CN114374621B - 微电子电路封装测试结果的远程传输方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种微电子电路封装测试结果的远程传输方法及装置,该方法包括如下步骤:由具有无线传输功能的第一封装测试装置以及第二封装测试装置收集微电子电路封装测试结果;由第一封装测试装置计算第一封装测试装置收集的微电子电路封装测试结果的第一数据大小;由第二封装测试装置计算第二封装测试装置收集的微电子电路封装测试结果的第二数据大小;在确定第一数据大小之后,由第一封装测试装置传输第一数据大小的数据所需要的第一传输资源的数量;在接收到第一资源激活消息之后,由第一封装测试装置向封装测试结果接收装置发送第一数据;在接收到第二资源激活消息之后,由第二封装测试装置向封装测试结果接收装置发送第二数据。
Description
技术领域
本发明是关于微电子检测技术领域,特别是关于一种微电子电路封装测试结果的远程传输方法及装置。
背景技术
目前微电子电路封装测试正在与物联网技术和云计算技术融合。例如,现有技术CN106210013B公开了一种基于云端的集成电路测试信息整合分析***及方法,该方法包括:建立虚拟化的物理服务集群;利用各测试数据收集与在线效应器实时收集测试数据,并利用监控客户端根据客户的要求对测试数据收集与在线效应器收集的测试数据进行处理,包括验证数据、功能性能测试数据、测试条件、测试环境信息等芯片全套数测试相关信息,并送至云端服务器;于云端服务器,整合所述测试数据,并基于云端分布式数据部署;对整合后的测试数据采用海量数据挖掘分析技术及多种工艺验证分析方法进行整合分析。
如何在局域环境中将测试结果高效的传输到服务器,是当前现有技术尚不能解决的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种微电子电路封装测试结果的远程传输方法及装置。
为实现上述目的,本发明提供了一种微电子电路封装测试结果的远程传输方法,包括如下步骤:由具有无线传输功能的第一封装测试装置以及第二封装测试装置收集微电子电路封装测试结果;由第一封装测试装置计算第一封装测试装置收集的微电子电路封装测试结果的第一数据大小;由第二封装测试装置计算第二封装测试装置收集的微电子电路封装测试结果的第二数据大小;在确定第一数据大小之后,由第一封装测试装置确定用于传输第一数据大小的数据所需要的第一传输资源的数量;在确定第二数据大小之后,由第二封装测试装置确定用于传输第二数据大小的数据所需要的第二传输资源的数量;在确定第一传输资源的数量之后,由第一封装测试装置在共用的资源上向封装测试结果接收装置发送对于第一传输资源的数量的指示;在确定第二传输资源的数量之后,由第二封装测试装置在共用的资源上向封装测试结果接收装置发送对于第二传输资源的数量的指示;在接收到对于第一传输资源的数量的指示以及对于第二传输资源的数量的指示之后,由封装测试结果接收装置向第一封装测试装置发送第一资源激活消息并向第二封装测试装置发送第二资源激活消息,其中,第一资源激活消息用于激活传输资源池中的一个或多个资源集合,第二资源激活消息用于激活传输资源池中的一个或多个资源集合;在接收到第一资源激活消息之后,由第一封装测试装置向封装测试结果接收装置发送第一数据;在接收到第二资源激活消息之后,由第二封装测试装置向封装测试结果接收装置发送第二数据。
在一优选的实施方式中,由第一封装测试装置在共用的资源上向封装测试结果接收装置发送对于第一传输资源的数量的指示具体包括如下步骤:如果第一数据大小处于第一数值范围,则由第一封装测试装置在共用的资源中的第一资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特;如果第一数据大小处于第二数值范围,则由第一封装测试装置在共用的资源中的第一资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,并且在共用的资源中的第二资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,其中,第二数值范围的下限大于第一数值范围的上限;如果第一数据大小处于第三数值范围,则由第一封装测试装置在共用的资源中的第一资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,并且在共用的资源中的第二资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,并且在共用的资源中的第三资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,其中,第三数值范围的下限大于第二数值范围的上限。
在一优选的实施方式中,由第二封装测试装置在共用的资源上向封装测试结果接收装置发送对于第二传输资源的数量的指示具体包括如下步骤:如果第二数据大小处于第一数值范围,则由第二封装测试装置在共用的资源中的第一资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特;如果第二数据大小处于第二数值范围,则由第二封装测试装置在共用的资源中的第一资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,并且在共用的资源中的第二资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,其中,第二数值范围的下限大于第一数值范围的上限;如果第二数据大小处于第三数值范围,则由第二封装测试装置在共用的资源中的第一资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,并且在共用的资源中的第二资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,并且在共用的资源中的第三资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,其中,第三数值范围的下限大于第二数值范围的上限。
在一优选的实施方式中,传输资源池是由封装测试结果接收装置预先配置给第一封装测试装置以及第二封装测试装置的,其中,传输资源池中的每一个资源集合具有预定的编号,其中,所述预定的编号是连续的十进制数或者二进制数,其中,传输资源池中的每一个资源集合的位置是由封装测试结果接收装置预先配置给第一封装测试装置以及第二封装测试装置的;其中,由封装测试结果接收装置向第一封装测试装置发送第一资源激活消息具体包括如下步骤:如果封装测试结果接收装置仅在共用的资源中的第一资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置没有在共用的资源中的第二资源位置以及第三资源位置处接收到信息,则由封装测试结果接收装置选择传输资源池中的第一资源集合,并由封装测试结果接收装置选择传输资源池中的第二资源集合,其中,第一资源集合中具有第一数量的资源,第二资源集合中具有第一数量的资源;在选择传输资源池中的第一资源集合之后,由封装测试结果接收装置向第一封装测试装置发送第一资源激活消息,其中,第一资源激活消息中包括第一资源集合的预定的编号。
在一优选的实施方式中,传输资源池是由封装测试结果接收装置预先配置给第一封装测试装置以及第二封装测试装置的,其中,传输资源池中的每一个资源集合具有预定的编号,其中,传输资源池中的每一个资源集合的位置是由封装测试结果接收装置预先配置给第一封装测试装置以及第二封装测试装置的;其中,由封装测试结果接收装置向第二封装测试装置发送第二资源激活消息具体包括如下步骤:如果封装测试结果接收装置仅在共用的资源中的第一资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置没有在共用的资源中的第二资源位置以及第三资源位置处接收到信息,则由封装测试结果接收装置选择传输资源池中的第一资源集合,并由封装测试结果接收装置选择传输资源池中的第二资源集合,其中,第一资源集合中具有第一数量的资源,第二资源集合中具有第一数量的资源;在选择传输资源池中的第二资源集合之后,由封装测试结果接收装置向第二封装测试装置发送第二资源激活消息,其中,第二资源激活消息中包括第二资源集合的预定的编号。
在一优选的实施方式中,由封装测试结果接收装置向第一封装测试装置发送第一资源激活消息具体包括如下步骤:如果封装测试结果接收装置在共用的资源中的第一资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置在共用的资源中的第二资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置没有在第三资源位置处接收到信息,则由封装测试结果接收装置选择传输资源池中的第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合以及第四资源集合,其中,第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合以及第四资源集合中的每一个资源集合都具有第一数量的资源;在选择传输资源池中的第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合以及第四资源集合之后,由封装测试结果接收装置向第一封装测试装置发送第一资源激活消息,其中,第一资源激活消息中包括第一资源集合以及第二资源集合的预定的编号。
在一优选的实施方式中,由封装测试结果接收装置向第二封装测试装置发送第二资源激活消息具体包括如下步骤:如果封装测试结果接收装置在共用的资源中的第一资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置在共用的资源中的第二资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置没有在第三资源位置处接收到信息,则由封装测试结果接收装置选择传输资源池中的第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合以及第四资源集合,其中,第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合以及第四资源集合中的每一个资源集合都具有第一数量的资源;在选择传输资源池中的第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合以及第四资源集合之后,由封装测试结果接收装置向第二封装测试装置发送第二资源激活消息,其中,第二资源激活消息中包括第三资源集合以及第四资源集合的预定的编号。
在一优选的实施方式中,由封装测试结果接收装置向第一封装测试装置发送第一资源激活消息具体包括如下步骤:如果封装测试结果接收装置在共用的资源中的第一资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置在共用的资源中的第二资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置在共用的资源中的第三资源位置处接收到信息,则由封装测试结果接收装置选择传输资源池中的第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合、第四资源集合、第五资源集合以及第六资源集合,其中,第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合、第四资源集合、第五资源集合以及第六资源集合中的每一个资源集合都具有第一数量的资源;在选择传输资源池中的第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合、第四资源集合、第五资源集合以及第六资源集合之后,由封装测试结果接收装置向第一封装测试装置发送第一资源激活消息,其中,第一资源激活消息中包括第一资源集合、第二资源集合以及第三资源集合的预定的编号。
在一优选的实施方式中,由封装测试结果接收装置向第二封装测试装置发送第二资源激活消息具体包括如下步骤:如果封装测试结果接收装置在共用的资源中的第一资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置在共用的资源中的第二资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置在共用的资源中的第三资源位置处接收到信息,则由封装测试结果接收装置选择传输资源池中的第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合、第四资源集合、第五资源集合以及第六资源集合,其中,第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合、第四资源集合、第五资源集合以及第六资源集合中的每一个资源集合都具有第一数量的资源;在选择传输资源池中的第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合、第四资源集合、第五资源集合以及第六资源集合之后,由封装测试结果接收装置向第二封装测试装置发送第二资源激活消息,其中,第二资源激活消息中包括第四资源集合、第五资源集合以及第六资源集合的预定的编号。
本发明还提供了一种微电子电路封装测试结果的远程传输装置,微电子电路封装测试结果的远程传输装置被配置为执行如前述的方法。
与现有技术相比,本发明具有如下优点:电路封装测试结果具有格式统一、内容统一的特点,例如很多集成器件的交流、直流特性已经标准化,任何产品说明书中都需要标注该种器件的交流、直流特性,产品出厂测试时也需要大量测试相同的参数。在这种情况下,如何降低数据传输开销并提高传输效果是需要考虑的改进方向,基于现有技术的需求,本发明提出了一种微电子电路封装测试结果的远程传输方法及装置,其能够实现在局域环境中将测试结果高效的传输到服务器,从而在降低数据传输开销的同时提高传输效果。
附图说明
图1是根据本发明一实施方式的方法流程图。
图2是根据本发明一实施方式的共用的资源的结构示意图。
图3是根据本发明一实施方式的传输资源池的资源结构示意图。
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明的实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是示例性的,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图引伸获得其它的实施附图。
本说明书所绘示的结构、比例、大小等,均仅用以配合说明书所揭示的内容,以供熟悉此技术的人士了解与阅读,并非用以限定本发明可实施的限定条件,故不具技术上的实质意义,任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整,在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下,均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。
图1是根据本发明一实施方式的方法流程图。本发明的微电子电路封装测试结果的远程传输方法包括如下步骤:
由具有无线传输功能的第一封装测试装置以及第二封装测试装置收集微电子电路封装测试结果;在一个实施例中,具有无线传输功能的第一封装测试装置可以是类似于具有手机功能的终端;
由第一封装测试装置计算第一封装测试装置收集的微电子电路封装测试结果的第一数据大小;在一个实施例中,数据大小由数据的比特数量来表示;
由第二封装测试装置计算第二封装测试装置收集的微电子电路封装测试结果的第二数据大小;
在确定第一数据大小之后,由第一封装测试装置确定用于传输第一数据大小的数据所需要的第一传输资源的数量;
在确定第二数据大小之后,由第二封装测试装置确定用于传输第二数据大小的数据所需要的第二传输资源的数量;
在确定第一传输资源的数量之后,由第一封装测试装置在共用的资源上向封装测试结果接收装置发送对于第一传输资源的数量的指示;在一个具体实施例中,共用的资源是由封装测试结果接收装置预先分配的,共用的资源内具有多个用于发送数据比特的资源块,每一个资源块具有若干单位的频率资源以及若干单位的时间资源,在一个具体实施例中,如果***是在OFDM***中操作,则每一个资源块具有若干个子载波以及若干个OFDM符号;
在确定第二传输资源的数量之后,由第二封装测试装置在共用的资源上向封装测试结果接收装置发送对于第二传输资源的数量的指示;本领域技术人员应当理解,封装测试结果接收装置给每一个封装测试装置分配的共用的资源是相同的资源;
在接收到对于第一传输资源的数量的指示以及对于第二传输资源的数量的指示之后,由封装测试结果接收装置向第一封装测试装置发送第一资源激活消息并向第二封装测试装置发送第二资源激活消息,其中,第一资源激活消息用于激活传输资源池中的一个或多个资源集合,第二资源激活消息用于激活传输资源池中的一个或多个资源集合;
在接收到第一资源激活消息之后,由第一封装测试装置向封装测试结果接收装置发送第一数据;
在接收到第二资源激活消息之后,由第二封装测试装置向封装测试结果接收装置发送第二数据。封装测试结果接收装置接收到测试结果之后,可以将测试结果发送给服务器。
在一个实施例中,如果第一数据大小处于第一数值范围,则由第一封装测试装置在共用的资源中的第一资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特;在一个实施例中,共用的资源中的第一资源位置是由封装测试结果接收装置预先配置的,共用的资源中的第一资源位置专门用于在第一数据大小处于第一数值范围时,由封装测试装置发送数据比特;在一个实施例中,一个比特应当是比特1,而比特0表示没有发送;在该实施例中,第一封装测试装置仅在共用的资源中的第一资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特。
在一个实施例中,如果第一数据大小处于第二数值范围,则由第一封装测试装置在共用的资源中的第一资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,并且在共用的资源中的第二资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,其中,第二数值范围的下限大于第一数值范围的上限。在一个实施例中,共用的资源中的第一资源位置以及第二资源位置是由封装测试结果接收装置预先配置的,共用的资源中的第一资源位置专门用于在第一数据大小处于第二数值范围时,由封装测试装置发送数据比特;在一个实施例中,在共用的资源中的第一资源位置处以及第二资源位置处发送的比特均是比特1,而比特0表示没有发送;在该实施例中,第一封装测试装置仅在共用的资源中的第一资源位置和第二资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特。
在一个实施例中,如果第一数据大小处于第三数值范围,则由第一封装测试装置在共用的资源中的第一资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,并且在共用的资源中的第二资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,并且在共用的资源中的第三资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,其中,第三数值范围的下限大于第二数值范围的上限。
在一个实施例中,第二封装测试装置与第一封装测试装置具有完全对应的操作过程,不再赘述。需要注意的是,第二封装测试装置所使用的共用的资源与第一封装测试装置所使用的共用的资源完全一致,配置方式也完全一致。在一个实施例中,如果第一数据大小处于第一数值范围,第二数据大小处于第二数值范围,则第一封装测试装置在共用的资源中的第一资源位置处向封装测试结果接收装置发送比特1,第二封装测试装置在共用的资源中的第一资源位置处向封装测试结果接收装置发送比特1,第二封装测试装置在共用的资源中的第二资源位置处向封装测试结果接收装置发送比特1,封装测试结果接收装置在共用的资源中的第一资源位置处将接收到两个重叠的比特1,在共用的资源中的第二资源位置处将接收到一个比特1。
在一个实施例中,传输资源池是由封装测试结果接收装置预先配置给第一封装测试装置以及第二封装测试装置的,在一个实施例中,传输资源池中具有多个资源集合,每一个资源集合具有若干单位的频率资源以及若干单位的时间资源,在一个具体实施例中,如果***是在OFDM***中操作,则每一个资源块具有若干个子载波以及若干个OFDM符号;其中,传输资源池中的每一个资源集合的位置是由封装测试结果接收装置预先配置给第一封装测试装置以及第二封装测试装置的;传输资源池的配置可以通过映射表的方式配置,映射表的一个示例如下,其中,无线传输领域的技术人员应当公知,传输在时域中具有最小时间单元,每一个最小时间单元都具有相应索引值,索引值从0开始,时间位置k表示索引值为k的时间处,频域中的频率位置l具有类似含义:
在一个实施例中,如果封装测试结果接收装置仅在共用的资源中的第一资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置没有在共用的资源中的第二资源位置以及第三资源位置处接收到信息,此时表明所有封装测试装置的数据大小都处于第一数值范围。在该实施例中,由于所有封装测试装置的数据大小都处于第一数值范围,封装测试结果接收装置只需要给每一个封装测试装置分配一个资源集合即可。在该实施例中,封装测试结果接收装置可以向第一封装测试装置发送第一资源激活消息,其中,第一激活消息中不需要指示第一资源集合的具体时间频率位置,在该实施例中,第一激活消息可以包括一个序列,其中,如果传输资源池具有8个资源集合,则该序列可以是“10000000”,表示封装测试结果接收装置针对第一封装测试装置激活第一资源集合;在该实施例中,由于序列的第一个比特位是1,第一个比特位与预定的编号1对应(类推的是,序列中的第二个比特位与预定的编号2对应,序列中的第三个比特位与预定的编号3对应),所以此时第一激活消息包括第一资源集合的预定的编号。在该实施例中,由封装测试结果接收装置向第二封装测试装置发送第二资源激活消息可以是,第二资源激活消息中包括一个序列,其中,如果传输资源池具有8个资源集合,则该序列可以是“01000000”,表示封装测试结果接收装置针对第二封装测试装置激活第二资源集合。在封装测试领域,器件封装测试结果的表现形式比较单一,例如数万个集成器件的电特性的测试内容可以完全一致,那么数个测试装置接收到的数据大小可以完全一致,在此特定情景下,本发明的方法具有传输开销小的特点。
在一个实施例中,如果封装测试结果接收装置在共用的资源中的第一资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置在共用的资源中的第二资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置没有在第三资源位置处接收到信息,在一个实施例中,如果两个封装测试装置在共用的资源中的第一资源位置处向封装测试结果接收装置发送比特1,那么封装测试结果接收装置在共用的资源中的第一资源位置处接收到的比特1的强度可能更大(由于两个信号叠加),如果三个封装测试装置在共用的资源中的第一资源位置处向封装测试结果接收装置发送比特1,那么封装测试结果接收装置在共用的资源中的第一资源位置处接收到的比特1的强度可能更大(由于三个信号叠加);无论强度如何,只要在第一资源位置处以及第二资源位置处接收到信息,那么封装测试结果接收装置选择传输资源池中的第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合以及第四资源集合;
在选择传输资源池中的第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合以及第四资源集合之后,由封装测试结果接收装置向第一封装测试装置发送第一资源激活消息,其中,第一资源激活消息中包括第一资源集合以及第二资源集合的预定的编号,在一个实施例中,第一资源激活消息包括一个序列,其中,如果传输资源池具有8个资源集合,则该序列可以是“11000000”。
图2是根据本发明一实施方式的共用的资源的结构示意图。图2中横向表示时间,纵向表示频率,其中,第一资源位置处的方块201表示一块时频资源,其中,方块202表示一块时频资源,方块203表示一块时频资源,方块204表示一块时频资源,方块205表示一块时频资源,方块206表示一块时频资源。
图3是根据本发明一实施方式的传输资源池的资源结构示意图。图3中横向表示时间,纵向表示频率。例如图3中的第一资源集合包括第一资源格301、第二资源格302、第三资源格303、第四资源格304、第五资源格305、第六资源格306、第七资源格307、第八资源格308,其中每一个资源格具有一定时间长度并且具有一定频带宽度,换言之,每一个资源格代表一块时频资源,因此第一资源集合包括八个资源格。同样的,第二资源集合包括八个资源格,第三资源集合包括八个资源格,第四资源集合包括八个资源格,第五资源集合包括八个资源格,第六资源集合包括八个资源格。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其,对于***实施例而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
以上所述仅为本申请的说明书实施例而已,并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说,本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的权利要求范围之内。
Claims (6)
1.一种微电子电路封装测试结果的远程传输方法,其特征在于,
所述方法包括如下步骤:
由具有无线传输功能的第一封装测试装置以及第二封装测试装置收集微电子电路封装测试结果;
由第一封装测试装置计算第一封装测试装置收集的微电子电路封装测试结果的第一数据大小;
由第二封装测试装置计算第二封装测试装置收集的微电子电路封装测试结果的第二数据大小;
在确定所述第一数据大小之后,由第一封装测试装置确定用于传输所述第一数据大小的数据所需要的第一传输资源的数量;
在确定所述第二数据大小之后,由第二封装测试装置确定用于传输所述第二数据大小的数据所需要的第二传输资源的数量;
在确定所述第一传输资源的数量之后,由第一封装测试装置在共用的资源上向封装测试结果接收装置发送对于所述第一传输资源的数量的指示;
在确定所述第二传输资源的数量之后,由第二封装测试装置在所述共用的资源上向封装测试结果接收装置发送对于所述第二传输资源的数量的指示;
在接收到所述对于所述第一传输资源的数量的指示以及所述对于所述第二传输资源的数量的指示之后,由封装测试结果接收装置向所述第一封装测试装置发送第一资源激活消息并向所述第二封装测试装置发送第二资源激活消息,其中,所述第一资源激活消息用于激活传输资源池中的一个或多个资源集合,所述第二资源激活消息用于激活传输资源池中的一个或多个资源集合;
在接收到所述第一资源激活消息之后,由第一封装测试装置向所述封装测试结果接收装置发送所述第一数据;
在接收到所述第二资源激活消息之后,由第二封装测试装置向所述封装测试结果接收装置发送所述第二数据,
由第一封装测试装置在共用的资源上向封装测试结果接收装置发送对于所述第一传输资源的数量的指示具体包括如下步骤:
如果所述第一数据大小处于第一数值范围,则由第一封装测试装置在共用的资源中的第一资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特;
如果所述第一数据大小处于第二数值范围,则由第一封装测试装置在共用的资源中的第一资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,并且在共用的资源中的第二资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,其中,所述第二数值范围的下限大于所述第一数值范围的上限;
如果所述第一数据大小处于第三数值范围,则由第一封装测试装置在共用的资源中的第一资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,并且在共用的资源中的第二资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,并且在共用的资源中的第三资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,其中,所述第三数值范围的下限大于所述第二数值范围的上限,由第二封装测试装置在共用的资源上向封装测试结果接收装置发送对于所述第二传输资源的数量的指示具体包括如下步骤:
如果所述第二数据大小处于第一数值范围,则由第二封装测试装置在共用的资源中的第一资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特;
如果所述第二数据大小处于第二数值范围,则由第二封装测试装置在共用的资源中的第一资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,并且在共用的资源中的第二资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,其中,所述第二数值范围的下限大于所述第一数值范围的上限;
如果所述第二数据大小处于第三数值范围,则由第二封装测试装置在共用的资源中的第一资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,并且在共用的资源中的第二资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,并且在共用的资源中的第三资源位置处向封装测试结果接收装置发送一个比特,其中,所述第三数值范围的下限大于所述第二数值范围的上限,所述传输资源池是由封装测试结果接收装置预先配置给所述第一封装测试装置以及所述第二封装测试装置的,其中,所述传输资源池中的每一个资源集合具有预定的编号,其中,所述预定的编号是连续的十进制数或者二进制数,其中,所述传输资源池中的每一个资源集合的位置是由封装测试结果接收装置预先配置给所述第一封装测试装置以及所述第二封装测试装置的;
其中,由封装测试结果接收装置向所述第一封装测试装置发送第一资源激活消息具体包括如下步骤:
如果封装测试结果接收装置仅在共用的资源中的第一资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置没有在共用的资源中的第二资源位置以及第三资源位置处接收到信息,则由封装测试结果接收装置选择所述传输资源池中的第一资源集合,并由封装测试结果接收装置选择所述传输资源池中的第二资源集合,其中,所述第一资源集合中具有第一数量的资源,所述第二资源集合中具有第一数量的资源;
在选择所述传输资源池中的第一资源集合之后,由封装测试结果接收装置向所述第一封装测试装置发送第一资源激活消息,其中,所述第一资源激活消息中包括所述第一资源集合的预定的编号,
所述传输资源池是由封装测试结果接收装置预先配置给所述第一封装测试装置以及所述第二封装测试装置的,其中,所述传输资源池中的每一个资源集合具有预定的编号,其中,所述传输资源池中的每一个资源集合的位置是由封装测试结果接收装置预先配置给所述第一封装测试装置以及所述第二封装测试装置的;
其中,由封装测试结果接收装置向所述第二封装测试装置发送第二资源激活消息具体包括如下步骤:
如果封装测试结果接收装置仅在共用的资源中的第一资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置没有在共用的资源中的第二资源位置以及第三资源位置处接收到信息,则由封装测试结果接收装置选择所述传输资源池中的第一资源集合,并由封装测试结果接收装置选择所述传输资源池中的第二资源集合,其中,所述第一资源集合中具有第一数量的资源,所述第二资源集合中具有第一数量的资源;
在选择所述传输资源池中的第二资源集合之后,由封装测试结果接收装置向所述第二封装测试装置发送第二资源激活消息,其中,所述第二资源激活消息中包括所述第二资源集合的预定的编号,
其中,所述第一资源激活消息中不需要指示第一资源集合的具体时间频率位置,所述第一资源激活消息包括一个第一序列,其中,在所述传输资源池具有8个资源集合的情况下,所述第一序列是10000000,所述第一序列10000000表示封装测试结果接收装置针对第一封装测试装置激活第一资源集合,
其中,所述第二资源激活消息中不需要指示第二资源集合的具体时间频率位置,所述第二资源激活消息包括一个第二序列,其中,在所述传输资源池具有8个资源集合的情况下,所述第二序列是01000000,所述第二序列01000000表示封装测试结果接收装置针对第二封装测试装置激活第二资源集合。
2.如权利要求1所述的微电子电路封装测试结果的远程传输方法,其中,
由封装测试结果接收装置向所述第一封装测试装置发送第一资源激活消息具体包括如下步骤:
如果封装测试结果接收装置在共用的资源中的第一资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置在共用的资源中的第二资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置没有在第三资源位置处接收到信息,则由封装测试结果接收装置选择所述传输资源池中的第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合以及第四资源集合,其中,所述第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合以及第四资源集合中的每一个资源集合都具有第一数量的资源;在选择所述传输资源池中的第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合以及第四资源集合之后,由封装测试结果接收装置向所述第一封装测试装置发送第一资源激活消息,其中,所述第一资源激活消息中包括所述第一资源集合以及第二资源集合的预定的编号。
3.如权利要求2所述的微电子电路封装测试结果的远程传输方法,其中,
由封装测试结果接收装置向所述第二封装测试装置发送第二资源激活消息具体包括如下步骤:
如果封装测试结果接收装置在共用的资源中的第一资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置在共用的资源中的第二资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置没有在第三资源位置处接收到信息,则由封装测试结果接收装置选择所述传输资源池中的第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合以及第四资源集合,其中,所述第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合以及第四资源集合中的每一个资源集合都具有第一数量的资源;在选择所述传输资源池中的第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合以及第四资源集合之后,由封装测试结果接收装置向所述第二封装测试装置发送第二资源激活消息,其中,所述第二资源激活消息中包括所述第三资源集合以及第四资源集合的预定的编号。
4.如权利要求3所述的微电子电路封装测试结果的远程传输方法,其中,
由封装测试结果接收装置向所述第一封装测试装置发送第一资源激活消息具体包括如下步骤:
如果封装测试结果接收装置在共用的资源中的第一资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置在共用的资源中的第二资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置在共用的资源中的第三资源位置处接收到信息,则由封装测试结果接收装置选择所述传输资源池中的第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合、第四资源集合、第五资源集合以及第六资源集合,其中,所述第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合、第四资源集合、第五资源集合以及第六资源集合中的每一个资源集合都具有第一数量的资源;
在选择所述传输资源池中的第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合、第四资源集合、第五资源集合以及第六资源集合之后,由封装测试结果接收装置向所述第一封装测试装置发送第一资源激活消息,其中,所述第一资源激活消息中包括所述第一资源集合、第二资源集合以及第三资源集合的预定的编号。
5.如权利要求4所述的微电子电路封装测试结果的远程传输方法,其中,
由封装测试结果接收装置向所述第二封装测试装置发送第二资源激活消息具体包括如下步骤:
如果封装测试结果接收装置在共用的资源中的第一资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置在共用的资源中的第二资源位置处接收到信息,并且封装测试结果接收装置在共用的资源中的第三资源位置处接收到信息,则由封装测试结果接收装置选择所述传输资源池中的第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合、第四资源集合、第五资源集合以及第六资源集合,其中,所述第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合、第四资源集合、第五资源集合以及第六资源集合中的每一个资源集合都具有第一数量的资源;
在选择所述传输资源池中的第一资源集合、第二资源集合、第三资源集合、第四资源集合、第五资源集合以及第六资源集合之后,由封装测试结果接收装置向所述第二封装测试装置发送第二资源激活消息,其中,所述第二资源激活消息中包括所述第四资源集合、第五资源集合以及第六资源集合的预定的编号。
6.一种微电子电路封装测试结果的远程传输装置,其特征在于,
所述微电子电路封装测试结果的远程传输装置被配置为执行如权利要求1-5之一所述的方法。
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