CN114720850A - 电源芯片的ft测试*** - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种电源芯片的FT测试***，通过将ARM处理器和电源芯片集成在一块测试板上，测试机与测试板通过一个反馈GPIO口连接，ARM处理器依据测试数据拉低或拉高反馈GPIO口的电平电压信号，从而产生高电平电压信号或低电平电压信号，并将高电平电压信号或低电平电压信号传输至所述测试机的信号端口，因此只需要测试机有高低电平的判断功能即可，降低了对测试机质量和功能上的要求，进而降低了在测试机上编程的难度，并且对测试机的选择要求低，节省了成本。

Description

电源芯片的FT测试***

技术领域

本申请涉及芯片测试技术领域，特别是涉及一种电源芯片的FT测试***。

背景技术

FT测试即Functional Test，中文名称为功能测试，是一种针对电器元件进行通电试验，以测试其是否可以正常工作的测试。和ICT测试，飞针飞针，AOI测试，X-Ray测试等测试方法不同，FT测试可以非常直观的得出电气元件是否能够正常使用的测试结果，因此被广泛用于电源芯片的测试当中。

现有的电源芯片的FT测试方法是将电源芯片直接放置在测试机上，先通过测试机现有的电路将测试机与电源芯片相连接，然后控制测试机给电源芯片发送电信号，最后通过电源芯片返回的反馈信号来判断电源芯片的功能是否正常。

然而使用这种FT测试方法，需要预先在测试机上编写电源芯片测试程序，编程的流程较为复杂，难度比较高，进而导致了测试流程的复杂度大大增高，调试也非常不方便。

发明内容

基于此，有必要针对传统电源芯片的FT测试方法的测试机编程流程较为复杂，难度比较高，导致测试流程的复杂度大大增高，调试不便的问题，提供一种电源芯片的FT测试***。

本申请提供一种电源芯片的FT测试***，包括：

测试机，包括信号端口和电源端口；

测试板，包括电源接口，所述测试板的电源接口与所述测试机的电源端口通过电源线连接；

ARM处理器，集成于所述测试板之上；所述ARM处理器包括多个测试GPIO口，用于传输测试数据；所述ARM处理器还包括反馈GPIO口，所述反馈GPIO口与所述测试机的信号端口通过信号线连接，所述ARM处理器依据测试数据拉低或拉高反馈GPIO口的电平电压信号，从而产生高电平电压信号或低电平电压信号，并将高电平电压信号或低电平电压信号传输至所述测试机的信号端口；

电源芯片，集成于所述测试板之上，所述电源芯片包括多个功能模块，每一个功能模块与所述ARM处理器的一个测试GPIO口通过功能模块的引脚连接。

进一步地，所述ARM处理器还包括：

DAC电路模块，与每一个测试GPIO口均连接，用于将数字信号转化为模拟信号；

ADC电路模块，与每一个测试GPIO口均连接，用于将模拟信号转化为数字信号；

定时器电路模块，与每一个测试GPIO口均连接，用于提供计时功能。

进一步地，所述ARM处理器还包括第一I2C通信模块，所述电源芯片还包括第二I2C通信模块；所述第一I2C通信模块与第二I2C通信模块通过时钟线和数据线通信连接。

进一步地，所述电源芯片还包括：

IRCUT电路模块，用于切换摄像头滤镜；

扬声器电路模块，用于播放声音。

进一步地，所述电源芯片还包括：

上电复位电路模块，用于上电复位；

AES电路模块，用于执行AES加密算法；

DC-DC电路模块，用于将外部引入的一路电压信号转换为多路不同电压数值的电压信号；

进一步地，所述DC-DC电路模块用于将由外部引入的5V电压信号转换为一路1V电压信号，一路1.8V电压信号和一路3.3V电压信号。

进一步地，所述电源芯片还包括：

电池模块，与所述第二I2C通信模块连接；

进一步地，所述电源芯片还包括：

步进电机驱动电路模块，与所述第二I2C通信模块连接。

进一步地，所述ARM处理器还包括：

第一测试GPIO口，与所述IRCUT电路模块的引脚连接；

第二测试GPIO口，与所述扬声器电路模块的引脚连接；

第三测试GPIO口，与所述上电复位电路模块的引脚连接；

第四测试GPIO口，与所述AES电路模块的引脚连接；

第五测试GPIO口，与所述DC-DC电路模块的引脚连接；

第六测试GPIO口，与所述电池模块的引脚连接；

第七测试GPIO口，与所述步进电机驱动电路模块的引脚连接；

进一步地，每一个测试GPIO口和与其连接的功能模块的引脚之间的连接线材的长度小于2000mil。

本申请提供一种电源芯片的FT测试***，通过将ARM处理器和电源芯片集成在一块测试板上，测试机与测试板通过一个反馈GPIO口连接，ARM处理器依据测试数据拉低或拉高反馈GPIO口的电平电压信号，从而产生高电平电压信号或低电平电压信号，并将高电平电压信号或低电平电压信号传输至所述测试机的信号端口，因此只需要测试机有高低电平的判断功能即可，降低了对测试机质量和功能上的要求，进而降低了在测试机上编程的难度，并且对测试机的选择要求低，节省了成本。

附图说明

图1为本申请一实施例提供的电源芯片的FT测试***的结构示意图。

图2为本申请另一实施例提供的电源芯片的FT测试***的结构示意图。

图3为本申请又一实施例提供的电源芯片的FT测试***的结构示意图。

附图标记：

10-测试机；110-信号端口；120-电源端口；20-测试板；210-电源接口；30-ARM处理器；310-测试GPIO口；320-反馈GPIO口；330-DAC电路模块340-ADC电路模块；350-定时器电路模块；360-第一I2C通信模块；381-第一测试GPIO口；382-第二测试GPIO口；383-第三测试GPIO口；384-第四测试GPIO口；385-第五测试GPIO口；386-第六测试GPIO口；387-第七测试GPIO口；40-电源芯片；400-功能模块；

410-第二I2C通信模块；420-IRCUT电路模块；430-扬声器电路模块；

431-运算放大器；431a-运算放大器的输出端；

431b-运算放大器的正电源端；431c-运算放大器的负电源端；

431d-运算放大器的反相输入端；431e-运算放大器的同相输入端；

431f-运算放大器的输出端；432-第三电阻；433-第四电阻；434-第五电阻；

435-第六电阻；436-第七电阻；437-电感；438-扬声器功放电路；

439-供电电源；440-上电复位电路模块；450-AES电路模块；

460-DC-DC电路模块；470-电池模块；480-步进电机驱动电路模块；50-电源线；60-信号线；710-第一电阻；720-第二电阻；

730-电容；730-第八电阻；740-第九电阻。

具体实施方式

为了使本申请的目的.技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

本申请提供一种电源芯片的FT测试***。需要说明的是，本申请提供的电源芯片的FT测试***应用于任何种类和型号的电源芯片的测试，以及装配于任何设备或装置上的电源芯片的测试。

如图1所示，在本申请的一实施例中，电源芯片的FT测试***包括测试机10、测试板20、ARM处理器30和电源芯片40。

所述测试机10包括信号端口110和电源端口120。所述测试板20包括电源接口210。所述测试板20的电源接口210与所述测试机10的电源端口120通过电源线5050连接。

所述ARM处理器30集成于所述测试板20之上。所述ARM处理器30包括多个测试GPIO口310。所述测试GPIO口310用于传输测试数据。所述ARM处理器30还包括反馈GPIO口320。所述反馈GPIO口320与所述测试机10的信号端口110通过信号线60连接。所述ARM处理器30依据测试数据拉低或拉高反馈GPIO口320的电平电压信号，从而产生高电平电压信号或低电平电压信号，并将高电平电压信号或低电平电压信号传输至所述测试机10的信号端口110。

所述电源芯片40集成于所述测试板20之上。所述电源芯片40包括多个功能模块400。每一个功能模块400与所述ARM处理器30的一个测试GPIO口310通过功能模块400的引脚连接。

具体地，所述ARM处理器30可以为STM32F103单片机，稳定性好。每一个功能模块400与所述ARM处理器30的一个测试GPIO口310通过功能模块400的引脚连接。为了图片展示的内容简洁化，功能模块400的引脚在图中未示出。

测试机10设置有MCU，信号端口110和电源端口120为MCU上的端口，信号端口110通过信号线60连接到反馈GPIO口320上。信号线60用于传递信号。测试机10MCU上的电源端口120与ARM处理器30上的电源接口210通过电源线50连接。电源线50用于传递电能。可见，测试板20和测试机10之间的连接只需要1根信号线60和1根电源线50，连接方式简单。

本实施例提供的电源芯片40的FT测试***的工作原理是：

ARM处理器30通过控制电源芯片40内部的寄存器来启动电源芯片40的各个功能模块400。在这过程中，ARM处理器30采集各个功能模块400的电压、周期等测试数据。ARM处理器30包括多个测试GPIO口310。每一个测试GPIO口310用于传输一种(或者一类)测试的测试数据。

进而ARM处理器30依据这些测试数据拉低或拉高反馈GPIO口320的电平电压信号，从而产生高电平电压信号或低电平电压信号，并将高电平电压信号或低电平电压信号传输至所述测试机10的信号端口110。测试机10的MCU通过检测信号端口110的高电平电压信号或低电平电压信号的电压数值大小对测试结果进行判断。

可选地，低电平电压信号的电压数值为0，高电平电压信号的电压数值为3.3V。例如，如果测试机10检测到信号端口110的电压为0V，则代表该项测试异常，电源芯片40不合格。如果测试检测到信号端口110的电压为3.3V，则代表该项测试正常，电源芯片40合格。

可选地，低电平电压信号的电压数值位于大于等于0且小于等于0.5V的数值范围，高电平电压信号的电压数值位于大于等于3V小于等于3.3V的数值范围。由于实际的电路存在一定的电压波动，因此采用了一定的数值范围而不是定值来去判定测试是否正常，更符合实际情况。

测试板20为PCB板。可选地，测试板20为双面PCB板。双面PCB板包括顶层(TopLayer)和底层(Bottom Layer)两层，两面敷铜，中间为绝缘层，两面均可以布线，一般需要由过孔或焊盘连通。双面PCB板可用于比较复杂的电路，是比较理想的一种PCB板，可以减少PCB制板成本。

本实施例中，本申请提供一种电源芯片40的FT测试***，通过将ARM处理器30和电源芯片40集成在一块测试板20上，测试板20与测试板20通过一个反馈GPIO口320连接，ARM处理器30依据测试数据拉低或拉高反馈GPIO口320的电平电压信号，从而产生高电平电压信号或低电平电压信号，并将高电平电压信号或低电平电压信号传输至所述测试机10的信号端口110，因此只需要测试机10有高低电平的判断功能即可，降低了对测试机10质量和功能上的要求，进而降低了在测试机10上编程的难度，并且对测试机10的选择要求低，节省了成本。

此外，本实施例提供的电源芯片40的FT测试***中的测试板20体积小，如果需要增加或减少需要测试的功能模块400，只需要在测试板20上修改电路连接方式即可，非常方便调试。

如图2所示，在本申请的一实施例中，所述ARM处理器30还包括DAC电路模块330、ADC电路模块340和定时器电路模块350。所述DAC电路与每一个测试GPIO口310均连接，用于将数字信号转化为模拟信号。所述ADC电路与每一个测试GPIO口310均连接，用于将模拟信号转化为数字信号。所述定时器电路与每一个测试GPIO口310均连接，用于提供计时功能。

具体地，DAC电路模块330、ADC电路模块340和定时器电路模块350分别为ARM处理器30赋予了数字转模拟，模拟转数字和定时器功能，这样可以将这些功能应用于电源芯片40的测试流程中，配合测试工作的完成。

可选地，所述ARM处理器30还包括中断模块，用于对***发生的某个事件做出一种反应。

如图2所示，在本申请的一实施例中，所述ARM处理器30还包括第一I2C通信模块360。所述电源芯片40还包括第二I2C通信模块410。所述第一I2C通信模块360与第二I2C通信模块410通过时钟线和数据线通信连接。

具体地，所述ARM处理器30和电源芯片40通过I2C的通信方式进行通信，从而使得ARM处理器30可以采集电源芯片40中各个功能模块400的测试数据，便于后续ARM处理器30通过拉高或拉低测试GPIO口310的方式将测试结果反馈给测试机10。

如图2所示，在本申请的一实施例中，所述电源芯片40包括IRCUT电路模块420和扬声器电路模块430。所述IRCUT电路模块420用于切换摄像头滤镜。所述扬声器电路模块430用于播放声音。

具体地，IRCUT电路模块420和扬声器电路模块430都是功能模块400中的一种。

本实施例中电源芯片40应用于具有摄像头和扬声器的电子设备或电子装置中，例如，摄像头，手机，平板电脑，笔记本电脑等。

所述IRCUT电路模块420用于切换电子设备中的摄像头滤镜。因此本申请提供的电源芯片40的FT测试***可以用于测试摄像头滤镜的切换功能是否正常。

所述扬声器电路模块430用于通过扬声器播放声音。因此本申请提供的电源芯片40的FT测试***可以用于测试扬声器是否可以正常播放声音。

如图2所示，在本申请的一实施例中，所述电源芯片40还包括上电复位电路模块440、AES电路模块450和DC-DC电路模块460。所述上电复位电路模块440用于上电复位。所述AES电路模块450用于执行AES加密算法。所述DC-DC电路模块460用于将外部引入的一路电压信号转换为多路不同电压数值的电压信号。

具体地，上电复位电路模块440、AES电路模块450和DC-DC电路模块460都是功能模块400中的一种。所述上电复位电路模块440用于上电复位操作。上电复位操作指的是搭载有电源芯片40的电子设备在每次上电将所有功能模块400初始化的操作。因此本申请提供的电源芯片40的FT测试***可以用于测试扬声器是否可以正常执行上电复位的操作。

所述AES电路模块450用于执行AES加密算法。AES加密算法即高级加密标准(AES，Advanced Encryption Standard)，为一种对称加密算法，用于搭载有电源芯片40的电子设备的很多操作中。例如，AES加密算法可以用于登录电子设备的用户账号。因此本申请提供的电源芯片40的FT测试***可以用于测试AES加密算法是否能够正常运行。

所述DC-DC电路模块460用于将外部引入的一路电压信号转换为多路不同电压数值的电压信号。例如，所述DC-DC电路模块460可以将外部引入的5V直流电压转换为1V直流电压。因此本申请提供的电源芯片40的FT测试***可以用于测试DC-DC电路是否可以正常转换电压。

在本申请的一实施例中，所述DC-DC电路模块460用于将由外部引入的5V电压信号转换为一路1V电压信号，一路1.8V电压信号和一路3.3V电压信号。

具体地，所述DC-DC电路模块460可以将由外部引入的5V电压信号转换为三路不同电压数值的电压信号，这样可以适配于与电源芯片40连接的不同负载的电压需求。

如图2所示，在本申请的一实施例中，所述电源芯片40还包括电池模块470和步进电机驱动电路模块480。所述电池模块470用于提供电能。所述步进电机驱动电路模块480用于驱动步进电机。

具体地，电池模块470和步进电机驱动电路模块480都是功能模块400中的一种。所述电池模块470可以为锂电池模块。电池模块470可以在搭载有电源芯片40的电子设备突然失去供电时，为电子设备临时供电。因此本申请提供的电源芯片40的FT测试***可以用于测试电池模块470的供电功能是否正常。

本实施例中电源芯片40应用于具有步进电机的设备或装置中。所述步进电机驱动电路用于驱动步进电机。因此本申请提供的电源芯片40的FT测试***可以用于测试步进电机驱动电路是否可以正常驱动步进电机的电机轴转动。

如图2所示，在本申请的一实施例中，所述ARM处理器30还包括第一测试GPIO口381、第二测试GPIO口382、第三测试GPIO口383、第四测试GPIO口384、第五测试GPIO口385、第六测试GPIO口386和第七测试GPIO口387。

所述第一测试GPIO口381与所述IRCUT电路模块420的引脚连接。所述第二测试GPIO口382与所述扬声器电路模块430的引脚连接。所述第三测试GPIO口383与所述上电复位电路模块440的引脚连接。所述第四测试GPIO口384与所述AES电路模块450的引脚连接。所述第五测试GPIO口385与所述DC-DC电路模块460的引脚连接。所述第六测试GPIO口386与所述电池模块470的引脚连接。所述第七测试GPIO口387与步进电机驱动电路模块480的引脚连接。

具体地，DAC电路模块330、ADC电路模块340和定时器电路模块350均和每一个测试GPIO口310连接。

可选地，如图3所示，在IRCUT电路模块420和第一测试GPIO口381之间还包括第一电阻710和第二电阻720。第一电阻710的一端接地，第一电阻710的另一端与第二电阻720串联。第二电阻720的一端与第一电阻710串联，第二电阻720的另一端与IRCUT电路连接。第一电阻710的电阻值可以为10千欧。第二电阻720的电阻值可以为10千欧。

如图3所示，所述扬声器电路模块430包括运算放大器431，第三电阻432，第四电阻433，第五电阻434，第六电阻435，第七电阻436，电感437和扬声器功放电路438。运算放大器431的输出端431a与所述第二测试GPIO口382连接。运算放大器431的正电源端431b连接一个供电电源439。运算放大器431的负电源端431c接地。运算放大器431的同相输入端431e和扬声器功放电路438之间连接有第三电阻432。第四电阻433和电感437相互串联组成第一支路(第一支路图中未标号)。该第一支路的一端连接于第三电阻432和扬声器功放电路438之间的连接链路。该第一支路的另一端连接于扬声器功放电路438。第五电阻434一端与运算放大器431的反相输入端431d连接。第五电阻434的另一端连接于第四电阻433和电感437之间的连接链路。在运算放大器431的反相输入端431d和第五电阻434之间的连接链路上，引出另一条第二支路(第二支路图中未标号)，第二支路上设置有第六电阻435。所述第六电阻435的一端连接于运算放大器431的反相输入端431d和第五电阻434之间的连接链路上，第六电阻435的另一端接地。所述运算放大器431的输出端431a和运算放大器431的同相输入端431e之间还连接有第七电阻436。

如图3所示，在所述电池模块470和所述第六测试GPIO口386之间还设置有一个电容730。所述电容730的正极板连接于电池模块470和所述第六测试GPIO口386之间的连接链路上。所述电容730的负极板接地。

在所述步进电机驱动电路模块480和第七测试GPIO口387之间还设置有第八电阻730和第九电阻740。第八电阻730的一端接地，第八电阻730的另一端连接第九电阻740。第九电阻740一端连接第八电阻730，另一端连接步进电机驱动电路模块480。第七测试GPIO口387连接于第八电阻730和第九电阻740之间的连接链路。

具体地，本实施例提供的电源芯片40的FT测试***的工作流程为：

S1，通过ARM处理器30的DAC电路模块330、ADC电路模块340和定时器电路模块350等提供的功能对电源芯片40的上电复位时间、IRCUT电路模块420的电压、扬声器电路模块430中扬声器功放电路438的周期和电压、步进电机驱动电路模块480的周期和电压等进行测试。

S2，通过用ARM处理器30的ADC功能来检测电源芯片40DC-DC电路模块460和电池模块470的电压，来将外部引入的DC-DC电路模块460的5V直流电压电压转换为1V、1.8V、3.3V三路电压。

S3.通过配置电源芯片40中AES电路模块450中的寄存器，判断读出来的AES密文是否和理论值一致。

S4，将所有功能模块400的测试结果以返回值0或-1的形式以专门定义的结构体的形式存储。

S5，ARM处理器30通过判断结构体中的返回值(0或-1)来拉高或拉低ARM处理器30与测试机10相连的反馈GPIO口320，测试机10检测到反馈GPIO口320的电压大小后对测试结果进行判断，GPIO电压为高(即3～3.3V)代表该项测试正常，GPIO电压为低(即0V～0.5V)代表该项测试异常，最终挑选出合格芯片。

在本申请的一实施例中，每一个测试GPIO口310和与其连接的功能模块400的引脚之间的连接线材的长度小于2000mil。

具体地，连接线材的长度即走线长度。mil为密耳，1mil＝1/1000inch(英寸)＝0.0254mm(毫米)。

结合前述实施例，即第一测试GPIO口381与IRCUT电路模块420的引脚之间的连接线材的长度，小于2000mil。第二测试GPIO口382与扬声器电路模块430的引脚之间的连接线材的长度，小于2000mil。所述第三测试GPIO口383与所述上电复位电路模块440的引脚之间的连接线材的长度，小于2000mil。所述第四测试GPIO口384与所述AES电路模块450的引脚之间的连接线材的长度，小于2000mil。所述第五测试GPIO口385与所述DC-DC电路模块460的引脚之间的连接线材的长度，小于2000mil。第六测试GPIO口386与所述电池模块470的引脚之间的连接线材的长度，小于2000mil。第七测试GPIO口387与步进电机驱动电路模块480的引脚之间的连接线材的长度，小于2000mil。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，各方法步骤也并不做执行顺序的限制，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种电源芯片的FT测试***，其特征在于，包括：

测试机，包括信号端口和电源端口；

测试板，包括电源接口，所述测试板的电源接口与所述测试机的电源端口通过电源线连接；

ARM处理器，集成于所述测试板之上；所述ARM处理器包括多个测试GPIO口，用于传输测试数据；所述ARM处理器还包括反馈GPIO口，所述反馈GPIO口与所述测试机的信号端口通过信号线连接，所述ARM处理器依据测试数据拉低或拉高反馈GPIO口的电平电压信号，从而产生高电平电压信号或低电平电压信号，并将高电平电压信号或低电平电压信号传输至所述测试机的信号端口；

电源芯片，集成于所述测试板之上，所述电源芯片包括多个功能模块，每一个功能模块与所述ARM处理器的一个测试GPIO口通过功能模块的引脚连接。

2.根据权利要求1所述的电源芯片的FT测试***，其特征在于，所述ARM处理器还包括：

DAC电路模块，与每一个测试GPIO口均连接，用于将数字信号转化为模拟信号；

ADC电路模块，与每一个测试GPIO口均连接，用于将模拟信号转化为数字信号；

定时器电路模块，与每一个测试GPIO口均连接，用于提供计时功能。

3.根据权利要求2所述的电源芯片的FT测试***，其特征在于，所述ARM处理器还包括第一I2C通信模块，所述电源芯片还包括第二I2C通信模块；所述第一I2C通信模块与第二I2C通信模块通过时钟线和数据线通信连接。

4.根据权利要求3所述的电源芯片的FT测试***，其特征在于，所述电源芯片包括：

IRCUT电路模块，用于切换摄像头滤镜；

扬声器电路模块，用于播放声音。

5.根据权利要求4所述的电源芯片的FT测试***，其特征在于，所述电源芯片还包括：

上电复位电路模块，用于上电复位；

AES电路模块，用于执行AES加密算法；

DC-DC电路模块，用于将外部引入的一路电压信号转换为多路不同电压数值的电压信号。

6.根据权利要求5所述的电源芯片的FT测试***，其特征在于，所述DC-DC电路模块用于将由外部引入的5V电压信号转换为一路1V电压信号，一路1.8V电压信号和一路3.3V电压信号。

7.根据权利要求6所述的电源芯片的FT测试***，其特征在于，所述电源芯片还包括：

电池模块，用于提供电能。

8.根据权利要求7所述的电源芯片的FT测试***，其特征在于，所述电源芯片还包括：

步进电机驱动电路模块，用于驱动步进电机。

9.根据权利要求8所述的电源芯片的FT测试***，其特征在于，所述ARM处理器还包括：

第一测试GPIO口，与所述IRCUT电路模块的引脚连接；

第二测试GPIO口，与所述扬声器电路模块的引脚连接；

第三测试GPIO口，与所述上电复位电路模块的引脚连接；

第四测试GPIO口，与所述AES电路模块的引脚连接；第五测试GPIO口，与所述DC-DC电路模块的引脚连接；

第六测试GPIO口，与所述电池模块的引脚连接；

第七测试GPIO口，与所述步进电机驱动电路模块的引脚连接。

10.根据权利要求9所述的电源芯片的FT测试***，其特征在于，每一个测试GPIO口和与其连接的功能模块的引脚之间的连接线材的长度小于2000mil。

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