CN114235863B - 一种电路板光照检测用水平支撑台 - Google Patents

一种电路板光照检测用水平支撑台 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种电路板光照检测用水平支撑台,涉及电路板检测领域。该电路板光照检测用水平支撑台,包括固定台,所述固定台的上表面前后两侧固定安装有固定横梁,固定横梁的底端一侧固定安装有激光发射头,固定横梁底端另一侧固定安装有反射光线检测板,固定台的上表面位于两个固定横梁之间固定安装有伸缩套筒。该电路板光照检测用水平支撑台,通过平行的两条由激光发射头发出的光线经电路板反射到反射光线检测板上,通过对比前后两个光线的到达时间差值能够控制装置补偿电路板前后倾斜角度差值,通过对比光线反射点的位置能够驱动装置补偿电路板左右倾斜的差值,解决了现有技术中电路板不水平导致的检测误差的问题。

Description

一种电路板光照检测用水平支撑台
技术领域
本发明涉及电路板检测技术领域,具体为一种电路板光照检测用水平支撑台。
背景技术
电路板光照检测方法利用不同物质对X光的吸收率的不同,透视需要检测的部位,发现缺陷。主要用于检测超细间距和超高密度电路板以及装配工艺过程中产生的桥接、丢片、对准不良等缺陷,还可利用其层析成像技术检测IC芯片内部缺陷。侧视的X光甚至可以给出3D的检测信息。它的主要优点是能够检测BGA焊接质量和嵌人式元件、无夹具成本。
由于X光照射成像所以需要保证电路板保持水平,当电路板发生稍微倾斜时检测数值就会发生变化,由于电路板加工重心不在中心点,所以需要一种能够调节并保持电路板水平的支撑台。
发明内容
针对现有技术的不足,本发明提供了一种电路板光照检测用水平支撑台,解决了背景技术中提出的问题。
为实现以上目的,本发明通过以下技术方案予以实现:一种电路板光照检测用水平支撑台,包括固定台,所述固定台的上表面前后两侧固定安装有固定横梁,固定横梁的底端一侧固定安装有激光发射头,固定横梁底端另一侧固定安装有反射光线检测板,固定台的上表面位于两个固定横梁之间固定安装有伸缩套筒,伸缩套筒的输出端转动连接有滚轮,所述固定台位于伸缩套筒和固定横梁之间的上表面固定安装有水箱,水箱的顶端中部滑动连接有延伸杆,延伸杆的底端位于水箱的内部,延伸杆的底端固定安装有浮筒,延伸杆的顶端固定安装有铰接头,铰接头的中部转动连接有铰接块,铰接块延伸至铰接头的外侧,铰接头的顶端固定安装有胶黏盘,所述延伸杆的外表面固定安装有主磁板,水箱的上表面固定安装有限位套,主磁板套接在限位套的内部,限位套的内底壁固定安装有主电磁环,主电磁环位于主磁板的下方,所述铰接块位于铰接头外侧的一端套接有限位半环,铰接块的外表面固定安装有挡块,限位半环与铰接头固定连接,铰接块位于铰接头外侧的一端内部开设有贯穿限位半环和铰接块的阶梯孔,限位半环的外表面固定安装有固定套,限位套的内底壁固定安装有副磁环,固定套的内部滑动连接有滑动杆,滑动杆的外表面套接有副磁板,副磁板位于副磁环的上方,滑动杆的顶端铰有摆动杆,摆动杆套接在阶梯孔的内部,摆动杆的顶端固定安装有卡接盘,卡接盘插接在阶梯孔的内部。
优选的,所述固定套的内部设置有套筒,套筒套接在滑动杆和摆动杆铰接处的外表面,套筒与固定套之间通过连接板固定连接。
优选的,所述限位半环的缺口处两侧固定安装有磁铁块,磁铁块的尺寸与挡块的形状适配。
优选的,所述阶梯孔大端的直径大于卡接盘的直径,卡接盘的直径等于阶梯孔中端的直径,摆动杆的直径小于阶梯孔小端直径。
优选的,所述激光发射头和反射光线检测板的中点到固定横梁中点的距离相同,前后的激光发射头和反射光线检测板前后对称设置。
优选的,所述滚轮位于最下方时滚轮的上切面位于胶黏盘的下方,伸缩套筒的数量为四个,四个伸缩套筒阵列分布。
本发明备以下有益效果:
1、该电路板光照检测用水平支撑台,通过平行的两条由激光发射头发出的光线经电路板反射到反射光线检测板上,通过对比前后两个光线的到达时间差值能够控制装置补偿电路板前后倾斜角度差值,通过对比光线反射点的位置能够驱动装置补偿电路板左右倾斜的差值,解决了现有技术中电路板不水平导致的检测误差的问题。
2、该电路板光照检测用水平支撑台,限位半环的缺口处两侧固定安装有磁铁块,磁铁块的尺寸与挡块的形状适配,通过这样的设置能够保证挡块能够在两个极限位置时保持固定。
3、该电路板光照检测用水平支撑台,通过控制滑动杆进而改变滑动杆的位置从而能够使得摆动杆发生摆动,从而能够使得铰接头能够在指定的角度内发生偏转,进而能够控制电路板发生恒定角度偏转的效果。
附图说明
图1为本发明结构示意图;
图2为本发明水箱连接部分半剖示意图;
图3为本发明水箱连接部分断面意图;
图4为本发明图3中A处放大示意图;
图5为本发明固定套内部结构示意图;
图6为本发明阶梯孔内部示意图。
其中,固定台-1、固定横梁-2、激光发射头-3、反射光线检测板-4、伸缩套筒-5、滚轮-6、水箱-7、延伸杆-8、浮筒-9、铰接头-10、铰接块-11、胶黏盘-12、主磁板-13、限位套-14、主电磁环-15、限位半环-16、阶梯孔-17、固定套-18、副磁环-19、滑动杆-20、副磁板-21、摆动杆-22、卡接盘-23、套筒-24、连接板-25、挡块-26。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供一种电路板光照检测用水平支撑台:
实施例一,如图1-6所示,包括固定台1,固定台1的上表面前后两侧固定安装有固定横梁2,固定横梁2的底端一侧固定安装有激光发射头3,固定横梁2底端另一侧固定安装有反射光线检测板4,激光发射头3和反射光线检测板4的中点到固定横梁2中点的距离相同,前后的激光发射头3和反射光线检测板4前后对称设置,通过这样的设置能够保证两个激光发射头3所发出的激光平行。
固定台1的上表面位于两个固定横梁2之间固定安装有伸缩套筒5,伸缩套筒5的输出端转动连接有滚轮6,滚轮6位于最下方时滚轮6的上切面位于胶黏盘12的下方,伸缩套筒5的数量为四个,四个伸缩套筒5阵列分布,通过这样的设置能够使得在检测的过程中滚轮6与电路板不接触,同时能够在检测完毕后通过提升将电路板提升后能够通过滚动将电路板推走。
固定台1位于伸缩套筒5和固定横梁2之间的上表面固定安装有水箱7,水箱7的顶端中部滑动连接有延伸杆8,延伸杆8的底端位于水箱7的内部,延伸杆8的底端固定安装有浮筒9,延伸杆8的顶端固定安装有铰接头10,铰接头10的中部转动连接有铰接块11,铰接块11延伸至铰接头10的外侧,铰接头10的顶端固定安装有胶黏盘12,延伸杆8的外表面固定安装有主磁板13,水箱7的上表面固定安装有限位套14,主磁板13套接在限位套14的内部,限位套14的内底壁固定安装有主电磁环15,主电磁环15位于主磁板13的下方,铰接块11位于铰接头10外侧的一端套接有限位半环16,铰接块11的外表面固定安装有挡块26,限位半环16的缺口处两侧固定安装有磁铁块,磁铁块的尺寸与挡块26的形状适配,通过这样的设置能够保证挡块26能够在两个极限位置时保持固定。
限位半环16与铰接头10固定连接,铰接块11位于铰接头10外侧的一端内部开设有贯穿限位半环16和铰接块11的阶梯孔17,限位半环16的外表面固定安装有固定套18,固定套18的内底壁固定安装有副磁环19,固定套18的内部滑动连接有滑动杆20,固定套18的内部设置有套筒24,套筒24套接在滑动杆20和摆动杆22铰接处的外表面,套筒24与固定套18之间通过连接板25固定连接,通过这样的设置能够保证滑动杆20只有向上移动一端距离后,摆动杆22才能够进行摆动。
滑动杆20的外表面套接有副磁板21,副磁板21位于副磁环19的上方,滑动杆20的顶端铰有摆动杆22,摆动杆22套接在阶梯孔17的内部,摆动杆22的顶端固定安装有卡接盘23,卡接盘23插接在阶梯孔17的内部。阶梯孔17大端的直径大于卡接盘23的直径,卡接盘23的直径等于阶梯孔17中端的直径,摆动杆22的直径小于阶梯孔17小端直径,通过这样的设置能够保证卡接盘23能够对铰接头10进行限位,当卡接盘23被顶起时,铰接头10能够进行转动。
在使用时,将电路板放置在固定台1的上方,并通过胶黏盘12和延伸杆8进行支撑,由于电路板的重心不在中部,所以单独的延伸杆8被压缩的程度不同,进而能够使得浮筒9压入到水箱7内部水面一下,启动两个激光发射头3发射光线,通过电路板进行反射光信号能够反射到反射光线检测板4上,在反射到反射光线检测板4上时会产生两种信号,一反射时间,二反射位置,通过前后两个光线的反射时间差值,能够计算出电路板前后倾斜的角度,并转换为电信号驱动主电磁环15工作,通过改变主电磁环15的通电量进而实现前后平衡,通过检测光线到反射光线检测板4中点的位置差值能够转化为电信号驱动主电磁环15工作,从而使得电路板保持水平;
水平角度照射完毕后,启动一侧的副磁环19能够使得副磁板21向上移动,进而能够带动滑动杆20向上移动,从而使得摆动杆22和滑动杆20铰接点从套筒24中离开,同时卡接盘23能够从阶梯孔17中向上移动,进而能够使得摆动杆22能够发生摆动,从而能够取消对铰接头10的限位,在磁铁块的作用下铰接头10发生偏转,电路板发生固定角度偏转,再次照射检测,检测完毕后,副磁环19反向通电吸引摆动杆22复位,进而能够使得铰接头10复位,启动伸缩套筒5能够使得滚轮6向上移动,进而将电路板托起,延伸杆8在浮筒9受到浮力的作用下复位。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (2)

1.一种电路板光照检测用水平支撑台,包括固定台(1),其特征在于:所述固定台(1)的上表面前后两侧固定安装有固定横梁(2),固定横梁(2)的底端一侧固定安装有激光发射头(3),固定横梁(2)底端另一侧固定安装有反射光线检测板(4),激光发射头(3)和反射光线检测板(4)的中点到固定横梁(2)中点的距离相同,前后的激光发射头(3)和反射光线检测板(4)前后对称设置,固定台(1)的上表面位于两个固定横梁(2)之间固定安装有伸缩套筒(5),伸缩套筒(5)的输出端转动连接有滚轮(6),滚轮(6)位于最下方时滚轮(6)的上切面位于胶黏盘(12)的下方,伸缩套筒(5)的数量为四个,四个伸缩套筒(5)阵列分布;
所述固定台(1)位于伸缩套筒(5)和固定横梁(2)之间的上表面固定安装有水箱(7),水箱(7)的顶端中部滑动连接有延伸杆(8),延伸杆(8)的底端位于水箱(7)的内部,延伸杆(8)的底端固定安装有浮筒(9),延伸杆(8)的顶端固定安装有铰接头(10),铰接头(10)的中部转动连接有铰接块(11),铰接块(11)延伸至铰接头(10)的外侧,铰接头(10)的顶端固定安装有胶黏盘(12);
所述延伸杆(8)的外表面固定安装有主磁板(13),水箱(7)的上表面固定安装有限位套(14),主磁板(13)套接在限位套(14)的内部,限位套(14)的内底壁固定安装有主电磁环(15),主电磁环(15)位于主磁板(13)的下方;
所述铰接块(11)位于铰接头(10)外侧的一端套接有限位半环(16),铰接块(11)的外表面固定安装有挡块(26),限位半环(16)与铰接头(10)固定连接,铰接块(11)位于铰接头(10)外侧的一端内部开设有贯穿限位半环(16)和铰接块(11)的阶梯孔(17),限位半环(16)的外表面固定安装有固定套(18),固定套(18)的内底壁固定安装有副磁环(19),固定套(18)的内部滑动连接有滑动杆(20),滑动杆(20)的外表面套接有副磁板(21),副磁板(21)位于副磁环(19)的上方,滑动杆(20)的顶端铰有摆动杆(22),摆动杆(22)套接在阶梯孔(17)的内部,摆动杆(22)的顶端固定安装有卡接盘(23),阶梯孔(17)大端的直径大于卡接盘(23)的直径,卡接盘(23)的直径等于阶梯孔(17)中端的直径,摆动杆(22)的直径小于阶梯孔(17)小端直径卡接盘(23)插接在阶梯孔(17)的内部,固定套(18)的内部设置有套筒(24),套筒(24)套接在滑动杆(20)和摆动杆(22)铰接处的外表面,套筒(24)与固定套(18)之间通过连接板(25)固定连接。
2.根据权利要求1所述的一种电路板光照检测用水平支撑台,其特征在于:所述限位半环(16)的缺口处两侧固定安装有磁铁块,磁铁块的尺寸与挡块(26)的形状适配。
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010190640A (ja) * 2009-02-17 2010-09-02 Rizumu Co Ltd 傾斜測定器
WO2015096060A1 (en) * 2013-12-25 2015-07-02 Robert Bosch Company Limited Multifunction laser leveling tool
CN205691106U (zh) * 2016-05-27 2016-11-16 厦门精图信息技术有限公司 一种智能的建筑物倾斜检测预警装置
CN110528385A (zh) * 2019-08-30 2019-12-03 安徽省路桥试验检测有限公司 路桥检测作业平台
CN110757787A (zh) * 2019-11-18 2020-02-07 温州大学 一种带有在线激光调平检测装置的3d打印机
CN113513677A (zh) * 2021-05-06 2021-10-19 中国科学院西北生态环境资源研究院 一种大倾角自调平装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6788385B2 (en) * 2001-06-21 2004-09-07 Nikon Corporation Stage device, exposure apparatus and method
US7073269B2 (en) * 2004-10-19 2006-07-11 Trimble Navigation Limited Self-leveling laser alignment tool and method thereof
DE102009001878A1 (de) * 2009-03-26 2010-09-30 Robert Bosch Gmbh Selbstnivellierendes Mehr-Linien-Lasergerät

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010190640A (ja) * 2009-02-17 2010-09-02 Rizumu Co Ltd 傾斜測定器
WO2015096060A1 (en) * 2013-12-25 2015-07-02 Robert Bosch Company Limited Multifunction laser leveling tool
CN205691106U (zh) * 2016-05-27 2016-11-16 厦门精图信息技术有限公司 一种智能的建筑物倾斜检测预警装置
CN110528385A (zh) * 2019-08-30 2019-12-03 安徽省路桥试验检测有限公司 路桥检测作业平台
CN110757787A (zh) * 2019-11-18 2020-02-07 温州大学 一种带有在线激光调平检测装置的3d打印机
CN113513677A (zh) * 2021-05-06 2021-10-19 中国科学院西北生态环境资源研究院 一种大倾角自调平装置

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