CN114334698A - 一种可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，属于芯片自动检测技术领域，包括输送支架，所述输送支架的内部设置有用于待检测芯片移动的输送装置，输送装置两侧的输送支架前端上安装有尺寸检测装置，所述尺寸检测装置后方的输送支架上设置有布局检测装置。本发明一种可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，从而有效带动待检测的芯片移动，提高输送效率，保证其检测便捷性和自动智能性能，提高检测便捷性，且可根据需要进行高度调整，提高整体适配性，有效对芯片整体进行检测，能够多角度进行检测，提高检测质量，提高检测速度，满足生产效益，保证分类效率，有效进行分类，有效进行瑕疵排出，保证芯片成品质量。
Description
技术领域
本发明涉及到芯片自动检测技术领域，特别涉及一种可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备。
背景技术
电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜(thin-film)集成电路。另有一种厚膜(thick-film)集成电路(hybrid integrated circuit)是由独立半导体设备和被动组件，集成到衬底或线路板所构成的小型化电路，集成电路的分类方法很多，依照电路属模拟或数字，可以分为：模拟集成电路、数字集成电路和混合信号集成电路。
1、芯片在生产后，需要对整个芯片进行检测，现有的检测大多通过人工检测，且检测效率慢，容易出现误差；
2、其次现有的检测器材，大多只能针对一种方面进行检测，导致检测效率慢，适配性低。
发明内容
本发明的目的在于提供一种可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，从而有效带动待检测的芯片移动，提高输送效率，保证其检测便捷性和自动智能性能，提高检测便捷性，且可根据需要进行高度调整，提高整体适配性，有效对芯片整体进行检测，提高检测的便捷性，且双向调整，可适用于多种尺寸的芯片，提高整体的适配性，能够有效对芯片进行检测，能够多角度进行检测，提高检测质量，提高检测速度，满足生产效益，保证分类效率，有效进行分类，有效进行瑕疵排出，保证芯片成品质量，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，包括输送支架，所述输送支架的内部设置有用于待检测芯片移动的输送装置，输送装置两侧的输送支架前端上安装有尺寸检测装置，所述尺寸检测装置后方的输送支架上设置有布局检测装置，尺寸检测装置与布局检测装置之间的输送装置侧端交错设置有分拣装置。
进一步地，输送装置包括输送带、输送辊、内轴杆和驱动电机，输送带两端内套覆有输送辊，输送辊均套接在内轴杆上，内轴杆一端穿透设置在输送支架上，且内轴杆一端与驱动电机的输出端连接。
进一步地，布局检测装置包括左支架、右支架、左安装板、右安装板、横向检测件和竖向检测件，左支架和右支架分别安装在输送支架两侧上端面上，左支架的前端连接左安装板，右支架的前端连接右安装板，左安装板和右安装板之间安装有横向检测件，横向检测件两端设置有竖向检测件。
进一步地，左支架和右支架的内部均设置有升降气缸，左支架和右支架通过升降气缸分成两段，且左安装板和右安装板通过安装杆固定在左支架和右支架的上段侧面。
进一步地，横向检测件包括左检测气缸、右检测气缸、左横向检测夹板和右横向检测夹板，左检测气缸的输出端与左横向检测夹板侧端面连接，右检测气缸的输出端与右横向检测夹板侧端面连接。
进一步地，竖向检测件包括前竖板、后竖板、定向杆、滑槽、竖向气缸和检测伸缩弯杆，前竖板和后竖板设置在左横向检测夹板和右横向检测夹板的内部，前竖板和后竖板的两端均连接有定向杆，定向杆上设置有滑槽，竖向气缸设置四组，且四组竖向气缸分别设置在左横向检测夹板和右横向检测夹板两侧，竖向气缸的输出端与检测伸缩弯杆连接，且检测伸缩弯杆的一端通过卡块扣合在定向杆的滑槽内。
进一步地，布局检测装置包括安装架、检测箱、摄像头和检测***，检测箱下方通过安装架固定在输送支架的上方，检测箱的下方安装有摄像头，摄像头与检测箱上方安装的检测***电连接。
进一步地，分拣装置包括第一分料输送结构、第二分料输送结构、第一推送装置和第二推送装置，第一分料输送结构和第二分料输送结构垂直设置在输送支架的侧端，第一分料输送结构和第二分料输送结构对称位置的输送支架侧端设置有第一推送装置和第二推送装置，第一分料输送结构和第二分料输送结构与输送装置结构相同。
进一步地，第一推送装置包括安装座、气缸座、导向套筒、定位管、推送杆和推板，安装座的上方设置有气缸座，气缸座的上方设置有导向套筒，气缸座内套覆设置有推送杆，导向套筒的内套覆设置有定位管，定位管和推送杆的前端与推板连接。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
1、本发明提出的可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，内轴杆一端穿透设置在输送支架上，且内轴杆一端与驱动电机的输出端连接，通过驱动电机驱动输送辊转动，输送辊联动带动输送带移动，从而有效带动待检测的芯片移动，提高输送效率，保证其检测便捷性和自动智能性能。
2、本发明提出的可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，左支架和右支架的内部均设置有升降气缸，左支架和右支架通过升降气缸分成两段，且左安装板和右安装板通过安装杆固定在左支架和右支架的上段侧面，升降气缸带动左支架和右支架升降，从而带动横向检测件和竖向检测件上升和下移，提高检测便捷性，且可根据需要进行高度调整，提高整体适配性。
3、本发明提出的可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，竖向气缸的输出端与检测伸缩弯杆连接，且检测伸缩弯杆的一端通过卡块扣合在定向杆的滑槽内，左检测气缸和右检测气缸驱动左横向检测夹板和右横向检测夹板向内夹压，对芯片的宽度进行测量，再通过竖向气缸驱动检测伸缩弯杆带动前竖板和后竖板两端的定向杆在左横向检测夹板和右横向检测夹板两侧的槽口内移动，前竖板和后竖板在移动的过程对芯片的长度进行检测，有效对芯片整体进行检测，提高检测的便捷性，且双向调整，可适用于多种尺寸的芯片，提高整体的适配性。
4、本发明提出的可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，摄像头与检测箱上方安装的检测***电连接，检测***内设置有标准芯片排版的图片，摄像头对待检测芯片进行拍照，将照片输送到检测***内与标准芯片排版的图片进行对比，能够有效对芯片进行检测，能够多角度进行检测，提高检测质量，提高检测速度，满足生产效益。
5、本发明提出的可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，安装座的上方设置有气缸座，气缸座的上方设置有导向套筒，气缸座内套覆设置有推送杆，导向套筒的内套覆设置有定位管，定位管和推送杆的前端与推板连接，当检测结果合格的时候，气缸座驱动内部的推送杆顶出，从而带动推板对输送带上的芯片进行推送分料，保证分类效率，有效进行分类，有效进行瑕疵排出，保证芯片成品质量。
附图说明
图1为本发明的整体结构示意图；
图2为本发明的输送装置结构示意图；
图3为本发明的尺寸检测装置结构示意图；
图4为本发明的尺寸检测装置局部结构示意图；
图5为本发明的布局检测装置结构示意图；
图6为本发明的分拣装置结构示意图；
图7为本发明的第一推送装置结构示意图。
图中：1、输送支架；2、输送装置；21、输送带；22、输送辊；23、内轴杆；24、驱动电机；3、尺寸检测装置；31、左支架；311、升降气缸；32、右支架；33、左安装板；331、安装杆；34、右安装板；35、横向检测件；351、左检测气缸；352、右检测气缸；353、左横向检测夹板；354、右横向检测夹板；36、竖向检测件；361、前竖板；362、后竖板；363、定向杆；364、滑槽；365、竖向气缸；366、检测伸缩弯杆；4、布局检测装置；41、安装架；42、检测箱；43、摄像头；44、检测***；5、分拣装置；51、第一分料输送结构；52、第二分料输送结构；53、第一推送装置；531、安装座；532、气缸座；533、导向套筒；534、定位管；535、推送杆；536、推板；54、第二推送装置。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1，一种可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，包括输送支架1，输送支架1的内部设置有用于待检测芯片移动的输送装置2，输送装置2两侧的输送支架1前端上安装有尺寸检测装置3，尺寸检测装置3后方的输送支架1上设置有布局检测装置4，尺寸检测装置3与布局检测装置4之间的输送装置2侧端交错设置有分拣装置5。
请参阅图2，输送装置2包括输送带21、输送辊22、内轴杆23和驱动电机24，输送带21两端内套覆有输送辊22，输送辊22均套接在内轴杆23上，内轴杆23一端穿透设置在输送支架1上，且内轴杆23一端与驱动电机24的输出端连接，通过驱动电机24驱动输送辊22转动，输送辊22联动带动输送带21移动，从而有效带动待检测的芯片移动，提高输送效率，保证其检测便捷性和自动智能性能。
请参阅图3，布局检测装置4包括左支架31、右支架32、左安装板33、右安装板34、横向检测件35和竖向检测件36，左支架31和右支架32分别安装在输送支架1两侧上端面上，左支架31的前端连接左安装板33，右支架32的前端连接右安装板34，左安装板33和右安装板34之间安装有横向检测件35，横向检测件35两端设置有竖向检测件36，左支架31和右支架32的内部均设置有升降气缸311，左支架31和右支架32通过升降气缸311分成两段，且左安装板33和右安装板34通过安装杆331固定在左支架31和右支架32的上段侧面，升降气缸311带动左支架31和右支架32升降，从而带动横向检测件35和竖向检测件36上升和下移，提高检测便捷性，且可根据需要进行高度调整，提高整体适配性。
请参阅图4，横向检测件35包括左检测气缸351、右检测气缸352、左横向检测夹板353和右横向检测夹板354，左检测气缸351的输出端与左横向检测夹板353侧端面连接，右检测气缸352的输出端与右横向检测夹板354侧端面连接，竖向检测件36包括前竖板361、后竖板362、定向杆363、滑槽364、竖向气缸365和检测伸缩弯杆366，前竖板361和后竖板362设置在左横向检测夹板353和右横向检测夹板354的内部，前竖板361和后竖板362的两端均连接有定向杆363，定向杆363上设置有滑槽364，竖向气缸365设置四组，且四组竖向气缸365分别设置在左横向检测夹板353和右横向检测夹板354两侧，竖向气缸365的输出端与检测伸缩弯杆366连接，且检测伸缩弯杆366的一端通过卡块扣合在定向杆363的滑槽364内，左检测气缸351和右检测气缸352驱动左横向检测夹板353和右横向检测夹板354向内夹压，对芯片的宽度进行测量，再通过竖向气缸365驱动检测伸缩弯杆366带动前竖板361和后竖板362两端的定向杆363在左横向检测夹板353和右横向检测夹板354两侧的槽口内移动，前竖板361和后竖板362在移动的过程对芯片的长度进行检测，有效对芯片整体进行检测，提高检测的便捷性，且双向调整，可适用于多种尺寸的芯片，提高整体的适配性。
请参阅图5，布局检测装置4包括安装架41、检测箱42、摄像头43和检测***44，检测箱42下方通过安装架41固定在输送支架1的上方，检测箱42的下方安装有摄像头43，摄像头43与检测箱42上方安装的检测***44电连接，检测***44内设置有标准芯片排版的图片，摄像头43对待检测芯片进行拍照，将照片输送到检测***44内与标准芯片排版的图片进行对比，能够有效对芯片进行检测，能够多角度进行检测，提高检测质量，提高检测速度，满足生产效益。
请参阅图6-图7，分拣装置5包括第一分料输送结构51、第二分料输送结构52、第一推送装置53和第二推送装置54，第一分料输送结构51和第二分料输送结构52垂直设置在输送支架1的侧端，第一分料输送结构51和第二分料输送结构52对称位置的输送支架1侧端设置有第一推送装置53和第二推送装置54，第一分料输送结构51和第二分料输送结构52与输送装置2结构相同，第一推送装置53包括安装座531、气缸座532、导向套筒533、定位管534、推送杆535和推板536，安装座531的上方设置有气缸座532，气缸座532的上方设置有导向套筒533，气缸座532内套覆设置有推送杆535，导向套筒533的内套覆设置有定位管534，定位管534和推送杆535的前端与推板536连接，当检测结果合格的时候，气缸座532驱动内部的推送杆535顶出，从而带动推板536对输送带21上的芯片进行推送分料，保证分类效率，有效进行分类，有效进行瑕疵排出，保证芯片成品质量。
综上所述，本发明提出的可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，内轴杆23一端穿透设置在输送支架1上，且内轴杆23一端与驱动电机24的输出端连接，通过驱动电机24驱动输送辊22转动，输送辊22联动带动输送带21移动，从而有效带动待检测的芯片移动，提高输送效率，保证其检测便捷性和自动智能性能，左支架31和右支架32的内部均设置有升降气缸311，左支架31和右支架32通过升降气缸311分成两段，且左安装板33和右安装板34通过安装杆331固定在左支架31和右支架32的上段侧面，升降气缸311带动左支架31和右支架32升降，从而带动横向检测件35和竖向检测件36上升和下移，提高检测便捷性，且可根据需要进行高度调整，提高整体适配性，竖向气缸365的输出端与检测伸缩弯杆366连接，且检测伸缩弯杆366的一端通过卡块扣合在定向杆363的滑槽364内，左检测气缸351和右检测气缸352驱动左横向检测夹板353和右横向检测夹板354向内夹压，对芯片的宽度进行测量，再通过竖向气缸365驱动检测伸缩弯杆366带动前竖板361和后竖板362两端的定向杆363在左横向检测夹板353和右横向检测夹板354两侧的槽口内移动，前竖板361和后竖板362在移动的过程对芯片的长度进行检测，有效对芯片整体进行检测，提高检测的便捷性，且双向调整，可适用于多种尺寸的芯片，提高整体的适配性，摄像头43与检测箱42上方安装的检测***44电连接，检测***44内设置有标准芯片排版的图片，摄像头43对待检测芯片进行拍照，将照片输送到检测***44内与标准芯片排版的图片进行对比，能够有效对芯片进行检测，能够多角度进行检测，提高检测质量，提高检测速度，满足生产效益，安装座531的上方设置有气缸座532，气缸座532的上方设置有导向套筒533，气缸座532内套覆设置有推送杆535，导向套筒533的内套覆设置有定位管534，定位管534和推送杆535的前端与推板536连接，当检测结果合格的时候，气缸座532驱动内部的推送杆535顶出，从而带动推板536对输送带21上的芯片进行推送分料，保证分类效率，有效进行分类，有效进行瑕疵排出，保证芯片成品质量。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明披露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，其特征在于：包括输送支架(1)，所述输送支架(1)的内部设置有用于待检测芯片移动的输送装置(2)，输送装置(2)两侧的输送支架(1)前端上安装有尺寸检测装置(3)，所述尺寸检测装置(3)后方的输送支架(1)上设置有布局检测装置(4)，尺寸检测装置(3)与布局检测装置(4)之间的输送装置(2)侧端交错设置有分拣装置(5)。
2.根据权利要求1所述的一种可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，其特征在于：所述输送装置(2)包括输送带(21)、输送辊(22)、内轴杆(23)和驱动电机(24)，输送带(21)两端内套覆有输送辊(22)，输送辊(22)均套接在内轴杆(23)上，内轴杆(23)一端穿透设置在输送支架(1)上，且内轴杆(23)一端与驱动电机(24)的输出端连接。
3.根据权利要求1所述的一种可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，其特征在于：所述布局检测装置(4)包括左支架(31)、右支架(32)、左安装板(33)、右安装板(34)、横向检测件(35)和竖向检测件(36)，左支架(31)和右支架(32)分别安装在输送支架(1)两侧上端面上，左支架(31)的前端连接左安装板(33)，右支架(32)的前端连接右安装板(34)，左安装板(33)和右安装板(34)之间安装有横向检测件(35)，横向检测件(35)两端设置有竖向检测件(36)。
4.根据权利要求3所述的一种可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，其特征在于：所述左支架(31)和右支架(32)的内部均设置有升降气缸(311)，左支架(31)和右支架(32)通过升降气缸(311)分成两段，且左安装板(33)和右安装板(34)通过安装杆(331)固定在左支架(31)和右支架(32)的上段侧面。
5.根据权利要求3所述的一种可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，其特征在于：所述横向检测件(35)包括左检测气缸(351)、右检测气缸(352)、左横向检测夹板(353)和右横向检测夹板(354)，左检测气缸(351)的输出端与左横向检测夹板(353)侧端面连接，右检测气缸(352)的输出端与右横向检测夹板(354)侧端面连接。
6.根据权利要求3所述的一种可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，其特征在于：所述竖向检测件(36)包括前竖板(361)、后竖板(362)、定向杆(363)、滑槽(364)、竖向气缸(365)和检测伸缩弯杆(366)，前竖板(361)和后竖板(362)设置在左横向检测夹板(353)和右横向检测夹板(354)的内部，前竖板(361)和后竖板(362)的两端均连接有定向杆(363)，定向杆(363)上设置有滑槽(364)，竖向气缸(365)设置四组，且四组竖向气缸(365)分别设置在左横向检测夹板(353)和右横向检测夹板(354)两侧，竖向气缸(365)的输出端与检测伸缩弯杆(366)连接，且检测伸缩弯杆(366)的一端通过卡块扣合在定向杆(363)的滑槽(364)内。
7.根据权利要求1所述的一种可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，其特征在于：所述布局检测装置(4)包括安装架(41)、检测箱(42)、摄像头(43)和检测***(44)，检测箱(42)下方通过安装架(41)固定在输送支架(1)的上方，检测箱(42)的下方安装有摄像头(43)，摄像头(43)与检测箱(42)上方安装的检测***(44)电连接。
8.根据权利要求1所述的一种可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，其特征在于：所述分拣装置(5)包括第一分料输送结构(51)、第二分料输送结构(52)、第一推送装置(53)和第二推送装置(54)，第一分料输送结构(51)和第二分料输送结构(52)垂直设置在输送支架(1)的侧端，第一分料输送结构(51)和第二分料输送结构(52)对称位置的输送支架(1)侧端设置有第一推送装置(53)和第二推送装置(54)，第一分料输送结构(51)和第二分料输送结构(52)与输送装置(2)结构相同。
9.根据权利要求8所述的一种可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，其特征在于：所述第一推送装置(53)包括安装座(531)、气缸座(532)、导向套筒(533)、定位管(534)、推送杆(535)和推板(536)，安装座(531)的上方设置有气缸座(532)，气缸座(532)的上方设置有导向套筒(533)，气缸座(532)内套覆设置有推送杆(535)，导向套筒(533)的内套覆设置有定位管(534)，定位管(534)和推送杆(535)的前端与推板(536)连接。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN202111677840.8A CN114334698A (zh) | 2021-12-31 | 2021-12-31 | 一种可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备 |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115775761A (zh) * | 2023-02-09 | 2023-03-10 | 深圳市昌富祥智能科技有限公司 | 一种晶元芯片生产用自动检测装置 |
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2021
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| CN115775761A (zh) * | 2023-02-09 | 2023-03-10 | 深圳市昌富祥智能科技有限公司 | 一种晶元芯片生产用自动检测装置 |
| CN115775761B (zh) * | 2023-02-09 | 2023-09-22 | 深圳市昌富祥智能科技有限公司 | 一种晶元芯片生产用自动检测装置 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| WW01 | Invention patent application withdrawn after publication | ||
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Application publication date: 20220412 |