CN114281633A - 一种工作参数范围测试方法、***及相关组件 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种工作参数范围测试方法、***、装置及计算机可读存储介质，应用于PC主机，该工作参数范围测试方法包括：获取测试数据，测试数据包括测试设备的配置数据以及待测芯片的待测功能数据；通过配置数据调整测试设备输入给待测芯片的工作参数；通过待测功能数据控制待测芯片运行待测功能；获取待测芯片在工作参数下运行待测功能的运行结果，基于运行结果确定待测芯片的工作参数的输入范围。本申请通过PC主机对待测芯片的工作参数的输入范围进行自动化测试，解放了人力的机械劳动，节省了测试时间，提高了测试效率。

Description

一种工作参数范围测试方法、***及相关组件

技术领域

本申请涉及芯片测试领域，特别涉及一种工作参数范围测试方法、***及相关组件。

背景技术

芯片的工作性能受输入电压、频率及温度等外界条件影响，正常工作的参数范围是几乎每个芯片必测的项目。一般来说，测试过程中需要用到直流稳压电源，信号发生器，高低温箱，或者特定行业用到的一体机等测试设备。连接待测芯片的管脚和测试设备，搭建好测试环境后，设置设备参数，芯片上电复位，运行测试脚本，观察芯片运行结果并记录。上述过程需要测试人员多次更改输入参数，并记录运行结果，直至确定芯片正常工作的参数范围，手动更改输入参数、设置记录必然会浪费大量时间，而且测试一般都是多颗芯片，依次测试耗时严重。

因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域技术人员目前需要解决的问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种工作参数范围测试方法、***、装置及计算机可读存储介质，通过PC主机对待测芯片的工作参数的输入范围进行自动化测试，解放了人力的机械劳动，节省了测试时间，提高了测试效率。

为解决上述技术问题，本申请提供了一种工作参数范围测试方法，应用于PC主机，该工作参数范围测试方法包括：

获取测试数据，所述测试数据包括测试设备的配置数据以及待测芯片的待测功能数据；

通过所述配置数据调整所述测试设备输入给所述待测芯片的工作参数；

通过所述待测功能数据控制所述待测芯片运行待测功能；

获取所述待测芯片在所述工作参数下运行所述待测功能的运行结果，基于所述运行结果确定所述待测芯片的工作参数的输入范围。

可选的，所述配置数据包括测试设备对应的工作参数的预置扫描范围及步进值；

所述通过所述配置数据调整所述测试设备输入给所述待测芯片的工作参数的过程包括：

在所述预置扫描范围内按所述步进值依次调整所述测试设备输入给所述待测芯片的工作参数。

可选的，所述工作参数包括电压、和/或频率和/或温度。

可选的，所述获取所述待测芯片在所述工作参数下运行所述待测功能的运行结果之后，该工作参数范围测试方法还包括：

生成所述运行结果对应的python数据结构类型字典并存储。

可选的，所述生成所述运行结果对应的python数据结构类型字典并存储的过程包括：

以所述工作参数为键，以所述工作参数下所述待测芯片的运行结果为值，得到python数据结构类型字典并存储。

可选的，所述获取所述待测芯片在所述工作参数下运行所述待测功能的运行结果之后，该工作参数范围测试方法还包括：

根据所有所述运行结果绘制shmoo图；

所述基于所述运行结果确定所述待测芯片的工作参数的输入范围的过程包括：

基于所述shmoo图确定所述待测芯片的工作参数的输入范围。

可选的，所述根据所有所述运行结果绘制shmoo图后，该工作参数范围测试方法还包括：

判断所述shmoo图的边界信息是否满足目标条件；

若否，判定所述待测芯片异常，输出报警提示信息。

为解决上述技术问题，本申请还提供了一种工作参数范围测试***，应用于PC主机，该工作参数范围测试***包括：

解析模块，用于获取测试数据，所述测试数据包括测试设备的配置数据以及待测芯片的待测功能数据；

第一控制模块，用于通过所述配置数据调整所述测试设备输入给所述待测芯片的工作参数；

第二控制模块，用于通过所述待测功能数据控制所述待测芯片运行待测功能；

获取模块，用于获取所述待测芯片在所述工作参数下运行所述待测功能的运行结果，基于所述运行结果确定所述待测芯片的工作参数的输入范围。

为解决上述技术问题，本申请还提供了一种工作参数范围测试装置，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上文任意一项所述的工作参数范围测试方法的步骤。

为解决上述技术问题，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上文任意一项所述的工作参数范围测试方法的步骤。

本申请提供了一种工作参数范围测试方法，通过PC主机根据获取到的测试数据自动对测试设备和待测芯片进行配置，并控制二者运行，自动生成待测芯片在测试设备当前输出的工作参数下的运行结果，基于运行结果确定待测芯片的工作参数的输入范围，通过PC主机对待测芯片的工作参数的输入范围进行自动化测试，解放了人力的机械劳动，节省了测试时间，提高了测试效率。本申请提供了一种工作参数范围测试***、装置及计算机可读存储介质，具有和上述工作参数范围测试方法相同的有益效果。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例，下面将对实施例中所需要使用的附图做简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请所提供的一种芯片测试***的结构示意图；

图2为本申请所提供的一种工作参数范围测试方法的步骤流程图；

图3为本申请所提供的一种shmoo图的示意图；

图4为本申请所提供的一种工作参数范围测试***的结构示意图。

具体实施方式

本申请的核心是提供一种工作参数范围测试方法、***、装置及计算机可读存储介质，通过PC主机对待测芯片的工作参数的输入范围进行自动化测试，解放了人力的机械劳动，节省了测试时间，提高了测试效率。

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

为便于理解本申请所提供的一种工作参数范围测试方法，对本申请所适用的芯片测试***进行说明，请参照图1，图1为本申请所提供的一种芯片测试***的结构示意图，PC主机和测试设备，测试设备可以为电源或信号发生器，PC主机通过第一通信接口与测试设备连接，PC主机通过第二通信接口与待测芯片连接，测试设备与待测芯片的电源端vcc和频率端frequency连接，第一通信接口和第二通信接口可以为USB接口或UART接口。

为提高测试效率，可以预先编写上位机脚本，在PC主机上运行该上位机脚本以实现对待测芯片的工作参数输入范围的测试工作。在PC主机上运行上位机脚本时，执行如图2所示的S101～S104的工作参数范围测试方法，下面对本申请所提供的一种工作参数范围测试方法进行详细说明，该工作参数范围测试方法包括：

S101：获取测试数据，测试数据包括测试设备的配置数据以及待测芯片的待测功能数据；

具体的，PC主机在运行该上位机脚本时，解析出测试人员预置的测试数据，测试数据包括测试设备的配置数据以及待测芯片的待测功能数据。其中，配置数据包括但不限于测试设备对应的工作参数的预置扫描范围及步进值，以测试设备为电源为例，电源对应的工作参数为工作电压，预置扫描范围为1-10V，步进值为1。当然，测试设备还可以为信号发生器，其对应的工作参数为工作频率。

当然，测试设备根据测试需求选择即可，相应的，工作参数也根据测试设备进行适应性调整，本实施例在此不作具体的限定。

S102：通过配置数据调整测试设备输入给待测芯片的工作参数；

具体的，PC主机在解析出测试设备的配置数据后，调整测试设备输入给待测芯片的工作参数，参照上文所述，配置数据包括预置扫描范围及步进值，那么通过配置数据调整测试设备输入给待测芯片的工作参数的过程具体为：在预置扫描范围内按步进值依次调整测试设备输入给待测芯片的工作参数。仍以测试设备为电源为例，预置扫描范围为1-10V，步进值为1，则配置电源的输出电压为1V进行测试，即待测芯片的输入电压为1V，对于1V电压的测试完成后，配置电源的输出电压为2V进行测试，即待测芯片的输入电压为2V，对于2V电压的测试完成后，配置电源的输出电压为3V，以此类推，直至配置电源的输出电压为10V进行测试。

可以理解的是，工作参数还包括频率，则可以按频率对应的预置扫描范围以及步进值对信号发生器的输出进行调整，调整过程参照电压调整过程。假设频率对应的扫描范围为1-10Hz，步进值为1，为了保证测试的完整性和可靠性，在第一次配置待测芯片的输入参数时，可以配置待测芯片的输入电压为1V时，配置待测芯片的输入功率为1Hz，在第二次配置待测芯片的输入参数时，配置待测芯片的输入电压为1V，配置待测芯片的输入频率为2Hz，依次类推，直至完成配置待测芯片的输入电压为10V，配置待测芯片的输入频率为10Hz。

S103：通过待测功能数据控制待测芯片运行待测功能；

S104：获取待测芯片在工作参数下运行待测功能的运行结果，基于运行结果确定待测芯片的工作参数的输入范围。

具体的，控制待测功能芯片在上述每一输入参数(输入参数可以为单独的频率、电压或频率和电压的组合)下运行其待测功能，并获取运行结果，运行结果为pass或fail，然后根据运行结果为pass的工作参数，即可确定待测芯片实现待测功能的各工作参数的输入范围。

可见，本实施例中，通过PC主机根据获取到的测试数据自动对测试设备和待测芯片进行配置，并控制二者运行，自动生成待测芯片在测试设备当前输出的工作参数下的运行结果，基于运行结果确定待测芯片的工作参数的输入范围，通过PC主机对待测芯片的工作参数的输入范围进行自动化测试，解放了人力的机械劳动，节省了测试时间，提高了测试效率。

在上述实施例的基础上：

作为一种可选的实施例，获取待测芯片在工作参数下运行待测功能的运行结果之后，该工作参数范围测试方法还包括：

生成运行结果对应的python数据结构类型字典并存储。

作为一种可选的实施例，生成运行结果对应的python数据结构类型字典并存储的过程包括：

以工作参数为键，以工作参数下待测芯片的运行结果为值，得到python数据结构类型字典并存储。

具体的，运行结果以python数据结构类型字典的方式存储，以电压，频率组合参数为键，以该组合下待测芯片运行结果(pass或fail)为值，进行保存。

作为一种可选的实施例，获取待测芯片在工作参数下运行待测功能的运行结果之后，该工作参数范围测试方法还包括：

根据所有运行结果绘制shmoo图；

基于运行结果确定待测芯片的工作参数的输入范围的过程包括：

基于shmoo图确定待测芯片的工作参数的输入范围。

具体的，待扫描结束后，利用python数据处理库numpy，matplotlib绘制shmoo图，如图2所示，横坐标为电压，纵坐标为频率，pass为实心圆，fail为空心圆，根据实心圆的范围即可确定待测芯片在实现某待测功能时的工作电压的输入范围和工作频率的输入范围，如图2所示，待测芯片实现某待测功能时工作电压的输入范围为V5-V10，工作功率的输入范围为P3-P10。

作为一种可选的实施例，根据所有运行结果绘制shmoo图后，该工作参数范围测试方法还包括：

判断shmoo图的边界信息是否满足目标条件；

若否，判定待测芯片异常，输出报警提示信息。

具体的，参照图3所示，根据实心圆和空心圆的分界信息，可以判断芯片是否可以正常实现其待测功能，目标条件由待测芯片的对于该待测功能的声明确定，如果边界信息不满足目标条件，说明芯片设计可能存在问题，输出报警提示信息。

请参照图4，图4为本申请所提供的一种工作参数范围测试***的结构示意图，应用于PC主机，该工作参数范围测试***包括：

解析模块1，用于获取测试数据，测试数据包括测试设备的配置数据以及待测芯片的待测功能数据；

第一控制模块2，用于通过配置数据调整测试设备输入给待测芯片的工作参数；

第二控制模块3，用于通过待测功能数据控制待测芯片运行待测功能；

获取模块4，用于获取待测芯片在工作参数下运行待测功能的运行结果，基于运行结果确定待测芯片的工作参数的输入范围。

可见，本实施例中，通过PC主机根据获取到的测试数据自动对测试设备和待测芯片进行配置，并控制二者运行，自动生成待测芯片在测试设备当前输出的工作参数下的运行结果，基于运行结果确定待测芯片的工作参数的输入范围，通过PC主机对待测芯片的工作参数的输入范围进行自动化测试，解放了人力的机械劳动，节省了测试时间，提高了测试效率。

作为一种可选的实施例，配置数据包括测试设备对应的工作参数的预置扫描范围及步进值；

通过配置数据调整测试设备输入给待测芯片的工作参数的过程包括：

在预置扫描范围内按步进值依次调整测试设备输入给待测芯片的工作参数。

作为一种可选的实施例，工作参数包括电压、和/或频率和/或温度。

作为一种可选的实施例，该工作参数范围测试***还包括：

存储模块，用于生成运行结果对应的python数据结构类型字典并存储。

作为一种可选的实施例，生成运行结果对应的python数据结构类型字典并存储的过程包括：

以工作参数为键，以工作参数下待测芯片的运行结果为值，得到python数据结构类型字典并存储。

作为一种可选的实施例，该工作参数范围测试***还包括：

统计模块，用于根据所有运行结果绘制shmoo图；

基于运行结果确定待测芯片的工作参数的输入范围的过程包括：

基于shmoo图确定待测芯片的工作参数的输入范围。

作为一种可选的实施例，该工作参数范围测试***还包括：

提示模块，用于判断shmoo图的边界信息是否满足目标条件，若否，判定待测芯片异常，输出报警提示信息。

另一方面，本申请还提供了一种工作参数范围测试装置，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行计算机程序时实现如上文任意一个实施例所描述的工作参数范围测试方法的步骤。

对于本申请所提供的一种工作参数范围测试装置的介绍请参照上述实施例，本申请在此不再赘述。

本申请所提供的一种工作参数范围测试装置具有和上述工作参数范围测试方法相同的有益效果。

另一方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上文任意一个实施例所描述的工作参数范围测试方法的步骤。

对于本申请所提供的一种计算机可读存储介质的介绍请参照上述实施例，本申请在此不再赘述。

本申请所提供的一种计算机可读存储介质具有和上述工作参数范围测试方法相同的有益效果。

还需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的状况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其他实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种工作参数范围测试方法，其特征在于，应用于PC主机，该工作参数范围测试方法包括：

获取测试数据，所述测试数据包括测试设备的配置数据以及待测芯片的待测功能数据；

通过所述配置数据调整所述测试设备输入给所述待测芯片的工作参数；

通过所述待测功能数据控制所述待测芯片运行待测功能；

获取所述待测芯片在所述工作参数下运行所述待测功能的运行结果，基于所述运行结果确定所述待测芯片的工作参数的输入范围。

2.根据权利要求1所述的工作参数范围测试方法，其特征在于，所述配置数据包括测试设备对应的工作参数的预置扫描范围及步进值；

所述通过所述配置数据调整所述测试设备输入给所述待测芯片的工作参数的过程包括：

在所述预置扫描范围内按所述步进值依次调整所述测试设备输入给所述待测芯片的工作参数。

3.根据权利要求1所述的工作参数范围测试方法，其特征在于，所述工作参数包括电压、和/或频率和/或温度。

4.根据权利要求1所述的工作参数范围测试方法，其特征在于，所述获取所述待测芯片在所述工作参数下运行所述待测功能的运行结果之后，该工作参数范围测试方法还包括：

生成所述运行结果对应的python数据结构类型字典并存储。

5.根据权利要求4所述的工作参数范围测试方法，其特征在于，所述生成所述运行结果对应的python数据结构类型字典并存储的过程包括：

以所述工作参数为键，以所述工作参数下所述待测芯片的运行结果为值，得到python数据结构类型字典并存储。

6.根据权利要求1-5任意一项所述的工作参数范围测试方法，其特征在于，所述获取所述待测芯片在所述工作参数下运行所述待测功能的运行结果之后，该工作参数范围测试方法还包括：

根据所有所述运行结果绘制shmoo图；

所述基于所述运行结果确定所述待测芯片的工作参数的输入范围的过程包括：

基于所述shmoo图确定所述待测芯片的工作参数的输入范围。

7.根据权利要求6所述的工作参数范围测试方法，其特征在于，所述根据所有所述运行结果绘制shmoo图后，该工作参数范围测试方法还包括：

判断所述shmoo图的边界信息是否满足目标条件；

若否，判定所述待测芯片异常，输出报警提示信息。

8.一种工作参数范围测试***，其特征在于，应用于PC主机，该工作参数范围测试***包括：

解析模块，用于获取测试数据，所述测试数据包括测试设备的配置数据以及待测芯片的待测功能数据；

第一控制模块，用于通过所述配置数据调整所述测试设备输入给所述待测芯片的工作参数；

第二控制模块，用于通过所述待测功能数据控制所述待测芯片运行待测功能；

获取模块，用于获取所述待测芯片在所述工作参数下运行所述待测功能的运行结果，基于所述运行结果确定所述待测芯片的工作参数的输入范围。

9.一种工作参数范围测试装置，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7任意一项所述的工作参数范围测试方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-7任意一项所述的工作参数范围测试方法的步骤。

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