CN114121140B - 芯片测试方法、***、电子设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种芯片测试方法、***、电子设备及存储介质，涉及集成电路测试技术领域。该方法包括：对初始转换器进行校准，得到目标转换器，初始转换器和目标转换器均为模拟数字转换器；基于目标转换器对测试芯片的电压通道中的电压数据进行校准，得到校准电压数据；基于校准电压数据和目标转换器，对测试芯片的电流通道中的电流数据进行校准，得到校准电流数据。本申请能够在芯片测试时采用校准后的转换器对测试得到的电压数据和电流数据进行高精度、高效率地校准，无需制作单独的校准板和测试仪表对芯片进行测试和校准，减少了校准时的操作时间，还能够同时对多个不同的通道进行测试和校准，有效地提高了对芯片进行测试和校准的效率和精度。

Description

芯片测试方法、***、电子设备及存储介质

技术领域

本申请涉及集成电路测试技术领域，具体而言，涉及一种芯片测试方法、***、电子设备及存储介质。

背景技术

由于各种存储芯片的容量、速率等性能的提高，对各种存储芯片进行测试的存储芯片测试设备的测试性能十分重要。存储芯片测试设备是可以自动实现存储芯片测试的***。测试主要分为直流参数测试、交流参数测量、功能测试等，直流参数是表征芯片性能的重要指标。

现有测试设备基本采用PMU（Precision Measurement Unit，精密测量单元）对两种主要模式：施流测压和施压测流进行直流参数测量。精密测量单元中通常需要安装单独的校准板，并通过测试仪表进行测试，测试时需要制作单独的校准板对精度进行校准，校准时操作复杂，且由于测试的项目较多，通常采用多site测试，测试时存储测试***通道较多，但是目前每次只能使用一个通道进行测试，导致测试的流程复杂且测试时间较长，芯片测试的效率较低。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例的目的在于提供一种芯片测试方法、***、电子设备及存储介质，以改善现有技术中存在的芯片的测试效率较低的问题。

第一方面，本申请提供了一种芯片测试方法，所述方法包括：

对初始转换器进行校准，得到目标转换器，所述初始转换器和所述目标转换器为模拟数字转换器；

基于所述目标转换器对测试芯片的电压通道中的电压数据进行校准，得到校准电压数据；

基于所述校准电压数据和所述目标转换器，对所述测试芯片的电流通道中的电流数据进行校准，得到校准电流数据，其中，所述电流数据包括所述测试芯片的测试电流数据和施加电流数据，所述电流通道包括第一电流通道和第二电流通道；所述基于所述校准电压数据和所述目标转换器，对所述测试芯片的电流通道中的电流数据进行校准，得到校准电流数据，包括：基于所述目标转换器和所述校准电压数据中的校准施加电压数据，对所述第一电流通道中的所述测试电流数据进行校准，得到校准测试电流数据；基于所述目标转换器对所述第二电流通道中的所述施加电流数据进行校准，得到校准施加电流数据，以所述校准测试电流数据和所述校准施加电流数据为所述校准电流数据。

在上述实现方式中，通过使用转换器来代替校准板和测试仪表对多个通道中的测试芯片的电压数据和电流数据进行测试和校准。为了提高校准时转换器的精度，通过对初始转换器进行校准，能够得到精度更高的目标转换器，以通过目标转换器对测试芯片的电压通道中的电压数据进行测试和校准，得到对应的校准电压数据，并通过目标转换器和校准得到的校准电压数据对测试芯片的电流通道中的电流数据进行测试和校准，由于电流数据中包括测试电流数据和施加电流数据，两种电流数据能够分别从不同的电流通道中测试并进行校准，能够分别对测试电流和施加电流的两种电流模式分别进行测试和校准，提高了校准得到的校准电流数据的有效性和精度，提升了芯片测试中对电流数据进行测试和校准的效率。通过板内校准的方式，无需制作单独的校准板和测试仪表对芯片进行测试和校准，减少了校准时的操作时间和操作流程的复杂度，还能够同时对多个不同的通道进行测试和校准，有效地提高了对芯片进行测试和校准的效率和精度。

可选地，所述对初始转换器进行校准，得到目标转换器，包括：

根据输入所述初始转换器的电压参数，得到校准参数，其中，所述校准参数包括校准偏移参数和校准斜率参数；

基于所述校准参数对所述初始转换器进行校准，得到所述目标转换器。

在上述实现方式中，为了提高初始转换器的精度，可以根据输入初始转换器中的多种电压参数计算得到校准偏移参数和校准斜率参数等校准参数，并根据校准参数代入到初始转换器中进行校准计算，得到校准后的目标转换器，从而提高了转换器的精度，减小了校准时的误差大小，提高了芯片测试时数据校准的精度。

可选地，所述基于所述目标转换器和所述校准电压数据中的校准施加电压数据，对所述第一电流通道中的所述测试电流数据进行校准，得到校准测试电流数据，包括：

根据获取的所述测试电流数据对应的所述第一电流通道设置测试电流模式，以对多个通道的开关进行控制，确定所述目标转换器对应的第一目标通道；

基于测试量程确定对应的第一目标电阻；

基于所述校准施加电压数据对应的施加电压参数在所述第一目标通道中设置预设施加电压值；

基于所述预设施加电压值和所述第一目标电阻确定所述目标转换器中的协议端口电流值；

在所述目标转换器中采集得到所述协议端口电流值对应的目标测试电流值；

基于所述协议端口电流值和所述目标测试电流值进行计算，得到测试电流参数，其中，所述测试电流参数包括测试电流斜率参数和测试电流偏移参数；

根据所述测试电流参数和所述测试电流数据进行计算，得到所述校准测试电流数据。

在上述实现方式中，目标转换器能够对测试芯片中的测试电流进行测试，获取对应的测试电流数据，并选择对应的第一电流通道，设置测试电流模式，以对串行的多个通道的开关进行控制，确定目标转换器进行校准时对应的第一目标通道。通过校准施加电压数据对应的施加电压参数对第一目标通道进行施压，在目标转换器的协议端口中设置对应的预设施加电压值，根据预设施加电压值和确定的第一目标电阻确定目标转换器中的协议端口电流值，并对目标转换器中实际测量得到的采集端口的目标测试电流值进行采集。通过协议端口电流值和目标测试电流值进行计算得到对应的测试电流参数，以根据测试电流参数中的测试电流斜率参数和测试电流偏移参数对测试电流数据进行校准，得到校准测试电流数据，能够在测试电流时对测试电流数据进行快速、精确地校准，提高了校准的效率和精度。

可选地，所述基于所述目标转换器对所述第二电流通道中的所述施加电流数据进行校准，得到校准施加电流数据，包括：

根据获取的所述施加电流数据对应的所述第二电流通道设置施加电流模式，以对多个通道的开关进行控制，确定所述目标转换器对应的第二目标通道；

基于测试量程确定对应的第二目标电阻；

在所述第二目标通道中设置预设施加电流值；

基于所述目标转换器中的端口电压值与所述第二目标电阻确定目标施加电流值；

基于所述预设施加电流值和所述目标施加电流值进行计算，得到施加电流参数，其中，所述施加电流参数包括施加电流斜率参数和施加电流偏移参数；

根据所述施加电流参数和所述施加电流数据进行计算，得到所述校准施加电流数据。

在上述实现方式中，目标转换器能够对测试芯片中的施加电流进行测试，获取对应的施加电流数据，并选择对应的第二电流通道，设置施加电流模式，以对串行的多个通道的开关进行控制，确定目标转换器进行校准时对应的第二目标通道。通过对第二目标通道进行施压和施流，在目标转换器的协议端口中设置对应的端口电压值和预设施加电流值，并根据端口电压值和确定的第二目标电阻确定目标转换器中的协议端口中的目标施加电流值。通过预设施加电流值和目标施加电流值进行计算得到对应的施加电流参数，以根据施加电流参数中的施加电流斜率参数和施加电流偏移参数对施加电流数据进行校准，得到校准施加电流数据，能够在施加电流时对施加电流数据进行快速、精确地校准，提高了校准的效率和精度。

可选地，所述电压数据包括所述测试芯片的施加电压数据和测试电压数据，所述电压通道包括第一电压通道和第二电压通道；所述基于所述目标转换器对测试芯片的电压通道中的电压数据进行校准，得到校准电压数据，包括：

基于所述目标转换器对所述第一电压通道中的所述施加电压数据进行校准，得到所述校准施加电压数据；

基于所述目标转换器对所述第二电压通道中的所述测试电压数据进行校准，得到校准测试电压数据，以所述校准施加电压数据和所述校准测试电压数据为所述校准电压数据。

在上述实现方式中，电压数据中包括测试电压数据和施加电压数据，两种电压数据能够分别从不同的电压通道中测试并进行校准。通过目标转换器对第一电压通道中施加电压数据进行校准，通过目标转换器对第二电压通道中的测试电压数据进行校准，分别得到对应的校准施加电压数据和校准测试电压数据组成的校准电压数据，能够分别对施加电压和测试电压的两种电压模式分别进行测试和校准，提高了校准得到的校准电压数据的有效性和精度，提升了芯片测试中对电压数据进行测试和校准的效率。

可选地，所述基于所述目标转换器对所述第一电压通道中的所述施加电压数据进行校准，得到校准施加电压数据，包括：

根据获取的所述施加电压数据对应的所述第一电压通道设置施加电压模式，以对多个通道的开关进行控制，确定所述目标转换器对应的第三目标通道；

在所述第三目标通道中设置预设施加电压值，在所述目标转换器中采集得到目标施加电压值；

基于所述预设施加电压值和所述目标施加电压值进行计算，得到施加电压参数，其中，所述施加电压参数包括施加电压斜率参数和施加电压偏移参数；

根据所述施加电压参数和所述施加电压数据进行计算，得到所述校准施加电压数据。

在上述实现方式中，目标转换器能够对测试芯片中的施加电压进行测试，获取对应的施加电压数据，并选择对应的第一电压通道，设置施加电压模式，以对串行的多个通道的开关进行控制，确定目标转换器进行校准时对应的第三目标通道。通过对第三目标通道进行施压，设置对应的预设施加电压值，能够在目标转换器的协议端口中采集得到目标施加电压值。通过预设施加电压值和目标施加电压值进行计算得到对应的施加电压参数，以根据施加电压参数中的施加电压斜率参数和施加电压偏移参数对施加电压数据进行校准，得到校准施加电压数据，能够在施加电压时对施加电压数据进行快速、精确地校准，提高了校准的效率和精度。

可选地，所述基于所述目标转换器对所述第二电压通道中的所述测试电压数据进行校准，得到校准测试电压数据，包括：

根据获取的所述测试电压数据对应的所述第二电压通道设置测试电压模式，以对多个通道的开关进行控制，确定所述目标转换器对应的第四目标通道；

基于所述施加电压参数在所述第四目标通道中设置所述预设施加电压值，在所述目标转换器中采集得到测试电压值；

基于所述预设施加电压值和所述测试电压值进行计算，得到测试电压参数，其中，所述测试电压参数包括测试电压斜率参数和测试电压偏移参数；

根据所述测试电压参数和所述测试电压数据进行计算，得到所述校准测试电压数据。

在上述实现方式中，目标转换器能够对测试芯片中的测试电压进行测试，获取对应的测试电压数据，并选择对应的第二电压通道，设置测试电压模式，以对串行的多个通道的开关进行控制，确定目标转换器进行校准时对应的第四目标通道。通过校准施加电压数据对应的施加电压参数对第四目标通道进行施压，设置对应的预设施加电压值，采集得到目标转换器中采集端口中的测试电压值。通过预设施加电压值和测试电压值进行计算得到对应的测试电压参数，以根据测试电压参数中的测试电压斜率参数和测试电压偏移参数对测试电压数据进行校准，得到校准测试电压数据，能够在测试电压时对测试电压数据进行快速、精确地校准，提高了校准的效率和精度。

第二方面，本申请还提供了一种芯片测试***，所述***包括多个校准模块和多个测试板，每一个所述校准模块设置在对应的所述测试板内，以通过所述校准模块对测试芯片的多个通道同时进行校准；

所述校准模块中还包括转换器校准子模块、电压校准子模块和电流校准子模块；

所述转换器校准子模块，用于对初始转换器进行校准，得到目标转换器，所述初始转换器和所述目标转换器为模拟数字转换器；

所述电压校准子模块，用于基于所述目标转换器对测试芯片的电压通道中的电压数据进行校准，得到校准电压数据；

所述电流校准子模块，用于基于所述校准电压数据和所述目标转换器，对所述测试芯片的电流通道中的电流数据进行校准，得到校准电流数据，其中，所述电流数据包括所述测试芯片的测试电流数据和施加电流数据，所述电流通道包括第一电流通道和第二电流通道；所述电流校准子模块，还用于：基于所述目标转换器和所述校准电压数据中的校准施加电压数据，对所述第一电流通道中的所述测试电流数据进行校准，得到校准测试电流数据；基于所述目标转换器对所述第二电流通道中的所述施加电流数据进行校准，得到校准施加电流数据，以所述校准测试电流数据和所述校准施加电流数据为所述校准电流数据。

在上述实现方式中，通过转换器校准子模块对初始转换器进行校准，能够得到精度更高的目标转换器。通过电压校准子模块基于目标转换器对测试芯片的电压通道中的电压数据进行测试和校准，能够得到对应的校准电压数据。通过电流校准子模块基于目标转换器和校准得到的校准电压数据对测试芯片的电流通道中的电流数据进行测试和校准。使用转换器来代替校准板和测试仪表对多个通道中的测试芯片的电压数据和电流数据进行测试和校准，通过板内校准的方式，无需制作单独的校准板和测试仪表对芯片进行测试和校准，减少了校准时的操作时间和操作流程的复杂度，还能够同时对多个不同的通道进行测试和校准，有效地提高了对芯片进行测试和校准的效率和精度。

第三方面，本申请还提供了一种电子设备，所述电子设备包括存储器和处理器，所述存储器中存储有程序指令，所述处理器读取并运行所述程序指令时，执行上述芯片测试方法中任一实现方式中的步骤。

第四方面，本申请还提供了一种计算机可读取存储介质，所述可读取存储介质中存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被一处理器读取并运行时，执行上述芯片测试方法中任一实现方式中的步骤。

综上所述，本申请提供了一种芯片测试方法、***、电子设备及存储介质，能够将校准***设置在测试板内，对测试芯片的不同通道同时进行测试和校准，无需制作单独的校准板和测试仪表对芯片进行测试和校准，有效地提高了对芯片进行测试和校准的效率和精度。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本申请实施例提供的一种芯片测试***的结构示意图；

图2为本申请实施例提供的一种芯片测试方法的流程示意图；

图3为本申请实施例提供的一种步骤S400的详细流程示意图；

图4为本申请实施例提供的一种步骤S600的详细流程示意图；

图5为本申请实施例提供的一种步骤S610的详细流程示意图；

图6为本申请实施例提供的一种步骤S620的详细流程示意图；

图7为本申请实施例提供的一种步骤S500的详细流程示意图；

图8为本申请实施例提供的一种步骤S510的详细流程示意图；

图9为本申请实施例提供的一种步骤S520的详细流程示意图。

图标：100-校准模块；110-转换器校准子模块；111-目标转换器；112-采集端口；113-协议端口；120-电压校准子模块；130-电流校准子模块；200-测试板；300-测试芯片；310-精密测量单元；320-测试通道；330-输出测量口；340-第一多路选择器组件；341-第二多路选择器组件；350-精密电阻负载；360-继电器组件；370-精密电阻；380-强制接口；390-检测接口。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请实施例的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请实施例的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请实施例保护的范围。

现有的芯片测试方法中，在对芯片的数据进行校准时，通常采用校准板和测试仪表对芯片的精密单元进行测试和校准，测试芯片时使用的精密单元中的所有通道通过校准板进行单个选择，以在单个通道中施加激励并测量，通过测试仪表，例如台式万用表等进行测量，通过施加激励与测试仪表测量结果运算来校准施加的精度，通过精密单元测量结果与测试仪表结果运算来校准精密单元的测量精度。

但是，使用上述方法进行测量和校准时，需要制作单独的校准板，并对校准板进行安装，还需要连接仪表，在对芯片进行晶圆测试时需要拆卸针卡，由于测试环境变化，会引起精密单元的精度变化，因此测试机都会定期自检，每次自检操作都会重复安装操作，导致校准的操作较复杂且操作时间长。并且每次只能对测试芯片的一个通道进行测试，导致测试的整体时间较长，对通道较多的芯片测试的效率较低。

因此，为了解决上述问题，本申请实施例提供了一种芯片测试***，请参阅图1，图1为本申请实施例提供的一种芯片测试***的结构示意图，芯片测试***中可以包括多个校准模块100和多个测试板200（图中仅示出一个，不再进行示出），每一个校准模块100设置在对应的测试板200中，测试板200可以为多种类型、不同型号的数字通道板。测试板200与被测试的测试芯片300连接，以通过校准模块100对测试芯片的多个通道同时进行校准。

其中，校准模块100中还包括转换器校准子模块110、电压校准子模块120和电流校准子模块130；

转换器校准子模块110，用于对初始转换器进行校准，得到目标转换器，初始转换器和目标转换器为模拟数字转换器；

电压校准子模块120，用于基于目标转换器对测试芯片的电压通道中的电压数据进行校准，得到校准电压数据；

电流校准子模块130，用于基于校准电压数据和目标转换器，对测试芯片的电流通道中的电流数据进行校准，得到校准电流数据，其中，电流数据包括测试芯片300的测试电流数据和施加电流数据，电流通道包括第一电流通道和第二电流通道；电流校准子模块130，还用于：基于目标转换器和校准电压数据中的校准施加电压数据，对第一电流通道中的测试电流数据进行校准，得到校准测试电流数据；基于目标转换器对第二电流通道中的施加电流数据进行校准，得到校准施加电流数据，以校准测试电流数据和校准施加电流数据为校准电流数据。

可选地，转换器校准子模块110中还可以包括目标转换器111，测试板200中还可以包括精密测量单元310，精密测量单元310可以为多种PMU（Precision Measurement Unit，精密测量单元）。精密测量单元310与测试芯片300中的多个测试通道320（图中仅示出4个，其他数量不再进行示出）连接，以对测试芯片300进行测试。其中，测试芯片300中还可以包括多个输出测量口330（图中仅示出4个，其他数量不再进行示出），每一个测试通道320通过对应的输出测量口330与第一多路选择器组件340连接。测试板200中还可以包括对多个芯片进行采集的第二多路选择器组件341，第二多路选择器组件341与第一多路选择器组件340和目标转换器111上的采集端口112连接，可以通过第一多路选择器组件340连接第二多路选择器组件341与多个测试通道320；也可以直接通过输出测量口330连接多个测试通道320与第二多路选择器组件341，以通过第二多路选择器组件341连接多个测试通道320与目标转换器111上的采集端口112，能够连接校准模块100和多个测试芯片300，以通过测试板200和校准模块100对多个测试芯片300中的电压数据和电流数据分别进行测量和校准。通过将测试板200中的校准模块100与测试芯片300连接，无需单独设置和安装校准板与测试仪表，能够对测试芯片300中的不同测试通道320同时进行校准。

可选地，测试板200中还可以包括精密电阻负载350，精密电阻负载350中包括继电器组件360和多个精密电阻370（图中仅示出4个，其他数量不再进行示出）。精密电阻370的数量和大小可以根据采用的精密测量单元310的测量量程确定，在对不同量程进行校准时，能够通过控制继电器组件360切换到不同的精密电阻370中。精密测量单元310可以通过强制接口380和检测接口390与精密电阻负载350连接，目标转换器111的协议端口113也与检测接口390连接，能够在测试时与外部输出进行隔离，在不影响正常工作的情况下进行测试，还能够在对测试芯片300中的多个测试通道320进行测量和校准时，通过测试通道320中共享的串行开关连接精密测量单元310，以控制测试通道320是否输出，减少继电器组件360的控制部分。

基于上述芯片测试***，能够对测试芯片进行多通道地同时测试，芯片测试方法具体请参阅图2，图2为本申请实施例提供的一种芯片测试方法的流程示意图，该方法可以包括步骤S400-S600。

步骤S400，对初始转换器进行校准，得到目标转换器。

其中，在进行测试和校准时，能够采用转换器代替测试仪表进行测试和校准，为了提高转换器的精度，可以对先对初始转换器进行参数校准，得到校准后参数精度更高的转换器，从而获得目标转换器，其中，初始转换器可以为任意型号的ADC（Analog To DigitalConverter，模拟数字转换器），例如18位ADC、24位ADC等，能够将测试时的模拟信号转换为对应的数字信号，目标转换器则是对该属于模拟数字转换器的初始转换器进行校准后参数精度更高的对应模拟数字转换器。

步骤S500，基于所述目标转换器对测试芯片的电压通道中的电压数据进行校准，得到校准电压数据。

其中，通过校准后的目标转换器能够对测试芯片的多个测试通道同时进行测试和校准。可以先对测试芯片中电压通道中测试得到的电压数据进行校准，得到校准后的校准电压数据。

步骤S600，基于所述校准电压数据和所述目标转换器，对所述测试芯片的电流通道中的电流数据进行校准，得到校准电流数据。

其中，在对电压数据进行校准之后，还能够通过目标转换器与校准得到的校准电压数据，对测试芯片的电流通道中的电流数据校准，得到校准后的校准电流数据。

值得说明的是，由于精密测量单元中可以存储有各种参数的校准电压数据和校准电流数据等校准增益数据以及偏移寄存器，可以在对测试芯片的测试通道测试并校准完后，将校准电压数据和校准电流数据等校准增益数据存储到测试板上的存储芯片中，在进行测试时，测试板能够直接读取存储芯片中存储的校准增益数据，根据SPI指令，按照不同地址和不同数据发送给对应的精密测量单元中，从而下发到对应的校准寄存器中，以在精密测量单元工作时，自动将校准增益数据代入计算进行校准。

在图2所示的实施例中，通过板内校准的方式，无需制作单独的校准板和测试仪表对芯片进行测试和校准，减少了校准时的操作时间和操作流程的复杂度，还能够同时对多个不同的通道进行测试和校准，有效地提高了对芯片进行测试和校准的效率和精度。

可选地，请参阅图3，图3为本申请实施例提供的一种步骤S400的详细流程示意图，步骤S400还可以包括步骤S410-S420。

步骤S410，根据输入所述初始转换器的电压参数，得到校准参数。

其中，校准参数包括校准偏移参数和校准斜率参数。在对初始转换器的参数进行校准时，由于初始转换器为线性器件，因此可以对输入的电压数据进行选择，筛选出输入的电压数据的关键词作为电压参数，从而根据电压参数与初始转换器中的初始参数进行计算，计算出对应的校准参数。

值得说明的是，电压参数可以包括接地电压参数和设置电压参数，在目标转换器对设置电压参数进行选择时，可以根据测试时的参考电压进行设置，例如参考电压为3V时，则接地电压参数和设置电压参数可以分别记为GND_REF和3V_REF，设置电压参数能够根据参考电压的变化而进行设置和调整。

可选地，根据输入的接地电压参数结合初始转换器中的初始接地电压参数，能够计算出校准偏移参数，根据输入的设置电压参数结合初始转换器中的初始设置参数，能够计算出校准斜率参数。

步骤S420，基于所述校准参数对所述初始转换器进行校准，得到所述目标转换器。

其中，将校准计算得到的校准偏移参数和校准斜率参数代入计算软件中进行校准计算，能够对初始转换器的参数进行校准，得到参数精度更高的目标转换器。

在图3所示的实施例中，能够提高了转换器的精度，减小了校准时的误差大小，提高了芯片测试时数据校准的精度。

可选地，请参阅图4，图4为本申请实施例提供的一种步骤S600的详细流程示意图，步骤S600还可以包括步骤S610-S620。

步骤S610，基于所述目标转换器和所述校准电压数据中的校准施加电压数据，对所述第一电流通道中的所述测试电流数据进行校准，得到校准测试电流数据。

其中，电流数据可以包括测试芯片的测试电流数据和施加电流数据，电流通道可以包括测试芯片的多个测试通道中的第一电流通道和第二电流通道。在对测试芯片进行测试电流时，能够在对测试芯片的电压数据进行校准之后，在对测试芯片进行测试电流时，通过目标转换器，根据校准电压数据中的校准施加电压数据对第一电流通道中的测试电流数据进行校准，得到校准测试电流数据。

步骤S620，基于所述目标转换器对所述第二电流通道中的所述施加电流数据进行校准，得到校准施加电流数据。

其中，在对测试芯片进行施加电流时，通过目标转换器对第二电流通道中的施加电流数据进行校准，得到校准施加电流数据，以校准测试电流数据和校准施加电流数据为校准电流数据。

可选地，在对测试芯片的第一电流通道和第二电流通道进行测试时校准，测试和校准的顺序可以进行调换，可以先对第一电流通道进行测试和校准，再对第二电流通道进行测试和校准，也可以先对第二电流通道进行测试和校准，再对第一电流通道进行测试和校准。

在图4所示的实施例中，能够分别对测试电流和施加电流的两种电流模式分别进行测试和校准，提高了校准得到的校准电流数据的有效性和精度，提升了芯片测试中对电流数据进行测试和校准的效率。

可选地，请参阅图5，图5为本申请实施例提供的一种步骤S610的详细流程示意图，步骤S610还可以包括步骤S611-S617。

步骤S611，根据获取的所述测试电流数据对应的所述第一电流通道设置测试电流模式，以对多个通道的开关进行控制，确定所述目标转换器对应的第一目标通道。

其中，以测试芯片的多个测试通道中测试电流时的测试通道，作为第一电流通道，并对测试芯片中的测试电流数据进行测试和获取，设置施加电压情况下的测试电流模式，以通过串行对测试芯片中的多个测试通道的开关进行控制，控制第一电流通道的开关闭合，其余测试通道的开关打开，确定目标转换器与精密测量单元的多路选择器进行连接时的用于采集的第一目标通道。

步骤S612，基于测试量程确定对应的第一目标电阻。

其中，根据精密测量单元的测试量程，能够控制对应的继电器导通，从而选择对应的第一目标电阻r0，第一目标电阻r0可以为多种型号、大小的精密电阻。

步骤S613，基于所述校准施加电压数据对应的施加电压参数在所述第一目标通道中设置预设施加电压值。

其中，将校准施加电压数据对应的施加电压参数代入测试电流模式中进行计算，以得到对应的预设施加电压值v0和v1，并在第一目标通道中对目标转换器的协议端口上设置预设施加电压值v0和v1进行施压。

步骤S614，基于所述预设施加电压值和所述第一目标电阻确定所述目标转换器中的协议端口电流值。

其中，根据预设施加电压值v0和v1，及确定的第一目标电阻r0确定目标转换器中协议端口中的协议端口电流值i1和i2，i1=v0/r0，i2=v1/r0。

步骤S615，在所述目标转换器中采集得到所述协议端口电流值对应的目标测试电流值。

其中，对目标转换器中的采集端口中的电流进行采集，得到实际的目标测试电流值i3和i4。

步骤S616，基于所述协议端口电流值和所述目标测试电流值进行计算，得到测试电流参数。

其中，根据i1、i2、i3、i4对第一目标通道中测试电流的测试电流参数进行计算，计算得到的测试电流参数可以包括测试电流斜率参数和测试电流偏移参数。

步骤S617，根据所述测试电流参数和所述测试电流数据进行计算，得到所述校准测试电流数据。

其中，将计算得到的测试电流斜率参数和测试电流偏移参数代入测试得到的测试电流数据中进行校准，以对测试电流数据中的误差进行校准，得到精度更高的校准测试电流数据。

在图5所示的实施例中，能够在测试电流时对测试电流数据进行快速、精确地校准，提高了校准的效率和精度。

可选地，请参阅图6，图6为本申请实施例提供的一种步骤S620的详细流程示意图，步骤S620还可以包括步骤S621-S626。

步骤S621，根据获取的所述施加电流数据对应的所述第二电流通道设置施加电流模式，以对多个通道的开关进行控制，确定所述目标转换器对应的第二目标通道。

其中，以测试芯片的多个测试通道中施加电流时的测试通道，作为第二电流通道，并对测试芯片中的施加电流数据进行测试和获取，设置施加电流情况下的测试电压模式，以通过串行对测试芯片中的多个测试通道的开关进行控制，控制第二电流通道的开关闭合，其余测试通道的开关打开，确定目标转换器与精密测量单元的多路选择器进行连接时的用于采集的第二目标通道。

步骤S622，基于测试量程确定对应的第二目标电阻。

其中，根据精密测量单元的测试量程，能够控制对应的继电器导通，从而选择对应的第二目标电阻r1，第二目标电阻r1可以为多种型号、大小的精密电阻。

步骤S623，在所述第二目标通道中设置预设施加电流值。

其中，在第二目标通道中对目标转换器的协议端口中设置对应的端口电压值v0和v1，以及预设施加电流值i5和i6，以进行施压和施流。

步骤S624，基于所述目标转换器中的端口电压值与所述第二目标电阻确定目标施加电流值。

其中，根据端口电压值v0和v1，以及确定的第二目标电阻r1确定目标转换器中协议端口中的实际的目标施加电流值i7和i8，i7=v0/r1，i8=v1/r1。

步骤S625，基于所述预设施加电流值和所述目标施加电流值进行计算，得到施加电流参数。

其中，根据i5、i6、i7、i8对第二目标通道中施加电流的施加电流参数进行计算，计算得到的施加电流参数可以包括施加电流斜率参数和施加电流偏移参数。

步骤S626，根据所述施加电流参数和所述施加电流数据进行计算，得到所述校准施加电流数据。

其中，将计算得到的施加电流斜率参数和施加电流偏移参数代入测试得到的施加电流数据中进行校准，以对施加电流数据中的误差进行校准，得到精度更高的校准施加电流数据。

在图6所示的实施例中，能够在施加电流时对施加电流数据进行快速、精确地校准，提高了校准的效率和精度。

可选地，请参阅图7，图7为本申请实施例提供的一种步骤S500的详细流程示意图，步骤S500还可以包括步骤S510-S520。

步骤S510，基于所述目标转换器对所述第一电压通道中的所述施加电压数据进行校准，得到所述校准施加电压数据。

其中，电压数据可以包括测试芯片的施加电压数据和测试电压数据，电压通道可以包括测试芯片的多个测试通道中的第一电压通道和第二电压通道。在对测试芯片进行施加电压时，能够通过目标转换器对第一电压通道中的施加电压数据进行校准，得到精度更高的校准施加电压数据。

步骤S520，基于所述目标转换器对所述第二电压通道中的所述测试电压数据进行校准，得到校准测试电压数据。

其中，在对测试芯片进行测试电压时，通过目标转换器对第二电压通道中的测试电压数据进行校准，得到校准测试电压数据，以所述校准施加电压数据和所述校准测试电压数据为所述校准电压数据。

可选地，在对测试芯片的第一电压通道和第二电压通道进行测试和校准时，测试和校准的顺序可以进行调换或同时进行，可以先对第一电压通道进行测试和校准，再对第二电压通道进行测试和校准，也可以先对第二电压通道进行测试和校准，再对第一电压通道进行测试和校准，还可以同时对第一电压通道和第二电压通道进行测试和校准。

在图7所示的实施例中，能够分别对施加电压和测试电压的两种电压模式分别进行测试和校准，提高了校准得到的校准电压数据的有效性和精度，提升了芯片测试中对电压数据进行测试和校准的效率。

可选地，请参阅图8，图8为本申请实施例提供的一种步骤S510的详细流程示意图，步骤S510还可以包括步骤S511-S514。

步骤S511，根据获取的所述施加电压数据对应的所述第一电压通道设置施加电压模式，以对多个通道的开关进行控制，确定所述目标转换器对应的第三目标通道。

其中，以测试芯片的多个测试通道中施加电压时的测试通道，作为第一电压通道，并对测试芯片中的施加电压数据进行测试和获取，设置施加电压情况下的测试电压模式，以通过串行对测试芯片中的多个测试通道的开关进行控制，控制第一电压通道的开关闭合，其余测试通道的开关打开，确定目标转换器与精密测量单元的多路选择器进行连接时的用于采集的第三目标通道，根据第三目标通道控制继电器选择开路。

步骤S512，在所述第三目标通道中设置预设施加电压值，在所述目标转换器中采集得到目标施加电压值。

其中，通过对第三目标通道进行施压，在目标转换器的协议端口中设置预设施加电压值v0和v1，并对目标转换器中协议端口的实际电压值进行采集，得到实际的目标施加电压值v2和v3。

步骤S513，基于所述预设施加电压值和所述目标施加电压值进行计算，得到施加电压参数。

其中，根据v0、v1、v2和v3对第三目标通道中施加电压的施加电压参数进行计算，计算得到的施加电压参数包括施加电压斜率参数和施加电压偏移参数。

步骤S514，根据所述施加电压参数和所述施加电压数据进行计算，得到所述校准施加电压数据。

其中，将计算得到的施加电压斜率参数和施加电压偏移参数代入测试得到的施加电压数据中进行校准，以对施加电压数据中的误差进行校准，得到精度更高的校准施加电压数据。

在图8所示的实施例中，能够在施加电压时对施加电压数据进行快速、精确地校准，提高了校准的效率和精度。

可选地，请参阅图9，图9为本申请实施例提供的一种步骤S520的详细流程示意图，步骤S520还可以包括步骤S521-S524。

步骤S521，根据获取的所述测试电压数据对应的所述第二电压通道设置测试电压模式，以对多个通道的开关进行控制，确定所述目标转换器对应的第四目标通道。

其中，以测试芯片的多个测试通道中测试电压时的测试通道，作为第二电压通道，并对测试芯片中的测试电压数据进行测试和获取，设置施加电压情况下的测试电压模式，以通过串行对测试芯片中的多个测试通道的开关进行控制，控制第二电压通道的开关闭合，其余测试通道的开关打开，确定目标转换器与精密测量单元的多路选择器进行连接时的用于采集的第四目标通道，根据第四目标通道控制继电器选择开路。

步骤S522，基于所述施加电压参数在所述第四目标通道中设置所述预设施加电压值，在所述目标转换器中采集得到测试电压值。

其中，通过对第四目标通道进行施压，在目标转换器的协议端口中设置预设施加电压值v0和v1，并对目标转换器中采集端口的实际电压值进行采集，得到实际的测试压值v4和v5。

步骤S523，基于所述预设施加电压值和所述测试电压值进行计算，得到测试电压参数。

其中，根据v0、v1、v4和v5对第四目标通道中测试电压的测试电压参数进行计算，计算得到的测试电压参数包括测试电压斜率参数和测试电压偏移参数。

步骤S524，根据所述测试电压参数和所述测试电压数据进行计算，得到所述校准测试电压数据。

其中，将计算得到的测试电压斜率参数和测试电压偏移参数代入测试得到的测试电压数据中进行校准，以对测试电压数据中的误差进行校准，得到精度更高的校准测试电压数据。

在图9所示的实施例中，能够在测试电压时对测试电压数据进行快速、精确地校准，提高了校准的效率和精度。

本申请实施例还提供了一种电子设备，该电子设备包括存储器和处理器，所述存储器中存储有程序指令，所述处理器读取并运行所述程序指令时，执行本实施例提供的芯片测试方法中任一项所述方法中的步骤。

应当理解是，该电子设备可以为服务器、个人电脑（Personal Computer，PC）、平板电脑、智能手机、个人数字助理（Personal Digital Assistant，PDA）等具有逻辑计算功能的电子设备。

本申请实施例还提供了一种计算机可读取存储介质，所述可读取存储介质中存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被一处理器读取并运行时，执行本实施例提供的芯片测试方法中任一项所述方法中的步骤。

综上所述，本申请实施例提供了一种芯片测试方法、***、电子设备及存储介质，能够将校准***设置在测试板内，对测试芯片的不同通道同时进行测试和校准，无需制作单独的校准板和测试仪表对芯片进行测试和校准，有效地提高了对芯片进行测试和校准的效率和精度。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备，也可以通过其它的方式实现。以上所描述的***实施例仅仅是示意性的，例如，附图中的框图显示了根据本申请的多个实施例的设备的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分，所述模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现方式中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图中的每个方框、以及框图的组合，可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的***来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

另外，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。

所述功能如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。因此本实施例还提供了一种可读取存储介质中存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被一处理器读取并运行时，执行区块数据存储方法中任一项所述方法中的步骤。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请的保护范围，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

Claims (10)

1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：

对初始转换器进行校准，得到目标转换器，所述初始转换器和所述目标转换器为模拟数字转换器；

基于所述目标转换器对测试芯片的电压通道中的电压数据进行校准，得到校准电压数据；

基于所述校准电压数据和所述目标转换器，对所述测试芯片的电流通道中的电流数据进行校准，得到校准电流数据，其中，所述电流数据包括所述测试芯片的测试电流数据和施加电流数据，所述电流通道包括第一电流通道和第二电流通道；所述基于所述校准电压数据和所述目标转换器，对所述测试芯片的电流通道中的电流数据进行校准，得到校准电流数据，包括：基于所述目标转换器和所述校准电压数据中的校准施加电压数据，对所述第一电流通道中的所述测试电流数据进行校准，得到校准测试电流数据；基于所述目标转换器对所述第二电流通道中的所述施加电流数据进行校准，得到校准施加电流数据，以所述校准测试电流数据和所述校准施加电流数据为所述校准电流数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对初始转换器进行校准，得到目标转换器，包括：

根据输入所述初始转换器的电压参数，得到校准参数，其中，所述校准参数包括校准偏移参数和校准斜率参数；

基于所述校准参数对所述初始转换器进行校准，得到所述目标转换器。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标转换器和所述校准电压数据中的校准施加电压数据，对所述第一电流通道中的所述测试电流数据进行校准，得到校准测试电流数据，包括：

根据获取的所述测试电流数据对应的所述第一电流通道设置测试电流模式，以对多个通道的开关进行控制，确定所述目标转换器对应的第一目标通道；

基于测试量程确定对应的第一目标电阻；

基于所述校准施加电压数据对应的施加电压参数在所述第一目标通道中设置预设施加电压值；

基于所述预设施加电压值和所述第一目标电阻确定所述目标转换器中的协议端口电流值；

在所述目标转换器中采集得到所述协议端口电流值对应的目标测试电流值；

基于所述协议端口电流值和所述目标测试电流值进行计算，得到测试电流参数，其中，所述测试电流参数包括测试电流斜率参数和测试电流偏移参数；

根据所述测试电流参数和所述测试电流数据进行计算，得到所述校准测试电流数据。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标转换器对所述第二电流通道中的所述施加电流数据进行校准，得到校准施加电流数据，包括：

根据获取的所述施加电流数据对应的所述第二电流通道设置施加电流模式，以对多个通道的开关进行控制，确定所述目标转换器对应的第二目标通道；

基于测试量程确定对应的第二目标电阻；

在所述第二目标通道中设置预设施加电流值；

基于所述目标转换器中的端口电压值与所述第二目标电阻确定目标施加电流值；

基于所述预设施加电流值和所述目标施加电流值进行计算，得到施加电流参数，其中，所述施加电流参数包括施加电流斜率参数和施加电流偏移参数；

根据所述施加电流参数和所述施加电流数据进行计算，得到所述校准施加电流数据。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电压数据包括所述测试芯片的施加电压数据和测试电压数据，所述电压通道包括第一电压通道和第二电压通道；所述基于所述目标转换器对测试芯片的电压通道中的电压数据进行校准，得到校准电压数据，包括：

基于所述目标转换器对所述第一电压通道中的所述施加电压数据进行校准，得到所述校准施加电压数据；

基于所述目标转换器对所述第二电压通道中的所述测试电压数据进行校准，得到校准测试电压数据，以所述校准施加电压数据和所述校准测试电压数据为所述校准电压数据。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标转换器对所述第一电压通道中的所述施加电压数据进行校准，得到校准施加电压数据，包括：

根据获取的所述施加电压数据对应的所述第一电压通道设置施加电压模式，以对多个通道的开关进行控制，确定所述目标转换器对应的第三目标通道；

在所述第三目标通道中设置预设施加电压值，在所述目标转换器中采集得到目标施加电压值；

基于所述预设施加电压值和所述目标施加电压值进行计算，得到施加电压参数，其中，所述施加电压参数包括施加电压斜率参数和施加电压偏移参数；

根据所述施加电压参数和所述施加电压数据进行计算，得到所述校准施加电压数据。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标转换器对所述第二电压通道中的所述测试电压数据进行校准，得到校准测试电压数据，包括：

根据获取的所述测试电压数据对应的所述第二电压通道设置测试电压模式，以对多个通道的开关进行控制，确定所述目标转换器对应的第四目标通道；

基于所述施加电压参数在所述第四目标通道中设置所述预设施加电压值，在所述目标转换器中采集得到测试电压值；

基于所述预设施加电压值和所述测试电压值进行计算，得到测试电压参数，其中，所述测试电压参数包括测试电压斜率参数和测试电压偏移参数；

根据所述测试电压参数和所述测试电压数据进行计算，得到所述校准测试电压数据。

8.一种芯片测试***，其特征在于，所述***包括多个校准模块和多个测试板，每一个所述校准模块设置在对应的所述测试板内，以通过所述校准模块对测试芯片的多个通道同时进行校准；

所述校准模块中还包括转换器校准子模块、电压校准子模块和电流校准子模块；

所述转换器校准子模块，用于对初始转换器进行校准，得到目标转换器，所述初始转换器和所述目标转换器为模拟数字转换器；

所述电压校准子模块，用于基于所述目标转换器对测试芯片的电压通道中的电压数据进行校准，得到校准电压数据；

所述电流校准子模块，用于基于所述校准电压数据和所述目标转换器，对所述测试芯片的电流通道中的电流数据进行校准，得到校准电流数据，其中，所述电流数据包括所述测试芯片的测试电流数据和施加电流数据，所述电流通道包括第一电流通道和第二电流通道；所述电流校准子模块，还用于：基于所述目标转换器和所述校准电压数据中的校准施加电压数据，对所述第一电流通道中的所述测试电流数据进行校准，得到校准测试电流数据；基于所述目标转换器对所述第二电流通道中的所述施加电流数据进行校准，得到校准施加电流数据，以所述校准测试电流数据和所述校准施加电流数据为所述校准电流数据。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括存储器和处理器，所述存储器中存储有程序指令，所述处理器运行所述程序指令时，执行权利要求1-7中任一项所述方法中的步骤。

10.一种计算机可读取存储介质，其特征在于，所述可读取存储介质中存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被一处理器运行时，执行权利要求1-7任一项所述方法中的步骤。

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