CN113874717A - 检查装置、包装体制造装置及包装体制造方法 - Google Patents

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Abstract

提供一种可进行更高精度检查的检查装置等。依据X射线穿透图像算出表示利用X射线照射装置的X射线的照射输出的照射输出检测值，并以照射输出检测值成为既定值的方式控制利用X射线照射装置的照射输出。照射输出检测值依据X射线穿透图像中位于将照射源与X射线线传感器以最短距离连接的路径上的收容区域2x中除了片剂区域5x以外的区域及/或凸缘部区域9x的亮度所算出。因此，依据X射线穿透图像中最容易变亮的区域的亮度算出照射输出检测值，以此最容易变亮的区域的照射输出检测值成为既定值的方式，即以此最容易变亮的区域充分成为高亮度的方式控制X射线照射装置。因此，将利用X射线线传感器的检测输出的范围更扩大，能进行更高精度的检查。

Description

检查装置、包装体制造装置及包装体制造方法
技术领域
本发明有关一种在检查收容有片剂等的内容物的包装体时所用的装置及方法。
背景技术
在已知的医药品、食品等的领域中，作为包装片剂等的包装薄片，广泛利用PTP(press through package，泡罩包装)薄片。
PTP薄片具备形成有收容内容物的袋部的容器膜及以对其容器膜密封袋部的开口侧的方式安装的盖膜，且构成为根据将袋部从外侧按压，再由其所收容的内容物扎破作为盖的盖膜，可取出该内容物。
这样的PTP薄片经过对带状的容器膜形成袋部的袋部形成工序、于该袋部充填片剂等的内容物的充填工序、对以密封该袋部的开口侧的方式对容器膜安装带状的盖膜以制造PTP薄膜的安装工序、及从该PTP薄膜切离成为最终制品的PTP薄片的切离工序等所制造。
一般而言，于制造PTP薄片时，进行以PTP薄膜或PTP薄片(以下，将这些总称为“包装体”)为对象的检查。检查包含有和片剂的异常(例如于袋部内片剂的有无、裂纹、破损等)有关的检查或和袋部内的收容空间或在袋部周围的凸缘部有无异物(例如金属片或片剂的破片等)有关的检查等。
近年来，从谋求遮旋光性或防湿性的提升等这类的观点，容器膜及盖膜两薄膜根据以铝等为基材的不透明材料所形成的情况变多。
这样的情况，上述各种检查使用X射线检查装置等来进行。一般而言，X射线检查装置具备对包装体照射X射线的X射线产生器 (X射线源)、及检测穿透该包装体的X射线的X射线检测器。X射线检查装置取得具有和对应于X射线的穿透量的亮度有关的浓淡的 X射线穿透图像，依据该X射线穿透图像进行各种检查(例如，参照专利文献1等)。此外，X射线穿透图像的亮度对应于利用X射线检测器的检测输出(例如闪烁体的光输出)而增减。
又，为了防止伴随X射线产生器或X射线检测器的劣化，在利用X射线检测器的检测输出下降的状况，已知一种在控制成X射线产生器的照射输出成为既定输出的情况，利用X射线检测器的检测输出降低时，以增大照射输出的方式控制X射线产生器的技术(例如，参照专利文献2等)。关于此技术，一边使用图17及图18一边作说明。图17简洁地表示X射线产生器中的管电流及照射输出的关系图形，以实线表示X射线产生器没那么劣化时的该关系，以虚线表示X射线产生器已劣化时的该关系。图18简洁地表示利用X 射线检测器的检测输出(X射线穿透图像的亮度)及照射输出的关系图形。
关于图17、18的例子，在X射线产生器没那么劣化的情况且X 射线产生器(X射线管)流通既定值的管电流，X射线产生器的照射输出为Lt的情况，X射线检测器中的检测输出还是成为Slt。因此，利用X射线检测器的检测输出的范围成为从输出Slt迄至最低检测输出Smin为止的范围。然而，在X射线产生器发生劣化的情况，即便流通于X射线产生器的管电流相同，X射线产生器的照射输出也会下降到Lt′，其结果，X射线检测器中的检测输出成为Slt′。因此，利用X射线检测器的检测输出的范围窄成从输出Slt′迄至最低检测输出Smin为止的范围。上述技术也就是在这样检测输出的范围变窄的情况，例如，根据管电流增加Δi程度使照射输出返回Lt以抑制检测输出范围的窄小化。
[已有技术文献]
[专利文献]
[专利文献1]日本特开2013-253832号公报
[专利文献2]日本特开2018-28514号公报
发明内容
[发明要解决的课题]
如图19所示，利用X射线检测器的检测输出的最大范围(以下，称为“可计测的灰度范围”)，从最高检测输出Smax迄至最低检测输出Smin为止的范围。另一方面，关于依据穿透包装体的X射线的利用X射线检测器的检测输出的范围(以下，称为“有效灰度范围”)，从利用穿透袋部(收容空间)的X射线的检测输出Sp或利用穿透凸缘部的X射线的检测输出Sf迄至最低检测输出Smin为止的范围。那是因为X射线最容易穿透包装体中仅存在有袋部或凸缘部的部分的缘故。而且，此有效灰度范围内包含有利用穿透片剂的X 射线的检测输出Sta、利用穿透片剂的粉或破片的X射线的检测输出Stb及利用穿透金属片等的异物的X射线的检测输出So等，包装体的检查利用因这些检测输出的差异所致的X射线穿透图像中的亮度差来进行。
然而，就上述专利文献2所载的技术而言，于检查对象的检查前等且在X射线产生器与X射线检测器间未夹设有检查对象的状态下进行上述的控制。因此，当将该技术利用于包装体的检查时，按包装体存在的程度，导致利用X射线检测器的实际的检测输出降很低，会有检测输出Sp、检测输出Sf变相当低的危险。因此，相对于可计测的灰度范围，有效灰度范围变非常窄，X射线检测器的能力变得无法充分活用，结果，检测输出的灰度乃至X射线穿透图像中的亮度灰度的分辨率降低，有无法进行高精度检查的危险。
此外，上述课题不仅PTP包装，在SP(strip package，窄条包装) 包装等包装片剂等的内容物的其他包装领域中也可能发生。又，不限于X射线，在使用兆赫电磁波等穿透包装体的其他电磁波的情况也可能发生。
本发明有鉴于上述情况而作出，其目的在于，提供一种可进行更高精度的检查的检查装置、包装体制造装置及包装体制造方法。
[用以解决课题的方案]
以下，针对适合于解决上述目的的各方案，分项作说明。此外，视需要在对应的方案附记特有的作用效果。
方案1.一种检查装置，用以检查包装体，该包装体安装有由不透明材料所构成的第1薄膜及由不透明材料所构成的第2薄膜，并在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有内容物，该检查装置具有：
电磁波照射机构，具有对前述包装体照射可从前述第1薄膜侧穿透前述包装体的电磁波的照射源而成；
拍摄机构，具有以夹设前述包装体和前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧并可检测穿透前述包装体的电磁波的检测部，依据来自于利用穿透前述包装体的电磁波的该检测部的检测输出，取得具有关于亮度的浓淡的电磁波穿透图像；
图像处理机构，依据根据前述拍摄机构所取得的电磁波穿透图像，可执行关于前述包装体的检查；
照射输出检测机构，依据前述电磁波穿透图像，算出表示利用前述电磁波照射机构的电磁波的照射输出的照射输出检测值；及
输出控制机构，以前述照射输出检测值成为既定值的方式控制利用前述电磁波照射机构的电磁波的照射输出，
且构成为：前述照射输出检测机构依据下述区域中至少一者的亮度，算出前述照射输出检测值，该区域分别为：前述电磁波穿透图像中位于将前述照射源和前述检测部以最短距离连接的路径上且对应前述收容空间的收容区域中的除了和前述内容物对应的内容物区域以外的区域；及对应前述收容空间周围的凸缘部的凸缘部区域。
此外，在以下的方案也相同，上述“包装体”包含有：成为制品的薄片状包装体(例如“PTP薄片”或“SP薄片”等的包装薄片) 或该薄片状包装体被切离前的带状包装体(例如“PTP薄膜”或“SP 薄膜”等的包装薄膜)。再者，作为电磁波，可举出X射线或兆赫电磁波。
又，作为“照射输出检测值”，例如，可举出在电磁波穿透图像中的亮度的平均值或中心值、重心值等。再者，“凸缘部”包含有位于带状包装体中的收容空间的周围且在获得最终的制品时要被废弃的部分(废料部)。
依据上述方案1，以依据电磁波穿透图像所算出的照射输出检测值成为既定值的方式控制利用电磁波照射机构的电磁波的照射输出。又，照射输出检测值依据电磁波穿透图像中位于将照射源与检测部以最短距离连接的路径上的收容区域中除了内容物区域以外的区域及凸缘部区域中至少一者的亮度而被算出。
此处，在考虑因检测部及照射源间的距离的影响所致电磁波的衰减时，在检测部的检测输出方面，依据通过将检测部及照射源以最短距离连接的路径的电磁波的情况成为最高的输出。因此，电磁波穿透图像中位于将检测部及照射源以最短距离连接的路径上的区域，容易成为比其他区域还亮(容易成为亮度高的情况)。又，在考虑到因包装体的影响所致的电磁波的衰减时，在检测部的检测输出方面，依据不穿透内容物而仅穿透形成收容空间的部分的电磁波、或依据仅穿透凸缘部的电磁波的情况成为最高的输出。因此，电磁波穿透图像中的收容区域中的除了内容物区域以外的区域或凸缘部区域，容易成为比电磁波穿透图像中的其他区域还亮(容易成为亮度高的情况)。
因此，依据上述方案1，照射输出检测值依据电磁波穿透图像中最容易变亮的区域的亮度而算出。然后，以此最容易变亮的区域的照射输出检测值成为既定值，也即此最容易变亮的区域充分成为高亮度的方式控制电磁波照射机构。因此，可于利用检测部的检测输出的范围(有效灰度范围)中将其最高值设得够高，可相对于利用检测部的检测输出的最大范围(可计测的灰度范围)将有效灰度范围设得更宽。据此，可提升检测输出的灰度乃至电磁波穿透图像中的亮度灰度的分辨率，能进行更高精度的检查。
此外，包装体中的形成收容空间的部位多有为了形成收容空间而薄薄地延伸的情况。因此，在电磁波穿透图像中，收容区域中除了内容物区域以外的区域，容易成为比凸缘部区域还亮的情况。因此，就更适当地设定有效灰度范围这点而言，以构成为依据收容区域中除了内容物区域以外的区域的亮度，算出照射输出检测值的情况较佳。
另一方面，凸缘部区域，通常比收容区域中除了内容物区域以外的区域还宽广地存在着。因此，就提升照射输出检测值的算出的容易性这点而言，以构成为依据凸缘部区域的亮度来算出照射输出检测值的情况较佳。
此外，既定值以接近于依据具有电磁波穿透图像中可表现的最高亮度(可输出的检测输出中的最高的输出从检测部输出时的亮度。例如在图19的例子中，最高检测输出Smax被输出时的亮度)的区域所算出的照射输出检测值的值较佳。然后，结果是，以电磁波穿透图像中最容易变亮的区域(照射输出检测值的算出所使用的区域)的亮度成为接近于电磁波穿透图像中可表现的最高亮度的亮度(例如，最高亮度的80～90％程度的亮度)的方式控制利用电磁波照射机构的电磁波的照射输出的情况较佳。
又，如后述的方案3，在第1、第2薄膜中至少一者是以金属制薄膜等所构成，并且具备用以形成收容空间的袋部的情况，较佳为将“收容区域中除了内容物区域以外的区域”设为“收容区域中除了内容物区域及和袋部的外缘对应的区域以外的区域”。原因在于：在袋部的外缘(对应侧壁部的部位)容易遮蔽电磁波，故就获得更合适的照射输出检测值这点而言，不利用对应该外缘的区域的亮度的情况较佳。
方案2.如方案1的检查装置，其中构成为，前述照射输出检测机构依据：前述电磁波穿透图像中除了和设置在前述包装体的切离用的切离部对应的切离区域、及和附设于前述包装体的刻印对应的刻印区域以外的区域的亮度，算出前述照射输出检测值。
在穿透切离部(例如，针孔线或狭缝等)或刻印时，会有电磁波受这些所影响的危险。因此，当依据切离区域或刻印区域的亮度算出照射输出检测值时，会有照射输出检测值变不合适的危险。
关于这点，依据上述方案2，依据除了切离区域及刻印区域以外的区域的亮度，算出照射输出检测值。因此，可在不受切离部或刻印的影响下算出更合适的照射输出检测值。其结果，能更稳定地进行更高精度的检查。
方案3.如方案1或2的检查装置，其中前述第1薄膜及前述第2薄膜中至少一者具有内部空间形成前述收容空间的袋部，并由金属制薄膜或具有金属层的薄膜所构成，
具有区域特定机构，该区域特定机构特定前述电磁波穿透图像中的前述内容物区域，并将位于已特定的前述内容物区域的周围的环状的暗影特定为前述收容空间的轮廓，将该轮廓的内侧特定为前述收容区域，
且构成为：前述照射输出检测机构依据前述电磁波穿透图像中除了根据前述区域特定机构所特定的前述收容区域中的根据该区域特定机构所特定的前述内容物区域以外的区域的亮度，算出前述照射输出检测值。
在第1薄膜及第2薄膜中的至少一者具有袋部，并且以金属制薄膜或具有金属层的薄膜所形成的情况，电磁波穿透图像中，位于内容物的周围且和袋部(收容空间)的外缘对应的环状部位成为被显示为比周围还暗的暗影。
利用这点，依据上述方案3，位于所特定的内容物区域的周围的环状的暗影被特定为收容空间的轮廓，该轮廓的内侧被特定为收容区域。因此，可更正确且较简易地特定收容区域的位置。其结果，可算出更合适的照射输出检测值。
方案4.如方案1至3中任一方案的检查装置，其中具有异物特定机构，该异物特定机构特定前述电磁波穿透图像中和异物对应的异物区域，且构成为：前述照射输出检测机构依据前述电磁波穿透图像中除了前述异物区域以外的区域的亮度，算出前述照射输出检测值。
依据上述方案4，依据除了异物区域(例如，被认为具有金属片、片剂的破片或粉、毛发等的线状异物等的区域)以外的区域的亮度，算出照射输出检测值。因此，可在不受异物的影响下算出更合适的照射输出检测值。其结果，能更加稳定地进行更高精度的检查。
方案5.一种包装体制造装置，其特征为具备如方案1至4中任一方案的检查装置。
依据上述方案5，可获得和上述方案1等同样的作用效果。
方案6.一种包装体制造方法，为获得包装体时所用的包装体制造方法，该包装体安装有由不透明材料所构成的带状的第1薄膜及由不透明材料所构成的带状的第2薄膜，并在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有内容物，其特征为，具备：
安装工序，安装所搬送的带状的前述第1薄膜及所搬送的带状的前述第2薄膜；
充填工序，在前述第1薄膜与前述第2薄膜间所形成的前述收容空间内充填内容物；
检查工序，执行经前述安装工序及前述充填工序所获得的前述包装体的检查，
前述检查工序包含：
照射工序，根据既定的电磁波照射机构所具有的照射源，对前述包装体照射可从前述第1薄膜侧穿透前述包装体的电磁波；
拍摄工序，使用具有检测部而构成的拍摄机构，依据来自于利用穿透前述包装体的电磁波的该检测部的检测输出，取得具有关于亮度的浓淡的电磁波穿透图像，该检测部以夹设前述包装体和前述电磁波照射机构而对向的方式配置在前述第2薄膜侧并可检测穿透前述包装体的电磁波；
是否合格判定工序，依据利用前述拍摄工序所取得的电磁波穿透图像，进行有关前述包装体的是否合格判定；
照射输出检测工序，依据前述电磁波穿透图像，算出表示利用前述电磁波照射机构的电磁波的照射输出的照射输出检测值；
输出控制工序，以前述照射输出检测值成为既定值的方式控制利用前述电磁波照射机构的电磁波的照射输出，
前述照射输出检测工序中，依据下述区域中至少一者的亮度，算出前述照射输出检测值，该区域分别为：前述电磁波穿透图像中位于将前述照射源与前述检测部以最短距离连接的路径上且对应前述收容空间的收容区域中的除了和前述内容物对应的内容物区域以外的区域；及对应前述收容空间周围的凸缘部的凸缘部区域。
依据上述方案6，可获得和上述方案1同样的作用效果。
附图说明
图1为PTP薄片的立体图。
图2为PTP薄片的部分放大剖面图。
图3为表示PTP薄膜及检查区域等的示意图。
图4为表示PTP薄膜及刻印区域等的示意图。
图5为PTP包装机的大致构成图。
图6为表示X射线检查装置的电气构成的方块图。
图7为表示X射线检查装置的大致构成的示意图。
图8为表示制造工序的流程图。
图9为表示区域特定工序的流程图。
图10为表示是否合格判定工序的流程图。
图11为表示照射输出检测工序的流程图。
图12为表示X射线穿透图像中的检测对象区域等的示意图。
图13为表示别的实施形态中的X射线穿透图像中的检测对象区域等的示意图。
图14为表示SP薄片的平面图。
图15为用以表示别的实施形态中的X射线检查装置的配置位置的图。
图16为表示别的实施形态中的X射线穿透图像中的针孔线区域等的示意图。
图17为简洁地表示X射线产生器中的管电流及照射输出的关系的图形。
图18为简洁地表示利用X射线检测器的检测输出及照射输出的关系的图形。
图19为用以说明可计测的灰度范围及有效灰度范围等的图。
具体实施方式
以下，针对一实施形态一边参照附图一边作说明。首先针对作为包装薄片(薄片状包装体)的PTP薄片1作说明。
如图1、2所示，PTP薄片1具有具备多个袋部2的容器膜3及以塞住袋部2的方式安装于容器膜3的盖膜4。本实施形态中，成为在PTP薄片1的位于袋部2(后述的收容空间2a)周围的薄片凸缘部1b中对容器膜3安装有盖膜4的状态。此外，本实施形态中，“容器膜3”构成“第1薄膜”，“盖膜4”构成“第2薄膜”。
本实施形态中的容器膜3及盖膜4根据以铝为基材(主材料)的不透明材料所构成。例如容器膜3根据铝积层薄膜(对铝薄膜积层合成树脂薄膜的情况)所形成。另一方面，盖膜4根据铝薄膜所形成。
PTP薄片1形成俯视呈大致矩形，其四角为圆弧状带有圆角的形状。在PTP薄片1，由沿薄片短边方向排列的2个袋部2所构成的袋部列在薄片长边方向形成5列。也即，形成有共10个袋部2。在各袋部2的内部空间、即收容空间2a收容有一个一个作为“内容物”的片剂5。
又，在PTP薄片1沿着薄片短边方向形成多个条作为“切离部”的针孔线7，其用以能以含有既定数(本实施形态中为2个)的袋部2 的薄小片6为单位作切离。
再加上，于PTP薄片1，在薄片长边方向一端部，附设形成有用以表示片剂名称、批号等的各种信息(本实施形态中为“ABC”的文字)的刻印8a的标签部8。标签部8未被设置袋部2且在与由5 个薄小片6所成的薄片本体部1a间根据1条针孔线7隔开。
本实施形态的PTP薄片1，经过从作为“带状包装体”的带状的PTP薄膜9(参照图3、4)，将成为最终制品的PTP薄片1冲切成矩形薄片状的工序等所制造，该“带状包装体”以安装带状的容器膜3与带状的盖膜4而成。
如图3及图4所示，本实施形态的PTP薄膜9为，在该PTP薄膜9的搬送方向(PTP薄膜9的长边方向)排有1列PTP薄片1的冲切范围Ka(以下，仅称为“薄片冲切范围Ka”)的配置。图3表示安装容器膜3与盖膜4之后不久的PTP薄膜9。图4表示根据后述的针孔线形成装置33及刻印装置34形成有针孔线7及刻印8a而成的 PTP薄膜9。
又，在PTP薄膜9的宽度方向两端部，存在有以包夹薄片冲切范围Ka的方式沿着PTP薄膜9的搬送方向呈带状延伸的2条侧部废料9a。本实施形态中，根据PTP薄膜9中的和前述薄片凸缘部 1b对应的部分及侧部废料9a来构成PTP薄膜9的袋部2(收容空间 2a)周围的凸缘部9b。
其次，针对制造上述PTP薄片1的PTP包装机10的大致构成，参照图5作说明。本实施形态中，“PTP包装机10”构成“包装体制造装置”。
如图5所示，在PTP包装机10的最上游侧，带状的容器膜3 的料卷被卷成辊状。卷成辊状的容器膜3的引出端侧被导辊13导引。容器膜3于导辊13的下游侧被挂装于间歇进给辊14。间歇进给辊 14连结于间歇地旋转的马达，将容器膜3间歇地搬送。
在导辊13与间歇进给辊14间，沿着容器膜3的搬送路径，配设有作为袋部形成机构的袋部形成装置16。据此袋部形成装置16，利用冷加工在容器膜3的既定的位置一次形成多个袋部2。袋部2 的形成在根据间歇进给辊14进行搬送容器膜3的动作期间的区间(interval)中进行。
其中，本实施形态的PTP包装机10构成为容器膜3不仅为利用铝制来制造，也可利用例如PP(聚丙烯)、PVC(聚氯乙烯)等的较硬质且具既定刚性的热塑性树脂材料来制造的包装机(兼用机)。因此，于袋部形成装置16的上游侧，具备用以加热容器膜3并使的成为柔软状态的加热装置15。当然，在形成铝制的容器膜3的情况不使用加热装置15。
从间歇进给辊14送出的容器膜3按张紧辊18、导辊19及薄膜承接辊20的顺序挂装。由于薄膜承接辊20连结于固定旋转的马达，故将容器膜3连续地且以固定速度搬送。张紧辊18设成根据弹力将容器膜3拉往张紧的侧的状态，防止因前述间歇进给辊14与薄膜承接辊20的搬送动作的差异所致的容器膜3松弛，并将容器膜3保持成平时张紧状态。
在导辊19与薄膜承接辊20间，沿着容器膜3的搬送路径，配设有作为充填机构的片剂充填装置21。
片剂充填装置21具有将片剂5自动充填于袋部2的机能。片剂充填装置21与利用薄膜承接辊20搬送容器膜3的动作同步地按每既定间隔开启挡板使片剂5落下的情况，伴随此挡板开放动作而将片剂5充填于各袋部2。
另一方面，形成带状的盖膜4的料卷于最上游侧被卷成辊状。卷成辊状的盖膜4的引出端根据导辊22朝加热辊23引导。加热辊 23成为可压接于前述薄膜承接辊20，形成容器膜3及盖膜4被送入两辊20、23间。
然后，根据容器膜3及盖膜4以加热压接状态通过两辊20、23 间，而对容器膜3的袋部2周围的部分黏贴盖膜4，使袋部2被盖膜4塞住。据此，制造片剂5被充填于各袋部2的作为“包装体”的PTP薄膜9。此外，在加热辊23的表面形成有密封用的网目状的微细凸条，根据强压接而实现牢固的密封。
又，构成为：在薄膜承接辊20设有未图标的编码器，该薄膜承接辊20每旋转既定量，也即PTP薄膜9每被搬送既定量，对后述的X射线检查装置45输出既定的时序信号。
从薄膜承接辊20送出的PTP薄膜9按张紧辊27及间歇进给辊 28的顺序挂装。
由于间歇进给辊28连结于作间歇地旋转的马达，故将PTP薄膜9间歇地搬送。张紧辊27被设成根据弹力将PTP薄膜9拉往张紧的侧的状态，防止因前述薄膜承接辊20与间歇进给辊28的搬送动作的差异所致的PTP薄膜9的松弛，并将PTP薄膜9保持成平时张紧状态。
在薄膜承接辊20与张紧辊27间，沿着PTP薄膜9的搬送路径配设有X射线检查装置45。X射线检查装置45用于进行以检测袋部2的异常(例如收容空间2a有无异物等)，检测袋部2以外的凸缘部9b的异常(例如存在于凸缘部9b的异物等)为主要目的的X射线检查。当然，检查项目未受这些所限，也可实施其他检查项目。本实施形态中，“X射线检查装置45”构成“检查装置”。
从间歇进给辊28送出的PTP薄膜9按张紧辊29及间歇进给辊30的顺序挂装。由于间歇进给辊30连结于间歇地旋转的马达，故将PTP薄膜9间歇地搬送。张紧辊29被设成根据弹力将PTP薄膜 25拉往张紧的侧的状态，防止在前述间歇进给辊28、30间的PTP 薄膜25松弛。
在间歇进给辊28与张紧辊29间，沿着PTP薄膜9的搬送路径，依序配设有针孔线形成装置33及刻印装置34。针孔线形成装置33 具有在PTP薄膜9的既定位置形成上述针孔线7的机能。刻印装置 34具有在PTP薄膜9的既定位置(和上述标签部8对应的位置)形成上述刻印8a的机能。此外，PTP薄膜9中形成针孔线7或刻印8a 的部位可成为铝薄膜破裂的状态。
从间歇进给辊30送出的PTP薄膜9于其下游侧按张紧辊35及连续进给辊36的顺序挂装。在间歇进给辊30与张紧辊35间，沿着 PTP薄膜9的搬送路径，配设有薄片冲切装置37。薄片冲切装置37 具有作为将PTP薄膜9以PTP薄片1为单位冲切其外缘的薄片冲切机构(切离机构)的机能。
根据薄片冲切装置37冲切的PTP薄片1，根据输送机39搬送，被暂时储存于完成品用漏斗40。其中在根据上述X射线检查装置 45判定为不良品的情况，其被判定为不良品的PTP薄片1在未朝完成品用漏斗40搬送下，根据未图示的作为排出机构的不良薄片排出机构而被另外排出，移往未图示的不良品漏斗。
于连续进给辊36的下游侧配设有裁断装置41。然后，根据薄片冲切装置37冲切后呈带状残留的侧部废料9a在被前述张紧辊35 及连续进给辊36导引后，引导至裁断装置41。此处，连续进给辊 36被从动辊压接而一边挟持侧部废料9a一边进行搬送动作。
裁断装置41具有将侧部废料9a裁断成既定尺寸的机能。被裁断的侧部废料9a在被储存于废料用漏斗43之后，另外被废弃处理。
此外，上述各辊14、19、20、28、29、30等其等辊表面与袋部 2为对向的位置关系，但因为在间歇进给辊14等的各辊的表面形成有供收容袋部2的凹部，所以没有袋部2崩塌的情况。又，根据袋部2一边收容于间歇进给辊14等的各辊的各凹部一边进行进给动作，而确实地进行间歇进给动作或连续进给动作。
PTP包装机10大致如上所述，以下参照附图就上述X射线检查装置45的构成作详细说明。图6表示X射线检查装置45的电气构成的方块图。图7表示X射线检查装置45的大致构成的示意图。
如图6、7所示，X射线检查装置45具备：对PTP薄膜9照射 X射线的X射线照射装置51；取得被照射该X射线的PTP薄膜9 的X射线穿透图像的X射线线传感器相机52；及控制处理装置53，用以实施在X射线照射装置51、X射线线传感器相机52的驱动控制等X射线检查装置45内的各种控制、图像处理、运算处理等。
本实施形态中的“X射线”是相当于“电磁波”。又，“X射线穿透图像”构成“电磁波穿透图像”，“控制处理装置53”构成“图像处理机构”，“X射线照射装置51”构成“电磁波照射机构”，“X 射线线传感器相机52”构成“拍摄机构”。
此外，X射线照射装置51及X射线线传感器相机52，收容在以可遮蔽X射线的材质所构成的遮蔽盒(未图示)内。遮蔽盒除设有用于使PTP薄膜9通过的狭缝状的开口以外，还成为极力抑制X射线朝外部漏泄的构造。
X射线照射装置51配置在往垂直方向下方搬送的PTP薄膜9 的容器膜3侧。X射线照射装置51在和PTP薄膜9中之后述的检查区域Kb的宽度方向中心部相对的位置，具有照射X射线的照射源51a。照射源51a具有产生X射线的X射线管及用以集中X射线的准直器(分别未图示)，且构成为可将朝PTP薄膜9的宽度方向具有既定的扩展(扇角)的扇束状的X射线，从容器膜3侧对PTP薄膜 9照射。利用X射线照射装置51的X射线的照射角(扇角)，设定成可照射PTP薄膜9中和后述的检查区域Kb对应的范围的角度。此外，也可设成可照射对PTP薄膜9的搬送方向具有既定的扩展的圆锥束状的X射线的构成。
又，被投入X射线照射装置51的前述X射线管的管电流设为根据控制处理装置53(特别是后述的微电脑71)而可增减。伴随着管电流的增减，从X射线照射装置51照射的X射线的照射输出会增减。
X射线线传感器相机52以沿着和PTP薄膜9的搬送方向正交的方向且与X射线照射装置51对向的方式，隔着PTP薄膜9配置在X射线照射装置51的相反侧(本实施形态中为盖膜4侧)。
X射线线传感器相机52具有沿着薄膜宽度方向并排1列可检测穿透PTP薄膜9的X射线的多个X射线检测组件而成的X射线线传感器52a，且构成为可拍摄(曝光)穿透PTP薄膜9的X射线。作为X射线检测组件，可举出例如具有利用闪烁体的光转换层的 CCD(ChargeCoupled Device：电荷耦合器件)等。本实施形态中，“X 射线线传感器52a”构成“检测部”。
X射线线传感器52a输出对应于穿透PTP薄膜9并照射到本身的X射线的强度的检测输出。其中，X射线线传感器52a在照射到本身的X射线的强度是既定的最小基准值以下的情况，输出一定的最低检测输出，而在照射到本身的X射线的强度是既定的最大基准值以上的情况，输出一定的最高检测输出。
此外，X射线线传感器52a中的检测输出的最大范围(以下，称为“可计测的灰度范围”)，成为从最高检测输出至最低检测输出为止的范围，而依据穿透PTP薄膜9的X射线的X射线线传感器52a 的检测输出的范围(以下，称为“有效灰度范围”)，成为从在未最衰减下利用穿透PTP薄膜9的X射线的检测输出迄至最低检测输出为止的范围。
而且，X射线线传感器相机52基于来自X射线线传感器52a 的检测输出，获得具有和亮度有关的浓淡的X射线穿透图像。X射线穿透图像的亮度对应于利用X射线线传感器52a的检测输出而增减，X射线穿透图像中和前述最低检测输出对应的区域(坐标)成为最低亮度，X射线穿透图像中和前述最高检测输出对应的区域(坐标) 成为最高亮度。
再者，根据X射线线传感器相机52取得的X射线穿透图像，在按PTP薄膜9每被搬送既定量而在该相机52内部转换成数字信号(图像信号)后，以数字信号的形式对控制处理装置53(图像数据存储装置74)输出。然后，控制处理装置53将该X射线穿透图像作图像处理等并实施后述的检查。
再者，构成为：在将照射源51a及X射线线传感器52a以最短距离连接的路径L1上，配置有和PTP薄膜9中之后述的检查区域 Kb相对应的部位中的位于该PTP薄膜9的宽度方向中心的部位。据此，在本实施形态中，伴随着PTP薄膜9的搬送，凸缘部9b及收容空间2a交互地通过路径L1。又，在收容空间2a通过路径L1 时，有时该收容空间2a所收容的片剂5会通过该路径L1。
其次，针对控制处理装置53参照图6作说明。控制处理装置 53具备：掌管X射线检查装置45整体的控制的微电脑71；由键盘或鼠标、触摸板等所构成的输入装置(未图示)；具有CRT或液晶等的显示画面的显示装置(未图示)；用以存储各种图像数据等的图像数据存储装置74；用以存储各种运算结果等的运算结果存储装置 75；用以预先存储各种信息的设定数据存储装置76；及用以存储涉及检查的软件的检查程序存储装置77等。此外，这些各装置与微电脑71电连接。
微电脑71具备：作为运算机构的CPU 71a；存储各种程序的 ROM 71b；及暂时存储运算数据或输入/输出数据等的各种数据的 RAM 71c等，且掌管控制处理装置54中的各种控制，并以可和PTP 包装机10进行收发各种信号的方式连接。
于这样的构成下，微电脑71例如驱动控制X射线照射装置51、 X射线线传感器相机52，以执行取得PTP薄膜9的X射线穿透图像的拍摄处理、依据该X射线穿透图像检查PTP薄膜9的既定部位的检查处理、依据该X射线穿透图像调节利用X射线照射装置51的 X射线的照射输出的处理、及将该检查处理的检查结果朝PTP包装机10的不良薄片排出机构等输出的输出处理等。
图像数据存储装置74存储有以根据X射线线传感器相机52所取得的X射线穿透图像为首且经二值化处理的二值化图像等的各种图像资料。
运算结果存储装置75，存储检查结果数据或将该检查结果资料以机率统计的方式处理后的统计数据等。可令这些检查结果数据、统计数据适宜地显示于前述显示装置。
设定数据存储装置76用以存储检查所用的各种信息。作为这些各种信息，设定存储有例如PTP薄片1、袋部2及片剂5的形状及尺寸、用以区划检查区域Kb的薄片框的形状及尺寸、袋框的形状及尺寸、用在二值化处理的亮度阈值、进行是否合格判定时所利用的基准值(例如，用以排除因噪声所致的影响的最小面积值Lo等)，在控制利用X射线照射装置51的X射线的照射输出时所利用的既定值K1等。
本实施形态中，存储有作为亮度阈值的阈值δ1。阈值δ1为了特定片剂5或袋部2的外缘部分、异物(片剂5的破片或粉、金属片等)而使用的亮度阈值。阈值δ1于伴随着投入于X射线照射装置51 的前述X射线管的管电流的增减而使利用X射线照射装置51的照射输出增减时，根据微电脑71对应于新的照射输出而更新。阈值δ1 的更新，依据设定数据存储装置76所预先存储的、表示阈值δ1与管电流的关系数学式或表等所进行。例如当管电流一变更为某值时，依据前述数学式或前述表等，和该值对应的阈值δ1被重新设定而存储在设定数据存储装置76。此外，也可不更新阈值δ1，始终设为一定的值。
又，阈值δ1设定成比X射线穿透图像中和片剂5相当的部分、和呈现在该部分周围的暗影2c(参照图12)及异物相当的部分的各亮度还高，且比X射线穿透图像中和收容空间2a(其中扣除和袋部2 的外缘、片剂5对应的部分)、凸缘部9b相当的部分的亮度(例如，和收容空间2a、凸缘部9b相当的部分的亮度中最低的亮度)还低的值。
再者，本实施形态中，作为检查区域Kb，设定有PTP薄膜9 中对应PTP薄片1的区域中的除了对应标签部8的区域以外的、对应由5个薄小片6所成的薄片本体部1a的区域(参照图3、4)。
检查程序存储装置77存储用以执行检查处理的软件。检查程序存储装置77所存储的软件包含区域特定用软件77a、是否合格判定用软件77b、照射输出检测用软件77c及输出控制用软件77d。
区域特定用软件77a包含：依据存储在设定数据存储装置76的薄片框的形状及尺寸，特定X射线穿透图像中的既定的检查区域(本实施形态中为检查区域Kb)的程序；及使用前述阈值δ1，特定已特定的检查区域Kb中的和收容空间2a对应的收容区域2x、和凸缘部 9b对应的凸缘部区域9x、和片剂5对应的片剂区域5x、和片剂5 的粉或破片、金属片等的异物对应的异物区域100x(分别参照图12) 等的程序。本实施形态中，“片剂区域5x”相当于“内容物区域”。
是否合格判定用软件77b包含用以进行在袋部2或凸缘部9b 中的异物(片剂5的破片或粉等)的检测的程序。
照射输出检测用软件77c包含用以依据X射线穿透图像，算出表示利用X射线照射装置51的X射线的照射输出的照射输出检测值的程序。
输出控制用软件77d包含用于以照射输出检测值成为前述既定值K1的方式控制利用X射线照射装置51的X射线的照射输出的程序。
当根据X射线线传感器相机52取得作为制品的PTP薄片1的至少1张份的X射线穿透图像时，利用微电脑71执行区域特定用软件77a、是否合格判定用软件77b、照射输出检测用软件77c及输出控制用软件77d。
当一执行区域特定用软件77a时，首先，根据对X射线穿透图像设定前述薄片框，以划定X射线穿透图像中的检查区域Kb。又，和该检查区域Kb对应的X射线穿透图像被取得作为薄片浓淡图像 Xb(参照图12)，并且该薄片浓淡图像Xb被存储在图像数据存储装置74。
此外，如图12所示，于X射线穿透图像Xa或薄片浓淡图像 Xb(关于检查区域Kb的浓淡图像)，在收容区域2x中除了片剂区域 5x、前述暗影2c以外的区域与凸缘部区域9x间，虽大致没有明暗差，但前者较容易比后者(凸缘部区域9x)还稍亮。那是因为PTP薄膜9中形成收容空间2a的部位为了形成收容空间2a而薄薄地延伸，比起凸缘部9b还容易让X射线穿透的缘故。
再者，于X射线穿透图像Xa或薄片浓淡图像Xb中，片剂区域 5x成为比凸缘部区域9x等还暗的状态。那是因为X射线依存于片剂5的厚度而衰减的缘故。又，在X射线穿透图像Xa或薄片浓淡图像Xa中，依据异物区域100x中的片剂5的破片或粉者，成为与片剂区域5x大致相同亮度或比其还稍亮的状态。另一方面，依据异物区域100x中金属片等的异物的情况，成为比片剂区域5x还暗的状态。那是因为金属片等的异物比起片剂5还容易遮蔽X射线的缘故。
当一取得薄片浓淡图像Xb时，使用阈值δ1，对该薄片浓淡图像Xa施以二值化处理。例如以前述阈值δ1以上为“1(明部)”、小于前述阈值δ1为“0(暗部)”，将薄片浓淡图像Xb转换成二值化图像，并将此二值化图像存储在图像数据存储装置74。本实施形态中，就二值化图像而言，和片剂5、暗影2c或异物相当的部分被表示为“0(暗部)”。
其次，对上述二值化图像执行块处理。就块处理而言，进行针对二值化图像的“0(暗部)”及“1(明部)”分别特定连结成分的处理，及针对各个的连接成分进行赋予标记的标记赋予处理。此处，分别特定的各连结成分的占有面积以与X射线线传感器相机52的像素对应的点数表示。
然后，从根据块处理所特定的“0(暗部)”的连结成分的中，特定和片剂5相当的连结成分也就是片剂区域5x。和片剂5相当的连结成分可根据判断含有既定的坐标的连结成分、属既定的形状的连结成分、或为既定的面积处的连结成分等来特定。
接着，从根据块处理所特定的“0(暗部)”的连结成分的中，特定位于和片剂5相当的连结成分的周围且相当于袋部2的外缘的环状的暗影2c。暗影2c的特定例如可根据对和片剂5相当的连结成分，判断处于既定的位置关系连接成分等来特定。且所特定的暗影 2c的最外周部被特定为收容空间2a的轮廓。
其次，对应检查区域Kb的X射线穿透图像(薄片浓淡图像Xa) 中的收容空间2a的轮廓内侧被特定为收容区域2x。又，在和检查区域Kb对应的X射线穿透图像(薄片浓淡图像Xa)中的收容区域2x 以外的区域被特定为凸缘部区域9x。
再者，从根据块处理所特定的“0(暗部)”的连结成分中扣除片剂区域5x及暗影2c后的连结成分被特定为异物区域100x。
本实施形态中，根据“微电脑71”、“设定数据存储装置76”及存储区域特定用软件77a的“检查程序存储装置77”来构成作为“区域特定机构”及“异物特定机构”的“区域特定部78”(参照图6)。
此外，本实施形态中，作为用以特定各区域的阈值，虽仅使用阈值δ1，但也可使用多个种类的阈值。本实施形态中，如后述那样，由于可将X射线穿透图像设为具有多级的亮度灰度，故根据使用多个种类的阈值可更正确地特定各区域。又，也可对应于后述的照射输出检测值，使要利用的多个种类的阈值分别变更。
继区域特定用软件77a之后，执行是否合格判定用软件77b。当是否合格判定用软件77b被执行时，于收容区域2x中，面积值成为前述最小面积值Lo以上的异物区域100x被抽出(考虑噪声的影响，忽略小于Lo的异物区域100x)。且在存在有Lo以上的异物区域100x的情况，判定片剂5的破片或粉、金属片等的异物存在于袋部2。另一方面，在不存在有Lo以上的异物区域100x的情况，在袋部2未存在有异物，片剂5被判定为良品。此外，是否存在异物的判定以各收容区域2x的每一者为对象来进行。
再者，于凸缘部区域9x中，面积值成为前述最小面积值Lo以上的异物区域100x被抽出(忽略小于Lo的异物区域100x)。且，在存在有Lo以上的异物区域100x的情况，判定片剂5的破片或粉、金属片等的异物存在于凸缘部9b，另一方面，在未存在有Lo以上的异物区域100x的情况，判定在凸缘部9b不存在异物。
又，对应于片剂5、凸缘部9b的是否合格判定，判定和检查区域Kb对应的PTP薄片1的是否合格，其是否合格判定结果被存储于运算结果存储装置75并对PTP包装机10(包含不良薄片排出机构) 输出。
再者，继区域特定用软件77a之后，执行照射输出检测用软件 77c。照射输出检测用软件77c的执行，在是否合格判定用软件77b 的执行前或之后，抑或也可为和是否合格判定用软件77b的执行同时期。
当一执行照射输出检测用软件77c后，特定出薄片浓淡图像Xa 中的和通过PTP薄膜9的前述路径L1的部分相对应的区域。也即，特定位于X射线穿透图像中的路径L1上的区域。此区域特定，例如可根据抽出X射线穿透图像的默认的范围来进行。此外，“X射线穿透图像中位于路径L1上的区域”，也可为位于路径L1上的直线的区域(一维的区域)，也可为含有和该直线的区域邻接的区域且具有某程度的宽度的平面的区域(二维的区域)。
接着，特定出已特定的区域所含有的收容区域2x，并从该收容区域2x特定除了片剂区域5x、暗影2c及异物区域100x以外的区域。也即，在X射线穿透图像中，特定位于路径L1上的收容区域 2x中的除了片剂区域5x、暗影2c及异物区域100x以外的区域(以下，称为“检测对象区域Ta”)(参照图12)。
之后，依据检测对象区域Ta中的亮度，算出表示X射线的照射输出的照射输出检测值。本实施形态中，作为照射输出检测值，算出和检测对象区域Ta对应的各像素的亮度平均值。此外，作为照射输出检测值，也可算出和检测对象区域Ta对应的各像素的亮度的中央值或重心值等。
本实施形态中，根据“微电脑71”及存储照射输出检测用软件 77c的“检查程序存储装置77”来构成作为“照射输出检测机构”的“照射输出检测部79”(参照图6)。
再者，当一算出照射输出检测值时，执行输出控制用软件77d。一执行输出控制用软件77d时，依据所算出的照射输出检测值，以执行下回的照射输出检测用软件77c时所算出的照射输出检测值成为前述既定值K1的方式调节被投入X射线照射装置51(X射线管) 的管电流，控制利用X射线照射装置51的X射线的照射输出。本实施形态中，以X射线穿透图像中最容易变亮的区域(也即检测对象区域Ta)的亮度成为接近X射线穿透图像中可表现的最高亮度的亮度(例如，最高亮度的80～90％程度的亮度)的方式，控制利用X射线照射装置51的X射线的照射输出。此外，要投入于X射线照射装置51的管电流，例如，可依据设定数据存储装置76所预先存储的、表示照射输出检测值及既定值K1的差与为了将检测对象区域 Ta设成像上述那样的亮度所需的管电流的增减值的关系数学式或表等来算出。
本实施形态中，根据“微电脑71”、存储既定值K1的“设定数据存储装置76”及存储输出控制用软件77d的“检查程序存储装置 77”来构成作为“输出控制机构”的“输出控制部80”(参照图6)。
其次就包含有根据X射线检查装置45进行的检查工序的PTP 薄片1的制造工序作说明。
如图8所示，首先，于步骤S1的袋部形成工序中，利用袋部形成装置16对容器膜3依序形成袋部2。接着，于步骤S2的充填工序中，利用片剂充填装置21朝袋部2的收容空间2a充填片剂5。
继充填工序之后，进行步骤S3的安装工序。在安装工序中，根据对前述两辊20、23间送入所搬送的容器膜3及盖膜4，使得盖膜 4被安装于容器膜3而可获得PTP薄膜9。
之后，在有关X射线检查装置45的工序方面，进行步骤S4的检查工序。检查工序包含步骤S41的照射工序、步骤S42的拍摄工序、步骤S43的区域特定工序、步骤S44的是否合格判定工序、步骤S46的照射输出检测工序及步骤S47的输出控制工序。
在步骤S41的照射工序中，根据利用微电脑71驱动控制X射线照射装置51及X射线线传感器相机52而对PTP薄膜9照射X射线。此时，利用X射线照射装置51的X射线的照射输出，依据上次的检查工序中在步骤S5的照射输出检测工序算出的照射输出检测值而被控制。其结果，以这次的步骤S5的照射输出检测工序所算出的照射输出检测值成为既定值K1的方式，控制利用X射线照射装置51的X射线的照射输出。
然后，在步骤S42的拍摄工序中，按PTP薄膜9每被搬送既定量(本实施形态中，前述时序信号被输入于X射线检查装置45)，取得利用X射线线传感器相机52拍摄了穿透PTP薄膜9的X射线的一维的X射线穿透图像。
而且，根据X射线线传感器相机52取得的X射线穿透图像，在该相机52内部转换成数字信号后，以数字信号的形式对控制处理装置53(图像数据存储装置74)输出。本实施形态中，构成为每次搬送PTP薄膜9，根据X射线线传感器相机52取得在PTP薄膜9搬送方向的X射线线传感器52a的宽度、也即相当于一份CCD宽度的长度份量的X射线穿透图像。当然也可采用与此不同的构成。
从X射线线传感器相机52输出的X射线穿透图像，按时间序列依序被存储到图像数据存储装置74。
然后，根据PTP薄膜9每被搬送既定量即反复进行上述一连串处理，在图像数据存储装置74，最终会存储关于每1片份的PTP薄片1的X射线穿透图像。此时，根据如上述般控制利用X射线照射装置51的X射线的照射输出，X射线穿透图像可成为具有多级的亮度灰度。然后，当一取得关于作为制品的PTP薄片1的X射线穿透图像时，执行步骤S43的区域特定工序及步骤S44的是否合格判定工序。
此外，区域特定工序、是否合格判定工序等对成为制品的各PTP 薄片1每一者进行的处理。因此，本实施形态中，成为PTP薄膜9 每被搬送相当于1片PTP薄片1的份量，即对关于X射线穿透图像所含的1片份量的PTP薄片1的部分进行区域特定工序、是否合格判定工序等。
其次，参照图9的流程图，就步骤S43的区域特定工序作说明。在区域特定工序中，首先，执行步骤S431的检查图像取得处理。详言之，从图像数据存储装置74将X射线穿透图像中成为检查对象的PTP薄片1的图像以检查图像的形式读出。
接着，于步骤S432，根据对所读出的检查图像设定前述薄片框，划定X射线穿透图像中的检查区域Kb，获得薄片浓淡图像Xb。所获得的薄片浓淡图像Xb被存储在图像数据存储装置74。
此外，于本实施形态中，上述薄片框的设定位置依和PTP薄膜 9的相对位置关系而预先决定。因此，本实施形态中，薄片框的设定位置并非每次都对应于检查图像来调整位置，但未受限于此，也可作成考虑位偏的发生等，依据从X射线穿透图像获得的信息而适宜调整薄片框的设定位置的构成。
再者，于接着的步骤S433的片剂区域特定处理中，首先，使用阈值δ1，对所获得的薄片浓淡图像Xb施以二值化处理，并将根据该处理所获得的二值化图像存储在图像数据存储装置74。之后，对上述二值化图像执行块处理，并从根据块处理所特定的“0(暗部)”的连结成分的中特定出和片剂5相当的连接成分即片剂区域5x。
接着，于步骤S434，位于所特定的片剂区域5x的周围的环状的暗影2c被特定。
之后，于步骤S435，对应于检查区域Kb的X射线穿透图像(薄片浓淡图像Xa)中的比暗影2c的最外周部还靠内侧的区域被特定为收容区域2x。又，在接着的步骤S436中，薄片浓淡图像Xb中的收容区域2x以外的区域被特定为凸缘部区域9x。
然后，于区域特定工序的最后，进行步骤S437的异物区域特定处理。于步骤S437，从根据块处理所特定的“0(暗部)”的连结成分的中扣除片剂区域5x及暗影2c后的成分被特定为异物区域100x。
接着，针对步骤S44的是否合格判定工序，参照图10的流程图作说明。
首先，于步骤S441中，所有袋部2的片剂良品标志的值被设为“0”。此外，“片剂良品标志”用以表示收容在对应的袋部2的片剂 5的是否合格判定结果的情况，被设定于运算结果存储装置75。然后，在既定的袋部2所收容的片剂5被判定为良品的情况，与此对应的片剂良品标志的值被设为“1”。
在接着的步骤S442中，设定于运算结果存储装置75的袋编号计数的值C被设为属初期值的“1”。此外，“袋编号计数的值C”，指和1片PTP薄片1的检查区域Kb内的10个袋部2的每一者对应设定的序列编号，根据袋编号计数的值C(以下，仅称为“袋编号C”) 可特定袋部2的位置。
然后，于步骤S443，判定袋编号C是否为每一检查区域(每1 片的PTP薄片1)的袋数N(本实施形态中为“10”)以下。
在步骤S443被判定为是的情况，转移到步骤S444，依据步骤S43的利用区域特定工序的处理结果，抽出和现在的袋编号C(例如 C＝1)对应的收容区域2x(袋部2)中的面积值成为前述最低面积值 Lo以上的异物区域100x。然后，于接着的步骤S445中，若在收容区域2x有Lo以上的异物区域100x，则判定在该收容区域2x有片剂5的破片或金属片等的异物，照原样转移到步骤S447。另一方面，若在收容区域2x没有Lo以上的异物区域100x则转移到步骤S446。
在步骤S446，判定和现在的袋编号C对应的收容区域2x(袋部 2)无异物，和该袋编号C对应的片剂良品标志的值被设定成“1”。之后，转移到步骤S447。
在步骤S447中，根据于现在的袋编号C加“1”以设定新的袋编号C。之后，返回步骤S443。
然后，在新设定的袋编号C还是袋数N(本实施形态中为“10”) 以下的情况，再度转移到步骤S444，反复执行上述一连串的判定处理。
另一方面，在判定新设定的袋编号C已超过袋数N的情况，也就是在步骤S443判定为否的情况，视为和所有袋部2(收容区域2x) 有关的是否合格判定结束，转移到步骤S448。
在步骤S448中，依据步骤S43的利用区域特定工序的处理结果，抽出在凸缘部区域9x中面积值成为前述最小面积值Lo以上的异物区域100x。然后，在接着的步骤S449中，若在凸缘部区域9x有 Lo以上的异物区域100x，则判定在凸缘部区域9x有片剂5的破片或金属片等的异物，照原样转移到步骤S452。另一方面，若在凸缘部区域9x没有Lo以上的异物区域，转移到步骤S450。
在步骤S450，判定检查区域Kb内的所有袋部2的片剂良品标志的值是否为“1”。在此处判定为是的情况，也即在检查区域Kb 内的所有袋部2未存在异物的情况，于步骤S451，和该检查区域 Kb对应的PTP薄片1被判定为“良品”，是否合格判定工序结束。
另一方面，于步骤S450被判定为否的情况，也即在检查区域Kb内的所有袋部2中至少1个存在有异常的情况，转移到步骤S452。
在步骤S452，和检查区域Kb对应的PTP薄片1被判定为“不良品”，是否合格判定工序结束。
此外，步骤S451的良品判定处理及步骤S452的不良品判定处理中，和对应于检查区域Kb的PTP薄片1有关的检查结果被存储于运算结果存储装置75并对PTP包装机10(包含不良薄片排出机构) 输出。
接着，就步骤S46的照射输出检测工序作说明。如图11所示，在照射输出检测工序中，首先，于步骤S461，特定薄片浓淡图像 Xa中的和通过PTP薄膜9的前述路径L1的部分对应的区域。接着，于步骤S462，从已特定的区域所包含的收容区域2x扣除片剂区域 5x、暗影2c及异物区域100x后的区域被特定为检测对象区域Ta。之后，于步骤S463，根据依据检测对象区域Ta中的亮度算出表示X 射线的照射输出的照射输出检测值，照射输出检测工序结束。
返回图8，继照射输出检测工序之后，进行步骤S47的输出控制工序。在输出控制工序中，依据在照射输出检测工序所算出的照射输出检测值，以在下回的照射输出检测工序所算出的照射输出检测值成为前述既定值K1的方式，控制利用X射线照射装置51的X 射线的照射输出。
接着，于步骤S5的针孔线形成工序，利用针孔线形成装置33 在PTP薄膜9的既定位置形成针孔线7。又，在接着的步骤S6的刻印工序中，利用刻印装置34在PTP薄膜9设置刻印8a。之后，根据进行步骤S7的切离工序，PTP薄片1的制造工序结束。在切离工序中，根据利用薄片冲切装置37冲切PTP薄膜9且从PTP薄膜9 切离PTP薄片1而制造出PTP薄片1。
如以上所详述，依据本实施形态，照射输出检测值依据X射线穿透图像中最容易变亮的区域、也即检测对象区域Ta的亮度而算出。然后，以此最容易变亮的区域的照射输出检测值成为既定值K1 的方式，也即以此最容易变亮的区域充分成为高亮度的方式控制X 射线照射装置51。因此，可在有效灰度范围(利用X射线线传感器 52a的检测输出的范围)中将其最高值设得够高，相对于可计测的灰度范围(利用X射线线传感器52a的检测输出的最大范围)可将有效灰度范围设得更宽。据此，可提升检测输出的灰度乃至X射线穿透图像中的亮度灰度的分辨率，能进行更高精度的检查。
特别是在本实施形态中，依据收容区域2x中除了片剂区域5x、暗影2c以外的区域的X射线穿透图像中最容易变亮的区域的亮度，算出照射输出检测值。因此，可更适当地设定有效灰度范围。
又，由于检测对象区域Ta不包含暗影2c的情况，故可获得更合适的照射输出检测值。
再者，位于所特定的片剂区域5x的周围的环状的暗影2c被特定为收容空间2a的轮廓，该轮廓的内侧被特定为收容区域2x。因此，可更正确且较简易地特定收容区域2x的位置。其结果，可算出更合适的照射输出检测值。
再加上，依据除了异物区域100x以外的区域的亮度，算出照射输出检测值。因此，可在不受异物的影响下算出更加合适的照射输出检测值。
此外，未受限于上述实施形态的记载内容，也可按例如以下方式实施。当然也可以是以下未例示的其他应用例、变更例。
(a)上述实施形态中，检测对象区域Ta设为位于路径L1上的区域且从收容区域2x扣除片剂区域5x、暗影2c及异物区域100x后的区域。相对地，如图13所示，也可将检测对象区域Ta设为位于路径L1上的凸缘部区域9x。即使是这情况，照射输出检测值也可依据X射线穿透图像(薄片浓淡图像Xb)中最容易变亮的区域当中的 1个亮度而被算出。又，由于凸缘部区域9x比收容区域2x中除了片剂区域5x以外的区域还宽广地存在着，故根据依据凸缘部区域 9x的亮度来算出照射输出检测值，可提升照射输出检测值的算出的容易性。
此外，考虑异物所致的不良影响，也可将检测对象区域Ta设为位于路径L1上的区域且从凸缘部区域9x扣除异物区域100x后的区域。
又，也可将从收容区域2x扣除片剂区域5x后的区域及凸缘部区域9x的每一者设为检测对象区域Ta。在这情况也是，从将照射输出检测值更正确地算出这点来说，以不包含暗影2c、异物区域 100x的方式设定检测对象区域Ta较佳。
(b)包装薄片未受限于上述实施形态的PTP薄片1，也可为例如 SP薄片。
如图14所示，一般的SP薄片90，根据使由以铝为基材的不透明材料所成的带状的2片薄膜91、92重迭，并在两薄膜91、92间一边充填片剂5一边在该片剂5的周围留下袋状的收容空间93的方式接合该收容空间93的周围(图14中的底纹花纹部分)的两薄膜91、 92，作成带状的包装薄膜后，再根据将该包装薄膜切离成矩形薄片状所形成。
此外，在SP薄片90，在用以能以含有1个收容空间93的薄小片94为单位进行切离的“切离部”方面，也可形成沿着薄片长边方向形成的纵针孔线95及沿着薄片短边方向形成的横针孔线96。又，也可在SP薄片90，于薄片长边方向一端部，附设印刷有各种信息(本实施形态中为“ABC”的文字)的标签部97。
(c)上述实施形态中，X射线检查装置45设在薄膜承接辊20及加热辊23的下游且针孔线形成装置33及刻印装置34的上游。相对地，如图15所示，也可将X射线检查装置45设为针孔线形成装置 33及刻印装置34的下游且薄片冲切装置37的上游。
在这情况，如图16所示，在X射线穿透图像Xa、薄片浓淡图像Xb，成为存在了和针孔线7对应的作为“切离区域”的针孔线区域7x、和刻印8a对应的刻印区域8x的状态，但以构成为依据除了针孔线区域7x或刻印区域8x以外的区域的亮度，算出照射输出检测值的情况较佳。根据如此构成，可在不受针孔线7或刻印8a的影响下，算出更合适的照射输出检测值。其结果，能更稳定地进行更高精度的检查。
此外，根据在针孔线形成装置33及刻印装置34的上游设置X 射线检查装置45，结果，成为依据除了针孔线区域7x及刻印区域 8x以外的区域的亮度，算出照射输出检测值。因此，关于上述实施形态也是，可说是依据除了针孔线区域7x及刻印区域8x以外的区域的亮度，算出照射输出检测值。
(d)上述实施形态中，虽构成为：特定X射线穿透图像中的片剂区域5x，并且将位于已特定的片剂区域5x周围的环状的暗影2c特定为收容空间2a的轮廓，将该轮廓的内侧特定为收容区域2x，但也可利用其他手法来特定收容区域2x。
例如，也可构成为：特定片剂区域5x并且将使已特定的片剂区域5x膨胀而成的区域特定为收容区域2x。在这情况，根据较简单的处理，可将收容区域2x作某程度正确地特定(推定)。
又，也可构成为：特定片剂区域5x，并且取得已特定的片剂区域5x的中心或重心，依据和取得的中心或重心及收容空间2a的位置相关的设计上的数据来特定收容区域2x。在这情况也是，根据较简单的处理，可将收容区域2x作某程度正确地特定(推定)。
再者，也可构成为：拍摄PTP薄膜9，取得关于PTP薄膜9的外观的外观图像，并且特定此外观图像中的收容空间2a的位置，再依据所特定的收容空间2a的位置来特定收容区域2x。在该情况，因为是依据收容空间2a的实际位置来特定收容区域2x，故能极正确地特定收容区域2x，可实现优异的检查精度。
(e)PTP薄片1单位的袋部2的排列或个数也未受上述实施形态的情况(2列、10个)任何限定，例如可采用以具有3列12个袋部2(收容空间2a)的类型为首且由各式各样的排列、个数所成的PTP薄片(关于上述SP薄片也相同)。当然，1个薄小片所包含的袋部2(收容空间2a)数量也未受上述实施形态任何限定。
(f)在上述实施形态的PTP薄片1，作为“切离部”，形成有将贯通于PTP薄片1的厚度方向的切口间歇排列而成的针孔线7，但“切离部”未受此所限，也可对应于容器膜3及盖膜4的材质等而采用不同的构成。例如，也可设为呈剖面大致V字状的非贯通的狭缝(半切线)构成“切离部”。又，也可作成未形成针孔线7等的“切离部”的构成。
(g)第1薄膜及第2薄膜的材质、层构造等不受限于上述实施形态的容器膜3或盖膜4的构成。例如上述实施形态中，容器膜3及盖膜4是以铝等的金属材料为基材所形成，但不受此所限，也可采用其他材质。也可采用例如不让可视光等穿透的合成树脂材料等。
(h)带状包装体的构成未受限于上述实施形态，也可采用其他的构成。
上述实施形态中，虽PTP薄膜9沿其宽度方向配列有和1薄片份对应的数目的袋部2的构成，但不受此所限，例如，也可为沿其宽度方向配列有和多个薄片份对应的数目的袋部2的构成。
(i)电磁波照射机构的构成未受限于上述实施形态。上述实施形态中，成为照射作为电磁波的X射线的构成，但不受此所限，也可作成使用兆赫电磁波等的穿透PTP薄膜9的其他电磁波的构成。
(j)拍摄机构的构成未受限于上述实施形态。例如上述实施形态中，作为拍摄机构虽采用排列有1列CCD的X射线线传感器相机 52，但不受此所限，也可采用例如在PTP薄膜9的薄膜搬送方向具备多个列CCD列(检测组件列)的X射线TDI(Time Delay Integration：时延积分)相机。据此，可谋求更提升检查精度及检查效率。
(k)X射线检查装置45的构成或X射线检查装置45及PTP薄膜 9的位置关系等，未受限于上述实施形态。
例如上述实施形态中，虽为在PTP薄膜9被往上下方向搬送的位置配置有X射线检查装置45的构成，但不受此所限，也可作成例如在PTP薄膜9被往水平方向搬送的位置或斜向搬送的位置配置有X射线检查装置45的构成。
又，也可构成为具备位置调整机构(位置调整机构)，以配合PTP 薄膜9的大小、配置等而能将X射线照射装置51及X射线线传感器相机52沿着PTP薄膜9的搬送方向、PTP薄膜9的宽度方向、对PTP薄膜9接触/分离方向移动。
再者，上述实施形态中，虽为X射线照射装置51配置在PTP 薄膜9的容器膜3侧，X射线线传感器相机52配置在PTP薄膜9 的盖膜4侧的构成，但也可作成使两者的位置关系相反，将X射线照射装置51配置在盖膜4侧，X射线线传感器相机52配置在容器膜3侧的构成。此时，“容器膜3”构成“第2薄膜”，“盖膜4”构成“第1薄膜”。
(l)上述实施形态中，虽构成为在比从PTP薄膜9冲切PTP薄片 1的前工序中利用X射线检查装置45进行X射线检查，但不受此所限，也可构成为在从PTP薄膜9冲切PTP薄片1之后之后工序中，对PTP薄片1进行检查。例如也可构成为对根据输送机39所搬送的PTP薄片1进行检查。在这情况，“PTP薄片1”构成“包装体”，“薄片凸缘部1b”构成“凸缘部”。
又，在这情况，也可作成X射线检查装置45被设在PTP包装机10内的构成(在线构成)，也可作成X射线检查装置45和PTP包装机10分开设置的构成(脱机构成)。其中，在脱机构成的情况，因为有成为检查对象的PTP薄片1的位置、朝向相对于X射线检查装置45没有一定的危险，所以在进行检查时，有必要事先调整PTP 薄片1的位置、朝向。此外，由于PTP薄片1的位置、朝向的调整有招致检查速度及检查精度的降低的危险，故经考虑这点后，以采用在线构成的情况较佳。
(m)上述实施形态中，虽构成为：伴随PTP薄膜9的搬送，凸缘部9b及收容空间2a交互地通过路径L1，但也可构成为：于搬送 PTP薄膜9时，收容空间2a不通过路径L1。也即，也可构成为：于搬送PTP薄膜9时，凸缘部9b始终通过路径L1。在这情况，成为依据位于路径L1上的凸缘部区域9x的亮度，算出照射输出检测值。
(n)上述实施形态中，作为内容物虽举出片剂5，但内容物未受此所限，也可为例如胶囊、食品、小型零件等。
符号说明
1:PTP薄片
2:袋部
2a:收容空间
2c:暗影
2x:收容区域
3:容器膜(第1薄膜)
4:盖膜(第2薄膜)
5:片剂(内容物)
5x:片剂区域
7:针孔线(切离部)
7x:针孔线区域(切离区域)
8a:刻印
8x:刻印区域
9:PTP薄膜(包装体)
9b:凸缘部
9x:凸缘部区域
10:PTP包装机(包装体制造装置)
45:X射线检查装置(检查装置)
51:X射线照射装置(电磁波照射机构)
51a:照射源
52:X射线线传感器相机(拍摄机构)
52a:X射线线传感器(检测部)
53:控制处理装置(图像处理装置)
78:区域特定部(区域特定机构、异物特定机构)
79:照射输出检测部(照射输出检测机构)
80:输出控制部(输出控制机构)
100x:异物区域。

Claims (6)

1.一种检查装置，用以检查包装体，该包装体安装有由不透明材料所构成的第1薄膜及由不透明材料所构成的第2薄膜，并在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有内容物，其特征在于，
该检查装置具有：
电磁波照射机构，具有对前述包装体照射能从前述第1薄膜侧穿透前述包装体的电磁波的照射源而成；
拍摄机构，具有以夹设前述包装体和前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧并能检测穿透前述包装体的电磁波的检测部，依据来自于利用穿透前述包装体的电磁波的该检测部的检测输出，取得具有关于亮度的浓淡的电磁波穿透图像；
图像处理机构，依据根据前述拍摄机构所取得的电磁波穿透图像，能执行关于前述包装体的检查；
照射输出检测机构，依据前述电磁波穿透图像，算出表示利用前述电磁波照射机构的电磁波的照射输出的照射输出检测值；
输出控制机构，以前述照射输出检测值成为既定值的方式控制利用前述电磁波照射机构的电磁波的照射输出，
且构成为：前述照射输出检测机构依据下述区域中的至少一者的亮度，算出前述照射输出检测值，该区域分别为：前述电磁波穿透图像中位于将前述照射源和前述检测部以最短距离连接的路径上且对应前述收容空间的收容区域中的除了和前述内容物对应的内容物区域以外的区域；对应前述收容空间周围的凸缘部的凸缘部区域。
2.如权利要求1所述的检查装置，其特征在于，构成为：
前述照射输出检测机构依据：前述电磁波穿透图像中除了和设置在前述包装体的切离用的切离部对应的切离区域、及和附设于前述包装体的刻印对应的刻印区域以外的区域的亮度，算出前述照射输出检测值。
3.如权利要求1或2所述的检查装置，其特征在于，
前述第1薄膜及前述第2薄膜中的至少一者具有内部空间形成前述收容空间的袋部，并由金属制薄膜或具有金属层的薄膜所构成，
具有区域特定机构，该区域特定机构特定前述电磁波穿透图像中的前述内容物区域，并将位于已特定的前述内容物区域的周围的环状的暗影特定为前述收容空间的轮廓，将该轮廓的内侧特定为前述收容区域，
且构成为：前述照射输出检测机构依据前述电磁波穿透图像中除了根据前述区域特定机构所特定的前述收容区域中的根据该区域特定机构所特定的前述内容物区域以外的区域的亮度，算出前述照射输出检测值。
4.如权利要求1～3中任一项所述的检查装置，其特征在于，具有异物特定机构，该异物特定机构特定前述电磁波穿透图像中和异物对应的异物区域，
且构成为：前述照射输出检测机构依据前述电磁波穿透图像中除了前述异物区域以外的区域的亮度，算出前述照射输出检测值。
5.一种包装体制造装置，其特征在于，具备权利要求1～4中任一项所述的检查装置。
6.一种包装体制造方法，为获得包装体时所用的包装体制造方法，该包装体安装有由不透明材料所构成的带状的第1薄膜及由不透明材料所构成的带状的第2薄膜，并在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有内容物，其特征在于，
该包装体制造方法具备：
安装工序，安装所搬送的带状的前述第1薄膜及所搬送的带状的前述第2薄膜；
充填工序，在前述第1薄膜与前述第2薄膜间所形成的前述收容空间内充填内容物；
检查工序，执行经前述安装工序及前述充填工序所获得的前述包装体的检查，
前述检查工序包含：
照射工序，根据既定的电磁波照射机构所具有的照射源，对前述包装体照射能从前述第1薄膜侧穿透前述包装体的电磁波；
拍摄工序，使用具有检测部而构成的拍摄机构，依据来自于利用穿透前述包装体的电磁波的该检测部的检测输出，取得具有关于亮度的浓淡的电磁波穿透图像，该检测部以夹设前述包装体和前述电磁波照射机构而对向的方式配置在前述第2薄膜侧并能检测穿透前述包装体的电磁波；
是否合格判定工序，依据利用前述拍摄工序所取得的电磁波穿透图像，进行有关前述包装体的是否合格判定；
照射输出检测工序，依据前述电磁波穿透图像，算出表示利用前述电磁波照射机构的电磁波的照射输出的照射输出检测值；
输出控制工序，以前述照射输出检测值成为既定值的方式控制利用前述电磁波照射机构的电磁波的照射输出，
前述照射输出检测工序中，依据下述区域中的至少一者的亮度，算出前述照射输出检测值，该区域分别为：前述电磁波穿透图像中位于将前述照射源与前述检测部以最短距离连接的路径上且对应前述收容空间的收容区域中的除了和前述内容物对应的内容物区域以外的区域；及对应前述收容空间周围的凸缘部的凸缘部区域。
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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004257884A (ja) * 2003-02-26 2004-09-16 Nittetsu Elex Co Ltd Ｘ線異物検査方法及び装置
CN1690697A (zh) * 2004-04-19 2005-11-02 吉第联合股份公司 对包装盒进行质量控制的方法和装置
JP2010286424A (ja) * 2009-06-15 2010-12-24 Ishida Co Ltd 物品検査装置
CN103776849A (zh) * 2012-10-23 2014-05-07 Ckd株式会社 药片检查装置和ptp包装机
JP2014157122A (ja) * 2013-02-18 2014-08-28 Ishida Co Ltd Ｘ線検査装置
CN104718447A (zh) * 2013-10-03 2015-06-17 世高株式会社 包装体的检查装置
JP2017075835A (ja) * 2015-10-14 2017-04-20 株式会社 システムスクエア 包装体の検査装置
CN108693199A (zh) * 2017-03-30 2018-10-23 住友化学株式会社 检查装置、检查方法及膜卷绕体的制造方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3035920B2 (ja) * 1989-05-30 2000-04-24 ソニー株式会社 動体抽出装置及び動体抽出方法
EP2194374B1 (en) * 2007-09-26 2016-01-13 Ishida Co., Ltd. Examination apparatus
JP2013190361A (ja) * 2012-03-14 2013-09-26 Omron Corp Ｘ線検査装置およびその制御方法
JP5860347B2 (ja) 2012-06-06 2016-02-16 アンリツインフィビス株式会社 Ｘ線検査装置
JP5996447B2 (ja) * 2013-01-30 2016-09-21 アンリツインフィビス株式会社 Ｘ線検査装置
KR20170107952A (ko) * 2015-01-29 2017-09-26 가부시키가이샤 데크시스 광학식 외관 검사 장치 및 이를 이용한 광학식 외관 검사 시스템
JP6920988B2 (ja) * 2015-03-20 2021-08-18 株式会社イシダ 検査装置
JP5906336B1 (ja) * 2015-03-23 2016-04-20 Ckd株式会社 製造装置
JP6775818B2 (ja) 2016-08-19 2020-10-28 株式会社イシダ Ｘ線検査装置
WO2019045653A1 (en) * 2017-09-04 2019-03-07 Agency For Science, Technology And Research NON-DESTRUCTIVE SYSTEMS AND METHODS FOR IDENTIFICATION OF CONDITIONED MEDICAMENTS

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004257884A (ja) * 2003-02-26 2004-09-16 Nittetsu Elex Co Ltd Ｘ線異物検査方法及び装置
CN1690697A (zh) * 2004-04-19 2005-11-02 吉第联合股份公司 对包装盒进行质量控制的方法和装置
JP2010286424A (ja) * 2009-06-15 2010-12-24 Ishida Co Ltd 物品検査装置
CN103776849A (zh) * 2012-10-23 2014-05-07 Ckd株式会社 药片检查装置和ptp包装机
JP2014157122A (ja) * 2013-02-18 2014-08-28 Ishida Co Ltd Ｘ線検査装置
CN104718447A (zh) * 2013-10-03 2015-06-17 世高株式会社 包装体的检查装置
JP2017075835A (ja) * 2015-10-14 2017-04-20 株式会社 システムスクエア 包装体の検査装置
CN108693199A (zh) * 2017-03-30 2018-10-23 住友化学株式会社 检查装置、检查方法及膜卷绕体的制造方法

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