CN114160441B - 一种太阳能多晶硅片检测*** - Google Patents
一种太阳能多晶硅片检测*** Download PDFInfo
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Abstract
本发明属于太阳能多晶硅片技术领域,具体的说是一种太阳能多晶硅片检测***,该***包括传送单元、检测单元和分选单元,所述传送单元用于将硅片传送至检测单元内进行检测,所述传送单元包括传送机;通过设置震动机构,电机带动传送辊转动,传送辊带动传送带运转,传送带带动吸盘移动,吸盘带动硅片向靠近震动机构方向移动,直至吸盘接触震动机构,震动机构通过对吸盘底部的摩擦产生震动,从而带动硅片进行震动,从而借此使带有隐形裂纹的硅片由于自身震动的影响自行碎裂,大大减少带有隐形裂纹的硅片进入检测单元内,从而提高检测单元对硅片的检测效率。
Description
技术领域
本发明属于太阳能多晶硅片技术领域,具体的说是一种太阳能多晶硅片检测***。
背景技术
太阳能多晶硅片是太阳能电池片的载体,由于太阳能发电板厚度通常是1-2厘米不等,因为包含了铝合金框架,从而迫使组成太阳能板的硅片只有1-10毫米厚度。硅片质量的好坏直接决定了太阳能电池片转换效率的高低,因此需要对来料硅片进行专业的检测。太阳能多晶硅片检测***的应用不仅提高了工作效率,还反映了每一张硅片的质量,为后续制造出更高发电效率的光伏组件提供了有力保障。太阳能多晶硅片检测***主要是由传送单元、检测单元和分选单元3个部分组成;其中太阳能多晶硅片检测***在对硅片进行检测前,需要利用传送单元将硅片传送至检测单元中,现有技术中运用在太阳能多晶硅片检测***内的传送单元普遍使用传送机。
现有技术中在利用传送机将硅片传动至检测单元内时,检测人员首先将硅片从进料端放置在吸盘上,按压硅片使吸盘吸住硅片从而将其固定,固定硅片后,控制器控制传送机运行,电机带动传送辊转动,传送辊带动传送带运转,传送带带动吸盘移动,吸盘带动硅片向检测单元内传送;但在对较厚的硅片检测过程中,首先对硅片的外观进行检测,而隐裂是硅片的较大的缺陷,如不能及时将进入检测单元内的硅片隐裂缺陷极大程度的避免,前期硅片的隐裂可造成后期硅片在检测单元内部传送过程中,传送带在传送过程中的震动传导至吸盘上,进而再传导至硅片自身,导致硅片在传送过程中受自身震动影响而碎裂,甚至导致硅片的碎片掉落在检测单元内的各个模组或者器件内,影响检测单元正常检测工作的同时还影响到硅片的检测效率;而现有技术中为较大程度的避免带有隐裂的硅片进入到检测单元内采取的方式大多为手动进行,检测人员用手指对每一个硅片进行划拨,借此使带有隐裂的硅片受划拨影响自行碎裂,但该方式由于是检测人员手动进行,导致其对硅片的检测效率大大降低,从而增加检测成本。
鉴于此,本发明提出了一种太阳能多晶硅片检测***,解决了上述问题。
发明内容
为了弥补现有技术的不足,解决在对较厚的硅片检测过程中,检测人员用手指对每一个硅片进行划拨,借此使带有隐裂的硅片受划拨影响自行碎裂,但该方式由于是检测人员手动进行,导致其对硅片的检测效率大大降低,从而增加检测成本的问题,本发明提出了一种太阳能多晶硅片检测***。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:本发明所述的一种太阳能多晶硅片检测***,该***包括传送单元、检测单元和分选单元,所述传送单元用于将硅片传送至检测单元内进行检测,所述传送单元包括传送机,其特征在于:所述传送机包括:
主体;
传送辊,所述传送辊均转动连接于所述主体两端;
传送带,所述传送带套设于所述传送辊上;
电机,所述电机安装于所述主体一侧,所述电机的输出端与传送辊的一端连接,所述电机用于驱动所述传送辊转动;
震动机构,所述震动机构安装于所述传送带上,所述震动机构用于对隐裂的硅片进行震动;
吸盘,所述吸盘均匀安装于所述震动机构顶部,所述吸盘用于固定承载硅片;
检测单元,所述检测单元安装于所述主体上,且所述检测单元位于远离震动机构的位置,所述检测单元用于对硅片质量进行检测;
分选单元,所述分选单元安装于所述主体上靠近检测单元的位置,所述分选单元用于将检测后的硅片进行分选放置;
控制器,所述控制器用于控制所述主体运行。
使用时,在对较厚的太阳能多晶硅片进行质量检测过程中,包括传送单元、检测单元和分选单元,检测人员将硅片放置在传送单元中,传送单元将硅片传送至检测单元内,检测单元内包含隐形裂纹模组、厚度模组、线痕模组、脏污模组、边缘模组和尺寸翘曲模组,依次对进入检测单元内的硅片进行隐形裂纹、厚度、线痕、边缘、尺寸和翘曲进行检测,从而对比是否达到设定的要求,硅片检测完成后,传送单元将硅片继续传送至分选单元内,分选单元根据所测量的数值分选到对应分选单元内的仓盒内,最终将硅片分选出不同的等级;在传送单元中传送机对硅片进行传送时,本发明中主体远离检测单元的一端为进料端,反之则是出料端,检测人员首先将硅片从进料端放置在吸盘上,按压硅片使吸盘吸住硅片将其固定,控制器控制主体运行,电机带动传送辊转动,传送辊带动传送带运转,传送带带动吸盘移动,吸盘带动硅片向靠近震动机构方向移动,直至吸盘接触震动机构,震动机构通过对吸盘底部的摩擦产生震动,从而带动硅片进行震动,由于太阳能多晶硅片的厚度普遍为1-10毫米,从而借此使带有隐形裂纹的硅片由于自身震动的影响自行碎裂,大大减少带有隐形裂纹的硅片进入检测单元内,从而提高检测单元对硅片的检测效率,降低部分带有隐形裂纹的硅片在检测单元内碎裂的风险,极大程度避免在硅片传送进入检测单元后由于传送带运行过程中的微小震动导致碎裂在检测单元内的厚度模组中,影响检测单元内的厚度模组的正常检测工作,从而影响硅片的检测效率;部分带有隐形裂纹的硅片碎裂后掉落在传送带上,传送带带动碎片和完整的硅片移动,直至移动至分选单元,分选单元将硅片分选放置在仓盒内,不合格的硅片依旧固定在吸盘上,传送带继续带动碎片和不合格的硅片运动至出料端,工作人员对碎片和不合格的硅片收集并进行后续处理。
优选的,所述震动机构包括:
一号孔,所述一号孔均匀开设于所述传送带上;
一号杆,所述一号杆均滑动连接于所述一号孔内,所述一号杆与一号孔通过复位弹簧连接;
固定板,所述固定板固连于所述主体内壁,所述固定板位于相邻所述传送辊之间位置;
凸块,所述凸块均匀固连于所述固定板上。
使用时,传送带带动一号杆移动,一号杆带动吸盘移动,吸盘带动硅片移动,本发明中的一号孔的排列方式可为四个成一组,且该四个一号孔以正方形的四个顶点为圆心分布,在一号杆移动至固定板位置时,一号杆底部接触凸块表面,一号杆受凸块的导向作用向远离凸块方向上升,一号杆带动吸盘上升,吸盘带动硅片上升,当一号杆底部越过凸块后,一号杆受复位弹簧影响进行复位,一号杆向靠近固定板方向下降,直至一号杆碰撞到固定板表面形成震动,由于一号杆为金属材质,例如碳钢,一号杆震动引起吸盘震动,吸盘震动带动硅片震动,使带有隐形裂纹的硅片由于自身震动的影响自行碎裂,大大减少带有隐形裂纹的硅片进入检测单元内,从而提高检测单元对硅片的检测效率。
优选的,所述凸块横截面为直角梯形,所述凸块的斜面部分朝向远离检测单元的方向;
所述凸块表面上均匀设置有凸起,所述凸块为密集分布设置;
所述一号杆底部为圆弧状。
使用时,通过设置凸块,且凸块的横截面为直角梯形,凸块的斜面部分朝向远离检测单元的方向,在一号杆移动至固定板位置时,一号杆底部接触凸块上斜面部分,一号杆受凸块斜面部分的导向作用向远离凸块方向上升,增加凸块上升的运动效果,减少一号杆底部受凸块表面阻挡的影响,导致一号杆被凸块卡住;一号杆带动吸盘上升,吸盘带动硅片上升,当一号杆底部越过凸块顶部后,一号杆受复位弹簧影响进行复位,一号杆向靠近固定板方向下降,由于凸块横截面为直角梯形,一号杆受复位弹簧影响下降过程中不会被接触凸块表面,使得一号杆底部不会被缓冲,从而提高一号杆碰撞到固定板表面形成震动的效果,进而提高带有隐形裂纹的硅片碎裂的效果,提高检测单元对硅片的检测效率;
通过设置凸起,一号杆运动至凸块顶部表面时,一号杆受复位弹簧伸展的作用力影响挤压凸块表面,一号杆底部沿凸块表面移动时接触凸起,使得一号杆快速短距离的上下震动,一号杆沿凸块顶部运动产生的震动带动吸盘震动,吸盘震动带动硅块快速短距离的上下震动,增加硅片的震动效果,从而提高带有隐形裂纹的硅片碎裂的效果,进而提高检测单元对硅片的检测效率;通过设置一号杆底部为圆弧状,使得一号杆底部与凸块顶部所接触的方式从面与面接触变为点与面接触,增加一号杆底部接触凸起时产生的震动效果,从而提高一号杆的震动效果,进而提高带有隐形裂纹的硅片碎裂的效果。
优选的,相邻所述一号杆之间均固连有连杆,且相邻所述连杆之间为铰接设置,相邻所述连杆之间通过卷簧连接。
使用时,通过设置连杆,且相邻两个连杆之间为铰接,相邻两个连杆之间通过卷簧连接,本发明中卷簧产生的作用力不会影响传送带循环运转工作,且相邻两个连杆之间的卷簧受相邻两个一号杆震动影响小,使得相邻两个一号杆上下震动时,相邻两个连杆之间不会形成夹角,首先接触凸块的一号杆受凸块斜面影响上升,前一个一号杆带动相邻的两个连杆上升,连杆带动后一个一号杆与前一个一号杆上升,使得相邻的两个一号杆趋近于同步一同上升或者一同下降,从而对未带有隐形裂纹的硅片起到保护作用,极大程度的避免前一个一号杆受凸块影响上升,而后一个一号杆未上升,导致前后相邻的两个一号杆上的吸盘位置形成高度差,大大提高未带有隐形裂纹的硅片被拉扯损坏的风险。
优选的,所述传送带外表面为弧形设置;
所述传送带外表面固连有一号膜,所述一号膜为塑料材质。
使用时,通过设置传送带外表面为弧形,在带有隐形裂纹的硅片碎裂后,碎片掉落在传送带表面,碎片沿传送带表面向传送带的两侧滑落,传送带带动两侧的碎片运动直至到达主体的出料端,从而将碎片排出主体内,增加传送带表面中间部分的清洁程度,降低碎片掉落在传送带中间部分后,随着传送带运动进入检测单元内,从而对检测单元造成影响;
通过设置一号膜,且一号膜可为聚四氟乙烯材质,其具有耐气候和高润滑等特点,且聚四氟乙烯的摩擦系数极小,仅为聚乙烯的1/5,从而使得聚四氟乙烯所制成的膜或者塑料件表面光滑,在带有隐形裂纹的硅片碎裂后,碎片掉落在一号膜表面,碎片沿一号膜表面向一号膜的两侧滑落,直至滑落至传动带两侧,增加碎片的运动效果,从而增加传送带表面中间部分的清洁程度。
优选的,所述主体内壁上对应固定板的位置以传送带为基准对称开设有排料口,所述主体外表面对应排料口的位置均固连有收集盒。
使用时,通过排料口与收集盒之间的配合,碎片滑动至传动带两侧后进入排料口,碎片通过排料口继续滑落,直至滑落进收集盒内,增加碎片的收集效果,从而进一步增加传送带表面的清洁程度,进而提高对硅片的检测效率,降低碎片掉落在传送带中间部分后,随着传送带运动进入检测单元内,从而对检测单元造成影响
优选的,所述主体上远离震动机构的位置固连有按压机,所述按压机用于对所述吸盘上的硅片进行按压固定。
使用时,通过设置按压机,在检测人员将硅片放置在吸盘上后,传送辊带动传送带运转,传送带带动一号杆移动,一号杆带动吸盘移动,吸盘带动硅片移动,当硅片运动至按压机位置时,控制器控制按压机运行,按压机的输出端向吸盘靠近,此时控制器控制电机停止,使得硅片停止移动,按压机的输出端轻微均匀的按压硅片,使得硅片与吸盘之间的贴合度提高,从而对硅片在放置固定过程中起到保护作用,降低现有技术中检测人员徒手将硅片按压在吸盘上的过程中出现按压分布不均匀的情况,从而导致未带有隐形裂纹的硅片在放置固定过程中碎裂的风险提高。
本发明的有益效果如下:
1.本发明所述的一种太阳能多晶硅片检测***,通过设置震动机构,电机带动传送辊转动,传送辊带动传送带运转,传送带带动吸盘移动,吸盘带动硅片向靠近震动机构方向移动,直至吸盘接触震动机构,震动机构通过对吸盘底部的摩擦产生震动,从而带动硅片进行震动,从而借此使带有隐形裂纹的硅片由于自身震动的影响自行碎裂,大大减少带有隐形裂纹的硅片进入检测单元内,从而提高检测单元对硅片的检测效率。
2.本发明所述的一种太阳能多晶硅片检测***,通过设置凸块,且凸块的横截面为直角梯形,凸块的斜面部分朝向远离检测单元的方向,在一号杆移动至固定板位置时,一号杆底部接触凸块上斜面部分,一号杆受凸块斜面部分的导向作用向远离凸块方向上升,增加凸块上升的运动效果,减少一号杆底部受凸块表面阻挡的影响,导致一号杆被凸块卡住。
附图说明
下面结合附图对本发明作进一步说明。
图1是本发明的立体图;
图2是本发明的一种结构示意图;
图3是本发明的另一种结构示意图;
图4是图2中A处的局部放大图;
图5是图2中B处的局部放大图;
图6是图3中C处的局部放大图;
图7是图6中D处的局部放大图;
图中:主体1、传送辊11、传送带12、电机13、吸盘14、检测单元15、分选单元16、一号膜17、震动机构2、一号孔21、一号杆22、固定板23、凸块24、凸起25、连杆26、排料口3、收集盒4、按压机5。
具体实施方式
为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体实施方式,进一步阐述本发明。
如图1至图7所示,本发明所述的一种太阳能多晶硅片检测***,该***包括传送单元、检测单元15和分选单元16,所述传送单元用于将硅片传送至检测单元15内进行检测,所述传送单元包括传送机,其特征在于:所述传送机包括:
主体1;
传送辊11,所述传送辊11均转动连接于所述主体1两端;
传送带12,所述传送带12套设于所述传送辊11上;
电机13,所述电机13安装于所述主体1一侧,所述电机13的输出端与传送辊11的一端连接,所述电机13用于驱动所述传送辊11转动;
震动机构2,所述震动机构2安装于所述传送带12上,所述震动机构2用于对隐裂的硅片进行震动;
吸盘14,所述吸盘14均匀安装于所述震动机构2顶部,所述吸盘14用于固定承载硅片;
检测单元15,所述检测单元15安装于所述主体1上,且所述检测单元15位于远离震动机构2的位置,所述检测单元15用于对硅片质量进行检测;
分选单元16,所述分选单元16安装于所述主体1上靠近检测单元15的位置,所述分选单元16用于将检测后的硅片进行分选放置;
控制器,所述控制器用于控制所述主体1运行。
使用时,在对较厚的太阳能多晶硅片进行质量检测过程中,包括传送单元、检测单元15和分选单元16,检测人员将硅片放置在传送单元中,传送单元将硅片传送至检测单元15内,检测单元15内包含隐形裂纹模组、厚度模组、线痕模组、脏污模组、边缘模组和尺寸翘曲模组,依次对进入检测单元15内的硅片进行隐形裂纹、厚度、线痕、边缘、尺寸和翘曲进行检测,从而对比是否达到设定的要求,硅片检测完成后,传送单元将硅片继续传送至分选单元16内,分选单元16根据所测量的数值分选到对应分选单元16内的仓盒内,最终将硅片分选出不同的等级;在传送单元中传送机对硅片进行传送时,本发明中主体1远离检测单元15的一端为进料端,反之则是出料端,检测人员首先将硅片从进料端放置在吸盘14上,按压硅片使吸盘14吸住硅片将其固定,控制器控制主体1运行,电机13带动传送辊11转动,传送辊11带动传送带12运转,传送带12带动吸盘14移动,吸盘14带动硅片向靠近震动机构2方向移动,直至吸盘14接触震动机构2,震动机构2通过对吸盘14底部的摩擦产生震动,从而带动硅片进行震动,由于太阳能多晶硅片的厚度普遍为1-10毫米,从而借此使带有隐形裂纹的硅片由于自身震动的影响自行碎裂,大大减少带有隐形裂纹的硅片进入检测单元15内,从而提高检测单元15对硅片的检测效率,降低部分带有隐形裂纹的硅片在检测单元15内碎裂的风险,极大程度避免在硅片传送进入检测单元15后由于传送带12运行过程中的微小震动导致碎裂在检测单元15内的厚度模组中,影响检测单元15内的厚度模组的正常检测工作,从而影响硅片的检测效率;部分带有隐形裂纹的硅片碎裂后掉落在传送带12上,传送带12带动碎片和完整的硅片移动,直至移动至分选单元16,分选单元16将硅片分选放置在仓盒内,不合格的硅片依旧固定在吸盘14上,传送带12继续带动碎片和不合格的硅片运动至出料端,工作人员对碎片和不合格的硅片收集并进行后续处理。
作为本发明的一种实施方式,所述震动机构2包括:
一号孔21,所述一号孔21均匀开设于所述传送带12上;
一号杆22,所述一号杆22均滑动连接于所述一号孔21内,所述一号杆22与一号孔21通过复位弹簧连接;
固定板23,所述固定板23固连于所述主体1内壁,所述固定板23位于相邻所述传送辊11之间位置;
凸块24,所述凸块24均匀固连于所述固定板23上。
使用时,传送带12带动一号杆22移动,一号杆22带动吸盘14移动,吸盘14带动硅片移动,本发明中的一号孔21的排列方式可为四个成一组,且该四个一号孔21以正方形的四个顶点为圆心分布,在一号杆22移动至固定板23位置时,一号杆22底部接触凸块24表面,一号杆22受凸块24的导向作用向远离凸块24方向上升,一号杆22带动吸盘14上升,吸盘14带动硅片上升,当一号杆22底部越过凸块24后,一号杆22受复位弹簧影响进行复位,一号杆22向靠近固定板23方向下降,直至一号杆22碰撞到固定板23表面形成震动,由于一号杆22为金属材质,例如碳钢,一号杆22震动引起吸盘14震动,吸盘14震动带动硅片震动,使带有隐形裂纹的硅片由于自身震动的影响自行碎裂,大大减少带有隐形裂纹的硅片进入检测单元15内,从而提高检测单元15对硅片的检测效率。
作为本发明的一种实施方式,所述凸块24横截面为直角梯形,所述凸块24的斜面部分朝向远离检测单元15的方向;
所述凸块24表面上均匀设置有凸起25,所述凸块24为密集分布设置;
所述一号杆22底部为圆弧状。
使用时,通过设置凸块24,且凸块24的横截面为直角梯形,凸块24的斜面部分朝向远离检测单元15的方向,在一号杆22移动至固定板23位置时,一号杆22底部接触凸块24上斜面部分,一号杆22受凸块24斜面部分的导向作用向远离凸块24方向上升,增加凸块24上升的运动效果,减少一号杆22底部受凸块24表面阻挡的影响,导致一号杆22被凸块24卡住;一号杆22带动吸盘14上升,吸盘14带动硅片上升,当一号杆22底部越过凸块24顶部后,一号杆22受复位弹簧影响进行复位,一号杆22向靠近固定板23方向下降,由于凸块24横截面为直角梯形,一号杆22受复位弹簧影响下降过程中不会被接触凸块24表面,使得一号杆22底部不会被缓冲,从而提高一号杆22碰撞到固定板23表面形成震动的效果,进而提高带有隐形裂纹的硅片碎裂的效果,提高检测单元15对硅片的检测效率;
通过设置凸起25,一号杆22运动至凸块24顶部表面时,一号杆22受复位弹簧伸展的作用力影响挤压凸块24表面,一号杆22底部沿凸块24表面移动时接触凸起25,使得一号杆22快速短距离的上下震动,一号杆22沿凸块24顶部运动产生的震动带动吸盘14震动,吸盘14震动带动硅块快速短距离的上下震动,增加硅片的震动效果,从而提高带有隐形裂纹的硅片碎裂的效果,进而提高检测单元15对硅片的检测效率;通过设置一号杆22底部为圆弧状,使得一号杆22底部与凸块24顶部所接触的方式从面与面接触变为点与面接触,增加一号杆22底部接触凸起25时产生的震动效果,从而提高一号杆22的震动效果,进而提高带有隐形裂纹的硅片碎裂的效果。
作为本发明的一种实施方式,相邻所述一号杆22之间均固连有连杆26,且相邻所述连杆26之间为铰接设置,相邻所述连杆26之间通过卷簧连接。
使用时,通过设置连杆26,且相邻两个连杆26之间为铰接,相邻两个连杆26之间通过卷簧连接,本发明中卷簧产生的作用力不会影响传送带12循环运转工作,且相邻两个连杆26之间的卷簧受相邻两个一号杆22震动影响小,使得相邻两个一号杆22上下震动时,相邻两个连杆26之间不会形成夹角,首先接触凸块24的一号杆22受凸块24斜面影响上升,前一个一号杆22带动相邻的两个连杆26上升,连杆26带动后一个一号杆22与前一个一号杆22上升,使得相邻的两个一号杆22趋近于同步一同上升或者一同下降,从而对未带有隐形裂纹的硅片起到保护作用,极大程度的避免前一个一号杆22受凸块24影响上升,而后一个一号杆22未上升,导致前后相邻的两个一号杆22上的吸盘14位置形成高度差,大大提高未带有隐形裂纹的硅片被拉扯损坏的风险。
作为本发明的一种实施方式,所述传送带12外表面为弧形设置;
所述传送带12外表面固连有一号膜17,所述一号膜17为塑料材质。
使用时,通过设置传送带12外表面为弧形,在带有隐形裂纹的硅片碎裂后,碎片掉落在传送带12表面,碎片沿传送带12表面向传送带12的两侧滑落,传送带12带动两侧的碎片运动直至到达主体1的出料端,从而将碎片排出主体1内,增加传送带12表面中间部分的清洁程度,降低碎片掉落在传送带12中间部分后,随着传送带12运动进入检测单元15内,从而对检测单元15造成影响;
通过设置一号膜17,且一号膜17可为聚四氟乙烯材质,其具有耐气候和高润滑等特点,且聚四氟乙烯的摩擦系数极小,仅为聚乙烯的1/5,从而使得聚四氟乙烯所制成的膜或者塑料件表面光滑,在带有隐形裂纹的硅片碎裂后,碎片掉落在一号膜17表面,碎片沿一号膜17表面向一号膜17的两侧滑落,直至滑落至传动带两侧,增加碎片的运动效果,从而增加传送带12表面中间部分的清洁程度。
作为本发明的一种实施方式,所述主体1内壁上对应固定板23的位置以传送带12为基准对称开设有排料口3,所述主体1外表面对应排料口3的位置均固连有收集盒4。
使用时,通过排料口3与收集盒4之间的配合,碎片滑动至传动带两侧后进入排料口3,碎片通过排料口3继续滑落,直至滑落进收集盒4内,增加碎片的收集效果,从而进一步增加传送带12表面的清洁程度,进而提高对硅片的检测效率,降低碎片掉落在传送带12中间部分后,随着传送带12运动进入检测单元15内,从而对检测单元15造成影响
作为本发明的一种实施方式,所述主体1上远离震动机构2的位置固连有按压机5,所述按压机5用于对所述吸盘14上的硅片进行按压固定。
使用时,通过设置按压机5,在检测人员将硅片放置在吸盘14上后,传送辊11带动传送带12运转,传送带12带动一号杆22移动,一号杆22带动吸盘14移动,吸盘14带动硅片移动,当硅片运动至按压机5位置时,控制器控制按压机5运行,按压机5的输出端向吸盘14靠近,此时控制器控制电机13停止,使得硅片停止移动,按压机5的输出端轻微均匀的按压硅片,使得硅片与吸盘14之间的贴合度提高,从而对硅片在放置固定过程中起到保护作用,降低现有技术中检测人员徒手将硅片按压在吸盘14上的过程中出现按压分布不均匀的情况,从而导致未带有隐形裂纹的硅片在放置固定过程中碎裂的风险提高。
具体工作流程如下:
在传送单元中传送机对硅片进行传送时,检测人员首先将硅片从进料端放置在吸盘14上,按压硅片使吸盘14吸住硅片将其固定,控制器控制主体1运行,电机13带动传送辊11转动,传送辊11带动传送带12运转,传送带12带动吸盘14移动,吸盘14带动硅片向靠近震动机构2方向移动,直至吸盘14接触震动机构2,震动机构2通过对吸盘14底部的摩擦产生震动,从而带动硅片进行震动,从而借此使带有隐形裂纹的硅片由于自身震动的影响自行碎裂;部分带有隐形裂纹的硅片碎裂后掉落在传送带12上,传送带12带动碎片和完整的硅片移动,直至移动至分选单元16,分选单元16将硅片分选放置在仓盒内,不合格的硅片依旧固定在吸盘14上,传送带12继续带动碎片和不合格的硅片运动至出料端,工作人员对碎片和不合格的硅片收集并进行后续处理。
上述前、后、左、右、上、下均以说明书附图中的图1为基准,按照人物观察视角为标准,装置面对观察者的一面定义为前,观察者左侧定义为左,依次类推。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明保护范围的限制。
以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解,本发明不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理,在不脱离本发明精神和范围的前提下,本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
Claims (9)
1.一种太阳能多晶硅片检测***,该***包括传送单元、检测单元(15)和分选单元(16),所述传送单元用于将硅片传送至检测单元(15)内进行检测,所述传送单元包括传送机,其特征在于:所述传送机包括:
主体(1);
传送辊(11),所述传送辊(11)均转动连接于所述主体(1)两端;
传送带(12),所述传送带(12)套设于所述传送辊(11)上;
电机(13),所述电机(13)安装于所述主体(1)一侧,所述电机(13)的输出端与传送辊(11)的一端连接,所述电机(13)用于驱动所述传送辊(11)转动;
震动机构(2),所述震动机构(2)安装于所述传送带(12)上,所述震动机构(2)用于对隐裂的硅片进行震动;
吸盘(14),所述吸盘(14)均匀安装于所述震动机构(2)顶部,所述吸盘(14)用于固定承载硅片;
检测单元(15),所述检测单元(15)安装于所述主体(1)上,且所述检测单元(15)位于远离震动机构(2)的位置,所述检测单元(15)用于对硅片质量进行检测;
分选单元(16),所述分选单元(16)安装于所述主体(1)上靠近检测单元(15)的位置,所述分选单元(16)用于将检测后的硅片进行分选放置;
控制器,所述控制器用于控制所述主体(1)运行;
所述震动机构(2)包括:
一号孔(21),所述一号孔(21)均匀开设于所述传送带(12)上;
一号杆(22),所述一号杆(22)均滑动连接于所述一号孔(21)内,所述一号杆(22)与一号孔(21)通过复位弹簧连接;
固定板(23),所述固定板(23)固连于所述主体(1)内壁,所述固定板(23)位于相邻所述传送辊(11)之间位置;
凸块(24),所述凸块(24)均匀固连于所述固定板(23)上。
2.根据权利要求1所述的一种太阳能多晶硅片检测***,其特征在于:所述凸块(24)横截面为直角梯形,所述凸块(24)的斜面部分朝向远离检测单元(15)的方向。
3.根据权利要求2所述的一种太阳能多晶硅片检测***,其特征在于:所述凸块(24)表面上均匀设置有凸起(25),所述凸块(24)为密集分布设置。
4.根据权利要求1所述的一种太阳能多晶硅片检测***,其特征在于:所述一号杆(22)底部为圆弧状。
5.根据权利要求4所述的一种太阳能多晶硅片检测***,其特征在于:相邻所述一号杆(22)之间均固连有连杆(26),且相邻所述连杆(26)之间为铰接设置,相邻所述连杆(26)之间通过卷簧连接。
6.根据权利要求1所述的一种太阳能多晶硅片检测***,其特征在于:所述传送带(12)外表面为弧形设置。
7.根据权利要求6所述的一种太阳能多晶硅片检测***,其特征在于:所述传送带(12)外表面固连有一号膜(17),所述一号膜(17)为塑料材质。
8.根据权利要求1所述的一种太阳能多晶硅片检测***,其特征在于:所述主体(1)内壁上对应固定板(23)的位置以传送带(12)为基准对称开设有排料口(3),所述主体(1)外表面对应排料口(3)的位置均固连有收集盒(4)。
9.根据权利要求1所述的一种太阳能多晶硅片检测***,其特征在于:所述主体(1)上远离震动机构(2)的位置固连有按压机(5),所述按压机(5)用于对所述吸盘(14)上的硅片进行按压固定。
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