CN114563882A - 一种液晶模组老化测试*** - Google Patents
一种液晶模组老化测试*** Download PDFInfo
- Publication number
- CN114563882A CN114563882A CN202210061821.0A CN202210061821A CN114563882A CN 114563882 A CN114563882 A CN 114563882A CN 202210061821 A CN202210061821 A CN 202210061821A CN 114563882 A CN114563882 A CN 114563882A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- aging
- module
- liquid crystal
- aging test
- crystal module
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000032683 aging Effects 0.000 title claims abstract description 158
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 128
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 title claims abstract description 105
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims abstract description 55
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 20
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 14
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 11
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 238000007405 data analysis Methods 0.000 description 2
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
本发明涉及一种液晶模组老化测试***。该液晶模组老化测试***包括:老化测试板,用于与液晶模组连接,并对液晶模组进行老化测试;老化测试板具有WiFi模块;及老化监控服务器,WiFi模块通讯连通,WiFi模块用于向老化监控服务器传送老化测试数据,老化监控服务器用于对液晶模组的老化测试数据进行实时监控。上述液晶模组老化测试***,液晶模组与老化测试板连接之后进行老化测试,老化测试过程中,利用WiFi模块实时地将老化测试数据传送至老化监控服务器,从而利用老化监控服务器对液晶模组的老化测试过程进行实时监控,能够及时发现器件不良现象,有利于避免液晶模组和老化测试板损坏,排除由于发热而产生明火的安全隐患。
Description
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域,特别是涉及一种液晶模组老化测试***。
背景技术
TFT-LCD(Thin film transistor liquid crystal display,薄膜晶体管液晶显示器)液晶模组需要利用老化测试板进行老化测试。在进行老化测试时,老化测试板与待测试的液晶模组连接,从而点亮该液晶模组,并对液晶模块工作过程中的各项数据进行收集。然而,无法对老化测试过程进行实时监控,当器件不良等导致大电流时,可能导致液晶模组和老化测试板损坏,甚至由于发热而产生明火的安全隐患。
发明内容
基于此,有必要针对现有技术中在对液晶模组进行老化测试过程中当器件不良等导致大电流时,可能导致液晶模组和老化测试板损坏,甚至由于发热而产生明火的安全隐患的问题,提供一种改善上述缺陷的液晶模组老化测试***。
一种液晶模组老化测试***,包括:
老化测试板,用于与液晶模组连接,并对所述液晶模组进行老化测试;所述老化测试板具有WiFi模块;及
老化监控服务器,与所述WiFi模块通讯连通,所述WiFi模块用于向所述老化监控服务器传送老化测试数据,所述老化监控服务器用于对所述液晶模组的老化测试数据进行实时监控。
在其中一个实施例中,所述老化测试板还具有显示模块,所述显示模块用于显示所述液晶模组的老化测试数据。
在其中一个实施例中,所述显示模块用于显示所述液晶模组的电压和/或电流。
在其中一个实施例中,所述老化测试板包括多个,多个所述老化测试板与多个所述液晶模组一一对应连接;
每一所述老化测试板的所述WiFi模块均与所述老化监控服务器通讯连通。
在其中一个实施例中,所述液晶模组老化测试***还包括多个子服务器,所述多个老化测试板被分为与多个所述子服务器一一对应的多组,每组中的各个所述老化测试板的所述WiFi模块均与对应的一个所述子服务器通讯连通,各个所述子服务器均与所述老化监控服务器连接。
在其中一个实施例中,所述老化测试板包括N个,N个所述老化测试板被分为M组,每组包括N/M个所述老化测试板;
所述子服务器包括M个,每组中的N/M个所述老化测试板的所述WiFi模块均与对应的一个所述子服务器通讯连通;
其中,N和M均为大于或等于2的正整数,且N是M的倍数。
在其中一个实施例中,所述老化测试板还具有获取模块、存储模块及比较模块,所述获取模块与所述WiFi模块连接,所述存储模块与所述比较模块连接,所述比较模块与所述获取模块和所述WiFi模块连接;所述获取模块用于获取所述液晶模组的老化测试数据,所述存储模块用于存储规格数据范围;所述比较模块用于将老化测试数据与所述规格数据范围进行比较;
当老化测试数据超出所述规格数据范围时,所述比较模块通过所述WiFi模块向所述老化监控服务器发送工作异常信号;当老化测试数据在所述规格数据范围之内时,所述比较模块通过所述WiFi模块向所述老化监控服务器发送工作正常信号。
在其中一个实施例中,所述老化监控服务器连接有显示设备,所述显示设备用于显示各个所述液晶模组的状态。
在其中一个实施例中,当所述老化监控服务器接收到任一所述液晶模组的所述工作正常信号时,所述显示设备显示对应的液晶模组处于正常状态;当所述老化监控服务器接收到任一所述液晶模组的所述工作异常信号时,所述显示设备显示对应的液晶模组处于异常状态。
在其中一个实施例中,所述老化监控服务器具有存储设备,所述存储设备用于存储所述老化监控服务器接收到的每一所述液晶模组的老化测试数据。
上述液晶模组老化测试***,液晶模组与老化测试板连接之后进行老化测试,老化测试过程中,利用WiFi模块实时地将老化测试数据传送至老化监控服务器,从而利用老化监控服务器对液晶模组的老化测试过程进行实时监控(即远程监控),无需人员在产线上值守,能够及时发现器件不良现象,有利于避免液晶模组和老化测试板损坏,排除由于发热而产生明火的安全隐患。
附图说明
图1为本发明一实施例中液晶模组老化测试***的原理示意图;
图2为本发明另一实施例中液晶模组老化测试***的原理示意图;
图3为本发明另一实施例中液晶模组老化测试***的原理示意图;
图4为本发明另一实施例中液晶模组老化测试***的原理示意图。
附图标记:
100:老化测试板; 101:WiFi模块;
102:获取模块; 103:存储模块;
104:比较模块; 105:显示模块;
200:老化监控服务器; 300:子服务器;
400:液晶模组。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进,因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中,“多个”的含义是至少两个,例如两个,三个等,除非另有明确具体的限定。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系,除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
需要说明的是,当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的,并不表示是唯一的实施方式。
请参阅图1,图1示出了本发明一实施例中的液晶模组老化测试***的原理示意图。本发明一实施例提供了一种液晶模组老化测试***,包括老化测试板100及老化监控服务器200。老化测试板100用于与液晶模组400连接,并对液晶模组400进行老化测试。也就是说,老化测试板100可点亮与之连接的液晶模组400,并获取该液晶模组400的老化测试数据。老化测试板100具有WiFi模块101。老化监控服务器200与该WiFi模块101通讯连通。该WiFi模块101用于向老化监控服务器200传送老化测试数据,该老化监控服务器200用于对液晶模组400的老化测试数据进行实时监控。
如此,液晶模组400与老化测试板100连接之后进行老化测试,老化测试过程中,利用WiFi模块101实时地将老化测试数据传送至老化监控服务器200,从而利用老化监控服务器200对液晶模组400的老化测试过程进行实时监控(即远程监控),无需人员在产线上值守,能够及时发现器件不良现象,有利于避免液晶模组400和老化测试板100损坏,排除由于发热而产生明火的安全隐患。
本发明的实施例中,老化测试板100还具有获取模块102、存储模块103和比较模块104。获取模块102与WiFi模块101连接,存储模块103与比较模块104连接,比较模块104与获取模块102和WiFi模块101连接。该获取模块102用于获取液晶模组400的老化测试数据,存储模块103用于存储该液晶模组400的规格数据范围。比较模块104用于将获取模块102获取的老化测试数据与存储模块103存储的规格数据范围进行比较。
当老化测试数据在规格数据范围之内时,比较模块104通过WiFi模块101向老化监控服务器200发送工作正常信号。当老化测试数据超出规格数据范围时,比较模块104通过WiFi模块101向老化监控服务器200发送工作异常信号。
如此,在进行老化测试之前,将待检测的液晶模组400的规格数据范围(不同规格的液晶模组400的规格数据范围不同)输入至存储模块103存储。在进行老化测试的过程中,获取模块102获取液晶模组400的老化测试数据,比较模块104将该老化测试数据与存储模块103存储的规格数据范围进行比较。如果该老化测试数据在规格数据范围之内时,表明该液晶模组400处于正常状态,此时比较模块104通过WiFi模块101向老化监控服务器200发送工作正常信号。如果该老化测试数据超出规格数据范围时,表明该液晶模组处于异常状态,此时比较模块104通过WiFi模块101向老化监控服务器200发送工作异常信号。同时,获取模块102通过WiFi模块101将获取的老化测试数据传送至老化监控服务器200。
具体到实施例中,老化监控服务器200连接有显示设备,该显示设备用于显示各个液晶模组400的状态。如此,操作人员可通过老化监控服务器200的显示设备对各个液晶模组进行实时可视化的监控。可选地,该显示设备可以是显示器。
进一步地,当老化监控服务器200接收到任一液晶模组400的工作正常信号时,显示设备显示对应的液晶模组400处于正常状态。当老化监控服务器200接收到任一液晶模组400的工作异常信号时,显示设备显示对应的液晶模组400处于异常状态。如此,操作人员可通过显示设备能够清楚及时的掌握各个液晶模组400的工作状态。可选地,显示设备可通过不同的颜色区分正常状态和异常状态。例如当液晶模组400处于正常状态时,显示绿色;当液晶模组400处于异常状态时,显示红色。
具体到实施例中,老化监控服务器200还具有存储设备,该存储设备用于存储老化监控服务器200接收到的每一液晶模组400的老化测试数据。如此,利用存储设备将各个液晶模组400在老化测试过程中的老化测试数据进行存储,以便于后续对该数据进行大数据分析,以辅助对液晶模组400的设计优化,有利于提升液晶模组400的性能,降低液晶模组400的成本。可选地,该存储设备可以是云端存储设备,以方便对数据进行调取进行大数据分析。
请参见图2所示,本发明的实施例中,老化测试板100还具有显示模块105,该显示模块105用于显示液晶模组400的老化测试数据,从而可利用老化测试板100的显示模块105对液晶模组400的老化测试数据进行实时监控(即产线监控)。如此,当老化监控服务器200监控发现液晶模组400异常时,操作人员可至产线上查看老化测试板100的显示模块105显示的液晶模组400的老化测试参数据,以便于操作人员及时排除异常或停止测试。可选地,该老化测试数据可以是电压和电流。当然,该老化测试数据还可包括其他指标,例如液晶模组400本身是否显示正常或黑屏等参数,在此不作限定。
优选地,显示模块105用于显示液晶模组400的电压和/或电流。当然,显示模块105还可以显示其他老化测试数据,在此不作限定。
请参见图3所示,本发明的实施例中,老化测试板100包括多个,该多个老化测试板100与多个液晶模组400一一对应连接。每一老化测试板100的WiFi模块101均与老化监控服务器200通讯连通。如此,可同时对多个液晶模组400进行老化测试,并利用老化监控服务器200同时对多个液晶模组400进行实时监控。
当需要同时进行老化测试的液晶模组400的数量较多时,对应数量的老化测试板100的WiFi模块101同时向老化监控服务器200传送数据,即老化监控服务器200需要同时接受各个老化测试板100的WiFi模块101传送的数据,容易因数据传输能力不足而导致数据堆积或数据错误。请参见图4所示,为了解决该缺陷,具体到实施例中,液晶模组老化测试***还包括均与老化监控服务器200连接的多个子服务器300。多个老化测试板100被分为与多个子服务器300一一对应的多组,每组中的各个老化测试板100的WiFi模块101均与对应的一个子服务器300通讯连通。如此,首先每组中的各个老化测试板100的WiFi模块101将老化测试数据传输至对应的子服务器300上,然后各个子服务器300再将各自接收到的老化测试数据传送至老化监控服务器200。也就是说,利用各个子服务器300先行接收与各自对应的分组内的老化测试板100的老化测试数据,使得老化监控服务器200仅需同时接收各个子服务器300传送的老化测试数据即可,使得数据传送更加顺畅、安全可靠。可选地,各个子服务器300与老化监控服务器200之间可采用有线连接,当然也可采用无线连接,在此不作限定。
进一步地,老化测试板100包括N个,该N个老化测试板100被分为M组。每组包括N/M个老化测试板100,每个老化测试板100均用于连接一个液晶模组400,即可同时对N个液晶模组400进行老化测试。子服务器300包括M个,每组中的N/M个老化测试板100的WiFi模块101均与对应的一个子服务器300通讯连通。其中,N和M均为大于或等于2的正整数,且N是M的倍数。如此,老化监控服务器200仅仅需要同时接收M个子服务器300传送的数据,从而减小了数据传递的压力,确保数据传动顺畅、安全可靠。
作为一个实施例中,老化测试板100包括500个,500个老化测试板100被分为10组,每组包括50个老化测试板100。此时,子服务器300包括10个,每组中的50个老化测试板100的WiFi模块101均与对应的一个子服务器300通讯连通。10个子服务器300均与老化监控服务器200连接。当然,老化测试板100并不仅限于为500个,根据待老化检测的液晶模组400的数量来确定,在此不作限定。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种液晶模组老化测试***,其特征在于,包括:
老化测试板,用于与液晶模组连接,并对所述液晶模组进行老化测试;所述老化测试板具有WiFi模块;及
老化监控服务器,与所述WiFi模块通讯连通,所述WiFi模块用于向所述老化监控服务器传送老化测试数据,所述老化监控服务器用于对所述液晶模组的老化测试数据进行实时监控。
2.根据权利要求1所述的液晶模组老化测试***,其特征在于,所述老化测试板还具有显示模块,所述显示模块用于显示所述液晶模组的老化测试数据。
3.根据权利要求2所述的液晶模组老化测试***,其特征在于,所述显示模块用于显示所述液晶模组的电压和/或电流。
4.根据权利要求1所述的液晶模组老化测试***,其特征在于,所述老化测试板包括多个,多个所述老化测试板与多个所述液晶模组一一对应连接;
每一所述老化测试板的所述WiFi模块均与所述老化监控服务器通讯连通。
5.根据权利要求4所述的液晶模组老化测试***,其特征在于,所述液晶模组老化测试***还包括多个子服务器,所述多个老化测试板被分为与多个所述子服务器一一对应的多组,每组中的各个所述老化测试板的所述WiFi模块均与对应的一个所述子服务器通讯连通,各个所述子服务器均与所述老化监控服务器连接。
6.根据权利要求5所述的液晶模组老化测试***,其特征在于,所述老化测试板包括N个,N个所述老化测试板被分为M组,每组包括N/M个所述老化测试板;
所述子服务器包括M个,每组中的N/M个所述老化测试板的所述WiFi模块均与对应的一个所述子服务器通讯连通;
其中,N和M均为大于或等于2的正整数,且N是M的倍数。
7.根据权利要求1所述的液晶模组老化测试***,其特征在于,所述老化测试板还具有获取模块、存储模块及比较模块,所述获取模块与所述WiFi模块连接,所述存储模块与所述比较模块连接,所述比较模块与所述获取模块和所述WiFi模块连接;所述获取模块用于获取所述液晶模组的老化测试数据,所述存储模块用于存储规格数据范围;所述比较模块用于将所述获取模块获取的老化测试数据与所述存储模块存储的规格数据范围进行比较;
当老化测试数据超出所述规格数据范围时,所述比较模块通过所述WiFi模块向所述老化监控服务器发送工作异常信号;当老化测试数据在所述规格数据范围之内时,所述比较模块通过所述WiFi模块向所述老化监控服务器发送工作正常信号。
8.根据权利要求7所述的液晶模组老化测试***,其特征在于,所述老化监控服务器连接有显示设备,所述显示设备用于显示各个所述液晶模组的状态。
9.根据权利要求8所述的液晶模组老化测试***,其特征在于,当所述老化监控服务器接收到任一所述液晶模组的所述工作正常信号时,所述显示设备显示对应的液晶模组处于正常状态;当所述老化监控服务器接收到任一所述液晶模组的所述工作异常信号时,所述显示设备显示对应的液晶模组处于异常状态。
10.根据权利要求1所述的液晶模组老化测试***,其特征在于,所述老化监控服务器具有存储设备,所述存储设备用于存储所述老化监控服务器接收到的每一所述液晶模组的老化测试数据。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202210061821.0A CN114563882A (zh) | 2022-01-19 | 2022-01-19 | 一种液晶模组老化测试*** |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202210061821.0A CN114563882A (zh) | 2022-01-19 | 2022-01-19 | 一种液晶模组老化测试*** |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN114563882A true CN114563882A (zh) | 2022-05-31 |
Family
ID=81711408
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202210061821.0A Pending CN114563882A (zh) | 2022-01-19 | 2022-01-19 | 一种液晶模组老化测试*** |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN114563882A (zh) |
Citations (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5953688A (en) * | 1996-08-09 | 1999-09-14 | Institute For Information Industry | Multi-port data collection system |
KR20040020102A (ko) * | 2002-08-29 | 2004-03-09 | (주)동아엘텍 | 액정표시모듈의 에이징 시험 장치 |
CN101114065A (zh) * | 2007-07-17 | 2008-01-30 | 夏可瑜 | 用于液晶显示屏及液晶显示模块的无线测试*** |
KR20120016923A (ko) * | 2010-08-17 | 2012-02-27 | 한솔테크닉스(주) | Lcm 에이징 검사기의 대차 분리 시스템 |
CN102722165A (zh) * | 2012-06-27 | 2012-10-10 | 上海海事大学 | 可靠性试验远程监控*** |
US20120306520A1 (en) * | 2011-05-30 | 2012-12-06 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co. | Method for Panel Reliability Testing and Device Thereof |
CN203085128U (zh) * | 2012-11-23 | 2013-07-24 | 昆山龙腾光电有限公司 | 老化测试*** |
CN103995197A (zh) * | 2014-05-21 | 2014-08-20 | 杭州互诚控制技术有限公司 | 一种电子产品的老化测试设备 |
CN104007340A (zh) * | 2014-05-21 | 2014-08-27 | 杭州互诚控制技术有限公司 | 电子产品老化测试***以及老化测试方法 |
CN108109567A (zh) * | 2017-12-27 | 2018-06-01 | 苏州华兴源创电子科技有限公司 | 一种液晶模组老化测试装置和包括其的设备 |
CN108172153A (zh) * | 2017-12-27 | 2018-06-15 | 苏州华兴源创电子科技有限公司 | 一种液晶模组老化测试装置和包括其的设备 |
US20180348309A1 (en) * | 2017-05-31 | 2018-12-06 | Quanta Computer Inc. | System and method for voltage regulator self-burn-in test |
WO2019141016A1 (zh) * | 2018-01-16 | 2019-07-25 | 苏州精濑光电有限公司 | 显示模组老化测试装置及老化测试方法 |
CN111063283A (zh) * | 2020-01-19 | 2020-04-24 | 苏州华兴源创科技股份有限公司 | 一种液晶模组老化测试设备 |
US20200264229A1 (en) * | 2019-02-15 | 2020-08-20 | Qualcomm Incorporated | Soc imminent failure prediction using aging sensors |
DE102019205226A1 (de) * | 2019-04-11 | 2020-10-15 | Phoenix Contact Gmbh & Co. Kg | Ableiter mit Alterungsermittlungseinrichtung |
CN112362991A (zh) * | 2020-11-05 | 2021-02-12 | 中国空间技术研究院 | 一种宇航用元器件老炼试验器件监测***及方法 |
CN112964947A (zh) * | 2021-02-04 | 2021-06-15 | 苏州华兴源创科技股份有限公司 | 老化测试设备的控制方法和*** |
CN113567777A (zh) * | 2021-06-22 | 2021-10-29 | 深圳同兴达科技股份有限公司 | 一种新型老化测试*** |
CN113608057A (zh) * | 2021-08-23 | 2021-11-05 | 无锡盛景微电子股份有限公司 | 批量实现电子延期模块老化实验的测试***及方法 |
US20210382801A1 (en) * | 2020-06-09 | 2021-12-09 | Dell Products L.P. | Method and System for Intelligent Failure Diagnosis Center for Burn-In Devices Under Test |
-
2022
- 2022-01-19 CN CN202210061821.0A patent/CN114563882A/zh active Pending
Patent Citations (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5953688A (en) * | 1996-08-09 | 1999-09-14 | Institute For Information Industry | Multi-port data collection system |
KR20040020102A (ko) * | 2002-08-29 | 2004-03-09 | (주)동아엘텍 | 액정표시모듈의 에이징 시험 장치 |
CN101114065A (zh) * | 2007-07-17 | 2008-01-30 | 夏可瑜 | 用于液晶显示屏及液晶显示模块的无线测试*** |
KR20120016923A (ko) * | 2010-08-17 | 2012-02-27 | 한솔테크닉스(주) | Lcm 에이징 검사기의 대차 분리 시스템 |
US20120306520A1 (en) * | 2011-05-30 | 2012-12-06 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co. | Method for Panel Reliability Testing and Device Thereof |
CN102722165A (zh) * | 2012-06-27 | 2012-10-10 | 上海海事大学 | 可靠性试验远程监控*** |
CN203085128U (zh) * | 2012-11-23 | 2013-07-24 | 昆山龙腾光电有限公司 | 老化测试*** |
CN103995197A (zh) * | 2014-05-21 | 2014-08-20 | 杭州互诚控制技术有限公司 | 一种电子产品的老化测试设备 |
CN104007340A (zh) * | 2014-05-21 | 2014-08-27 | 杭州互诚控制技术有限公司 | 电子产品老化测试***以及老化测试方法 |
US20180348309A1 (en) * | 2017-05-31 | 2018-12-06 | Quanta Computer Inc. | System and method for voltage regulator self-burn-in test |
CN108172153A (zh) * | 2017-12-27 | 2018-06-15 | 苏州华兴源创电子科技有限公司 | 一种液晶模组老化测试装置和包括其的设备 |
CN108109567A (zh) * | 2017-12-27 | 2018-06-01 | 苏州华兴源创电子科技有限公司 | 一种液晶模组老化测试装置和包括其的设备 |
WO2019141016A1 (zh) * | 2018-01-16 | 2019-07-25 | 苏州精濑光电有限公司 | 显示模组老化测试装置及老化测试方法 |
US20200264229A1 (en) * | 2019-02-15 | 2020-08-20 | Qualcomm Incorporated | Soc imminent failure prediction using aging sensors |
DE102019205226A1 (de) * | 2019-04-11 | 2020-10-15 | Phoenix Contact Gmbh & Co. Kg | Ableiter mit Alterungsermittlungseinrichtung |
CN111063283A (zh) * | 2020-01-19 | 2020-04-24 | 苏州华兴源创科技股份有限公司 | 一种液晶模组老化测试设备 |
US20210382801A1 (en) * | 2020-06-09 | 2021-12-09 | Dell Products L.P. | Method and System for Intelligent Failure Diagnosis Center for Burn-In Devices Under Test |
CN112362991A (zh) * | 2020-11-05 | 2021-02-12 | 中国空间技术研究院 | 一种宇航用元器件老炼试验器件监测***及方法 |
CN112964947A (zh) * | 2021-02-04 | 2021-06-15 | 苏州华兴源创科技股份有限公司 | 老化测试设备的控制方法和*** |
CN113567777A (zh) * | 2021-06-22 | 2021-10-29 | 深圳同兴达科技股份有限公司 | 一种新型老化测试*** |
CN113608057A (zh) * | 2021-08-23 | 2021-11-05 | 无锡盛景微电子股份有限公司 | 批量实现电子延期模块老化实验的测试***及方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20030206111A1 (en) | Monitoring system and method for wiring systems | |
EP1984749B1 (en) | Method and apparatus for evaluating the level of superficial pollution of a medium/high voltage outdoor insulator | |
TWI580153B (zh) | 電池監控系統 | |
JP5263819B2 (ja) | 蓄電池監視システム | |
US20220384858A1 (en) | Battery monitoring system | |
CN112858952B (zh) | 一种电缆连通性快速检测装置及方法 | |
KR20210012200A (ko) | 환경시험 장비의 성능이상 감지장치를 이용한 유지관리 시스템 및 그 제어방법 | |
JP2017521649A (ja) | 旅客機においてニッケルカドミウムバッテリを監視するためのシステムおよび方法 | |
US20130021037A1 (en) | Wireless portable battery capacity test system | |
CN115086801A (zh) | 基于携带式计算终端的穿戴式配网智能巡检***及方法 | |
CN114563882A (zh) | 一种液晶模组老化测试*** | |
CN210526306U (zh) | 高压互锁检测电路及电动汽车 | |
US20180017608A1 (en) | Electrical in-system process control tester | |
CN112904098A (zh) | 用于轨道交通电气控制屏柜的健康诊断装置及方法 | |
US8791813B2 (en) | Monitoring system for testing apparatus | |
CN110979081A (zh) | 一种基于一机四桩充电桩的网络监控***和方法 | |
CN112255554A (zh) | 一种直流***蓄电池健康状况及内部故障监测装置 | |
CN219758459U (zh) | 电池模组的检测工装 | |
KR100760404B1 (ko) | 전자기기용 사전 진단시스템과 이를 이용한 사전 진단방법 | |
CN211085505U (zh) | 远程电气设备监测装置 | |
CN211653436U (zh) | 电气设备监测装置 | |
CN219799745U (zh) | 一种参量显示*** | |
CN218727437U (zh) | WiFi模组的老化测试*** | |
CN220508253U (zh) | 一种母线排测温监控*** | |
CN219285723U (zh) | 开卡转接板和开卡设备 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20220531 |