CN114093290A - 显示模组异常定位方法、装置、智能设备及存储介质 - Google Patents
显示模组异常定位方法、装置、智能设备及存储介质 Download PDFInfo
- Publication number
- CN114093290A CN114093290A CN202111431452.1A CN202111431452A CN114093290A CN 114093290 A CN114093290 A CN 114093290A CN 202111431452 A CN202111431452 A CN 202111431452A CN 114093290 A CN114093290 A CN 114093290A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- load
- display module
- screen
- signal
- time sequence
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 66
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 title claims description 41
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 80
- 238000004088 simulation Methods 0.000 claims abstract description 39
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 40
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 9
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 230000004044 response Effects 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 238000009659 non-destructive testing Methods 0.000 description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 230000002427 irreversible effect Effects 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 230000004807 localization Effects 0.000 description 2
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000012958 reprocessing Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
Abstract
本发明公开了显示模组异常定位方法、装置、智能设备及存储介质，所述方法包括：检测接收到模拟空载信号；基于所述模拟空载信号，控制启动设置在屏时序控制IC与源极驱动IC间的模拟空载电路；通过所述模拟空载电路，控制屏时序控制IC处于空载；检测接收到检测信号，输出用于表示屏时序控制IC是否故障的检测返回信号。与现有技术相比，通过在屏时序控制IC的输出端与源极驱动IC的输入端之间设置一模拟空载电路，使得在对显示模组进行异常定位时，无需破坏屏时序控制IC与源极驱动IC间的连接结构即可判断屏时序控制IC是否异常，并基于尚未受破坏的显示模组，可进一步检测显示模组其他结构是否异常，实现对显示模组的无损检测，降低成本，优化流程。
Description
技术领域
本发明涉及显示模组异常检测领域，尤其涉及的是显示模组异常定位方法、装置、智能设备及存储介质。
背景技术
现有的显示模组大多包含显示面板panel，与显示面板连接的覆晶薄膜(COF，ChipOn Flex)，其中该覆晶薄膜中包含源极驱动IC(source driver IC)，与覆晶薄膜连接的屏时序控制IC(TCON IC)以及电源模块Power。
而在现有技术中，当显示面板出现显示异常例如黑屏、闪烁等故障时，通常采用的检测手段为将屏时序控制IC和电源模块与覆晶薄膜撕开，并检测在空载条件下屏时序控制IC输出的Data数据信号波形是否异常以判断是由屏时序控制IC异常还是源极驱动IC异常导致的显示异常。该种检测方法造成的破坏是不可逆的，同时还会导致难以对显示模组的其他可能故障部分进行进一步的检测排查。
因此，现有技术还有待改进和发展。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种显示模组异常定位方法、装置、智能设备及存储介质，旨在解决现有技术中在对故障显示模组进行检测时需要将硬件破坏才能测出屏时序控制IC是否故障，且无故障情况下无法进一步对显示模组其他部分进行检测的问题。
为了实现上述目的，本发明第一方面提供一种显示模组异常定位方法，其中，上述方法包括：
检测接收到模拟空载信号；
基于所述模拟空载信号，控制启动设置在屏时序控制IC与源极驱动IC间的模拟空载电路；
通过所述模拟空载电路，控制屏时序控制IC处于空载；
检测接收到检测信号，输出用于表示屏时序控制IC是否故障的检测返回信号。
可选的，上述检测接收到模拟空载信号的步骤之前包括：
预先在屏时序控制IC的输出端与源极驱动IC的输入端之间设置一用于模拟屏时序控制IC空载的空载电路。
可选的，上述基于所述模拟空载信号，控制启动设置在屏时序控制IC与源极驱动IC间的模拟空载电路的步骤包括：
将所述模拟空载信号输入至所述模拟空载电路输入端；
基于输入的模拟空载信号，启动设置在屏时序控制IC输出端与源极驱动IC输入端之间的模拟空载电路。
可选的，上述通过所述模拟空载电路，控制屏时序控制IC处于空载的步骤包括：
通过所述模拟空载电路，断开屏时序控制IC输出端与源极驱动IC输入端之间的连接，使屏时序控制IC处于空载状态。
可选的，上述检测接收到检测信号，输出用于表示屏时序控制IC是否故障的检测返回信号的步骤之后包括：
基于所述检测返回信号，判断所述屏时序控制IC是否正常；
当检测返回信号波形与预设的正常波形相同时，判断所述屏时序控制IC正常；
当检测返回信号波形与预设的正常波形不同时，判断所述屏时序控制IC故障。
可选的，上述检测接收到检测信号，输出用于表示屏时序控制IC是否故障的检测返回信号的步骤之后还包括：
当判断所述屏时序控制IC正常；
进一步通过OM光学设备检测bonding区域未破损；
将源极驱动IC与显示面板分离，通过检测源极驱动IC输出信号波形判断源极驱动IC与显示面板是否故障。
本发明第二方面提供一种模拟空载电路，其中，包括：
模拟空载信号输入端，所述模拟空载信号输入端与屏时序控制IC连接；
开关组，包含若干MOS管，各MOS管的基极与所述模拟空载信号输入端连接，源极与屏时序控制IC输出端连接，漏极与源极驱动IC输入端连接。
本发明第三方面提供一种显示模组异常定位装置，其中，上述装置包括：
模拟空载信号接收模块，用于检测接收到模拟空载信号；
模拟空载电路启动模块，用于基于所述模拟空载信号，控制启动设置在屏时序控制IC与源极驱动IC间的模拟空载电路；
屏时序控制IC空载控制模块，用于通过所述模拟空载电路，控制屏时序控制IC处于空载；
检测信号输出模块，用于检测接收到检测信号，输出用于表示屏时序控制IC是否故障的检测返回信号。
本发明第四方面提供一种智能设备，上述智能设备包括存储器、处理器以及存储在上述存储器上并可在上述处理器上运行的显示模组异常定位程序，上述显示模组异常定位程序被上述处理器执行时实现任意一项上述显示模组异常定位方法的步骤。
本发明第五方面提供一种存储介质，上述存储介质上存储有显示模组异常定位程序，上述显示模组异常定位程序被处理器执行时实现任意一项上述显示模组异常定位方法的步骤。
由上可见，本发明方案中，检测接收到模拟空载信号；基于所述模拟空载信号，控制启动设置在屏时序控制IC与源极驱动IC间的模拟空载电路；通过所述模拟空载电路，控制屏时序控制IC处于空载；检测接收到检测信号，输出用于表示屏时序控制IC是否故障的检测返回信号。与现有技术相比，本发明通过在屏时序控制IC的输出端与源极驱动IC的输入端之间设置一模拟空载电路，使得在对显示模组进行异常定位时，无需破坏屏时序控制IC与源极驱动IC间的连接结构即可模拟出屏时序控制IC空载条件，有利于显示模组的异常定位，且基于尚未受破坏的显示模组，还可进一步检测显示模组其他结构是否异常，便于对显示模组的无损检测，降低成本，实现更完善的显示模组异常定位流程。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1是本发明实施例提供的模拟空载电路的电路示意图；
图2是本发明实施例提供的一种显示模组异常定位方法的流程示意图；
图3是本发明实施例提供的32HD驱动架构示意图；
图4是本发明实施例提供的在屏时序控制IC与源极驱动IC间设置的模拟空载电路的示意图；
图5是本发明实施图2中步骤S200的具体流程示意图；
图6是本发明实施图2中步骤S300的具体流程示意图；
图7是本发明实施例提供的，显示模组异常显示下屏时序控制IC无异常时的波形示意图；
图8是本发明实施例提供的，显示模组异常显示下屏时序控制IC有异常时的波形示意图；
图9是本发明实施例提供的通过显示模组异常定位方法进行异常定位的具体流程示意图；
图10是本发明实施例提供的基于未受破坏样品对COF/bonding/panel进行异常定位的具体流程示意图；
图11是本发明实施例提供的一种显示模组异常定位装置的结构示意图；
图12是本发明实施例提供的一种智能设备的内部结构原理框图。
具体实施方式
以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定***结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本发明实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本发明。在其它情况下，省略对众所周知的***、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本发明的描述。
应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解，在本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
还应当进一步理解，在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
如在本说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当…时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似的，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述的条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。
下面结合本发明实施例的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是本发明还可以采用其它不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。
随着科技的发展以及人们生活水平的提高，电视、手机、电脑等设备的显示效果越来越好，但新技术的出现往往伴随着未知的故障和风险，如何降低屏幕显示模组的故障率、返修率，完善和优化返修过程中的检测流程，便成为了显示模组领域的一大重要问题。
在现有技术中，当需要分析显示模组中的屏时序控制IC(集成电路)是否故障时，往往需要破坏屏时序控制IC与源极驱动IC间的连接结构，使所述屏时序控制IC置于空负载状态进行输出信号波形的检测，可见该种检测方法不仅对显示模组造成了不可逆的破坏，还增加了显示模组返修的成本。
为了解决现有技术的问题，在本发明方案中，检测接收到模拟空载信号；基于所述模拟空载信号，控制启动设置在屏时序控制IC与源极驱动IC间的模拟空载电路；通过所述模拟空载电路，控制屏时序控制IC处于空载；检测接收到检测信号，输出用于表示屏时序控制IC是否故障的检测返回信号。与现有技术相比，本发明通过在屏时序控制IC的输出端与源极驱动IC的输入端之间设置一模拟空载电路，使得在对显示模组进行异常定位时，无需破坏屏时序控制IC与源极驱动IC间的连接结构即可模拟出屏时序控制IC空载条件，有利于显示模组的异常定位，且基于尚未受破坏的显示模组，还可进一步检测显示模组其他结构是否异常，便于对显示模组的无损检测，降低成本，实现更完善的显示模组异常定位流程。
示例性结构
如图1所示，在本实施例中设置一种模拟空载电路，其具体包括：
模拟空载信号输入端，所述模拟空载信号输入端与屏时序控制IC连接；
开关组，包含若干MOS管，各MOS管的基极与所述模拟空载信号输入端连接，源极与屏时序控制IC输出端连接，漏极与源极驱动IC输入端连接。
可见，该模拟空载电路通过Input_enable(输入使能端或模拟空载电路输入端)控制各所有MOS管的开关状态，进一步控制屏时序控制IC输出端与源极驱动IC输入端间的连通关系，可实现模拟屏时序控制IC空载的效果。
示例性方法
如图2所示，本发明实施例提供一种显示模组异常定位方法，具体的，上述方法包括如下步骤：
步骤S100、检测接收到模拟空载信号；
在本实施例中，所述显示模组通过显示模组输入端接收到所述模拟空载信号，或根据显示模组结构的不同具体的可通过屏时序控制IC的输入端检测接收到所述模拟空载信号。
步骤S200、基于所述模拟空载信号，控制启动设置在屏时序控制IC与源极驱动IC间的模拟空载电路；
在本实施例中，所述显示模组基于所述模拟空载信号，控制启动设置在所述屏时序控制IC与源极驱动IC间的模拟空载电路。进一步的，基于不同的显示模组结构，可通过单独的IC启动并控制该模拟空载电路，也可利用现有结构IC进行控制，例如使用屏时序控制IC的某输出端启动并控制该模拟空载电路。有利于在不同结构显示模组中搭载该模拟空载电路以及使用该显示模组异常定位方法。
步骤S300、通过所述模拟空载电路，控制屏时序控制IC处于空载；
在本实施例中，所述显示模组通过所述模拟空载电路，控制屏时序控制IC处于空载状态，具体包括所述模拟空载电路模拟断开屏时序控制IC输出端与源极驱动IC输入端之间连通，使所述屏时序控制IC处于空载状态。通过本步骤实现在不破坏显示模组结构的前提下，将屏时序控制IC置于空载状态，实现无损检测的目的。
步骤S400、检测接收到检测信号，输出用于表示屏时序控制IC是否故障的检测返回信号。
在本实施例中，所述屏时序控制IC模拟空载后，当所述显示模组接收到针对屏时序控制IC的检测信号，所述屏时序控制IC根据输入的检测信号输出检测返回信号，所述检测返回信号用于体现所述屏时序控制IC是否故障，具体的，当所述检测返回信号与预先设置的正常的检测返回信号波形相同时，判断所述屏时序控制IC正常；当所述检测返回信号与预先设置的正常的检测返回信号波形不同时，判断所述屏时序控制IC异常。基于尚未破坏的显示模组结构，还可进一步检测显示模组中其他结构是否异常，例如显示模组连接结构是否有脏污、划痕等异常，源极驱动IC是否异常以及显示面板本身是否异常等。可见，通过本方法不仅可以保证在不破坏显示面板结构的基础上对屏时序控制IC进行故障检测，还可便于进一步确定显示模组的其他故障问题。
由上可见，本发明实施例提供的显示模组异常定位方法检测接收到模拟空载信号；基于所述模拟空载信号，控制启动设置在屏时序控制IC与源极驱动IC间的模拟空载电路；通过所述模拟空载电路，控制屏时序控制IC处于空载；检测接收到检测信号，输出用于表示屏时序控制IC是否故障的检测返回信号。与现有技术相比，本发明在显示模组的屏时序控制IC与源极驱动IC间加设一模拟空载电路，所述模拟空载电路用于模拟屏时序控制IC处于空载状态。实现在不破坏显示模组结构的前提下，得到空载屏时序控制IC的输出信号，并进一步通过输出信号波形判断所述屏时序控制IC是否故障。解决了现有技术中对屏时序控制IC故障进行检测时需要破坏屏时序控制IC与源极驱动IC间连接结构，流程复杂，成本高的问题。便于显示模组厂商优化显示模组返修流程，控制成本。
具体的，如图3所示，本实施例中32HD的open cell(液晶)驱动架构为例，对本实施例的显示模组异常定位方法进行解释，本实施例中的显示模组异常表现为在显示画面时有一区域闪烁。当上述显示模组为其他驱动架构时，可参照本实施例中的具体方案。
在一种应用场景中，检测接收到模拟空载信号；
具体的，在检测接收到模拟空载信号的步骤之前包括：
预先在屏时序控制IC的输出端与源极驱动IC的输入端之间设置一用于模拟屏时序控制IC空载的空载电路。
举例说明，如图4所示，预先在屏时序控制IC(TCON IC)的输出端与源极驱动IC(Source driver)的输入端之间设置一模拟空载电路(Block A)，所述模拟空载电路的一端连接屏时序控制IC的输出端，对应的另一端连接源极驱动IC的输入端，其中，所述模拟空载电路通过Input_enable输入使能端与屏时序控制IC连接，即通过屏时序控制IC可控制模拟空载电路的工作状态。
进一步的，基于本实施例中的驱动架构，所述显示面板通过屏时序控制IC接收到模拟空载信号。
在一种应用场景中，基于所述获取的模拟空载信号，控制启动所述模拟空载电路。
具体的，如图5所示，上述步骤S200包括：
步骤S201、将所述模拟空载信号输入至所述模拟空载电路输入端；
步骤S202、基于输入的模拟空载信号，启动设置在屏时序控制IC输出端与源极驱动IC输入端之间的模拟空载电路。
举例说明，当所述屏时序控制IC接收到所述模拟空载信号后，通过输入使能端即模拟空载信号输入端，将所述模拟空载信号输入至模拟空载电路中。基于接收到的所述模拟空载信号，所述设置在屏时序控制IC输出端与源极驱动IC输入端之间的模拟空载电路启动。
在一种应用场景中，所述显示模组通过所述模拟空载电路，控制屏时序控制IC处于空载状态。
具体的，如图6所示，上述步骤S300包括：
步骤S301、通过所述模拟空载电路，断开屏时序控制IC输出端与源极驱动IC输入端之间的连接，使屏时序控制IC处于空载状态。
举例说明，请参阅图1，所述模拟空载电路由若干MOS管组成，所述MOS管的基极与模拟空载电路输入端连接，所述MOS管的源极和漏极分别与屏时序控制IC的输出端与源极驱动IC的输入端连接。当所述模拟空载电路的输入端高电平时，MOS管源极和漏极导通，即屏时序控制IC与源极驱动IC连接，当所述模拟空载电路输入端为低电平时，MOS管源极和漏极断开，即此时相当于屏时序控制IC与源极驱动IC断路，所述屏时序控制IC处于空载状态。通过本方法步骤模拟屏时序控制IC去负载的情况，避免了为检测屏时序控制IC异常而对显示模组造成不可逆破坏的问题。
在一种应用场景中，当所述显示模组接收到用于检测屏时序控制IC的检测信号时，所述屏时序控制IC输出检测返回信号。
具体的，请参照图4，在所述屏时序控制IC的每一输入端处有一检测点(testingpad)，当所述显示模组接收到检测信号后，通过所述检测点测量得到各输出端的输出信号波形。基于所述检测返回信号，判断所述屏时序控制IC是否正常，当检测返回信号波形与预设的正常波形相同时，判断所述屏时序控制IC正常，当检测返回信号波形与预设的正常波形不同时，判断所述屏时序控制IC故障，图7与图8分别为显示模组异常显示下，屏时序控制IC无异常和屏时序控制IC有异常的波形示意图，其中ST信号为显示面板的扫描信号，COF输入可理解为源极驱动IC输入。
进一步的，在所述检测接收到检测信号，输出用于表示屏时序控制IC是否故障的检测返回信号的步骤之后还包括：当判断所述屏时序控制IC正常，进一步通过OM光学设备检测bonding区域未破损，将源极驱动IC与显示面板分离，通过检测源极驱动IC输出信号波形判断源极驱动IC与显示面板是否故障。所述OM光学设备为一种用于放大并检测线路细微结构有无脏污、破损等的设备；所述bonding为一种用于电子领域的线路连接方法和结构。
举例说明，当通过上述检测返回信号波形判断所述屏时序控制IC正常时，基于尚未破坏的显示模组，还可进一步排查和定位其他器件、模块和结构是否损坏。请参阅图3，例如将所述显示模组置于OM光学设备下，检查bonding区域A与bonding区域B处的连接结构中是否因出现脏污或破损导致显示异常。当通过OM光学设备并未检测到有脏污或异常存在时，进一步将异常确定在源极驱动IC后的电路，包括源极驱动IC以及显示面板本身，则最后将源极驱动IC与显示面板间的连接断开，检测所述源极驱动IC的输出信号波形是否与预设的输出信号波形相同，若相同则判断所述源极驱动IC正常，显示面板异常；若不相同则判断所述源极驱动IC异常。可见，通过上述方法检测屏时序控制IC后，便于对后续bonding区域、源极驱动IC以及显示面板的进一步异常检测。
本发明实施例中，还基于一种场景对上述显示模组异常定位方法进行具体说明，图9是本发明实施例提供的通过显示模组异常定位方法进行异常定位的具体流程示意图，其步骤包括：
步骤S10、开始，进入步骤S11；
步骤S11、检测不良品的Data波形，进入步骤S12；
步骤S12、将不良品波形与OK样品波形对比，确认波形是否OK，若是则进入步骤S16，若否则进入步骤S13；
步骤S13、TCON将Input_enable pin拉低，Source driver输入disable，进入步骤S14；
步骤S14、测量空载情况下的Data波形，确认波形是否OK，若是则进入步骤S17，如否则进入步骤S15；
步骤S15、TCON IC对应的Data output通道NG，进入步骤S20；
步骤S16、确认Power NG，进入步骤S20；
步骤S17、确认是COF/bonding/panel等NG，进入步骤S18；
步骤S18、样品未受破坏，可以继续分析，进入步骤S20；
步骤S20、结束。
由上可见，在某显示模组样品进入检测流程，首先输入第一检测信号，并由TCON即上一实施例中的屏时序控制IC的输出端得到第一Data信号，通过将第一Data信号波形与正常样品的波形进行对比，当确认波形正常，则认为Power即供电模块异常，当所述波形不正常，则进一步通过TCON将Input_enable引脚拉低，使Source driver即源极驱动IC输入断开，并检测屏时序控制IC空载情况下输出的第二Data波形是否正常，若是则判断显示模组异常是由COF/bonding/panel等的NG引起的，在样品未收到破坏的情况下可通过其他分析流程进一步对COF/bonding/panel分别进行分析；若否则判断屏时序控制IC对应的Data输出通道异常，分析结束。
进一步地，如图10所示，为基于未受破坏样品对COF/bonding/panel进行异常定位的具体流程示意图，其步骤包括：
步骤S30、开始，进入步骤S31；
步骤S31、已确认是由COF/bonding/panel引起的显示模组异常，进入步骤S32；
步骤S32、在OM光学设备下检查bonding区域是否有异常，若有则进入步骤S36，若无则进入步骤S33；
步骤S33、私下COF，检测COF不带panel情况下的V_block所在区域的sourceoutput信号波形，进入步骤S34；
步骤S34、将所述波形与显示OK区域的波形进行对比，当相同则进入步骤S37，当不同则进入步骤S35；
步骤S35、确定为COF不良引起的显示异常，进入步骤S40；
步骤S36、确定不良是由bonding异常引起的显示异常，进入步骤S40；
步骤S37、确定不良为panel引起，进入步骤S40；
步骤S40、结束。
由上可见，当不良品已确认是由COF/bonding/panel引起时，进一步通过OM光学设备检查bonding区域是否有异常，若有则判断异常为bonding区域引起，若无则进一步撕下COF，获取COF不带panel情况下的V_block所在区域的source output(源极输出)的信号波形，所述COF为封装上一实施例中源极驱动IC所用结构，此处可视为源极驱动IC进行理解，所述panel为显示面板，所述V_block为面板中损坏区域，V_block所在区域的源极输出即对应管理V_block处像素显示的源极驱动IC输出端。将所述异常位置的源极输出信号波形与显示正常区域对应的源极输出信号波形进行对比，当相同则判断所述显示异常为显示面板引起，当不同则判断所述显示异常为COF即源极驱动IC异常引起。
可见，通过本方法可实现对屏时序控制IC的无损检测，且基于未受损坏的不良样品还可进一步对COF/bonding/panel进一步进行异常的定位，在优化返修步骤的同时还节约了成本。
示例性设备
如图11中所示，对应于上述显示模组异常定位方法，本发明实施例还提供一种显示模组异常定位装置，上述显示模组异常定位装置包括：
模拟空载信号接收模块1110，用于检测接收到模拟空载信号；
在本实施例中，所述显示模组通过显示模组输入端接收到所述模拟空载信号，或根据显示模组结构的不同具体的可通过屏时序控制IC的输入端检测接收到所述模拟空载信号。
模拟空载电路启动模块1120，用于基于所述模拟空载信号，控制启动设置在屏时序控制IC与源极驱动IC间的模拟空载电路；
在本实施例中，所述显示模组基于所述模拟空载信号，控制启动设置在所述屏时序控制IC与源极驱动IC间的模拟空载电路。进一步的，基于不同的显示模组结构，可通过单独的IC启动并控制该模拟空载电路，也可利用现有结构IC进行控制，例如使用屏时序控制IC的某输出端启动并控制该模拟空载电路。有利于在不同结构显示模组中搭载该模拟空载电路以及使用该显示模组异常定位方法。
屏时序控制IC空载控制模块1130，用于通过所述模拟空载电路，控制屏时序控制IC处于空载；
在本实施例中，所述显示模组通过所述模拟空载电路，控制屏时序控制IC处于空载状态，具体包括所述模拟空载电路模拟断开屏时序控制IC输出端与源极驱动IC输入端之间连通，使所述屏时序控制IC处于空载状态。通过本步骤实现在不破坏显示模组结构的前提下，将屏时序控制IC置于空载状态，实现无损检测的目的。
检测信号输出模块1140，用于检测接收到检测信号，输出用于表示屏时序控制IC是否故障的检测返回信号。
在本实施例中，所述屏时序控制IC模拟空载后，当所述显示模组接收到针对屏时序控制IC的检测信号，所述屏时序控制IC根据输入的检测信号输出检测返回信号，所述检测返回信号用于体现所述屏时序控制IC是否故障，具体的，当所述检测返回信号与预先设置的正常的检测返回信号波形相同时，判断所述屏时序控制IC正常；当所述检测返回信号与预先设置的正常的检测返回信号波形不同时，判断所述屏时序控制IC异常。基于尚未破坏的显示模组结构，还可进一步检测显示模组中其他结构是否异常，例如显示模组连接结构是否有脏污、划痕等异常，源极驱动IC是否异常以及显示面板本身是否异常等。可见，通过本方法不仅可以保证在不破坏显示面板结构的基础上对屏时序控制IC进行故障检测，还可便于进一步确定显示模组的其他故障问题。
由上可见，本发明实施例提供的显示模组异常定位方法通过所述模拟空载信号接收模块1110，检测接收到模拟空载信号；通过所述模拟空载电路启动模块1120，基于所述模拟空载信号，控制启动设置在屏时序控制IC与源极驱动IC间的模拟空载电路；通过所述屏时序控制IC空载控制模块1130，通过所述模拟空载电路，控制屏时序控制IC处于空载；通过所述检测信号输出模块1140，检测接收到检测信号，输出用于表示屏时序控制IC是否故障的检测返回信号。与现有技术相比，本发明在显示模组的屏时序控制IC与源极驱动IC间加设一模拟空载电路，所述模拟空载电路用于模拟屏时序控制IC处于空载状态。实现在不破坏显示模组结构的前提下，得到空载屏时序控制IC的输出信号，并进一步通过输出信号波形判断所述屏时序控制IC是否故障。解决了现有技术中对屏时序控制IC故障进行检测时需要破坏屏时序控制IC与源极驱动IC间连接结构，流程复杂，成本高的问题。便于显示模组厂商优化显示模组返修流程，控制成本。
具体的，本实施例中，上述显示模组异常定位装置的各模块的具体功能可以参照上述显示模组异常定位方法中的对应描述，在此不再赘述。
基于上述实施例，本发明还提供了一种智能设备，其原理框图可以如图12所示。上述智能设备包括通过***总线连接的处理器、存储器、网络接口以及显示屏。其中，该智能设备的处理器用于提供计算和控制能力。该智能设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作***和显示模组异常定位程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作***和显示模组异常定位程序的运行提供环境。该智能设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该显示模组异常定位程序被处理器执行时实现上述任意一种显示模组异常定位方法的步骤。该智能设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏。
本领域技术人员可以理解，图12中示出的原理框图，仅仅是与本发明方案相关的部分结构的框图，并不构成对本发明方案所应用于其上的智能设备的限定，具体的智能设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种智能设备，上述智能设备包括存储器、处理器以及存储在上述存储器上并可在上述处理器上运行的显示模组异常定位程序，上述显示模组异常定位程序被上述处理器执行时进行以下操作指令：
检测接收到模拟空载信号；
基于所述模拟空载信号，控制启动设置在屏时序控制IC与源极驱动IC间的模拟空载电路；
通过所述模拟空载电路，控制屏时序控制IC处于空载；
检测接收到检测信号，输出用于表示屏时序控制IC是否故障的检测返回信号。
本发明实施例还提供一种存储介质，上述存储介质上存储有显示模组异常定位程序，上述显示模组异常定位程序被处理器执行时实现本发明实施例提供的任意一种显示模组异常定位方法的步骤。
应理解，上述实施例中各步骤的序号大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将上述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本发明的保护范围。上述***中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各实例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟是以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本发明所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置/终端设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置/终端设备实施例仅仅是示意性的，例如，上述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以由另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***，或一些特征可以忽略，或不执行。
上述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个存储介质中。基于这样的理解，本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，上述计算机程序可存储于一存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，上述计算机程序包括计算机程序代码，上述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。上述计算机可读介质可以包括：能够携带上述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是，上述存储介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减。
以上所述实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解；其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不是相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种显示模组异常定位方法，其特征在于，所述方法包括：
检测接收到模拟空载信号；
基于所述模拟空载信号，控制启动设置在屏时序控制IC与源极驱动IC间的模拟空载电路；
通过所述模拟空载电路，控制屏时序控制IC处于空载；
检测接收到检测信号，输出用于表示屏时序控制IC是否故障的检测返回信号。
2.根据权利要求1所述的显示模组异常定位方法，其特征在于，所述检测接收到模拟空载信号的步骤之前包括：
预先在屏时序控制IC的输出端与源极驱动IC的输入端之间设置一用于模拟屏时序控制IC空载的空载电路。
3.根据权利要求1所述的显示模组异常定位方法，其特征在于，所述基于所述模拟空载信号，控制启动设置在屏时序控制IC与源极驱动IC间的模拟空载电路的步骤包括：
将所述模拟空载信号输入至所述模拟空载电路输入端；
基于输入的模拟空载信号，启动设置在屏时序控制IC输出端与源极驱动IC输入端之间的模拟空载电路。
4.根据权利要求1所述的显示模组异常定位方法，其特征在于，所述通过所述模拟空载电路，控制屏时序控制IC处于空载的步骤包括：
通过所述模拟空载电路，断开屏时序控制IC输出端与源极驱动IC输入端之间的连接，使屏时序控制IC处于空载状态。
5.根据权利要求1所述的显示模组异常定位方法，其特征在于，所述检测接收到检测信号，输出用于表示屏时序控制IC是否故障的检测返回信号的步骤之后包括：
基于所述检测返回信号，判断所述屏时序控制IC是否正常；
当检测返回信号波形与预设的正常波形相同时，判断所述屏时序控制IC正常；
当检测返回信号波形与预设的正常波形不同时，判断所述屏时序控制IC故障。
6.根据权利要求5所述的显示模组异常定位方法，其特征在于，所述检测接收到检测信号，输出用于表示屏时序控制IC是否故障的检测返回信号的步骤之后还包括：
当判断所述屏时序控制IC正常；
进一步通过OM光学设备检测bonding区域未破损；
将源极驱动IC与显示面板分离，通过检测源极驱动IC输出信号波形判断源极驱动IC与显示面板是否故障。
7.一种模拟空载电路，其特征在于，包括：
模拟空载信号输入端，所述模拟空载信号输入端与屏时序控制IC连接；
开关组，包含若干MOS管，各MOS管的基极与所述模拟空载信号输入端连接，源极与屏时序控制IC输出端连接，漏极与源极驱动IC输入端连接。
8.一种显示模组异常定位装置，其特征在于，所述装置包括：
模拟空载信号接收模块，用于检测接收到模拟空载信号；
模拟空载电路启动模块，用于基于所述模拟空载信号，控制启动设置在屏时序控制IC与源极驱动IC间的模拟空载电路；
屏时序控制IC空载控制模块，用于通过所述模拟空载电路，控制屏时序控制IC处于空载；
检测信号输出模块，用于检测接收到检测信号，输出用于表示屏时序控制IC是否故障的检测返回信号。
9.一种智能设备，其特征在于，所述智能设备包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的显示模组异常定位程序，所述显示模组异常定位程序被所述处理器执行时实现如权利要求1-6任意一项所述显示模组异常定位方法的步骤。
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有显示模组异常定位程序，所述显示模组异常定位程序被处理器执行时实现如权利要求1-6任意一项所述显示模组异常定位方法的步骤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111431452.1A CN114093290A (zh) | 2021-11-29 | 2021-11-29 | 显示模组异常定位方法、装置、智能设备及存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111431452.1A CN114093290A (zh) | 2021-11-29 | 2021-11-29 | 显示模组异常定位方法、装置、智能设备及存储介质 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN114093290A true CN114093290A (zh) | 2022-02-25 |
Family
ID=80305380
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202111431452.1A Pending CN114093290A (zh) | 2021-11-29 | 2021-11-29 | 显示模组异常定位方法、装置、智能设备及存储介质 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN114093290A (zh) |
Citations (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI259384B (en) * | 2002-07-17 | 2006-08-01 | Chunghwa Picture Tubes Ltd | Return goods analysis process control method for flat panel display |
| KR20060109144A (ko) * | 2005-04-15 | 2006-10-19 | 주식회사 대우일렉트로닉스 | 유기 발광 소자 |
| CN102184701A (zh) * | 2010-12-30 | 2011-09-14 | 友达光电股份有限公司 | 显示面板的控制电路装置及其控制方法 |
| US20120127137A1 (en) * | 2010-11-19 | 2012-05-24 | Silicon Works Co., Ltd | Circuit for controlling non-signal of flat panel display device |
| CN102930808A (zh) * | 2011-08-08 | 2013-02-13 | 联咏科技股份有限公司 | 显示面板驱动装置与其操作方法以及其源极驱动器 |
| CN103680374A (zh) * | 2012-09-26 | 2014-03-26 | 联咏科技股份有限公司 | 面板显示装置 |
| CN103927956A (zh) * | 2013-12-24 | 2014-07-16 | 上海中航光电子有限公司 | 一种显示面板的驱动电路、显示面板和显示装置 |
| CN104103251A (zh) * | 2014-06-06 | 2014-10-15 | 致茂电子(苏州)有限公司 | 一种时序控制器检测装置及其方法 |
| CN104157258A (zh) * | 2014-08-27 | 2014-11-19 | 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 | 源极驱动器及显示器 |
| KR20160092148A (ko) * | 2015-01-26 | 2016-08-04 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시장치 |
| KR20170080205A (ko) * | 2015-12-31 | 2017-07-10 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 그의 구동 방법 |
| CN109118954A (zh) * | 2018-07-30 | 2019-01-01 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 一种直拉式显示屏及其压合方法 |
| KR20190048887A (ko) * | 2017-10-31 | 2019-05-09 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
| CN111029325A (zh) * | 2019-11-26 | 2020-04-17 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 覆晶薄膜基板及柔性有机发光二极管显示器件 |
| CN111445822A (zh) * | 2019-01-17 | 2020-07-24 | 三星显示有限公司 | 显示设备 |
-
2021
- 2021-11-29 CN CN202111431452.1A patent/CN114093290A/zh active Pending
Patent Citations (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI259384B (en) * | 2002-07-17 | 2006-08-01 | Chunghwa Picture Tubes Ltd | Return goods analysis process control method for flat panel display |
| KR20060109144A (ko) * | 2005-04-15 | 2006-10-19 | 주식회사 대우일렉트로닉스 | 유기 발광 소자 |
| US20120127137A1 (en) * | 2010-11-19 | 2012-05-24 | Silicon Works Co., Ltd | Circuit for controlling non-signal of flat panel display device |
| CN102184701A (zh) * | 2010-12-30 | 2011-09-14 | 友达光电股份有限公司 | 显示面板的控制电路装置及其控制方法 |
| CN102930808A (zh) * | 2011-08-08 | 2013-02-13 | 联咏科技股份有限公司 | 显示面板驱动装置与其操作方法以及其源极驱动器 |
| CN103680374A (zh) * | 2012-09-26 | 2014-03-26 | 联咏科技股份有限公司 | 面板显示装置 |
| CN103927956A (zh) * | 2013-12-24 | 2014-07-16 | 上海中航光电子有限公司 | 一种显示面板的驱动电路、显示面板和显示装置 |
| CN104103251A (zh) * | 2014-06-06 | 2014-10-15 | 致茂电子(苏州)有限公司 | 一种时序控制器检测装置及其方法 |
| CN104157258A (zh) * | 2014-08-27 | 2014-11-19 | 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 | 源极驱动器及显示器 |
| KR20160092148A (ko) * | 2015-01-26 | 2016-08-04 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시장치 |
| KR20170080205A (ko) * | 2015-12-31 | 2017-07-10 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 그의 구동 방법 |
| KR20190048887A (ko) * | 2017-10-31 | 2019-05-09 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
| CN109118954A (zh) * | 2018-07-30 | 2019-01-01 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 一种直拉式显示屏及其压合方法 |
| CN111445822A (zh) * | 2019-01-17 | 2020-07-24 | 三星显示有限公司 | 显示设备 |
| CN111029325A (zh) * | 2019-11-26 | 2020-04-17 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 覆晶薄膜基板及柔性有机发光二极管显示器件 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN108594792B (zh) | 一种双向车载充电机硬件在环测试***和测试设备 | |
| CN111816124B (zh) | 一种驱动电路、显示装置及利用时序控制器的检测方法 | |
| US20120131385A1 (en) | Testing mehtod for unit under test | |
| US20030001561A1 (en) | Inspecting apparatus and inspecting method for circuit board | |
| CN108762243A (zh) | 一种ecu功能测试平台和ecu功能测试方法 | |
| US5539326A (en) | Method for testing the wiring or state of a liquid crystal display and thin film transistor | |
| US6014035A (en) | Test system and test method for liquid crystal display device | |
| CN1987509A (zh) | 电源测试***及方法 | |
| CN114093290A (zh) | 显示模组异常定位方法、装置、智能设备及存储介质 | |
| CN107179972A (zh) | 用于测试计算机的方法、微控制器、测试设备和测试*** | |
| US7825680B2 (en) | Componet supplied with an analog value | |
| Kernbaum et al. | Flat screen monitor disassembly and testing for remanufacturing | |
| CN1797357A (zh) | 主板功能测试板 | |
| KR20100076641A (ko) | 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카드 검사장치 | |
| CN112881888A (zh) | 一种服务器显卡vga接口保护电路的测试装置及方法 | |
| CN109637405B (zh) | 阵列基板的测试方法、装置及存储介质 | |
| CN112798939A (zh) | 一种测试装置 | |
| CN110930912A (zh) | 液晶显示面板的检测方法及检测电路 | |
| KR101864779B1 (ko) | 휴대통신 단말의 터치스크린 패널 진단장치 및 진단방법 | |
| CN220820131U (zh) | 一种测试mcu上下电的设备 | |
| JP2008026224A (ja) | 機能診断装置の自己診断方法 | |
| CN213457239U (zh) | 测试电路及芯片电路测试装置 | |
| KR100815146B1 (ko) | 액정 표시 패널의 불량 검출 장치 및 그 방법 | |
| CN116088481A (zh) | 一种整车控制器的hil测试***及方法 | |
| JP3021738U (ja) | Ｔｆｔ−ｌｃｄの検査装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination |