CN113917309B - 检测测量电路板延时时间的工装是否合格的方法及*** - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 27
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 44
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012797 qualification Methods 0.000 description 1
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Abstract
本发明公开了一种检测测量电路板延时时间的工装是否合格的方法及***,其中,该方法包括:S1:将待检测的工装与示波器电连接,并且通过电压转换电路与信号发生器电连接,构成测量***;S2:将所述信号发生器的延时输出时间设置为0,通过所述示波器获取所述工装的***固有延时时间t0;S3:将所述信号发生器的延时输出时间设置为预设非0值,通过所述示波器获取所述工装的测量延时时间t1;S4:通过所述示波器比较所述测量延时时间和所述***固有延时时间的差t1‑t0和所述预设非0值的时间差是否在预设误差范围内,若是,则判定所述工装合格,若否,则判定所述工装不合格。
Description
技术领域
本发明涉及测试计量领域。更具体地,涉及一种检测测量电路板延时时间的工装是否合格的方法及***。
背景技术
电路板上设计了延时电路,生产时需要测试延时时间是否符合要求,为此需要设计专用的工装来检测电路板上延时电路的延时时间。用于测量电路板延时时间的工装每年需要校准,为此设计了一种专用于检测用于测量电路板延时时间的工装是否合格的方法及***。
发明内容
为了解决背景技术中所述的问题,本发明提供了一种检测用于测量电路板延时时间的工装是否合格的方法及***。
第一方面本发明提供一种检测用于测量电路板延时时间的工装是否合格的方法,所述方法包括:
S1:将待检测的工装与示波器电连接,并且通过电压转换电路与信号发生器电连接,构成测量***;
S2:将所述信号发生器的延时输出时间设置为0,通过所述示波器获取所述工装的***固有延时时间t0;
S3:将所述信号发生器的延时输出时间设置为预设非0值,通过所述示波器获取所述工装的测量延时时间t1;
S4:通过所述示波器比较所述测量延时时间和所述***固有延时时间的差t1-t0和所述预设非0值的时间差是否在预设误差范围内,若是,则判定所述工装合格,若否,则判定所述工装不合格。
在一个具体实施例中,所述S2包括:
S21:所述待检测的工装输出第一脉冲信号;
S22:所述电压转换电路将第一脉冲信号转换为适合所述信号发生器输入的第一接收信号;
S23:所述信号发生器根据所述第一接收信号输出第一输出信号;
S24:所述电压转换电路将所述第一输出信号转换为适合所述工装输入的第一反馈信号;
S25:所述示波器测量所述第一脉冲信号和所述第一反馈信号的时间差,作为所述***固有延时时间t0。
在另一个具体实施例中,所述S2还包括
重复步骤S21-S25,获得多个***固有延时时间;
对所述多个***固有延时时间求平均值,作为所述***固有延时时间t0。
在一个具体实施例中,所述S3包括:
S31:所述待检测的工装输出第二脉冲信号;
S32:所述电压转换电路将第二脉冲信号转换为适合所述信号发生器输入的第二接收信号;
S33:所述信号发生器根据所述第二接收信号输出第二输出信号;
S34:所述电压转换电路将所述第二输出信号转换为适合所述工装输入的第二反馈信号;
S35:所述示波器测量所述第二脉冲信号和所述第二反馈信号的时间差,作为所述工装的测量延时时间t1。
在另一个具体实施例中,所述S3还包括:
改变所述预设非0值,得到k个预设非0值,tk,重复步骤S31-S35,得到多个所述工装的测量延时时间,
其中,1≤k≤N,其中N为所述工装能测量的N种电路板的延时时间,N和k均为自然数,并且其中,tk与所述工装所测量的第k种电路板的延时时间对应。
在一个具体实施例中,所述S4包括:
比较所述tk-t0和所述预设非0值的时间差是否在对应的第k预设误差范围内,若是,则判定所述工装测量所述第k种电路板的延时时间是合格的,若否,则判定所述工装测量所述第k种电路板的延时时间是不合格的。
在另一个具体实施例中,所述方法还包括:
判断第k种电路板是上升沿触发电路板还是下降沿触发电路板;
基于判断结果确定第一脉冲信号和第二脉冲信号为上升沿触发脉冲信号或者是下降沿触发脉冲信号。
在一个具体实施例中,所述电压转换电路包括:
降压变换单元,用于将第一脉冲信号转换为适合所述信号发生器输入的第一接收信号以及将第二脉冲信号转换为适合所述信号发生器输入的第二接收信号;
升压变换单元,用于将所述第一输出信号转换为适合所述工装输入的第一反馈信号以及将所述第二输出信号转换为适合所述工装输入的第二反馈信号。
在一个具体实施例中,所述降压变换单元包括第一电阻器和第二电阻器,其中第一电阻器的第一端接收所述第一脉冲信号和第二脉冲信号,第二电阻器的第二端接地,第一电阻器的第二端和第二电阻器的第一端连接,用于输出所述第一接收信号和第二接收信号;
所述升压变换单元包括升压电路,其中升压电路的第一端输出所述第一反馈信号和第二反馈信号,升压电路的第二端接收所述第一输出信号和第二输出信号。
另一方面,本发明还提供一种检测用于测量电路板延时时间的工装是否合格的***,包括:与所述待检测的工装电连接的电压转换电路、信号发生器以及示波器,
其中,
所述信号发生器的延时输出时间设置为0,通过所述示波器获取所述工装的***固有延时时间t0;
所述信号发生器的延时输出时间设置为预设非0值,通过所述示波器获取所述工装的测量延时时间t1;
所述示波器比较所述测量延时时间和所述***固有延时时间的差t1-t0和所述预设非0值的时间差是否在预设误差范围内,若是,则判定所述工装合格,若否,则判定所述工装不合格。
本发明的有益效果如下:
本发明提供的一种检测用于测量电路板延时时间的工装是否合格的方法及***,通过设置信号发生器的延时输出时间,检测用于测量电路板延时时间的工装的合格性,本发明采用用于测量电路板延时时间的工装的测量值t1减去检测***固有延时时间t0的差值与信号发生器预设的延时输出时间相比较来检测用于测量电路板延时时间的工装的精度,从而判断用于测量电路板延时时间的工装的合格性,本发明方法简单,易操作,成本低。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1示出本发明一种检测用于测量电路板延时时间的工装是否合格的方法的步骤图;
图2示出根据本发明一个实施例的检测用于测量电路板延时时间的工装是否合格的***连接图;
图3示出根据本发明一个实施例的电压转换电路的示意图。
具体实施方式
为使本发明的技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。本领域技术人员应当理解,下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的,不应以此限制本发明的保护范围。
为了检测用于测量电路板延时时间的工装是否合格,本发明设计了一种检测用于测量电路板延时时间的工装是否合格的方法及***,所述方法包括:
S1:将待检测的工装与示波器电连接,并且通过电压转换电路与信号发生器电连接,构成测量***。
在一个具体实施例中,测量***按照如图2所示连接方式连接。
所述待检测的工装用于测量电路板上延时电路的延时时间。
在一个具体实施例中,所述待检测的工装,可以通过按键输出脉冲信号,所述工装的计时器开始计时,当检测到反馈回来对应的反馈信号时,停止计时,这之间的时间就是所述工装所测得的延时时间;本发明适用于现有的测量电路板延时时间的工装。
如图2所示,工装可以输出上升沿触发脉冲信号,也可以输出下降沿触发脉冲信号,这取决于工装所测量的电路板是上升沿触发电路板还是下降沿触发电路板。
所述信号发生器用于接收测量电路板延时时间的工装发出的脉冲信号,延时预设的延时输出时间后输出反馈信号。
在一个具体实施例中,所述信号发生器能够接收脉冲信号,并且能够设置输出单个周期的脉冲信号,输出单个周期波形的周期也可以设置。
在一个具体实施例中,所述信号发生器为德科技33512B信号发生器。
S2:将所述信号发生器的延时输出时间设置为0,通过所述示波器获取所述工装的***固有延时时间t0;
在一个具体实施例中,所述信号发生器为德科技33512B信号发生器,设置所述信号发生器的延时输出时间为0的方法为:
Trigger设置
首先按“Trigger”按钮,然后按“Source”按钮,选择“Ext”外部触发,然后按“trigger setup”按钮,将Delay延时时间设置为0ms,slope设置为Rising;
Burst设置
按“Burst”按钮,将Output选择为“on”输出,按下“#of cycles”按键,设置为1;
基本设置
设置输出阻抗为高阻(High-Z)、频率为10mHz、幅值10Vpp、Offset为5Vpp、占空比为50%的方波,将Output选择为“on”输出。
在一个具体实施例中,所述S2还包括:
S21:所述待检测的工装输出第一脉冲信号;
S22:所述电压转换电路将第一脉冲信号转换为适合所述信号发生器输入的第一接收信号;
在一个具体实施例中,所述电压转换电路包括:
降压变换单元,用于将第一脉冲信号转换为适合所述信号发生器输入的第一接收信号以及将第二脉冲信号转换为适合所述信号发生器输入的第二接收信号;
升压变换单元,用于将所述第一输出信号转换为适合所述工装输入的第一反馈信号以及将所述第二输出信号转换为适合所述工装输入的第二反馈信号;
在一个具体实施例中,所述电压转换电路如图3所示,所述降压变换单元包括第一电阻器110和第二电阻器120,其中第一电阻器110的第一端接收所述第一脉冲信号,第二电阻器120的第二端接地,第一电阻器110的第二端和第二电阻器120的第一端连接,用于输出所述第一接收信号;
所述升压变换单元包括升压电路130,其中升压电路130的第一端输出所述第一反馈信号,升压电路130的第二端接收所述第一输出信号。
在其他具体实施例中,电压转换电路还可以是专用的电压转换芯片或者是继电器;
在一个具体实施例中,所述工装输出第一脉冲信号的电压为28V,适合所述信号发生器输入的第一接收信号的电压为2V,通过所述电压转换电路的降压变换单元将28V的电压转换为2V的电压以适应信号发生器的输入。
S23:所述信号发生器根据所述第一接收信号输出第一输出信号;
S24:所述电压转换电路将所述第一输出信号转换为适合所述工装输入的第一反馈信号;
在一个具体实施例中,通过所述电压转换电路的升压变换单元将5V的电压转换为28V的电压以适应所述工装的电压;
S25:所述示波器测量所述第一脉冲信号和所述第一反馈信号的时间差,作为所述***固有延时时间t0。
为了测量的***固有延时时间t0更准确,在另一个具体实施例中,所述S2还包括:
重复步骤S21-S25,获得多个***固有延时时间;
对所述多个***固有延时时间求平均值,作为所述***固有延时时间t0。
S3:将所述信号发生器的延时输出时间设置为预设非0值,通过所述示波器获取所述工装的测量延时时间t1;
在一个具体实施例中,所述S3还包括:
S31:所述待检测的工装输出第二脉冲信号;
在一个具体实施例中,第二脉冲信号为上升沿触发脉冲信号,操作步骤如下:按下测量电路板延时时间的工装上的“清零”按钮,然后放开“清零”按钮,再按下“上升沿测试”按钮,测量电路板延时时间的工装输出上升沿触发脉冲信号;
S32:所述电压转换电路将第二脉冲信号转换为适合所述信号发生器输入的第二接收信号;
S33:所述信号发生器根据所述第二接收信号输出第二输出信号;
S34:所述电压转换电路将所述第二输出信号转换为适合所述工装输入的第二反馈信号;
S35:所述示波器测量所述第二脉冲信号和所述第二反馈信号的时间差,作为所述工装的测量延时时间t1。
若工装能够检测的电路板有多种(即对应多种延迟时间),本发明可以对每种电路板(即每种延迟时间)来分别测量工装是否合格。为此,在另一个具体实施例中,所述S3还包括:
改变所述预设非0值,得到k个预设非0值,tk,重复步骤S31-S35,得到多个所述工装的测量延时时间,
其中,1≤k≤N,其中N为所述工装能测量的N种电路板的延时时间,N和k均为自然数,并且其中,tk与所述工装所测量的第k种电路板的延时时间对应。在一些具体实施例中,针对具有延时时间为30ms、200ms和500ms的电路板,信号发生器的延时时间可以预设为30ms、200ms或者500ms等数值。
在另一个具体实施例中,所述方法还包括:
判断第k种电路板是上升沿触发电路板还是下降沿触发电路板;
基于判断结果确定第一脉冲信号和第二脉冲信号为上升沿触发脉冲信号或者是下降沿触发脉冲信号。
在一个具体实施例中,仍以所述信号发生器为德科技33512B信号发生器为例,设定所述信号发生器的延时时间为30ms,所述工装输出的第二脉冲信号为上升沿触发脉冲信号,预设信号发生器的延时时间方法如下:
Trigger设置
首先按“Trigger”按钮,然后按“Source”按钮,选择“Ext”外部触发,然后按“trigger setup”按钮,将Delay延时时间设置为30ms,slope设置为Rising;
Burst设置
按“Burst”按钮,将Output选择为“on”输出,按下“#of cycles”按键,设置为1;
基本设置
设置输出阻抗为高阻(High-Z)、频率为10mHz、幅值10Vpp、Offset为5Vpp、占空比为50%的方波,将Output选择为“on”输出。
S4:通过所述示波器比较所述测量延时时间和所述***固有延时时间的差t1-t0和所述预设非0值的时间差是否在预设误差范围内,若是,则判定所述工装合格,若否,则判定所述工装不合格。
在一个具体实施例中,所述S4包括:
比较所述tk-t0和所述预设非0值的时间差是否在对应的第k预设误差范围内,若是,则判定所述工装测量所述第k种电路板的延时时间是合格的,若否,则判定所述工装测量所述第k种电路板的延时时间是不合格的。
本发明还提供一种检测用于测量电路板延时时间的工装是否合格的***,包括:与所述待检测的工装电连接的电压转换电路、信号发生器以及示波器,
其中,
所述信号发生器的延时输出时间设置为0,通过所述示波器获取所述工装的***固有延时时间t0;
所述信号发生器的延时输出时间设置为预设非0值,通过所述示波器获取所述工装的测量延时时间t1;
所述示波器比较所述测量延时时间和所述***固有延时时间的差t1-t0和所述预设非0值的时间差是否在预设误差范围内,若是,则判定所述工装合格,若否,则判定所述工装不合格。
显然,本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例,而并非是对本发明的实施方式的限定,对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动,这里无法对所有的实施方式予以穷举,凡是属于本发明的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之列。
Claims (9)
1.一种检测用于测量电路板延时时间的工装是否合格的方法,其特征在于,所述方法包括:
S1:将待检测的工装与示波器电连接,并且通过电压转换电路与信号发生器电连接,构成测量***;
S2:将所述信号发生器的延时输出时间设置为0,通过所述示波器获取所述工装的***固有延时时间t0;
所述S2包括:
S21:所述待检测的工装输出第一脉冲信号;
S22:所述电压转换电路将第一脉冲信号转换为适合所述信号发生器输入的第一接收信号;
S23:所述信号发生器根据所述第一接收信号输出第一输出信号;
S24:所述电压转换电路将所述第一输出信号转换为适合所述工装输入的第一反馈信号;
S25:所述示波器测量所述第一脉冲信号和所述第一反馈信号的时间差,作为所述***固有延时时间t0;
S3:将所述信号发生器的延时输出时间设置为预设非0值,通过所述示波器获取所述工装的测量延时时间t1;
S4:通过所述示波器比较所述测量延时时间和所述***固有延时时间的差t1-t0和所述预设非0值的时间差是否在预设误差范围内,若是,则判定所述工装合格,若否,则判定所述工装不合格。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述S2还包括重复步骤S21-S25,获得多个***固有延时时间;
对所述多个***固有延时时间求平均值,作为所述***固有延时时间t0。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述S3包括:
S31:所述待检测的工装输出第二脉冲信号;
S32:所述电压转换电路将第二脉冲信号转换为适合所述信号发生器输入的第二接收信号;
S33:所述信号发生器根据所述第二接收信号输出第二输出信号;
S34:所述电压转换电路将所述第二输出信号转换为适合所述工装输入的第二反馈信号;
S35:所述示波器测量所述第二脉冲信号和所述第二反馈信号的时间差,作为所述工装的测量延时时间t1。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述S3还包括:
改变所述预设非0值,得到k个预设非0值,tk,重复步骤S31-S35,得到多个所述工装的测量延时时间,
其中,1≤k≤N,其中N为所述工装能测量的N种电路板的延时时间,N和k均为自然数,并且其中,tk与所述工装所测量的第k种电路板的延时时间对应。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述S4包括:
比较所述tk-t0和所述预设非0值的时间差是否在对应的第k预设误差范围内,若是,则判定所述工装测量所述第k种电路板的延时时间是合格的,若否,则判定所述工装测量所述第k种电路板的延时时间是不合格的。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
判断第k种电路板是上升沿触发电路板还是下降沿触发电路板;
基于判断结果确定第一脉冲信号和第二脉冲信号为上升沿触发脉冲信号或者是下降沿触发脉冲信号。
7.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述电压转换电路包括:
降压变换单元,用于将第一脉冲信号转换为适合所述信号发生器输入的第一接收信号以及将第二脉冲信号转换为适合所述信号发生器输入的第二接收信号;
升压变换单元,用于将所述第一输出信号转换为适合所述工装输入的第一反馈信号以及将所述第二输出信号转换为适合所述工装输入的第二反馈信号。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,
所述降压变换单元包括第一电阻器和第二电阻器,其中第一电阻器的第一端接收所述第一脉冲信号和第二脉冲信号,第二电阻器的第二端接地,第一电阻器的第二端和第二电阻器的第一端连接,用于输出所述第一接收信号和第二接收信号;
所述升压变换单元包括升压电路,其中升压电路的第一端输出所述第一反馈信号和第二反馈信号,升压电路的第二端接收所述第一输出信号和第二输出信号。
9.一种检测用于测量电路板延时时间的工装是否合格的***,其特征在于,包括:与待检测的工装电连接的电压转换电路、信号发生器以及示波器,
其中,
所述信号发生器的延时输出时间设置为0,通过所述示波器获取所述工装的***固有延时时间t0;
所述信号发生器的延时输出时间设置为0,通过所述示波器获取所述工装的***固有延时时间t0包括:
所述待检测的工装输出第一脉冲信号;
所述电压转换电路将第一脉冲信号转换为适合所述信号发生器输入的第一接收信号;
所述信号发生器根据所述第一接收信号输出第一输出信号;
所述电压转换电路将所述第一输出信号转换为适合所述工装输入的第一反馈信号;
所述示波器测量所述第一脉冲信号和所述第一反馈信号的时间差,作为所述***固有延时时间t0;
所述信号发生器的延时输出时间设置为预设非0值,通过所述示波器获取所述工装的测量延时时间t1;
所述示波器比较所述测量延时时间和所述***固有延时时间的差t1-t0和所述预设非0值的时间差是否在预设误差范围内,若是,则判定所述工装合格,若否,则判定所述工装不合格。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN113917309A CN113917309A (zh) | 2022-01-11 |
CN113917309B true CN113917309B (zh) | 2024-05-24 |
Family
ID=79233195
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202110975731.8A Active CN113917309B (zh) | 2021-08-24 | 2021-08-24 | 检测测量电路板延时时间的工装是否合格的方法及*** |
Country Status (1)
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CN (1) | CN113917309B (zh) |
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---|---|
CN113917309A (zh) | 2022-01-11 |
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PB01 | Publication | ||
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GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |