CN114226960A - 一种硅片的超快激光切割方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种硅片的超快激光切割方法,其特征在于:采用输出光学波长介于1900纳米~2300纳米的光纤激光器作为光源,将激光束聚焦到待切割硅片的内部,聚焦点的光斑直径小于10微米,在聚焦点附近产生纵向微裂纹,沿切割轨迹移动聚焦点,形成切割包络,然后通过外加力量把待切割硅片分开,完成切割。本发明可以采用隐切法对硅片进行激光切割,具有较现有方案速度快、污染小,损耗少,切割质量高的优点。

Description

一种硅片的超快激光切割方法
技术领域
本发明涉及一种硅片的切割方法,具体涉及一种用于实现对硅片进行隐切的加工方法。
背景技术
单晶硅是一种具有金刚石晶格的硬脆材料,其在半导体行业、光伏产业等有广泛的利用。硅材料硬度高、脆性强,传统的金刚石片机械加工方式面临切割精度差、效率低、表面损伤大、材料损失多等缺点。随着科技发展,对硅片切割的质量、效率和材料损失等方面的要求越来越高,激光切割硅片的技术逐渐被应用。激光切割具有无接触、无切削力、热影响小、环保无污染等特点。激光光斑可以实现微米级别的紧聚焦,从而实现精密、超精密微纳加工。此外,激光器***同计算机控制***良好兼容,可以快速实现自动化的硅片切割,生产效率较传统工艺大幅提高。
目前,激光硅片切割工艺主要分为两种:一是熔融切割法,其利用激光热效应,在表面聚焦点附近产生融化和气化,并采用高速气流等手段去除熔渣,形成加工曲线;二是热裂法,即采用激光照射硅片,产生温度梯度场,并通过热应力实现可控裂纹轨迹的硅片断裂。热裂法材料不会出现高温表面,切割质量、材料损耗等方面较热熔法更好。但目前这些硅片切割方法仍然存在碎料污染,切口较宽等问题,无法满足更进一步的要求。
对硅片进行切割的激光波长,则通常是在193nm至1064nm之间。例如,张菲等在全国半导体集成电路硅材料学术会议上的论文“355nm全固态紫外激光切割硅片的研究”一文中使用了355nm的紫外激光对硅片进行切割,但YAG激光器的波长(1064nm)被认为能很好地用于电子带隙的硅(1.11电子伏特或1117纳米),因此,目前商用的硅片激光切割设备通常都采用1064nm的YAG激光器。
要进一步提高切割质量,一种考虑是采用隐切法,即,激光透过材料表面并在材料内部形成高功率密度的汇聚点,形成热应力等效果,而表面处因为功率密度低,激光不产生效果。此后,再通过裂片完成切割。然而,硅材料对1064nm波长的吸收效率达到60%以上,材料透过率低,因此如果将其用于隐切法效果较差。
发明内容
本发明的发明目的是提供一种硅片的超快激光切割方法,实现对硅片的低损耗、无污染、高质量切割。
为达到上述发明目的,本发明采用的技术方案是:一种硅片的超快激光切割方法,采用输出光学波长介于1900纳米~2300纳米的光纤激光器作为光源,将激光束聚焦到待切割硅片的内部,聚焦点的光斑直径小于10微米,在聚焦点附近产生纵向微裂纹,沿切割轨迹移动聚焦点,形成切割包络,然后通过外加力量把待切割硅片分开,完成切割。
进一步的技术方案,所述激光束为脉冲激光束,每个脉冲的宽度为50飞秒~500皮秒,每个脉冲的峰值功率大于200千瓦。
为使激光束更好地聚焦于硅片内部,优选的技术方案是,所述硅片的面对激光束输入的表面为抛光表面。
上述技术方案中,沿切割轨迹移动聚集点的一种方法是,将待切割硅片固定在一位移装置上,使所述位移装置运动,实现聚焦点在待切割硅片中的移动。
另一种方法是,沿切割轨迹移动聚集点的方法是,在激光束的光路中设置振镜,通过对振镜的控制使聚焦点移动。
也可以同时采用位移装置和振镜配合实现聚焦点的移动。
上述技术方案中,通过外加力量把待切割硅片分开的方法是加热裂片或者加液体裂片。
由于上述技术方案运用,本发明与现有技术相比具有下列优点:
1、本发明改变了本领域常规采用1064纳米以下波长的激光束切割硅片的传统思维,采用光学波长介于1900纳米~2300纳米的光纤激光器对硅片进行切割,硅片对该波段有较大透过率,可以在硅片内部形成聚焦点,而不影响其表面性质,从而能采用隐切法对硅片进行激光切割,具有较现有方案速度快、污染小,损耗少,切割质量高的优点。
2、本发明通过采用宽度为50飞秒~500皮秒的脉冲激光,能有效保证切割效率。
附图说明
图1是本发明实施例的方法流程示意图;
图2是本发明实施例一采用的装置结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图及实施例对本发明作进一步描述:
实施例一:参见附图1,一种硅片的超快激光切割方法,采用输出光学波长1950纳米的光纤激光器作为光源,输出脉冲激光,脉冲宽度为200飞秒,每个脉冲的峰值功率大于200千瓦,将激光束聚焦到待切割硅片的内部,聚焦点的光斑直径小于10微米,在聚焦点附近产生纵向微裂纹,沿切割轨迹移动聚焦点,形成切割包络,然后通过加热裂片,完成切割。
为保证加工效果,硅片的面对激光束输入的表面可以先进行抛光处理。
实现上述方法可以采用的装置如附图2所示。由光纤激光器101产生脉冲串激光束501,其采用铥掺杂光纤作为增益介质,激光输出中心波长1950纳米,脉冲宽度200飞秒,单脉冲能量50纳焦,脉冲之间间隔25纳秒,每个脉冲串包含2个脉冲,每秒钟包含5百万个等间距的脉冲串。激光束501经过透镜及振镜201,在经过抛光的硅片301表面的光斑直径超过30微米,不产生物理化学效应,由于硅片对该1950纳米激光为透明,传输损耗低,在其硅片301内部汇聚为光斑直径为3微米的光斑,并产生沿光束传输方向的微裂纹。硅片通过位移装置401及201中振镜的配合工作,实现对光斑的相对位移,形成切割包络,此后,通过加热裂片。因为采用内部隐切的方式,无碎屑、污染少、表面崩边小,材料损耗少,实现了高质量的高速硅片切割。

Claims (6)

1.一种硅片的超快激光切割方法,其特征在于:采用输出光学波长介于1900纳米~2300纳米的光纤激光器作为光源,将激光束聚焦到待切割硅片的内部,聚焦点的光斑直径小于10微米,在聚焦点附近产生纵向微裂纹,沿切割轨迹移动聚焦点,形成切割包络,然后通过外加力量把待切割硅片分开,完成切割。
2.根据权利要求1所述的硅片的超快激光切割方法,其特征在于:所述激光束为脉冲激光束,每个脉冲的宽度为50飞秒~500皮秒,每个脉冲的峰值功率大于200千瓦。
3.根据权利要求1所述的硅片的超快激光切割方法,其特征在于:所述硅片的面对激光束输入的表面为抛光表面。
4.根据权利要求1所述的硅片的超快激光切割方法,其特征在于:沿切割轨迹移动聚集点的方法是,将待切割硅片固定在一位移装置上,使所述位移装置运动,实现聚焦点在待切割硅片中的移动。
5.根据权利要求1所述的硅片的超快激光切割方法,其特征在于:沿切割轨迹移动聚集点的方法是,在激光束的光路中设置振镜,通过对振镜的控制使聚焦点移动。
6.根据权利要求1所述的硅片的超快激光切割方法,其特征在于:通过外加力量把待切割硅片分开的方法是加热裂片或者加液体裂片。
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