CN113707569B - 显示面板的检测方法、显示面板 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板的检测方法、显示面板，属于显示技术领域，待检测的显示面板包括多个像素驱动电路和多个发光元件，m个像素驱动电路行为一个像素驱动电路行组，n个像素驱动电路列为一个像素驱动电路列组；检测方法包括依次点亮每一个像素驱动电路行组对应的发光元件，监测第一发光电流；依次点亮每一个像素驱动电路列组对应的发光元件，监测第二发光电流；通过比对每一个第一发光电流和第二发光电流，判断显示面板中的发光元件是否存在显示坏点。显示面板采用上述检测方法进行显示坏点检测。本发明可以在不添置昂贵检测设备的前提下，提升检测效率和检测精度。

Description

显示面板的检测方法、显示面板

技术领域

本发明涉及显示技术领域，更具体地，涉及一种显示面板的检测方法、显示面板。

背景技术

随着技术的进步，不同种类的显示面板被研发出来，举例来说，显示面板的种类有液晶显示面板(Liquid Crystal Display，LCD)、有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)显示面板或者是发光二极管显示面板等。由于有机发光二极管显示面板与发光二极管显示面板为自发光技术，省去了背光装置的运用，而有利于显示面板的超薄化趋势，并且由于其本身具有自发光、广视角、高对比度、低耗电、高反应速度等优点，具备更佳优良的可靠性以及更长的使用寿命，已被视为显示技术的主流。

但是，在制造有机发光二极管显示面板的制作阶段，因为工艺良率的因素，会有部分的显示像素无法发光或者是发光表现不如预期，而形成坏点(Dead Pixel)，影响显示面板的显示品质，并且屏幕尺寸的增加将大大增加作业人员的检测时间和检测精度。

现有技术中普遍采用摄像头原理进行检测，在一个平台上固定待测显示面板和高精度摄像头，通过摄像头收集显示面面板亮度数据进行分析，得到坏点大致位置，再借由人工进行详细复检。由于摄像头CCD(Charge-coupled Device，电荷耦合元件，也可以称为CCD图像传感器)分辨率固定，但待测显示面板的尺寸以及分辨率不同，成像位置和角度、待测显示面板放置以及装配精度等因素都将显著影响到实际的坏点检出，检测精度不高时仍需要人工进行复测。即上述方案采用的检测方式存在检测精度较低，需人工复测，且需要添置高精度设备，尤其在测量较大尺寸的显示面板时，检测精度容易下降的问题。

因此，提供一种能够在不添置昂贵检测设备的前提下，提升检测效率和检测精度的显示面板的检测方法、显示面板，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种显示面板的检测方法、显示面板，以解决现有技术中的检测方式存在检测精度较低，需人工复测，且需要添置高精度设备，尤其在测量较大尺寸的显示面板时，检测精度容易下降的问题。

本发明公开了一种显示面板的检测方法，检测的显示面板包括：多个阵列排布的像素驱动电路，显示面板还包括多个发光元件，发光元件与像素驱动电路对应并电连接；其中，多个沿第一方向依次排列的像素驱动电路形成像素驱动电路行，多个像素驱动电路行沿第二方向依次排列，多个沿第二方向依次排列的像素驱动电路形成像素驱动电路列，多个像素驱动电路列沿第一方向依次排列，第一方向和第二方向相交；m个像素驱动电路行为一个像素驱动电路行组，n个像素驱动电路列为一个像素驱动电路列组；其中，m和n均为正整数；检测方法包括：依次点亮每一个像素驱动电路行组对应的发光元件，监测每一个像素驱动电路行组的发光元件的第一发光电流；依次点亮每一个像素驱动电路列组对应的发光元件，监测每一个像素驱动电路列组的发光元件的第二发光电流；通过比对每一个第一发光电流和第二发光电流，判断显示面板中的发光元件是否存在显示坏点。

基于同一发明构思，本发明还公开了一种显示面板，该显示面板采用上述检测方法进行显示坏点检测；显示面板包括显示区和围绕显示区设置的非显示区，非显示区包括绑定区；发光元件的发光电流的监测端位于绑定区。

与现有技术相比，本发明提供的显示面板的检测方法、显示面板，至少实现了如下的有益效果：

本发明通过采用阵列扫描点亮的方式，正常点亮待检测显示面板，通过电流检测设备监测每一个像素驱动电路行组工作期间发光元件的第一发光电流，当某一个或某几个第一发光电流出现异常时，则确认此像素驱动电路行组或此几个像素驱动电路行组出现显示坏点；观察出现显示坏点的像素驱动电路行组的电流，通过点亮不同像素驱动电路列组的发光元件，通过电流检测设备监测每一个像素驱动电路列组工作期间发光元件的第二发光电流，当第二发光电流出现异常时，则确认此像素驱动电路列组或此几个像素驱动电路列组出现显示坏点，二者组合即可得到显示坏点所在的以行组和列组为单元的区域坐标。本发明的上述检测方法，通过待检测显示面板本身扫描点亮发光元件的方式，在不添置昂贵检测设备的前提下，极大提升检测效率，较快判断出显示面板是否存在显示坏点，不仅检测效率高，而且有利于提升检测精度。

当然，实施本发明的任一产品不必特定需要同时达到以上所述的所有技术效果。

通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述，本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。

附图说明

被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的实施例，并且连同其说明一起用于解释本发明的原理。

图1是本发明实施例提供的待检测显示面板的平面结构示意图；

图2是本发明实施例提供的检测方法的原理图；

图3是本发明实施例提供的检测方法的流程框图；

图4是本发明实施例提供的检测方法检测出的每一个像素驱动电路行组的第一发光电流的示意图；

图5是本发明实施例提供的检测方法检测出的每一个像素驱动电路列组的第二发光电流的示意图；

图6是本发明实施例提供的一种像素驱动电路与发光元件连接的电路图；

图7是本发明实施例提供的检测方法的另一种流程框图；

图8是本发明实施例提供的待检测显示面板的另一种平面结构示意图；

图9是本发明实施例提供的另一种检测方法的原理图；

图10是本发明实施例提供的检测方法的另一种流程框图；

图11是本发明实施例提供的检测方法检测出的每一个像素驱动电路行组的第一发光电流的另一种示意图；

图12是本发明实施例提供的检测方法检测出的每一个像素驱动电路列组的第二发光电流的另一种示意图；

图13是本发明实施例提供的检测方法检测出的每一个像素驱动电路行组的第一发光电流的另一种示意图；

图14是本发明实施例提供的检测方法检测出的每一个像素驱动电路列组的第二发光电流的另一种示意图；

图15是图2中坏点1区域的局部放大图；

图16是本发明实施例提供的检测方法的另一种流程框图；

图17是本发明实施例提供的检测方法检测出的显示坏点1所在区域内的每一个像素驱动电路行的第一子发光电流的示意图；

图18是本发明实施例提供的检测方法检测出的显示坏点1所在区域内的每一个像素驱动电路列的第二子发光电流的示意图；

图19是本发明实施例提供的检测方法的另一种流程框图；

图20是本发明实施例提供的另一种检测方法对应的显示面板的划分结构图；

图21是本发明实施例提供的另一种检测方法对应的显示面板的划分结构图；

图22是本发明实施例提供的另一种检测方法对应的显示面板的划分结构图；

图23是本发明实施例提供的待检测显示面板的另一种平面结构示意图；

图24是本发明实施例提供的待检测显示面板的另一种平面结构示意图。

具体实施方式

现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。

以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。

对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。

在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

请结合参考图1-图3，图1是本发明实施例提供的待检测显示面板的平面结构示意图，图2是本发明实施例提供的检测方法的原理图，图3是本发明实施例提供的检测方法的流程框图，本实施例提供的一种显示面板的检测方法，待检测的显示面板000包括：多个阵列排布的像素驱动电路10，显示面板000还包括多个发光元件20，发光元件20与像素驱动电路10对应并电连接；其中，多个沿第一方向X依次排列的像素驱动电路10形成像素驱动电路行10H0，多个像素驱动电路行10H0沿第二方向Y依次排列，多个沿第二方向Y依次排列的像素驱动电路10形成像素驱动电路列10L0，多个像素驱动电路列10L0沿第一方向X依次排列，第一方向X和第二方向Y相交；

m个像素驱动电路行10H0为一个像素驱动电路行组10H，n个像素驱动电路列10L0为一个像素驱动电路列组10L；其中，m和n均为正整数；

检测方法包括：

依次点亮每一个像素驱动电路行组10H对应的发光元件20，监测每一个像素驱动电路行组10H的发光元件20的第一发光电流I1；

依次点亮每一个像素驱动电路列组10L对应的发光元件20，监测每一个像素驱动电路列组10L的发光元件20的第二发光电流I2；

通过比对每一个第一发光电流I1和第二发光电流I2，判断显示面板000中的发光元件20是否存在显示坏点。

具体而言，本实施例中的检测方法可以用于检测显示面板000是否存在显示坏点，待检测的显示面板000可以为有机发光二极管显示面板，该待检测的显示面板000至少可以包括多个阵列排布的像素驱动电路10和多个发光元件20，其中发光元件20与像素驱动电路10对应并电连接，像素驱动电路10用于为发光元件20提供驱动信号实现发光元件20的发光显示。可选的，本实施例的发光元件20可以为有机发光二极管，像素驱动电路10可以包括电连接的多个晶体管和存储电容等，可以理解的是，本实施例对于像素驱动电路10的具体电路连接结构不作具体限定，可参考相关技术中像素驱动电路的结构进行理解，本实施例在此不作赘述。

本实施例的多个像素驱动电路10可以阵列排布，即多个沿第一方向X依次排列的像素驱动电路10形成像素驱动电路行10H0，多个像素驱动电路行10H0沿第二方向Y依次排列，多个沿第二方向Y依次排列的像素驱动电路10形成像素驱动电路列10L0，多个像素驱动电路列10L0沿第一方向X依次排列，第一方向X和第二方向Y相交，可选的，本实施例以第一方向X和第二方向Y在平行于显示面板000出光面的方向上相互垂直为例进行示例说明。其中，m个像素驱动电路行10H0可以作为一个像素驱动电路行组10H，n个像素驱动电路列10L0可以作为一个像素驱动电路列组10L，m和n均为正整数，即一个像素驱动电路行组10H可以仅包括一个像素驱动电路行10H0，或者一个像素驱动电路行组10H可以包括两个或两个以上的像素驱动电路行10H0；而一个像素驱动电路列组10L可以仅包括一个像素驱动电路列10L0，或者一个像素驱动电路列组10L可以包括两个或两个以上的像素驱动电路列10L0，具体实施本实施例的检测方法时，可根据实际需求定义一个像素驱动电路行组10H包括的像素驱动电路行10H0的数量和一个像素驱动电路列组10L包括的像素驱动电路列10L0的数量，本实施例对此不作具体限定。

本实施例提供的检测方法包括：

S01：依次点亮每一个像素驱动电路行组10H对应的发光元件20，监测每一个像素驱动电路行组10H的发光元件20的第一发光电流I1，即沿第二方向Y点亮每一个像素驱动电路行组10H，通过电流检测设备(如电流计或示波器等)监测依次点亮的每一个像素驱动电路行组10H的发光元件20的第一发光电流I1，如通过电流检测设备监测到的结果为：沿第二方向Y，第一个像素驱动电路行组10H的发光元件20的第一发光电流为I11、第二个像素驱动电路行组10H的发光元件20的第一发光电流为I12、第三个像素驱动电路行组10H的发光元件20的第一发光电流为I13……若显示面板000沿第二方向Y一共包括k个像素驱动电路行组10H，则依次得到每一个像素驱动电路行组10H的发光元件20的第一发光电流I1为I11、I12、I13……I1k；

S02：依次点亮每一个像素驱动电路列组10L对应的发光元件20，监测每一个像素驱动电路列组10L的发光元件20的第二发光电流I2，即沿第一方向X点亮每一个像素驱动电路列组10L，通过电流检测设备(如电流计或示波器等)监测依次点亮的每一个像素驱动电路列组10L的发光元件20的第二发光电流I2，如通过电流检测设备监测到的结果为：沿第一方向X，第一个像素驱动电路列组10L的发光元件20的第二发光电流为I21、第二个像素驱动电路列组10L的发光元件20的第二发光电流为I22、第三个像素驱动电路列组10L的发光元件20的第二发光电流为I23……若显示面板000沿第一方向X一共包括p个像素驱动电路列组10L，则依次得到每一个像素驱动电路列组10L的发光元件20的第二发光电流I2为I21、I22、I23……I2p。

可以理解的是，本实施例的步骤S01和步骤S02的执行顺序可以为步骤S01在前，步骤S02在后，即先沿第二方向Y依次点亮每一个像素驱动电路行组10H对应的发光元件20，再沿第一方向X依次点亮每一个像素驱动电路列组10L对应的发光元件20；或者步骤S01和步骤S02的执行顺序可以为步骤S02在前，步骤S01在后，即先沿第一方向X依次点亮每一个像素驱动电路列组10L对应的发光元件20，再沿第二方向Y依次点亮每一个像素驱动电路行组10H对应的发光元件20，本实施例不作限定，具体实施时，可根据实际需求选择设置。

S03：通过比对每一个第一发光电流I1(I11、I12、I13……I1k)和每一个第二发光电流I2(I21、I22、I23……I2p)，判断显示面板000中的发光元件20是否存在显示坏点，若比对每一个第一发光电流I1(I11、I12、I13……I1k)时，发现其中某一个像素驱动电路行组10H的发光元件20的第一发光电流为I1异常，可选的，电流值异常可以理解为该像素驱动电路行组10H的发光元件20的第一发光电流为I1与其他像素驱动电路行组10H的发光元件20的第一发光电流为I1不同；或者，电流值异常还可以理解为某一个像素驱动电路行组10H的发光元件20的第一发光电流为I1与标准电流值不同，则说明该像素驱动电路行组10H的发光元件20中存在显示坏点。同理，若比对每一个第二发光电流I2(I21、I22、I23……I2p)时，发现其中某一个像素驱动电路列组10L的发光元件20的第二发光电流为I2异常，可选的，电流值异常可以理解为该像素驱动电路列组10L的发光元件20的第二发光电流为I2与其他像素驱动电路列组10L的发光元件20的第二发光电流为I2不同，或者，电流值异常还可以理解为某一个像素驱动电路列组10L的发光元件20的第二发光电流为I2与标准电流值不同，则说明该像素驱动电路列组10L的发光元件20中存在显示坏点。可以理解的是，显示面板000中发光元件20的发光电流异常可以说明其发光亮度异常，因此检测发光电流的方式可以较好的反映发光亮度的情况。

本实施例通过上述检测方法，假设待检测的显示面板000不存在显示坏点，则最快在一帧扫描后即可得到检测结果，即最少一帧扫描时间后，通过比对每一个第一发光电流I1(I11、I12、I13……I1k)和每一个第二发光电流I2(I21、I22、I23……I2p)，未发现电流异常，则判断显示面板000中的发光元件20不存在显示坏点。可选的，为了进一步提高检测精度，还可以增加检测的时间，如在多帧扫描时间后，仍然未发现电流异常，则可以更加精准的判断显示面板000中的发光元件20不存在显示坏点。假设待检测的显示面板000存在显示坏点，则通过比对每一个第一发光电流I1(I11、I12、I13……I1k)后，即可判断显示坏点所在的像素驱动电路行组10H，然后通过比对每一个第二发光电流I2(I21、I22、I23……I2p)即可得到显示坏点所在的像素驱动电路列组10L，进而可以通过显示坏点所在的像素驱动电路行组10H和像素驱动电路列组10L交叉组合，较快的得到显示坏点所在单元区域(以像素驱动电路行组10H和像素驱动电路列组10L为单元)。

本实施例通过采用阵列扫描点亮的方式，正常点亮待检测显示面板000，通过电流检测设备监测每一个像素驱动电路行组10H工作期间发光元件20的第一发光电流I1，当某一个或某几个第一发光电流I1出现异常时，如图4所示，图4是本发明实施例提供的检测方法检测出的每一个像素驱动电路行组10H的第一发光电流I1的示意图(以波形表示)，结合图2和图4可知，坏点1和坏点2出现的像素驱动电路行组10H的位置如图2中的虚线框所示，则确认此像素驱动电路行组10H或此几个像素驱动电路行组10H出现显示坏点；观察出现显示坏点的像素驱动电路行组10H的电流，通过点亮不同像素驱动电路列组10L的发光元件，通过电流检测设备监测每一个像素驱动电路列组10L工作期间发光元件20的第二发光电流I2，当第二发光电流I2出现异常时，如图5所示，图5是本发明实施例提供的检测方法检测出的每一个像素驱动电路列组10L的第二发光电流I2的示意图(以波形表示)，结合图2和图5可知，坏点1和坏点2出现的像素驱动电路列组10L的位置如图2中的虚线框所示，则确认此像素驱动电路列组10L或此几个像素驱动电路列组10L出现显示坏点，二者组合即可得到显示坏点所在的以行组和列组为单元的坐标(坏点1在第2个像素驱动电路行组10H的第2个像素驱动电路列组10L相交的区域、坏点2在第3个像素驱动电路行组10H的第4个像素驱动电路列组10L相交的区域)。本实施例的上述检测方法，通过待检测显示面板000本身扫描点亮发光元件20的方式，在不添置昂贵检测设备的前提下，极大提升检测效率，较快判断出显示面板000是否存在显示坏点以及显示坏点所在的单元区域，不仅检测效率高，且通过电流比对的方法可以较精准的体现出发光亮度正常与否，进而有利于提升检测精度。

可选的，本实施例中显示面板000的像素驱动电路10可以如图6所示，图6是本发明实施例提供的一种像素驱动电路与发光元件连接的电路图。图6提供的像素驱动电路10可以至少包括2个晶体管和1个存储电容(2T1C)，该像素电路10包括驱动晶体管M2、开关晶体管M1，由2个晶体管M1、M2、一个存储电容C1构成，驱动晶体管M2的源极和漏极分别与第二电源电压信号端PVDD、发光元件20的阳极连接；发光元件20的阴极与第一电源电压信号端PVEE连接；存储电容C1的两端分别与第二电源电压信号端PVDD和驱动晶体管M2的栅极连接，开关晶体管M1的栅极用于连接扫描线，开关晶体管M1的源极和漏极分别与驱动晶体管M2的栅极和数据电压信号Vdata，其中，发光元件20的发光电流Id＝k(Vgs-|Vth|)²，Vgs为驱动晶体管M2栅极g与源极s之间的压差，Vth为驱动晶体管M2的阈值电压，k表示驱动晶体管M2的本征导电因子，由驱动晶体管M2本身特性决定。由图6提供的像素驱动电路10的结构可知，Vdata控制图6中N1节点的电位，从而决定驱动晶体管M2的源极和漏极间流通的电流即发光元件20的发光电流Id＝k(Vpvdd-Vdata)²，进而决定发光元件20的亮度，而在像素驱动电路10中的Vdata不变的情况下，若发光电流Id出现异常，则反映到发光亮度上出现异常。因此本实施例的检测发光电流的方式可以较好的反映发光亮度的情况，即通过比对发光电流可以较精准的体现出发光亮度正常与否，有利于提升检测精度。

需要说明的是，本实施例的图1中仅以一个框图示意像素驱动电路，图6中以像素驱动电路10为2T1C的电路结构为例进行示例性说明，包括但不局限于此结构，具体实施时，像素驱动电路10还可以为其他结构，本实施例不作具体限定。

需要进一步说明是，本实施例的图1仅是示例性画出显示面板000的结构，包括但不局限于上述结构，还可以包括其他能够实现显示效果的结构，具体实施时，可参考相关技术中显示面板的结构进行理解，本实施例在此不作赘述。

可选的，本实施例的依次点亮每一个像素驱动电路行组10H对应的发光元件20，监测每一个像素驱动电路行组10H的发光元件20的第一发光电流I1；依次点亮每一个像素驱动电路列组10L对应的发光元件20，监测每一个像素驱动电路列组10L的发光元件20的第二发光电流I2的检测方法，对于电流检测设备的测量速率要求较低，即当电流检测设备的测量速率较低时，可以在检测过程中依次先点亮一个像素驱动电路行组10H对应的发光元件20，然后通过电流检测设备监测该像素驱动电路行组10H的发光元件20的第一发光电流I1，再点亮下一个像素驱动电路行组10H对应的发光元件20，然后通过电流检测设备监测该像素驱动电路行组10H的发光元件20的第一发光电流I1，如此依次检测。或者在本实施例的检测方法使用时，若采用的电流检测设备的测量速率较低，可以适当降低显示面板000的扫描帧的频率，从而适用该电流检测设备的低测量速率，保证检测精度。

可选的，如图6所示，本实施例提供的像素驱动电路10包括第一电源电压信号端PVEE，第一电源电压信号端PVEE为发光元件20提供第一电源电压信号Vpvee；

发光电流的监测端与第一电源电压信号端PVEE连接。

本实施例解释说明了发光元件20的发光电流Id即为驱动晶体管M3的源极和漏极间流通的电流，也即第一电源电压信号端PVEE的电流，因此本实施例将发光电流的监测端与第一电源电压信号端PVEE连接，可以避免增加电流检测设备的发光电流的监测端连接至像素驱动电路10的复杂度，有利于检测电路的简洁化。

可以理解的是，本实施例中的第二电源电压信号端PVDD用于为像素驱动电路10提供第二电源电压信号Vpvdd，和发光元件20本身没有直接关系，而第一电源电压信号端PVEE提供的第一电源电压信号Vpvee是直接提供至发光元件20的一极，将发光电流的监测端与第一电源电压信号端PVEE连接，可以更好的通过发光电流的监测端监测出发光元件20的发光电流，以达到更好的检测效果。

可选的，本实施例中的电流检测设备可以为电流计或示波器中的任一种，即第一电源电压信号端PVEE连接的发光电流的监测端连接有电流计或示波器中的任一种。需要说明的是，为了提高检测精度，发光电流的监测端连接的电流计或示波器可以为精度高的电流计或者示波器都可以，本实施例对于电流检测设备是数字式或模拟式不作具体限定，具体实施时，可根据实际需求选择设置。

在一些可选实施例中，请结合参考图1、图2、图4-图6、图7，图7是本发明实施例提供的检测方法的另一种流程框图，本实施例中的检测方法包括：

依次点亮每一个像素驱动电路行组10H对应的发光元件20，监测每一个像素驱动电路行组10H的发光元件20的第一发光电流I1；

依次点亮每一个像素驱动电路列组10L对应的发光元件20，监测每一个像素驱动电路列组10L的发光元件20的第二发光电流I2；

通过比对每一个第一发光电流I1和第二发光电流I2，判断显示面板000中的发光元件20是否存在显示坏点。其中，判断显示面板000中的发光元件20是否存在显示坏点的具体方法包括：

将监测到的每一个第一发光电流I1均与预设第一发光电流I₀1比对，且将监测到的每一个第二发光电流I2均与预设第二发光电流I₀2比对；

若监测到的第i个像素驱动电路行组10H的第一发光电流I1i与预设第一发光电流I₀1不同，则定位显示面板000的第i个像素驱动电路行组10H存在显示坏点；

若监测到的第j个像素驱动电路列组10L的第二发光电流I2j与预设第二发光电流I₀2不同，则定位显示面板000的第j个像素驱动电路列组10L存在显示坏点；

从而获得显示坏点的区域坐标[i,j]，即第i个像素驱动电路行组10H与第j个像素驱动电路列组10L交叉限定出的区域。其中，i和j为正整数。

本实施例解释说明了步骤S03中通过比对每一个第一发光电流I1和第二发光电流I2，判断显示面板000中的发光元件20是否存在显示坏点的具体方法包括：

S031：将监测到的每一个第一发光电流I1均与预设第一发光电流I₀1(第一发光电流I1的标准值)比对，可选的，预设第一发光电流I₀1可以通过电流检测设备对标准的已检测合格的显示面板000进行检测得到，可以多次检测标准的已检测合格的显示面板000中每一个像素驱动电路行组10H的发光元件20的发光电流，取平均值，即可得到预设第一发光电流I₀1；如图4中除了第一发光电流I12、I13以外的其他第一发光电流都可以理解为与预设第一发光电流I₀1基本相同或完全相同。

而将监测到的每一个第二发光电流I2均与预设第二发光电流I₀2(第二发光电流I2的标准值)比对，可选的，预设第二发光电流I₀2可以通过电流检测设备对标准的已检测合格的显示面板000进行检测得到，可以多次检测标准的已检测合格的显示面板000中每一个像素驱动电路列组10L的发光元件20的发光电流，取平均值，即可得到预设第二发光电流I₀2；如图5中除了第二发光电流I22、I23以外的其他第二发光电流都可以理解为与预设第二发光电流I₀2基本相同或完全相同。

S032：若监测到的第i个像素驱动电路行组10H的第一发光电流I1i与预设第一发光电流I₀1不同，可选的，监测到的第i个像素驱动电路行组10H的第一发光电流I1i可能大于预设第一发光电流I₀1，也可能小于预设第一发光电流I₀1，且无论监测到的第i个像素驱动电路行组10H的第一发光电流I1i与预设第一发光电流I₀1的大小关系如何，只需满足监测到的第i个像素驱动电路行组10H的第一发光电流I1i与预设第一发光电流I₀1不同，则可以定位显示面板000的第i个像素驱动电路行组10H存在显示坏点；其中监测到的第i个像素驱动电路行组10H的第一发光电流I1i与预设第一发光电流I₀1不同可以理解为两者相差较大，且远远超出测量误差允许范围内的差异。

S033：若监测到的第j个像素驱动电路列组10L的第二发光电流I2j与预设第二发光电流I₀2不同，可选的，监测到的第j个像素驱动电路列组10L的第二发光电流I2j可能大于预设第二发光电流I₀2，也可能小于预设第二发光电流I₀2，且无论监测到的第j个像素驱动电路列组10L的第二发光电流I2j与预设第二发光电流I₀2的大小关系如何，只需满足监测到的第j个像素驱动电路列组10L的第二发光电流I2j与预设第二发光电流I₀2不同，则可以定位显示面板000的第j个像素驱动电路列组10L存在显示坏点；其中监测到的第j个像素驱动电路列组10L的第二发光电流I2j与预设第二发光电流I₀2不同可以理解为两者相差较大，且远远超出测量误差允许范围内的差异。

S034：从而可以获得显示面板000中显示坏点的区域坐标为[i,j]，即第i个像素驱动电路行组10H与第j个像素驱动电路列组10L交叉限定出的区域；如图2中示意的一个显示坏点1所在的区域坐标即为[2,2]，另一个显示坏点2所在的区域坐标即为[3,4]。

本实施例的上述判断显示面板000中的发光元件20是否存在显示坏点的方法，可以提升检测效率的同时，通过电流比对的方法可以较精准的体现出发光亮度正常与否，进而有利于提升检测精度。

在一些可选实施例中，请结合参考图8-图10，图8是本发明实施例提供的待检测显示面板的另一种平面结构示意图，图9是本发明实施例提供的另一种检测方法的原理图，图10是本发明实施例提供的检测方法的另一种流程框图，本实施例中，m个像素驱动电路行10H0为一个像素驱动电路行组10H，n个像素驱动电路列10L0为一个像素驱动电路列组10L；其中，m＝1，n＝1，即一个像素驱动电路行10H0为一个像素驱动电路行组10H，一个像素驱动电路列10L0为一个像素驱动电路列组10L；

检测方法包括：

依次点亮每一个像素驱动电路行10H0对应的发光元件20，监测每一个像素驱动电路行10H0的发光元件20的第一发光电流I1；

依次点亮每一个像素驱动电路列10L0对应的发光元件20，监测每一个像素驱动电路列10L0的发光元件20的第二发光电流I2；

通过比对每一个第一发光电流I1和第二发光电流I2，判断显示面板000中的发光元件20是否存在显示坏点：

将监测到的每一个第一发光电流I1均与预设第一发光电流I₀1比对，且将监测到的每一个第二发光电流I2均与预设第二发光电流I₀2比对；

若监测到的第i个像素驱动电路行10H0的第一发光电流I1i与预设第一发光电流I₀1不同，则定位显示面板000的第i个像素驱动电路行10H0存在显示坏点；

若监测到的第j个像素驱动电路列10L0的第二发光电流I2j与预设第二发光电流I₀2不同，则定位显示面板000的第j个像素驱动电路列10L0存在显示坏点；

从而获得显示坏点的区域坐标[i,j]即为显示坏点的坐标。

本实施例解释说明了当m个像素驱动电路行10H0为一个像素驱动电路行组10H，n个像素驱动电路列10L0为一个像素驱动电路列组10L中，m＝1，n＝1，即一个像素驱动电路行10H0为一个像素驱动电路行组10H，一个像素驱动电路列10L0为一个像素驱动电路列组10L时，检测方法的采用阵列扫描点亮的方式是一个一个像素驱动电路行10H0依次点亮，一个一个像素驱动电路列10L0依次点亮，则具体的检测方法包括：

S11：依次点亮每一个像素驱动电路行10H0对应的发光元件20，监测每一个像素驱动电路行10H0的发光元件20的第一发光电流I1，即沿第二方向Y点亮每一个像素驱动电路行10H0，通过电流检测设备(如电流计或示波器等)监测依次点亮的每一个像素驱动电路行10H0的发光元件20的第一发光电流I1，如通过电流检测设备监测到的结果为：沿第二方向Y，第一个像素驱动电路行10H0的发光元件20的第一发光电流为I11、第二个像素驱动电路行10H0的发光元件20的第一发光电流为I12、第三个像素驱动电路行10H0的发光元件20的第一发光电流为I13……若显示面板000沿第二方向Y一共包括k个像素驱动电路行10H0，则依次得到每一个像素驱动电路行10H0的发光元件20的第一发光电流I1为I11、I12、I13……I1k；

S12：依次点亮每一个像素驱动电路列10L0对应的发光元件20，监测每一个像素驱动电路列10L0的发光元件20的第二发光电流I2，即沿第一方向X点亮每一个像素驱动电路列10L0，通过电流检测设备(如电流计或示波器等)监测依次点亮的每一个像素驱动电路列10L0的发光元件20的第二发光电流I2，如通过电流检测设备监测到的结果为：沿第一方向X，第一个像素驱动电路列10L0的发光元件20的第二发光电流为I21、第二个像素驱动电路列10L0的发光元件20的第二发光电流为I22、第三个像素驱动电路列10L0的发光元件20的第二发光电流为I23……若显示面板000沿第一方向X一共包括p个像素驱动电路列10L0，则依次得到每一个像素驱动电路列10L0的发光元件20的第二发光电流I2为I21、I22、I23……I2p。

S13：通过比对每一个第一发光电流I1(I11、I12、I13……I1k)和每一个第二发光电流I2(I21、I22、I23……I2p)，判断显示面板000中的发光元件20是否存在显示坏点，若比对每一个第一发光电流I1(I11、I12、I13……I1k)时，发现其中某一个像素驱动电路行10H0的发光元件20的第一发光电流为I1异常，可选的，电流值异常可以理解为该像素驱动电路行10H0的发光元件20的第一发光电流为I1与其他像素驱动电路行10H0的发光元件20的第一发光电流为I1不同；或者，电流值异常还可以理解为某一个像素驱动电路行10H0的发光元件20的第一发光电流为I1与标准电流值不同，则说明该像素驱动电路行10H0的发光元件20中存在显示坏点。同理，若比对每一个第二发光电流I2(I21、I22、I23……I2p)时，发现其中某一个像素驱动电路列10L0的发光元件20的第二发光电流为I2异常，可选的，电流值异常可以理解为该像素驱动电路列10L0的发光元件20的第二发光电流为I2与其他像素驱动电路列10L0的发光元件20的第二发光电流为I2不同，或者，电流值异常还可以理解为某一个像素驱动电路列10L0的发光元件20的第二发光电流为I2与标准电流值不同，则说明该像素驱动电路列10L0的发光元件20中存在显示坏点。其中，通过比对每一个第一发光电流I1(I11、I12、I13……I1k)和每一个第二发光电流I2(I21、I22、I23……I2p)，判断显示面板000中的发光元件20是否存在显示坏点，具体为：

S131：将监测到的每一个第一发光电流I1均与预设第一发光电流I₀1比对，且将监测到的每一个第二发光电流I2均与预设第二发光电流I₀2比对；

S132：若监测到的第i个像素驱动电路行10H0的第一发光电流I1i与预设第一发光电流I₀1不同，则可以定位显示面板000的第i个像素驱动电路行10H0存在显示坏点；

S133：若监测到的第j个像素驱动电路列10L0的第二发光电流I2j与预设第二发光电流I₀2不同，则可以定位显示面板000的第j个像素驱动电路列10L0存在显示坏点；

S134：从而可以获得显示面板000中显示坏点所在的区域坐标[i,j]即为显示坏点的坐标，即第i个像素驱动电路行10H0与第j个像素驱动电路列10L0交叉限定出的位置；如图9中示意的一个显示坏点1的坐标即为[2,2]，另一个显示坏点2的坐标即为[3,4]。

本实施例通过上述检测方法，假设待检测的显示面板000不存在显示坏点，则最快在一帧时间后即可得到检测结果，即最少一帧时间后，通过比对每一个第一发光电流I1(I11、I12、I13……I1k)和每一个第二发光电流I2(I21、I22、I23……I2p)，若未发现电流异常，则判断显示面板000中的发光元件20不存在显示坏点。其中，一帧时间指的是把显示面板000中所有的像素驱动电路行扫描完一次所需的时间。可选的，为了进一步提高检测精度，还可以增加检测采样的时间，如在多帧扫描时间后，仍然未发现电流异常，则可以更加精准的判断显示面板000中的发光元件20不存在显示坏点。假设待检测的显示面板000存在显示坏点，则通过比对每一个第一发光电流I1(I11、I12、I13……I1k)后，即可判断显示坏点所在的像素驱动电路行10H0，然后通过比对每一个第二发光电流I2(I21、I22、I23……I2p)即可得到显示坏点所在的像素驱动电路列10L0，进而可以通过显示坏点所在的像素驱动电路行10H0和像素驱动电路列10L0交叉组合，较快的得到显示坏点所在坐标(以像素驱动电路行10H0和像素驱动电路列10L0为单元)。

本实施例的上述判断显示面板000中的发光元件20是否存在显示坏点的方法，可以较快判断出显示面板000是否存在显示坏点以及显示坏点所在的位置，不仅检测效率高，且通过电流比对的方法可以较精准的体现出发光亮度正常与否，进而有利于提升检测精度。

可选的，本实施例中的检测方法采用的电流检测设备的测量速率较高时，可以点亮整个显示面板000，在点亮显示面板000的同时，通过测量速率较高的电流检测设备依次监测每一个像素驱动电路行10H0的发光元件20的第一发光电流I1，将监测到的每一个第一发光电流I1均与预设第一发光电流I₀1比对，且监测每一个像素驱动电路列10L0的发光元件20的第二发光电流I2，将监测到的每一个第二发光电流I2均与预设第二发光电流I₀2比对，如此依次检测电流，获得显示面板000中显示坏点的坐标位置，从而可以节省点亮显示面板000的时间，继而有利于减小检测时间。

可选的，请继续结合参考图4和图5、图8-图10，本实施例提供的检测方法中，若监测到的第i个像素驱动电路行组10H(由于m＝1，则表示一个像素驱动电路行10H0为一个像素驱动电路行组10H)的第一发光电流I1大于预设第一发光电流I₀1，和/或监测到的第j个像素驱动电路列组10L(由于n＝1，则表示一个像素驱动电路列10L0为一个像素驱动电路列组10L)的第二发光电流I2大于预设第二发光电流I₀2，则显示坏点为亮点；

若监测到的第i个像素驱动电路行组10H(由于m＝1，则表示一个像素驱动电路行10H0为一个像素驱动电路行组10H)的第一发光电流I1小于预设第一发光电流I₀1，和/或监测到的第j个像素驱动电路列组10L(由于n＝1，则表示一个像素驱动电路列10L0为一个像素驱动电路列组10L)的第二发光电流I2小于预设第二发光电流I₀2，则显示坏点为暗点。

本实施例进一步解释说明了在确定待检测显示面板000中的显示坏点的坐标位置之后，还可以通过分析异常电流值的大小，得到显示坏点的性质是暗点还是亮点，分析方法可以为：在m＝1，即一个像素驱动电路行10H0为一个像素驱动电路行组10H，n＝1，即一个像素驱动电路列10L0为一个像素驱动电路列组10L时，若监测到的第i个像素驱动电路行10H0的第一发光电流I1大于预设第一发光电流I₀1，和/或监测到的第j个像素驱动电路列10L0的第二发光电流I2大于预设第二发光电流I₀2，则显示坏点为亮点。本实施例通过分析比对异常电流值与预设标准电流值的大小关系，从而可以准确的得到显示面板000中显示坏点的类型，检测方式简单快捷，且检测准确率较高。

如图11和图12所示，图11是本发明实施例提供的检测方法检测出的每一个像素驱动电路行组10H的第一发光电流I1的另一种示意图(以波形表示)，图12是本发明实施例提供的检测方法检测出的每一个像素驱动电路列组10L的第二发光电流I2的另一种示意图(以波形表示)，结合图9、图11和图12可知，坏点1和坏点2出现的像素驱动电路行10H0、像素驱动电路列10L0的位置如图9中所示，且由于坏点1对应的第一发光电流I1大于预设第一发光电流I₀1，坏点1对应的第二发光电流I2大于预设第二发光电流I₀2，则确认此两个坏点1和坏点2的坏点类型为亮点。

如图4和图5所示，结合图9、图4和图5可知，坏点1和坏点2出现的像素驱动电路行10H0、像素驱动电路列10L0的位置如图9中所示，且由于坏点1对应的第一发光电流I1小于预设第一发光电流I₀1，坏点1对应的第二发光电流I2小于预设第二发光电流I₀2，则确认此两个坏点1和坏点2的坏点类型为暗点。

如图13和图14所示，图13是本发明实施例提供的检测方法检测出的每一个像素驱动电路行组10H的第一发光电流I1的另一种示意图(以波形表示)，图14是本发明实施例提供的检测方法检测出的每一个像素驱动电路列组10L的第二发光电流I2的另一种示意图(以波形表示)，结合图9、图13和图14可知，坏点1和坏点2出现的像素驱动电路行10H0、像素驱动电路列10L0的位置如图9中所示，且由于坏点1对应的第一发光电流I1大于预设第一发光电流I₀1，坏点1对应的第二发光电流I2小于预设第二发光电流I₀2，则确认此两个坏点1的坏点类型为亮点，坏点2的坏点类型为暗点。

在一些可选实施例中，请结合参考图1-图7、图15、图16，图15是图2中坏点1区域的局部放大图，图16是本发明实施例提供的检测方法的另一种流程框图，本实施例中，m个像素驱动电路行10H0为一个像素驱动电路行组10H，n个像素驱动电路列10L0为一个像素驱动电路列组10L；其中，m≥2，n≥2，即两个或两个以上的像素驱动电路行10H0为一个像素驱动电路行组10H，两个或两个以上的像素驱动电路列10L0为一个像素驱动电路列组10L；此时检测方法包括：

S21：依次点亮每一个像素驱动电路行组10H对应的发光元件20，监测每一个像素驱动电路行组10H的发光元件20的第一发光电流I1；

S22：依次点亮每一个像素驱动电路列组10L对应的发光元件20，监测每一个像素驱动电路列组10L的发光元件20的第二发光电流I2；

S23：通过比对每一个第一发光电流I1和第二发光电流I2，判断显示面板000中的发光元件20是否存在显示坏点。

S231：将监测到的每一个第一发光电流I1均与预设第一发光电流I₀1比对，且将监测到的每一个第二发光电流I2均与预设第二发光电流I₀2比对；

S232：若监测到的第i个像素驱动电路行组10H的第一发光电流I1i与预设第一发光电流I₀1不同，则定位显示面板000的第i个像素驱动电路行组10H存在显示坏点；

S233：若监测到的第j个像素驱动电路列组10L的第二发光电流I2j与预设第二发光电流I₀2不同，则定位显示面板000的第j个像素驱动电路列组10L存在显示坏点；

S234：从而获得显示坏点的区域坐标[i,j]，即第i个像素驱动电路行组10H与第j个像素驱动电路列组10L交叉限定出的区域。其中，i和j为正整数。

S24：根据显示坏点的区域坐标[i,j]；

沿第二方向Y依次点亮第i个像素驱动电路行组10H中的每行发光元件20，监测第i个像素驱动电路行组10H中每行发光元件20的第一子发光电流I1-1；

S25：沿第一方向X依次点亮第j个像素驱动电路列组10L中的每列发光元件20，监测第j个像素驱动电路列组10L中每列发光元件20的第二子发光电流I2-1；

S26：通过比对每一个第一子发光电流I1-1和第二子发光电流I2-1，在显示坏点的区域坐标[i,j]中确定显示坏点的坐标。

本实施例解释说明了当一个像素驱动电路行组10H包括两个或两个以上的像素驱动电路行10H0，一个像素驱动电路列组10L包括两个或两个以上的像素驱动电路列10L0时，本实施例的显示面板000的检测方法在通过比对每一个第一发光电流I1和第二发光电流I2，判断显示面板000中的发光元件20是否存在显示坏点以及显示坏点的区域坐标为[i,j]后，还可以通过单独点亮显示坏点的所在区域的所有像素驱动电路行10H0和像素驱动电路列10L0进行进一步的检测，以确定显示坏点的具体坐标位置。可以理解的是，本实施例对于如何判断显示面板000中的发光元件20是否存在显示坏点以及如何确定显示坏点的区域坐标为[i,j]的具体过程不作赘述，具体可参考上述实施例的检测方法。本实施例主要解释说明如何在确定了显示坏点的区域坐标为[i,j]后，进一步的检测以确定显示坏点的具体坐标位置的检测方法可以为：根据显示坏点的区域坐标[i,j]，沿第二方向Y依次点亮第i个像素驱动电路行组10H中的每行发光元件20，监测第i个像素驱动电路行组10H中每行发光元件20的第一子发光电流I1-1；沿第一方向X依次点亮第j个像素驱动电路列组10L中的每列发光元件20，监测第j个像素驱动电路列组10L中每列发光元件20的第二子发光电流I2-1；通过比对每一个第一子发光电流I1-1和第二子发光电流I2-1，在显示坏点的区域坐标[i,j]中确定显示坏点的坐标。

本实施例通过采用阵列扫描点亮显示坏点所在的区域内的各个像素驱动电路行和像素驱动电路列的方式，单独点亮待检测显示面板000中已确定的显示坏点的所在区域，通过电流检测设备监测该显示坏点所在区域内的每一个像素驱动电路行10H0工作期间发光元件20的第一子发光电流I1-1，如通过电流检测设备监测到的结果为：沿第二方向Y，显示坏点的区域坐标[i,j]中，第一个像素驱动电路行10H0的发光元件20的第一子发光电流为I1-11、第二个像素驱动电路行10H0的发光元件20的第一子发光电流为I1-12、第三个像素驱动电路行10H0的发光元件20的第一发光电流为I1-13……若显示坏点的区域坐标[i,j]中沿第二方向Y一共包括r个像素驱动电路行10H0，则依次得到每一个像素驱动电路行10H0的发光元件20的第一子发光电流I1-1为I1-11、I1-12、I1-13……I1-1r；当某一个或某几个第一子发光电流I1-1出现异常时，如图17所示，图17是本发明实施例提供的检测方法检测出的显示坏点1所在区域内的每一个像素驱动电路行10H0的第一子发光电流I1-1的示意图(以波形表示)，结合图15和图17可知，坏点1出现的像素驱动电路行10H0的位置如图17中所示，则确认此像素驱动电路行10H0出现显示坏点；观察出现显示坏点1的像素驱动电路行10H0的电流，点亮显示坏点1所在区域内的每一个像素驱动电路列10L0的发光元件20，通过电流检测设备监测每一个像素驱动电路列10L0工作期间发光元件20的第二子发光电流I2-1，如通过电流检测设备监测到的结果为：沿第一方向X，显示坏点的区域坐标[i,j]中，第一个像素驱动电路列10L0的发光元件20的第二子发光电流I2-11、第二个像素驱动电路列10L0的发光元件20的第二子发光电流I2-12、第三个像素驱动电路列10L0的发光元件20的第二子发光电流I2-13……若显示坏点的区域坐标[i,j]中沿第一方向X一共包括s个像素驱动电路列10L0，则依次得到每一个像素驱动电路列10L0的发光元件20的第一子发光电流I2-1为I2-11、I2-12、I2-13……I2-1s；当第二子发光电流I2-1出现异常时，如图18所示，图18是本发明实施例提供的检测方法检测出的显示坏点1所在区域内的每一个像素驱动电路列10L0的第二子发光电流I2-1的示意图(以波形表示)，结合图15和图18可知，坏点1出现的像素驱动电路列10L0的位置如图17中所示，从而得到坏点1在该区域坐标[i,j]内的第2个像素驱动电路行10H0的第3个像素驱动电路列10L0相交的位置。

本实施例的上述检测方法，通过在判断显示面板000中的发光元件20是否存在显示坏点以及显示坏点的区域坐标为[i,j]后，再单独点亮显示坏点的所在区域的所有像素驱动电路行10H0和像素驱动电路列10L0进行进一步的检测，以确定显示坏点的具体坐标位置，在不添置昂贵检测设备的前提下，极大提升检测效率，较快判断出显示坏点所在的具***置，不仅检测效率高，且通过电流比对的方法可以较精准的体现出发光亮度正常与否，进而有利于提升检测精度。

可以理解的是，本实施例的电流值异常可以理解为该像素驱动电路行10H0的发光元件20的第一子发光电流为I1-1与其他像素驱动电路行10H0的发光元件20的第一子发光电流为I1-1不同；或者，电流值异常还可以理解为某一个像素驱动电路行10H0的发光元件20的第一子发光电流为I1-1与标准电流值(可通过预先对标准显示面板测量得到)不同，则说明该像素驱动电路行10H0的发光元件20中存在显示坏点，本实施例不作具体限定。

在一些可选实施例中，请继续结合参考图1-图7、图15-图18和图19，图19是本发明实施例提供的检测方法的另一种流程框图，本实施例中，在显示坏点的区域坐标[i,j]中确定显示坏点的坐标的方法包括：

将监测到的每一个第一子发光电流I1-1均与预设第一子发光电流I₀1-1比对，且将监测到的每一个第二子发光电流I2-1均与预设第二子发光电流I₀2-1比对；

若监测到的第a行发光元件20的第一子发光电流I1-1a与预设第一子发光电流I₀1-1不同，则定位显示面板的第a行发光元件20存在显示坏点，其中第a行发光元件20对应的像素驱动电路10位于第i个像素驱动电路行组10H中；

若监测到的第b列发光元件20的第二子发光电流I2-1b与预设第二子发光电流I₀2-1不同，则定位显示面板的第b列发光元件20存在显示坏点，其中第b列发光元件20对应的像素驱动电路10位于第j个像素驱动电路列组10L中；

从而获得显示坏点的坐标[a,b]。

本实施例解释说明了步骤S26中通过比对每一个第一子发光电流I1-1和第二子发光电流I2-1，在显示坏点的区域坐标[i,j]中确定显示坏点的坐标的具体方法包括：

S261：将监测到的每一个第一子发光电流I1-1均与预设第一子发光电流I₀1-1(第一子发光电流I1-1的标准值)比对，可选的，预设第一子发光电流I₀1-1可以通过电流检测设备对标准的已检测合格的显示面板000进行检测得到，可以多次检测标准的已检测合格的显示面板000中显示坏点的区域坐标[i,j]中的每一个像素驱动电路行10H0的发光元件20的发光电流，取平均值，即可得到预设第一子发光电流I₀1-1，进一步可选的，预设第一发光电流I₀1与预设第一子发光电流I₀1-1可以相同，均表示标准的已检测合格的显示面板000中发光元件20的标准电流值；如图17中除了第一子发光电流I1-12以外的其他第一子发光电流都可以理解为与预设第一子发光电流I₀1-1基本相同或完全相同。

且将监测到的每一个第二子发光电流I2-1均与预设第二子发光电流I₀2-1(第二子发光电流I2-1的标准值)比对，可选的，预设第二子发光电流I₀2-1可以通过电流检测设备对标准的已检测合格的显示面板000进行检测得到，可以多次检测标准的已检测合格的显示面板000中显示坏点的区域坐标[i,j]中的每一个像素驱动电路列10L0的发光元件20的发光电流，取平均值，即可得到预设第二子发光电流I₀2-1，进一步可选的，预设第二发光电流I₀2与预设第二子发光电流I₀2-1可以相同，均表示标准的已检测合格的显示面板000中发光元件20的标准电流值；如图18中除了第二子发光电流I2-13以外的其他第二子发光电流都可以理解为与预设第二子发光电流I₀2-1基本相同或完全相同。

S262：若监测到的第a行发光元件20的第一子发光电流I1-1a与预设第一子发光电流I₀1-1不同，可选的，监测到的第a行发光元件20的第一子发光电流I1-1a可能大于预设第一子发光电流I₀1-1，也可能小于预设第一子发光电流I₀1-1，且无论监测到的第a行发光元件20的第一子发光电流I1-1a与预设第一子发光电流I₀1-1的大小关系如何，只需满足监测到的第a行发光元件20的第一子发光电流I1-1a与预设第一子发光电流I₀1-1不同，则可以定位显示面板的第a行发光元件20存在显示坏点，且该第a行发光元件20对应的像素驱动电路10位于第i个像素驱动电路行组10H中；其中监测到的第a行发光元件20的第一子发光电流I1-1与预设第一子发光电流I₀1-1不同可以理解为两者相差较大，且远远超出测量误差允许范围内的差异。

S263：若监测到的第b列发光元件20的第二子发光电流I2-1b与预设第二子发光电流I₀2-1不同，可选的，监测到的第b列发光元件20的第二子发光电流I2-1b可能大于预设第二子发光电流I₀2-1，也可能小于预设第二子发光电流I₀2-1，且无论监测到的第b列发光元件20的第二子发光电流I2-1b与预设第二子发光电流I₀2-1的大小关系如何，只需满足监测到的第b列发光元件20的第二子发光电流I2-1b与预设第二子发光电流I₀2-1不同，则可以定位显示面板的第b列发光元件20存在显示坏点，其中第b列发光元件20对应的像素驱动电路10位于第j个像素驱动电路列组10L中；其中监测到的第b列发光元件20的第二子发光电流I2-1b与预设第二子发光电流I₀2-1不同可以理解为两者相差较大，且远远超出测量误差允许范围内的差异。

S264：从而获得显示坏点的坐标[a,b]，即显示坏点的区域坐标[i,j]中第a个像素驱动电路行10H0与第b个像素驱动电路列10L0交叉限位置，如图15中示意的一个显示坏点1所在的位置坐标即为显示坏点区域坐标[i,j]中的[2,3]。

本实施例的上述确定显示面板000中的发光元件20的显示坏点位置的方法，可以提升检测效率的同时，通过电流比对的方法可以较精准确定出显示坏点的具***置，进而有利于提升检测精度。

可选的，请继续结合参考图1-图7、图15-图18和图19，本实施例中，若监测到的第a行发光元件20的第一子发光电流I1-1a大于预设第一子发光电流I₀1-1，和/或监测到的第b列发光元件20的第二子发光电流I2-1b大于预设第二子发光电流I₀2-1，则显示坏点为亮点；

若监测到的第a行发光元件20的第一子发光电流I1-1a小于预设第一子发光电流I₀1-1，和/或监测到的第b列发光元件20的第二子发光电流I2-1b小于预设第二子发光电流I₀2-1，则显示坏点为暗点。

本实施例进一步解释说明了在确定待检测显示面板000中的显示坏点的位置之后，还可以通过分析异常电流值的大小，得到显示坏点的性质是暗点还是亮点，分析方法可以为：若监测到显示坏点的区域坐标[i,j]中的第a个像素驱动电路行10H0的第一子发光电流I1-1a大于预设第一子发光电流I₀1-1，和/或监测到的第b个像素驱动电路列10L0的第二子发光电流I2-1b大于预设第二子发光电流I₀2-1，则显示坏点为亮点。若监测到显示坏点的区域坐标[i,j]中的第a行发光元件20的第一子发光电流I1-1a小于预设第一子发光电流I₀1-1，和/或监测到的第b列发光元件20的第二子发光电流I2-1b小于预设第二子发光电流I₀2-1，则显示坏点为暗点，如图15和图17、图18所示，坏点1的第一子发光电流I1-12小于预设第一子发光电流I₀1-1，坏点1的第二子发光电流I2-13小于预设第二子发光电流I₀2-1，则可以确定坏点1的类型为暗点。本实施例通过分析比对异常电流值与预设标准电流值的大小关系，从而可以准确的得到显示面板000中显示坏点的类型，检测方式简单快捷，且检测准确率较高。

在一些可选实施例中，请参考图20，图20是本发明实施例提供的另一种检测方法对应的显示面板的划分结构图，本实施例中的检测方法，还可以在将待检测显示面板000划分为多个区域块BL的基础上，各个区域块BL点亮，通过电流检测设备对每个不同区域块BL内发光元件20的发光电流进行检测，可选的，检测的一个区域块BL内发光元件20的发光电流为该区域内各个发光元件20的发光电流的总和，然后对求和后的电流监测结果进行坏点判定，若检测到的某一个或某几个区域块BL的电流值与其他区域块BL的电流值不同，或者检测到的某一个或某几个区域块BL的电流值与标准电流值不同，则确定该区域块BL内存在显示坏点；然后可以通过在该显示坏点所在区域块BL内单独点亮更小的区块，或者点亮该显示坏点所在区域块BL内单个像素驱动电路的发光元件，进行显示坏点的具体定位，本实施例对于如何比对电流值以及如何确定坏点类型的过程不作赘述，具体可参考上述实施例中的比对方式。本实施例采用将待检测显示面板000进行区域块划分并进行电流值的检测分析的检测方法，可以快速收敛到显示坏点所在位置，有利于进一步压缩检测时间，提高检测效率。

在一些可选实施例中，请参考图21，图21是本发明实施例提供的另一种检测方法对应的显示面板的划分结构图，本实施例中，待检测的显示面板000包括：多个阵列排布的像素驱动电路10，显示面板000还包括多个发光元件20，发光元件20与像素驱动电路10对应并电连接；其中，多个沿第一方向X依次排列的像素驱动电路10形成像素驱动电路行10H0，多个像素驱动电路行10H0沿第二方向Y依次排列，多个沿第二方向Y依次排列的像素驱动电路10形成像素驱动电路列10L0，多个像素驱动电路列10L0沿第一方向X依次排列，第一方向X和第二方向Y相交；

m个像素驱动电路行10H0为一个像素驱动电路行组10H，n个像素驱动电路列10L0为一个像素驱动电路列组10L；其中，m和n均为正整数；

并且沿第一方向X，显示面板000包括中间区001和位于中间区001相对两侧的边缘区002；中间区001的一个像素驱动电路列组10L包括n1列像素驱动电路10，边缘区002的一个像素驱动电路列组10L包括n2列像素驱动电路10，其中n1＜n2。

本实施例解释说明了n个像素驱动电路列10L0为一个像素驱动电路列组10L时，位于显示面板000在第一方向X上的中间区001的一个像素驱动电路列组10L包括n1列像素驱动电路10，而位于显示面板000在第一方向X上的边缘区002的一个像素驱动电路列组10L包括n2列像素驱动电路10，n1＜n2，如图21中示意的n1＝2，n2＝4，即中间区001的一个像素驱动电路列组10L包括的像素驱动电路列10L0数量较少，边缘区002的一个像素驱动电路列组10L包括的像素驱动电路列10L0数量较多。由于显示面板行业内针对显示坏点的评判标准与显示面板000的显示区域有关，所以可以通过控制在检测过程中点亮一个像素驱动电路列组10L时的像素驱动电路列10L0的列数来进行疏密不同的测量，具体为在显示面板000的中心显示区域即中间区001采用较为密集的检测，也就是每次点亮的像素驱动电路列组10L较细，而在显示面板000的边缘显示区域即边缘区002采用较为稀疏的检测，也就是每次点亮的像素驱动电路列组10L较粗，从而可以在一定程度上压缩检测时间的同时，还可以尽可能保证检测精度。

可以理解的是，本技术领域中针对中心显示区域和边缘显示区域的显示坏点个数卡控可能不同，所以可以根据实际情况改变检测过程中采样的像素驱动电路列组10L的包括的像素驱动电路列10L0的列数，本实施例对于中间区001和边缘区002的具体涵盖面积不作具体限定，实际使用时可权衡产品的规格需求和效率确定中间区001和边缘区002，本实施例在此不作限定。

可选的，如图22所示，图22是本发明实施例提供的另一种检测方法对应的显示面板的划分结构图，本实施例中，沿第一方向X，显示面板000包括中间区001和位于中间区001相对两侧的边缘区002；中间区001的一个像素驱动电路列组10L包括n1列像素驱动电路10，边缘区002的一个像素驱动电路列组10L包括n2列像素驱动电路10，其中n1＜n2，n1＝1。

本实施例进一步解释说明了n个像素驱动电路列10L0为一个像素驱动电路列组10L时，位于显示面板000在第一方向X上的中间区001的一个像素驱动电路列组10L包括1列像素驱动电路10，而位于显示面板000在第一方向X上的边缘区002的一个像素驱动电路列组10L包括n2列像素驱动电路10，n2为大于1的正整数，如图22中，n1＝1，n2＝4，即中间区001的一个像素驱动电路列组10L仅包括一个像素驱动电路列10L0，边缘区002的一个像素驱动电路列组10L包括两个或两个以上的像素驱动电路列10L0。由于显示面板行业内针对显示坏点的评判标准与显示面板000的显示区域有关，所以可以通过控制在检测过程中点亮一个像素驱动电路列组10L时的像素驱动电路列10L0的列数来进行疏密不同的测量，具体为在显示面板000的中心显示区域即中间区001采用较为密集的一列一列的点亮检测，而在显示面板000的边缘显示区域即边缘区002采用较为稀疏的检测，也就是每次点亮的像素驱动电路列组10L较粗包括的像素驱动电路列10L0的数量较多，从而可以在一定程度上压缩检测时间的同时，还可以尽可能保证中间区001的检测精度，保证检测后的显示面板000的中间显示区域具有较好的显示效果，提高用户满意度。

在一些可选实施例中，请继续结合参考图1-图22，本实施例中提供的待检测的显示面板000中发光元件20的最大发光亮度为A尼特，待检测的显示面板000中发光元件的最小发光亮度为B尼特，那么在本实施例的检测方法实施的过程即点亮发光元件20进行电流监测的过程中，点亮的发光元件20的亮度范围为

本实施例解释说明了在检测显示坏点的过程中，点亮的发光元件20的发光亮度可以在发光元件20自身的最大发光亮度A尼特和最小发光亮度B尼特之间，可选的点亮的发光元件20的亮度范围为进一步可选的，点亮的发光元件20的亮度可以大约等于/>由于显示面板000在对显示亮度分级的时候，针对亮点和暗点的容忍度不同，因此设置检测坏点时发光元件20的亮度位于其最大发光亮度和最小发光亮度的中间部分，即若检测时，显示坏点对应的发光元件20的发光电流大于预设标准电流，则体现出该发光元件20的发光亮度明显大于C，则可以判定该显示坏点为亮点；若检测时，显示坏点对应的发光元件20的发光电流小于预设标准电流，则体现出该发光元件20的发光亮度明显小于C，则可以判定该显示坏点为暗点。可选的，还可以采用灰阶表示发光元件20的发光亮度，如8bit的显示面板(可以分辨2的8次方的灰阶的显示面板)中发光灰阶的最大值是255灰阶，最小是0灰阶，则检测时发光元件20采用的灰阶可以为127灰阶，相当于0-255灰阶之间的最中间值，这样检测的时候，如果是127灰阶对应的电流就是标准电流值，如果检测到的显示坏点的电流相比于标准电流值过大，那该坏点就是亮点坏点，如果检测到的显示坏点的电流相比于标准电流值过小，那该坏点就是暗点坏点。本实施例通过将检测时的发光元件20的发光亮度设置在发光元件20自身的最大发光亮度A尼特和最小发光亮度B尼特之间的中间区域，可以更好的区别处坏点的类型，有利于提高显示面板的检测精度和检测效果。

在一些可选实施例中，请继续结合参考图1-图22，本实施例中设置显示面板000的检测方法的采样时间大于或等于一帧时间。

本实施例解释说明了提供的检测方法的采样时间可以大于或等于一帧时间，假设待检测的显示面板000不存在显示坏点，则最快在扫描一帧时间后即可得到检测结果，即最少扫描一帧时间后，通过比对每一个第一发光电流I1(I11、I12、I13……I1k)和每一个第二发光电流I2(I21、I22、I23……I2p)，若未发现电流异常，则判断显示面板000中的发光元件20不存在显示坏点。其中，一帧时间指的是把显示面板000中所有的像素驱动电路行扫描完一次所需的时间。可选的，为了进一步提高检测精度，还可以增加检测采样的时间，如在扫描了多帧时间后，仍然未发现电流异常，则可以更加精准的判断显示面板000中的发光元件20不存在显示坏点。或者假设待检测的显示面板000存在显示坏点，也可以扫描了多帧时间后通过比对每一个第一发光电流I1(I11、I12、I13……I1k)和每一个第二发光电流I2(I21、I22、I23……I2p)，更加准确的确定显示面板000中存在显示坏点以及显示坏点的所在区域或所在位置，从而可以避免仅采样一帧时间电流数据不稳定造成的检测误差，有利于更好的提高检测精度。

在一些可选实施例中，请参考图23，图23是本发明实施例提供的待检测显示面板的另一种平面结构示意图，本实施例提供的显示面板000采用上述实施例中的检测方法进行显示坏点检测；

显示面板000包括显示区AA和围绕显示区AA设置的非显示区NA，非显示区NA包括绑定区BA；

发光元件20的发光电流的监测端test位于绑定区BA。

本实施例解释说明了一般待检测的显示面板000包括显示区AA和围绕显示区AA设置的非显示区NA，非显示区NA包括绑定区BA，绑定区BA用于绑定驱动芯片和/或柔性电路板，由于绑定区BA不用设置像素驱动电路10和发光元件20，且具有较大的空间设置发光电流的监测端test，因此与电流检测设备(如电流计A)连接的发光元件20的发光电流的监测端test可以设置于绑定区BA，可以在不影响显示效果的同时还可以实现坏点的检测效果。

可选的，请参考图24，图24是本发明实施例提供的待检测显示面板的另一种平面结构示意图，显示面板000的非显示区NA还可以包括在第一方向X上位于显示区AA相对两侧的第一非显示区NA1和第二非显示区NA2，第一非显示区NA1和第二非显示区NA2可以用于设置与像素驱动电路10连接的扫描驱动电路。本实施例的与电流检测设备连接的发光元件20的发光电流的监测端test可以设置于第一非显示区NA1或第二非显示区NA2内，从而可以减小发光电流的监测端test(检测点)与发光元件20(被检测对象)之间的连接距离，进而可以减小引入发光电流的监测端test造成的内阻，可以进一步降低检测误差，提高检测精准度。

需要说明的是，本实施例对于与电流检测设备连接的发光元件20的发光电流的监测端test的设置位置不作具体限定，具体实施时，可根据显示面板000的实际空间和检测要求设置，仅需满足不影响显示面板本身的显示效果和检测效果即可。

通过上述实施例可知，本发明提供的显示面板的检测方法、显示面板，至少实现了如下的有益效果：

本发明通过采用阵列扫描点亮的方式，正常点亮待检测显示面板，通过电流检测设备监测每一个像素驱动电路行组工作期间发光元件的第一发光电流，当某一个或某几个第一发光电流出现异常时，则确认此像素驱动电路行组或此几个像素驱动电路行组出现显示坏点；观察出现显示坏点的像素驱动电路行组的电流，通过点亮不同像素驱动电路列组的发光元件，通过电流检测设备监测每一个像素驱动电路列组工作期间发光元件的第二发光电流，当第二发光电流出现异常时，则确认此像素驱动电路列组或此几个像素驱动电路列组出现显示坏点，二者组合即可得到显示坏点所在的以行组和列组为单元的区域坐标。本发明的上述检测方法，通过待检测显示面板本身扫描点亮发光元件的方式，在不添置昂贵检测设备的前提下，极大提升检测效率，较快判断出显示面板是否存在显示坏点，不仅检测效率高，而且有利于提升检测精度。

虽然已经通过例子对本发明的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上例子仅是为了进行说明，而不是为了限制本发明的范围。本领域的技术人员应该理解，可在不脱离本发明的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改。本发明的范围由所附权利要求来限定。

Claims (10)

1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，所述显示面板包括：多个阵列排布的像素驱动电路，所述显示面板还包括多个发光元件，所述发光元件与所述像素驱动电路对应并电连接；其中，多个沿第一方向依次排列的所述像素驱动电路形成像素驱动电路行，多个所述像素驱动电路行沿第二方向依次排列，多个沿所述第二方向依次排列的所述像素驱动电路形成像素驱动电路列，多个所述像素驱动电路列沿所述第一方向依次排列，所述第一方向和所述第二方向相交；

m个所述像素驱动电路行为一个像素驱动电路行组，n个所述像素驱动电路列为一个像素驱动电路列组；其中，m和n均为正整数；

所述检测方法包括：

依次点亮每一个所述像素驱动电路行组对应的所述发光元件，监测每一个所述像素驱动电路行组的所述发光元件的第一发光电流；

依次点亮每一个所述像素驱动电路列组对应的所述发光元件，监测每一个所述像素驱动电路列组的所述发光元件的第二发光电流；

通过比对每一个所述第一发光电流和所述第二发光电流，判断所述显示面板中的所述发光元件是否存在显示坏点；

判断所述显示面板中的所述发光元件是否存在显示坏点，包括：

将监测到的每一个所述第一发光电流均与预设第一发光电流比对，

且将监测到的每一个所述第二发光电流均与预设第二发光电流比对；

若监测到的第i个所述像素驱动电路行组的所述第一发光电流与所述预设第一发光电流不同，则定位所述显示面板的第i个所述像素驱动电路行组存在显示坏点；

若监测到的第j个所述像素驱动电路列组的所述第二发光电流与所述预设第二发光电流不同，则定位所述显示面板的第j个所述像素驱动电路列组存在显示坏点；

从而获得显示坏点的区域坐标[i,j]；

m≥2，n≥2，所述检测方法还包括：

根据所述显示坏点的区域坐标[i,j]；

沿所述第二方向依次点亮第i个所述像素驱动电路行组中的每行发光元件，监测第i个所述像素驱动电路行组中每行所述发光元件的第一子发光电流；

沿所述第一方向依次点亮第j个所述像素驱动电路列组中的每列发光元件，监测第j个所述像素驱动电路列组中每列所述发光元件的第二子发光电流；

通过比对每一个所述第一子发光电流和所述第二子发光电流，在所述显示坏点的区域坐标[i,j]中确定显示坏点的坐标。

2.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，在所述显示坏点的区域坐标[i,j]中确定显示坏点的坐标的方法包括：

将监测到的每一个所述第一子发光电流均与预设第一子发光电流比对，

且将监测到的每一个所述第二子发光电流均与预设第二子发光电流比对；

若监测到的第a行所述发光元件的所述第一子发光电流与所述预设第一子发光电流不同，则定位所述显示面板的第a行所述发光元件存在显示坏点，其中第a行所述发光元件对应的像素驱动电路位于第i个所述像素驱动电路行组中；

若监测到的第b列所述发光元件的所述第二子发光电流与所述预设第二子发光电流不同，则定位所述显示面板的第b列所述发光元件存在显示坏点，其中第b列所述发光元件对应的像素驱动电路位于第j个所述像素驱动电路列组中；

从而获得显示坏点的坐标[a,b]。

3.根据权利要求2所述的显示面板的检测方法，其特征在于，

若监测到的第a行所述发光元件的所述第一子发光电流大于所述预设第一子发光电流，和/或监测到的第b列所述发光元件的所述第二子发光电流大于所述预设第二子发光电流，则所述显示坏点为亮点；

若监测到的第a行所述发光元件的所述第一子发光电流小于所述预设第一子发光电流，和/或监测到的第b列所述发光元件的所述第二子发光电流小于所述预设第二子发光电流，则所述显示坏点为暗点。

4.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，沿所述第一方向，所述显示面板包括中间区和位于所述中间区相对两侧的边缘区；

所述中间区的一个所述像素驱动电路列组包括n1列像素驱动电路，所述边缘区的一个所述像素驱动电路列组包括n2列像素驱动电路，其中n1＜n2。

5.根据权利要求4所述的显示面板的检测方法，其特征在于，n1＝1。

6.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述显示面板中所述发光元件的最大发光亮度为A尼特，所述显示面板中所述发光元件的最小发光亮度为B尼特，监测过程中点亮的所述发光元件的亮度范围为C，

7.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述像素驱动电路包括第一电源电压信号端，所述第一电源电压信号端为所述发光元件提供第一电源电压信号；

所述发光电流的监测端与所述第一电源电压信号端连接。

8.根据权利要求7所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述发光电流的监测端连接有电流计或示波器中的任一种。

9.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述检测方法的采样时间大于或等于一帧时间。

10.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板采用权利要求1-8任一项所述的检测方法进行显示坏点检测；

所述显示面板包括显示区和围绕所述显示区设置的非显示区，所述非显示区包括绑定区；

所述发光元件的发光电流的监测端位于所述绑定区。