CN114830660B - 用于利用显示校正因子的方法和装置 - Google Patents

Abstract

本公开内容涉及用于显示处理的方法和装置。在一些方面中，该装置可以测量包括一个或多个面板测量的至少一个面板。该装置还可以确定针对一个或多个面板测量中的每个面板测量的至少一个校正因子。进一步地，该装置可以基于一个或多个面板测量中的每个面板测量来调整至少一个校正因子。在一些方面中，该装置可以基于一个或多个面板测量中的每个面板测量来压缩至少一个校正因子。此外，该装置可以存储经压缩的至少一个校正因子。在一些方面中，该装置可以基于经调整的至少一个校正因子来解码针对至少一个帧的校正数据。该装置还可以存储或传送针对至少一个帧的经解码的校正数据。

Description

用于利用显示校正因子的方法和装置

依据35 U.S.C.§119要求优先权

本申请要求享受于2020年1月3日递交的美国非临时申请No.16/734,112的优先权和权益，上述申请通过引用的方式明确地并入本文中。

技术领域

概括而言，本公开内容涉及处理***，并且更具体地，本公开内容涉及用于显示处理的一种或多种技术。

背景技术

计算设备通常利用图形处理单元(GPU)来加速对用于显示的图形数据的渲染。这样的计算设备可以包括例如计算机工作站、诸如所谓的智能电话之类的移动电话、嵌入式***、个人计算机、平板计算机和视频游戏控制台。GPU执行图形处理流水线，图形处理流水线包括一起操作以执行图形处理命令以及输出帧的一个或多个处理阶段。中央处理单元(CPU)可以通过向GPU发布一个或多个图形处理命令来控制GPU的操作。现代的CPU典型地能够并发地执行多个应用，其中的每个应用可能需要在执行期间利用GPU。

电子设备可以执行程序以在显示器上呈现图形内容。例如，电子设备可以执行用户界面应用、视频游戏应用等。

发明内容

下文给出一个或多个方面的简要概述，以便提供对这样的方面的基本理解。该概述不是对全部预期方面的广泛概述，以及既不旨在标识全部方面的关键要素，也不旨在描绘任何或全部方面的范围。其唯一目的是以简化形式呈现一个或多个方面的一些概念，作为稍后呈现的更加详细的描述的序言。

在本公开内容的一个方面中，提供了一种方法、计算机可读介质和装置。所述装置可以是应用处理器(AP)、显示处理单元(DPU)、显示引擎、GPU、CPU或用于显示或图形处理的某种其它处理器。在一些方面中，所述装置可以测量包括一个或多个面板测量的至少一个面板。所述装置还可以确定针对所述一个或多个面板测量中的每个面板测量的至少一个校正因子。所述装置还可以计算针对所述一个或多个面板测量中的每个面板测量的所述至少一个校正因子。进一步地，所述装置可以基于所述一个或多个面板测量中的每个面板测量来调整所述至少一个校正因子。在一些方面中，所述装置可以基于所述一个或多个面板测量中的每个面板测量来压缩所述至少一个校正因子。此外，所述装置可以存储经压缩的至少一个校正因子。所述装置还可以基于经调整的至少一个校正因子来解码针对至少一个帧的校正数据。此外，所述装置可以存储针对所述至少一个帧的经解码的校正数据。所述装置还可以传送针对所述至少一个帧的经解码的校正数据。当环境光水平大于环境光门限时，所述装置还可以减少所述校正数据的量。

在附图和下文的描述中阐述了本公开内容的一个或多个示例的细节。根据说明书和附图以及根据权利要求书，本公开内容的其它特征、目的和优势将是显而易见的。

附图说明

图1是示出根据本公开内容的一种或多种技术的示例内容生成***的框图。

图2示出了根据本公开内容的一种或多种技术的示例GPU。

图3示出了根据本公开内容的一种或多种技术的示例***架构。

图4示出了根据本公开内容的一种或多种技术的示例***架构。

图5示出了根据本公开内容的一种或多种技术的示例示意图。

图6示出了根据本公开内容的一种或多种技术的示例方法的示例流程图。

具体实施方式

多种不同的de-mura(去除显示不均匀性)架构(例如，显示驱动器集成电路(IC)(DDIC)de-mura架构)可能包括高BOM成本以及利用大量功率。例如，在DDIC存储器上存储数据或信息可能导致设备处的组件数量增加，这对应于BOM成本增加。基于此，这些类型的de-mura解决方案可能导致性能水平降低。本公开内容的各方面可以包括利用应用处理器(AP)的de-mura架构和/或解决方案，即基于AP的de-mura架构。例如，通过将de-mura过程移到AP，本公开内容的各方面可以减少BOM成本量和/或减少由de-mura过程利用的功率量。进一步地，本公开内容的de-mura过程可以提高设备的性能水平。本公开内容的各方面还可以包括用于计算和压缩用于基于AP的de-mura解决方案的校正因子或校正偏移的方法。通过这样做，可以降低用于基于AP的解决方案的BOM成本，例如，通过在***存储器中存储校正因子。此外，本公开内容的基于AP的de-mura解决方案可以利用子像素渲染(SPR)数据，SPR数据可以导致显示带宽的相应减少。

下文参考附图更加充分地描述***、装置、计算机程序产品和方法的各个方面。然而，本公开内容可以以许多不同的形式来体现，以及不应当被解释为限于遍及本公开内容所呈现的任何特定的结构或功能。确切而言，提供这些方面以使得本公开内容将是全面和完整的，以及将向本领域技术人员充分地传达本公开内容的范围。基于本文的教导，本领域技术人员应当认识到的是，本公开内容的范围旨在涵盖本文所公开的***、装置、计算机程序产品和方法的任何方面，无论该方面是独立于本公开内容的其它方面实现的还是与其它方面结合地实现的。例如，使用本文所阐述的任何数量的方面，可以实现装置或者可以实践方法。此外，本公开内容的范围旨在涵盖使用除了本文所阐述的本公开内容的各个方面以外或不同于本文所阐述的本公开内容的各个方面的其它结构、功能或者结构和功能来实践的这样的装置或方法。本文所公开的任何方面可以通过权利要求的一个或多个元素来体现。

尽管本文描述了各个方面，但是这些方面的许多变型和置换落在本公开内容的范围之内。尽管提到本公开内容的各方面的一些潜在益处和优势，但是本公开内容的范围并非旨在限于特定益处、用途或目标。确切而言，本公开内容的各方面旨在广泛地适用于不同的无线技术、***配置、网络和传输协议，其中的一些是通过示例的方式在附图和下文的描述中进行说明的。具体实施方式和附图仅是对本公开内容的说明而不是限制，本公开内容的范围是通过所附的权利要求以及其等效物来限定的。

参考各种装置和方法给出了若干方面。通过各种框、组件、电路、过程、算法等(统称为“元素”)在下文的具体实施方式中描述以及在附图中示出这些装置和方法。这些元素可以是使用电子硬件、计算机软件或其任何组合来实现的。这样的元素是实现为硬件还是软件，取决于特定的应用和对整个***所施加的设计约束。

举例而言，元素、或元素的任何部分、或元素的任何组合可以实现为“处理***”，“处理***”包括一个或多个处理器(其还可以称为处理单元)。处理器的示例包括：微处理器、微控制器、图形处理单元(GPU)、通用GPU(GPGPU)、中央处理单元(CPU)、应用处理器、数字信号处理器(DSP)、精简指令集计算(RISC)处理器、片上***(SoC)、基带处理器、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)、可编程逻辑器件(PLD)、状态机、门控逻辑、分立硬件电路、以及被配置为执行遍及本公开内容描述的各种功能的其它合适的硬件。处理***中的一个或多个处理器可以执行软件。无论被称为软件、固件、中间件、微代码、硬件描述语言还是其它，软件可以广泛地解释为意指指令、指令集、代码、代码段、程序代码、程序、子程序、软件组件、应用、软件应用、软件包、例程、子例程、对象、可执行文件、执行的线程、过程、函数等。术语应用可以是指软件。如本文所描述的，一种或多种技术可以是指被配置为执行一种或多种功能的应用，即软件。在这样的示例中，应用可以被存储在存储器上，例如处理器的片上存储器、***存储器或任何其它存储器。本文所描述的硬件(诸如处理器)可以被配置为执行应用。例如，应用可以被描述为包括当由硬件执行时使得硬件执行本文所描述的一种或多种技术的代码。作为示例，硬件可以从存储器访问代码以及执行从存储器访问的代码以执行本文所描述的一种或多种技术。在一些示例中，在本公开内容中标识了组件。在这样的示例中，组件可以是硬件、软件或其组合。组件可以是单独的组件或单个组件的子组件。

相应地，在本文所描述的一个或多个示例配置中，所描述的功能可以是以硬件、软件或其任何组合来实现的。如果以软件来实现，则功能可以作为一个或多个指令或代码存储在计算机可读介质上或编码为计算机可读介质上的一个或多个指令或代码。计算机可读介质包括计算机存储介质。存储介质可以是能够由计算机访问的任何可用介质。通过举例而非限制的方式，这样的计算机可读介质可以包括随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)、光盘存储、磁盘存储、其它磁存储设备、上述类型的计算机可读介质的组合、或者可以用于以指令或数据结构的形式存储能够由计算机存取的计算机可执行代码的任何其它介质。

概括而言，本公开内容描述了如下的技术：所述技术用于在单个设备或多个设备中具有图形处理流水线，从而改善对图形内容的渲染和/或减少处理单元(即，被配置为执行本文所描述的一种或多种技术的任何处理单元，诸如GPU)的负载。例如，本公开内容描述了用于在利用图形处理的任何设备中的图形处理的技术。贯穿本公开内容描述了其它示例益处。

如本文所使用的，术语“内容”的实例可以是指“图形内容”、“图像”，反之亦然。不管术语被用作为形容词、名词还是其它词性，都是如此。在一些示例中，如本文所使用的，术语“图形内容”可以是指由图形处理流水线的一个或多个过程产生的内容。在一些示例中，如本文所使用的，术语“图形内容”可以是指由被配置为执行图形处理的处理单元产生的内容。在一些示例中，如本文所使用的，术语“图形内容”可以是指由图形处理单元产生的内容。

在一些示例中，如本文所使用的，术语“显示内容”可以是指由被配置为执行显示处理的处理单元生成的内容。在一些示例中，如本文所使用的，术语“显示内容”可以是指由显示处理单元生成的内容。图形内容可以被处理以成为显示内容。例如，图形处理单元可以将诸如帧之类的图形内容输出给缓冲器(其可以被称为帧缓冲器)。显示处理单元可以从缓冲器读取图形内容(诸如一个或多个帧)，以及对其执行一种或多种显示处理技术以确定显示内容和/或生成显示内容。例如，显示处理单元可以被配置为对一个或多个渲染层执行合成以生成帧。作为另一示例，显示处理单元可以被配置为将两个或更多个层合成、混合或者以其它方式组合在一起成为单个帧。显示处理单元可以被配置为对帧执行缩放(例如，放大或缩小)。在一些示例中，帧可以是指层。在其它示例中，帧可以是指已经被混合在一起以形成帧的两个或更多个层，即帧包括两个或更多个层，以及包括两个或更多个层的帧随后可以被混合。

图1是示出被配置为实现本公开内容的一种或多种技术的示例内容生成***100的框图。内容生成***100包括设备104。设备104可以包括用于执行本文所描述的各种功能的一个或多个组件或电路。在一些示例中，设备104的一个或多个组件可以是SOC的组件。设备104可以包括被配置为执行本公开内容的一种或多种技术的一个或多个组件。在所示的示例中，设备104可以包括处理单元120和***存储器124。在一些方面中，设备104可以包括多个可选组件，例如，通信接口126、收发机132、接收机128、发射机130、显示处理器127和一个或多个显示器131。对显示器131的引用可以是指一个或多个显示器131。例如，显示器131可以包括单个显示器或多个显示器。显示器131可以包括第一显示器和第二显示器。第一显示器可以是左眼显示器，而第二显示器可以是右眼显示器。在一些示例中，第一显示器和第二显示器可以接收用于在其上呈现的不同的帧。在其它示例中，第一显示器和第二显示器可以接收用于在其上呈现的相同的帧。在进一步的示例中，图形处理的结果可以不显示在设备上，例如第一显示器和第二显示器可以不接收用于在其上呈现的任何帧。相反地，帧或图形处理结果可以被传输给另一设备。在一些方面中，这可以被称为分割渲染。

处理单元120可以包括内部存储器121。处理单元120可以被配置为执行图形处理，诸如在图形处理流水线107中。在一些示例中，设备104可以包括显示处理器(诸如显示处理器127)以在由一个或多个显示器131进行呈现之前对由处理单元120生成的一个或多个帧执行一种或多种显示处理技术。显示处理器127可以被配置为执行显示处理。例如，显示处理器127可以被配置为对由处理单元120生成的一个或多个帧执行一种或多种显示处理技术。一个或多个显示器131可以被配置为显示或以其它方式呈现由显示处理器127处理的帧。在一些示例中，一个或多个显示器131可以包括以下各项中的一项或多项：液晶显示器(LCD)、等离子体显示器、有机发光二极管(OLED)显示器、投影显示设备、增强现实显示设备、虚拟现实显示设备、头戴式显示器、或任何其它类型的显示设备。

在处理单元120外部的存储器(诸如***存储器124)可以是对于处理单元120可访问的。例如，处理单元120可以被配置为从诸如***存储器124之类的外部存储器进行读取和/或写入该外部存储器。处理单元120可以通过总线通信地耦合到***存储器124。在一些示例中，处理单元120可以通过总线或不同的连接彼此通信地耦合。

内部存储器121或***存储器124可以包括一个或多个易失性或非易失性存储器或存储设备。在一些示例中，内部存储器121或***存储器124可以包括RAM、SRAM、DRAM、可擦除可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)、闪存、磁数据介质或光存储介质、或任何其它类型的存储器。

根据一些示例，内部存储器121或***存储器124可以是非暂时性存储介质。术语“非暂时性”可以指示存储介质没有体现在载波或传播的信号中。然而，术语“非暂时性”不应当被解释为意指内部存储器121或***存储器124是不可移动的或者其内容是静态的。作为一个示例，***存储器124可以从设备104移除以及移动到另一设备。作为另一示例，***存储器124可以是不可从设备104移除的。

处理单元120可以是中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、通用GPU(GPGPU)、或可以被配置为执行图形处理的任何其它处理单元。在一些示例中，处理单元120可以被整合到设备104的主板中。在一些示例中，处理单元120可以存在于安装在设备104的主板中的端口中的图形卡上，或者可以以其它方式并入被配置为与设备104进行互操作的***设备内。处理单元120可以包括一个或多个处理器，诸如一个或多个微处理器、GPU、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)、算术逻辑单元(ALU)、数字信号处理器(DSP)、分立逻辑、软件、硬件、固件、其它等效的集成或分立逻辑电路、或其任何组合。如果技术是部分地以软件来实现的，则处理单元120可以将用于软件的指令存储在合适的非暂时性计算机可读存储介质(例如，内部存储器121)中，以及可以使用一个或多个处理器在硬件中执行指令，以执行本公开内容的技术。包括硬件、软件、硬件和软件的组合等的前述内容中的任何内容可以被认为是一个或多个处理器。

在一些方面中，内容生成***100可以包括可选的通信接口126。通信接口126可以包括接收机128和发射机130。接收机128可以被配置为执行本文中关于设备104描述的任何接收功能。另外，接收机128可以被配置为从另一设备接收信息(例如，眼睛或头部位置信息、渲染命令或位置信息)。发射机130可以被配置为执行本文中关于设备104描述的任何发送功能。例如，发射机130可以被配置为向另一设备发送可以包括针对内容的请求的信息。接收机128和发射机130可以被组合成收发机132。在这样的示例中，收发机132可以被配置为执行本文关于设备104描述的任何接收功能和/或发送功能。

再次参考图1，在某些方面中，图形处理流水线107可以包括确定组件198，其被配置为测量包括一个或多个面板测量的至少一个面板。确定组件198还可以被配置为确定针对一个或多个面板测量中的每个面板测量的至少一个校正因子。确定组件198还可以被配置为计算针对一个或多个面板测量中的每个面板测量的至少一个校正因子。确定组件198还可以被配置为基于一个或多个面板测量中的每个面板测量来调整至少一个校正因子。确定组件198还可以被配置为基于一个或多个面板测量中的每个面板测量来压缩至少一个校正因子。确定组件198还可以被配置为存储经压缩的至少一个校正因子。确定组件198还可以被配置为基于经调整的至少一个校正因子来解码针对至少一个帧的校正数据。确定组件198还可以被配置为存储针对至少一个帧的经解码的校正数据。确定组件198还可以被配置为传送针对至少一个帧的经解码的校正数据。确定组件198还可以被配置为在环境光水平大于环境光门限时减少校正数据的量。

如本文所描述的，诸如设备104之类的设备可以是指被配置为执行本文所描述的一种或多种技术的任何设备、装置或***。例如，设备可以是服务器、基站、用户设备、客户端设备、站、接入点、计算机(例如，个人计算机、台式计算机、膝上型计算机、平板计算机、计算机工作站、或大型计算机)、最终产品、装置、电话、智能电话、服务器、视频游戏平台或控制台、手持设备(例如，便携式视频游戏设备或个人数字助理(PDA))、可穿戴计算设备(例如，智能手表、增强现实设备或虚拟现实设备)、非可穿戴设备、显示器或显示设备、电视机、电视机顶盒、中间网络设备、数字媒体播放器、视频流设备、内容流设备、车载计算机、任何移动设备、被配置为生成图形内容的任何设备、或者被配置为执行本文所描述的一种或多种技术的任何设备。本文中的过程可以描述为由特定组件(例如，GPU)来执行，但是在进一步的实施例中，可以是使用与所公开的实施例一致的其它组件(例如，CPU)来执行的。

GPU可以在GPU流水线中处理多种类型的数据或数据分组。例如，在一些方面中，GPU可以处理两种类型的数据或数据分组，例如，上下文寄存器分组和绘制调用数据。上下文寄存器分组可以是可以管理将如何处理图形上下文的全局状态信息集合，例如，关于全局寄存器、着色程序或常量数据的信息。例如，上下文寄存器分组可以包括关于色彩格式的信息。在上下文寄存器分组的一些方面中，可以存在指示哪个工作负载属于上下文寄存器的比特。此外，可以存在同时和/或并行地运行的多个函数或程序。例如，函数或程序可以描述特定操作，例如，色彩模式或色彩格式。因此，上下文寄存器可以定义GPU的多个状态。

上下文状态可以用于确定单个处理单元(例如，顶点提取器(VFD)、顶点着色器(VS)、着色器处理器或几何体处理器)如何运行、和/或处理单元以哪种模式运行。为此，GPU可以使用上下文寄存器和编程数据。在一些方面中，GPU可以在流水线中生成工作负载，例如，顶点或像素工作负载。

图2示出了根据本公开内容的一种或多种技术的示例GPU 200。如图2中所示，GPU200包括命令处理器(CP)210、绘制调用数据分组212、VFD 220、VS 222、顶点高速缓存(VPC)224、三角形设置引擎(TSE)226、光栅化器(RAS)228、Z过程引擎(ZPE)230、像素内插器(PI)232、片段着色器(FS)234、渲染后端(RB)236、L2高速缓存(UCHE)238和***存储器240。尽管图2显示了GPU 200包括处理单元220-238，但是GPU 200可以包括多个额外的处理单元。此外，处理单元220-238仅是示例，并且根据本公开内容，GPU可以使用处理单元的任何组合或顺序。GPU 200还包括命令缓冲器250、上下文寄存器分组260和上下文状态261。

如图2中所示，GPU可以利用CP(例如，CP 210)或硬件加速器来将命令缓冲器解析为上下文寄存器分组(例如，上下文寄存器分组260)和/或绘制调用数据分组(例如，绘制调用数据分组212)。然后，CP 210可以通过单独的路径将上下文寄存器分组260或绘制调用数据分组212发送给GPU中的处理单元或块。此外，命令缓冲器250可以交替上下文寄存器和绘制调用的不同状态。例如，命令缓冲器可以如下构造：上下文N的上下文寄存器、上下文N的绘制调用、上下文N+1的上下文寄存器和上下文N+1的绘制调用。

移动设备或智能电话的各方面可以利用缓冲器机制来在设备的应用渲染侧(例如，GPU或CPU)与设备的显示或合成侧(例如，显示引擎)之间分配或协调缓冲器。例如，一些移动设备可以利用缓冲器队列机制来在应用渲染侧与显示或合成侧(其可以包括应用处理器(AP)或缓冲器合成器(例如，surface flinger或硬件合成器(HWC)))之间分配或协调缓冲器。在一些方面中，应用渲染侧可以被称为生产方，而显示或合成侧可以被称为消费方。此外，同步分隔器(divider)或栅栏可以用于在应用渲染侧与显示或合成侧之间同步内容。因此，栅栏可以被称为同步分隔器，反之亦然。

各种因子可以是用于应用渲染侧与显示或合成侧之间的显示处理的性能指标。例如，帧每秒(FPS)和卡顿(jank)(即帧渲染或合成中的延迟或暂停)可以是性能指标。在一些方面中，卡顿可以是在软件应用的用户界面的渲染中的可感知暂停。在一些应用中，卡顿可能是多种因素的结果，诸如缓慢操作或差的界面设计。在一些情况下，卡顿还可以对应于在设备处的显示器的刷新率的改变。卡顿还可能影响用户体验。

在一些情况下，应用可以在各种不同的FPS模式下运行。在一些方面中，显示器可以在30FPS模式下运行。在其它方面中，应用可以在不同的FPS模式下运行，例如，20或60FPS。本公开内容的各方面可以包括当前帧时延时间，其可以是指先前帧完成渲染与当前帧完成渲染之间的时间差。帧时延时间还可以是指连续刷新帧之间的时间。帧时延时间也可以是基于帧速率的。例如，用于每个帧的帧时延时间可以是33.33ms(例如，对应于30FPS)、16.67ms(例如，对应于60FPS)或50ms(例如，对应于20FPS)。

针对利用有机发光二极管(OLED)的显示器或面板的市场份额一直在稳步增长。例如，越来越多数量的OLED显示器被用在高端智能电话或智能设备、以及中端智能电话或者甚至低端智能电话中。这种不断增长的OLED普及度是由于多种不同的原因造成的，诸如OLED的出色色域和近乎无限的对比率。然而，与液晶显示器(LCD)面板相比，由于OLED材料和/或制造过程中的非均匀性，OLED面板可能包括显著更多的显示处理。这些非均匀性可以被称为“mura”。这些非均匀性也可以在被称为“de-mura”的过程中得以校正。

de-mura过程可以提高OLED面板的亮度均匀性，因为当与其它像素相比时，OLED面板中的每个像素可能不是相同的明度(brightness)或亮度(luminance)。例如，在de-mura过程中，可以针对每个像素或子像素的明度来对其进行测量。然后，可以校正像素或子像素，以使像素具有均匀的明度水平。因此，de-mura过程可以提高OLED面板中的面板均匀性。

在一些情况下，de-mura解决方案可以集成到面板显示驱动器集成电路(IC)(DDIC)中。这些DDIC可以为显示面板供电。基于DDIC的de-mura解决方案可以具有多种不同的组件。例如，基于DDIC的解决方案可以利用DDIC上的闪存来存储任何de-mura校正。这可能增加由设备或面板利用的组件或部件的数量，尤其是与在***存储器上存储de-mura校正相比。进而，物料清单(BOM)的成本可能增加，因为由DDIC利用的组件数量和BOM成本可能是直接相关的。

此外，基于DDIC的de-mura解决方案可以向DDIC发送或发出完全采样的图像数据。与其它de-mura解决方案相比，通过这样做，基于DDIC的解决方案可能利用较大的显示带宽量。进一步地，由于压缩比，用于显示流压缩(DSC)或视频电子标准协会(VESA)显示压缩-M(VDC-M)的帧缓冲器规范可能是较大的。此外，与其它de-mura解决方案相比，DDIC的工艺节点可能是较大的，例如，在AP正使用7nm工艺的同时，用于DDIC的工艺节点可能是28nm或更高。这可能也增加BOM成本和/或降低性能水平。

图3示出了根据本公开内容的一种或多种技术的***架构300。如图3中所示，***架构300包括***动态随机存取存储器(DRAM)302、应用处理器(AP)310、包括层混合器322的显示处理单元(DPU)320、目的地表面处理器管线(DSPP)324以及显示流压缩(DSC)或VDC-M编码器326。***架构300还包括显示面板350、串行闪存352、DDIC 360，DDIC 360包括静态RAM(SRAM)362、1/3RAM或1/5RAM 372、DSC^-1或VDC-M^-1解码器374、子像素渲染(SPR)单元376、de-mura单元378和degamma单元380。

如图3中所示，***DRAM 302可以发送数据或者与层混合器322进行通信，层混合器322可以将数据传送给DSPP 324。此外，DSPP 324可以与DSC或VDC-M编码器326进行通信。进而，DSC或VDC-M编码器326可以将数据(例如，移动工业处理器接口(MIPI)显示串行接口(DSI)数据)传送给解码器侧的帧缓冲器(1/3RAM或1/5RAM)372。此外，1/3RAM或1/5RAM 372可以与DSC^-1或VDC-M^-1解码器374进行通信，DSC^-1或VDC-M^-1解码器374可以与SPR单元376进行通信。SPR单元376可以将数据传送给de-mura单元378，de-mura单元378可以与degamma单元380进行通信。此外，串行闪存352可以与SRAM 362进行通信，并且SRAM 362可以与de-mura单元378进行通信。

图3显示了***架构300可以包括由AP 310和显示面板350利用的大量组件或部件。因此，与其它类型的de-mura解决方案相比，用于***架构300的BOM成本可能是大的。如上所指出的，***架构300可以利用基于DDIC的de-mura架构。

如上所指出的，基于DDIC的de-mura解决方案可能利用高BOM成本以及利用高功率量，例如，与其它类型的de-mura解决方案相比。例如，将数据或信息存储在DDIC上的存储器处可能导致设备处的组件数量增加以及BOM成本增加。基于此，基于DDIC的de-mura解决方案可能导致性能水平降低。因此，目前存在对于如下de-mura架构和解决方案的需求：所述de-mura架构和解决方案降低BOM成本量和/或降低所利用的功率量，使得可以提高设备的性能水平。

本公开内容的各方面可以包括利用应用处理器(AP)的de-mura架构和解决方案。与基于DDIC的解决方案相比，根据本公开内容的基于AP的de-mura解决方案可以具有多个优势。例如，通过将de-mura过程移到AP，本公开内容的各方面可以降低BOM成本量和/或降低由de-mura过程利用的功率量。进一步地，本公开内容的de-mura过程可以提高设备的性能水平。

本公开内容的各方面还可以包括用于计算和压缩用于基于AP的de-mura解决方案的校正因子或校正偏移的方法。通过这样做，可以降低针对基于AP的解决方案的BOM成本，例如，通过在***存储器中存储校正。此外，在本公开内容的基于AP的de-mura解决方案中，可以利用经SPR渲染的数据。通过发送SPR数据，本公开内容的各方面可以包括显示带宽的相应减少，例如，显示带宽的33％的减少。

此外，本公开内容的各方面可以利用更高的压缩率来进一步使帧缓冲器规范简易，例如，对于DSC或VDC-M显示流压缩。基于AP的de-mura解决方案还可以基于AP的工艺节点来降低BOM成本并且提高显示性能。例如，与DDIC的工艺节点(例如，28nm或更高)相比，AP的工艺节点可以更小(例如，7nm)。

图4示出了根据本公开内容的一种或多种技术的***架构400。如图4中所示，***架构400包括***DRAM 402、AP 410、DPU 420，DPU 420包括层混合器422、DSPP 424、DSC或VDC-M编码器426以及SPR和de-mura单元430。***架构400还包括显示面板450和DDIC 460，DDIC 460包括1/4RAM或1/6RAM 472、DSC^-1或VDC-M^-1解码器474和degamma单元480。

如图4中所示，***DRAM 402可以发送数据或者与层混合器422进行通信，层混合器422可以与DSPP 424进行通信。DSPP 424可以与SPR和de-mura单元430传送数据，de-mura单元430可以与DSC或VDC-M编码器426进行通信。进而，DSC或VDC-M编码器426可以将数据(例如，MIPI DSI数据)传送给1/4RAM或1/6RAM 472。在一些方面中，DSC或VDC-M编码器426可以传送经压缩的比特流，例如，2/3采样的SPR压缩比特流。此外，1/4RAM或1/6RAM 472可以与DSC^-1或VDC-M^-1解码器474进行通信，DSC^-1或VDC-M^-1解码器474可以与degamma单元480进行通信。

与图3中的***架构300相比，图4显示了***架构400可以包括由AP 410和显示面板450利用的数量减少的组件或部件。因此，与***架构300或其它基于DDIC的de-mura架构相比，可以降低***架构400的BOM成本。如图4中所示，***架构400可以利用基于AP的de-mura架构。

与图3中的***架构300相比，图4中的***架构400可以移除多个组件。例如，与***架构300相比，***架构400移除了串行闪存352和SRAM 362。进一步地，***架构400将SPR单元376和de-mura单元378组合成SPR和de-mura单元430。如上所指出的，减少***架构400中的组件数量可以导致BOM成本的相应降低。

除了降低BOM成本之外，***架构400还可以降低所利用的***功率量。例如，与上面图3中的***架构300相比，图4中的***架构400可以降低***功率和BOM成本两者。例如，***架构400降低了在DDIC(例如，DDIC 460)处利用的存储器数量，并且可以将其移到AP(例如，AP 410)。此外，***架构400可以减少在AP 410或DPU 420与显示面板450或DDIC460之间传输的数据量。

在一些方面中，***架构400可以在AP 410处存储多个校正因子或校正偏移。通过这样做，这可以降低在DDIC 460处利用的功率。此外，可以在AP 410上执行应用校正因子或校正偏移的逻辑，这也可以节省功率(由于AP所利用的较小工艺节点)。

如图4中所示，根据本公开内容的de-mura过程还可以使用测量***来测量显示面板。例如，测量***可以是相机、成像光度计或成像色度计。图4还显示了de-mura校正数据可以从***DRAM402传输到SPR和de-mura单元430。

在一些方面中，可以在显示面板上显示测试图案集合。此外，可以针对各种测试图案来测量显示面板上的每个子像素。在一些方面中，测试图案可以包括处于不同级别的多个恒定图像。然后，可以将该数据馈送到算法，该算法可以计算在每个级别的针对每个子像素的最佳de-mura偏移。

本公开内容可以利用这些de-mura偏移，以便改善每个子像素的明度均匀性。在一些情况下，用于存储该de-mura偏移数据所需要的带宽可能是大的。为了减小de-mura偏移的数据大小，本公开内容的各方面可以利用被称为聚类的机器学习技术，例如，经由使用聚类算法。

图5示出了根据本公开内容的一种或多种技术的示意图500。更具体地，图5显示了用于de-mura偏移的压缩的示意图，这可以是在DPU上执行的基于AP的de-mura解决方案。如图5中所示，示意图500包括测量***502、面板或被测设备(DUT)504、面板测量506、de-mura偏移508、聚类算法510、码本512和经压缩的偏移514。在一些方面中，被测设备(DUT)(例如，DUT 504)可以是显示面板(例如，面板504)的特定实例。

如图5中所示，测量***502可以测量面板或DUT 504。这可以产生面板测量506。在一些方面中，测量***可以是相机。在此之后，本公开内容的各方面可以计算de-mura偏移508。接下来，本公开内容的各方面可以利用聚类算法510，其可以产生码本512和经压缩的偏移514。

本公开内容的各方面可以测量显示面板的多种不同的因子。例如，本公开内容的各方面可以基于三个色彩级别(例如，红色(R)、绿色(G)和蓝色(B)(RGB))来测量面板，其中每个色彩级别具有多个比特，例如8比特。此外，每个测量可以包括亮度值，例如，针对每个像素或子像素的亮度值。

本公开内容的各方面还可以计算针对每个像素或子像素的de-mura偏移，例如，de-mura偏移508。如上所指出的，在由每个像素或子像素发射的亮度水平之间可能存在变化。如果与其它像素或子像素相比，一像素或子像素正在发射高或低的亮度水平，则本公开内容的各方面可以对该像素或子像素应用偏移，例如，de-mura偏移508。这些偏移可以被包括在一个或多个数据集合中。

本公开内容的各方面还可以对数据进行压缩，例如，通过使用聚类算法510。例如，可以通过量化针对每个像素或子像素的亮度偏移的量(诸如经由聚类算法)来压缩数据。这可以减少用于执行de-mura偏移所需要的带宽量。因此，为了减小de-mura偏移的大小，本公开内容的各方面可以利用被称为聚类的机器学习技术。

在一些方面中，聚类算法510可以是K均值聚类算法。K均值是一种迭代算法，其可以确定可以表示数据的质心集合。这种K均值聚类算法可以以任何维度来执行，并且当维度大于某个大小(例如，大于两个维度)时，其可以被称为矢量量化。在一些方面中，维度可以是计算偏移的层数量。例如，如果在八个不同的级别存在偏移，那么K均值算法可以是8维聚类操作。这意味着每个质心也可以是八个维度。进一步地，通过压缩或量化该数据，本公开内容的各方面可以减少用于执行de-mura偏移所需要的功率量。

如图5中所示，聚类算法510可以生成两个输出，例如，码本512和经压缩的偏移514集合。在一些情况下，可以从聚类过程的质心构造码本512。例如，质心可以包括针对每个像素或子像素的数据的表示或估计。码本512也可以是一种类型的数据库。例如，可以存在包括不同的RGB色彩信息的多个码本。

经压缩的偏移514可以是聚类过程的质心的索引，例如，针对每个数据样本。例如，索引可以指向码本512。经压缩的偏移514还可以包括不同的RGB色彩信息。此外，经压缩的偏移514可以是码字。

码本512或经压缩的偏移514可以用于调整显示面板的像素亮度。例如，码本512或经压缩的偏移514可以是在收集针对帧(例如，针对帧中的每个像素或子像素)的de-mura校正数据之前进行编码的。本公开内容的各方面还可以基于码本值或经压缩的偏移值来解码或解密针对帧的de-mura校正数据。因此，码本可以充当用于针对帧中的每个像素或子像素的de-mura校正数据的查找表。本公开内容的各方面还可以存储针对帧的经解码的校正数据。

此外，本公开内容的各方面可以减少校正数据的量，例如，当环境光水平大于环境光门限时。在一些方面中，可以基于设备功率水平或显示明度水平来减少校正数据的量。此外，经解码的校正数据可以是基于显示面板的显示内容以及用于显示面板的色域的。

图4和5示出了上述用于减少存储器带宽和/或降低所利用的功率量的基于AP的de-mura偏移过程的示例。如图4和5中所示，本公开内容的各方面(例如，本文中的AP和DPU)可以执行多个不同的步骤或过程来执行de-mura偏移。尽管AP和DPU可以执行本文提到的de-mura偏移，但是多个其它组件也可以执行这些步骤。例如，可以在AP或DPU外部执行多个不同的步骤，例如，面板测量或对偏移的计算/压缩。在一些方面中，这些步骤可以由连接到AP、DPU或其它测量设备的***或测量***(例如，计算机、PC或智能电话)来执行。

如上所指出的，本文中的***可以测量至少一个面板(例如，面板504)，其包括一个或多个面板测量(例如，面板测量506)。本文中的***还可以确定针对一个或多个面板测量(例如，面板测量506)中的每个面板测量的至少一个校正因子，例如de-mura偏移508。本文中的***还可以计算针对一个或多个面板测量(例如，面板测量506)中的每个面板测量的至少一个校正因子，例如de-mura偏移508。

进一步地，本文中的***可以基于一个或多个面板测量(例如，面板测量506)中的每个面板测量，来调整至少一个校正因子(例如，经由聚类算法510)。在一些方面中，本文中的***可以基于一个或多个面板测量(例如，面板测量506)中的每个面板测量，来压缩至少一个校正因子(例如，经由聚类算法510)。此外，本文中的***可以存储经压缩的至少一个校正因子，例如，经压缩的偏移514。

在一些方面中，经压缩的至少一个校正因子(例如，经压缩的偏移514)可以对应于至少一个码本(例如，码本512)或至少一个查找表。进一步地，经压缩的至少一个校正因子(例如，经压缩的偏移514)可以被存储在只读存储器(ROM)或非易失性存储器中。此外，可以基于聚类算法(例如，聚类算法510)来压缩至少一个校正因子。

本文中的AP和DPU(例如，AP 410或DPU 420)还可以基于经调整的至少一个校正因子(例如，经压缩的偏移514)来解码针对至少一个帧的校正数据。此外，本文中的AP和DPU(例如，AP 410或DPU 420)可以存储针对至少一个帧的经解码的校正数据，例如，在***DRAM 402处存储de-mura校正数据。本文中的AP和DPU(例如，AP 410或DPU 420)还可以传送针对至少一个帧的经解码的校正数据，例如，将de-mura校正数据从***DRAM 402传送到SPR和de-mura单元430。在一些方面中，经解码的校正数据(例如，de-mura校正数据)可以是基于至少一个面板(例如，显示面板450)的显示内容或至少一个面板(例如，显示面板450)的色域的。

当环境光水平大于环境光门限时，本文中的AP和DPU还可以减少校正数据(例如，de-mura校正数据)的量。在一些情况下，可以基于设备功率水平或显示明度水平来减少校正数据(例如，de-mura校正数据)的量。进一步地，可以基于至少一个量化矢量来计算至少一个校正因子，例如de-mura偏移508。

在一些方面中，至少一个校正因子(例如，de-mura偏移508)可以是de-mura偏移或de-mura增益中的至少一项。至少一个校正因子(例如，de-mura偏移508)还可以是由AP或DPU(例如，AP 410或DPU 420)中的至少一者来确定的。此外，一个或多个面板测量(例如，面板测量506)中的每个面板测量可以包括像素亮度水平。一个或多个面板测量(例如，面板测量506)中的每个面板测量还可以对应于至少一个子像素。此外，至少一个面板可以是被测设备(DUT)，例如DUT 504。

在一些方面中，本公开内容的用例可以包括在不同级别(例如，五个级别)定义的de-mura过程，其中在每个级别针对偏移具有一数量的比特的精度，例如8比特精度。例如，偏移可以具有[-128,+127]的形式。这可以导致每个样本总共40比特的信息描述所有偏移。本公开内容的各方面可以针对色彩分量内的所有样本执行聚类，以确定最佳地适配数据的质心集合，例如64个质心。因此，每个样本可以通过其所属的质心的索引来表示，而不是通过五个8比特偏移来表示。这可以产生一定的有效压缩率，例如，有效压缩率为(40比特/6比特)或6.67:1。

偏移(十进制)	偏移(二进制)
		+3	0b00000011
0	0b00000000
		-100	0b10011100

表1

上面的表1示出了十进制和二进制的de-mura偏移的示例。如在表1中所指示的，可以通过串接组成偏移的比特来构造码本条目。例如，可以在三个级别定义解决方案，其中每个级别具有8比特。对于具有偏移(+3,0,-100)的质心，码本条目可以为0b100111000000000000000011＝ 47000003。在一些情况下，本公开内容的de-mura硬件可以使用比特移位，以便从给定码字恢复各个级别。

本公开内容的各方面还可以包括用于功率节省的额外用例。例如，从基于AP的***的角度来看，DRAM带宽可能是功率使用中的重要因素。本公开内容的各方面可以在de-mura性能与DRAM带宽之间进行一些权衡。例如，在高环境光下，本公开内容的各方面可以使用较少的校正比特，因为在这种场景下可以降低可感知的对比度，这可以节省所利用的功率。因此，在高环境光的环境中，本公开内容的各方面可以减少校正比特的数量。在黑暗环境中，可能容易查看显示面板的细节，因此本公开内容可以使用大数量的校正比特。然而，在明亮环境中，可能难以区分显示器的细节，因此本公开内容可以减少校正比特的数量。

此外，如果设备或智能电话进入功率节省状态，则本公开内容的各方面可以减少校正比特的数量。此外，本公开内容的各方面可以基于内容的平坦度或复杂度来使用较小的de-mura表面。例如，对于具有较高复杂度的数据，可能难以注意到面板中的小偏差。因此，可以基于数据的高复杂度来减少校正比特的数量。此外，如果内容不包括平坦表面，则可能更加难以区分小的面板偏差，因此可以减少比特数量。

此外，本公开内容的各方面可以基于色域或显示面板来减少每个色彩通道的校正比特的数量。例如，如果针对某种色彩存在更多细节，则可以调整校正比特的数量。因此，如果显示面板用户可能没有注意到大数量的校正比特的益处，则可以减少校正比特的数量。

本公开内容的各方面还可以经由de-mura操作来增加色彩均匀性。因此，可以基于本公开内容的de-mura解决方案来改进显示面板的色彩均匀性。在一些方面中，用于OLED面板的基于AP的解决方案的结果可以进行色彩映射，例如，基于所测量到的面板的亮度。因此，基于AP的de-mura解决方案的结果可以在彩色图中观察到。例如，本公开内容的各方面可以改进针对所有三种色彩分量(例如，RGB色彩分量)的均匀性。

本公开内容的各方面还可以包括针对显示面板的多个不同的测试测量。在一个方面中，可以使用特定测试图案在一定的时间段(例如，72小时的时间段)内对面板进行烧屏(burn-in)。该图案可以被包括在经预校正的测量数据中，其可以是处于特定级别(例如，级别16/255)的恒定图案。在一些方面中，在已经应用de-mura解决方案之后，烧屏伪影可以不再是可见的。针对该结果的测量可以在多个不同的级别进行，例如，六个级别(16、32、64、128、192、255)，其中针对每个偏移具有不同比特的精度，例如，针对每个偏移[-32,+31]具有6比特的精度。因此，这可以针对每个子像素产生总共36比特的信息。然后，本公开内容的各方面可以使用一定数量的质心(例如，64个质心的集合)来执行聚类，这可以针对每个子像素产生一定量的数据，例如，每个子像素有6比特的数据。如上所指出的，本文的操作可以保持改进的de-mura性能，同时将偏移压缩一定倍数，例如，6:1的倍数。

图6示出了根据本公开内容的一种或多种技术的示例方法的流程图600。该方法可以由AP、DPU、显示引擎、GPU、CPU或用于显示或图形处理的装置来执行。在602处，该装置可以测量包括一个或多个面板测量的至少一个面板，如结合图3、4和5中的示例所描述的。在604处，该装置可以确定针对一个或多个面板测量中的每个面板测量的至少一个校正因子，如结合图3、4和5中的示例所描述的。在606处，该装置还可以计算针对一个或多个面板测量中的每个面板测量的至少一个校正因子，如结合图3、4和5中的示例所描述的。

在608处，该装置可以基于一个或多个面板测量中的每个面板测量来调整至少一个校正因子，如结合图3、4和5中的示例所描述的。在610处，该装置可以基于一个或多个面板测量中的每个面板测量来压缩至少一个校正因子，如结合图3、4和5中的示例所描述的。在612处，该装置可以存储经压缩的至少一个校正因子，如结合图3、4和5中的示例所描述的。

在一些方面中，经压缩的至少一个校正因子可以对应于至少一个码本或至少一个查找表，如结合图3、4和5中的示例所描述的。进一步地，经压缩的至少一个校正因子可以被存储在只读存储器(ROM)或非易失性存储器中，如结合图3、4和5中的示例所描述的。此外，可以基于聚类算法来压缩至少一个校正因子，如结合图3、4和5中的示例所描述的。

在614处，该装置可以基于经调整的至少一个校正因子来解码针对至少一个帧的校正数据，如结合图3、4和5中的示例所描述的。在616处，该装置可以存储针对至少一个帧的经解码的校正数据，如结合图3、4和5中的示例所描述的。在618处，该装置还可以传送针对至少一个帧的经解码的校正数据，如结合图3、4和5中的示例所描述的。在一些方面中，经解码的校正数据可以是基于至少一个面板的显示内容或至少一个面板的色域的，如结合图3、4和5中的示例所描述的。

在620处，当环境光水平大于环境光门限时，该装置还可以减少校正数据的量，如结合图3、4和5中的示例所描述的。在一些情况下，可以基于设备功率水平或显示明度水平来减少校正数据的量，如结合图3、4和5中的示例所描述的。进一步地，可以基于至少一个量化矢量来计算至少一个校正因子，如结合图3、4和5中的示例所描述的。

在一些方面中，至少一个校正因子可以是de-mura偏移或de-mura增益中的至少一项，如结合图3、4和5中的示例所描述的。至少一个校正因子还可以是由应用处理器(AP)、显示处理单元(DPU)、测量***或CPU中的至少一者来确定的，如结合图3、4和5中的示例所描述的。此外，一个或多个面板测量中的每个面板测量可以包括像素亮度水平，如结合图3、4和5中的示例所描述的。一个或多个面板测量中的每个面板测量还可以对应于至少一个子像素，如结合图3、4和5中的示例所描述的。此外，至少一个面板可以是被测设备(DUT)，如结合图3、4和5中的示例所描述的。

在一种配置中，提供了一种用于显示或图形处理的方法或装置。该装置可以是测量***、AP、DPU、显示引擎、GPU、CPU或者可以执行显示或图形处理的某种其它处理器。在一个方面中，该装置可以是设备104内的处理单元120，或者可以是设备104或另一设备内的某种其它硬件。该装置可以包括用于测量包括一个或多个面板测量的至少一个面板的单元。该装置还可以包括用于确定针对一个或多个面板测量中的每个面板测量的至少一个校正因子的单元。该装置还可以包括用于基于一个或多个面板测量中的每个面板测量来调整至少一个校正因子的单元。该装置还可以包括用于基于一个或多个面板测量中的每个面板测量来压缩至少一个校正因子的单元。该装置还可以包括用于存储经压缩的至少一个校正因子的单元。该设备还可以包括用于基于经调整的至少一个校正因子来解码针对至少一个帧的校正数据的单元。该装置还可以包括用于传送针对至少一个帧的经解码的校正数据的单元。该装置还可以包括用于存储针对至少一个帧的经解码的校正数据的单元。该装置还可以包括用于在环境光水平大于环境光门限时减少校正数据的量的单元。该装置还可以包括用于计算针对一个或多个面板测量中的每个面板测量的至少一个校正因子的单元。

本文描述的主题可以被实现为实现一个或多个益处或优势。例如，所描述的显示或图形处理技术可以由测量***、AP、DPU、显示引擎、GPU或CPU使用，以减少处理时间和/或所使用的功率。与其它显示或图形处理技术相比，这也可以以低成本来实现。此外，本文中的显示或图形处理技术可以改善或加速处理或执行时间。进一步地，本文中的图形处理技术可以提高资源或数据利用率和/或资源效率。此外，本公开内容的各方面可以利用基于AP的架构来存储de-mura数据，这可以在de-mura计算和压缩过程期间减少存储器带宽并且提高性能。

根据本公开内容，在上下文没有另外规定的情况下，术语“或”可以被解释为“和/或”。另外，虽然诸如“一个或多个”或“至少一个”等的短语可能已经用于本文所公开的一些特征，而没有用于其它特征，但是没有使用这样的语言的特征可以被解释为在上下文没有另外规定的情况下暗示了这样的含义。

在一个或多个示例中，本文所描述的功能可以用硬件、软件、固件或其任何组合来实现。例如，尽管已经遍及本公开内容使用了术语“处理单元”，但是这样的处理单元可以用硬件、软件、固件或其任何组合来实现。如果任何功能、处理单元、本文所描述的技术或其它模块是用软件实现的，则功能、处理单元、本文所描述的技术或其它模块可以作为一个或多个指令或代码存储在计算机可读介质上或者通过其进行发送。计算机可读介质可以包括计算机数据存储介质或通信介质，所述通信介质包括促进将计算机程序从一个地方传送到另一个地方的任何介质。以此方式，计算机可读介质通常可以对应于：(1)有形计算机可读存储介质，其是非暂时性的；或者(2)诸如信号或载波之类的通信介质。数据存储介质可以是可以由一个或多个计算机或者一个或多个处理器存取以取回用于实现在本公开内容中描述的技术的指令、代码和/或数据结构的任何可用的介质。通过举例而非限制性的方式，这样的计算机可读介质可以包括RAM、ROM、EEPROM、CD-ROM或其它光盘存储、磁盘存储或其它磁存储设备。如本文所使用的，磁盘和光盘包括压缩光盘(CD)、激光光盘、光盘、数字多功能光盘(DVD)、软盘和蓝光光盘，其中磁盘通常磁性地复制数据，而光盘利用激光来光学地复制数据。上述各项的组合也应当被包括在计算机可读介质的范围之内。计算机程序产品可以包括计算机可读介质。

代码可以由一个或多个处理器来执行，诸如一个或多个数字信号处理器(DSP)、通用微处理器、专用集成电路(ASIC)、算术逻辑单元(ALU)、现场可编程逻辑阵列(FPGA)、或其它等效的集成的或分立的逻辑电路。因此，如本文所使用的术语“处理器”可以是指前述结构中的任何一者或者适合于实现本文所描述的技术的任何其它结构。此外，所述技术可以是在一个或多个电路或逻辑元件中充分地实现的。

本公开内容的技术可以是在各种各样的设备或装置中实现的，包括无线手机、集成电路(IC)或IC集合(例如，芯片集合)。在本公开内容中描述了各种组件、模块或单元，以强调被配置为执行所公开的技术的设备的功能方面，但是不一定需要通过不同的硬件单元来实现。确切而言，如上文所描述的，各个单元可以被组合在任何硬件单元中，或者由一批可互操作的硬件单元(包括如上文所描述的一个或多个处理器)结合合适的软件和/或固件来提供。

已经描述了各个示例。这些和其它示例在跟随的权利要求的范围内。

Claims (52)

1.一种显示处理的方法，包括：

测量包括一个或多个面板测量的至少一个面板；

确定针对所述一个或多个面板测量中的每个面板测量的至少一个校正因子；

基于所述一个或多个面板测量中的每个面板测量来调整所述至少一个校正因子；以及

基于经调整的至少一个校正因子来解码针对至少一个帧的校正数据，其中，经解码的校正数据是基于所述至少一个面板的显示内容或所述至少一个面板的色域的。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括：

基于所述一个或多个面板测量中的每个面板测量来压缩所述至少一个校正因子。

3.根据权利要求2所述的方法，还包括：

存储经压缩的至少一个校正因子。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述经压缩的至少一个校正因子对应于至少一个码本或至少一个查找表。

5.根据权利要求3所述的方法，其中，所述经压缩的至少一个校正因子被存储在只读存储器(ROM)或非易失性存储器中。

6.根据权利要求2所述的方法，其中，所述至少一个校正因子是基于聚类算法进行压缩的。

7.根据权利要求1所述的方法，还包括：

存储针对所述至少一个帧的经解码的校正数据。

8.根据权利要求1所述的方法，还包括：

传送针对所述至少一个帧的经解码的校正数据。

9.根据权利要求1所述的方法，还包括：

当环境光水平大于环境光门限时减少所述校正数据的量。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述校正数据的量是基于设备功率水平或显示明度水平来减少的。

11.根据权利要求1所述的方法，还包括：

计算针对所述一个或多个面板测量中的每个面板测量的所述至少一个校正因子。

12.根据权利要求11所述的方法，其中，所述至少一个校正因子是基于至少一个量化矢量来计算的。

13.根据权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个校正因子是de-mura偏移或de-mura增益中的至少一项。

14.根据权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个校正因子是由应用处理器(AP)、显示处理单元(DPU)、测量***或中央处理单元(CPU)中的至少一者来确定的。

15.根据权利要求1所述的方法，其中，所述一个或多个面板测量中的每个面板测量包括像素亮度水平。

16.根据权利要求1所述的方法，其中，所述一个或多个面板测量中的每个面板测量对应于至少一个子像素。

17.根据权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个面板是被测设备(DUT)。

18.一种用于显示处理的装置，包括：

存储器；以及

至少一个处理器，其耦合到所述存储器并且被配置为进行以下操作：

测量包括一个或多个面板测量的至少一个面板；

确定针对所述一个或多个面板测量中的每个面板测量的至少一个校正因子；

基于所述一个或多个面板测量中的每个面板测量来调整所述至少一个校正因子；以及

基于经调整的至少一个校正因子来解码针对至少一个帧的校正数据，其中，经解码的校正数据是基于所述至少一个面板的显示内容或所述至少一个面板的色域的。

19.根据权利要求18所述的装置，其中，所述至少一个处理器还被配置为：

基于所述一个或多个面板测量中的每个面板测量来压缩所述至少一个校正因子。

20.根据权利要求19所述的装置，其中，所述至少一个处理器还被配置为：

存储经压缩的至少一个校正因子。

21.根据权利要求20所述的装置，其中，所述经压缩的至少一个校正因子对应于至少一个码本或至少一个查找表。

22.根据权利要求20所述的装置，其中，所述经压缩的至少一个校正因子被存储在只读存储器(ROM)或非易失性存储器中。

23.根据权利要求19所述的装置，其中，所述至少一个校正因子是基于聚类算法进行压缩的。

24.根据权利要求18所述的装置，其中，所述至少一个处理器还被配置为：

存储针对所述至少一个帧的经解码的校正数据。

25.根据权利要求18所述的装置，其中，所述至少一个处理器还被配置为：

传送针对所述至少一个帧的经解码的校正数据。

26.根据权利要求18所述的装置，其中，所述至少一个处理器还被配置为：

当环境光水平大于环境光门限时减少所述校正数据的量。

27.根据权利要求26所述的装置，其中，所述校正数据的量是基于设备功率水平或显示明度水平来减少的。

28.根据权利要求18所述的装置，其中，所述至少一个处理器还被配置为：

计算针对所述一个或多个面板测量中的每个面板测量的所述至少一个校正因子。

29.根据权利要求28所述的装置，其中，所述至少一个校正因子是基于至少一个量化矢量来计算的。

30.根据权利要求18所述的装置，其中，所述至少一个校正因子是de-mura偏移或de-mura增益中的至少一项。

31.根据权利要求18所述的装置，其中，所述至少一个校正因子是由应用处理器(AP)、显示处理单元(DPU)、测量***或中央处理单元(CPU)中的至少一者来确定的。

32.根据权利要求18所述的装置，其中，所述一个或多个面板测量中的每个面板测量包括像素亮度水平。

33.根据权利要求18所述的装置，其中，所述一个或多个面板测量中的每个面板测量对应于至少一个子像素。

34.根据权利要求18所述的装置，其中，所述至少一个面板是被测设备(DUT)。

35.一种用于显示处理的装置，包括：

用于测量包括一个或多个面板测量的至少一个面板的单元；

用于确定针对所述一个或多个面板测量中的每个面板测量的至少一个校正因子的单元；

用于基于所述一个或多个面板测量中的每个面板测量来调整所述至少一个校正因子的单元；以及

用于基于经调整的至少一个校正因子来解码针对至少一个帧的校正数据的单元，其中，经解码的校正数据是基于所述至少一个面板的显示内容或所述至少一个面板的色域的。

36.根据权利要求35所述的装置，还包括：

用于基于所述一个或多个面板测量中的每个面板测量来压缩所述至少一个校正因子的单元。

37.根据权利要求36所述的装置，还包括：

用于存储经压缩的至少一个校正因子的单元。

38.根据权利要求37所述的装置，其中，所述经压缩的至少一个校正因子对应于至少一个码本或至少一个查找表。

39.根据权利要求37所述的装置，其中，所述经压缩的至少一个校正因子被存储在只读存储器(ROM)或非易失性存储器中。

40.根据权利要求36所述的装置，其中，所述至少一个校正因子是基于聚类算法进行压缩的。

41.根据权利要求35所述的装置，还包括：

用于存储针对所述至少一个帧的经解码的校正数据的单元。

42.根据权利要求35所述的装置，还包括：

用于传送针对所述至少一个帧的经解码的校正数据的单元。

43.根据权利要求35所述的装置，还包括：

用于当环境光水平大于环境光门限时减少所述校正数据的量的单元。

44.根据权利要求43所述的装置，其中，所述校正数据的量是基于设备功率水平或显示明度水平来减少的。

45.根据权利要求35所述的装置，还包括：

用于计算针对所述一个或多个面板测量中的每个面板测量的所述至少一个校正因子的单元。

46.根据权利要求45所述的装置，其中，所述至少一个校正因子是基于至少一个量化矢量来计算的。

47.根据权利要求35所述的装置，其中，所述至少一个校正因子是de-mura偏移或de-mura增益中的至少一项。

48.根据权利要求35所述的装置，其中，所述至少一个校正因子是由应用处理器(AP)、显示处理单元(DPU)、测量***或中央处理单元(CPU)中的至少一者来确定的。

49.根据权利要求35所述的装置，其中，所述一个或多个面板测量中的每个面板测量包括像素亮度水平。

50.根据权利要求35所述的装置，其中，所述一个或多个面板测量中的每个面板测量对应于至少一个子像素。

51.根据权利要求35所述的装置，其中，所述至少一个面板是被测设备(DUT)。

52.一种存储用于显示处理的计算机可执行代码的计算机可读介质，包括用于进行以下操作的代码：

测量包括一个或多个面板测量的至少一个面板；

确定针对所述一个或多个面板测量中的每个面板测量的至少一个校正因子；

基于所述一个或多个面板测量中的每个面板测量来调整所述至少一个校正因子；以及

基于经调整的至少一个校正因子来解码针对至少一个帧的校正数据，其中，经解码的校正数据是基于所述至少一个面板的显示内容或所述至少一个面板的色域的。

Images