CN114384071A - 一种基于激光tof技术的墙地砖侧底面缺陷测量装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种基于激光TOF技术的墙地砖侧底面缺陷测量装置，包括一组激光发射器，回光接收器，数据采集***和数据处理***；所述激光发射器分别设置于墙地砖的底面和四个侧面一定距离处，用于向各面发射激光，所述回光接收器和激光发射器成对设置，所述回光接收器用于接收激光发射器发射的激光，并将接收的数据由数据采集***采集并传送至数据处理***，所述数据处理***进行三维点云计算。该装置既可以满足持久性对墙地砖侧底面缺陷进行测量，同时又不会过多增加企业成本，同时本装置作为墙地砖全平面检测***的辅助装置，将配合墙地砖正面高精度测量***从而可以实现墙地砖的全平面覆盖。

Description

一种基于激光TOF技术的墙地砖侧底面缺陷测量装置
技术领域
本发明提供了一种基于激光TOF技术的墙地砖侧底面缺陷测量装置，属于检测方法技术领域。
背景技术
目前墙地砖的侧底面主要是人工进行目检，特别是底面，往往不检或抽检。这对于墙地砖的质量检测甚至是分级都会带来隐患。
机器视觉目前应用越来越广，特别是工厂自动化检测应用中，机器视觉正逐步代替人工。机器视觉不仅在检测效率与准确性上，更是在复杂环境中发挥着越来越重要的作用。
虽然机器视觉已然在各行各业中应用趋于成熟，但在墙地砖质量检测方面却应用不多，一方面由于墙地砖品种繁多，特别是同一个工厂往往也会生产多种不同尺寸、不同纹理或不同应用的墙地砖，这就为机器视觉在墙地砖质量检测中的应用带来困难。
随着激光技术的发展，伴随着3D+2D联合检测的技术方案为墙地砖质量检测带来希望，已经有部分设备开始对墙地砖的正平面开始检测。然而，对于墙地砖的侧底面检测一方面由于其重要程序次于主平面，另一方面视觉检测设备价格高昂，这就使得侧底面的检测往往容易忽视。
一方面因为现有技术对墙地砖主要是进行人工目检，往往由于人眼疲劳、主观性或现场灯光问题与墙地砖本体颜色的混合干扰，往往容易造成漏检或错检。另一方面采用纯视觉检测或高精度3D测量，虽然可以实现对侧底面缺陷的高精度测量，但是成本太高。开发适于墙地砖底面的检测装置和方法，使用方便，成本低廉，是亟待解决的问题。
基于激光TOF技术在低精度测绘应用方面越来越广泛，其可接受的测量精度(毫米级)与成熟可靠低成本的应用技术方案越来越被众多行业采纳。TOF是飞行时间(Time ofFlight)技术的缩写，即传感器发出经调制的近红外光，遇物体后反射，传感器通过计算光线发射和反射时间差或相位差，来换算被拍摄景物的距离，以产生深度信息，此外再结合传统的相机拍摄，就能将物体的三维轮廓以不同颜色代表不同距离的地形图方式呈现出来。
发明内容
技术问题：为了解决现有技术的缺陷，本发明提供了一种低成本的墙地砖侧地面缺陷检测装置。
技术方案：本发明提供一种基于激光TOF技术的墙地砖侧底面缺陷测量装置，包括一组激光发射器，回光接收器，数据采集***和数据处理***；所述激光发射器分别设置于墙地砖的底面和四个侧面一定距离处，用于向各面发射激光，所述回光接收器和激光发射器成对设置，所述回光接收器用于接收激光发射器发射的激光，并将接收的数据由数据采集***采集并传送至数据处理***，所述数据处理***进行三维点云计算。
有益效果：本发明提供的基于激光TOF技术的墙地砖侧底面缺陷测量装置结合侧底面对于缺陷精度要求不高的需求，采用基于TOF技术的墙地砖地面尺寸缺陷测量装置，基于激光测距原理，分别从墙地砖的底面与侧面对墙地砖进行多点全覆盖测量，成本低廉，方案简单。该装置既可以满足持久性对墙地砖侧底面缺陷进行测量，同时又不会过多增加企业成本，同时本装置作为墙地砖全平面检测***的辅助装置，将配合墙地砖正面高精度测量***从而可以实现墙地砖的全平面覆盖。
具体而言，本发明相对于现有技术，具有以下突出的优势：
1、因为本装置采用基于TOF技术的侧面与底面同时多点测量方式，所以可实现对侧面与底面全覆盖测量。
2、因为本装置采用成熟的光谱测量技术，所以原理简单，成本低廉。
3、因为本装置包括激光器发射器、回光探测器以及数据分析软件***，所以本装置可以实现一体化测量、分析与输出。
附图说明
图1为基于激光TOF技术的墙地砖侧底面缺陷测量装置的结构示意图。
图2为基于激光TOF技术的墙地砖侧底面缺陷测量装置的工作流程图。
具体实施方式
下面对本发明作出进一步说明。
基于激光TOF技术的墙地砖侧底面缺陷测量装置，包括一组激光发射器，回光接收器，数据采集***和数据处理***；所述激光发射器分别设置于墙地砖的底面和四个侧面一定距离处，用于向各面发射激光，所述回光接收器和激光发射器成对设置，所述回光接收器用于接收激光发射器发射的激光，并将接收的数据由数据采集***采集并传送至数据处理***，所述数据处理***进行三维点云计算。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (1)

1.一种基于激光TOF技术的墙地砖侧底面缺陷测量装置，其特征在于：包括一组激光发射器，回光接收器，数据采集***和数据处理***；所述激光发射器分别设置于墙地砖的底面和四个侧面一定距离处，用于向各面发射激光，所述回光接收器和激光发射器成对设置，所述回光接收器用于接收激光发射器发射的激光，并将接收的数据由数据采集***采集并传送至数据处理***，所述数据处理***进行三维点云计算。
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