CN114168440A - 一种元数据采集的性能测试方法、装置、设备和介质 - Google Patents

一种元数据采集的性能测试方法、装置、设备和介质 Download PDF

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CN114168440A CN202111336346.5A CN202111336346A CN114168440A CN 114168440 A CN114168440 A CN 114168440A CN 202111336346 A CN202111336346 A CN 202111336346A CN 114168440 A CN114168440 A CN 114168440A
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Abstract

本发明公开了一种元数据采集的性能测试方法、装置、设备和介质,由于该方法中根据接收到的性能测试指令中包含的目标元数据数量,随机生成所述目标元数据数量的元数据;创建待采集所述元数据的采集配置信息并发送给元数据采集设备,使所述元数据采集设备根据所述采集配置信息采集目标元数据,接收所述元数据采集设备发送的采集所述目标元数据时的性能指标。由于本发明实施例中可以自动随机生成目标元数据数量的元数据,创建元数据的采集配置信息发送给元数据采集设备,并接收元数据采集设备发送的性能指标,不需要人工参与元数据采集的性能测试过程,从而提高了进行元数据采集的性能测试的自动化程度。

Description

一种元数据采集的性能测试方法、装置、设备和介质
技术领域
本发明涉及性能测试技术领域,尤其涉及一种元数据采集的性能测试方法、装置、设备和介质。
背景技术
现有的测试技术包括功能测试和性能测试,功能测试一般采用数据驱动的方式,通过测试脚本参数化,从文件获取已准备的静态测试数据,基于浏览器自动化测试框架(selenium)、自动化测试工具(Unified Functional Testing,UFT)、发送请求的插件(Postman)等执行;而性能测试一般采用并发向服务端发送请求的方式,基于负载测试工具(LoadRunner)、软件压力测试工具(Jmeter)等执行。
现有技术中在进行元数据采集的性能测试时,由测试人员人工准备元数据,根据测试人员在元数据采集设备的业务***的操作指令,进行元数据采集任务,并由测试人员进行过程监控和异常日志记录等工作,因此现有技术中进行元数据采集的性能测试的自动化程度较低。
发明内容
本发明提供了一种元数据采集的性能测试方法、装置、设备和介质,用以解决现有技术中进行元数据采集的性能测试的自动化程度较低的问题。
本发明提供了一种元数据采集的性能测试方法,所述方法包括:
根据接收到的性能测试指令中包含的目标元数据数量,随机生成所述目标元数据数量的元数据;
创建待采集所述元数据的采集配置信息并发送给元数据采集设备,使所述元数据采集设备根据所述采集配置信息采集目标元数据,接收所述元数据采集设备发送的采集所述目标元数据时的性能指标。
进一步地,所述创建待采集所述元数据的采集配置信息并发送给元数据采集设备包括:
创建待采集所述元数据的目标数据类型、数据采集任务和在元数据采集设备中的采集后存储位置,调用元数据采集设备提供的接口,将所述采集后存储位置、所述目标数据类型和所述数据采集任务写入所述元数据采集设备。
进一步地,所述方法还包括:
根据所述性能测试指令中包含的性能指标条件、以及所述性能指标,判断所述性能指标是否满足所述性能指标条件;
若否,生成测试失败的测试记录;
若是,生成测试成功的测试记录。
进一步地,所述生成测试失败的测试记录之后,所述方法还包括:
将所述元数据被采集过程中生成的日志信息、运行信息写入到所述测试记录。
进一步地,所述性能指标包括响应状态码、响应时间、CPU利用率和内存使用率,所述根据所述性能测试指令中包含的性能指标条件、以及所述性能指标,判断所述性能指标是否满足所述性能指标条件包括:
若所述响应状态码与所述性能测试指令中包含的目标响应状态码相同、且所述响应时间、CPU利用率和内存使用率均不大于所述性能测试指令中包含的对应阈值,则确定所述性能指标满足所述性能测试指令中包含的性能指标条件,其中所述目标响应状态码表示所述元数据采集设备采集成功;
否则,确定所述性能指标不满足所述性能指标条件。
进一步地,所述方法还包括:
对测试次数进行更新,判断更新后的次数是否达到预设次数;
若否,清理所述采集配置信息,重新创建所述元数据的采集配置信息并发送给所述元数据采集设备,以对所述元数据采集设备重新进行测试;
若是,根据每一次执行时生成的每条测试记录,生成包含所述每条测试记录的测试报告并显示。
进一步地,所述将所述元数据被采集过程中生成的日志信息写入到所述测试记录包括:
根据预先保存的日志关键词、所述元数据被采集过程中生成的日志信息,确定所述日志信息中包含所述日志关键词的关键日志信息;
将所述关键日志信息写入到所述测试记录中。
进一步地,所述将所述元数据被采集过程中生成的运行信息写入到所述测试记录包括:
根据预先保存的类和方法信息、所述元数据被采集过程中生成的线程运行信息,确定所述线程运行信息中所述类和方法信息对应的线程核心运行信息;
将所述线程核心运行信息写入到所述测试记录中。
相应地,本发明提供了一种元数据采集的性能测试装置,所述装置包括:
生成模块,用于根据接收到的性能测试指令中包含的目标元数据数量,随机生成所述目标元数据数量的元数据;
处理模块,用于创建待采集所述元数据的采集配置信息并发送给元数据采集设备,使所述元数据采集设备根据所述采集配置信息采集目标元数据,接收所述元数据采集设备发送的采集所述目标元数据时的性能指标。
进一步地,所述处理模块,具体用于创建待采集所述元数据的目标数据类型、数据采集任务和在元数据采集设备中的采集后存储位置,调用元数据采集设备提供的接口,将所述采集后存储位置、所述目标数据类型和所述数据采集任务写入所述元数据采集设备。
进一步地,所述装置还包括:
判断模块,用于根据所述性能测试指令中包含的性能指标条件、以及所述性能指标,判断所述性能指标是否满足所述性能指标条件;若否,则触发所述生成模块执行生成测试失败的测试记录的步骤;若是,则触发所述生成模块执行生成测试成功的测试记录的步骤。
进一步地,所述装置还包括:
记录模块,用于所述生成模块生成测试失败的测试记录之后,将所述元数据被采集过程中生成的日志信息、运行信息写入到所述测试记录。
进一步地,所述判断模块,具体用于所述性能指标包括响应状态码、响应时间、CPU利用率和内存使用率,若所述响应状态码与所述性能测试指令中包含的目标响应状态码相同、且所述响应时间、CPU利用率和内存使用率均不大于所述性能测试指令中包含的对应阈值,则确定所述性能指标满足所述性能测试指令中包含的性能指标条件,其中所述目标响应状态码表示所述元数据采集设备采集成功;否则,确定所述性能指标不满足所述性能指标条件。
进一步地,所述判断模块,还用于对测试次数进行更新,判断更新后的次数是否达到预设次数;若否,触发所述处理模块执行清理所述采集配置信息,重新创建所述元数据的采集配置信息并发送给所述元数据采集设备,以对所述元数据采集设备重新进行测试的步骤;若是,触发所述生成模块执行根据每一次执行时生成的每条测试记录,生成包含所述每条测试记录的测试报告并显示的步骤。
进一步地,所述记录模块具体用于根据预先保存的日志关键词、所述元数据被采集过程中生成的日志信息,确定所述日志信息中包含所述日志关键词的关键日志信息;将所述关键日志信息写入到所述测试记录中。
进一步地,所述记录模块具体用于根据预先保存的类和方法信息、所述元数据被采集过程中生成的线程运行信息,确定所述线程运行信息中所述类和方法信息对应的线程核心运行信息;将所述线程核心运行信息写入到所述测试记录中。
相应地,本发明提供了一种电子设备,所述电子设备包括处理器和存储器,所述存储器用于存储程序指令,所述处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现上述元数据采集的性能测试方法中任一所述方法的步骤。
相应地,本发明提供了一种计算机可读存储介质,其存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述元数据采集的性能测试方法中任一所述方法的步骤。
本发明提供了一种元数据采集的性能测试方法、装置、设备和介质,由于该方法中根据接收到的性能测试指令中包含的目标元数据数量,随机生成所述目标元数据数量的元数据;创建待采集所述元数据的采集配置信息并发送给元数据采集设备,使所述元数据采集设备根据所述采集配置信息采集目标元数据,接收所述元数据采集设备发送的采集所述目标元数据时的性能指标。由于本发明实施例中可以自动随机生成目标元数据数量的元数据,创建元数据的采集配置信息发送给元数据采集设备,并接收元数据采集设备发送的性能指标,不需要人工参与元数据采集的性能测试过程,从而提高了进行元数据采集的性能测试的自动化程度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域的普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种元数据采集的性能测试方法的过程示意图;
图2为本发明实施例提供的一种元数据采集的性能测试方法的过程示意图;
图3为本申请提供的一种元数据采集的性能测试装置的结构示意图;
图4为本发明实施例提供的另一种元数据采集的性能测试装置的结构示意图;
图5为本申请提供的一种电子设备结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
为了提高进行元数据采集的性能测试的自动化程度,本发明实施例提供了一种元数据采集的性能测试方法、装置、设备和介质。
实施例1:
图1为本发明实施例提供的一种元数据采集的性能测试方法的过程示意图,该过程包括以下步骤:
S101:根据接收到的性能测试指令中包含的目标元数据数量,随机生成所述目标元数据数量的元数据。
本发明实施例提供的一种元数据采集的性能测试方法应用于电子设备,其中该电子设备可以是PC、平板电脑、智能终端、服务器等,其中该服务器可以是本地服务器、也可以是云端服务器。
为了实现对元数据采集的自动化性能测试,在本发明实施例中,首先要生成待采集的元数据。其中元数据是指描述数据的数据,主要是描述数据属性的信息,例如元数据是Oracle表的主键、外键和索引。
电子设备接收性能测试指令后,根据该性能测试指令中包含的目标元数据数量,随机生成目标元数据数量的元数据。具体的,可以是通过显示屏接收到对显示的性能测试的开始按钮或其他预设按钮的触发操作,或者是在显示屏上预设位置的按压、滑动、点击操作等;并接收到输入的目标元数据数量,或是接收到对显示的元数据数量的选择操作,确定测试指令中包含的目标原数据数量。
其中,该目标元数据数量是正整数,较佳的,为了提高元数据采集性能测试的准确性,该目标元数据数量的值较大,例如该目标元数据数量为150000。生成的目标元数据数量的元数据包括多种数据类型的元数据,例如包括Oracle中的元数据、关系型数据库管理***(MySQL)中的元数据、对象-关系数据库管理***(PostgreSQL)中的元数据、分布式存储***(Hbase)中的元数据。
S102:创建待采集所述元数据的采集配置信息并发送给元数据采集设备,使所述元数据采集设备根据所述采集配置信息采集目标元数据,接收所述元数据采集设备发送的采集所述目标元数据时的性能指标。
为了实现元数据采集设备对生成的元数据的采集,在本发明实施例中,创建待采集的元数据的采集配置信息,其中采集配置信息包括待采集的元数据的挂载点、目标数据类型和数据采集任务等。挂载点是指元数据在元数据采集设备中的采集后存储位置,数据采集任务包括采集时刻,采集循环次数等。
在创建待采集的元数据的采集配置信息后,为了使元数据采集设备进行采集,将该采集配置信息发送给元数据采集设备,使元数据采集设备根据采集配置信息采集目标元数据。具体的,可以是通过接口将该采集配置信息发送给元数据采集设备,也可以是采用局域网通信的方式将该采集配置信息发送给元数据采集设备,还可以是通过有线通信的方式将该采集配置信息发送给元数据采集设备,本发明实施例对此不做限制。
在元数据采集设备采集完目标元数据后,为了确定元数据采集设备采集元数据的性能,该电子设备监控元数据采集设备,并接收到元数据采集设备采集目标元数据时的性能指标。
由于本发明实施例中根据接收到的性能测试指令中包含的目标元数据数量,随机生成所述目标元数据数量的元数据;创建待采集所述元数据的采集配置信息并发送给元数据采集设备,使所述元数据采集设备根据所述采集配置信息采集目标元数据,接收所述元数据采集设备发送的采集所述目标元数据时的性能指标。由于本发明实施例中可以自动随机生成目标元数据数量的元数据,创建元数据的采集配置信息发送给元数据采集设备,并接收元数据采集设备发送的性能指标,不需要人工参与元数据采集的性能测试过程,从而提高了进行元数据采集的性能测试的自动化程度。
实施例2:
为了提高元数据采集的性能测试的自动化程度,在上述实施例的基础上,在本发明实施例中,所述创建待采集所述元数据的采集配置信息并发送给元数据采集设备包括:
创建待采集所述元数据的目标数据类型、数据采集任务和在元数据采集设备中的采集后存储位置,调用元数据采集设备提供的接口,将所述采集后存储位置、所述目标数据类型和所述数据采集任务写入所述元数据采集设备。
为了提高元数据采集的性能测试的自动化程度,在本发明实施例中,根据预先保存的元数据的每种数据类型,随机选择任一数据类型为目标数据类型,根据预先保存的元数据采集设备中的存储位置,随机选择任一存储位置为元数据的采集后存储位置,根据预先保存的参数创建数据采集任务。
电子设备调用元数据采集设备提供的接口,通过该接口提供的页面,将创建的采集后存储位置、目标数据类型和数据采集任务写入到元数据采集设备,从而使元数据采集设备可以根据数据采集任务采集目标数据类型的目标元数据,并将目标元数据保存在采集后存储位置。较佳的,在本发明实施例中,元数据采集设备提供的接口是restful接口。
实施例3:
为了提高进行元数据采集的性能测试的自动化程度,在上述各实施例的基础上,在本发明实施例中,所述方法还包括:
根据所述性能测试指令中包含的性能指标条件、以及所述性能指标,判断所述性能指标是否满足所述性能指标条件;
若否,生成测试失败的测试记录;
若是,生成测试成功的测试记录。
为了提高性能测试的自动化程度,在本发明实施例中,在接收到的性能指标后,电子设备还要根据性能指标生成测试是否成功的测试记录。
为了判断测试是否成功,在接收到的性能测试指令中,还包括有性能指标条件,根据接收到的性能指标以及性能指标条件,若性能指标满足性能指标条件,则生成测试成功的测试记录,若性能指标不满足性能指标条件,则生成测试失败的测试记录。
由于本发明实施例电子设备接收到多个性能指标,接收到的性能测试指令中包括每个性能指标对应的性能指标条件,为了确定测试是否成功,针对每个性能指标,判断该性能指标是否满足对应的性能指标条件,若每个性能指标均满足对应的性能指标条件,则生成测试成功的测试记录,若任意一个性能指标不满足对应的性能指标条件,则生成测试失败的测试记录。
实施例4:
为了提高进行元数据采集的性能测试的自动化程度,在上述各实施例的基础上,在本发明实施例中,所述生成测试失败的测试记录之后,所述方法还包括:
将所述元数据被采集过程中生成的日志信息、运行信息写入到所述测试记录。
为了提高进行元数据采集的性能测试的自动化程度,在本发明实施例中,元数据被采集过程中,电子设备自动生成有日志信息和运行信息。其中该日志信息包括业务***日志信息、测试方法日志信息;该运行信息包括线程运行信息和结构化查询语言(Structured Query Language,SQL)运行信息。
其中,线程运行信息是指电子设备借助堆栈跟踪工具(Jstack)进行线程(Dump)时的运行信息,SQL运行信息包括SQL语句、运行开始时间和运行持续时间。
在生成测试失败的测试记录后,为了方便分析测试失败的原因,还要将生成的日志信息和运行信息写入到测试记录中。
为了生成测试记录,在本发明实施例中,所述将所述元数据被采集过程中生成的日志信息写入到所述测试记录包括:
根据预先保存的日志关键词、所述元数据被采集过程中生成的日志信息,确定所述日志信息中包含所述日志关键词的关键日志信息;
将所述关键日志信息写入到所述测试记录中。
由于元数据被采集过程中生成的日志信息较为繁琐,为了生成测试记录并提高用户体验,在本发明实施例中,预先保存有日志关键词,根据元数据被采集过程中生成的日志信息以及日志关键词,对日志信息进行过滤,确定出日志信息中包含日志关键词的关键日志信息,并将关键日志信息写入到测试记录中。
为了生成测试记录,在本发明实施例中,所述将所述元数据被采集过程中生成的运行信息写入到所述测试记录包括:
根据预先保存的类和方法信息、所述元数据被采集过程中生成的线程运行信息,确定所述线程运行信息中所述类和方法信息对应的线程核心运行信息;
将所述线程核心运行信息写入到所述测试记录中。
由于元数据被采集过程中生成的线程运行信息内容较多,为了成测试记录并提高用户体验,在本发明实施例中,预先保存有类和方法信息,根据元数据被采集过程中生成的线程运行信息以及类和方法信息,确定出线程运行信息中类和方法信息对应的线程核心运行信息,并将线程核心运行信息写入到测试记录中。
实施例5:
为了判断性能指标是否满足性能指标条件,在上述各实施例的基础上,在本发明实施例中,所述性能指标包括响应状态码、响应时间、CPU利用率和内存使用率,所述根据所述性能测试指令中包含的性能指标条件、以及所述性能指标,判断所述性能指标是否满足所述性能指标条件包括:
若所述响应状态码与所述性能测试指令中包含的目标响应状态码相同、且所述响应时间、CPU利用率和内存使用率均不大于所述性能测试指令中包含的对应阈值,则确定所述性能指标满足所述性能测试指令中包含的性能指标条件,其中所述目标响应状态码表示所述元数据采集设备采集成功;
否则,确定所述性能指标不满足所述性能指标条件。
为了判断性能指标是否满足性能指标条件,在本发明实施例中,性能指标包括响应状态码、响应时间、CPU利用率和内存使用率,其中响应状态码用于表示元数据采集设备采集元数据是否成功,例如响应状态码包括0000和9999,若响应状态码为0000,则表示元数据采集设备采集元数据成功,若响应状态码为9999,则表示元数据采集设备采集元数据成功;响应时间是指元数据的采集结束时刻和采集开始时刻的间隔时长;CPU利用率是指元数据采集过程中占用的CPU资源与全部的CPU资源的比值;CPU使用率是指元数据采集过程中使用的内存大小与提供的全部内存大小的比值。
根据接收到的性能指标中的响应状态码、以及性能测试指令中包含的目标响应状态码,判断响应状态码与目标响应状态码是否相同,若响应状态码与目标响应状态码相同,则根据接收到的性能指标中的响应时间、CPU利用率和内存使用率、以及性能测试指令中包含的对应阈值,判断响应时间、CPU利用率和内存使用率是否均不大于对应阈值,则确定性能指标满足性能测试指令中包含的性能指标条件。
若响应状态码与目标响应状态码不相同、或者若响应时间大于对应的响应时间阈值、或者若CPU利用率大于对应的CPU利用率阈值、或者若内存使用率大于对应的内存使用率阈值,则确定性能指标不满足性能指标条件。
实施例6:
为了生成测试报告,在上述各实施例的基础上,在本发明实施例中,所述方法还包括:
对测试次数进行更新,判断更新后的次数是否达到预设次数;
若否,清理所述采集配置信息,重新创建所述元数据的采集配置信息并发送给所述元数据采集设备,以对所述元数据采集设备重新进行测试;
若是,根据每一次执行时生成的每条测试记录,生成包含所述每条测试记录的测试报告并显示。
为了生成测试报告,在本发明实施例中,电子设备保存有预设次数,并在进行预设次数后的元数据采集后,才能生成测试报告。因此该电子设备根据当前的测试次数,对该测试次数进行更新,即将当前的测试次数与1的和值作为更新后的次数,判断更新后的次数是否达到预设次数。
若更新后的次数未达到预设次数,则仍要进行下一次的元数据采集,因此该电子设备清理采集配置信息,其中清理的采集配置信息为上一次测试时生成的采集配置信息,重新创建元数据的采集配置信息并发送给元数据采集设备,以对元数据采集设备重现进行测试。
若更新后的次数达到预设次数,则根据每一次执行时生成的每条测试记录,生成包含每条测试记录的测试报告,并将包含每条测试记录的测试报告显示出来。具体的,即在显示屏上以文字形式显示测试报告。
实施例7:
下面通过一个具体的实施例对本发明的元数据采集的性能测试方法进行说明,图2为本发明实施例提供的一种元数据采集的性能测试方法的过程示意图,如图2所示,该方法包括以下步骤:
S201:根据接收到的性能测试指令中包含的目标元数据数量,随机生成所述目标元数据数量的元数据。
S202:创建待采集所述元数据的目标数据类型、数据采集任务和在元数据采集设备中的采集后存储位置,调用元数据采集设备提供的接口,将所述采集后存储位置、所述目标数据类型和所述数据采集任务写入所述元数据采集设备。
S203:接收元数据采集设备发送的采集目标元数据时的性能指标,其中性能指标包括响应状态码、响应时间、CPU利用率和内存使用率。
S204:根据性能测试指令中包含的性能指标条件和性能指标,判断性能指标是否满足所述性能指标条件;若否,则进行S205,若是,则进行S206。
S205:生成测试失败的测试记录,将所述元数据被采集过程中生成的日志信息、运行信息写入到所述测试记录,进入S207。
S206:生成测试成功的测试记录。
S207:对测试次数进行更新,判断更新后的次数是否达到预设次数,若否,则进行S208,若是,则进行S209。
S208:清理采集配置信息,进入S202。
S209:根据每一次执行时生成的每条测试记录,生成包含每条测试记录的测试报告并显示。
实施例8:
图3为本申请提供的一种元数据采集的性能测试装置的结构示意图,如图3所示,该装置包括:
生成模块301,用于根据接收到的性能测试指令中包含的目标元数据数量,随机生成所述目标元数据数量的元数据;
处理模块302,用于创建待采集所述元数据的采集配置信息并发送给元数据采集设备,使所述元数据采集设备根据所述采集配置信息采集目标元数据,接收所述元数据采集设备发送的采集所述目标元数据时的性能指标。
进一步地,所述处理模块,具体用于创建待采集所述元数据的目标数据类型、数据采集任务和在元数据采集设备中的采集后存储位置,调用元数据采集设备提供的接口,将所述采集后存储位置、所述目标数据类型和所述数据采集任务写入所述元数据采集设备。
进一步地,所述装置还包括:
判断模块,用于根据所述性能测试指令中包含的性能指标条件、以及所述性能指标,判断所述性能指标是否满足所述性能指标条件;若否,则触发所述生成模块执行生成测试失败的测试记录的步骤;若是,则触发所述生成模块执行生成测试成功的测试记录的步骤。
进一步地,所述装置还包括:
记录模块,用于所述生成模块生成测试失败的测试记录之后,将所述元数据被采集过程中生成的日志信息、运行信息写入到所述测试记录。
进一步地,所述判断模块,具体用于所述性能指标包括响应状态码、响应时间、CPU利用率和内存使用率,若所述响应状态码与所述性能测试指令中包含的目标响应状态码相同、且所述响应时间、CPU利用率和内存使用率均不大于所述性能测试指令中包含的对应阈值,则确定所述性能指标满足所述性能测试指令中包含的性能指标条件,其中所述目标响应状态码表示所述元数据采集设备采集成功;否则,确定所述性能指标不满足所述性能指标条件。
进一步地,所述判断模块,还用于对测试次数进行更新,判断更新后的次数是否达到预设次数;若否,触发所述处理模块执行清理所述采集配置信息,重新创建所述元数据的采集配置信息并发送给所述元数据采集设备,以对所述元数据采集设备重新进行测试的步骤;若是,触发所述生成模块执行根据每一次执行时生成的每条测试记录,生成包含所述每条测试记录的测试报告并显示的步骤。
进一步地,所述记录模块具体用于根据预先保存的日志关键词、所述元数据被采集过程中生成的日志信息,确定所述日志信息中包含所述日志关键词的关键日志信息;将所述关键日志信息写入到所述测试记录中。
进一步地,所述记录模块具体用于根据预先保存的类和方法信息、所述元数据被采集过程中生成的线程运行信息,确定所述线程运行信息中所述类和方法信息对应的线程核心运行信息;将所述线程核心运行信息写入到所述测试记录中。
图4为本发明实施例提供的另一种元数据采集的性能测试装置的结构示意图,如图4所示,该装置包括数据模块401,业务模块402、日志模块403和报告模块404。
数据模块401,用于根据接收到的性能测试指令中包含的目标元数据数量,随机生成所述目标元数据数量的元数据,以及清理采集配置信息,相当与本发明实施例中的生成模块301。
业务模块402,用于创建待采集的元数据的采集配置信息,调用元数据采集设备提供的接口,将采集配置信息写入元数据采集设备,相当于本发明实施例中的处理模块302。
日志模块403,用于根据预先保存的日志关键词、所述元数据被采集过程中生成的日志信息,确定所述日志信息中包含所述日志关键词的关键日志信息;根据预先保存的类和方法信息、所述元数据被采集过程中生成的线程运行信息,确定所述线程运行信息中所述类和方法信息对应的线程核心运行信息,还用于保存SQL运行信息,相当于本发明实施例中的记录模块。
报告模块404,用于生成测试记录、以及包含每条测试记录的测试报告,将元数据被采集过程中生成的日志信息、运行信息写入到测试失败的测试记录中,相当于本发明实施例中的生成模块和记录模块。
实施例9:
图5为本申请提供的一种电子设备结构示意图,在上述各实施例的基础上,本发明实施例还提供了一种电子设备,如图5所示,包括:处理器501、通信接口502、存储器503和通信总线504,其中,处理器501,通信接口502,存储器503通过通信总线504完成相互间的通信。
所述存储器503中存储有计算机程序,当所述程序被所述处理器501执行时,使得所述处理器501执行如下步骤:
根据接收到的性能测试指令中包含的目标元数据数量,随机生成所述目标元数据数量的元数据;
创建待采集所述元数据的采集配置信息并发送给元数据采集设备,使所述元数据采集设备根据所述采集配置信息采集目标元数据,接收所述元数据采集设备发送的采集所述目标元数据时的性能指标。
进一步地,所述处理器501具体用于所述创建待采集所述元数据的采集配置信息并发送给元数据采集设备包括:创建待采集所述元数据的目标数据类型、数据采集任务和在元数据采集设备中的采集后存储位置,调用元数据采集设备提供的接口,将所述采集后存储位置、所述目标数据类型和所述数据采集任务写入所述元数据采集设备。
进一步地,所述处理器501还用于根据所述性能测试指令中包含的性能指标条件、以及所述性能指标,判断所述性能指标是否满足所述性能指标条件;若否,生成测试失败的测试记录;若是,生成测试成功的测试记录。
进一步地,所述处理器501还用于所述生成测试失败的测试记录之后,将所述元数据被采集过程中生成的日志信息、运行信息写入到所述测试记录。
进一步地,所述处理器501具体用于所述性能指标包括响应状态码、响应时间、CPU利用率和内存使用率,所述根据所述性能测试指令中包含的性能指标条件、以及所述性能指标,判断所述性能指标是否满足所述性能指标条件包括:若所述响应状态码与所述性能测试指令中包含的目标响应状态码相同、且所述响应时间、CPU利用率和内存使用率均不大于所述性能测试指令中包含的对应阈值,则确定所述性能指标满足所述性能测试指令中包含的性能指标条件,其中所述目标响应状态码表示所述元数据采集设备采集成功;否则,确定所述性能指标不满足所述性能指标条件。
进一步地,所述处理器501还用于对测试次数进行更新,判断更新后的次数是否达到预设次数;若否,清理所述采集配置信息,重新创建所述元数据的采集配置信息并发送给所述元数据采集设备,以对所述元数据采集设备重新进行测试;若是,根据每一次执行时生成的每条测试记录,生成包含所述每条测试记录的测试报告并显示。
进一步地,所述处理器501具体用于所述将所述元数据被采集过程中生成的日志信息写入到所述测试记录包括:根据预先保存的日志关键词、所述元数据被采集过程中生成的日志信息,确定所述日志信息中包含所述日志关键词的关键日志信息;将所述关键日志信息写入到所述测试记录中。
进一步地,所述处理器501具体用于所述将所述元数据被采集过程中生成的运行信息写入到所述测试记录包括:根据预先保存的类和方法信息、所述元数据被采集过程中生成的线程运行信息,确定所述线程运行信息中所述类和方法信息对应的线程核心运行信息;将所述线程核心运行信息写入到所述测试记录中。
上述电子设备提到的通信总线可以是外设部件互连标准(Peripheral ComponentInterconnect,PCI)总线或扩展工业标准结构(Extended Industry StandardArchitecture,EISA)总线等。该通信总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示,图中仅用一条粗线表示,但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。
通信接口502用于上述电子设备与其他设备之间的通信。
存储器可以包括随机存取存储器(Random Access Memory,RAM),也可以包括非易失性存储器(Non-Volatile Memory,NVM),例如至少一个磁盘存储器。可选地,存储器还可以是至少一个位于远离前述处理器的存储装置。
上述处理器可以是通用处理器,包括中央处理器、网络处理器(NetworkProcessor,NP)等;还可以是数字指令处理器(Digital Signal Processing,DSP)、专用集成电路、现场可编程门陈列或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。
实施例10:
在上述各实施例的基础上,本申请还提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质内存储有可由处理器执行的计算机程序,当所述程序在所述处理器上运行时,使得所述处理器执行时实现如下步骤:
根据接收到的性能测试指令中包含的目标元数据数量,随机生成所述目标元数据数量的元数据;
创建待采集所述元数据的采集配置信息并发送给元数据采集设备,使所述元数据采集设备根据所述采集配置信息采集目标元数据,接收所述元数据采集设备发送的采集所述目标元数据时的性能指标。
进一步地,所述创建待采集所述元数据的采集配置信息并发送给元数据采集设备包括:
创建待采集所述元数据的目标数据类型、数据采集任务和在元数据采集设备中的采集后存储位置,调用元数据采集设备提供的接口,将所述采集后存储位置、所述目标数据类型和所述数据采集任务写入所述元数据采集设备。
进一步地,所述方法还包括:
根据所述性能测试指令中包含的性能指标条件、以及所述性能指标,判断所述性能指标是否满足所述性能指标条件;
若否,生成测试失败的测试记录;
若是,生成测试成功的测试记录。
进一步地,所述生成测试失败的测试记录之后,所述方法还包括:
将所述元数据被采集过程中生成的日志信息、运行信息写入到所述测试记录。
进一步地,所述性能指标包括响应状态码、响应时间、CPU利用率和内存使用率,所述根据所述性能测试指令中包含的性能指标条件、以及所述性能指标,判断所述性能指标是否满足所述性能指标条件包括:
若所述响应状态码与所述性能测试指令中包含的目标响应状态码相同、且所述响应时间、CPU利用率和内存使用率均不大于所述性能测试指令中包含的对应阈值,则确定所述性能指标满足所述性能测试指令中包含的性能指标条件,其中所述目标响应状态码表示所述元数据采集设备采集成功;
否则,确定所述性能指标不满足所述性能指标条件。
进一步地,所述方法还包括:
对测试次数进行更新,判断更新后的次数是否达到预设次数;
若否,清理所述采集配置信息,重新创建所述元数据的采集配置信息并发送给所述元数据采集设备,以对所述元数据采集设备重新进行测试;
若是,根据每一次执行时生成的每条测试记录,生成包含所述每条测试记录的测试报告并显示。
进一步地,所述将所述元数据被采集过程中生成的日志信息写入到所述测试记录包括:
根据预先保存的日志关键词、所述元数据被采集过程中生成的日志信息,确定所述日志信息中包含所述日志关键词的关键日志信息;
将所述关键日志信息写入到所述测试记录中。
进一步地,所述将所述元数据被采集过程中生成的运行信息写入到所述测试记录包括:
根据预先保存的类和方法信息、所述元数据被采集过程中生成的线程运行信息,确定所述线程运行信息中所述类和方法信息对应的线程核心运行信息;
将所述线程核心运行信息写入到所述测试记录中。
本领域内的技术人员应明白,本申请的实施例可提供为方法、***、或计算机程序产品。因此,本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请的方法、设备(***)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
显然,本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样,倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内,则本申请也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (11)

1.一种元数据采集的性能测试方法,其特征在于,所述方法包括:
根据接收到的性能测试指令中包含的目标元数据数量,随机生成所述目标元数据数量的元数据;
创建待采集所述元数据的采集配置信息并发送给元数据采集设备,使所述元数据采集设备根据所述采集配置信息采集目标元数据,接收所述元数据采集设备发送的采集所述目标元数据时的性能指标。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述创建待采集所述元数据的采集配置信息并发送给元数据采集设备包括:
创建待采集所述元数据的目标数据类型、数据采集任务和在元数据采集设备中的采集后存储位置,调用元数据采集设备提供的接口,将所述采集后存储位置、所述目标数据类型和所述数据采集任务写入所述元数据采集设备。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
根据所述性能测试指令中包含的性能指标条件、以及所述性能指标,判断所述性能指标是否满足所述性能指标条件;
若否,生成测试失败的测试记录;
若是,生成测试成功的测试记录。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述生成测试失败的测试记录之后,所述方法还包括:
将所述元数据被采集过程中生成的日志信息、运行信息写入到所述测试记录。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述性能指标包括响应状态码、响应时间、CPU利用率和内存使用率,所述根据所述性能测试指令中包含的性能指标条件、以及所述性能指标,判断所述性能指标是否满足所述性能指标条件包括:
若所述响应状态码与所述性能测试指令中包含的目标响应状态码相同、且所述响应时间、CPU利用率和内存使用率均不大于所述性能测试指令中包含的对应阈值,则确定所述性能指标满足所述性能测试指令中包含的性能指标条件,其中所述目标响应状态码表示所述元数据采集设备采集成功;
否则,确定所述性能指标不满足所述性能指标条件。
6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
对测试次数进行更新,判断更新后的次数是否达到预设次数;
若否,清理所述采集配置信息,重新创建所述元数据的采集配置信息并发送给所述元数据采集设备,以对所述元数据采集设备重新进行测试;
若是,根据每一次执行时生成的每条测试记录,生成包含所述每条测试记录的测试报告并显示。
7.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述将所述元数据被采集过程中生成的日志信息写入到所述测试记录包括:
根据预先保存的日志关键词、所述元数据被采集过程中生成的日志信息,确定所述日志信息中包含所述日志关键词的关键日志信息;
将所述关键日志信息写入到所述测试记录中。
8.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述将所述元数据被采集过程中生成的运行信息写入到所述测试记录包括:
根据预先保存的类和方法信息、所述元数据被采集过程中生成的线程运行信息,确定所述线程运行信息中所述类和方法信息对应的线程核心运行信息;
将所述线程核心运行信息写入到所述测试记录中。
9.一种元数据采集的性能测试装置,其特征在于,所述装置包括:
生成模块,用于根据接收到的性能测试指令中包含的目标元数据数量,随机生成所述目标元数据数量的元数据;
处理模块,用于创建待采集所述元数据的采集配置信息并发送给元数据采集设备,使所述元数据采集设备根据所述采集配置信息采集目标元数据,接收所述元数据采集设备发送的采集所述目标元数据时的性能指标。
10.一种电子设备,其特征在于,包括:处理器、通信接口、存储器和通信总线,其中,处理器,通信接口,存储器通过通信总线完成相互间的通信;
所述存储器中存储有计算机程序,当所述程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行权利要求1-8任一项所述方法。
11.一种计算机可读存储介质,其特征在于,其存储有可由处理器执行的计算机程序,当所述程序在所述处理器上运行时,使得所述处理器执行权利要求1-8任一项所述方法。
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