CN113962876B - 一种像素畸变的校正方法、校正装置及终端 - Google Patents
一种像素畸变的校正方法、校正装置及终端 Download PDFInfo
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Abstract
本发明适用于校正技术领域,提供了一种像素畸变的校正方法、校正装置、终端及计算机可读存储介质,所述校正方法包括:获取被测目标的多帧图像,分别获取每帧图像上对应于指定像素位置的像素点的像素值,得到多个像素值,确定所述多个像素值的基准像素值,基于所述基准像素值对所述指定像素位置对应的像素点的像素值进行畸变校正。本发明能够提高测量的被测目标的多帧图像在指定像素位置对应的像素点的像素值的准确性。
Description
本申请为申请号201910645948.5、申请日为2019年7月17日、发明名称为《一种像素畸变的校正方法、校正装置及终端》的发明专利申请的分案申请。
技术领域
本发明属于校正技术领域,尤其涉及一种像素畸变的校正方法、校正装置、终端及计算机可读存储介质。
背景技术
光热反射测温技术是一种非接触测温技术,其利用光热反射现象中的被光照射的物体的反射光强度的变化率随着物体的温度变化而变化的原理,通过测量被测物体的反射光强度的变化率可实现被测物体的温度测量。
为了实现高空间分辨力的显微热成像,通常采用基于高性能的光学显微镜来组建显微光反射热成像装置。利用光学显微镜的照明***提供探测光照射被测物体,使用光学显微镜的高性能相机记录照射的被测物体的显微成像,通过显微成像的图像获得反射光强度的变化率。
但在利用光学显微镜对被测物体进行温度测量的过程中,因被测物体的光热反射现象,被测物体的温度不断变化,被测物体内部和被测物体周围的空气均产生热对流现象,使获得的被测物体显微成像的图像在不同位置的像素值产生不同程度的畸变,利用光线显微镜的高性能相机记录照射的被测物体的图像获得的反射光强度的变化率产生误差,使得利用显微热成像技术测得的温度准确度较低。
发明内容
有鉴于此,本发明提供了一种像素畸变的校正方法、校正装置、终端及计算机可读存储介质,旨在解决现有技术中直接拍摄获得的图像由于存在像素畸变,造成测量结果准确度较低的问题。
本发明实施例的第一方面提供了一种像素畸变的校正方法,所述校正方法包括:
获取被测目标的多帧图像;
分别获取每帧图像上对应于指定像素位置的像素点的像素值,得到多个像素值;
确定所述多个像素值的基准像素值;其中,确定所述多个像素值的基准像素值,包括,从所述多个像素值中选取差值大于两倍的第四预设值的两个像素值;
计算所述两个像素值中的较小像素值与所述第四预设值的和,得到第三像素值;
计算所述两个像素值中的较大像素值与所述第四预设值的差,得到第四像素值;
基于所述第三像素值和所述第四像素值确定第六阈值范围;
分别以所述第六阈值范围内的整数值为中心,确定多个第七阈值范围,其中,所述多个第七阈值范围的大小均为两倍的所述第四预设值;
将包含所述多个像素值中的像素值最多的第七阈值范围记为第八阈值范围;
确定所述多个像素值在所述第八阈值范围内的像素值分别对应的多帧图像;
将所述多个像素值中在所述第八阈值范围内的像素值分别对应的多帧图像中选取的帧序号连续的,且,图像帧数最多的一组图像记为第二组图像;
获取所述第二组图像中的每帧图像上对应于所述指定像素位置的像素点的像素值,并将本次获取的像素值的平均值作为所述多个像素值的基准像素值;
或者,
按照像素值的大小对本次获取的像素值进行排序,得到第三像素值序列;
将所述第三像素值序列的中值确定为所述多个像素值的基准像素值;
基于所述基准像素值对所述指定像素位置对应的像素点的像素值进行畸变校正。
本发明实施例的第二方面提供了一种像素畸变的校正装置,所述校正装置包括:
第一获取单元,用于获取被测目标的多帧图像;
第二获取单元,用于分别获取每帧图像上对应于指定像素位置的像素点的像素值,得到多个像素值;
确定单元,用于确定所述多个像素值的基准像素值;
畸变校正单元,用于基于所述基准像素值对所述指定像素位置对应的像素点的像素值进行畸变校正。
本发明实施例的第三方面提供了一种终端,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如任一项所述像素畸变的校正方法的步骤。
本发明实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如任一项所述像素畸变的校正方法的步骤。
本发明与现有技术相比存在的有益效果是:
本发明通过获取被测目标的多帧图像,分别获取每帧图像上对应于指定像素位置的像素点的像素值,得到多个像素值,通过确定所述多个像素值的基准像素值,并基于所述基准像素值对所述指定像素位置对应的像素点的像素值进行畸变校正,通过确定多个像素值的基准像素值,减小了被测目标的多帧图像在指定像素位置对应的像素点的像素值的畸变程度,提高了测量的被测目标的多帧图像在指定像素位置对应的像素点的像素值的准确性,通过本发明对显微热图像进行像素畸变的校正,可以有效提高利用显微热成像进行温度测量的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的像素畸变的校正方法的实现流程图;
图2是本发明另一实施例提供的像素畸变的校正方法的实现流程图;
图3是本发明实施例提供的像素畸变的校正装置的结构示意图;
图4是本发明实施例提供的终端的示意图。
具体实施方式
以下描述中,为了说明而不是为了限定,提出了诸如特定***结构、技术之类的具体细节,以便透彻理解本发明实施例。然而,本领域的技术人员应当清楚,在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本发明。在其它情况中,省略对众所周知的***、装置、电路以及方法的详细说明,以免不必要的细节妨碍本发明的描述。
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图通过具体实施例来进行说明。
参见图1,其示出了本发明实施例提供的像素畸变的校正方法的实现流程图,详述如下:
S101:获取被测目标的多帧图像;
在本发明实施例中,获取被测目标的多帧图像,该多帧图像的帧序号可以是连续的,帧序号表示获取的每帧图像的顺序号。
S102:分别获取每帧图像上对应于指定像素位置的像素点的像素值,得到多个像素值;
在本发明实施例中,分别获取每帧图像上在指定像素位置的像素点的像素值,得到多个像素值,运用获取每帧图像上指定像素位置的像素点的像素值的方法可以同时获取每帧图像上在每个像素位置的像素点的像素值,得到多帧图像在每个相同像素位置的像素点的多个像素值。
S103:确定所述多个像素值的基准像素值;
在本发明实施例中,该基准像素值为畸变程度最小的像素值,将基准像素值代替多个像素值,使每帧图像上对应于指定像素位置的像素点的像素值均为基准像素值,减小了每帧图像上对应于指定像素位置的像素点的像素值畸变程度,提高了测量的每帧图像在指定像素位置的像素点的像素值的准确性。
利用确定每帧图像上对应于指定像素位置的像素点的基准像素值的方法,可以同时确定在每帧图像对应于每个像素位置的像素点的基准像素值,增强了测量的每帧图像在每个像素位置的像素点的像素值的准确性,
S104:基于所述基准像素值对所述指定像素位置对应的像素点的像素值进行畸变校正。
在本发明实施例中,进行畸变校正的过程即为将每帧图像上对应于指定像素位置的像素点的基准像素值代替每帧图像对应于指定位置对应的像素点的像素值。
示例性的,获取n帧连续的被测目标的图像,其中,n为大于1的正整数,帧序号为1的图像在对应于指定像素位置的像素点A的像素值为a1,帧序号为2的图像对应于指定像素位置的像素点A的像素值为a2,以此类推,帧序号为n的图像对应于指定像素位置的像素点A的像素值为an,通过计算,确定多个像素值a1,a2,......,an在像素点A的基准像素值为a0,将基准像素值a0作为n帧连续的被测目标的图像在像素点A的像素值,即,使a1=a2=......=an=a0。利用确定每帧图像上对应于指定像素位置的像素点A的基准像素值的方法,可以同时获取多帧图像在每个相同像素位置的像素点的基准像素值,并将多帧图像在每个相同像素位置的像素点的基准像素值替代每帧图像在每个相同像素位置的像素点的像素值,实现对每一个像素位置的像素点的像素值的畸变校正。
由上可知,本发明减小了每组图像在指定像素位置的像素点的像素值的畸变程度,并利用同样的方法,实现对每帧图像在每一个像素位置的像素点的像素值的畸变校正,进而减小多帧图像在每一个相同像素位置的像素点的像素值的畸变程度,通过本发明对显微热图像进行像素畸变校正,减小因热对流现象使每帧图像在每一个像素位置的像素点的像素值畸变的程度,可以有效提高利用显微热成像进行温度测量的准确性。
参见图2,其示出了本发明另一实施例提供的像素畸变的校正方法的实现流程图,详述如下:
S201:获取被测目标的多帧图像;
上述步骤S201,可参考图1所示实施例中的步骤S101,在此不作赘述。
S202:根据预设规则对多帧图像进行分组,得到多组图像;
S203:分别获取多组图像中的各组图像的每帧图像上对应于指定像素位置的像素点的像素值,得到每组的多个像素值;
S204:确定各组的多个像素值的基准像素值;
S205:基于多组图像的组数,对各组图像中的基准像素值进行平均计算,得到多组图像的多个像素值的平均像素值;
S206:基于平均像素值对指定像素位置对于的像素点的像素值进行畸变校正。
在本发明实施例中,通过对获取的多帧图像进行分组,并确定每组图像在指定像素位置的像素点的基准像素值,根据进行分组的组数,对每组图像的基准像素值进行平均计算,得到平均像素值,将平均像素值代替每组图像在指定像素位置的像素点的像素值,并利用同样的方法,同时获取每组图像在每一个相同像素位置的像素点的平均像素值,将每一个像素位置的像素点的平均像素值代替每组图像在每一个相同像素位置的像素点的像素值,实现对多组图像的每一个相同像素位置的像素点的像素值的畸变校正。
步骤S204可确定每组图像在指定像素位置的像素点的基准像素值,减小了每组图像在指定像素位置的像素点的像素值的畸变程度,步骤S205和S206,对每组图像在指定像素位置的像素点的基准像素值求取平均像素值,并将该平均像素值代替每组图像在指定像素位置的像素点的像素值,实现对每组图像的指定像素位置的像素点的像素值的进一步畸变校正,进一步减小了每组图像之间在指定像素位置的像素点的差异,提高了测量的每组图像在指定像素位置的像素点的像素值的准确度,利用同样的方法,可同时获得每组图像在每一个相同像素位置的像素点的平均像素值,实现对每组图像在每一个像素位置的像素点的像素值的畸变校正,提高了测量的每组图像在相同像素位置的像素点的像素值的准确度。
由上可知,通过本发明对显微热图像进行像素畸变校正,可减小因热对流现象使每组图像在指定像素位置的像素点的像素值畸变的程度,而对获取的每组图像在指定像素位置的像素点的基准像素值进行平均计算的过程,减小了散粒噪声和热噪声等图像噪声对多帧图像中像素位置的像素点的像素值的影响,进一步增强了利用显微热成像技术进行温度测量的测量准确性。
可选的,所述确定所述多个像素值的基准像素值包括:
按照像素值的大小对所述多个像素值进行排序,得到第一像素值序列;
将所述第一像素值序列的中值确定为所述多个像素值的基准像素值。
在本发明实施例中,将第一像素值序列的中值确定为多个像素值的基准像素值,其中,在第一像素值序列的序列数目为奇数时,第一像素值序列的中值取处于第一像素值序列的中间位置的序列值,在第一像素值序列的序列数目为偶数时,第一像素值序列的中值可以取处于第一像素值序列的中间位置的两个序列值中的任意一个。
通过将第一像素值序列的中值确定为多个像素值的基准像素值,可以去除第一像素值序列中差异较大的像素值,即像素畸变程度较大的像素值,并将畸变程度最小的中值作为第一像素值序列中的所有像素值的基准像素值,减小了在指定位置像素点的畸变程度,增强了测量的多帧图像在指定位置像素点的像素值的准确性。
可选的,所述确定所述多个像素值的基准像素值包括:
以所述多个像素值中的每个像素值为中心确定范围大小均为第一预设值的多个第一阈值范围;
将包含所述多个像素值中的像素值最多的第一阈值范围的中心像素值作为所述多个像素值的基准像素值。
在本发明实施例中,第一预设值为根据影响图像的像素值的因素确定的数值,示例性,通过本发明对显微热图像进行像素畸变校正时,第一预设值为根据显微热图像的噪声确定的数值。
示例性的,获取n帧连续的被测目标的图像,其中,n为大于1的正整数,帧序号为1的图像在对应于指定像素位置的像素点A的像素值为a1,帧序号为2的图像对应于指定像素位置的像素点A的像素值为a2,以此类推,帧序号为n的图像对应于指定像素位置的像素点A的像素值为an,通过计算,确定第一预设值为2s1,由多个像素值中的其中一个像素值a1为中心,构成的第一阈值范围为[a1-s1,a1+s1]。
在多帧图像中的指定位置的像素点的像素值畸变程度不同,且发生较大像素值畸变的数量较少,因此,包含像素值最多的第一阈值范围最准确,而该第一阈值范围的中心像素值为畸变程度最小的像素值,即可以从多个像素值中选取畸变程度最小的像素值作为基准像素值,保证了测量的指定位置像素值的准确性。
可选的,所述确定所述多个像素值的基准像素值包括:
从所述多个像素值中选取差值大于两倍的第二预设值的两个像素值;
计算所述两个像素值中的较小像素值与所述第二预设值的和,得到第一像素值;
计算所述两个像素值中的较大像素值与所述第二预设值的差,得到第二像素值;
基于所述第一像素值和所述第二像素值确定第二阈值范围;
分别以所述第二阈值范围中的整数值为中心,确定多个第三阈值范围,其中,所述多个第三阈值范围的大小均为两倍的所述第二预设值;
将包含所述多个像素值的像素值最多的第三阈值范围的中心整数值作为所述多个像素值的基准像素值。
在本发明实施例中,第二预设值为根据影响图像的像素值的因素确定的数值,示例性,通过本发明对显微热图像进行像素畸变校正时,第二预设值为根据显微热图像的噪声确定的数值。多个像素值中有多组符合差值大于两倍的第四预设值的两个像素值时,可选取差值相差最大的两个像素值。在包含多个像素值的像素值最多的第三阈值范围有多个时,将该多个第三阈值范围的中心整数值的平均值作为多个像素值的基准像素值。
示例性的,获取n帧连续的被测目标的图像,其中,n为大于1的正整数,帧序号为1的图像在对应于指定像素位置的像素点A的像素值为a1,帧序号为2的图像对应于指定像素位置的像素点A的像素值为a2,以此类推,帧序号为n的图像对应于指定像素位置的像素点A的像素值为an,通过计算,确定第二预设值为s2,由多个像素值中的选取两个像素值a2,a8,其中a8>a2,且a8-a2>2s2,构成的第二阈值范围为[a2+s2,a8-s2],此时在第二阈值范围[a2+s2,a8-s2]内的整数值为c1,c2,......,ct,t为大于1的正整数。
以整数值c1为中心,范围大小为两倍的s2的第二阈值范围为[c1-s2,c1+s2],以整数值c2为中心,范围大小为两倍的s2的第二阈值范围为[c2-s2,c2+s2],以此类推,以整数值ct为中心,范围大小为两倍的s2的第二阈值范围为[ct-s2,ct+s2];
通过比较,包含多个像素值a1,a2,......,an的个数最多的第二阈值范围为[c3-s2,c3+s2],则将第二阈值范围[c3-s2,c3+s2]记为第三阈值范围,并将第三阈值范围的中心整数值c3作为多个像素值a1,a2,......,an的基准像素值。
在多帧图像中的指定位置的像素点的像素值畸变程度不同,且发生较大像素值畸变的数量较少,因此,包含像素值最多的第三阈值范围最准确,而该第三阈值范围的中心整数值为最接近指定位置像素的像素点未发生畸变的像素值,即可以从多个像素值中求取最接近未发生畸变的像素值,并将该像素值作为基准像素值,保证了测量的指定位置像素值的准确性。
可选的,所述确定所述多个像素值的基准像素值包括:
以所述多个像素值中的每个像素值为中心确定范围大小均为第三预设值的多个第四阈值范围;
将包含所述多个像素值中的像素值最多的第四阈值范围记为第五阈值范围;
确定所述多个像素值中在所述第五阈值范围内的像素值分别对应的多帧图像;
将所述多个像素值中在所述第五阈值范围内的像素值分别对应的多帧图像中,选取的帧序号连续的,且,图像帧数最多的一组图像记为第一组图像;
获取所述第一组图像中的每帧图像上对应于所述指定像素位置的像素点的像素值,并将本次获取的像素值的平均值作为所述多个像素值的基准像素值;
或者,
按照像素值的大小对本次获取的像素值进行排序,得到第二像素值序列;
将所述第二像素值序列的中值确定为所述多个像素值的基准像素值。
在本发明实施例中,第三预设值为根据影响图像的像素值的因素确定的数值,示例性,通过本发明对显微热图像进行像素畸变校正时,第三预设值为根据显微热图像的噪声确定的数值。第二像素值序列中的序列数目为奇数时,将处于中间位置的像素值作为第二像素值序列的中值,第二像素值序列中的序列数目为偶数时,第二像素值序列的中值可以取处于第二像素值序列的中间位置的两个序列值中的任意一个。
示例性的,获取n帧连续的被测目标的图像,其中,n为大于1的正整数,帧序号为1的图像在对应于指定像素位置的像素点A的像素值为a1,帧序号为2的图像对应于指定像素位置的像素点A的像素值为a2,以此类推,帧序号为n的图像对应于指定像素位置的像素点A的像素值为an,通过计算,确定第三预设值为2s3,由多个像素值中的其中一个像素值a3为中心,构成的第四阈值范围为[a3-s3,a3+s3],而在包含多个像素值a1,a2,......,an中的像素值最多的第四阈值范围为[a3-s3,a3+s3]时,将该第四阈值范围[a3-s3,a3+s3]记为第五阈值范围,在第五阈值范围内的多个像素值为a2,a3,a4,a7,a8时,对应的图像帧序号分别为2,3,4,7,8。选取帧序号连续的,且,图像帧数最多的第一组图像中的图像帧序号为2,3,4,将第一组图像中的像素值运用以下计算公式,计算本次获取的像素值的平均值:
将本次获取的像素值的平均值作为多个像素值a1,a2,……,an的基准像素值。
第一组图像内的每帧图像对应的像素值在第五阈值范围内的数目最多,表明该组图像对应的像素值畸变程度较小,将该组内的每帧图像对应的像素值的平均值作为基准像素值,或按照像素值的大小对该组内的每帧图像对应的像素值进行排序,得到第二像素值序列,并选取第二像素值序列的中值为基准像素值,两种方式均可以获取像素值畸变程度最小的像素值,并将该像素值作为基准像素值。
可选的,所述确定所述多个像素值的基准像素值包括:
从所述多个像素值中选取差值大于两倍的第四预设值的两个像素值;
计算所述两个像素值中的较小像素值与所述第四预设值的和,得到第三像素值;
计算所述两个像素值中的较大像素值与所述第四预设值的差,得到第四像素值;
基于所述第三像素值和所述第四像素值确定第六阈值范围;
分别以所述第六阈值范围内的整数值为中心,确定多个第七阈值范围,其中,所述多个第七阈值范围的大小均为两倍的所述第四预设值;
将包含所述多个像素值中的像素值最多的第七阈值范围记为第八阈值范围;
确定所述多个像素值在所述第八阈值范围内的像素值分别对应的多帧图像;
将所述多个像素值中在所述第八阈值范围内的像素值分别对应的多帧图像中,选取的帧序号连续的,且,图像帧数最多的一组图像记为第二组图像;
获取所述第二组图像中的每帧图像上对应于所述指定像素位置的像素点的像素值,并将该次获取的像素值的平均值作为所述多个像素值的基准像素值;
或者,
按照像素值的大小对该次获取的像素值进行排序,得到第三像素值序列;
将所述第三像素值序列的中值确定为所述多个像素值的基准像素值。
在本发明实施例中,第四预设值为根据影响图像的像素值的因素确定的数值,示例性,通过本发明对显微热图像进行像素畸变校正时,第四预设值为根据显微热图像的噪声确定的数值。多个像素值中有多组符合差值大于两倍的第四预设值的两个像素值时,可选取差值相差最大的两个像素值。第三像素值序列中的序列数目为奇数时,将处于中间位置的像素值作为第三像素值序列的中值,第三像素值序列中的序列数目为偶数时,第三像素值序列的中值可以取处于第三像素值序列的中间位置的两个序列值中的任意一个。
示例性的,获取n帧连续的被测目标的图像,其中,n为大于1的正整数,帧序号为1的图像在对应于指定像素位置的像素点A的像素值为a1,帧序号为2的图像对应于指定像素位置的像素点A的像素值为a2,帧序号为n的图像对应于指定像素位置的像素点A的像素值为an,通过计算,确定第四预设值为s4,由多个像素值中的选取两个像素值a4,a10,其中a10>a4,且a10-a4>2s4,构成的第六阈值范围为[a4+s4,a10-s4];
在第六阈值范围内的整数值为b1,b2,......,bm,m为大于1的正整数;
以整数值b1为中心,范围大小为两倍的s4的第七阈值范围为[b1-s4,b1+s4],以整数值b2为中心,范围大小为两倍的s4的第七阈值范围为[b2-s4,b2+s4],以此类推,以整数值bm为中心,范围大小为两倍的s4的第七阈值范围为[bm-s4,bm+s4];
通过比较,包含多个像素值a1,a2,……,an的个数最多的第七阈值范围为[b2-s4,b2+s4],则将该第七阈值范围[b2-s4,b2+s4]记为第八阈值范围;
在第八阈值范围内的多个像素值为a2,a3,a9,a10,a11,a12时,对应的图像帧序号分别为2,3,9,10,11,12。选取帧序号连续的,且,图像帧数最多的第二组图像中的图像帧序号为9,10,11,12,将第二组图像中的像素值按照像素值的从大到小的排序后的第三像素值序列为(a9,a11,a10,a12),将该次获取的像素值的中值a11作为多个像素值a1,a2,......,an的基准像素值。
在第八阈值范围内的多个像素值对应多帧图像,将帧序号为连续的图像确定为二组,因此可获取多组帧序号连续的图像,选取帧数量最多的一组帧序号连续图像为第二组图像。
第二组图像内的每帧图像对应的像素值在第八阈值范围内的数目最多,表明该组图像对应的像素值畸变程度较小,将该组内的每帧图像对应的像素值的平均值作为基准像素值,或将第二组内的每帧图像对应的像素值按照像素值的大小进行排序,得到第三像素值序列,并选取第三像素值序列的中值为基准像素值,两种方式均可以获取像素值畸变程度最小的像素值,并将该像素值作为基准像素值。
可选的,所述多帧图像为显微热图像,在所述基于所述基准像素值对所述指定像素位置对应的像素点的像素值进行畸变校正后还包括:
基于畸变校正后的显微热图像,获得所述被测目标的温度信息。
在本发明实施例中,通过本发明对显微热图像的像素值进行畸变校正后,对畸变校正后的显微热图像进行温度测量,可准确获得被测目标的温度值。
应理解,上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后,各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定,而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。
以下为本发明的装置实施例,对于其中未详尽描述的细节,可以参考上述对应的方法实施例。
图3示出了本发明实施例提供的像素畸变的校正装置的结构示意图,为了便于说明,仅示出了与本发明实施例相关的部分,详述如下:
如图3所示,像素畸变的校正装置3包括:
第一获取单元301,用于获取被测目标的多帧图像;
第二获取单元302,用于分别获取每帧图像上对应于指定像素位置的像素点的像素值,得到多个像素值;
确定单元303,用于确定所述多个像素值的基准像素值;
畸变校正单元304,用于基于所述基准像素值对所述指定像素位置对应的像素点的像素值进行畸变校正。
在本发实施例中,通过第一获取单元301、第二获取单元302、确定单元303、畸变校正单元304,实现对像素畸变的校正。
可选的,确定单元303具体用于:
按照像素值的大小对所述多个像素值进行排序,得到第一像素值序列;
将所述第一像素值序列的中值确定为所述多个像素值的基准像素值。
可选的,确定单元303具体用于:
以所述多个像素值中的每个像素值为中心确定范围大小均为第一预设值的多个第一阈值范围;
将包含所述多个像素值中的像素值最多的第一阈值范围的中心像素值作为所述多个像素值的基准像素值。
可选的,确定单元303具体用于:
从所述多个像素值中选取差值大于两倍的第二预设值的两个像素值;
计算所述两个像素值中的较小像素值与所述第二预设值的和,得到第一像素值;
计算所述两个像素值中的较大像素值与所述第二预设值的差,得到第二像素值;
基于所述第一像素值和所述第二像素值确定第二阈值范围;
分别以所述第二阈值范围中的整数值为中心,确定多个第三阈值范围,其中,所述多个第三阈值范围的大小均为两倍的所述第二预设值;
将包含所述多个像素值的像素值最多的第三阈值范围的中心整数值作为所述多个像素值的基准像素值。
可选的,确定单元303具体用于:
以所述多个像素值中的每个像素值为中心确定范围大小均为第三预设值的多个第四阈值范围;
将包含所述多个像素值中的像素值最多的第四阈值范围记为第五阈值范围;
确定所述多个像素值中在所述第五阈值范围内的像素值分别对应的多帧图像;
将所述多个像素值中在所述第五阈值范围内的像素值分别对应的多帧图像中选取的帧序号连续的,且,图像帧数最多的一组图像记为第一组图像;
获取所述第一组图像中的每帧图像上对应于所述指定像素位置的像素点的像素值,并将本次获取的像素值的平均值作为所述多个像素值的基准像素值;
或者,
对本次获取的像素值按照像素值的大小进行排序,得到第二像素值序列;
将所述第二像素值序列的中值确定为所述多个像素值的基准像素值。
可选的,确定单元303具体用于:
从所述多个像素值中选取差值大于两倍的第四预设值的两个像素值;
计算所述两个像素值中的较小像素值与所述第四预设值的和,得到第三像素值;
计算所述两个像素值中的较大像素值与所述第四预设值的差,得到第四像素值;
基于所述第三像素值和所述第四像素值确定第六阈值范围;
分别以所述第六阈值范围内的整数值为中心,确定多个第七阈值范围,其中,所述多个第七阈值范围的大小均为两倍的所述第四预设值;
将包含所述多个像素值中的像素值最多的第七阈值范围记为第八阈值范围;
确定所述多个像素值在所述第八阈值范围内的像素值分别对应的多帧图像;
将所述多个像素值中在所述第八阈值范围内的像素值分别对应的多帧图像中选取的帧序号连续的,且,图像帧数最多的一组图像记为第二组图像;
获取所述第二组图像中的每帧图像上对应于所述指定像素位置的像素点的像素值,并将该次获取的像素值的平均值作为所述多个像素值的基准像素值;
或者,
对该次获取的像素值按照像素值的大小进行排序,得到第三像素值序列;
将所述第三像素值序列的中值确定为所述多个像素值的基准像素值。
可选的,像素畸变的校正装置3具体用于:
对显微热图像的多帧图像进行像素畸变校正,
相应的,像素畸变的校正装置3还包括:
温度测量单元305,用于基于畸变校正后的显微热图像,获得所述被测目标的温度信息。
图4是本发明实施例提供的终端的示意图。如图4所示,该实施例的终端4包括:处理器40、存储器41以及存储在所述存储器41中并可在所述处理器40上运行的计算机程序42。所述处理器40执行所述计算机程序42时实现上述各个像素畸变的校正方法实施例中的步骤,例如图1所示的步骤101至步骤104。或者,所述处理器40执行所述计算机程序42时实现上述各装置实施例中各模块/单元的功能,例如图3所示单元301至304的功能。
示例性的,所述计算机程序42可以被分割成一个或多个模块/单元,所述一个或者多个模块/单元被存储在所述存储器41中,并由所述处理器40执行,以完成本发明。所述一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段,该指令段用于描述所述计算机程序42在所述终端4中的执行过程。
所述终端4可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。所述终端可包括,但不仅限于,处理器40、存储器41。本领域技术人员可以理解,图4仅仅是终端4的示例,并不构成对终端4的限定,可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件,例如所述终端还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
所称处理器40可以是中央处理单元(Central Processing Unit,CPU),还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
所述存储器41可以是所述终端4的内部存储单元,例如终端4的硬盘或内存。所述存储器41也可以是所述终端4的外部存储设备,例如所述终端4上配备的插接式硬盘,智能存储卡(Smart Media Card,SMC),安全数字(Secure Digital,SD)卡,闪存卡(Flash Card)等。进一步地,所述存储器41还可以既包括所述终端4的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器41用于存储所述计算机程序以及所述终端所需的其他程序和数据。所述存储器41还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为了描述的方便和简洁,仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成,即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中,上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。另外,各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分,并不用于限制本申请的保护范围。上述***中单元、模块的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述或记载的部分,可以参见其它实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本发明所提供的实施例中,应该理解到,所揭露的装置/终端和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置/终端实施例仅仅是示意性的,例如,所述模块或单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通讯连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程,也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中,该计算机程序在被处理器执行时,可实现上述各个方法实施例的步骤。其中,所述计算机程序包括计算机程序代码,所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括:能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是,所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减,例如在某些司法管辖区,根据立法和专利实践,计算机可读介质不包括是电载波信号和电信信号。
以上所述实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种像素畸变的校正方法,其特征在于,所述校正方法包括:
获取被测目标的多帧图像;
分别获取每帧图像上对应于指定像素位置的像素点的像素值,得到多个像素值;
确定所述多个像素值的基准像素值;
基于所述基准像素值对所述指定像素位置对应的像素点的像素值进行畸变校正;
其中,所述确定所述多个像素值的基准像素值,包括,
从所述多个像素值中选取差值大于两倍的第四预设值的两个像素值;
计算所述两个像素值中的较小像素值与所述第四预设值的和,得到第三像素值;
计算所述两个像素值中的较大像素值与所述第四预设值的差,得到第四像素值;
基于所述第三像素值和所述第四像素值确定第六阈值范围;
分别以所述第六阈值范围内的整数值为中心,确定多个第七阈值范围,其中,所述多个第七阈值范围的大小均为两倍的所述第四预设值;
将包含所述多个像素值中的像素值最多的第七阈值范围记为第八阈值范围;
确定所述多个像素值在所述第八阈值范围内的像素值分别对应的多帧图像;
将所述多个像素值中在所述第八阈值范围内的像素值分别对应的多帧图像中选取的帧序号连续的,且,图像帧数最多的一组图像记为第二组图像;
获取所述第二组图像中的每帧图像上对应于所述指定像素位置的像素点的像素值,并将本次获取的像素值的平均值作为所述多个像素值的基准像素值;
或者,
按照像素值的大小对本次获取的像素值进行排序,得到第三像素值序列;
将所述第三像素值序列的中值确定为所述多个像素值的基准像素值。
2.根据权利要求1所述的像素畸变的校正方法,其特征在于,所述多帧图像为显微热图像,在所述基于所述基准像素值对所述指定像素位置对应的像素点的像素值进行畸变校正后还包括:
基于畸变校正后的显微热图像,获得所述被测目标的温度信息。
3.一种像素畸变的校正装置,其特征在于,所述校正装置包括:
第一获取单元,用于获取被测目标的多帧图像;
第二获取单元,用于分别获取每帧图像上对应于指定像素位置的像素点的像素值,得到多个像素值;
确定单元,用于确定所述多个像素值的基准像素值;
畸变校正单元,用于基于所述基准像素值对所述指定像素位置对应的像素点的像素值进行畸变校正;
其中,所述确定单元具体用于:
从所述多个像素值中选取差值大于两倍的第四预设值的两个像素值;
计算所述两个像素值中的较小像素值与所述第四预设值的和,得到第三像素值;
计算所述两个像素值中的较大像素值与所述第四预设值的差,得到第四像素值;
基于所述第三像素值和所述第四像素值确定第六阈值范围;
分别以所述第六阈值范围内的整数值为中心,确定多个第七阈值范围,其中,所述多个第七阈值范围的大小均为两倍的所述第四预设值;
将包含所述多个像素值中的像素值最多的第七阈值范围记为第八阈值范围;
确定所述多个像素值在所述第八阈值范围内的像素值分别对应的多帧图像;
将所述多个像素值中在所述第八阈值范围内的像素值分别对应的多帧图像中选取的帧序号连续的,且,图像帧数最多的一组图像记为第二组图像;
获取所述第二组图像中的每帧图像上对应于所述指定像素位置的像素点的像素值,并将本次获取的像素值的平均值作为所述多个像素值的基准像素值;
或者,
按照像素值的大小对本次获取的像素值进行排序,得到第三像素值序列;
将所述第三像素值序列的中值确定为所述多个像素值的基准像素值。
4.一种终端,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如上的权利要求1或2所述方法的步骤。
5.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如上的权利要求1或2所述方法的步骤。
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