CN114414060A - 测定装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种能够削减热成像装置的校正所花费的工夫的测定装置，本申请的热成像装置(100)具备：获取部(41)，其获取使用摄像元件(51)中的规定的拍摄区域测定出的电磁波的测定结果，该摄像元件对从测定对象放射出的电磁波进行测定；以及计算部(43)，其使用校正信息，根据测定结果来计算测定对象的温度，该校正信息是将使用摄像元件(51)中的一部分校正区域测定出的电磁波的测定结果与测定出该电磁波时的测定对象的温度相对应的校正信息，并且该校正信息是针对每个校正区域生成的多个校正信息中的、与拍摄区域对应的校正信息。

Description

测定装置

技术领域

本发明涉及一种热成像装置等对测定对象的温度进行测定的测定装置。

背景技术

以往，已知有使用拍摄表示拍摄对象的热分布的热图像的热成像装置，来进行各种工序、产品的检查的技术。作为这样的技术的一例，已知有使用热成像装置进行热熔胶的粘接状态的检查的技术。例如，已知有基于使用热成像装置拍摄的热图像，来判定热熔胶的量、位置、飞溅或伸长，基于判定结果，来判定热熔胶的粘接状态的技术。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开2015-034778号公报

发明内容

发明要解决的问题

这样的热成像装置使用摄像元件来测定从测定对象发出的红外线的辐射亮度，使用被预先校正了的表示辐射亮度与温度的对应的校正信息，根据所测定出的辐射亮度来测定测定对象的温度。

在此，在测定对象正在移动的情况下，如果摄像元件的帧率低，则不能得到适当的测定对象。但是，由于摄像元件每单位时间能够输出的信息量存在上限，因此摄像元件整体的帧率存在上限。

因此，考虑仅使用摄像元件的一部分来测定辐射亮度，从而来削减每单位时间输出的信息量，提高帧率的方法。在这样的情况下，热成像装置使用摄像元件中的、预先设定的规定区域来测定辐射亮度，并且使用预先使用规定区域校正后的校正信息来对测定对象的温度进行测定。

但是，在这样仅使用了摄像元件的一部分的情况下，测定对象偏离能够拍摄的范围的可能性变高。在此，如果要调整热成像装置的设置位置、朝向，则由于测定对象与热成像装置的距离发生变化，导致辐射亮度与温度的关系性发生变化，需要花费进行再次校正的工夫。另外，即使在热成像装置的设置位置、朝向的调整微小即可的情况下，在热成像装置固定在固定用的器具上的情况下，使热成像装置物理地移动也花费工夫。另外，在变更摄像元件中使用的区域的情况下，需要针对变更后的区域再次校正校正信息。

本申请是为了解决这样的课题而做出的，其目的在于削减热成像装置的校正所花费的工夫。

解决问题的技术手段

本申请的测定装置具备：获取部，其获取使用摄像元件中的规定的拍摄区域测定出的电磁波的测定结果，该摄像元件对从测定对象放射出的电磁波进行测定；以及计算部，其使用校正信息，根据测定结果来计算测定对象的温度，该校正信息是将使用摄像元件中的一部分校正区域测定出的电磁波的测定结果与测定出该电磁波时的测定对象的温度相对应的校正信息，并且该校正信息是针对每个校正区域生成的多个校正信息中的、与拍摄区域对应的校正信息。

另外，在上述的测定装置中，获取部也可以获取使用摄像元件中的规定的拍摄区域测定出的红外线的测定结果，该摄像元件对从测定对象放射出的红外线进行测定，计算部也可以使用将采用校正区域测定出的红外线的测定结果与测定对象的温度相对应的校正信息中的、与拍摄区域对应的校正信息，作为校正信息，来计算测定对象的温度。

另外，在上述的测定装置中，获取部也可以获取使用从测定对象放射出的红外线的辐射亮度进行测定的摄像元件中的规定的拍摄区域测定出的红外线的辐射亮度，计算部也可以使用将采用校正区域测定出的红外线的辐射亮度与测定对象的温度相对应的校正信息中的、与拍摄区域对应的校正信息，作为校正信息，来计算测定对象的温度。

另外，在上述的测定装置中，计算部也可以使用校正信息中的、对应于与拍摄区域重复的校正区域的校正信息，根据测定结果来计算测定对象的温度。

另外，在上述的测定装置中，计算部也可以使用将对应于与拍摄区域重复的多个校正区域的校正信息均衡化后的均衡化信息，来计算测定对象的温度。

另外，在上述的测定装置中，计算部也可以使用校正信息中的、对应于与拍摄区域相同宽度的校正区域的校正信息，根据测定结果来计算测定对象的温度。

另外，在上述的测定装置中，获取部也可以获取以规定的帧率测定出的电磁波的测定结果，计算部也可以使用校正信息中的、将以规定的帧率测定出的电磁波的测定结果与测定出该电磁波时的测定对象的温度相对应的校正信息，根据测定结果来计算测定对象的温度。

另外，在上述的测定装置中，获取部也可以获取使用拍摄区域以规定的帧率测定出的电磁波的测定结果，计算部也可以使用针对校正区域的宽度和帧率的每个组合生成的校正信息中的、与拍摄区域的宽度和规定的帧率的组合对应的校正信息，根据测定结果来计算测定对象的温度。

另外，在上述的测定装置中，计算部也可以使用针对将摄像元件整体分割后的多个校正区域的每一个生成的校正信息中的、与拍摄区域对应的校正信息，根据测定结果来计算测定对象的温度。

另外，在上述的测定装置中，计算部也可以使用针对将摄像元件的一部分分割后的多个校正区域的每一个生成的校正信息中的、与拍摄区域对应的校正信息，根据测定结果来计算测定对象的温度。

另外，在上述的测定装置中，计算部也可以使用针对一部分重复的多个校正区域的每一个生成的校正信息中的、与拍摄区域对应的校正信息，根据测定结果来计算测定对象的温度。

另外，在上述的测定装置中，获取部也可以从具有摄像元件的摄像装置获取测定结果。

另外，上述的测定装置还可以具有摄像部，该摄像部具有摄像元件。

发明的效果

上述的测定装置预先保持多个校正信息，该多个校正信息是将使用摄像元件中的一部分校正区域测定出的红外线的辐射亮度的值与测定出该辐射亮度时的测定对象的温度相对应的校正信息，并且该多个校正信息是针对每个校正区域生成的校正信息。然后，测定装置使用与在测定时使用的拍摄区域对应的校正区域的校正信息，根据测定结果来计算测定对象的温度。

例如，在使用能够以成为基准的帧率(以下记为“基准帧率”。)动作的摄像元件中的、具有1/4的宽度的拍摄区域进行辐射亮度的测定的情况下，测定装置能够以基准帧率的4倍的帧率进行测定。因此，测定装置预先设定多个具有摄像元件的1/4的宽度的校正区域，针对每个设定的校正区域生成将辐射亮度的值变换为温度的校正信息。然后，测定装置使用与测定时使用的拍摄区域对应的校正信息，根据辐射亮度来计算温度。

这样的处理的结果是，在使用者变更拍摄区域的情况下，测定装置使用与变更后的拍摄区域对应的校正信息，根据测定结果来计算温度即可。因此，测定装置能够省去再次校正的麻烦，立即开始测定。

附图说明

图1是表示实施方式的热成像装置所使用的校正信息的一例的图。

图2是说明实施方式的热成像装置计算温度的处理的一例的图。

图3是表示实施方式中的热成像装置的概要的图。

图4是表示实施方式的热成像装置所具有的功能构成的一例的图。

图5是表示实施方式的校准数据的一例的图。

图6是表示实施方式的控制器所执行的测定处理的一例的流程图。

图7是表示实施方式的校正区域的一例的图。

图8是表示实施方式中的均衡化信息的生成处理的一例的图。

图9是表示实施方式的帧率与校正区域的关系性的一例的图。

具体实施方式

接着，参照附图对实施方式进行说明。另外，在以下的说明中，对各实施方式中共通的构成要素标注相同的参照符号，省略重复的说明。

[原理]

热成像装置使用摄像元件，测定从测定对象产生的红外线的辐射亮度，根据所测定出的辐射亮度，来测定测定对象的温度。例如，热成像装置一边使黑体炉的温度变更，一边测定从黑体炉产生的红外线的辐射亮度，从而校正表示辐射亮度与温度的对应的校正信息。然后，热成像装置根据从测定对象产生的辐射亮度，基于校正后的校正信息(以下记载为“校正信息”。)来计算测定对象的温度。

例如，在进行校正信息的校正的情况下，热成像装置一边将测定距离保持为恒定，一边测定从黑体炉发出的红外线的辐射亮度。另外，热成像装置从操作员获取黑体炉的温度。通过重复这样的处理，热成像装置得到多个温度与黑体炉处于该温度时所获取到的多个辐射亮度的组。然后，热成像装置生成将各组的辐射亮度的值变换为对应的温度的式子(以下有时记载为“温度计算式”。)作为校正信息。

另外，热成像装置在测定工厂等的工件等的温度的测定时，使与测定对象的距离与校正时的测定距离匹配。然后，热成像装置使用校正信息，根据所测定出的红外线的辐射亮度来计算测定对象的温度。

另一方面，在测定对象正在移动的情况下，在热成像装置测定红外线的辐射亮度的帧率低的情况下，则测定对象的像抖动，不能提供适当的测定结果。另一方面，测定红外线的辐射亮度的摄像元件由于在单位时间值内能够输出的信息量存在上限，因此难以提高帧率。

因此，考虑仅使用摄像元件中的一部分区域来提高帧率的方法。例如，在仅使用摄像元件中的一半的区域进行了测定的情况下，与使用了摄像元件整体的情况相比，在单位时间值内产生的信息量被抑制为一半，因此能够使帧率提高到2倍。另外，例如在仅使用摄像元件中的1/4区域进行了测定的情况下，与使用了摄像元件整体的情况相比，在单位时间值内产生的信息量被抑制为1/4，因此能够使帧率提高到4倍。

另一方面，在使帧率变化了的情况下，则摄像元件中的累计时间发生变化，摄像元件所输出的辐射亮度的值发生变化。因此，在校正时和测定时帧率不同的情况下，无法使用构成完毕的校正信息。因此，热成像装置使用预先针对每个帧率生成的校正信息，来测定测定对象的温度。

例如，在使用摄像元件整体的情况下，热成像装置以预定帧率“f”来测定从黑体炉发出的红外线的辐射亮度，使用所测定出的辐射亮度，来生成与帧率“f”对应的第1校正信息。另外，热成像装置预先选择摄像元件中的一半区域，使用所选择的区域，以规定的帧率“f”的2倍的帧率、即“2f”来测定从黑体炉产生的红外线的辐射亮度。然后，热成像装置使用所测定出的辐射亮度来生成与帧率“2f”对应的第2校正信息。

另一方面，热成像装置在以帧率“2f”对测定对象的温度进行测定的情况下，使用与摄像元件中的、校正时所选择的区域相同的区域，以帧率“2f”来测定辐射亮度。然后，热成像装置使用第2校正信息，根据辐射亮度来计算测定对象的温度。

但是，在限定了摄像元件中利用的区域的情况下，测定对象偏离能够拍摄的范围的可能性变高。这样，在测定对象偏离了能够拍摄的范围的情况下，考虑变更热成像装置的位置、朝向，但如果像这样变更热成像装置的位置、朝向，则到测定对象的距离发生变化。这样，在到测定对象的距离发生了变化的情况下，辐射亮度与温度的关系性发生变化，需要花工夫进行再次校正。进而，即使在热成像装置的设置位置、朝向的调整微小即可的情况下，在热成像装置被固定在固定用的器具上的情况下，使热成像装置物理地移动也花费工夫。

因此，本实施方式的热成像装置获取使用摄像元件中的规定的拍摄区域测定出的电磁波的测定结果，该摄像元件对从测定对象放射出的电磁波进行测定。并且，热成像装置使用校正信息，根据测定结果来计算测定对象的温度，该校正信息是将使用摄像元件中的一部分校正区域测定出的电磁波的测定结果与测定出电磁波时的测定对象的温度相对应的校正信息，并且该校正信息是针对每个校正区域生成的多个校正信息中的、与拍摄区域对应的校正信息。

例如，热成像装置在摄像元件中的一部分区域中分别设定多个相同宽度的校正区域，针对各校正区域的每一个以相同的帧率生成校正信息。并且，热成像装置在测定时，在将摄像元件中的某1个区域选择为拍摄区域时，选择与所选择的拍摄区域对应的校正区域，使用与所选择的校正区域有关的校正信息，对测定对象的温度进行测定。

以下，使用附图对热成像装置所执行的处理进行说明。图1是表示实施方式的热成像装置所使用的校正信息的一例的图。在图1所示的例子中，概念性地记载了生成校正信息的校正时的处理。另外，在以下的说明中，将使用摄像元件整体进行测定时的帧率作为基准帧率，将值表示为“f”。

例如，热成像装置使摄像元件整体以基准帧率“f”来动作，从而来测定从黑体炉发出的红外线的辐射亮度。然后，热成像装置基于测定结果，生成将辐射亮度变换为温度的校正信息来作为基准校正信息。这样的基准校正信息成为与摄像元件整体(以下有时记载为“基准区域”。)和基准帧率的组对应的校正信息。

另外，热成像装置选择摄像元件的一部分区域、且是面积分别相同的多个区域。例如，热成像装置通过将摄像元件整体分割为4份，分别设定面积相同的第1校正区域至第4校正区域这4个区域。在使用了这样的第1校正区域至第4校正区域的情况下，能够使帧率以基准帧率的4倍、即“4f”进行测定。

因此，热成像装置将帧率设为“4f”，使各校正区域动作，针对每个校正区域进行对应的校正信息的生成。例如，热成像装置根据通过使第1校正区域以帧率“4f”动作而得到的测定信息，生成与第1校正区域对应的第1校正信息。同样地，热成像装置生成与第2校正区域对应的第2校正信息、与第3校正区域对应的第3校正信息、以及与第4校正区域对应的第4校正信息。而且，热成像装置在测定时，使用针对与摄像元件中的用于测定的区域(以下记载为“拍摄区域”。)对应的校正区域生成的校正信息，根据测定结果来进行温度的计算。

例如，图2是说明实施方式的热成像装置计算温度的处理的一例的图。例如，在图2所示的例子中，热成像装置使用将摄像元件分割为4份后的区域中的左上的区域，即第1拍摄区域，以帧率“4f”来测定从测定对象发出的红外线的辐射亮度。在此，第1拍摄区域是与图1所示的第1校正区域一致的区域。因此，热成像装置使用与第1校正区域对应的第1校正信息，根据测定结果进行温度的计算。

在此，在测定对象在第1拍摄范围中从能够拍摄的范围偏离的情况下，操作员OP选择其他的拍摄范围。例如，操作员OP重新选择第2拍摄区域。在这样的情况下，热成像装置确定与第2拍摄区域对应的第4校正区域。然后，热成像装置使用与所确定的第4校正区域对应的第4校正信息，根据使用了第2拍摄区域的测定结果，来计算测定对象的温度。

在此，如图2所示，操作员OP选择跨越多个校正区域的第3拍摄区域。在这样的情况下，热成像装置将与第3拍摄区域重叠的全部校正区域确定为与第3拍摄区域对应的校正区域，生成将与所确定的各区域对应的校正信息均衡化后的均衡化信息。例如，热成像装置确定从与第3拍摄区域重叠的第1校正区域到第4校正区域的所有区域。

然后，热成像装置生成将与各校正区域对应的第1校正信息至第4校正信息均衡化后的均衡化信息。例如，热成像装置也可以计算作为第1校正信息生成的温度计算式的各系数、作为第2校正信息生成的温度计算式的系数、作为第3校正信息生成的温度计算式的系数、作为第4校正信息生成的温度计算式的系数的平均值，将以所计算出的平均值为系数的温度计算式来作为均衡化信息。

此外，热成像装置也可以考虑与第3拍摄区域和各校正区域重叠的面积相应的加权，来生成均衡化信息。例如，热成像装置也可以设定与第3拍摄区域重叠的面积越大，则值越大的权重，根据各校正信息来生成均衡化信息。

例如，成为校正信息的温度计算式可以由与辐射亮度的值x有关的n次方程式来近似。在这种情况下，将成为第1校正信息的温度计算式的n次项的系数设为a1，将成为第2校正信息的温度计算式的n次项的系数设为a2，将成为第3校正信息的温度计算式的n次项的系数设为a3，将成为第4校正信息的温度计算式的n次项的系数设为a4。另外，将第3拍摄区域中的、与第1校正区域重叠的比例设为y1，将第3拍摄区域中的、与第2校正区域重叠的比例设为y2，将第3拍摄区域中的、与第3校正区域重叠的比例设为y3，以及将第3拍摄区域中的、与第4校正区域重叠的比例设为y4。在这种情况下，热成像装置通过以下的式(1)来计算作为平准化信息的温度计算式中的n次项的系数An。

(公式1)

An＝al×y1+a2×y2+a3×y3+a4×y4···(1)

这样，热成像装置针对摄像元件的一部分区域、且是分别不同的多个校正区域，分别预先生成单独的校正信息。然后，热成像装置确定与在测定时测定出红外线的辐射亮度的拍摄区域对应的校正区域，根据针对所确定的校正区域预先生成的校正信息，来计算测定对象的温度。这样的处理的结果是，热成像装置在将摄像装置的一部分用作拍摄区域时，在需要变更拍摄区域的情况下，也不需要再校正，能够实现即时的测定。

[实施方式]

以下，使用图3对实施方式的概要进行说明。图3是表示实施方式中的热成像装置的概要的图。在图3所示的例子中，热成像装置100具有控制器10和红外线摄像机50。另外，控制器10与终端装置200连接。

红外线摄像机50使用由多个热电堆构成的热电堆阵列传感器等FPA(Focal PlaneArray)，测定从在检查线IL1中流动的检查对象IT发出的红外线的辐射亮度，并将测定结果发送到控制器10。另外，红外线摄像机50可以使用微测辐射热计或热电传感器等各种热型红外线传感器，也可以使用各种量子型红外线传感器。

在这种情况下，控制器10基于测定结果，来测定测定对象IT的温度。更具体而言，控制器10通过测定测定对象IT的表面的各区域的温度，来测定测定对象IT的表面的温度分布。然后，控制器10生成表示所测定出的温度分布的热图像。例如，控制器10生成将表示针对每个像素所测定出的红外线量、温度的信号值相对应的数据作为热图像。然后，控制器10将生成的热图像提供给终端装置200。

在此，在测定对象移动的速度快而不能得到适当的热图像的情况下，操作员OP进行拍摄区域的指定，并且进行帧率的指定。例如，操作员OP将图1所示的第1校正区域至第4校正区域中的、与第1校正区域一致的区域指定为拍摄区域，并且将帧率设定为基准的4倍，即“4f”。

在这种情况下，红外线摄像机50将摄像元件中的指定的区域作为拍摄区域，以帧率“4f”来测定从测定对象IT发出的红外线的辐射亮度。然后，控制器10使用所测定出的辐射亮度，且使用与拍摄区域对应的校正信息、即使用与第1校正区域对应的第1校正信息，来计算计算温度，生成表示计算温度的热图像。

另外，在测定对象偏离了能够拍摄的范围的情况下，操作员OP不变更红外线摄像机50的位置、朝向，而变更拍摄范围，由此将测定对象收纳在能够拍摄的范围。例如，在测定对象偏离到拍摄区域的右侧的情况下，操作员OP将与第2校正区域一致的区域重新指定为新的拍摄区域。在这种情况下，红外线摄像机50将摄像元件中的、指定的区域作为拍摄区域，来测定从测定对象IT发出的红外线的辐射亮度。然后，控制器10使用所测定出的放射亮度，且使用与拍摄区域对应的校正信息、即使用与第2校正区域对应的第2校正信息，来计算计算温度，生成表示计算温度的热图像。

[实施方式中的功能构成的一例]

接着，使用图4说明热成像装置100的控制器10以及红外线摄像机50所具有的功能构成的一例。图4是表示实施方式的热成像装置所具有的功能构成的一例的图。另外，在以下的说明中，对红外线摄像机50所具有的功能构成进行说明，之后，对控制器10所具有的功能校正进行说明。

热成像装置100所具有的红外线摄像机50在壳体内具有摄像元件51以及透镜52。摄像元件51例如是测定从测定对象发出的红外线的辐射亮度的元件，将表示各像素所测定出的辐射亮度的值提供给控制器10。另外，透镜52是将红外线从测定对象聚光到摄像元件51上的透镜。

另一方面，热成像装置100所具有的控制器10具有通信部20、存储部30以及控制部60。

通信部20控制与得到表示拍摄对象的热分布的热图像的红外线摄像机50、终端装置200之间的通信。例如，通信部20由NIC(Network Interface Card)、USB(UniversalSerial Bus)端口等实现，控制与红外线摄像机50、终端装置200之间的通信。

存储部30是存储各种信息的存储装置，例如通过RAM(Random Access Memory)、闪存(Flash Memory)等半导体存储元件、或者硬盘、光盘等存储装置来实现。例如，在存储部30中登记有校准数据31以及校正数据32。

校准数据31是用于根据从测定对象IT发出的红外线的辐射亮度来计算测定对象的温度的信息，例如是作为校正信息而预先生成的温度计算式。另外，在实施方式的热成像装置4所存储的校准数据31中，登记有针对每个校正区域生成的校正信息。

例如，图5是表示实施方式的校准数据的一例的图。在图5所示的例子中，在校准数据31中登记有具有“校正信息ID(Identifier)”、“校正区域”、“比率”、“帧率”以及“校正信息”这样的项目的信息。

“校正信息ID”是用于识别校正信息的标识符。另外，“校正区域”是表示摄像元件51中的设为校正区域的范围的信息，例如是表示摄像元件51中的校正区域的左上的点的基准点、从基准点的横向宽度、以及从基准点的纵向宽度的信息。另外，“比率”是校正区域的宽度相对于摄像元件51整体的比率。另外，“帧率”是表示生成了校正信息时的帧率，即与校正信息对应的帧率的信息。另外，“校正信息”是与相对应的校正区域以及帧率的组对应的校正信息，例如是用于根据测定结果来计算温度的温度计算式。

例如，在图5所示的例子中，登记有“校正信息#1”来作为校正信息ID“PID1”所表示的校正信息，登记有与该“校正信息#1”对应的校正区域是“校正区域#1”所表示的校正区域的内容。此外，在图5所示的示例中，登记了“校正区域#1”相对于摄像元件51整体的宽度的比率是“1”(即，摄像元件51整体)，生成了“校准信息#1”时的帧率是“f”的内容。

另外，例如，在图5所示的例子中，登记有“校正信息#2”来作为校正信息ID“PID2”所表示的校正信息，登记有与该“校正信息#1”对应的校正区域是“校正区域#2”所表示的校正区域的内容。此外，在图5所示的示例中，登记有“校正区域#2”相对于摄像元件51整体的宽度的比率是“1/2”(即，摄像元件51的一半)，生成了“校正信息#2”时的帧率是“2f”的内容。

返回图4继续进行说明。控制部40是通过CPU(Central Processing Unit)、MPU(Micro Processing Unit)等处理器，使热成像装置100内部的存储装置中存储的各种程序将RAM等作为作业区域来执行而实现。另外，控制部60也可以通过ASIC(ApplicationSpecific Integrated Circuit)、FPGA(Field Programmable Gate Array)等集成电路来实现。

如图4所示，控制部40具有获取部41、确定部42、计算部43、提供部44以及生成部45。

获取部41获取使用摄像元件51中的规定的拍摄区域测定出的电磁波的测定结果，该摄像元件对从测定对象放射出的电磁波进行测定。例如，获取部41经由终端装置200接受操作员OP所指定的拍摄区域和帧率的信息。在这种情况下，获取部41控制红外线摄像机50，使指定的拍摄区域以指定的帧率动作。然后，获取部41获取拍摄区域的各像素所测定出的红外线的辐射亮度的值作为测定结果。

例如，获取部41将摄像元件51整体作为拍摄区域，在接受了以帧率“f”来进行测定的指定的情况下，得到使摄像元件51整体以帧率“f”动作的测定结果。另外，获取部41将摄像元件51中的一半的区域作为拍摄区域，在接受了以帧率“2f”进行测定的指定的情况下，使摄像元件51以帧率“2f”动作，并且仅将所指定的拍摄区域中包含的各像素所测定出的测定结果输出到摄像元件51。

确定部42确定校正信息中的与拍摄区域重复的校正区域。例如，确定部42参照校准数据31来确定与所指定的拍摄区域相同宽度的校正区域，并且是与指定的拍摄区域重叠的校正区域。例如，在摄像元件51整体被指定为拍摄区域的情况下，指定部42确定比率成为“1”的校正区域“校正区域#1”。此外，例如，在摄像元件51的一半被指定作为拍摄区域的情况下，确定部42确定在比率成为“1/2”的校正区域“校正区域#2”以及“校正区域#3”中的、与拍摄区域重叠的校正区域。

此外，确定部42选择与所确定的校正区域相对应的校正信息中的、与所指定的帧率相对应的校正信息。然后，确定部42将所选择的校正信息通知给计算部43。

在此，在拍摄区域与多个校正区域重叠的情况下，确定部42生成将各校正区域的校正信息均衡化后的均衡化信息。例如，在拍摄区域与“校正区域#2”和“校正区域#3”重叠的情况下，确定部42生成通过上述的处理将“校正信息#2”以及“校正信息#3”均衡化后的均衡化信息。另外，例如，在拍摄区域和“校正区域#2”的重叠比例超过规定范围的情况下，指定部42可以将“校准信息#2”采用为均衡化信息，而不使用“校准信息#3”。

计算部43使用与拍摄区域对应的校正信息，根据测定结果来计算测定对象的温度。更具体而言，计算部43使用由确定部42所确定的校正信息、确定部42所生成的均衡化信息，根据获取部41所获取到的测定结果来对测定对象的温度进行测定。例如，计算部43针对拍摄区域中包含的每个像素，向成为校正信息的温度计算式输入成为测定结果的红外线的辐射亮度，来计算温度的值。

也就是说，计算部43使用校正信息，根据测定结果来计算测定对象的温度，该校正信息是将使用摄像元件51中的一部分校正区域测定出的电磁波的测定结果与测定出该电磁波时的测定对象(例如，校正时使用的黑体炉)的温度相对应的校正信息，并且该校正信息是针对每个校正区域生成的多个校正信息中的、与拍摄区域对应的校正信息，并且该校正信息是以与测定时的帧率相同的帧率生成的校正信息。

提供部44使用计算部43针对每个像素计算出的温度，生成热图像，将生成的热图像提供给操作员OP。例如，提供部44生成对于拍摄区域的各像素的在图像上的像素赋予了与所计算出的温度相应的色彩的图像作为热图像。然后，提供部44将生成的热图像提供给终端装置200并使其显示。

生成部45生成作为校准数据31的温度计算式。另外，这种温度计算式的生成在热成像装置100的校正时预先进行。

例如，生成部45将摄像元件51的整体或其一部分作为校正区域，使校正区域以规定的帧率动作。然后，生成部45一边使黑体炉的温度变更，一边测定从黑体炉发出的红外线的辐射亮度。然后，生成部45生成根据所测定出的辐射亮度的值来计算黑体炉的温度的温度计算式，并将生成的温度计算式作为校正信息登记在校准数据31中。

例如，生成部45基于黑体炉的各温度的值和在黑体炉处于该温度时所测定出的辐射亮度的值，来设定将辐射亮度的值作为参数的多次方程式的系数。然后，生成部45将设定了系数的多次方程式作为校准数据31登记在存储部30中。此时，生成部45将表示校正区域的位置、范围的信息、校正区域相对于摄像元件51的面积的比率、以及帧率相对应地进行登记。

此外，生成部45一边适当变更校正区域的位置、宽度、帧率，一边生成校正信息。其结果是，生成部45针对多个校正区域的每一个生成不同的校正信息。

[实施方式中的动作的一例]

接着，参照附图说明实施方式的控制器10的动作时刻的一例。图6是表示实施方式的控制器所执行的测定处理的一例的流程图。

例如，控制器10判定红外线摄像机50是否获取了使用规定的拍摄区域测定出的测定结果(步骤S101)，在没有获取的情况下(步骤S101：否)，进行待机。然后，控制器10在获取了摄像结果的情况下(步骤S101：是)，确定与拍摄区域对应的校正区域(步骤S102)，使用与所确定的校正区域对应的校正信息，根据测定结果来计算测定对象的温度(步骤S103)。然后，控制器10提供表示所计算出的温度的热图像等提供信息(步骤S104)，结束处理。

[实施方式的扩展]

以上记载了热成像装置100所执行的测定处理的一例。但是，实施方式不限于此。以下，对热成像装置100所执行的处理的变化、测定处理以及生成处理的变化进行说明。

(1.关于均衡化信息)

在上述的例子中，在存在有多个与拍摄区域相同宽度的校正区域、且是与拍摄区域重叠的校正区域的情况下，热成像装置100使用将与这些校正区域对应的校正信息均衡化后的均衡化信息，根据测定结果来计算温度。在此，热成像装置100除了上述的处理以外，也可以通过任意的均衡化处理来将校正信息均衡化。

例如，热成像装置100也可以仅将与拍摄区域重叠的校正区域中的、重叠的比例超过规定的阈值的校正区域的校正信息作为均衡化的对象。此外，热成像装置100例如也可以针对拍摄区域的像素或拍摄区域中包含的区域中的每一个，使用重叠的校正区域的校正信息，来进行温度的计算。此外，热成像装置100除了上述的平均化和加权平均化以外，也可以使用通过各种任意的计算方法将校正信息均衡化后的均衡化信息。

(2.关于拍摄区域的指定)

另外，热成像装置100也可以接受将摄像元件51中的任意形状的任意区域作为拍摄区域的指定。即使在这样的情况下，热成像装置100也可以使用与拍摄区域重叠的校正区域的校正信息，来进行温度的计算。

另一方面，各校正区域的校正信息是针对每个校正区域生成的，因此各自生成的时刻不同。这样，在同时使用了生成的时刻不同的多个校正信息的情况下，有温度的测定精度降低的可能。

因此，热成像装置100也可以将预先生成了校正信息的校正区域作为拍摄区域的候选提示给操作员OP，使用所提示的候选中的、与操作员OP所选择的校正区域相同的拍摄区域，来测定测定对象的温度。这样，在使拍摄区域和校正区域一致的情况下，热成像装置100能够确保温度的测定精度。

(3.关于校正区域)

在上述的例子中，热成像装置100将摄像元件51的整体或者将摄像元件51当分割后的各区域作为校正区域，预先生成了校正信息。但是，实施方式不限于此。

例如，热成像装置100也可以针对将摄像元件51中的一部分区域分割后的校正区域进行校正信息的生成。例如，图7是表示实施方式的校正区域的一例的图。例如，热成像装置100也可以将摄像元件51中的一部分区域分割为第5校正区域和第6校正区域，针对第5校正区域和第6校正区域的每一个进行校正信息的生成。在这种情况下，热成像装置100在以比基准帧率高的帧率来测定测定对象的温度时，从第5校正区域和第6校正区域所构成的范围内，选择与第5校正区域以及第6校正区域相同宽度的拍摄区域来进行测定。

此外，热成像装置100也可以设定相互重叠的校正区域，针对每个校正区域生成校正信息。例如，热成像装置100也可以设定宽度为摄像元件51的1/4宽度、且位置分别各错开了1个像素的多个校正区域，针对每个校正区域对校正信息进行校正。在这样的情况下，热成像装置100能够使用设定在摄像元件51中的任意位置的拍摄区域，以基准帧率的4倍来实现温度的测定。此外，热成像装置100也可以针对以任意的方式重叠的校正区域进行校正信息的生成。

另外，在这样设定了重叠的校正区域的情况下，对于重叠的范围，也可以通过预先生成均衡化后的校正信息，来抑制在区域边界产生的影响。例如，图8是表示实施方式中的均衡化信息的生成处理的一例的图。例如，在图8所示的例子中，以覆盖摄像元件51中的一部分区域的方式设定有相同宽度的第7校正区域以及第8校正区域。另外，在图8所示的例子中，第7校正区域和第8校正区域的一部分成为相互重叠的重叠区域SA。

对于这样的第7校正区域以及第8校正区域，热成像装置100生成应用了与重叠区域SA相应的均衡化的校正信息。例如，热成像装置100使用第7校正区域生成第7校正信息，并且使用第8校正区域生成第8校正信息。然后，热成像装置100针对第7校正区域以及第8校正区域中的重叠区域SA中包含的像素，设定将第7校正信息和第8校正信息均衡化后的校正信息。这样的处理的结果是，热成像装置100能够削减区域边界的影响。另外，即使在设定为3个以上的校正区域重叠的情况下，热成像装置100也可以通过进行同样的处理来生成校正信息。

另外，热成像装置100也可以对校正区域设定疏密。例如，热成像装置100也可以对于摄像元件51中的中央附近以更多的校正区域的重叠的方式来设定多个校正区域，对于摄像元件51中的外延部分以较少的数量的校正区域重叠的方式来设定校正区域。即，热成像装置100也可以对于被推定为必要的区域重点地设定校正区域。

(4.关于帧率)

在上述的例子中，热成像装置100在将摄像元件51的整体作为校正区域或拍摄区域的情况下，以基准帧率进行了辐射亮度的测定，在将摄像元件51的一半宽度的区域作为校正区域或拍摄区域的情况下，以基准帧率的2倍的帧率进行了辐射亮度的测定，在将摄像元件51的1/4宽度的区域作为校正区域或拍摄区域的情况下，以基准帧率的4倍的帧率进行了辐射亮度的测定。即，热成像装置100在将摄像元件51的1/n的宽度的区域作为校正区域或拍摄区域的情况下，以基准帧率的n倍的帧率进行了辐射亮度的测定。

但是，实施方式不限于此。例如，在将摄像元件51的一半宽度的区域作为校正区域或拍摄区域的情况下，基准帧率的2倍的帧率成为测定中的帧率的上限。因此，热成像装置100也可以针对每个校正区域生成以不同的帧率动作的校正信息，使用与在测定时所指定的拍摄区域和帧率的组对应的校正信息，进行温度的测定。

例如，图9是表示实施方式的帧率与校正区域的关系性的一例的图。在图9所示的例子中，表示了针对与摄像元件51整体相同宽度的第10校正区域、摄像元件51的一半宽度的第11校正区域、以及摄像元件51的三分之一宽度的第12校正区域生成的校正信息的一例。

例如，当使用第10校正区域时，帧率不能比基准帧率高。因此，热成像装置100生成将帧率设为基准帧率“f”的第10校正信息。另一方面，当使用第11校正区域时，帧率最大成为基准帧率的2倍，即“2f”。因此，热成像装置100生成使第11校正区域以基准帧率“f”动作时的第11-1校正信息，并且生成使第11校正区域以基准帧率“2f”动作时的第11-2校正信息。

另外，在使用第12校正区域的情况下，帧率最大成为基准帧率的3倍，即“3f”。因此，热成像装置100生成使第12校正区域以基准帧率“f”动作时的第12-1校正信息、使第12校正区域以基准帧率“2f”动作时的第12-2校正信息、以及使第12校正区域以基准帧率“3f”动作时的第12-3校正信息。

在这样的情况下，热成像装置100例如在将与第11校正区域相同的区域作为拍摄区域，进行将帧率设为“f”的测定的情况下，使用第11-1校正信息进行温度的计算。另外，热成像装置100在将与第11校正区域相同的区域作为拍摄区域，进行将帧率设为“2f”的测定的情况下，使用第11-2校正信息进行温度的计算。另外，在拍摄区域与多个校正区域重叠的情况下，热成像装置100只要使用将针对这些校正区域生成的、且与测定时的帧率对应的校正信息均衡化后的均衡化信息即可。

这样的处理的结果是，热成像装置100能够实现操作员OP所希望的各种方式的测定。例如，热成像装置100能够在操作员OP所希望的任意的拍摄区域中实现以任意的帧率的测定。

另外，热成像装置100也可以对于比基准帧率慢的帧率设定校正信息。例如，热成像装置100对于第10校正区域，除了生成与基准帧率“f”对应的校正信息之外，还可以例如以基准帧率的1/2的帧率、即“f/2”来进行校正信息的生成。

(5.关于红外线)

在上述的例子中，热成像装置100基于从测定对象发出的红外线的辐射亮度，进行了计算温度的计算。但是，实施方式不限于此。例如，热成像装置100可以基于具有各种任意波长的电磁波的辐射亮度等来计算测定对象的温度。例如，在测定对象是红热的物质等根据温度而发出的可见光发生变化的物质的情况下，与热成像装置100对应的测定装置(例如，摄像机等)也可以基于所测定出的色彩来计算测定对象的温度。

(6.关于执行主体)

在上述的例子中，热成像装置100所具有的控制器10根据作为测定部进行动作的摄像装置，即红外线摄像机50的测定结果，进行了上述的测定处理。但是，实施方式不限于此。例如，热成像装置100也可以具有能够发挥与上述的控制器10同样的功能的红外线摄像机50。例如，这样的红外线摄像机50使用预先针对多个校正区域的每一个生成的校正信息，进行温度的计算。

另外，例如，上述的测定处理也可以通过终端装置200等各种信息处理装置来实现。

[实施方式中的效果]

这样，热成像装置100获取使用测定从测定对象放射出的电磁波的摄像元件中的、规定的拍摄区域测定出的红外线的辐射亮度。然后，热成像装置(100)使用校正信息，根据测定结果来计算上述测定对象的温度，该校正信息是将使用摄像元件中的一部分校正区域测定出的辐射亮度的测定结果与测定出该辐射亮度时的测定对象的温度相对应的校正信息，并且该校正信息是针对每个校正区域生成的多个校正信息中的、与拍摄区域对应的校正信息。

这样的处理的结果是，热成像装置100即使在提高帧率的情况下或变更拍摄区域的情况下，也能够迅速开始测定，而无需花功夫再次校准。另外，热成像装置100在提高帧率时，即使在测定对象偏离了拍摄范围的情况下，也能够不进行红外线摄像机50的朝向、设置位置的变更，而仅通过拍摄范围的再设定来继续测定。

以上说明了实施方式的一例，但这些只是例示，本实施方式并不限定于上述的说明。以发明的公开一栏中记载的方式为首，实施方式的构成和细节能够以基于本领域技术人员的知识而实施了各种变形、改良的其他方式来实施。另外，关于各实施方式，能够在不矛盾的范围内任意组合实施。

[符号说明]

10 控制器

20 通信部

30 存储部

31 校准数据

40 控制部

41 获取部

42 确定部

43 计算部

44 提供部

45 生成部

50 红外线摄像机

51 摄像元件

52 透镜

100 热成像装置

200 终端装置

IT 测定对象

IL1 检查线。

Claims (10)

1.一种测定装置，其特征在于，具备：

获取部，其获取使用摄像元件中的、规定的拍摄区域测定出的电磁波的测定结果，该摄像元件对从测定对象放射出的电磁波进行测定；以及

计算部，其使用校正信息，根据所述测定结果来计算所述测定对象的温度，该校正信息是将使用所述摄像元件中的一部分校正区域测定出的电磁波的测定结果与测定出该电磁波时的测定对象的温度相对应的校正信息，并且该校正信息是针对每个所述校正区域生成的多个校正信息中的、与所述拍摄区域对应的校正信息。

2.根据权利要求1所述的测定装置，其特征在于，

所述获取部获取使用摄像元件中的、规定的拍摄区域测定出的红外线的辐射亮度，该摄像元件对从所述测定对象放射出的红外线的辐射亮度进行测定，

所述计算部使用将使用所述校正区域测定出的红外线的辐射亮度与所述测定对象的温度相对应的校正信息中的、与所述拍摄区域对应的校正信息作为所述校正信息，来计算所述测定对象的温度。

3.根据权利要求1或2所述的测定装置，其特征在于，

所述计算部使用所述校正信息中的、对应于与所述拍摄区域重复的校正区域的校正信息，根据所述测定结果来计算所述测定对象的温度。

4.根据权利要求3所述的测定装置，其特征在于，

所述计算部使用将对应于与所述拍摄区域重复的多个校正区域的校正信息均衡化后的均衡化信息，来计算所述测定对象的温度。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的测定装置，其特征在于，

所述计算部使用所述校正信息中的、对应于与所述拍摄区域相同宽度的校正区域的校正信息，根据所述测定结果来计算所述测定对象的温度。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的测定装置，其特征在于，

所述获取部获取以规定的帧率测定出的电磁波的测定结果，

所述计算部使用将所述校正信息中的、以所述规定的帧率测定出的电磁波的测定结果与测定出该电磁波时的测定对象的温度相对应的校正信息，根据所述测定结果来计算所述测定对象的温度。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的测定装置，其特征在于，

所述获取部获取使用所述拍摄区域以规定的帧率测定出的电磁波的测定结果，

所述计算部使用针对校正区域的宽度和帧率的每个组合生成的校正信息中的、与所述拍摄区域的宽度和所述规定的帧率的组合对应的校正信息，根据所述测定结果来计算所述测定对象的温度。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的测定装置，其特征在于，

所述计算部使用针对将所述摄像元件的至少一部分分割后的多个校正区域的每一个生成的校正信息中的、与所述拍摄区域对应的校正信息，根据所述测定结果来计算所述测定对象的温度。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的测定装置，其特征在于，

所述计算部使用针对一部分重复的多个校正区域的每一个生成的校正信息中的、与所述拍摄区域对应的校正信息，根据所述测定结果来算所述测定对象的温度。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的测定装置，其特征在于，

所述获取部从具有所述摄像元件的摄像装置获取所述测定结果。

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