CN114112944A - 一种显示面板测量方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种显示面板测量方法，面阵光学传感器基于第一镜头获取显示面板的图像信息；同时，单点测量探头基于第二镜头获取显示面板上的单点目标位置的光学信息，所述单点测量探头在所述第二镜头的像面上偏离所述第二镜头的光轴且远离所述面阵光学传感器设置；显示面板的单点目标位置位于第一镜头的视域与第二镜头的视域的相交区域内；基于所述图像信息和所述光学信息完成显示面板的分析。本发明方法不仅能够在同一工位上实现对显示面板的光谱检测和瑕疵缺陷检测，而且能够在检测过程中保证光能量不衰减，具有良好的测量精度。

Description

一种显示面板测量方法
技术领域
本发明属于显示面板检测技术领域，具体公开了一种显示面板测量方法。
背景技术
随着技术发展，显示面板或发光体的特性评估对产品的特性越来越重要。常见的发光体包括LED、MicroLED、MiniLED、LD等不同类型的显示面板，其组成的产品包括但不限于消费电子产品、手机屏幕、电视显示器等。
对于这些显示产品，其发光特性的评估对于其产品的质量评价格外重要，而这些质量评价指标中最重要的参数包括发光光谱，以及该显示产品在显示区内，是否存在瑕疵和缺陷。
当对显示产品进行光谱和缺陷检测时，现有技术中一般采用分立的光谱仪和工业相机成像，该技术方案需要至少两个工位，通过移动机构实现显示面板在两个工位切换，完成分时进行工作。比如，第一时刻在第一工位进行光谱测量，测量完毕后，将产品移动到相机下，基于相机在第二时刻和第二工位对产品进行成像检测；上述技术方案存在以下技术问题：1. 检测***的复杂度高，即需要两个检测工位完成光谱测量和缺陷检测；2. 检测耗时时间长，特别是当同一个产品需要进行多个不同显示画面的光谱测量和缺陷检测时，需要两倍的时间。
发明内容
针对现有技术中存在的技术问题，本发明提供了一种显示面板测量方法，其不仅能够在同一工位上实现对显示面板的光谱检测和瑕疵缺陷检测，而且能够在检测过程中保证光能量不衰减，具有良好的测量精度。
本发明公开了一种显示面板测量方法，面阵光学传感器基于第一镜头获取显示面板的图像信息；同时，单点测量探头基于第二镜头获取显示面板上的单点目标位置的光学信息，所述单点测量探头在所述第二镜头的像面上偏离所述第二镜头的光轴且远离所述面阵光学传感器设置；显示面板的单点目标位置位于第一镜头的视域与第二镜头的视域的相交区域内；基于所述图像信息和所述光学信息完成显示面板的分析。
在本发明的一种优选实施方案中，所述单点测量探头为flicker探头，基于所述flicker探头获取显示面板的闪烁信息，基于所述闪烁信息和所述图像信息对所述显示面板的质量进行分析。
在本发明的一种优选实施方案中，所述单点测量探头为单点标准亮度和/或色度测量部件，基于单点标准亮度和/或色度测量部件获取显示面板中心点的亮度和/或色度测量值；
基于图像信息获取显示面板的面阵亮度和/或色度值，基于显示面板中心点的亮度和/或色度测量值对显示面板的面阵亮度和/或色度值进行校正，得到校正后显示面板的面阵亮度和/或色度值。
在本发明的一种优选实施方案中，所述单点标准亮度和/或色度测量部件获取显示面板中心点的亮度和/或色度测量值，和/或获取所述显示面板其它多个位置的亮度和/或色度测量值，基于显示面板中心点和/或显示面板其它多个位置的亮度和/或色度测量值对显示面板的面阵亮度和/或色度值进行校正。
在本发明的一种优选实施方案中，还包括控制装置，所述控制装置控制所述单点标准亮度和/或色度测量部件对应的传感器芯片移动，使得所述单点标准亮度和/或色度测量部件分时获取所述显示面板上的多个点的亮度和/或色度测量值，根据所述多个点的亮度和/或色度测量值对显示面板的面阵亮度和/或色度值进行校正。
在本发明的一种优选实施方案中，包括成像单元，包括第一镜头和面阵光学传感器，第一镜头在显示面板上具有第一视域；单点测量单元，包括第二镜头和单点测量探头，第二镜头在显示面板上具有第二视域；第一视域与第二视域相交形成相交视域，所述单点测量单元的测量位置位于相交视域内。
在本发明的一种优选实施方案中，包括壳体；所述壳体上设置有第一镜头，
所述壳体内设置有与所述第一镜头对应的面阵光学传感器；所述壳体上还设置有第二镜头，所述壳体内设置有与所述第二镜头对应的单点测量探头；所述单点测量探头在所述第二镜头的像面上偏离所述第二镜头的光轴且远离所述面阵光学传感器设置。
在本发明的一种优选实施方案中，所述相交视域至少包括所述第一视域的中心点。
在本发明的一种优选实施方案中，所述单点测量探头位于所述第一视域的中心点相对第二镜头的共轭像点位置。
在本发明的一种优选实施方案中，显示面板位于所述第一视域内，且部分位于所述相交视域；所述单点测量探头偏离所述第二镜头的光轴，且设置于所述显示面板的中心相对第二镜头的共轭像点位置。
在本发明的一种优选实施方案中，所述第一镜头的中心轴、所述面阵光学传感器感光面的中心轴和所述显示面板的中心轴三者同轴布置。
在本发明的一种优选实施方案中，所述第一镜头的焦距与所述第二镜头的焦距相等或不相等。
本发明的有益效果是：本发明公开的显示面板测量方法不仅能够在同一工位上实现对显示面板的光谱检测和瑕疵缺陷检测，而且能够在检测过程中保证光能量不衰减，具有良好的测量精度；
进一步的，本发明能够通过选用不同类型的单点测量探头实现显示面板不同缺陷的检测，如利用光谱探头可以实现显示面板的缺陷的检测，利用单点标准亮度和/或色度测量部件可以校正显示面板的面阵亮度和/或色度值，从而提高了本发明的通用性；
进一步的，本发明还进一步公开了用以实现本发明方法的一种装置，其具有结构简单、测量耗时短、光能量利用率高、检测精度好的优点，其通过将成像单元和光谱测量单元集成化，从而能够在同一工位上实现对显示面板的光谱检测和瑕疵缺陷检测，同时，本发明通过保证第一镜头的第一视域和第二镜头的第二视域相交形成相交视域，相交视域包括显示面板上的待测点，从而能够有效地保证显示面板的光能源互不干涉的分别透过第一镜头和第二镜头传输至面阵光学传感器和光谱仪，从而避免了低亮度场景下测量精度无法满足的缺陷；
进一步的，本发明是基于工业相机的改进，其在原有的工业相机上增加光谱测量单元即可，具有成本低、便于制造的优点；
进一步的，本发明通过保证第一镜头的中心轴、面阵光学传感器的中心轴和显示面板的中心轴三者同轴布置，更利于成像单元成像；
进一步的，本发明可以根据需要在工业相机上配置多组光谱测量单元，每组多组光谱测量单元包括一个第二镜头和一个光谱仪，使得本发明具有良好的兼容性，适合各种类型显示面板的检测；
进一步的，本发明可以选用焦距相等或不相等第一镜头和第二镜头，从而使得本发明可以根据不同的环境合理选择不同长度的镜头，避免检测过程中发生本发明与其它装置干涉；
进一步的，本发明的光谱仪的探头包括光谱仪传感器探头或者高速光电探头或者光强探测器或者强度探测器，提高了本发明的通用性；
进一步的，本发明的第一镜头的中心轴与第二镜头中心轴两者之间的间距可调，更利于在产品装配阶段的调试。
附图说明
图1是本发明一种显示面板测量方法的第一视域示意图；
图2是本发明一种显示面板测量方法的第二视域示意图；
图3是本发明一种显示面板测量方法的相交视域示意图；
图中：1-壳体，2-第一镜头，3-面阵光学传感器，4-第二镜头，5-显示面板，6-单点测量探头，7-第一视域，8-第二视域，9-相交视域。
具体实施方式
下面通过附图以及列举本发明的一些可选实施例的方式，对本发明的技术方案（包括优选技术方案）做进一步的详细描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
如图1-3所示，本发明公开了一种显示面板测量方法，面阵光学传感器3基于第一镜头2获取显示面板的图像信息；同时，单点测量探头6基于第二镜头4获取显示面板上的单点目标位置的光学信息，单点测量探头6在第二镜头4的像面上偏离第二镜头4的光轴且远离面阵光学传感器3设置；显示面板的单点目标位置位于第一镜头2的视域与第二镜头4的视域的相交区域内；基于所述图像信息和所述光学信息完成显示面板的分析。
优选地，单点测量探头6为flicker探头，基于所述flicker探头获取显示面板的闪烁信息，基于闪烁信息和图像信息对显示面板的质量进行分析。
优选地，单点测量探头6为单点标准亮度和/或色度测量部件，基于单点标准亮度和/或色度测量部件获取显示面板中心点的亮度和/或色度测量值；基于图像信息获取显示面板的面阵亮度和/或色度值，基于显示面板中心点的亮度和/或色度测量值对显示面板的面阵亮度和/或色度值进行校正，得到校正后显示面板的面阵亮度和/或色度值。
优选地，单点标准亮度和/或色度测量部件获取显示面板中心点的亮度和/或色度测量值，和/或获取所述显示面板其它多个位置的亮度和/或色度测量值，基于显示面板中心点和/或显示面板其它多个位置的亮度和/或色度测量值对显示面板的面阵亮度和/或色度值进行校正。
优选地，还包括控制装置，所述控制装置控制所述单点标准亮度和/或色度测量部件对应的传感器芯片移动，使得所述单点标准亮度和/或色度测量部件分时获取所述显示面板上的多个点的亮度和/或色度测量值，根据所述多个点的亮度和/或色度测量值对显示面板的面阵亮度和/或色度值进行校正。
本发明还公开了用以实现上述方法的装置，其为基于工业相机的改进，其集成设置有成像单元，包括第一镜头2和面阵光学传感器3，第一镜头2在显示面板5上形成第一视域7，第一视域7内显示面板5上的光束透过第一镜头2由面阵光学传感器3接收；光谱测量单元，包括第二镜头4和光谱仪，第二镜头4在显示面板5上形成第二视域8，第二视域8内显示面板5上的光束透过第二镜头4由光谱仪的探头接收；第一视域7与第二视域8相交形成相交视域9，显示面板5上的待测点位于相交视域9内（包括相交视域9的边界区域），即显示面板5上的待测点的光束既透过第一镜头2由面阵光学传感器3接收、又透过第二镜头4由光谱仪的探头接收，两者互不干涉。
优选地，包括壳体1，壳体1上设置有1个第一镜头2，壳体1内设置有1个面阵光学传感器3，1个第一镜头2的布置位置与1个面阵光学传感器3的布置位置相对应。
优选地，第一镜头2的中心轴、面阵光学传感器3的中心轴和显示面板5的中心轴三者同轴布置。
优选地，包括壳体1，壳体1上设置有1个第二镜头4，壳体1内设置有1个光谱仪，第二镜头4的布置位置与光谱仪的布置位置相对应。
优选地，光谱仪的探头与显示面板5上的待测点相对于第二镜头4共轭。
优选地，一个第二镜头4对应至少一个光谱仪。
优选地，第一镜头2的焦距与第二镜头4的焦距相等或者，第一镜头2的焦距与第二镜头4的焦距可以略微不一致，比如说第二镜头4的长度短一点，工作距离长一点。
优选地，光谱仪的探头包括光谱仪传感器探头或者高速光电探头或者光强探测器或者强度探测器。
优选地，第一镜头2的中心轴与第二镜头4中心轴两者之间的间距可调。
优选地，成像单元的第一镜头2和面阵光学传感器3之间的物象关系满足基本的清晰成像条件，面阵光学传感器3能够获取显示面板5的整个视野BD，视野BD即显示面板5的大小。
优选地，当需要光谱仪的探头对显示面板5的中心C进行测量时，需要光谱仪的探头距离最近的成像芯片边缘的距离，为显示面板5尺寸的一半，即BD/2。
所属技术领域的技术人员容易理解，以上仅为本发明的较佳实施例而已，并不以限制本发明，凡在本发明的精神和原则下所做的任何修改、组合、替换、改进等均包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种显示面板测量方法，其特征在于：
面阵光学传感器（3）基于第一镜头（2）获取显示面板的图像信息；
同时，单点测量探头（6）基于第二镜头（4）获取显示面板上的单点目标位置的光学信息，所述单点测量探头（6）在所述第二镜头（4）的像面上偏离所述第二镜头（4）的光轴且远离所述面阵光学传感器（3）设置；
显示面板的单点目标位置位于第一镜头（2）的视域与第二镜头（4）的视域的相交区域内；
基于所述图像信息和所述光学信息完成显示面板的分析。
2.根据权利要求1所述的显示面板测量方法，其特征在于：所述单点测量探头（6）为flicker探头，基于所述flicker探头获取显示面板的闪烁信息，基于所述闪烁信息和所述图像信息对所述显示面板的质量进行分析。
3.根据权利要求1所述的显示面板测量方法，其特征在于：所述单点测量探头（6）为单点标准亮度和/或色度测量部件，基于单点标准亮度和/或色度测量部件获取显示面板中心点的亮度和/或色度测量值；
基于图像信息获取显示面板的面阵亮度和/或色度值，基于显示面板中心点的亮度和/或色度测量值对显示面板的面阵亮度和/或色度值进行校正，得到校正后显示面板的面阵亮度和/或色度值。
4.根据权利要求3所述的显示面板测量方法，其特征在于：所述单点标准亮度和/或色度测量部件获取显示面板中心点的亮度和/或色度测量值，和/或获取所述显示面板其它多个位置的亮度和/或色度测量值，基于显示面板中心点和/或显示面板其它多个位置的亮度和/或色度测量值对显示面板的面阵亮度和/或色度值进行校正。
5.根据权利要求3所述的显示面板测量方法，其特征在于：还包括控制装置，所述控制装置控制所述单点标准亮度和/或色度测量部件对应的传感器芯片移动，使得所述单点标准亮度和/或色度测量部件分时获取所述显示面板上的多个点的亮度和/或色度测量值，根据所述多个点的亮度和/或色度测量值对显示面板的面阵亮度和/或色度值进行校正。
6.根据权利要求1-5任一项权利要求所述的显示面板测量方法，其特征在于：
包括壳体（1）；
所述壳体（1）上设置有第一镜头（2），所述壳体（1）内设置有与所述第一镜头（2）对应的面阵光学传感器（3）；
所述壳体（1）上还设置有第二镜头（4），所述壳体（1）内设置有与所述第二镜头（4）对应的单点测量探头（6）。
7.根据权利要求1所述的显示面板测量方法，其特征在于：所述相交区域至少包括所述第一镜头的视域的中心点。
8.根据权利要求1所述的显示面板测量方法，其特征在于：所述单点测量探头（6）位于显示面板的中心点相对第二镜头（4）的共轭像点位置。
9.根据权利要求1所述的显示面板测量方法，其特征在于：显示面板位于所述第一镜头的视域内，且部分位于所述相交区域。
10.根据权利要求1所述的显示面板测量方法，其特征在于：所述第一镜头（2）的中心轴、所述面阵光学传感器（3）感光面的中心轴和所述显示面板的中心轴三者同轴布置。
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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0645008A1 (en) * 1992-06-09 1995-03-29 Luxtron Corporation Endpoint detection technique using signal slope determinations
CN104266969A (zh) * 2014-09-18 2015-01-07 电子科技大学 一种红外和太赫兹探测装置
CN104702813A (zh) * 2015-02-11 2015-06-10 杭州载力科技有限公司 多ccd拼接扫描机构及利用该机构进行图像处理的方法
CN107170911A (zh) * 2017-06-23 2017-09-15 深圳市华星光电技术有限公司 一种显示面板的老化测试***及方法
CN109140153A (zh) * 2018-09-28 2019-01-04 武汉精立电子技术有限公司 一种液晶面板光学检测相机微调装置
CN109819245A (zh) * 2019-01-24 2019-05-28 武汉精立电子技术有限公司 基于aoi平台的色度亮度数据的在线测量方法及装置
CN111521617A (zh) * 2020-04-30 2020-08-11 上海御微半导体技术有限公司 光学检测设备、光学检测设备的控制方法及存储介质
CN113218900A (zh) * 2021-05-07 2021-08-06 江苏凤凰通达印刷有限公司 一种书籍印刷品质检测***

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0645008A1 (en) * 1992-06-09 1995-03-29 Luxtron Corporation Endpoint detection technique using signal slope determinations
CN104266969A (zh) * 2014-09-18 2015-01-07 电子科技大学 一种红外和太赫兹探测装置
CN104702813A (zh) * 2015-02-11 2015-06-10 杭州载力科技有限公司 多ccd拼接扫描机构及利用该机构进行图像处理的方法
CN107170911A (zh) * 2017-06-23 2017-09-15 深圳市华星光电技术有限公司 一种显示面板的老化测试***及方法
CN109140153A (zh) * 2018-09-28 2019-01-04 武汉精立电子技术有限公司 一种液晶面板光学检测相机微调装置
CN109819245A (zh) * 2019-01-24 2019-05-28 武汉精立电子技术有限公司 基于aoi平台的色度亮度数据的在线测量方法及装置
CN111521617A (zh) * 2020-04-30 2020-08-11 上海御微半导体技术有限公司 光学检测设备、光学检测设备的控制方法及存储介质
CN113218900A (zh) * 2021-05-07 2021-08-06 江苏凤凰通达印刷有限公司 一种书籍印刷品质检测***

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