CN114088238B - 基于宽辐射谱的皮秒时间分辨冲击温度测量***及方法 - Google Patents

基于宽辐射谱的皮秒时间分辨冲击温度测量***及方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种基于宽辐射谱的皮秒时间分辨冲击温度测量***及方法，所述***包括相互垂直的可见光探测通道和近红外探测通道，所述可见光探测通道、近红外探测通道均由多个分离的探测通道组成，其中，各可见光探测通道分别由依次排布的二向色镜、透镜和可见光探测器构成，透镜和可见光探测器之间设有多模光纤；各近红外探测通道分别由依次排布的反射镜、透镜和近红外探测器构成，透镜和可见光探测器之间设有多模光纤；各可见光探测通道、各近红外探测通道的辐射谱宽度均超过百纳米。所述测量方法包括步骤：(1)标定测量***；(2)求解实际待测对象的真实冲击温度。本发明将探测***的温度测量下限降低至3000K以下。

Description

基于宽辐射谱的皮秒时间分辨冲击温度测量***及方法
技术领域
本发明涉及温度测量技术领域，具体涉及一种基于宽辐射谱的皮秒时间分辨冲击温度测量***及方法。
背景技术
冲击温度的准确测量是实验研究中一项极具挑战性的工作，是冲击波物理和状态方程实验研究中至今尚未很好解决的问题之一。
按照测量方式划分，冲击波温度测量方法可分为接触式测量和非接触式测量，接触式温度测量方式响应较慢，在冲击温度测量应用过程中局限性较大。在非接触测量方法中，虽然最近二十年兴起的中子与X射线的吸收和发射技术能够对冲击压缩样品的内部温度进行测量，但相关实验的进行依赖于规模非常庞大的反应堆、加速器或超高功率激光器，实验成本很高，且相关实验结果的准确性和可靠性尚未完全得到验证。相较而言，尽管基于辐射光谱的非接触冲击温度测量方法仅能获取冲击样品表面的温度，但由于该方法响应快、灵敏度高、测量范围宽、精度较好，基于辐射光谱的冲击温度测量仍然是冲击波物理实验研究中使用最广泛、最可靠的瞬态温度测量方法。采用辐射法测温时，需要采用黑体炉等标准光源对探测***进行标定。由于标定光源温度范围的限制，目前探测***的最高温度只能标定到～3400K，对于标定范围以外的温度点，一般采用线性外推法计算每个通道的光谱辐亮度，基于这一思路，要求每个通道的探测辐射谱的波长范围不能超过20～30nm，即窄辐射谱冲击温度测量方法。
随着冲击加载方式的多样化，冲击温度测量对时间响应特性的要求越来越高，以激光加载为例，信号的持续时间为数十纳秒，这就要求冲击温度测量的时间分辨率能够达到亚纳秒甚至皮秒量级。采用辐射法测温时，***核心组成部件—光电探测器的光谱灵敏度与时间响应特性往往互相矛盾，高带宽的光电探测器灵敏度较低。在窄辐射谱温度测量***中，所采用的光电探测器上升时间一般为数个纳秒，对于商用的皮秒量级上升时间光电探测器，其灵敏度比前者低1-2个量级。在皮秒时间分辨冲击温度测量***中，若采用传统窄辐射谱的设计思路，则在采用标准光源进行标定时，探测***往往无法响应，这导致皮秒时间分辨的冲击波温度测量难以实现。因此，相较于传统的窄辐射谱冲击温度测量***，需要建立新的温度测量***、标定方法和温度求解模型。
发明内容
有鉴于此，本发明创造提出了一种基于宽辐射谱的皮秒时间分辨冲击温度测量***及方法。具体方案如下：
一种基于宽辐射谱的皮秒时间分辨冲击温度测量***，所述***包括相互垂直的可见光探测通道和近红外探测通道，所述可见光探测通道、近红外探测通道均由多个分离的探测通道组成，其中，各可见光探测通道分别由依次排布的二向色镜、透镜和可见光探测器构成，透镜和可见光探测器之间设有多模光纤；各近红外探测通道分别由依次排布的反射镜、透镜和近红外探测器构成，透镜和可见光探测器之间设有多模光纤；各可见光探测通道、各近红外探测通道的辐射谱宽度均超过百纳米，由此形成宽辐射谱测量***结构；外部辐射信号经过入口处的二向色镜后形成相互垂直的可见光支路R和近红外支路T；
对于每个探测通道，外部辐射信号经二向色镜或反射镜反射后，由透镜聚焦至多模光纤各端面，再由多模光纤传输至可见光探测器或近红外探测器。
优选地，所述可见光支路R具有3个可见光探测通道，各可见光探测通道对应波长范围分别为400nm～650nm、650nm～800nm、800nm～900nm。
优选地，所述近红外支路T具有4个近红外探测通道，各近红外探测通道对应波长范围分别为900nm～1150nm、1150nm～1400nm、1400nm～1530nm、1530nm～1700nm。
优选地，所述近红外探测器或可见光探测器的上升时间均小于100皮秒，且最低带宽为直流。
本发明还提供一种基于前述基于宽辐射谱的皮秒时间分辨冲击温度测量***的冲击温度测量方法，所述测量方法包括：
步骤(1)标定皮秒时间分辨冲击温度测量***；
步骤(2)求解实际待测对象的真实冲击温度。
优选地，步骤(1)具体包括：
步骤(1.1)获取温度测量***测量黑体炉在温度为T0时输出的电压值S；
步骤(1.2)建立各探测通道的信号强度-温度(S-T)的关系曲线。
优选地，步骤(1.2)具体包括：
步骤(1.2.1)测量每个探测通道的光谱传输函数τi(λ)，光谱传输函数τi(λ)具体为：
τi(λ)＝αi(λ)β(λ)；
其中β(λ)表示可见光探测器或近红外探测器的光谱响应效率，其在探测器出厂时由厂家进行标定提供，αi(λ)代表第i个可见光探测通道Ri或第i个近红外探测通道Ti的传输效率，
步骤(1.2.2)测量每个探测通道的标定系数Ci,cal，其中标定系数Ci,cal与波长、温度无关。标定系数Ci,cal具体为：
其中，Si(T0)表示黑体炉温度为T0时第i个可见光探测通道Ri或第i个近红外探测通道Ti输出的信号强度，L(λ,T0)表示波长为λ、温度为T0的辐亮度；
步骤(1.2.3)对于任意温度T而言，各探测通道输出信号强度为
将步骤(1.2.1)中的光谱传输函数和步骤(1.2.2)中的标定系数代入上式中求得每个通道的信号强度-温度(S-T)的关系曲线为
即完成测温***的标定。
优选地，步骤(2)求解待测冲击温度具体包括：
步骤(2.1)基于最小二乘法构建残差函数χ2：
其中，M、N分别表示可见光和近红外的通道数，Si,PL(T)表示步骤(1)中通过标定获取的信号强度-温度的关系，Si,exp表示测量实际待测对象的冲击温度过程中不同探测通道输出的信号强度，σi表示测量实际待测对象的冲击温度过程中的标准差。
步骤(2.2)求解残差函数χ2，即在冲击温度预估范围内计算不同冲击温度下的残差χ2，当残差最小时，所对应的温度即为实际待测对象的真实冲击温度。
本发明通过拓宽皮秒探测***每个通道的探测辐射谱宽度，以提升温度测量***的灵敏度，将探测***的温度测量下限降低至3000K以下，以实现温度的标定以及冲击温度的皮秒时间分辨测量。
附图说明
图1为宽辐射谱皮秒时间分辨温度测量***；
图2基于最小二乘法求解实际待测对象的真实冲击温度；
图中，1.二向色镜2.反射镜3.透镜4.多模光纤5.近红外探测器6.辐射信号7.可见光探测器。
具体实施方式
下面结合附图及实施例对本发明做进一步详细限定。
本发明的皮秒时间分辨温度测量***如图1所示，所述***包括相互垂直的可见光探测通道和近红外探测通道，所述可见光探测通道、近红外探测通道均由多个分离的探测通道组成，其中，各可见光探测通道分别由依次排布的二向色镜1、透镜3和可见光探测器7构成，透镜3和可见光探测器7之间设有多模光纤4；各近红外探测通道分别由依次排布的反射镜2、透镜3和近红外探测器5构成，透镜3和近红外探测器5之间设有多模光纤4；各可见光探测通道、各近红外探测通道的辐射谱宽度均超过百纳米，由此形成宽辐射谱测量***结构；外部辐射信号6经过入口处的二向色镜后形成相互垂直的可见光支路R和近红外支路T；
对于每个探测通道，外部辐射信号经二向色镜或反射镜反射后，由透镜聚焦至多模光纤4各端面，再由多模光纤4传输至可见光探测器7或近红外探测器5。
进一步，所述可见光支路R具有3个可见光探测通道，各可见光探测通道对应波长范围分别为400nm～650nm、650nm～800nm、800nm～900nm。
进一步，所述近红外支路T具有4个近红外探测通道，各近红外探测通道对应波长范围分别为900nm～1150nm、1150nm～1400nm、1400nm～1530nm、1530nm～1700nm。
进一步，所述近红外探测器5或可见光探测器7的上升时间均小于100皮秒，且最低带宽为直流。
基于前述温度测量***，本发明还提供一种基于宽辐射谱的皮秒级冲击温度测量方法，所述测量方法包括：
步骤(1)标定皮秒时间分辨冲击温度测量***。在辐射温度测量过程中，首先需要借助黑体炉标定信号强度与辐亮度或者温度之间的关系
步骤(2)求解实际待测对象的真实冲击温度。
进一步，步骤(1)具体包括：
步骤(1.1)获取温度测量***测量黑体炉在温度为T0时输出的电压值S；
步骤(1.2)建立各通道的信号强度-温度(S-T)的关系曲线。
进一步，步骤(1.2)具体包括：
步骤(1.2.1)测量每个探测通道的光谱传输函数τi(λ)，光谱传输函数τi(λ)具体为：
τi(λ)＝αi(λ)β(λ)；
其中β(λ)表示可见光探测器或近红外探测器的光谱响应效率，其在探测器出厂时由厂家进行标定提供，αi(λ)代表第i个可见光探测通道Ri或第i个近红外探测通道Ti的传输效率。
步骤(1.2.2)测量每个探测通道的标定系数Ci,cal，其中标定系数Ci,cal与波长、温度无关。标定系数Ci,cal具体为：
其中，Si(T0)表示黑体炉温度为T0时第i个可见光探测通道Ri或第i个近红外探测通道Ti输出的信号强度，L(λ,T0)表示波长为λ、温度为T0的辐亮度。
步骤(1.2.3)对于任意温度T而言，各探测通道输出信号强度为
将步骤1.2.1中的光谱传输函数和步骤1.2.2中的标定系数代入上式中求得每个通道的信号强度-温度(S-T)的关系曲线为
即完成测温***的标定。
进一步，步骤(2)求解待测冲击温度具体包括：
步骤(2.1)基于最小二乘法构建残差函数χ2：
其中，M、N分别表示可见光和近红外的通道数，Si,PL(T)表示步骤(1)中通过标定获取的信号强度-温度的关系，Si,exp表示测量实际待测对象的冲击温度过程中不同探测通道输出的信号强度，σi表示测量实际待测对象的冲击温度过程中的标准差。
步骤(2.2)求解残差函数χ2：在冲击温度预估范围内计算不同冲击温度下的残差χ2，当残差最小时，所对应的温度即为实际待测对象的真实冲击温度。
针对本发明上述测温方法的推理过程，做如下进一步解释。
当待测对象温度为T时，不同探测通道输出的信号强度S与接收到的光强之间的关系为
其中下标i表示通道序号；Ci,cal表示各通道的标定系数，与探测通道的光电转换系数、光信号传输链路上的数值孔径、介质吸收等有关；λi,min、λi,max分别表示第i通道响应波段最短波长和最长波长；τi(λ)表示对应探测通道的光谱传输函数；L(λ,T)表示光谱辐亮度，基于普朗克辐射定律可表示为
其中ε表示实际待测对象的发射率，对于黑体而言ε＝1；C1、C2分别表示第一、第二辐射常量。
步骤(1)：标定测温***
由步骤一可知测温***直接输出的信号为电压信号S，为了获取实际待测对象的温度信息T，需要将电压信号S转化为温度T，即建立S与T之间的关系。采用黑体炉进行标定，以建立黑体情况下信号强度-温度(S-T)的关系曲线。依据式(1)和式(2)，若要建立黑体情况下每个探测通道的S-T函数关系，需要提前获取各通道的标定系数Ci,cal和光谱传输函数τi(λ)。因此，本发明中测温***所采用的标定过程分为两部分：
(1)每个探测通道光谱传输函数τi(λ)的测量；
(2)与波长、温度无关的标定系数Ci,cal的测量。
在实际测量过程中，将光谱传输函数的获取分为两部分，分别为实际待测对象至探测器传输链路上的光谱传输函数和探测器本身的光谱传输函数，前者代表传输光纤、二向色镜、透镜等光路上传输元器件的传输效率，后者表示探测器的光谱响应效率。两者分别记为α(λ)和β(λ)，则有
τi(λ)＝αi(λ)β(λ) (3)
其中β(λ)在探测器出厂时由厂家进行标定提供，αi(λ)代表第i个可见光探测通道Ri或第i个近红外探测通道Ti的传输效率；α(λ)表示代表第i个可见光探测通道Ri或第i个近红外探测通道Ti的传输效率，i表示通道序号
在获取每个探测通道光谱传输函数τ(λ)的基础上，结合黑体炉等标准温度源可确定***参数Ci,cal的取值，其具体思路为：设定黑体炉至某一温度值T0，采用该探测***测量黑体炉的辐射光强，并由示波器读取各个探测通道的信号强度Si(T0)，则每个通道的标定系数为
据此，在黑体情况下，每个通道S-T的关系可表示成
步骤(2)：求解温度
对于待测目标而言，由公式(2)，发射率ε和温度T均未知。针对本发明中建立的七通道宽辐射谱测量***，基于最小二乘法构建目标函数
其中Si,PL(T)表示步骤二中通过标定获取的黑体情况下的信号强度-温度的关系，Si,exp表示测量实际待测对象的冲击温度过程中不同探测通道输出的信号强度，σi表示测量实际待测对象的冲击温度过程中的标准差。为了求解实际待测对象的温度，令化简可得
将式(7)代入到式(6)中有
式(8)中唯一需要确定的参数为温度T。通过编程遍历求解式(8)，即在预估温度范围内，计算不同温度下的残差χ2，当残差最小时，所对应的温度即为实际待测对象的真实温度。
实施例1
为了验证上述方案测量温度的可靠性，采用已知温度的标准源进行校验。设定标准源的温度为2773K，七个通道的测量强度分别为3.49mV、9.53mV、4.17mV、2.30mV、13.63mV、2.69mV、3.26mV。不同温度下的残差计算结果如图2所示。显然，在1000～10000K的温度范围内，残差存在最小值。由步骤(2)可知，残差最小时所对应的结果为最优结果，因此基于七通道高温计测量的温度为2968K，发射率为0.995K，与标准源设定的实际值偏差远小于1％。由此可见，本测温方案具有良好的可行性。
利用本发明的温度测量方法及装置，能够实现冲击温度的皮秒时间分辨测量，同时，基于本发明构建的温度测量***中每个探测通道的辐射谱宽度可不作任何限制，整个测温***更为紧凑。

Claims (8)

1.一种基于宽辐射谱的皮秒时间分辨冲击温度测量***，其特征在于，所述***包括相互垂直的可见光探测通道和近红外探测通道，所述可见光探测通道、近红外探测通道均由多个分离的探测通道组成，其中，各可见光探测通道分别由依次排布的二向色镜(1)、透镜(3)和可见光探测器(7)构成，透镜(3)和可见光探测器(7)之间设有多模光纤(4)；各近红外探测通道分别由依次排布的反射镜(2)、透镜(3)和近红外探测器(5)构成，透镜(3)和可见光探测器(7)之间设有多模光纤(4)；各可见光探测通道、各近红外探测通道的辐射谱宽度均超过百纳米，由此形成宽辐射谱测量***结构；外部辐射信号(6)经过入口处的二向色镜后形成相互垂直的可见光支路R和近红外支路T；
对于每个探测通道，外部辐射信号经二向色镜或反射镜反射后，由透镜聚焦至多模光纤(4)各端面，再由多模光纤(4)传输至可见光探测器(7)或近红外探测器(5)。
2.根据权利要求1所述的皮秒时间分辨冲击温度测量***，其特征在于，所述可见光支路R具有3个可见光探测通道，各可见光探测通道对应波长范围分别为400nm～650nm、650nm～800nm、800nm～900nm。
3.根据权利要求1所述的皮秒时间分辨冲击温度测量***，其特征在于，所述近红外支路T具有4个近红外探测通道，各近红外探测通道对应波长范围分别为900nm～1150nm、1150nm～1400nm、1400nm～1530nm、1530nm～1700nm。
4.根据权利要求1所述的皮秒时间分辨冲击温度测量***，其特征在于，所述近红外探测器(5)或可见光探测器(7)的上升时间均小于100皮秒，且最低带宽为直流。
5.一种基于权利要求1-4任意一项所述基于宽辐射谱的皮秒时间分辨冲击温度测量***的冲击温度测量方法，其特征在于，所述测量方法包括：
步骤(1)标定皮秒时间分辨冲击温度测量***；
步骤(2)求解实际待测对象的真实冲击温度。
6.根据权利要求5所述的冲击温度测量方法，其特征在于，步骤(1)具体包括：
步骤(1.1)获取温度测量***测量黑体炉在温度为T0时输出的电压值S；
步骤(1.2)建立各探测通道的信号强度-温度(S-T)的关系曲线。
7.根据权利要求6所述的冲击温度测量方法，其特征在于，步骤(1.2)具体包括：
步骤(1.2.1)测量每个探测通道的光谱传输函数τi(λ)，光谱传输函数τi(λ)具体为：
τi(λ)＝αi(λ)β(λ)；
其中β(λ)表示可见光探测器或近红外探测器的光谱响应效率，αi(λ)代表第i个可见光探测通道Ri或第i个近红外探测通道Ti的传输效率，
步骤(1.2.2)测量每个探测通道的标定系数Ci,cal，标定系数Ci,cal具体为：
其中，Si(T0)表示黑体炉温度为T0时第i个可见光探测通道Ri或第i个近红外探测通道Ti输出的信号强度，L(λ,T0)表示波长为λ、温度为T0的辐亮度；
步骤(1.2.3)对于任意温度T而言，各探测通道输出信号强度为
将步骤(1.2.1)中的光谱传输函数和步骤(1.2.2)中的标定系数代入上式中求得每个通道的信号强度-温度(S-T)的关系曲线为
即完成测温***的标定。
8.根据权利要求5所述的冲击温度测量方法，其特征在于，步骤(2)求解待测冲击温度具体包括：
步骤(2.1)基于最小二乘法构建残差函数χ2：
其中，M、N分别表示可见光和近红外的通道数，Si,PL(T)表示步骤(1)中通过标定获取的信号强度-温度的关系，Si,exp表示测量实际待测对象的冲击温度过程中不同探测通道输出的信号强度，σi表示测量实际待测对象的冲击温度过程中的标准差；
步骤(2.2)求解残差函数χ2，即在冲击温度预估范围内计算不同冲击温度下的残差χ2，当残差最小时，所对应的温度即为实际待测对象的真实冲击温度。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103234917A (zh) * 2013-04-08 2013-08-07 中国工程物理研究院流体物理研究所 一种冲击温度及光谱发射率的实时测量***
CN106679819A (zh) * 2016-12-30 2017-05-17 中国工程物理研究院流体物理研究所 瞬态温度场测量方法及装置
CN108195473A (zh) * 2017-12-26 2018-06-22 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所 一种用于冲击波实验的多通道冲击温度诊断方法
CN113029825A (zh) * 2021-03-10 2021-06-25 中国工程物理研究院流体物理研究所 一种基于高频感应预加热的动态冲击实验***及方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6183130B1 (en) * 1998-02-20 2001-02-06 Applied Materials, Inc. Apparatus for substrate temperature measurement using a reflecting cavity and detector
US20060190211A1 (en) * 2001-07-23 2006-08-24 Schietinger Charles W In-situ wafer parameter measurement method employing a hot susceptor as radiation source for reflectance measurement
US7543981B2 (en) * 2006-06-29 2009-06-09 Mattson Technology, Inc. Methods for determining wafer temperature
CN101349600A (zh) * 2008-09-08 2009-01-21 合肥正阳光电科技有限责任公司 基于光纤光栅的红外和微波辐射测温传感器
CA2740372C (en) * 2010-06-01 2019-07-02 Her Majesty The Queen In Right Of Canada, As Represented By The Minister Of Industry Through The Communications Research Centre Canada Method and system for measuring a parameter in a high temperature environment using an optical sensor
CN105258823B (zh) * 2015-11-03 2017-11-21 中国原子能科学研究院 一种瞬态冲击波温度测量***及方法
CN205748706U (zh) * 2016-06-20 2016-11-30 中国工程物理研究院流体物理研究所 一种基于反射率的动高压加载下材料温度测量***
CN105865651B (zh) * 2016-06-20 2018-03-20 中国工程物理研究院流体物理研究所 一种基于反射率的动高压加载下材料温度测量***及方法
CN106979832B (zh) * 2017-03-22 2023-08-15 河南北方红阳机电有限公司 一种光纤分光测温***及其测温方法
CN207351581U (zh) * 2017-09-28 2018-05-11 清华大学 基于可见光和红外多光谱的车辆轮轴多点测温装置
CN207894536U (zh) * 2018-01-12 2018-09-21 上海和晟仪器科技有限公司 一种冷热冲击试验箱用温变检测装置
CN109000820B (zh) * 2018-05-31 2020-08-14 北京遥测技术研究所 一种宽带比色滤波蓝宝石光纤黑体温度传感器解调装置
CN109596221B (zh) * 2018-12-06 2019-12-06 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所 一种冲击温度诊断***的标定与验证方法
EP3999827A1 (en) * 2019-07-19 2022-05-25 trinamiX GmbH Method and device for monitoring radiation
CN111370080B (zh) * 2020-03-05 2023-12-08 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所 一种基于人工神经网络算法的辐射温度反演方法
EP3910303A1 (de) * 2020-05-12 2021-11-17 Nexans Optischer temperatursensorkopf, temperatursensoreinrichtung und elektrische maschine mit einem temperatursensorkopf

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103234917A (zh) * 2013-04-08 2013-08-07 中国工程物理研究院流体物理研究所 一种冲击温度及光谱发射率的实时测量***
CN106679819A (zh) * 2016-12-30 2017-05-17 中国工程物理研究院流体物理研究所 瞬态温度场测量方法及装置
CN108195473A (zh) * 2017-12-26 2018-06-22 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所 一种用于冲击波实验的多通道冲击温度诊断方法
CN113029825A (zh) * 2021-03-10 2021-06-25 中国工程物理研究院流体物理研究所 一种基于高频感应预加热的动态冲击实验***及方法

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