镜;
所述二号反射镜用于反射所述第三反射光至所述二号分光镜;
所述液体容器单元用于放置所述液体单元中的液体;
所述液体单元用于通过液面第一次折射所述第二透射光至液体容器底面,经所述液体容器底面反射、液面第二次折射至所述二号分光镜;用于通过液面第一次折射所述第三透射光至液体容器底面,经液面第二次折射至所述二号分光镜;
所述图像传感器用于探测第一信号光与第二信号光干涉形成的第一干涉图像信号;用于探测第三信号光与第四信号光干涉形成的第二干涉图像信号;
所述二号反射镜与所述第三反射光不垂直;
所述第一干涉图像信号与所述第二干涉图像信号在空间上不重叠;
所述信号处理模块包括上位机、信号处理卡;
所述信号处理卡用于通过干涉图像解耦算法,对波前干涉图像信号进行解耦运算,根据测量结果向二维精密角度转台发送反馈控制信号,将垂向激光指向校正并溯源至重力方向,并将所述运算结果上传至上位机;
对所述干涉图像信号执行干涉图像解耦算法的过程包括,
将干涉条纹图像转换为二维灰度矩阵,对所述二维灰度矩阵进行基于蝶形运算的二维离散傅里叶变换,获得所述干涉条纹图像的频率空间矩阵,在干涉条纹图像频谱的幅度空间计算不同空间频率成分;
基于所述干涉条纹图像频谱的幅度空间获得幅值最大值点及其在频率空间矩阵中对应的位置,利用幅值最大值点与邻近矩阵点的幅值信息进行二维曲线峰值拟合,得到拟合后的精确频率坐标;
根据拟合得到的精确频率坐标的X向分量和Y向分量,依据角度测量值与干涉条纹图像的空间频率呈线性关系的公式分别获得X向与Y向水平倾角;
所述上位机用于接收、显示和存储垂向激光指向校正的测量结果。
2.一种基于波前干涉图像的垂向激光指向校正方法,其特征在于,包括,
通过垂向激光发生模块获得垂向激光信号,将所述垂向激光信号传输至一体化传感模块,基于所述一体化传感模块产生干涉图像信号;
将所述干涉图像信号输入信号处理模块进行解耦运算,获得垂向激光相对于重力方向的角度偏差结果,根据所述角度偏差结果,实现垂向激光指向的实时校正;
通过垂向激光发生模块获得垂向激光信号,将所述垂向激光信号传输至一体化传感模块的过程包括,
通过单频激光器产生稳频激光信号,经单模光纤将所述稳频激光信号传导至光纤准直器;所述光纤准直器输出准直激光,所述准直激光经五角棱镜获得垂向激光信号后,将所述垂向激光信号传输至一体化传感模块;
基于所述一体化传感模块产生干涉图像信号的过程包括,
垂向激光信号经一号分光角锥棱镜反射后沿原方向返回,被一号分光镜分为第一透射光与第一反射光;所述第一透射光被二号分光镜分为第二透射光与第二反射光;所述第一反射光经一号反射镜反射后,被所述二号分光镜分为第三透射光与第三反射光;
所述第二透射光经液体单元的液面第一次折射后被液体容器单元的底面反射,经液面第二次折射后被所述二号分光镜反射,获得第一信号光;所述第二反射光经二号角锥棱镜反射后原路返回,再经二号分光镜透射后获得第二信号光;所述第三透射光经液体单元的液面第一次折射后被液体容器单元的底面反射,经液面第二次折射后被所述二号分光镜反射,获得第三信号光;所述第三反射光经二号反射镜反射后,再经二号分光镜透射后获得第四信号光;
所述第一信号光与第二信号光在图像传感器的探测面发生干涉,获得第一干涉图像信号;所述第三信号光与第四信号光在图像传感器的探测面发生干涉,获得第二干涉图像信号;所述第一干涉图像信号与第二干涉图像信号在空间上不重叠;
所述垂向激光指向的实时校正过程包括,
将所述干涉图像信号发送至信号处理卡,所述信号处理卡通过对二维精密角度转台的角度调制和对第一干涉图像信号的高斯拟合,将垂向激光信号溯源至绝对重力方向,再对第二干涉图像信号执行干涉图像解耦算法,实现垂向激光指向的精密测量,最后根据测量结果向二维精密角度转台发送反馈控制信号,实现垂向激光指向的实时校正,同时将测量结果上传至上位机;
对所述干涉图像信号执行干涉图像解耦算法的过程包括,
将干涉条纹图像转换为二维灰度矩阵,对所述二维灰度矩阵进行基于蝶形运算的二维离散傅里叶变换,获得所述干涉条纹图像的频率空间矩阵,在干涉条纹图像频谱的幅度空间计算不同空间频率成分;
基于所述干涉条纹图像频谱的幅度空间获得幅值最大值点及其在频率空间矩阵中对应的位置,利用幅值最大值点与邻近矩阵点的幅值信息进行二维曲线峰值拟合,得到拟合后的精确频率坐标;
根据拟合得到的精确频率坐标的X向分量和Y向分量,依据角度测量值与干涉条纹图像的空间频率呈线性关系的公式分别获得X向与Y向水平倾角。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202210599642.2A CN114942017B (zh) | 2022-05-30 | 2022-05-30 | 一种基于波前干涉图像的垂向激光指向校正装置及方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202210599642.2A CN114942017B (zh) | 2022-05-30 | 2022-05-30 | 一种基于波前干涉图像的垂向激光指向校正装置及方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN114942017A CN114942017A (zh) | 2022-08-26 |
CN114942017B true CN114942017B (zh) | 2024-02-09 |
Family
ID=82909739
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202210599642.2A Active CN114942017B (zh) | 2022-05-30 | 2022-05-30 | 一种基于波前干涉图像的垂向激光指向校正装置及方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN114942017B (zh) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007085992A1 (en) * | 2006-01-24 | 2007-08-02 | Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Epfl) | Optical imaging system with extended depth of focus |
CN107255451A (zh) * | 2017-07-07 | 2017-10-17 | 浙江理工大学 | 角度补偿式激光外差干涉位移测量装置及方法 |
CN108871278A (zh) * | 2018-08-19 | 2018-11-23 | 天津大学 | 一种液体表面反射式双轴光电水平仪及方法 |
CN111683111A (zh) * | 2020-04-17 | 2020-09-18 | 中国人民解放军战略支援部队航天工程大学 | 一种基于gpu的干涉测量多相信道化基带转换*** |
CN112857207A (zh) * | 2021-03-09 | 2021-05-28 | 哈尔滨工业大学 | 基于阵列式探测器的单光束三自由度零差激光干涉仪 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10231475A1 (de) * | 2002-07-12 | 2004-01-22 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Scanmikroskop mit optischem Bauteil und optisches Bauteil |
US8520500B2 (en) * | 2008-03-28 | 2013-08-27 | Qualcomm Incorporated | Buffered demod and demap functions |
CA2959494A1 (en) * | 2014-08-28 | 2016-03-03 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | In-line inspection of ophthalmic device with auto-alignment system and interferometer |
-
2022
- 2022-05-30 CN CN202210599642.2A patent/CN114942017B/zh active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007085992A1 (en) * | 2006-01-24 | 2007-08-02 | Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Epfl) | Optical imaging system with extended depth of focus |
CN107255451A (zh) * | 2017-07-07 | 2017-10-17 | 浙江理工大学 | 角度补偿式激光外差干涉位移测量装置及方法 |
CN108871278A (zh) * | 2018-08-19 | 2018-11-23 | 天津大学 | 一种液体表面反射式双轴光电水平仪及方法 |
CN111683111A (zh) * | 2020-04-17 | 2020-09-18 | 中国人民解放军战略支援部队航天工程大学 | 一种基于gpu的干涉测量多相信道化基带转换*** |
CN112857207A (zh) * | 2021-03-09 | 2021-05-28 | 哈尔滨工业大学 | 基于阵列式探测器的单光束三自由度零差激光干涉仪 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
"基于单光束干涉图像的三自由度超精密激光干涉测量方法";于亮;《中国博士学位论文全文数据库》;全文 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN114942017A (zh) | 2022-08-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN111580072B (zh) | 测绘仪器和校准测绘仪器的方法 | |
CN110455226B (zh) | 一种激光准直收发一体式直线度测量的标定***及方法 | |
CN113639676B (zh) | 基于波前测量与校正的二维光电自准直方法与装置 | |
CN113687521B (zh) | 基于波前校正的低像差高精度二维光电自准直方法与装置 | |
CN105737759B (zh) | 一种长程面形测量装置 | |
CN114942018B (zh) | 一种基于波前零差干涉的垂向激光指向校正装置及方法 | |
CN114964181B (zh) | 基于波前零差干涉的高精度双轴激光水平仪及测量方法 | |
CN114894159B (zh) | 基于单光束干涉图像的高精度双轴激光水平仪及测量方法 | |
CN114942017B (zh) | 一种基于波前干涉图像的垂向激光指向校正装置及方法 | |
CN110207587B (zh) | 一种角锥棱镜光学顶点的测量方法 | |
CN105737758B (zh) | 一种长程面形测量仪 | |
CN114942016B (zh) | 一种基于干涉条纹解耦的垂向激光指向校正装置及方法 | |
CN216284233U (zh) | 一种离轴非球面镜检测装置及检测*** | |
RU2667323C1 (ru) | Способ и устройство дифференциального определения радиуса кривизны крупногабаритных оптических деталей с использованием датчика волнового фронта | |
CN113639677B (zh) | 基于波前校正的高频响二维光电自准直方法与装置 | |
RU2401985C1 (ru) | Широкодиапазонный компаратор для поверки и калибровки координатных средств измерений | |
CN114894158B (zh) | 基于干涉条纹解耦的高精度双轴激光水平仪及测量方法 | |
Li et al. | Development of a high-sensitivity dual-axis optoelectronic level using double-layer liquid refraction | |
CN205642307U (zh) | 一种长程面形测量仪 | |
CN205505989U (zh) | 一种长程光学表面面形检测*** | |
CN205505990U (zh) | 一种长程面形测量装置 | |
CN109883361A (zh) | 一种使用高精度导轨实现光学组件中心偏差测试的方法 | |
JP2007303850A (ja) | 光波測距装置 | |
JP5434345B2 (ja) | 回転対称形状の超精密形状測定方法及びその装置 | |
Ershov | Method of adjusting an optical axis of receiving module of laser rangefinder to the main axis of space vehicle |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |