CN114062702A - 样本分析仪、试管传输中继组件 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种中继组件，该中继组件包括底板，支撑块，滑块，滑轨，面板，其中，底板设有开口部，支撑块在底板的开口部处与底板相固定，滑块通过支撑块装配，滑轨与滑块滑动配合，面板与滑轨相固定。本发明通过在滑块底部设置支撑块，滑轨在滑动过程中以滑块和支撑块作为支点，增强了支点的受压强度，可以使滑轨不容易发生翘曲变形，从而保证中继组件正常输送试管。

Description

样本分析仪、试管传输中继组件
技术领域
本发明涉及医疗器械技术领域，特别涉及一种样本分析仪、试管传输中继组件。
背景技术
随着检验医学技术现代化发展，现有的采血管理***开始被广泛应用各级医疗机构、实验室等场合以提高工作效率，减轻工作负担。试管传输装置是采血管理***中非常重要的一个部件，其应用于采血管理***中，对试管进行转运。
而在现有的传输中继组件中，由于中继组件的导轨较长，仅以导轨上的滑块作为支点，容易发生翘曲变形，导致导轨与底板形成角度，影响中继组件正常输送试管。
发明内容
本发明提供一种传输试管中继组件，以解决现有技术中导轨容易发生翘曲变形的技术问题。
为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种中继组件，所述中继组件包括：
底板，设有开口部；
支撑块，于所述开口部处与所述底板相固定；
滑块，通过所述支撑块装配；
滑轨，与所述滑块滑动配合；
面板，与所述滑轨相固定。
根据本发明一具体实施例，所述底板于所述开口部处一体延伸有折板，所述折板设有第一槽形孔，所述支撑块设有与所述第一槽形孔对应的固定孔，所述第一槽形孔用于配合固定件以支持所述支撑块的固定位置的调节。
根据本发明一具体实施例，所述底板于所述开口部处固定连接有L型板，所述L型板设有第二槽形孔，所述支撑块设有与所述第二槽形孔对应的固定孔，所述第二槽形孔用于配合固定件以支持所述支撑块的固定位置的调节。
根据本发明一具体实施例，所述中继组件还包括第一传感器，所述第一传感器安装于所述底板，所述支撑块设有用于避让所述第一传感器的避位缺口。
根据本发明一具体实施例，所述面板设有多个缺口部，所述第一传感器为光耦，所述光耦用于配合所述多个缺口部感应面板的位置；所述中继组件还包括第二传感器，所述第二传感器安装于所述底板远离所述第一传感器的一侧，用于检测所述面板的初始位置。
根据本发明一具体实施例，所述底板和所述面板均为槽形板且槽体部分相对以形成用于容置所述滑块和所述滑块的容置空间。
根据本发明一具体实施例，所述中继组件还包括：
电机，与所述底板固定装配；
从动轮，与所述底板相固定并位于所述远离所述电机的一侧；
传动带，套设于所述电机和所述从动轮之间；
传动件，与所述传动带相固定用于传动所述滑轨以使得所述滑轨相对所述滑块滑动。
根据本发明一具体实施例，所述中继组件包括试管架，所述试管架包括：
基座；
第一试管座，与所述基座固定连接，用于插装第一类型试管；
第二试管座，与所述基座可拆卸连接，用于插装第二类型试管。
根据本发明一具体实施例，所述试管架还包括固定座，所述固定座与所述基座固定连接并与所述第一试管座呈相邻间隔设置，所述第二试管座与所述固定座可拆卸连接。
为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种样本分析仪，所述样本分析仪包括前述的中继组件。
本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明提供的中继组件通过在滑块底部设置支撑块，滑轨在滑动过程中以滑块和支撑块作为支点，增强了支点的受压强度，可以使滑轨不容易发生翘曲变形，从而保证中继组件正常输送试管。
附图说明
为了更清楚地说明发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的情况下，还可以根据这些附图获得其他的附图，其中：
为了更清楚地说明发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的情况下，还可以根据这些附图获得其他的附图，其中：
图1是本发明实施例提供的试管适配装置的立体结构示意图。
图2是本发明实施例提供的第二试管座的高度标识示意图。
图3是本发明实施例提供的中继组件的***结构示意图；
图4是本发明实施例提供的中继组件的伸出状态简化示意图。
图5是本发明实施例提供的中继组件的缩回状态简化示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动情况下所获得的所有其他实施例，均属于本发明保护的范围。
需要说明，若本发明实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
另外，若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。
请参阅图1-图2，本发明实施例提供一种试管适配装置，该试管适配装置主要包括基座10、第一试管座20、第二试管座30、固定座40。
第一试管座20与基座10固定连接，用于插装第一类型试管101(例如常用的普通型采血管)，第二试管座30与基座10可拆卸地连接，用于插装第二类型试管201/202/203(例如试管内腔底部为锥形尖底的末稍血试管)。
固定座40与基座10固定连接，并与第一试管座20呈相邻间隔设置，第二试管座30与固定座40可拆卸地连接。
第二试管座30包括插装柱31和设于插装柱31外侧壁的限位凸块32。插装柱31的上部分为类方柱体，与第一试管座20保持一致，下部分为类圆柱体。
固定座40包括围壁41和设于围壁41内的插装腔42，插装腔42与第二试管座30上的插装柱31相互匹配。插装柱31的长度小于插装腔42的深度以使得第二试管座30插置于固定座40时第二试管座30的底部与基座10的底部相间隔，以便于第二试管座30易于平整的装配到位，若插装柱31的长度大于或等于插装腔42的深度则第二试管座30容易翘起、倾斜。
围壁41上开设有限位槽411，限位槽411与第二试管座30上的限位凸块32相互匹配，在第二试管座30与固定座40***连接后，限位槽411和限位凸块32的配合，可防止第二试管座30相对于固定座40转动，起到定位的作用。
限位槽411的开口端设置有对称的第一导向坡面412，限位凸块32的自由端设有对称的第二导向坡面321，在第二试管座30***连接固定座40的过程中，第一导向坡面412与第二导向坡面321相互匹配，使得第二试管座30与固定座40的***连接更加顺畅。
基座10与第一试管座20可以是一体成型或者是装配连接，固定座40与基座10可以是一体成型或者是装配连接，第二试管座30可以采用一体成型或者数控机加成型。
基座10设有通孔11，通孔11位于所述固定座40与第一试管座20之间，通孔11可用于固定试管适配装置。
第一试管座20插装有第一类型试管101时，第一类型试管101的内腔底面到基座10的底面的距离为Hd。第二试管座30具有多种规格(高度不同)以适配插装多种不同规格的第二类型试管201，多种规格的第二试管座30插装在固定座40时，基座10的底面到第二试管座30的顶端的距离为H1。多种规格的第二类型试管201/202/203的高度为H2。多种规格的第二类型试管201/202/203的内腔底面到多种规格的第二类型试管201/202/203的底端的距离为H3。其中Hd为定值，H1、H2、H3均为变值。
当更换不同规格的第二试管座30和第二类型试管201/202/203时，Hd、H1、H2、H3满足公式：H1-H2+H3＝Hd，从而保证在更换不同规格的第二试管座30和第二类型试管201/202/203后，仪器从不同规格的第二类型试管201/202/203***取样时，第二类型试管201/202/203的内腔底面与第一类型试管101的内腔底面齐平，仪器的采样针的参考***深度是一致的，在不会碰到第一类型试管101的内腔底面并且能够正常吸样时，同样的***深度也不会碰到第二类型试管201/202/203的内腔底面并且能够正常吸样。
本发明实施例还一种样本分析仪，该样本分析仪包括前述的试管适配装置。
综上所述，本领域技术人员容易理解，本发明提供的试管适配装置通过第二试管座30与基座10的可拆卸地连接，可以根据试管的规格型号，方便地更换第二试管座30，从而适配多种不同规格的试管，使该种试管适配装置的应用范围更加广泛。
请参阅图3-图5，本发明实施例提供一种中继组件，该中继组件可以用于传送医学检测的待检测试剂，也可以用于传送其他液体试剂，该中继组件主要包括底板100、支撑块200、滑块及滑轨组件300、面板400。
其中，在底板100的一端设有开口部110，支撑块200在开口部110处与底板100相固定。滑块及滑轨组件300包括滑块310及滑轨320，滑块310通过支撑块200装配固定在底板100上，滑轨320与滑块310可滑动配合，面板400固定在滑轨320上。
底板100在开口部110处一体延伸有折板120，折板120可为独立板，或者折板120可与底板100一体成型。折板120上设有第一槽形孔121，支撑块200设有与第一槽形孔121对应的固定孔210，第一槽形孔121可用于配合固定件(如螺钉)以支持支撑块200的固定位置的调节，第一槽形孔121的数量没有限制，可以为1个或者2个，在本实施例中，需要通过第一槽形孔121对支撑块200进行位置调节，考虑到方便调节以及固定牢固，第一槽形孔121的数量设置为2个。
底板100在开口部110处固定连接有L型板130，L型板130一个折弯边设有第二槽形孔131，第二槽形孔131通过配合固定件(如螺钉)与支撑块200对应的固定孔210连接从而进行对支撑块200的固定位置的调节，第二槽形孔131的数量没有限制，可以为1个或者2个，在本实施例中，需要通过第二槽形孔131对支撑块200进行位置调节，考虑到方便调节以及固定牢固，第二槽形孔131的数量设置为2个。L型板130另一个折弯边设置有第二槽形孔132，第二槽形孔132用于固定连接到底板110上。
具体地，可以在第一槽形孔121和固定孔210之间，第二槽形孔131和固定孔210之间通过螺钉连接，通过控制螺钉的松紧状态，从而实现对支撑块200的上下角度调节，进而调节滑轨320的平行度。支撑块200可以为较厚的机加件，滑轨320在滑块310上滑行时，通过滑块310与支撑块200连接，使得滑轨320施加在滑块310的压力共同作用在滑块310和支撑块200上，增大了滑轨320在滑块310上的支撑受力点的受压强度，从而使滑轨320不容易发生翘曲变形，从而保证中继组件正常输送试管。
进一步地，在底板100的末端可设置辅助安装调整块，在通过对支撑块200调整角度来调整滑轨320的平行度时，辅助安装调整块可作用于滑轨320的末端，从而保证滑轨320整体的平行度，且在调整完成后，辅助安装调整块可以拆卸。
中继组件还包括传感器组件500，传感器组件500为光耦传感器，用于检测面板的位置，传感器组件500包括第一传感器510和第二传感器520，第一传感510安装在底板100靠近支撑块200的一端，支撑块200设有用于避让第一传感器510的避位缺口220，避位缺口220用于避开第一传感器510的光电开关和安装螺钉。第二传感器520安装在底板100远离第一传感器510的一侧，用于检测面板400的初始位置。
面板400设有多个缺口部410，传感器组件500的光耦配合多个缺口部410从而感应面板400的位置。
底板100和面板400均为槽形板且槽体部分相对以形成用于容置滑块310和滑块320的容置空间，底板100和面板400可以都是钣金件，底板100至少有一个折弯部与支撑块200连接，在本实施例中，底板100有两个折弯部，分别为折板120和L型折板130，均与支撑块200连接，且折板120和L型折板130是相对设置的，这种两个折弯部相对设置的优选方案具有进一步加强的作用，使得滑轨320上的压力可以更加均匀地作用在滑块310和支撑块200上，从而使滑轨320不容易发生翘曲变形，从而保证中继组件正常输送试管。
中继组件还包括电机传动组件600，包括电机610，从动轮620，传动带630，传动件640，电机610与底板100固定装配，从动轮620与底板100相固定并位于远离电机610的一侧，传动带630套设于电机610和从动轮620之间，传动件640与传动带630相固定，用于传动滑轨320以使得滑轨320相对滑块310滑动。
中继组件包括试管适配装置组件700，试管适配装置组件700安装在面板400上，试管适配装置700包括基座10，第一试管座20，第二试管座30，固定座40。第一试管座20与10基座固定连接，用于插装第一类型试管101。第二试管座30与基座20可拆卸地连接，用于插装第二类型试管201/202/203。固定座40与基座10固定连接并与第一试管座20呈相邻间隔设置，第二试管座30与固定座40可拆卸地连接。
本发明实施例还一种样本分析仪，该样本分析仪包括前述的中继组件。
综上所述，本领域技术人员容易理解，本发明提供的中继组件通过在滑块310底部设置支撑块200，滑轨320在滑动过程中以滑块310和支撑块200作为支点，增强了支点的受压强度，可以使滑轨320不容易发生翘曲变形，从而保证中继组件正常输送试管。
以上仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种中继组件，其特征在于，所述中继组件包括：
底板，设有开口部；
支撑块，于所述开口部处与所述底板相固定；
滑块，通过所述支撑块装配；
滑轨，与所述滑块滑动配合；
面板，与所述滑轨相固定。
2.根据权利要求1的所述中继组件，其特征在于：所述底板于所述开口部处一体延伸有折板，所述折板设有第一槽形孔，所述支撑块设有与所述第一槽形孔对应的固定孔，所述第一槽形孔用于配合固定件以支持所述支撑块的固定位置的调节。
3.根据权利要求2的所述中继组件，其特征在于：所述底板于所述开口部处固定连接有L型板，所述L型板设有第二槽形孔，所述支撑块设有与所述第二槽形孔对应的固定孔，所述第二槽形孔用于配合固定件以支持所述支撑块的固定位置的调节。
4.根据权利要求1的所述中继组件，其特征在于：所述中继组件还包括第一传感器，所述第一传感器安装于所述底板，所述支撑块设有用于避让所述第一传感器的避位缺口。
5.根据权利要求4的所述中继组件，其特征在于：所述面板设有多个缺口部，所述第一传感器为光耦，所述光耦用于配合所述多个缺口部感应面板的位置；
所述中继组件还包括第二传感器，所述第二传感器安装于所述底板远离所述第一传感器的一侧，用于检测所述面板的初始位置。
6.根据权利要求1的所述中继组件，其特征在于：所述底板和所述面板均为槽形板且槽体部分相对以形成用于容置所述滑块和所述滑块的容置空间。
7.根据权利要求1的所述中继组件，其特征在于：所述中继组件还包括：
电机，与所述底板固定装配；
从动轮，与所述底板相固定并位于所述远离所述电机的一侧；
传动带，套设于所述电机和所述从动轮之间；
传动件，与所述传动带相固定用于传动所述滑轨以使得所述滑轨相对所述滑块滑动。
8.根据权利要求1的所述中继组件，其特征在于：所述中继组件包括试管架，所述试管架包括：
基座；
第一试管座，与所述基座固定连接，用于插装第一类型试管；
第二试管座，与所述基座可拆卸连接，用于插装第二类型试管。
9.根据权利要求8的所述中继组件，其特征在于：所述试管架还包括固定座，所述固定座与所述基座固定连接并与所述第一试管座呈相邻间隔设置，所述第二试管座与所述固定座可拆卸连接。
10.一种样本分析仪，其特征在于：所述样本分析仪包括权利要求1-9中任一项所述的中继组件。
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