CN114203080B - 阈值电压侦测方法、侦测装置及显示装置 - Google Patents
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Abstract
本申请提供的阈值电压侦测方法,通过新的侦测时序,实现在侦测过程中流过驱动晶体管的驱动电流恒定,然后通过迭代的方式,让驱动晶体管的漏极的电压经过多次迭代后,在侦测时间内均抬升至预设电压,从而得到目标阈值电压;这种方式下流过驱动晶体管的驱动电流不会像传统源跟随侦测方法一样随时间减小,并且电流大小可以通过侦测时间、预设电压来控制,所以在侦测中向侦测线路充电速度可以很快,进而提升驱动晶体管的目标阈值电压侦测效率,提升用户使用体验。
Description
技术领域
本申请涉及显示技术领域,具体涉及一种阈值电压侦测方法、侦测装置及显示装置。
背景技术
有机发光二极管显示装置按照驱动方式分为无源矩阵型和有源矩阵型两大类,即直接寻址和薄膜晶体管矩阵寻址两大类。在有源矩阵型这种驱动方式下,像素驱动电路设有用于驱动有机发光二极管发光的驱动晶体管。由于驱动晶体管工作在饱和区,流过驱动晶体管的电流大小会受到驱动晶体管自身的阈值电压以及迁移率的影响。因此为了保证有机发光二极管显示装置的显示亮度的均匀性,需要对不同子像素之间的阈值电压差异以及迁移率差异进行补偿。
传统的阈值电压侦测方式采用的是给定驱动晶体管一个初始Vgs(栅源电压),然后利用源跟随的方式,保持驱动晶体管的栅极电压不变,让驱动晶体管的源极电压抬升至Vgs=Vth(驱动晶体管的阈值电压)状态,流过驱动晶体管的电流大小趋近于零,对此状态下的驱动晶体管的源极电压进行采样,计算出驱动晶体管的阈值电压,再将得到的阈值电压叠加至显示时的数据电压上,实现对阈值电压差异的补偿,消除由阈值电压差异导致的显示亮度不均匀性。
然而,随着侦测中Vgs的减小以及侦测线路的寄生电容远大于单个子像素的存储电容,驱动晶体管的源极电压的抬升越来越慢,如果要完全侦测出子像素的驱动晶体管的阈值电压,需要很长的时间。这在很大程度上会影响到工厂产能以及侦测设备的投入;另外因为阈值电压的侦测只能在黑画面下进行,所以用户开机前或关机后的待机时间会变长,极大影响用户使用体验。
发明内容
本申请提供一种阈值电压侦测方法,可以缩短驱动晶体管的阈值电压侦测时间,进而提升驱动晶体管的阈值电压侦测效率,提升用户使用体验。
第一方面,本申请提供一种阈值电压侦测方法,其包括:
步骤S1、提供像素,所述像素包括驱动晶体管、第一晶体管、第二晶体管、电容及发光元件;所述驱动晶体管的栅极与第一节点电连接,所述驱动晶体管的源极与漏极中的一者与第一电源电连接,所述驱动晶体管的源极与漏极中的另一者与第二节点电连接;所述第一晶体管的栅极与扫描线电连接,所述第一晶体管的源极与漏极中的一者与数据线电连接,所述第一晶体管的源极与漏极中的另一者与所述第一节点电连接;所述第二晶体管的栅极与控制线电连接,所述第二晶体管的源极与漏极中的一者与所述第二节点电连接,所述第二晶体管的源极与漏极中的另一者与采样线电连接;所述电容的第一端与所述第一节点电连接,所述电容的第二端与所述第二节点电连接;
步骤S2、初始化所述第一节点的电压,以使得所述驱动晶体管导通;
步骤S3、维持流经所述驱动晶体管的驱动电流不变,且间隔预设时间段后,对所述第二节点的电压进行侦测;
步骤S4、根据所述第二节点的电压以及预设电压得到初始阈值电压;
步骤S5、将所述第二节点的电压与预设电压进行比较,若所述第二节点的电压等于所述预设电压,则根据所述初始阈值电压得到目标阈值电压。
在本申请提供的阈值电压侦测方法中,所述阈值电压侦测方法还包括:若所述第二节点的电压不等于所述预设电压,则返回步骤S2。
在本申请提供的阈值电压侦测方法中,所述步骤S2具体包括:所述扫描线供应扫描信号,使得所述第一晶体管导通,所述数据线供应初始栅极电压至所述第一节点;其中,
Vdatan=Vdatan-1+Vthn-1,n表示初始化的次数,Vdatan表示第n次初始化所述第一节点时的初始栅极电压,Vdatan-1表示第n-1次初始化所述第一节点时的初始栅极电压,Vthn-1表示对所述第二节点的电压进行第n-1次侦测时的初始阈值电压,n为大于1的整数。
在本申请提供的阈值电压侦测方法中,当第1次初始化所述第一节点时,所述步骤S2具体包括:所述述扫描线供应扫描信号,使得所述第一晶体管导通,所述数据线供应预设栅极电压至所述第一节点;所述控制线供应侦测控制信号,使得所述第二晶体管导通,所述采样线供应预设漏极电压至所述第二节点。
在本申请提供的阈值电压侦测方法中,所述预设电压大于所述预设漏极电压,且所述预设栅极电压与所述预设漏极电压之间的差值大于所述驱动晶体管的阈值电压。
在本申请提供的阈值电压侦测方法中,所述步骤S3具体包括:控制所述第一晶体管截止,控制所述第二晶体管导通,控制所述采样线处于浮空状态,以维持流经所述驱动晶体管的驱动电流不变;间隔预设时间段,通过所述采样线对所述第二节点的电压进行侦测。
在本申请提供的阈值电压侦测方法中,所述步骤S4具体包括:计算得到初始阈值电压Vthn=(Vtrg-Vsn)*k,其中,Vtrg为所述预设电压,Vsn表示对所述第二节点进行第n次侦测时的第二节点的电压,Vthn表示对所述第二节点的电压进行第n次侦测时的初始阈值电压,k为常数,n为大于0的整数。
在本申请提供的阈值电压侦测方法中,其特征在于,所述k的值介于0至1之间。
在本申请提供的阈值电压侦测方法中,所述若所述第二节点的电压等于所述预设电压,则根据所述初始阈值电压得到目标阈值电压的步骤,具体包括:获取多个所述初始阈值电压,并将多个所述初始阈值电压进行求和运算,以获得目标阈值电压。
在本申请提供的阈值电压侦测方法中,所述阈值电压侦测方法还包括:根据不同的所述像素的目标阈值电压之间的差值得到不同的所述像素的阈值电压之间的差异。
第二方面,本申请还提供一种阈值电压装置装置,包括:
像素,所述像素包括驱动晶体管、第一晶体管、第二晶体管、电容及发光元件;所述驱动晶体管的栅极与第一节点电连接,所述驱动晶体管的源极与漏极中的一者与第一电源电连接,所述驱动晶体管的源极与漏极中的另一者与第二节点电连接;所述第一晶体管的栅极与扫描线电连接,所述第一晶体管的源极与漏极中的一者与数据线电连接,所述第一晶体管的源极与漏极中的另一者与所述第一节点电连接;所述第二晶体管的栅极与控制线电连接,所述第二晶体管的源极与漏极中的一者与所述第二节点电连接,所述第二晶体管的源极与漏极中的另一者与采样线电连接;所述电容的第一端与所述第一节点电连接,所述电容的第二端与所述第二节点电连接;
初始化模块,所述初始化模块用于初始化所述第一节点的电压,以使得所述驱动晶体管导通;
侦测模块,所述侦测模块用于维持流经所述驱动晶体管的驱动电流不变,且间隔预设时间段后,对所述第二节点的电压进行侦测;
获取模块,所述获取模块用于根据所述第二节点的电压以及预设电压得到初始阈值电压;
比较模块,所述比较模块用于将所述第二节点的电压与预设电压进行比较;
计算模块,所述计算模块用于若所述第二节点的电压等于所述预设电压,则根据所述初始阈值电压得到目标阈值电压。
在本申请提供的阈值电压侦测装中,所述阈值电压侦测装置还包括:返回模块,所述返回模块用于若所述第二节点的电压不等于所述预设电压,则使得所述初始化模块继续初始化所述第一节点的电压,以使得所述驱动晶体管导通。
第三方面,本申请还提供一种显示装置,其包括以上所述的阈值电压侦测装置。
本申请提供的阈值电压侦测方法,通过新的侦测时序,实现在侦测过程中流过驱动晶体管的驱动电流恒定,然后通过迭代的方式,让驱动晶体管的漏极的电压经过多次迭代后,在侦测时间内均抬升至预设电压,从而得到目标阈值电压;这种方式下流过驱动晶体管的驱动电流不会像传统源跟随侦测方法一样随时间减小,并且电流大小可以通过侦测时间、预设电压来控制,所以在侦测中向侦测线路充电速度可以很快,进而提升驱动晶体管的目标阈值电压侦测效率,提升用户使用体验。
附图说明
图1为本申请实施例提供的阈值电压侦测方法的流程示意图;
图2为本申请实施例提供的像素的等效电路示意图;
图3为图2所示的像素的等效电路的时序示意图;
图4为本申请实施例提供的二分法迭代计算说明示意图;
图5为本申请实施例提供的二分法迭代计算与常规迭代计算的比较示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
此外,本申请的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象,而不是用于描述特定顺序。术语“包括”和“具有”以及它们任何变形,意图在于覆盖不排他的包含。由于本申请采用的晶体管的源极、漏极是对称的,所以其源极、漏极是可以互换的。按附图中的形态规定晶体管的中间端为栅极、信号输入端为源极、输出端为漏极。
请参阅图1,图1为本申请实施例提供的阈值电压侦测方法的流程示意图。如图1所示,本申请实施例提供的阈值电压侦测方法,包括以下步骤:
步骤S1、提供像素;像素包括驱动晶体管、第一晶体管、第二晶体管、电容及发光元件;驱动晶体管的栅极与第一节点电连接,驱动晶体管的源极与漏极中的一者与第一电源电连接,驱动晶体管的源极与漏极中的另一者与第二节点电连接;第一晶体管的栅极与扫描线电连接,第一晶体管的源极与漏极中的一者与数据线电连接,第一晶体管的源极与漏极中的另一者与第一节点电连接;第二晶体管的栅极与控制线电连接,第二晶体管的源极与漏极中的一者与第二节点电连接,第二晶体管的源极与漏极中的另一者与采样线电连接;电容的第一端与第一节点电连接,电容的第二端与第二节点电连接。
需要说明的是,本申请实施例提供的像素仅仅只是一种示例,本领域技术人员可以根据具体需要对像素进行设置。也即,本申请实施例提供的像素不仅仅包括以上描述的器件,本申请实施例提供的像素还可以包括其他器件。比如:为了进一步提升对发光元件发光的控制,可以在第一电源和驱动晶体管之间设置一晶体管,和/或,在第二节点和发光元件之间可以设置一晶体管。
其中,驱动晶体管用于控制流经驱动晶体管及发光元件的驱动电流。第一晶体管用于在扫描线供应的扫描信号的控制下将数据线供应的电压供应至第一节点(驱动晶体管的栅极)。第二晶体管用于在控制线供应的控制信号的控制下将采样线供应的电压供应至第二节点(驱动晶体管的漏极);第二晶体管还用于在控制线供应的控制信号的控制下对与采样线电连接的第二节点进行侦测。发光元件可以是包括有机发光层的有机发光二极管,也可以是由无机材料形成的无机发光元件。
在一些实施例中,驱动晶体管、第一晶体管以及第二晶体管可以为低温多晶硅薄膜晶体管、氧化物半导体薄膜晶体管或非晶硅薄膜晶体管中的一种或者多种。本申请实施例提供的像素中的晶体管可以为同一种类型的晶体管,从而可以避免不同类型的晶体管之间的差异性对像素造成的影响。
本申请实施例提供的阈值电压侦测方法,利用迭代操作(多次对第一节点的电压进行初始化以及多次对第二节点的电压进行侦测),并结合新的侦测时序,实现对第二节点的电压的恒流侦测,从而可以大幅度提升侦测效率。
具体的,请参阅图2、图3,图2为本申请实施例提供的像素的等效电路示意图。图3为图2所示的像素的等效电路的时序示意图。
如图2所示,本申请实施例提供的像素包括驱动晶体管DT、第一晶体管T1、第二晶体管T2、电容Cst及发光元件D。驱动晶体管DT的栅极与第一节点g电连接,驱动晶体管DT的源极与漏极中的一者与第一电源ELVDD电连接,驱动晶体管DT的源极与漏极中的另一者与第二节点s电连接。第一晶体管T1的栅极与扫描线S1电连接,第一晶体管T1的源极与漏极中的一者与数据线DA电连接,第一晶体管T1的源极与漏极中的另一者与第一节点g电连接。第二晶体管T2的栅极与控制线S2电连接,第二晶体管T2的源极与漏极中的一者与第二节点s电连接,第二晶体管T2的源极与漏极中的另一者与采样线VS电连接;采样线VS与第一开关元件Samp的第一端电连接,第一开关元件Samp的第二端与侦测源ADC电连接;采样线VS与第二开关元件Spre的第一端电连接,第二开关元件Spre的第二端与初始电源Vprer电连接;电容Cst的第一端与第一节点g电连接,电容Cst的第二端与第二节点s电连接。
其中,第一开关元件Samp用于导通或者断开采样线VS与侦测源ADC之间的线路。第二开关元件Spre用于导通或者断开采样线VS与初始电源Vprer之间的线路。侦测源ADC用于侦测采样线VS上的电压。初始电源Vprer用于提供预设漏极电压至采样线VS。
结合图2、图3所示,像素的驱动时序包括多个迭代时间段t1(t2),每个迭代时间段t1(t2)均包括初始化时间段t11(t21)、预设时间段t12(t22)以及侦测时间段t13(t23)。比如:当第1次初始化、第1次对第二节点s的电压进行侦测时,第1个迭代时间段t1包括第1个初始化时段t11、第1个预设时间段t12以及第1个侦测时间段t13;当第2次初始化、第2次对第二节点的电压进行侦测时,第2个迭代时间段t2包括第2个初始化时段t21、第2个预设时间段t22以及第2个侦测时间段t23。
具体的,在第1个初始化时间段t11,扫描线S1供应扫描信号,使得第一晶体管T1导通,数据线DA供应的预设栅极电压供应至第一节点g,从而使得第一节点g的电压等于预设栅极电压;与此同时,在第1个初始化时段t11,控制线S2供应控制信号,使得第二晶体管T2导通,第一开关元件Samp截止,第二开关元件Spre导通,初始电源Vprer供应预设漏极电压至第二节点s,从而使得第二节点s的电压等于预设漏极电压。在第1个预设时间段t12,扫描线S1停止供应扫描信号,第一晶体管T1截止,从而使得第一节点g处于浮空状态;第一开关元件Samp截止以及第二开关元件Spre截止,控制线S2继续供应控制信号,第二晶体管T2导通,从而使得采样线VS处于浮空状态,此时,驱动电流给采样线VS充电,使得第二节点s的电压抬升。因为第一节点g处于浮空状态,根据电容耦合效应,电容Cst两端的电势差维持不变,即第一节点g与第二节点s之间的压差不变,因此流经驱动晶体管DT的驱动电流不变,实现恒流功能。在第1个侦测时间段t13,控制线S2继续供应控制信号,第二晶体管T2导通,第二开关元件Spre导通,侦测源ADC对第二节点s进行侦测。
具体的,在第2个初始化时间段t21,扫描线S1供应扫描信号,使得第一晶体管T1导通,数据线DA供应的预设栅极电压供应至第一节点g,从而使得第一节点g的电压等于预设栅极电压;与此同时,在第2个初始化时段t21,控制线S2供应控制信号,使得第二晶体管T2导通,第一开关元件Samp截止,第二开关元件Spre导通,初始电源Vprer供应预设漏极电压至第二节点s,从而使得第二节点s的电压等于预设漏极电压。在第2个预设时间段t22,扫描线S1停止供应扫描信号,第一晶体管T1截止,从而使得第一节点g处于浮空状态;第一开关元件Samp截止以及第二开关元件Spre截止,控制线S2继续供应控制信号,第二晶体管T2导通,从而使得采样线VS处于浮空状态,此时,驱动电流给采样线VS充电,使得第二节点s的电压抬升。因为第一节点g处于浮空状态,根据电容耦合效应,电容Cst两端的电势差维持不变,即第一节点g与第二节点s之间的压差不变,因此流经驱动晶体管DT的驱动电流不变,实现恒流功能。在第2个侦测时间段t23,控制线S2继续供应控制信号,第二晶体管T2导通,第二开关元件Spre导通,侦测源ADC对第二节点s进行侦测。
步骤S2、初始化第一节点的电压,以使得驱动晶体管导通。
其中,本申请实施例需要多次对第一节点g以及第二节点s进行初始化。需要说明的是,多次对第一节点g进行初始化之间是不连续的,且每次对第一节点g进行初始化的值均不相同;多次对第二节点s进行初始化之间是不连续的,且每次对第二节点s进行初始化的值均相同。比如:当对第一节点g进行第1次初始化后,先执行其他步骤,待其他步骤执行完后,可再对第一节点g进行第2次初始化,其中,对第一节点g进行第1次初始化后第一节点g的电压不等于对第一节点g进行第2次初始化后第一节点g的电压。当对第二节点s进行第1次初始化后,先执行其他步骤,待其他步骤执行完后,可再对第二节点s进行第2次初始化,其中,对第二节点s进行第1次初始化后第二节点s的电压等于对第二节点s进行第2次初始化后第二节点的电压。
具体的,当第1次初始化第一节点g时,步骤S2具体包括:扫描线S1供应扫描信号,使得第一晶体管T1导通,数据线DA供应预设栅极电压至第一节点g;控制线S2供应控制信号,使得第二晶体管T2导通,采样线VS供应预设漏极电压至第二节点s。当第n次初始化第一节点g时,步骤S2具体包括:扫描线供S1应扫描信号,使得第一晶体管T1导通,数据线DA供应初始栅极电压至第一节点g;其中,Vdatan=Vdatan-1+Vthn-1,n表示初始化的次数,Vdatan表示第n次初始化第一节点时的初始栅极电压,Vdatan-1表示第n-1次初始化第一节点时的初始栅极电压,Vthn-1表示对第二节点的电压进行第n-1次侦测时的初始阈值电压,n为大于1的整数。
在本申请实施例中,对第一节点g进行第1次初始化后第一节点g的电压为预设栅极电压,预设电压可以根据需要进行设定。对第一节点g进行第n次初始化后第一节点g的电压可以根据以上公式计算得到。对第二节点s进行初始化后第二节点s的电压等于预设漏极电压,预设漏极电压可以根据需要进行设定。
在本申请实施例中,预设栅极电压与预设漏极电压之间的差值大于驱动晶体管DT的阈值电压,初始栅极电压与预设漏极电压之间的差值大于驱动晶体管DT的阈值电压,当第一节点g和第二节点s进行初始化后,可以使得驱动晶体管DT导通。
步骤S3、维持流经驱动晶体管的驱动电流不变,且间隔预设时间段后,对第二节点的电压进行侦测。
其中,本申请实施例需要多次对第二节点s的电压进行侦测。需要说明的是,多次对第二节点s的电压进行侦测之间是不连续的。比如:当对第二节点s的电压进行第1次侦测后,先执行其他步骤,待其他步骤执行完后,可再对第二节点s的电压进行第2次侦测。
具体的,步骤S3具体包括:控制第一晶体管T1截止,控制第二晶体管T2导通,控制采样线VS处于浮空状态,以维持流经驱动晶体管DT的驱动电流不变;间隔预设时间段,通过采样线VS对第二节点s的电压进行侦测。第一晶体管T1截止,使得第一节点g处于浮空状态;第二晶体管T2导通,采样线VS处于浮空状态,此时,驱动电流给采样线vs充电,使得第二节点s的电压抬升。因为第一节点g处于浮空状态,根据电容耦合效应,电容Cst两端的电势差维持不变,即第一节点g与第二节点s之间的压差不变,因此流经驱动晶体管DT的驱动电流不变,实现恒流功能。
步骤S4、根据第二节点的电压以及预设电压得到初始阈值电压。
其中,本申请实施例需要得到多个初始阈值电压。比如:当对第二节点s的电压进行第1次侦测后,根据第1次侦测后的第二节点s的电压以及预设电压得到第1个初始阈值电压;当对第二节点s的电压进行第2次侦测后,根据第1次侦测后的第二节点s的电压以及预设电压得到第2个初始阈值电压。
具体的,步骤S4包括:计算得到初始阈值电压Vthn=(Vtrg-Vsn)*k,其中,Vtrg为预设电压,Vsn表示对第二节点进行第n次侦测时的第二节点的电压,Vthn表示对所述第二节点的电压进行第n次侦测时的初始阈值电压,k为常数,n为大于0的整数。
需要说明的是,在本申请实施例中,由于流经驱动晶体管DT的驱动电流恒流的特性,当侦测条件以及驱动晶体管DT的自身特性满足一定条件时,将会导致迭代侦测得到的第二节点S的电压关于预设电压高低波动,无法实现收敛或需要更多的迭代次数来达到侦测得到的第二节点S的电压收敛于预设电压。基于此,本申请实施例利用二分法思想实现进一步提升侦测效率及改善侦测结果不收敛情况。具体如下:
请请参图4,图4为本申请实施例提供的二分法迭代计算说明示意图。如图4所示,随着对第二节点S的电压迭代侦测的进行,当各电压关系满足一定条件时,每次迭代侦测得到的第二节点S的电压将关于预设电压上下波动。此时电压与电流的关系满足如下公式所示:
即,Vsn-1+Vsn=2Vtrg。
当满足上述等式关系时,继续迭代侦测第二节点s的电压将难以收敛至预设电压,或接近这一关系时,收敛速度将会减慢。为了避免这一情况发生,并加速迭代的完成,需要改变计算过程来打破物理条件的平衡状态(即让上述等式不满足),于是根据二分法思想引入了系数项k。
二分法的数学定义是:对于区间[a,b]上连续不断且f(a)*f(b)<0的函数y=f(x),通过不断地把函数f(x)的零点所在的区间一分为二,使区间的两个端点逐步逼近零点,进而得到零点近似值的方法叫二分法。利用二分法思想,当Vs=Vtrg时就是函数的零点,此时的Vg电压是我们需要求的解,不断地迭代过程就是逐渐缩小解的区间的过程,缩小的方式就是给Vgn-1叠加每次迭代计算出的Vthn,当给Vthn乘上系数k(0<k<1),因为Vgn=Vgn-1+Vthn,所以通过系数k改变Vthn的值就是改变Vgn,Vgn的不断变更就能打破等式的平衡,从而实现逐步向真实解逼近。
也即,在本申请实施例中,k的值介于0-1之间。k的数值大小与迭代收敛的速度直接相关,过小或过大都将增加迭代次数。
在一些实施例中,k的值可以为0.4、0.5、0.6、0.7。
比如:请参阅图5,图5为本申请实施例提供的二分法迭代计算与常规迭代计算的比较示意图。如图5所示,当预设电压等于2.5V时,采用二分法迭代计算相较于常规迭代计算,能够加速迭代收敛;当预设电压等于4V时,采用二分法迭代计算相较于常规迭代计算,迭代不收敛异常可以得到解决。也即,本申请实施例可以通过设置k的取值以及预设电压的取值,从而进一步解决迭代不收敛的问题。在一种实施方式中,k的值等于0.5,预设电压的值等于2.5V。在另一种实施方式中,k的值等于0.5,预设电压的值等于4V。
在本申请实施例中,预设电压大于预设漏极电压,从而可以决定侦测时流过驱动晶体管的驱动电流大小,预设电压,驱动电流越大,对采样线的充电速度越快,从而可以缩短侦预设时间段,进一步提高侦测效率。
步骤S5、将第二节点的电压与预设电压进行比较,若第二节点的电压等于预设电压,则根据初始阈值电压得到目标阈值电压。
进一步的,该阈值电压侦测方法还包括:若第二节点的电压不等于预设电压,则返回步骤S2。
其中,将第二节点S的电压与预设电压比较,若第二节点S的电压不等于预设电压。也即,在本申请实施例提供的阈值电压侦测方法中,先执行步骤S1,接着执行步骤S2,再接着执行步骤S3,紧接着执行步骤S4,若第二节点的电压不等于预设电压,则继续执行步骤S2、步骤S3以及步骤S4,直至第二节点的电压等于预设电压,则根据初始阈值电压得到目标阈值电压。
具体的,若第二节点S的电压等于预设电压,则根据初始阈值电压得到目标阈值电压的步骤,具体包括:获取多个初始阈值电压,并将多个初始阈值电压进行求和运算,以获得目标阈值电压。
本申请提供的阈值电压侦测方法,通过新的侦测时序,实现在侦测过程中流过驱动晶体管的驱动电流恒定,然后通过迭代的方式,让驱动晶体管的漏极的电压经过多次迭代后,在侦测时间内均抬升至预设电压,从而得到目标阈值电压;这种方式下流过驱动晶体管的驱动电流不会像传统源跟随侦测方法一样随时间减小,并且电流大小可以通过侦测时间、预设电压来控制,所以在侦测中向侦测线路充电速度可以很快,进而提升驱动晶体管的目标阈值电压侦测效率,提升用户使用体验。
进一步的本申请实施例提供的阈值电压侦测方法还包括:根据不同的像素的目标阈值电压之间的差值得到不同的像素的阈值电压之间的差异信息的值。
需要说明的是,计算得到的目标阈值电压并非驱动晶体管的真实阈值电压,而是包含不同驱动晶体管真实阈值电压差异信息的值,虽然不是真实的阈值电压,但在补偿时因为可以消除阈值电压差异,所以同样可以达到消除显示不均的目的。
本申请提供的阈值电压侦测方法,通过新的侦测时序,实现在侦测过程中流过驱动晶体管的驱动电流恒定,然后通过迭代的方式,让驱动晶体管的漏极的电压经过多次迭代后,在侦测时间内均抬升至预设电压,从而得到目标阈值电压;这种方式下流过驱动晶体管的驱动电流不会像传统源跟随侦测方法一样随时间减小,并且电流大小可以通过侦测时间、预设电压来控制,所以在侦测中向侦测线路充电速度可以很快,进而提升驱动晶体管的目标阈值电压侦测效率,提升用户使用体验;同时可以在补偿时消除阈值电压差异,达到消除显示不均的目的。
本申请实施例还提供一种阈值电压侦测装置,其包括:
像素,所述像素包括驱动晶体管、第一晶体管、第二晶体管、电容及发光元件;所述驱动晶体管的栅极与第一节点电连接,所述驱动晶体管的源极与漏极中的一者与第一电源电连接,所述驱动晶体管的源极与漏极中的另一者与第二节点电连接;所述第一晶体管的栅极与扫描线电连接,所述第一晶体管的源极与漏极中的一者与数据线电连接,所述第一晶体管的源极与漏极中的另一者与所述第一节点电连接;所述第二晶体管的栅极与控制线电连接,所述第二晶体管的源极与漏极中的一者与所述第二节点电连接,所述第二晶体管的源极与漏极中的另一者与采样线电连接;所述电容的第一端与所述第一节点电连接,所述电容的第二端与所述第二节点电连接;
初始化模块,所述初始化模块用于初始化所述第一节点的电压,以使得所述驱动晶体管导通;
侦测模块,所述侦测模块用于维持流经所述驱动晶体管的驱动电流不变,且间隔预设时间段后,对所述第二节点的电压进行侦测;
获取模块,所述获取模块用于根据所述第二节点的电压以及预设电压得到初始阈值电压;
比较模块,所述比较模块用于将所述第二节点的电压与预设电压进行比较;
返回模块,所述返回模块用于若所述第二节点的电压不等于所述预设电压,则使得所述初始化模块继续初始化所述第一节点的电压,以使得所述驱动晶体管导通;
计算模块,所述计算模块用于若所述第二节点的电压等于所述预设电压,则根据所述初始阈值电压得到目标阈值电压。
需要说明的是,本申请实施例提供的阈值电压侦测装置采用以上所述的阈值电压侦测方法,具体可参照以上描述,在此不做赘述。
本申请提供的阈值电压侦测装置,通过新的侦测时序,实现在侦测过程中流过驱动晶体管的驱动电流恒定,然后通过迭代的方式,让驱动晶体管的漏极的电压经过多次迭代后,在侦测时间内均抬升至预设电压,从而得到目标阈值电压;这种方式下流过驱动晶体管的驱动电流不会像传统源跟随侦测方法一样随时间减小,并且电流大小可以通过侦测时间、预设电压来控制,所以在侦测中向侦测线路充电速度可以很快,进而提升驱动晶体管的目标阈值电压侦测效率,提升用户使用体验;同时可以在补偿时消除阈值电压差异,达到消除显示不均的目的。
本申请实施例还提供一种显示装置,其包括以上所述的阈值电压侦测装置,具体可参照以上描述,在此不做赘述。
本申请提供的显示装置,通过新的侦测时序,实现在侦测过程中流过驱动晶体管的驱动电流恒定,然后通过迭代的方式,让驱动晶体管的漏极的电压经过多次迭代后,在侦测时间内均抬升至预设电压,从而得到目标阈值电压;这种方式下流过驱动晶体管的驱动电流不会像传统源跟随侦测方法一样随时间减小,并且电流大小可以通过侦测时间、预设电压来控制,所以在侦测中向侦测线路充电速度可以很快,进而提升驱动晶体管的目标阈值电压侦测效率,提升用户使用体验;同时可以在补偿时消除阈值电压差异,达到消除显示不均的目的。
以上仅为本申请的实施例,并非因此限制本申请的专利范围,凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本申请的专利保护范围内。
Claims (11)
1.一种阈值电压侦测方法,其特征在于,包括:
步骤S1、提供像素,所述像素包括驱动晶体管、第一晶体管、第二晶体管、电容及发光元件;所述驱动晶体管的栅极与第一节点电连接,所述驱动晶体管的源极与漏极中的一者与第一电源电连接,所述驱动晶体管的源极与漏极中的另一者与第二节点电连接;所述第一晶体管的栅极与扫描线电连接,所述第一晶体管的源极与漏极中的一者与数据线电连接,所述第一晶体管的源极与漏极中的另一者与所述第一节点电连接;所述第二晶体管的栅极与控制线电连接,所述第二晶体管的源极与漏极中的一者与所述第二节点电连接,所述第二晶体管的源极与漏极中的另一者与采样线电连接;所述电容的第一端与所述第一节点电连接,所述电容的第二端与所述第二节点电连接;
步骤S2、初始化所述第一节点的电压,以使得所述驱动晶体管导通;其中,所述扫描线供应扫描信号,使得所述第一晶体管导通,所述数据线供应初始栅极电压至所述第一节点;Vdatan=Vdatan-1+Vthn-1,n表示初始化的次数,Vdatan表示第n次初始化所述第一节点时的初始栅极电压,Vdatan-1表示第n-1次初始化所述第一节点时的初始栅极电压,Vthn-1表示对所述第二节点的电压进行第n-1次侦测时的初始阈值电压,n为大于1的整数;
步骤S3、维持流经所述驱动晶体管的驱动电流不变,且间隔预设时间段后,对所述第二节点的电压进行侦测;
步骤S4、根据所述第二节点的电压以及预设电压得到初始阈值电压;
步骤S5、将所述第二节点的电压与预设电压进行比较,若所述第二节点的电压等于所述预设电压,则根据所述初始阈值电压得到目标阈值电压;若所述第二节点的电压不等于所述预设电压,则返回步骤S2。
2.根据权利要求1所述的阈值电压侦测方法,其特征在于,当第1次初始化所述第一节点时,所述步骤S2具体包括:所述扫描线供应扫描信号,使得所述第一晶体管导通,所述数据线供应预设栅极电压至所述第一节点;所述控制线供应侦测控制信号,使得所述第二晶体管导通,所述采样线供应预设漏极电压至所述第二节点。
3.根据权利要求2所述的阈值电压侦测方法,其特征在于,所述预设电压大于所述预设漏极电压,且所述预设栅极电压与所述预设漏极电压之间的差值大于所述驱动晶体管的阈值电压。
4.根据权利要求1所述的阈值电压侦测方法,其特征在于,所述步骤S3具体包括:控制所述第一晶体管截止,控制所述第二晶体管导通,控制所述采样线处于浮空状态,以维持流经所述驱动晶体管的驱动电流不变;间隔预设时间段,通过所述采样线对所述第二节点的电压进行侦测。
5.根据权利要求1所述的阈值电压侦测方法,其特征在于,所述步骤S4具体包括:计算得到初始阈值电压Vthn=(Vtrg-Vsn)*k,其中,Vtrg为所述预设电压,Vsn表示对所述第二节点进行第n次侦测时的第二节点的电压,Vthn表示对所述第二节点的电压进行第n次侦测时的初始阈值电压,k为常数,n为大于0的整数。
6.根据权利要求5所述的阈值电压侦测方法,其特征在于,所述k的值介于0至1之间。
7.根据权利要求1所述的阈值电压侦测方法,其特征在于,所述若所述第二节点的电压等于所述预设电压,则根据所述初始阈值电压得到目标阈值电压的步骤,具体包括:获取多个所述初始阈值电压,并将多个所述初始阈值电压进行求和运算,以获得目标阈值电压。
8.根据权利要求1所述的阈值电压侦测方法,其特征在于,所述阈值电压侦测方法还包括:根据不同的所述像素的目标阈值电压之间的差值得到不同的所述像素的阈值电压之间的差异信息的值。
9.一种阈值电压侦测装置,其特征在于,包括:
像素,所述像素包括驱动晶体管、第一晶体管、第二晶体管、电容及发光元件;所述驱动晶体管的栅极与第一节点电连接,所述驱动晶体管的源极与漏极中的一者与第一电源电连接,所述驱动晶体管的源极与漏极中的另一者与第二节点电连接;所述第一晶体管的栅极与扫描线电连接,所述第一晶体管的源极与漏极中的一者与数据线电连接,所述第一晶体管的源极与漏极中的另一者与所述第一节点电连接;所述第二晶体管的栅极与控制线电连接,所述第二晶体管的源极与漏极中的一者与所述第二节点电连接,所述第二晶体管的源极与漏极中的另一者与采样线电连接;所述电容的第一端与所述第一节点电连接,所述电容的第二端与所述第二节点电连接;
初始化模块,所述初始化模块用于初始化所述第一节点的电压,以使得所述驱动晶体管导通;
侦测模块,所述侦测模块用于维持流经所述驱动晶体管的驱动电流不变,且间隔预设时间段后,对所述第二节点的电压进行侦测;
获取模块,所述获取模块用于根据所述第二节点的电压以及预设电压得到初始阈值电压;
比较模块,所述比较模块用于将所述第二节点的电压与预设电压进行比较;
计算模块,所述计算模块用于若所述第二节点的电压等于所述预设电压,则根据所述初始阈值电压得到目标阈值电压。
10.根据权利要求9所述的阈值电压侦测装置,其特征在于,所述阈值电压侦测装置还包括:返回模块,所述返回模块用于若所述第二节点的电压不等于所述预设电压,则使得所述初始化模块继续初始化所述第一节点的电压,以使得所述驱动晶体管导通。
11.一种显示装置,其特征在于,所述显示装置包括权利要求9-10任一项所述的阈值电压侦测装置。
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