CN114739644A - 色偏判等方法、装置、设备及可读存储介质 - Google Patents

色偏判等方法、装置、设备及可读存储介质 Download PDF

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Wuhan Jingce Electronic Group Co Ltd
Wuhan Jingli Electronic Technology Co Ltd
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Abstract

本发明提供一种色偏判等方法、装置、设备及可读存储介质。该方法包括：获取待测区域在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点P；基于所述待测区域在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点P以及等能白光在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点E，计算所述色坐标点P与所述色坐标点E的距离以及EP两点连线与CIE 1931色度坐标图上x轴的夹角；根据所述距离以及夹角确定所述待测区域的色偏等级。通过本发明，基于色度圆（结合距离和夹角）的卡控方法，有效地解决了矩形框式卡控方法带来的误差问题，提升了色偏判等的准确率。

Description

色偏判等方法、装置、设备及可读存储介质
技术领域
本发明涉及自动光学检测技术领域，尤其涉及一种色偏判等方法、装置、设备及可读存储介质。
背景技术
自动光学检测***在工业中应用广泛，它可以代替人来完成一系列具有高度重复性和有一定风险的工作，具有速度快、精度高、可靠性好、无接触无损、性价比高和通用性强等特点，提高了产线的生产效率。
显示面板的检测精度在面板制造中尤为重要，缺陷检测算法作为面板缺陷检测***的核心，其检测效果直接决定了客户的满意度。近年来，色偏类缺陷的精确检测一直是个挑战，尤其是那种大面积的微弱色偏。目前使用探测能力更强的的色度计可以有效地解决这个问题，测量待测区域的色度值，通过卡控色度值来判断待测区域的色偏情况，但是现有的矩形框式卡控方法（A≤x≤B，C≤x≤D），很难准确设置合理的x、y色度卡控范围，因为标准的CIE色度图中红、绿、蓝等色域分布并不是正矩形，而是带有弧度的曲线分布，故常规的矩形式卡控方法对最终的色度测量判定结果会有很大的误差，从而导致色偏判等结构不够精准。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种色偏判等方法、装置、设备及可读存储介质，旨在解决现有技术中基于常规的矩形式卡控方法进行色偏判等的结果不够精准的技术问题。
第一方面，本发明提供一种色偏判等方法，所述色偏判等方法包括：
获取待测区域在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点P；
基于所述待测区域在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点P以及等能白光在CIE1931色度坐标图上的色坐标点E，计算所述色坐标点P与所述色坐标点E的距离以及EP两点连线与CIE 1931色度坐标图上x轴的夹角；
根据所述距离以及夹角确定所述待测区域的色偏等级。
可选的，所述根据所述距离以及夹角确定所述待测区域的色偏等级的步骤包括：
当所述距离大于或等于零且小于或等于第一预设距离时，确定所述待测区域的色偏等级为无色偏。
可选的，所述根据所述距离以及夹角确定所述待测区域的色偏等级的步骤还包括：
当所述距离大于第一预设距离且小于或等于第二预设距离，以及所述夹角大于第一预设角度且小于第二预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为轻度偏红；
当所述距离大于所述第二预设距离且小于或等于第三预设距离，以及所述夹角大于第一预设角度且小于第二预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为中度偏红；
当所述距离大于所述第三预设距离，以及所述夹角大于第一预设角度且小于第二预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为重度偏红。
可选的，所述根据所述距离以及夹角确定所述待测区域的色偏等级的步骤还包括：
当所述距离大于第一预设距离且小于或等于第二预设距离，以及所述夹角大于第二预设角度且小于第三预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为轻度偏绿；
当所述距离大于所述第二预设距离且小于或等于第三预设距离，以及所述夹角大于第二预设角度且小于第三预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为中度偏绿；
当所述距离大于所述第三预设距离，以及所述夹角大于第二预设角度且小于第三预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为重度偏绿。
可选的，所述根据所述距离以及夹角确定所述待测区域的色偏等级的步骤还包括：
当所述距离大于第一预设距离且小于或等于第二预设距离，以及所述夹角大于第三预设角度且小于180°或所述夹角大于-180°且小于第一预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为轻度偏蓝；
当所述距离大于所述第二预设距离且小于或等于第三预设距离，以及所述夹角大于第三预设角度且小于180°或所述夹角大于-180°且小于第一预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为中度偏蓝；
当所述距离大于所述第三预设距离，以及所述夹角大于第三预设角度且小于180°或所述夹角大于-180°且小于第一预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为重度偏蓝。
第二方面，本发明还提供一种色偏判等装置，所述色偏判等装置包括：
获取模块，用于获取待测区域在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点P；
计算模块，用于基于所述待测区域在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点P以及等能白光在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点E，计算所述色坐标点P与所述色坐标点E的距离以及EP两点连线与CIE 1931色度坐标图上x轴的夹角；
判等模块，用于根据所述距离以及夹角确定所述待测区域的色偏等级。
可选的，所述判等模块，用于：
当所述距离大于或等于零且小于或等于第一预设距离时，确定所述待测区域的色偏等级为无色偏。
可选的，所述判等模块，还用于：
当所述距离大于第一预设距离且小于或等于第二预设距离，以及所述夹角大于第一预设角度且小于第二预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为轻度偏红；
当所述距离大于所述第二预设距离且小于或等于第三预设距离，以及所述夹角大于第一预设角度且小于第二预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为中度偏红；
当所述距离大于所述第三预设距离，以及所述夹角大于第一预设角度且小于第二预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为重度偏红。
第三方面，本发明还提供一种色偏判等设备，所述色偏判等设备包括处理器、存储器、以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的色偏判等程序，其中所述色偏判等程序被所述处理器执行时，实现如上所述的色偏判等方法的步骤。
第四方面，本发明还提供一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有色偏判等程序，其中所述色偏判等程序被处理器执行时，实现如上所述的色偏判等方法的步骤。
本发明中，获取待测区域在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点P；基于所述待测区域在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点P以及等能白光在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点E，计算所述色坐标点P与所述色坐标点E的距离以及EP两点连线与CIE 1931色度坐标图上x轴的夹角；根据所述距离以及夹角确定所述待测区域的色偏等级。通过本发明，基于色度圆（结合距离和夹角）的卡控方法，有效地解决了矩形框式卡控方法带来的误差问题，提升了色偏判等的准确率。
附图说明
图1为本发明实施例方案中涉及的色偏判等设备的硬件结构示意图；
图2为本发明色偏判等方法一实施例的流程示意图；
图3为CIE 1931色度坐标图的示意图；
图4为在CIE 1931色度坐标图上以等能白光点E为坐标原点构建新坐标系的示意图；
图5为一实施例中发蓝屏体的示意图；
图6为按照矩形框式卡控方法进行色偏判等的示意图；
图7为本发明色偏判等装置一实施例的功能模块示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
第一方面，本发明实施例提供一种色偏判等设备，该色偏判等设备可以是个人计算机（personal computer，PC）、笔记本电脑、服务器等具有数据处理功能的设备。
参照图1，图1为本发明实施例方案中涉及的色偏判等设备的硬件结构示意图。本发明实施例中，色偏判等设备可以包括处理器1001（例如中央处理器Central ProcessingUnit，CPU），通信总线1002，用户接口1003，网络接口1004，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信；用户接口1003可以包括显示屏（Display）、输入单元比如键盘（Keyboard）；网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口（如无线保真WIreless-FIdelity，WI-FI接口）；存储器1005可以是高速随机存取存储器（random accessmemory，RAM），也可以是稳定的存储器（non-volatile memory），例如磁盘存储器，存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。本领域技术人员可以理解，图1中示出的硬件结构并不构成对本发明的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
继续参照图1，图1中作为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作***、网络通信模块、用户接口模块以及色偏判等程序。其中，处理器1001可以调用存储器1005中存储的色偏判等程序，并执行本发明实施例提供的色偏判等方法。
第二方面，本发明实施例提供了一种色偏判等方法。
一实施例中，参照图2，图2为本发明色偏判等方法一实施例的流程示意图。如图2所示，色偏判等方法包括：
步骤S10，获取待测区域在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点P；
本实施例中，基于光学仪器色度仪/计获取屏幕待测区域的色度信息，即待测区域在CIE 1931色度坐标图上的色坐标（x，y），从而得到对应的色坐标点P。
步骤S20，基于所述待测区域在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点P以及等能白光在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点E，计算所述色坐标点P与所述色坐标点E的距离以及EP两点连线与CIE 1931色度坐标图上x轴的夹角；
本实施例中，在CIE 1931色度坐标图上基于色坐标（x，y），即可确定对应的点P，等能白光点E在CIE 1931色度坐标图上的色坐标是已知的，基于此，即可计算得到点P与等能白光点E的距离D以及EP两点连线与CIE 1931色度坐标图上x轴的夹角θ。
参照图3，图3为CIE 1931色度坐标图的示意图。图中参数可参照现有技术中对CIE1931色度坐标图的介绍，等能白光点E在CIE 1931色度坐标图中的坐标为（0.3333，0.3333）。容易理解的是，知晓了两个点（点P和点E）在同一坐标系中的坐标，即可知晓两点之间的距离，以及两点构成的连线与坐标系x轴的夹角。
步骤S30，根据所述距离以及夹角确定所述待测区域的色偏等级。
本实施例中，基于步骤S20计算得到的距离D以及夹角θ即可结合预设的判等规则确定待测区域的色偏等级。
本实施例中，获取待测区域在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点P；基于所述待测区域在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点P以及等能白光在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点E，计算所述色坐标点P与所述色坐标点E的距离以及EP两点连线与CIE 1931色度坐标图上x轴的夹角；根据所述距离以及夹角确定所述待测区域的色偏等级。通过本实施例，基于色度圆（结合距离和夹角）的卡控方法，有效地解决了矩形框式卡控方法带来的误差问题，提升了色偏判等的准确率。
参照图4，图4为在CIE 1931色度坐标图上以等能白光点E为坐标原点构建新坐标 系的示意图。如图4所示，只将色度图色域分为红、绿、蓝三大类，
Figure 371987DEST_PATH_IMAGE001
1、
Figure 546617DEST_PATH_IMAGE001
2、
Figure 39040DEST_PATH_IMAGE001
3为色域的分界线， 且红、蓝、绿的偏色程度分别沿着
Figure 299120DEST_PATH_IMAGE001
4、
Figure 784459DEST_PATH_IMAGE001
5、
Figure 813595DEST_PATH_IMAGE001
6的箭头方向逐渐加重。C1、C2、C3是以点O（即等能 白光点E）为圆心且半径分别为R1（0.06）、R2（0.14）、R3（0.22）的圆。
其中，色域分界点O、P1、P2以及P3在CIE 1931色度坐标图上的坐标如表1所示：
Figure 241034DEST_PATH_IMAGE002
图4中
Figure 722831DEST_PATH_IMAGE003
r、
Figure 870916DEST_PATH_IMAGE003
g、
Figure 629924DEST_PATH_IMAGE003
b对应的角度范围如下：
Figure 103631DEST_PATH_IMAGE003
r：θ1＜θ＜θ2；
Figure 719331DEST_PATH_IMAGE003
g：θ2＜θ＜θ3；
Figure 671106DEST_PATH_IMAGE003
b：θ3＜θ＜π或-π＜θ＜θ1；
结合图4以及上述数据， 可制定如下色偏判等规则：
1、OK，即无色偏（0≤D≤R1）
2.1、轻度偏红（R1＜D≤R2且θ1＜θ＜θ2）
2.2、中度偏红（R2＜D≤R3且θ1＜θ＜θ2）
2.3、重度偏红（D＞R3且θ1＜θ＜θ2）
3.1、轻度偏绿（R1＜D≤R2且θ2＜θ＜θ3）
3.2、中度偏绿（R2＜D≤R3且θ2＜θ＜θ3）
3.3、重度偏绿（D＞R3且θ2＜θ＜θ3）
4.1、轻度偏蓝（R1＜D≤R2且θ3＜θ＜π/-π＜θ＜θ1）
4.2、中度偏蓝（R2＜D≤R3且θ3＜θ＜π/-π＜θ＜θ1）
4.3、重度偏蓝（D＞R3且θ3＜θ＜π/-π＜θ＜θ1）
将R1记为第一预设距离、R2记为第二预设距离、R3记为第三预设距离、θ1记为第一预设角度、θ2记为第二预设角度、θ3记为第三预设角度。需要说明的是，还可以进一步在R1、R2、R3以及θ1、θ2、θ2的基础上，设置第一/二/三预设距离以及第一/二/三预设角度。
进一步地，一实施例中，步骤S30包括：
当所述距离大于或等于零且小于或等于第一预设距离时，确定所述待测区域的色偏等级为无色偏。
本实施例中，由于制造工艺的误差及光学环境等因素的影响，实际测得的屏体并不能达到完全的无色偏状态，一般情况下，可允许屏体有轻微的色偏，因此当待测区域在CIE 1931色度坐标图上的色坐标（x，y）落在圆C1内时，将其视为无色偏。即当距离大于或等于零且小于或等于第一预设距离（即满足色偏判等规则1）时，确定待测区域的色偏等级为无色偏。
进一步地，一实施例中，步骤S30包括：
当所述距离大于第一预设距离且小于或等于第二预设距离，以及所述夹角大于第一预设角度且小于第二预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为轻度偏红；
当所述距离大于所述第二预设距离且小于或等于第三预设距离，以及所述夹角大于第一预设角度且小于第二预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为中度偏红；
当所述距离大于所述第三预设距离，以及所述夹角大于第一预设角度且小于第二预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为重度偏红。
本实施例中，当距离D以及夹角θ满足色偏判等规则2.1时，确定待测区域的色偏等级为轻度偏红；当距离D以及夹角θ满足色偏判等规则2.2时，确定待测区域的色偏等级为中度偏红；当距离D以及夹角θ满足色偏判等规则2.3时，确定待测区域的色偏等级为重度偏红。
进一步地，一实施例中，步骤S30包括：
当所述距离大于第一预设距离且小于或等于第二预设距离，以及所述夹角大于第二预设角度且小于第三预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为轻度偏绿；
当所述距离大于所述第二预设距离且小于或等于第三预设距离，以及所述夹角大于第二预设角度且小于第三预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为中度偏绿；
当所述距离大于所述第三预设距离，以及所述夹角大于第二预设角度且小于第三预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为重度偏绿。
本实施例中，当距离D以及夹角θ满足色偏判等规则3.1时，确定待测区域的色偏等级为轻度偏绿；当距离D以及夹角θ满足色偏判等规则3.2时，确定待测区域的色偏等级为中度偏绿；当距离D以及夹角θ满足色偏判等规则3.3时，确定待测区域的色偏等级为重度偏绿。
进一步地，一实施例中，步骤S30包括：
当所述距离大于第一预设距离且小于或等于第二预设距离，以及所述夹角大于第三预设角度且小于180°或所述夹角大于-180°且小于第一预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为轻度偏蓝；
当所述距离大于所述第二预设距离且小于或等于第三预设距离，以及所述夹角大于第三预设角度且小于180°或所述夹角大于-180°且小于第一预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为中度偏蓝；
当所述距离大于所述第三预设距离，以及所述夹角大于第三预设角度且小于180°或所述夹角大于-180°且小于第一预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为重度偏蓝。
本实施例中，当距离D以及夹角θ满足色偏判等规则4.1时，确定待测区域的色偏等级为轻度偏蓝；当距离D以及夹角θ满足色偏判等规则4.2时，确定待测区域的色偏等级为中度偏蓝；当距离D以及夹角θ满足色偏判等规则4.3时，确定待测区域的色偏等级为重度偏蓝。
进一步地，一实施例中，待测区域1~9在CIE 1931色度坐标图上对应的点P1~P9及其对应的色坐标以及每个点与等能白光点E的距离D以及每个点与等能白光点E构成的连线与CIE 1931色度坐标图上x轴的夹角θ如表2所示：
Figure 284621DEST_PATH_IMAGE004
通过上述色偏判等规则，可确定待测区域1~9的色偏判等结果均为OK，即无色偏。
进一步地，一实施例中，参照图5，图5为一实施例中发蓝屏体的示意图。如图5所示，该发蓝屏体上四个待测区域在CIE 1931色度坐标图上的色坐标分别为P1（0.228336，0.236646）、P2（0.228894，0.239925）、P3（0.22496，0.230985）以及P4（0.231918，0.242693）。结合上述步骤S20以及判等规则，计算得到如表3所示的信息：
Figure 929229DEST_PATH_IMAGE005
可见，通过本实施例方案得到的判等结果与实际情况相符，即根据本实施例的方案进行色偏判等具有很高的准确性。
图6为按照矩形框式卡控方法进行色偏判等的示意图。如图6所示，色域满足极坐标分布，并不满足直角坐标分布，举例如果需要将OP1、OP2间的色域分为一个偏色类型（如红色），按照现有的矩形框式（如图上矩形方框所示）卡控，需要在相应区域内部划分很多个这样的小矩形，才能将色域尽可能地定义全，但无论怎么细分，在边界区域总会存在遗漏的色域部分，而基于本实施例中色度圆的卡控（结合距离和夹角），很好地规避了这个问题。
第三方面，本发明实施例还提供一种色偏判等装置。
一实施例中，参照图7，图7为本发明色偏判等装置一实施例的功能模块示意图。如图7所示，色偏判等装置包括：
获取模块10，用于获取待测区域在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点P；
计算模块20，用于基于所述待测区域在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点P以及等能白光在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点E，计算所述色坐标点P与所述色坐标点E的距离以及EP两点连线与CIE 1931色度坐标图上x轴的夹角；
判等模块30，用于根据所述距离以及夹角确定所述待测区域的色偏等级。
进一步地，一实施例中，判等模块30，用于：
当所述距离大于或等于零且小于或等于第一预设距离时，确定所述待测区域的色偏等级为无色偏。
进一步地，一实施例中，判等模块30，用于：
当所述距离大于第一预设距离且小于或等于第二预设距离，以及所述夹角大于第一预设角度且小于第二预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为轻度偏红；
当所述距离大于所述第二预设距离且小于或等于第三预设距离，以及所述夹角大于第一预设角度且小于第二预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为中度偏红；
当所述距离大于所述第三预设距离，以及所述夹角大于第一预设角度且小于第二预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为重度偏红。
进一步地，一实施例中，判等模块30，用于：
当所述距离大于第一预设距离且小于或等于第二预设距离，以及所述夹角大于第二预设角度且小于第三预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为轻度偏绿；
当所述距离大于所述第二预设距离且小于或等于第三预设距离，以及所述夹角大于第二预设角度且小于第三预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为中度偏绿；
当所述距离大于所述第三预设距离，以及所述夹角大于第二预设角度且小于第三预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为重度偏绿。
进一步地，一实施例中，判等模块30，用于：
当所述距离大于第一预设距离且小于或等于第二预设距离，以及所述夹角大于第三预设角度且小于180°或所述夹角大于-180°且小于第一预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为轻度偏蓝；
当所述距离大于所述第二预设距离且小于或等于第三预设距离，以及所述夹角大于第三预设角度且小于180°或所述夹角大于-180°且小于第一预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为中度偏蓝；
当所述距离大于所述第三预设距离，以及所述夹角大于第三预设角度且小于180°或所述夹角大于-180°且小于第一预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为重度偏蓝。
其中，上述色偏判等装置中各个模块的功能实现与上述色偏判等方法实施例中各步骤相对应，其功能和实现过程在此处不再一一赘述。
第四方面，本发明实施例还提供一种可读存储介质。
本发明可读存储介质上存储有色偏判等程序，其中所述色偏判等程序被处理器执行时，实现如上述的色偏判等方法的步骤。
其中，色偏判等程序被执行时所实现的方法可参照本发明色偏判等方法的各个实施例，此处不再赘述。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者***不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者***所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者***中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备执行本发明各个实施例所述的方法。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种色偏判等方法，其特征在于，所述色偏判等方法包括：
获取待测区域在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点P；
基于所述待测区域在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点P以及等能白光在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点E，计算所述色坐标点P与所述色坐标点E的距离以及EP两点连线与CIE 1931色度坐标图上x轴的夹角；
根据所述距离以及夹角确定所述待测区域的色偏等级。
2.如权利要求1所述的色偏判等方法，其特征在于，所述根据所述距离以及夹角确定所述待测区域的色偏等级的步骤包括：
当所述距离大于或等于零且小于或等于第一预设距离时，确定所述待测区域的色偏等级为无色偏。
3.如权利要求1所述的色偏判等方法，其特征在于，所述根据所述距离以及夹角确定所述待测区域的色偏等级的步骤还包括：
当所述距离大于第一预设距离且小于或等于第二预设距离，以及所述夹角大于第一预设角度且小于第二预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为轻度偏红；
当所述距离大于所述第二预设距离且小于或等于第三预设距离，以及所述夹角大于第一预设角度且小于第二预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为中度偏红；
当所述距离大于所述第三预设距离，以及所述夹角大于第一预设角度且小于第二预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为重度偏红。
4.如权利要求1所述的色偏判等方法，其特征在于，所述根据所述距离以及夹角确定所述待测区域的色偏等级的步骤还包括：
当所述距离大于第一预设距离且小于或等于第二预设距离，以及所述夹角大于第二预设角度且小于第三预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为轻度偏绿；
当所述距离大于所述第二预设距离且小于或等于第三预设距离，以及所述夹角大于第二预设角度且小于第三预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为中度偏绿；
当所述距离大于所述第三预设距离，以及所述夹角大于第二预设角度且小于第三预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为重度偏绿。
5.如权利要求1所述的色偏判等方法，其特征在于，所述根据所述距离以及夹角确定所述待测区域的色偏等级的步骤还包括：
当所述距离大于第一预设距离且小于或等于第二预设距离，以及所述夹角大于第三预设角度且小于180°或所述夹角大于-180°且小于第一预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为轻度偏蓝；
当所述距离大于所述第二预设距离且小于或等于第三预设距离，以及所述夹角大于第三预设角度且小于180°或所述夹角大于-180°且小于第一预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为中度偏蓝；
当所述距离大于所述第三预设距离，以及所述夹角大于第三预设角度且小于180°或所述夹角大于-180°且小于第一预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为重度偏蓝。
6.一种色偏判等装置，其特征在于，所述色偏判等装置包括：
获取模块，用于获取待测区域在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点P；
计算模块，用于基于所述待测区域在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点P以及等能白光在CIE 1931色度坐标图上的色坐标点E，计算所述色坐标点P与所述色坐标点E的距离以及EP两点连线与CIE 1931色度坐标图上x轴的夹角；
判等模块，用于根据所述距离以及夹角确定所述待测区域的色偏等级。
7.如权利要求6所述的色偏判等装置，其特征在于，所述判等模块，用于：
当所述距离大于或等于零且小于或等于第一预设距离时，确定所述待测区域的色偏等级为无色偏。
8.如权利要求6所述的色偏判等装置，其特征在于，所述判等模块，还用于：
当所述距离大于第一预设距离且小于或等于第二预设距离，以及所述夹角大于第一预设角度且小于第二预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为轻度偏红；
当所述距离大于所述第二预设距离且小于或等于第三预设距离，以及所述夹角大于第一预设角度且小于第二预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为中度偏红；
当所述距离大于所述第三预设距离，以及所述夹角大于第一预设角度且小于第二预设角度时，确定所述待测区域的色偏等级为重度偏红。
9.一种色偏判等设备，其特征在于，所述色偏判等设备包括处理器、存储器、以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的色偏判等程序，其中所述色偏判等程序被所述处理器执行时，实现如权利要求1至5中任一项所述的色偏判等方法的步骤。
10.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有色偏判等程序，其中所述色偏判等程序被处理器执行时，实现如权利要求1至5中任一项所述的色偏判等方法的步骤。
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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5694186A (en) * 1995-09-11 1997-12-02 Hitachi, Ltd. Color liquid crystal display device having special relationship between its isochromatic viewing angle and half-brightness angle
CN105371954A (zh) * 2015-10-28 2016-03-02 京东方科技集团股份有限公司 一种色偏的表征方法
CN108810397A (zh) * 2018-04-23 2018-11-13 深圳和而泰数据资源与云技术有限公司 一种图像色偏校正方法及终端设备
CN109147712A (zh) * 2018-10-08 2019-01-04 惠州市华星光电技术有限公司 一种改善显示面板的视角色偏的方法及***
US20190114757A1 (en) * 2017-10-13 2019-04-18 Samsung Display Co., Ltd. Method of inspecting display panel
CN111429534A (zh) * 2020-02-17 2020-07-17 深圳市六六六国际旅行社有限公司 一种图像偏色矫正方法及装置
TWI718697B (zh) * 2019-09-24 2021-02-11 中強光電股份有限公司 顯示裝置以及顯示光束的色度調整方法
CN113035148A (zh) * 2021-03-22 2021-06-25 北海惠科光电技术有限公司 液晶面板的色度修正方法、***、液晶面板及存储介质

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5694186A (en) * 1995-09-11 1997-12-02 Hitachi, Ltd. Color liquid crystal display device having special relationship between its isochromatic viewing angle and half-brightness angle
CN105371954A (zh) * 2015-10-28 2016-03-02 京东方科技集团股份有限公司 一种色偏的表征方法
US20190114757A1 (en) * 2017-10-13 2019-04-18 Samsung Display Co., Ltd. Method of inspecting display panel
CN108810397A (zh) * 2018-04-23 2018-11-13 深圳和而泰数据资源与云技术有限公司 一种图像色偏校正方法及终端设备
CN109147712A (zh) * 2018-10-08 2019-01-04 惠州市华星光电技术有限公司 一种改善显示面板的视角色偏的方法及***
TWI718697B (zh) * 2019-09-24 2021-02-11 中強光電股份有限公司 顯示裝置以及顯示光束的色度調整方法
CN111429534A (zh) * 2020-02-17 2020-07-17 深圳市六六六国际旅行社有限公司 一种图像偏色矫正方法及装置
CN113035148A (zh) * 2021-03-22 2021-06-25 北海惠科光电技术有限公司 液晶面板的色度修正方法、***、液晶面板及存储介质

Non-Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
化工部合成材料研究院、金海化工有限公司: "《聚合物防老化实用手册》", 30 June 1999 *
李念芦: "《影视技术基础 插图修订 第3版》", 28 February 2016 *
李杰等: "基于LCD显示器的色适应变换及模型评价", 《光学技术》 *
李永强: "《实用胶印技术指南》", 30 November 2005 *

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