CN114088355B - 一种光轴检测***导光装置装校方法 - Google Patents

一种光轴检测***导光装置装校方法 Download PDF

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Abstract

本申请公开了一种光轴检测***导光装置装校方法。包括以下步骤：将第一平行光管与第二平行光管相对放置；利用第二平行光管的分划板接收第一平行光管发出的平行光线；调整第二平行光管，至第二平行光管分划板上的像与分划板中心重合；将导光装置放置在第一平行光管与第二平行光管之间；利用导光装置反射第一平行光管发出的平行光线至第二平行光管的分划板上；调整导光装置，直至第二平行光管分划板上的像与分划板中心重合；紧固调整后的导光装置。本申请利用第一平行光管与第二平行光管调整导光装置的两反射面，使得导光装置的两反射面具备较高的平行度；实现调整导光装置的两反射面平行度的目的，满足测试需求。

Description

一种光轴检测***导光装置装校方法
技术领域
本公开一般涉及光学***多反射镜装校技术领域，具体涉及一种光轴检测***导光装置装校方法。
背景技术
多波段观测设备必须配备可进行装配车间和现场测试的光轴检测***，以确保观测设备的搜索、跟踪、瞄准、测距、指示和指向等多种功能技战性能准确、稳定和可靠。光轴检测***导光装置，主要用于在测试时，被检测设备光轴跨度超过平行光管的有效光学口径时，不能同时包含被测光轴的情况。
目前，通常使用的导光装置含有两个相互平行的反射镜，受限于现有的装校工艺，无法保证两反射镜的平行度。因此，我们提出一种光轴检测***导管装置装校方法，用以解决上述的难以调整两反射镜的平行度的问题。
发明内容
鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种便于调整两反射镜平行度，满足测试需求，操作简单且易于实现的光轴检测***导光装置装校方法。
第一方面，本申请提供一种光轴检测***导光装置装校方法，包括以下步骤：
将第一平行光管与第二平行光管相对放置；
利用第二平行光管的分划板接收第一平行光管发出的平行光线；
调整第二平行光管，至第二平行光管分划板上的像与分划板中心重合；
将导光装置放置在第一平行光管与第二平行光管之间；
利用导光装置反射第一平行光管发出的平行光线至第二平行光管的分划板上；
调整导光装置，直至第二平行光管分划板上的像与分划板中心重合；
紧固调整后的导光装置。
根据本申请实施例提供的技术方案，所述导光装置具备第一反射面与第二反射面。
根据本申请实施例提供的技术方案，根据以下方法将第一平行光管发出的平行光线传递至第二平行光管的分划板上：
利用第一反射面接收第一平行光管发出的平行光线，并发出第一反射光线；
利用第二反射面接收第一反射光线，并发出第二反射光线，传递至第二平行光管的分划板上。
根据本申请实施例提供的技术方案，根据以下方法调整导光装置，直至第二平行光管分划板上的像与分划板中心重合：
调整导光装置的第一反射面，至第二平行光管分划板上的像与分划板中心重合。
根据本申请实施例提供的技术方案，所述分划板为十字叉丝。
根据本申请实施例提供的技术方案，所述第一平行光管发出的平行光线为十字丝信号，所述十字丝信号可显示在所述第二平行光管的分划板上。
综上所述，本技术方案具体地公开了一种光轴检测***导光装置装校方法的具体流程。本申请将第一平行光管与第二平行光管相对放置，第二平行光管的分划板可接收第一平行光管发出的平行光线，并显示在其分划板上；调整第二平行光管，使得其分划板上的像与分划板中心重合，此时第一平行光管与第二平行光管平行；再将导光装置放置在第一平行光管与第二平行光管之间，第一平行光管发出的平行光线经导光装置的第一反射面与第二反射面两次反射后，射在第二平行光管的分划板上；调节导光装置的第二反射面，使得第二平行光管分划板上的像与分划板中心重合，紧固调整后的导光装置，使得导光装置的两反射面具备较高的平行度；实现调整导光装置的两反射面平行度的目的，满足测试需求。
附图说明
通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
图1为光轴检测***导光装置装校方法的流程示意图。
图2为导光装置的结构示意图。
图中标号：1、第一平行光管；2、第二平行光管；3、镜筒；4、第一反射镜组件；5、第二反射镜组件。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关发明，而非对该发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与发明相关的部分。
需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。
实施例1
请参考图1所示的本申请提供的一种光轴检测***导光装置装校方法的具体流程，包括以下步骤：
将第一平行光管1与第二平行光管2相对放置，第一平行光管1用于发出平行光线，第二平行光管2用于接收第一平行光管1发出的平行光线；
利用第二平行光管2的分划板接收第一平行光管1发出的平行光线，并显示在其分划板上；
调整第二平行光管2，至第二平行光管2分划板上的像与分划板中心重合，此时，第一平行光管1与第二平行光管2平行设置，如图2所示；
如图2所示，将导光装置放置在第一平行光管1与第二平行光管2之间；利用导光装置对第一平行光管1发出的平行光线完成两次反射，最终得到的反射光线传递至第二平行光管2的分划板上；
具体地，导光装置具备第一反射面与第二反射面；
利用第一反射面接收第一平行光管1发出的平行光线，并发出第一反射光线；
利用第二反射面接收第一反射光线，并发出第二反射光线，传递至第二平行光管2的分划板上，在分划板上可观察到像。
调整导光装置的第一反射面，直至第二平行光管2分划板上的像与分划板中心重合；
紧固调整后的导光装置，调整后的导光装置的两反射面具有较高的平行度。
相较于传统的利用高精度转台装校导光装置的方案，本技术方案利用平行光管调整导光装置的两个反射面的平行度，在没有高精度转台的情况下，也可使导光装置的反射面获得较高的平行度，满足测试需求。
进一步地，第二平行光管2的分划板的类型，例如为十字叉丝；并且，第一平行光管1发出的平行光线为十字丝信号，十字丝信号可显示在第二平行光管2的分划板上。
进一步地，如图2所示，导光装置，包括：
镜筒3，用于安装反射镜组件；
第一反射镜组件4与第二反射镜组件5，分别安装在镜筒3的两端；第一反射面位于第一反射镜组件4上，用于接收第一平行光管1发出的平行光线；
第二反射面位于第二反射镜组件5上，用于接收第一反射镜组件4发出的第一反射光线，并向第二平行光管2发出第二反射光线。
以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本申请中所涉及的发明范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离所述发明构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。

Claims (4)

1.一种光轴检测***导光装置装校方法，其特征在于，包括以下步骤：
将第一平行光管(1)与第二平行光管(2)相对放置；
利用第二平行光管(2)的分划板接收第一平行光管(1)发出的平行光线；
调整第二平行光管(2)，至第二平行光管(2)分划板上的像与分划板中心重合；
将导光装置放置在第一平行光管(1)与第二平行光管(2)之间；
利用导光装置反射第一平行光管(1)发出的平行光线至第二平行光管(2)的分划板上；
调整导光装置，直至第二平行光管(2)分划板上的像与分划板中心重合；
其中，所述导光装置具备第一反射面与第二反射面；利用第一反射面接收所述第一平行光管(1)发出的平行光线，并发出第一反射光线；
利用第二反射面接收第一反射光线，并发出第二反射光线，传递至所述第二平行光管(2)的分划板上调整导光装置的第一反射面，调整导光装置的第一反射面，直至第二平行光管(2)分划板上的像与分划板中心重合；
紧固调整后的导光装置，使得导光装置的两反射面具备较高的平行度；实现调整导光装置的两反射面平行度的目的，满足测试需求。
2.根据权利要求1所述的一种光轴检测***导光装置装校方法，其特征在于，根据以下方法将第一平行光管(1)发出的平行光线传递至第二平行光管(2)的分划板上：
利用第一反射面接收第一平行光管(1)发出的平行光线，并发出第一反射光线；
利用第二反射面接收第一反射光线，并发出第二反射光线，传递至第二平行光管(2)的分划板上。
3.根据权利要求1所述的一种光轴检测***导光装置装校方法，其特征在于，所述分划板为十字叉丝。
4.根据权利要求3所述的一种光轴检测***导光装置装校方法，其特征在于，所述第一平行光管(1)发出的平行光线为十字丝信号，所述十字丝信号可显示在所述第二平行光管(2)的分划板上。
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