CN114205010B - 信号测试装置、***、方法和存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种信号测试装置、***、方法和存储介质。该方法包括：包括控制组件、射频RF矩阵组件、第一转接组件和第二转接组件，其中，RF矩阵组件包括多个信号传输通道，RF矩阵组件中的信号通道的总数量大于预设阈值。控制组件根据待测试信号通道的数量，控制相应数量的目标信号传输通道导通，使得各目标信号传输通道通过第一转接组件获取测试信号，并将测试信号通过第二转接组件输出至测试设备中。在本方案中，RF矩阵组件可以实现多信号通道的导通，例如，RF矩阵组件包括至少8个信号通道，适用于现有技术中多通道信号的输出测试场景，避免了现有技术中4通道信号测试装置需要人工拆装的繁复性，提高了多通道信号测试环境下的信号测试效率。

Description

信号测试装置、***、方法和存储介质

技术领域

本申请涉及信号测试技术领域，特别是涉及一种信号测试装置、***、方法和存储介质。

背景技术

随着数字产品数据信号传输速率的不断提升，对传输信号的可靠性要求也越来越严格，而信号测试作为判断信号质量的关键依据也就越发成为重点关注的对象。

现有技术中，通常使用4通道矢量网络分析仪(VNA)测试机箱，根据行业协会的信号测试规范进行4通道的信号测试，或者采用第三方测试软件通过软件层面的算法分析进行相应的信号测试。

然而，针对多通道信号测试的场景，现有信号测试方法由于存在通道测试的局限性，需要操作人员在测试当前一组通道信号之后，对测试设备进行拆解再连接，进而测试下一组通道信号，整个信号测试过程繁复，存在浪费时间与人力的问题。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高信号测试效率的信号测试装置、***、方法和存储介质。

第一方面，提供一种信号测试装置，该信号测试装置包括：控制组件、射频RF矩阵组件、第一转接组件和第二转接组件；RF矩阵组件包括多个信号传输通道，RF矩阵组件中的信号通道的总数量大于预设阈值；

控制组件，用于根据待测试信号通道的数量，控制相应数量的目标信号传输通道导通，使得各目标信号传输通道通过第一转接组件获取测试信号，并将测试信号通过第二转接组件输出至测试设备中。

在本实施例中，基于RF矩阵组件、控制组件和转接组件构建信号测试装置，其中RF矩阵组件可以实现多信号通道的导通，例如，RF矩阵组件可以包括至少8个信号通道或者更多的信号通道，基于此，通过控制组件控制至少8个信号通道的导通甚至更多信号通道的导通，从而可以在不对测试装置进行拆解的情况下，通过不同信号通道实现测试信号的输出测试，可以适用于现有技术中多通道信号的输出测试场景，取代了现有技术的中少通道信号测试装置，避免了少通道信号测试装置应用在多通道的测试环境中的需要人工拆装的繁复性和局限性，提高了多通道信号测试环境下的信号测试效率。

在其中一个可选地实施例中，RF矩阵组件包括第一RF切换矩阵和第二RF切换矩阵；第一RF切换矩阵包括多个第一信号传输通道，第二RF切换矩阵包括多个第二信号传输通道；第一信号传输通道和对应的第二信号传输通道连接；

控制组件，用于根据待测试信号通道的数量，控制相应数量的第一信号传输通道和对应的第二信号传输通道导通。

在本实施例中，信号测试装置的RF矩阵组件中包括第一RF切换矩阵、第二RF切换矩阵，可以实现信号的分路引出和合路输出的目的，从而实现多个通道的信号的输出测试。

在其中一个可选地实施例中，第一RF切换矩阵包括第一开关和至少两个第一通路组件，第二RF切换矩阵包括第二开关和至少两个第二通路组件，第一通路组件和第二通路组件中均包括多个信号传输通道，且第一通路组件的各信号传输通道与第二通路组件中相应的信号传输通道连接；

控制组件，用于根据待测试信号通道的数量，通过第一开关和第二开关控制第一通路组件和第二通路组件中的信号传输通道导通。

在本实施例中，信号测试装置的第一RF切换矩阵和第二RF切换矩阵均由开关和通路组件组成，从而形成多个信号传输通道，通过控制开关闭合或断开，来切换信号传输通道的导通，从而实现多个通道的信号的输出测试。

在其中一个可选地实施例中，各第一通路组件中的信号传输通道的数量相等，各第二通路组件中的信号传输通道的数量相等。

在本实施例中，第一通路组件中的信号传输通道的数量相等，第二通路组件中的信号传输通道的数量相等，来实现差分信号的多通道信号测试，提高信号测试效率。

在其中一个可选地实施例中，第一通路组件包括第三开关和分别与第三开关连接的多个第一转接器，第二通路组件包括第四开关和分别与第四开关连接的多个第二转接器，第三开关与第一开关连接，第四开关与第二开关连接，各第一转接器与对应的第二转接器连接；

控制组件，用于根据待测试信号通道的数量，通过第一开关和第三开关控制相应的第一转接器导通，以及根据待测试信号通道的数量通过第二开关和第四开关控制相应的第二转接器导通。

在本实施例中，信号测试装置中的RF矩阵组件的设计，可以使得控制组件基于RF矩阵组件实现控制整组信号内的所有的单组信号和/或不同组信号之间的相互影响的测试，能够一次就筛选出测试的信号通道中较差的通道信号和测试的信号通道中较好的信号通道，有利于工程师的设计与判断。

在其中一个可选地实施例中，第一RF切换矩阵和第二RF切换矩阵为对称矩阵。

在本实施例中，第一RF切换矩阵和第二RF切换矩阵为对称矩阵，可以实现信号的分路与合路的对称传输，从而实现多通道信号的信号测试。

在其中一个可选地实施例中，第一RF切换矩阵和第二RF切换矩阵包括多个单刀多掷开关。

在本实施例中，基于单刀多掷开关便可实现第一RF切换矩阵和第二RF切换矩阵的多通道的切换导通，信号测试装置设计原理简单。

第二方面，提供一种信号测试***，该信号测试***包括：上述第一方面提供的信号测试装置、待测试设备和测试设备；

测试设备，通过信号测试装置从待测试设备中获取测试信号，并根据测试信号进行信号测试。

第三方面，提供一种信号测试方法，应用于上述第一方面提供的信号测试装置中，该方法包括：

根据预设的测试指令，确定的信号测试装置中射频RF矩阵组件的目标信号传输通道；

控制目标信号传输通道导通，通过目标信号传输通道将测试信号输出至测试设备中。

在其中一个可选地实施例中，RF矩阵组件包括多个信号传输通道；控制信号传输通道导通包括：

根据目标信号传输通道，确定RF矩阵组件中所有信号传输通道的导通顺序；

根据导通顺序，依次控制信号传输通道导通。

第四方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述第三方面任一所述的信号测试方法。

上述信号测试装置、***、方法和存储介质，包括控制组件、射频RF矩阵组件、第一转接组件和第二转接组件，其中，RF矩阵组件包括多个信号传输通道，RF矩阵组件中的信号通道的总数量大于预设阈值。控制组件根据待测试信号通道的数量，控制相应数量的目标信号传输通道导通，使得各目标信号传输通道通过第一转接组件获取测试信号，并将测试信号通过第二转接组件输出至测试设备中。在本方案中，基于RF矩阵组件、控制组件和转接组件构建信号测试装置，其中RF矩阵组件可以实现多信号通道的导通，例如，RF矩阵组件可以包括至少8个信号通道，基于此，通过控制组件控制至少8个信号通道的导通甚至更多信号通道的导通，从而可以在不对测试装置进行拆解的情况下，通过不同信号通道实现测试信号的输出测试，可以适用于现有技术中多通道信号的输出测试场景，取代了现有技术的中少通道信号测试装置，避免了少通道信号测试装置应用在多通道的测试环境中的需要人工拆装的繁复性和局限性，提高了多通道信号测试环境下的信号测试效率。

附图说明

图1为一个实施例中信号测试装置的结构示意图；

图2为一个实施例中信号测试装置的结构示意图；

图3为一个实施例中信号测试装置的结构示意图；

图4为一个实施例中信号测试装置的结构示意图；

图5为一个实施例中信号测试装置的结构示意图；

图6为一个实施例中信号测试***的结构示意图；

图7为一个实施例中信号测试方法的流程示意图；

图8为一个实施例中信号测试方法的流程示意图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

可以理解，本申请所使用的术语“第一”、“第二”等可在本文中用于描述各种元件，但这些元件不受这些术语限制。这些术语仅用于将第一个元件与另一个元件区分。举例来说，在不脱离本申请的范围的情况下，可以将第一客户端称为第二客户端，且类似地，可将第二客户端称为第一客户端。第一客户端和第二客户端两者都是客户端，但其不是同一客户端。

在一个实施例中，如图1所示，提供一种信号测试装置1，该信号测试装置1包括：控制组件11、射频RF矩阵组件12、第一转接组件13和第二转接组件14。其中，RF矩阵组件12包括多个信号传输通道121，RF矩阵组件12中的信号通道的总数量大于预设阈值。

控制组件11，用于根据待测试信号通道的数量，控制相应数量的目标信号传输通道导通，使得各目标信号传输通道通过第一转接组件获取测试信号，并将测试信号通过第二转接组件输出至测试设备2中。

其中，控制组件11可以为任意一种控制器，例如，控制组件可以为逻辑界面开发板(Field Programmable Gate Array，FPGA)；也可以为其他具有控制功能的单片机、电路板。第一转接组件13和第二转接组件14可以为相同类型的转接组件，也可以为不同类型的转接组件，例如，转接组件可以为高速串行计算机扩展总线标准(Peripheral ComponentInterconnect Express，PCIE)转接治具卡，也可以为其他高速转接器，本实施例对各个组件的产品选取不做限定。

在本实施例中，在进行信号测试的场景下，通过信号测试装置，如图1所示，将待测试设备3通过第一转接组件13连接，将测试信号从待测试设备中引出来，经由RF矩阵组件12中的目标信号传输通道，再通过第二转换组件14将信号输出至测试设备2中，以使测试设备根据引出的测试信号进行信号测试或者进行信号分析等信号处理。可选地，各个组件、各个器件之间可以通过同轴测试线缆进行连接。

进一步地，RF矩阵组件中可以包括多个通道，例如，针对8通道的信号测试场景，RF矩阵组件中可以包括8个信号传输通道，或包括16个信号传输通道等，控制组件通过与RF矩阵组件通信，控制RF矩阵组件中各个信号传输通道是否导通，从而完成RF矩阵组件中信号传输通道的不同组合的切换测试。其中，可选地，控制组件中用于执行控制RF矩阵组件的脚本可以基于可视控制界面进行测试脚本的编辑载入，测试脚本中包括了RF矩阵组件中各个信号传输通道的控制顺序和切换条件，从而完成RF矩阵组件中信号传输通道的不同组合的切换测试。

上述信号测试装置，包括控制组件、射频RF矩阵组件、第一转接组件和第二转接组件，其中，RF矩阵组件包括多个信号传输通道，RF矩阵组件中的信号通道的总数量大于预设阈值。控制组件根据待测试信号通道的数量，控制相应数量的目标信号传输通道导通，使得各目标信号传输通道通过第一转接组件获取测试信号，并将测试信号通过第二转接组件输出至测试设备中。在本方案中，基于RF矩阵组件、控制组件和转接组件构建信号测试装置，其中RF矩阵组件可以实现多信号通道的导通，例如，RF矩阵组件可以包括至少8个信号通道，基于此，通过控制组件控制至少8个信号通道的导通甚至更多信号通道的导通，从而可以在不对测试装置进行拆解的情况下，通过不同信号通道实现测试信号的输出测试，可以适用于现有技术中多通道信号的输出测试场景，取代了现有技术的中少通道信号测试装置，避免了少通道信号测试装置应用在多通道的测试环境中的需要人工拆装的繁复性和局限性，提高了多通道信号测试环境下的信号测试效率。

RF矩阵组件需要进行信号引出，信号的传输以及信号的输出，在其中一个可选地实施例中，如图2所示，RF矩阵组件12包括第一RF切换矩阵122和第二RF切换矩阵123；第一RF切换矩阵122包括多个第一信号传输通道，第二RF切换矩阵123包括多个第二信号传输通道；第一信号传输通道和对应的第二信号传输通道连接；

控制组件11，用于根据待测试信号通道的数量，控制相应数量的第一信号传输通道和对应的第二信号传输通道导通。

其中，信号从待测试设备引出之后，经过第一RF切换矩阵中各个信号传输通道进行分路传输，经过第二RF切换矩阵中的各个信号传输通道进行合路输出，基于此，第一RF切换矩阵和第二RF切换矩阵中的信号传输通道相互对应。可选地，第一RF切换矩阵和第二RF切换矩阵为对称矩阵。示例性地，第一RF切换矩阵中包括8个信号传输通道，那么第二RF切换矩阵中也包括相对应的8个信号传输通道。

在本实施例中，信号测试装置可以适用于8通道的测试环境下，也可以适用于16通道的测试环境下，甚至可以适用于更多通道的测试环境下。以8通道的测试环境举例说明，第一RF切换矩阵中包括8个信号传输通道，第二RF切换矩阵中包括8个信号传输通道，控制组件根据8个信号传输通道，可以实现按照一定的控制顺序，控制第一RF切换矩阵、第二RF切换矩阵中各个通道的导通，例如，导通第一RF切换矩阵的通道1和第二RF切换矩阵的通道1，实现第一信号传输通道的导通测试；导通第一RF切换矩阵的通道2和第二RF切换矩阵的通道2，实现第二信号传输通道的导通测试，本实施例对此不做限定。

在本实施例中，信号测试装置的RF矩阵组件中包括第一RF切换矩阵、第二RF切换矩阵，可以实现信号的分路引出和合路输出的目的，从而实现多个通道的信号的输出测试。

可选地，RF矩阵组件中的多个通道可以由开关形成，在其中一个可选地实施例中，如图3所示，第一RF切换矩阵122包括第一开关1221和至少两个第一通路组件1222，第二RF切换矩阵123包括第二开关1231和至少两个第二通路组件1232，第一通路组件1222和第二通路组件1232中均包括多个信号传输通道，且第一通路组件的各信号传输通道与第二通路组件中相应的信号传输通道连接。

控制组件，用于根据待测试信号通道的数量，通过第一开关和第二开关控制第一通路组件和第二通路组件中的信号传输通道导通。

其中，第一开关1221可以为单刀双掷开关，也可以为单刀多掷开关，例如，第一开关可以为1/4开关，第二开关与第一开关类似。如图3中所示，图3中给出了第一开关、第二开关为1/2开关示例图。第一通路组件1222可以由开关和转接器组成，第二通路组件类似。如图3中所示，给出了各第一通路组件包括1/4开关和转接器所形成4个通道的示例图。可选地，各第一通路组件中的信号传输通道的数量相等，各第二通路组件中的信号传输通道的数量相等。

可选地，如图3所示，信号测试装置的第一转接组件可以通过测试设备的端口1与待测试设备连接，用于引出待测试设备的测试信号，信号测试装置的第二转接组件与测试设备的端口2连接，用于通过端口2将测试信号输出至测试设备进行信号测试分析，本实施例对此不做限定。

在本实施例中，示例性的，在8通道的测试环境下，控制组件根据通过第一开关和第二开关控制第一通路组件和第二通路组件中的8个信号传输通道依次导通，例如，导通第一通路组件的通道1和第二通路组件的通道1，实现第一信号传输通道的导通测试；导通第一通路组件的通道2和第二通路组件的通道2，实现第二信号传输通道的导通测试，本实施例对此不做限定。

在本实施例中，信号测试装置的第一RF切换矩阵和第二RF切换矩阵均由开关和通路组件组成，从而形成多个信号传输通道，通过控制开关闭合或断开，来切换信号传输通道的导通，从而实现多个通道的信号的输出测试。

在其中一个可选地实施例中，如图4所示，第一通路组件1222包括第三开关20和分别与第三开关连接的多个第一转接器21，第二通路组件1232包括第四开关30和分别与第四开关连接的多个第二转接器31，第三开关20与第一开关1221连接，第四开关30与第二开关1231连接，各第一转接器与对应的第二转接器连接。

控制组件，用于根据待测试信号通道的数量，通过第一开关和第三开关控制相应的第一转接器导通，以及根据待测试信号通道的数量通过第二开关和第四开关控制相应的第二转接器导通。

其中，可选地，第一RF切换矩阵和第二RF切换矩阵包括多个单刀多掷开关。也即，第一开关、第二开关、第三开关、第四开关均可以为单刀多掷开关，例如1/2开关、1/4开关、1/8开关等，其中，开关的类型可以为switch非反射单极开关，本实施例对此开关的类型选择不做限定。

在本实施例中，根据图4中给出的例子来说明，如图4所示，图4中第一开关、第二开关为1/2开关，第三开关、第四开关为1/4开关，第一RF切换矩阵中包括与第三开关一一对应的8个连接器；第二RF切换矩阵中包括与第四开关一一对应的8个连接器，第一RF切换矩阵的8个连接器与第二RF切换矩阵的8个连接器一一对应连接形成8个信号传输通道。

在信号测试过程中，待测试设备可以通过同轴线缆与测试设备的端口1连接，第一转接组件与端口1连接，可以实现获取待测试设备的测试信号的目的。

具体地，如图4所示，控制组件通过控制第一开关和/或第二开关，实现2个信号通道的通断选择，然后再通过控制第三开关和/或第四开关，实现4个通道的通断选择，如此可实现2x4组合得到8个通道的依次通断，实现8通道信号的自动化测试，避免了现有技术中多次拆卸同轴线缆仅使用VNA的一个端口来依次测量8个通道的信号的局限性。

应用于具体的矢量网络分析仪VNA中，如图5所示，根据VNA的4个同样的信号采集端口，基于端口1、信号测试装置、端口2，实现8根DP通道的依次通断，基于端口3、信号测试装置、端口4，实现8根DN通道的依次通断，从而实现8对差分的8根DP和8根DN共16条通道插损、回损、串扰的不同组合切换操作，完成X8信号的所有测试工作。

可选地，如上述实施例中所示，第一开关、第二开关、第三开关、第四开关还可以为1/4开关，或者，还可以在第一RF切换矩阵和/或第二RF切换矩阵中增加开关的数量，来实现信号传输通道的增加，例如，在第一开关、第二开关为1/2开关，第三开关、第四开关为1/4开关的基础上，也即，在实现8通道信号传输的基础上，在第三开关和/或第四开关的基础上再增设一个1/2开关，就可形成1x2x1x4x1x2＝16通道RF切换矩阵，完成X16通道甚至更多的信号测试，本实施例对此不做限定。

在本实施例中，信号测试装置中的RF矩阵组件的设计，可以使得控制组件基于RF矩阵组件实现控制整组信号内的所有的单组信号和/或不同组信号之间的相互影响的测试，能够一次就筛选出最差的通道信号和最好的信号通道，有利于工程师的设计与判断。

上述信号测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

在一个实施例中，如图5所示，提供一种信号测试***，该信号测试***包括：上述图1-图5任一实施例提供的信号测试装置1、待测试设备3和测试设备2；

测试设备2，通过信号测试装置1从待测试设备3中获取测试信号，并根据测试信号进行信号测试。

其中，测试设备2可以为矢量网络分析仪VNA，也可以为其他信号测试工具。

在本实施例中，在进行信号测试的场景下，通过信号测试装置，如图6所示，将测试信号从待测试设备中引出来并输出至测试设备2中，以使测试设备根据引出的测试信号进行信号测试或者进行信号分析等信号处理。其中，各个设备、装置之间可以通过同轴测试线缆进行连接。可选地，信号测试装置的可以通过测试设备的第一端口与待测试设备连接，用于引出待测试设备的测试信号，信号测试装置与测试设备的第二端口连接，用于通过第二端口将测试信号输出至测试设备进行信号测试分析，本实施例对此不做限定。

上述信号测试***，包括信号测试装置、待测试设备和测试设备。测试设备通过信号测试装置从待测试设备中获取测试信号，并根据测试信号进行信号测试。在本方案中，基于RF矩阵组件、控制组件和转接组件构建信号测试装置进行信号的输出测试，其中RF矩阵组件可以实现多信号通道的导通，例如，RF矩阵组件可以包括至少8个信号通道，基于此，通过控制组件控制至少8个信号通道的导通甚至更多信号通道的导通，从而可以在不对测试装置进行拆解的情况下，通过不同信号通道实现测试信号的输出测试，可以适用于现有技术中多通道信号的输出测试场景，取代了现有技术的中少通道信号测试装置，避免了少通道信号测试装置应用在多通道的测试环境中的需要人工拆装的繁复性和局限性，提高了多通道信号测试环境下的信号测试效率。

上述实施例提供的信号测试***，其实现原理和技术效果与上述信号测试装置实施例类似，在此不再赘述。

下面将通过实施例并结合附图具体地对本申请的技术方案以及本申请的技术方案如何解决上述技术问题进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。需要说明的是，本申请图6-图7实施例提供的信号测试方法，其执行主体为信号测试装置，该信号测试装置中包括控制组件，通过控制组件来执行信号测试方法。下述方法实施例中，均以执行主体是信号测试装置为例来进行说明。

在一个实施例中，如图7所示，提供一种信号测试方法，包括以下步骤：

步骤201，根据预设的测试指令，确定的信号测试装置中射频RF矩阵组件的目标信号传输通道。

其中，预设的测试指令可以为载入在信号测试装置中的测试脚本中的测试指令；也可以为服务器向信号测试装置发送的测试指令。其中，测试指令中携带了目标信号传输通道的标识，例如，目标信号传输通道的编号。目标信号传输通道指的是当前要控制导通的通道。

在本实施例中，信号测试装置根据测试指令中的目标信号传输通道的标识，确定射频RF矩阵组件的目标信号传输通道。例如，通道标识为DF1_DP，则确定目标信号传输通道为第一通道。

步骤202，控制目标信号传输通道导通，通过目标信号传输通道将测试信号输出至测试设备中。

在本实施例中，信号测试装置在确定目标信号传输通道之后，控制该目标信号传输通道导通，从而通过该目标信号传输通道进行测试信号的引出和输出，进行信号测试。可选地，本方案适用于多通道信号测试的场景下，涉及到多通道信号测试，在确定目标信号传输通道包括多个的情况下，信号测试装置还可以确定各个信号传输通道的导通顺序，例如，信号传输通道的导通顺序可以为通道编号顺序，或者，测试指令中也可以包括预先确定的多个信号传输通道的导通顺序，基于此，信号测试装置可以基于测试指令中的目标信号传输通道、信号传输通道的导通顺序来依次控制信号传输通道的导通，从而实现多信道信号的测试。

上述信号测试方法，信号测试装置根据预设的测试指令，确定的信号测试装置中射频RF矩阵组件的目标信号传输通道，控制信号传输通道导通，通过目标信号传输通道将测试信号输出至测试设备中。在本方案中，基于RF矩阵组件、控制组件和转接组件构建信号测试装置进行信号的输出测试，其中RF矩阵组件可以实现多信号通道的导通，例如，RF矩阵组件可以包括至少8个信号通道，基于此，通过控制组件控制至少8个信号通道的导通甚至更多信号通道的导通，从而可以在不对测试装置进行拆解的情况下，通过不同信号通道实现测试信号的输出测试，可以适用于现有技术中多通道信号的输出测试场景，取代了现有技术的中少通道信号测试装置，避免了少通道信号测试装置应用在多通道的测试环境中的需要人工拆装的繁复性和局限性，提高了多通道信号测试环境下的信号测试效率。

在其中一个可选地实施例中，如图8所示，在RF矩阵组件包括多个信号传输通道的情况下，上述步骤202控制信号传输通道导通包括：

步骤301，根据目标信号传输通道，确定RF矩阵组件中所有信号传输通道的导通顺序。

其中，信号传输通道的导通顺序可以为默认顺序，也可以为指定顺序，本实施例对导通顺序不做限定。目标信号传输通道往往指第一个导通的信号传输通道，以第一个导通的信号传输通道为参照，按照通道的排列顺序，可以确定信号传输通道的导通顺序，例如，信号传输通道按照从左往右排列，目标信号传输通道为左起第一个，那么导通顺序可以设定为从左到右依次导通，本实施例对此不做限定。

步骤302，根据导通顺序，依次控制信号传输通道导通。

在本实施例中，根据确定好的导通顺序，信号测试装置依次控制信号传输通道导通或断开，来使得各个信号传输通道的测试信号输出至测试设备中，得到各个信号传输通道的信号测试结果。

在本实施例中，信号测试装置可以根据脚本中设定的各个信号传输通道的导通顺序，对信号测试装置中的各个信号传输通道进行导通控制，实现各个信号传输通道中信号的输出，提高了多通道信号测试的测试效率。

上述实施例提供的信号测试方法，其实现原理和技术效果与上述信号测试装置实施例类似，在此不再赘述。

应该理解的是，虽然图6-7的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图6-7中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

根据预设的测试指令，确定的信号测试装置中射频RF矩阵组件的目标信号传输通道；

控制信号传输通道导通，通过目标信号传输通道将测试信号输出至测试设备中。

上述实施例提供的计算机可读存储介质，其实现原理和技术效果与上述方法实施例类似，在此不再赘述。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、磁带、软盘、闪存或光存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)或外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory，DRAM)等。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种信号测试装置，其特征在于，所述信号测试装置包括：控制组件、射频RF矩阵组件、第一转接组件和第二转接组件；所述RF矩阵组件包括第一RF切换矩阵和第二RF切换矩阵；所述第一RF切换矩阵包括多个第一信号传输通道，所述第二RF切换矩阵包括多个第二信号传输通道；所述第一信号传输通道和对应的第二信号传输通道连接；所述RF矩阵组件中的信号通道的总数量大于预设阈值；所述第一转接组件与待测试设备连接，所述第二转接组件与测试设备连接；

所述控制组件，用于根据待测试信号通道的数量，控制相应数量的所述第一信号传输通道和对应的第二信号传输通道导通，使得各导通的传输通道通过所述第一转接组件获取测试信号，并将所述测试信号通过所述第二转接组件输出至测试设备中，使所述测试设备对所述待测试设备输出的测试信号进行多通道信号测试；所述第一转接组件为高速转接器，所述第二转接组件为高速转接器。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一RF切换矩阵包括第一开关和至少两个第一通路组件，所述第二RF切换矩阵包括第二开关和至少两个第二通路组件，所述第一通路组件和所述第二通路组件中均包括多个信号传输通道，且所述第一通路组件的各所述信号传输通道与所述第二通路组件中相应的信号传输通道连接；

所述控制组件，用于根据所述待测试信号通道的数量，通过所述第一开关和所述第二开关控制所述第一通路组件和第二通路组件中的信号传输通道导通。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，各所述第一通路组件中的信号传输通道的数量相等，各所述第二通路组件中的信号传输通道的数量相等。

4.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述第一通路组件包括第三开关和分别与所述第三开关连接的多个第一转接器，所述第二通路组件包括第四开关和分别与所述第四开关连接的多个第二转接器，所述第三开关与所述第一开关连接，所述第四开关与所述第二开关连接，各所述第一转接器与对应的第二转接器连接；

所述控制组件，用于根据所述待测试信号通道的数量，通过所述第一开关和所述第三开关控制相应的第一转接器导通，以及根据所述待测试信号通道的数量通过所述第二开关和所述第四开关控制相应的第二转接器导通。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的装置，其特征在于，所述第一RF切换矩阵和所述第二RF切换矩阵为对称矩阵。

6.根据权利要求1-4中任一项所述的装置，其特征在于，所述第一RF切换矩阵和所述第二RF切换矩阵包括多个单刀多掷开关。

7.一种信号测试***，其特征在于，所述信号测试***包括：权利要求1-6所述的信号测试装置、待测试设备和测试设备；

所述测试设备，通过所述信号测试装置从所述待测试设备中获取测试信号，并根据所述测试信号进行信号测试。

8.一种信号测试方法，其特征在于，所述方法应用于权利要求1-6所述的信号测试装置中，所述方法包括：

根据预设的测试指令，确定所述的信号测试装置中射频RF矩阵组件的目标信号传输通道；

控制所述目标信号传输通道导通，通过所述目标信号传输通道将测试信号输出至测试设备中。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述RF矩阵组件包括多个信号传输通道；所述控制所述信号传输通道导通包括：

根据所述目标信号传输通道，确定所述RF矩阵组件中所有信号传输通道的导通顺序；

根据所述导通顺序，依次控制所述信号传输通道导通。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求8或9所述的方法的步骤。