CN113791372B - 一种磁纳米粒子空间定位装置及方法 - Google Patents

一种磁纳米粒子空间定位装置及方法 Download PDF

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Abstract

一种磁纳米粒子空间定位装置及方法，涉及生物医学工程技术领域，所述装置包括：激励线圈、检测线圈、LC谐振电路、交流电源电路和电压检测电路。所述方法包括：构造与激励线圈匹配的第一LC谐振电路，构造与检测线圈匹配的第二LC谐振电路，利用检测线圈检测磁纳米粒子被交变磁场激励产生的二次磁场，利用电压检测电路对感应电压进行放大滤波和实时显示，根据检测电压幅值确定磁纳米粒子空间分布。本发明的一种磁纳米粒子空间定位装置及方法，采取激励线圈和检测线圈组装成扫描线圈组的方式，结构简单，操作方便，可实现实时检测与电压显示。

Description

一种磁纳米粒子空间定位装置及方法
技术领域
本发明涉及一种磁纳米粒子空间定位装置及方法，属于生物医学工程技术领域。
背景技术
磁纳米粒子，是一种具有超顺磁性的纳米级颗粒，近年来在生物医学工程技术领域被广泛研究和应用，其中磁纳米粒子的准确定位和定量是上述应用中的关键问题。
传统的磁纳米粒子定位方法需要利用封闭式的磁场扫描仪对待测对象进行扫描成像。但封闭式的磁场扫描仪不便于开展介入操作，且扫描成像时间很长，实时性较差。
因此，目前需要一种成像速度更快，结构简单易操作的磁纳米粒子空间定位装置及方法。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的成像装置封闭不便于开展介入操作、实时性差等问题，提供一种磁纳米粒子空间定位装置及方法。
本发明的技术方案如下：
一种磁纳米粒子空间定位装置，包括：激励线圈、检测线圈、LC谐振电路、交流电源电路和电压检测电路，具体结构为：
所述激励线圈为环形均匀多匝线圈，用于向环内区域发射高频交变磁场；
所述检测线圈为环形均匀多匝线圈，用于检测磁纳米粒子在高频交变磁场激励下产生的二次磁场；
所述LC谐振电路包括第一LC谐振电路和第二LC谐振电路，所述第一LC谐振电路与所述激励线圈相连，使所述激励线圈处于谐振状态，用于使激励线圈产生更强的特定频率的交变磁场，其特定频率为第一谐振频率；所述第二LC谐振电路与所述检测线圈相连，使所述检测线圈处于谐振状态，用于使检测线圈更容易检测到磁纳米粒子产生的特定频率的二次磁场，其特定频率为第二谐振频率；
所述交流电源电路用于产生激励线圈所需的特定频率的交变电压；
所述电压检测电路用于对检测线圈上的电压信号进行放大和滤波，并显示当前检测电压值。
优选地，所述第二谐振频率是所述第一谐振频率的三倍，即所述检测线圈主要检测磁纳米粒子被交变磁场激励产生的二次磁场中的三倍频分量，避免了与激励磁场混叠。
优选地，所述交流电源电路包括信号发生电路和功率放大电路。
优选地，所述电压检测电路包括信号处理电路和电压显示电路。
优选地，所述第一谐振频率在10kHz～100kHz范围内。
一种磁纳米粒子空间定位方法，包括如下步骤：
步骤S101：根据激励磁场所需频率，构造与所述激励线圈匹配的第一LC谐振电路，沿激励线圈轴向发射特定频率的交变磁场；
步骤S102：构造与所述检测线圈匹配的第二LC谐振电路，使检测频率为交变磁场频率的三倍；
步骤S103：利用所述检测线圈检测磁纳米粒子被交变磁场激励产生的二次磁场，在所述检测线圈中形成感应电压；
步骤S104：利用电压检测电路对感应电压进行放大滤波和实时显示；
步骤S105：同时移动所述激励线圈和检测线圈，对被测对象进行扫描激励和检测；
步骤S106：根据检测电压幅值确定磁纳米粒子空间分布，检测电压幅值越大表明当前位置的磁纳米粒子浓度越高。
优选地，将所述激励线圈和检测线圈组装成一个扫描线圈组，通过机械移动或手持移动扫描线圈组对被测对象进行实时扫描，扫描的过程连续激励和检测，检测得到的电压数值实时的显示在显示器上。
与现有技术相比，本发明的磁纳米粒子空间定位装置及方法的优势在于以下几点：
1、本发明的一种磁纳米粒子空间定位装置及方法，采取激励线圈和检测线圈组装成扫描线圈组的方式，结构简单，操作方便，可实现实时检测与电压显示。
2、本发明的一种磁纳米粒子空间定位装置及方法，在利用扫描线圈组对被测对象进行扫描的过程中，感应电压数值会发生变化，磁纳米粒子溶液浓度高的位置电压数值会更大，没有磁纳米粒子的位置电压数值接近零；利用上述原理即可快捷的判断磁纳米粒子的空间位置，同时还能对其浓度进行定量估计。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，这些附图示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于说明本发明的技术方案。
图1为本发明一种磁纳米粒子空间定位装置的结构示意图；
图2为本发明一种磁纳米粒子空间定位方法的流程图；
附表标记说明：
1-激励线圈               2-检测线圈
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关发明，而非对该发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与有关发明相关的部分。
本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中术语“至少一种”表示多种中的任意一种或多种中的至少两种的任意组合，例如，包括A、B、C中的至少一种，可以表示包括从A、B和C构成的集合中选择的任意一个或多个元素。
需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
本发明提出一种磁纳米粒子空间定位装置，其具体结构如图1所示，包括：激励线圈1、检测线圈2、LC谐振电路、交流电源电路和电压检测电路。
所述激励线圈1为环形均匀多匝线圈，用于向环内区域发射高频交变磁场，所述环内区域不仅包括与激励线圈1同一水平面的区域，还包括激励线圈1轴向方向上的三维区域，激励线圈1产生的高频交变磁场为一次磁场。
所述检测线圈2为环形均匀多匝线圈，用于检测磁纳米粒子在高频交变磁场激励下产生的二次磁场；所述二次磁场指的是磁纳米粒子被外加磁场磁化后产生的磁场，与一次磁场相对。
所述LC谐振电路包括第一LC谐振电路和第二LC谐振电路，所述第一LC谐振电路与激励线圈1相连，使激励线圈1处于谐振状态，用于使激励线圈1产生更强的特定频率的交变磁场，所述特定频率为第一谐振频率；所述第二LC谐振电路与检测线圈2相连，使检测线圈2处于谐振状态，用于使检测线圈2更容易检测到磁纳米粒子产生的特定频率的二次磁场，所述特定频率为第二谐振频率；这里区分第一谐振频率和第二谐振频率是指两个谐振频率大小是不同的；同理，第一LC谐振电路和第二LC谐振电路也是不同的。
所述交流电源电路包括信号发生电路和功率放大电路，用于产生激励线圈1所需的特定频率的交变电压；所述特定频率一般在10kHz～100kHz范围内。
所述电压检测电路包括信号处理电路和电压显示电路，用于对检测线圈2上的电压信号进行放大和滤波，并显示当前检测电压值；
优选地，所述第二谐振频率是所述第一谐振频率的三倍，即检测线圈2主要检测磁纳米粒子被交变磁场激励产生的二次磁场中的三倍频分量，避免了与激励磁场混叠；所述二次磁场含有多个频率分量，激励磁场的频率为二次磁场的基频，除基频外，磁纳米粒子产生的二次磁场中最大的分量为三倍频分量，所述三倍频指的是三倍基频。
本发明提出一种磁纳米粒子空间定位方法，其具体流程如图2所示，包括以下步骤：
步骤S101：根据激励磁场所需频率，构造与激励线圈1匹配的第一LC谐振电路，沿激励线圈1轴向发射特定频率的交变磁场；
步骤S102：构造与检测线圈2匹配的第二LC谐振电路，使检测频率为交变磁场频率的三倍；
步骤S103：利用检测线圈2检测磁纳米粒子被交变磁场激励产生的二次磁场，在检测线圈2中形成感应电压；
步骤S104：利用电压检测电路对感应电压进行放大滤波和实时显示；
步骤S105：同时移动激励线圈1和检测线圈2，对被测对象进行扫描激励和检测；
步骤S106：根据检测电压幅值确定磁纳米粒子空间分布，检测电压幅值越大表明当前位置的磁纳米粒子浓度越高。
下面通过一个具体的实施例对本发明提供的上述磁纳米粒子空间定位方法的具体实施进行详细说明。
实施例1
步骤S101：根据激励磁场所需频率，构造与激励线圈1匹配的第一LC谐振电路，沿激励线圈1轴向发射特定频率的交变磁场。
当激励磁场的频率确定后，要根据激励线圈1的阻抗参数，设计与之相匹配的LC谐振电路，使激励线圈1达到谐振状态，使激励线圈1的工作效率达到最高，即同等激励电压下产生的交变磁场最强；利用交流电源给激励线圈1供电，使激励线圈1产生沿轴向的特定频率的交变磁场，所述特定频率即激励线圈1的第一谐振频率。
步骤S102：构造与检测线圈2匹配的第二LC谐振电路，使检测频率为交变磁场频率的三倍。
本发明中的检测线圈2也要达到谐振状态，这样会使检测线圈2对谐振频率下的磁场检测效率最高；本发明中的检测线圈2主要检测磁纳米粒子产生的二次磁场中的三倍频分量，所述三倍频指的是激励磁场频率的三倍；因此需要根据检测线圈2的阻抗参数，设计与检测线圈2相匹配的LC谐振电路，使检测线圈2达到谐振状态，谐振频率为激励线圈1产生的交变磁场频率的三倍。
步骤S103：利用检测线圈2检测磁纳米粒子被交变磁场激励产生的二次磁场，在检测线圈2中形成感应电压。
磁纳米粒子是一种超顺磁性材料，在外加磁场的激励下会产生较强的磁化响应，对外产生二次磁场；所述二次磁场是区别与激励磁场来说，激励磁场是一次磁场；二次磁场磁感线穿过检测线圈2时，会在检测线圈2中形成感应电压。
步骤S104：利用电压检测电路对感应电压进行放大滤波和实时显示。
二次磁场在检测线圈2中产生感应电压后，再通过导线将感应电压传输至电压检测电路，对感应电压进行常规的放大和滤波处理，最终要在显示屏幕上实时的显示电压数值；电压的传输和处理通常很快，容易做到实时显示。
步骤S105：同时移动激励线圈1和检测线圈2，对被测对象进行扫描激励和检测。
激励线圈1和检测线圈2应被组装成一个扫描线圈组，通过机械移动或手持移动扫描线圈组对被测对象进行实时扫描，扫描的过程就是连续激励和检测的过程，检测得到的电压数值也将实时的显示在显示器上。
步骤S106：根据检测电压幅值确定磁纳米粒子空间分布，检测电压幅值越大表明当前位置的磁纳米粒子浓度越高。
根据磁纳米粒子的朗之万理论，磁纳米粒子溶液浓度与检测到的感应电压之间具有正比例关系；在利用扫描线圈组对被测对象进行扫描的过程中，感应电压数值会发生变化，磁纳米粒子溶液浓度高的位置电压数值会更大，没有磁纳米粒子的位置电压数值接近零；利用上述原理即可实时的判断磁纳米粒子的空间位置，同时还能对其浓度进行定量估计。
以上所述之实施例仅为本发明的较佳实施例，并非对本发明做任何形式上的限制。任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围情况下，利用上述揭示的技术内容对本发明技术方案作出更多可能的变动和润饰，或修改均为本发明的等效实施例。故凡未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明之思路所作的等同等效变化，均应涵盖于本发明的保护范围内。

Claims (3)

1.一种采用磁纳米粒子空间定位装置的磁纳米粒子空间定位方法，所述磁纳米粒子空间定位装置包括：激励线圈（1）、检测线圈（2）、LC谐振电路、交流电源电路和电压检测电路，其特征在于：
所述激励线圈（1）为环形均匀多匝线圈，用于向环内区域发射高频交变磁场；
所述检测线圈（2）为环形均匀多匝线圈，用于检测磁纳米粒子在高频交变磁场激励下产生的二次磁场；
所述LC谐振电路包括第一LC谐振电路和第二LC谐振电路，所述第一LC谐振电路与所述激励线圈（1）相连，使所述激励线圈（1）处于谐振状态，用于使激励线圈（1）产生更强的特定频率的交变磁场，其特定频率为第一谐振频率；所述第二LC谐振电路与所述检测线圈（2）相连，使所述检测线圈（2）处于谐振状态，用于使检测线圈（2）更容易检测到磁纳米粒子产生的特定频率的二次磁场，其特定频率为第二谐振频率；所述第二谐振频率是所述第一谐振频率的三倍，即所述检测线圈（2）主要检测磁纳米粒子被交变磁场激励产生的二次磁场中的三倍频分量，避免了与激励磁场混叠；
所述交流电源电路用于产生激励线圈（1）所需的特定频率的交变电压；
所述电压检测电路用于对检测线圈（2）上的电压信号进行放大和滤波，并显示当前检测电压值；
所述磁纳米粒子空间定位方法包括如下步骤：
步骤S101：根据激励磁场所需频率，构造与所述激励线圈匹配的第一LC谐振电路，沿激励线圈轴向发射特定频率的交变磁场；具体为：当激励磁场的频率确定后，要根据激励线圈（1）的阻抗参数，设计与之相匹配的LC谐振电路，使激励线圈（1）达到谐振状态，使激励线圈（1）的工作效率达到最高；
步骤S102：构造与所述检测线圈（2）匹配的第二LC谐振电路，使检测频率为交变磁场频率的三倍；具体为：根据检测线圈（2）的阻抗参数，设计与检测线圈（2）相匹配的LC谐振电路，使检测线圈（2）达到谐振状态；
步骤S103：利用所述检测线圈（2）检测磁纳米粒子被交变磁场激励产生的二次磁场，在所述检测线圈（2）中形成感应电压；
步骤S104：利用电压检测电路对感应电压进行放大滤波和实时显示；
步骤S105：同时移动所述激励线圈（1）和检测线圈（2），对被测对象进行扫描激励和检测；具体为：将所述激励线圈（1）和检测线圈（2）组装成一个扫描线圈组，通过机械移动或手持移动扫描线圈组对被测对象进行实时扫描，扫描的过程连续激励和检测，检测得到的电压数值实时的显示在显示器上；
步骤S106：根据检测电压幅值确定磁纳米粒子空间分布，检测电压幅值越大表明当前位置的磁纳米粒子浓度越高，实时的判断磁纳米粒子的空间位置，同时对其浓度进行定量估计；
所述第一谐振频率在10kHz～100kHz范围内。
2.根据权利要求1所述的采用磁纳米粒子空间定位装置的磁纳米粒子空间定位方法，其特征在于，所述交流电源电路包括信号发生电路和功率放大电路。
3.根据权利要求1、2任一项所述的采用磁纳米粒子空间定位装置的磁纳米粒子空间定位方法，其特征在于，所述电压检测电路包括信号处理电路和电压显示电路。
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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10137665A1 (de) * 2001-05-09 2002-11-14 Kilian Hennes Vorrichtung und Verfahren zum Erfassen und Klassifizieren von biologischen Partikeln oder Molekülen
WO2010008478A2 (en) * 2008-06-23 2010-01-21 The Regents Of The University Of California, Berkeley Improved techniques for magnetic particle imaging
WO2010031016A2 (en) * 2008-09-15 2010-03-18 California Institute Of Technology A frequency-shift cmos magnetic biosensor array with single bead sensitivity and no external magnet
WO2014071196A1 (en) * 2012-11-01 2014-05-08 The Trustees Of Dartmouth College System and apparatus for combined magnetic resonance imaging with magnetic spectroscopy of brownian motion and/or magnetic nanoparticle imaging
WO2015193139A1 (de) * 2014-06-16 2015-12-23 Universität Zu Lübeck Röntgen-ct-verfahren mit simultanem magnetic particle imaging
CA3094099A1 (en) * 2018-04-11 2019-10-17 Yu Ge Superparamagnetic particle imaging and its applications in quantitative multiplex stationary phase diagnostic assays
EP3708533A1 (en) * 2019-03-15 2020-09-16 Universität zu Lübeck Method and apparatus for in-synthesis sensing and control of magnetic nanostructures
WO2020187764A1 (de) * 2019-03-15 2020-09-24 Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule (Rwth) Aachen Verfahren und signalübertragungsanordnung zur durchführung einer magnetic-particle-imaging-signalerfassung

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6825655B2 (en) * 2001-08-31 2004-11-30 Imego Ab Method and arrangement for detecting changes of a magnetic response in magnetic particles
CN100389326C (zh) * 2004-12-31 2008-05-21 中山大学 利用免疫磁珠的生物检测装置及其检测方法
JP2009536343A (ja) * 2006-05-09 2009-10-08 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 磁性粒子を検知する磁気センサ装置及び方法
US7994786B2 (en) * 2007-06-19 2011-08-09 Mary Hitchcock Memorial Hospital System and method for use of nanoparticles in imaging and temperature measurement
US9211082B2 (en) * 2011-06-30 2015-12-15 The General Hospital Corporation Method for magnetic resonance imaging using saturation harmonic induced rotary saturation
JP2015102513A (ja) * 2013-11-27 2015-06-04 横河電機株式会社 金属異物検出装置および渦電流探傷装置
CN103728365A (zh) * 2014-01-15 2014-04-16 中国科学院电工研究所 基于非线性磁化的磁粒子含量检测装置线圈***
EP3139191A1 (en) * 2015-09-07 2017-03-08 Electronics and Telecommunications Research Institute Apparatus and method for detecting nonlinear magnetic particle based on single excitation coil
CN107462847A (zh) * 2017-06-27 2017-12-12 中国科学院电工研究所 一种磁纳米颗粒检测装置
CN107478826B (zh) * 2017-08-15 2019-12-10 上海交通大学 一种磁性传感器及基于其的免疫层析芯片检测***
CN107907455B (zh) * 2017-12-05 2021-07-20 西人马联合测控（泉州）科技有限公司 一种磁感应颗粒检测装置及浓度检测方法
CN108415089B (zh) * 2018-03-08 2019-10-18 安徽容知日新科技股份有限公司 一种油液金属颗粒检测装置
CN109282879B (zh) * 2018-09-25 2019-07-23 深圳大学 一种微质量传感器的非接触式emat检测方法及其***

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10137665A1 (de) * 2001-05-09 2002-11-14 Kilian Hennes Vorrichtung und Verfahren zum Erfassen und Klassifizieren von biologischen Partikeln oder Molekülen
WO2010008478A2 (en) * 2008-06-23 2010-01-21 The Regents Of The University Of California, Berkeley Improved techniques for magnetic particle imaging
WO2010031016A2 (en) * 2008-09-15 2010-03-18 California Institute Of Technology A frequency-shift cmos magnetic biosensor array with single bead sensitivity and no external magnet
WO2014071196A1 (en) * 2012-11-01 2014-05-08 The Trustees Of Dartmouth College System and apparatus for combined magnetic resonance imaging with magnetic spectroscopy of brownian motion and/or magnetic nanoparticle imaging
WO2015193139A1 (de) * 2014-06-16 2015-12-23 Universität Zu Lübeck Röntgen-ct-verfahren mit simultanem magnetic particle imaging
CA3094099A1 (en) * 2018-04-11 2019-10-17 Yu Ge Superparamagnetic particle imaging and its applications in quantitative multiplex stationary phase diagnostic assays
EP3708533A1 (en) * 2019-03-15 2020-09-16 Universität zu Lübeck Method and apparatus for in-synthesis sensing and control of magnetic nanostructures
WO2020187764A1 (de) * 2019-03-15 2020-09-24 Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule (Rwth) Aachen Verfahren und signalübertragungsanordnung zur durchführung einer magnetic-particle-imaging-signalerfassung

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Keiji Enpuku.Magnetic Nanoparticle Imaging Using Cooled Pickup Coil and Harmonic Signal Detection.Japanese Journal of Applied Physics.2013,1-5. *
Keiji Enpuku.Narrowband magnetic nanoparticle imaging using cooled pickup coil and gradient field.Japanese Journal of Applied Physics.2015,1-6. *
刘聪聪.基于超顺磁性纳米粒子的磁性粒子成像***的研究.CNKI优秀硕士学位论文全文库.2020,全文. *

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