CN113625158A - 功率放大器芯片测试***及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开功率放大器芯片测试***及测试方法，包括箱体以及固定在箱体内部的隔板，所述隔板将箱体的内部空间隔开形成两个测试腔，所述测试腔的底部固定有放置台，所述放置台的顶端放置有芯片，所述箱体的顶部两侧固定连接有挡板，所述挡板的上方设置有用于封挡测试腔而隔绝外部干扰的第一箱盖机构与第二箱盖机构，通过在箱体的顶部两侧固定设置挡板，挡板的上方设置两个结构相同且对称放置的第一箱盖机构与第二箱盖机构，通过挡板对第一箱盖机构与第二箱盖机构进行限位，进而封挡测试腔而隔绝外部对芯片在测试时的干扰，另外，在打开第一旋转盖和第二旋转盖的同时可通过限位组件带动芯片翻转，进而便于芯片的取出与放置。

Description

功率放大器芯片测试***及测试方法

技术领域

本发明属于芯片测试相关技术领域，具体涉及功率放大器芯片测试***及测试方法。

背景技术

在芯片制造业，当芯片出厂前需要通过性能测试检测出芯片缺陷，从而区分芯片好坏。

申请号为CN202020579208.4公布了一种自动化芯片测试装置，它包括沿长度方向设置有滑槽的测试机体以及配设在所述滑槽上与滑槽活动连接的芯片安装座；其中测试机体沿竖直方向开设导通所述滑槽的上料口和检测口，在所述检测口的上端配设上芯片测试座；其中所述的芯片安装座与行程气缸的推杆连接，在芯片安装座的上端设置下芯片测试座，所述的下芯片测试座具有容置待测芯片、并对待测芯片周向固定的放置口，当所述上芯片测试座与下芯片测试座盖合时，所述的上芯片测试座用于对所述待测芯片测试。

上述文件提出的技术方案存在以下问题：在检测过程中待测芯片朝外，在外界干扰下，易对测试造成一定影响，另外，芯片的取出与放置不够自动化，便捷性差，对芯片具有一定夹持力，易损坏芯片。

发明内容

本发明的目的在于提供功率放大器芯片测试***及测试方法，以解决上述背景技术中提出的外界干扰、不便取放与夹持易损坏芯片的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：功率放大器芯片测试***，包括箱体以及固定在箱体内部的隔板，所述隔板将箱体的内部空间隔开形成两个测试腔，所述测试腔的底部固定有放置台，所述放置台的顶端放置有芯片，所述箱体的顶部两侧固定连接有挡板，所述挡板的上方设置有用于封挡测试腔而隔绝外部干扰的第一箱盖机构与第二箱盖机构，所述第一箱盖机构与第二箱盖机构的两侧设置有内压机构，所述隔板的一侧设有用于驱使内压机构运动而使第一箱盖机构与第二箱盖机构向内收折的驱动机构，所述第一箱盖机构与第二箱盖机构上均设置有用于在收折时包夹在芯片两侧的限位组件，所述第一箱盖机构与第二箱盖机构的两端设置有用于带动芯片向一侧运动的横移机构，且在运动过程中使限位组件带动芯片向外旋转而脱离测试腔，所述第一箱盖机构与第二箱盖机构运动至层叠状态后限位组件自锁。

优选的，所述第一箱盖机构与第二箱盖机构结构相同且左右对称放置，所述第一箱盖机构与第二箱盖机构均包括第一旋转盖与第二旋转盖，所述第一旋转盖与第二旋转盖铰接，所述第一旋转盖与第二旋转盖的外端角处均设有斜坡，所述第一旋转盖与第二旋转盖的外端部均固定连接有两个固定板。

优选的，所述内压机构包括连接板，所述连接板的一端固定连接有U形板，所述U形板的内侧壁上固定连接有第二电机，所述第二电机的输出轴与推板的一端固定连接，所述推板的另一端与U形板转动连接。

优选的，所述驱动机构包括两个滑座，所述隔板中开设有通槽，两个所述滑座固定在通槽两侧箱体的外壁上，所述箱体一侧的滑座内侧壁上固定连接有第一电机，所述第一电机的输出轴固定连接有双向螺纹杆，所述双向螺纹杆与连接板螺纹连接，所述连接板与滑座滑动连接。

优选的，所述限位组件包括固定杆，所述第一旋转盖与第二旋转盖的底部均开设有凹槽，所述凹槽的内侧壁转动连接有固定杆，所述固定杆的一端固定连接有限位板。

优选的，所述固定板的外端开设有活动槽，所述活动槽中活动嵌设有滚珠。

优选的，所述横移机构包括转动板，所述转动板与固定板转动连接，所述固定板的底端固定连接有第三电机，所述第三电机的输出轴与转动板固定连接，所述转动板的底端安装有电动滚轮。

芯片的测试方法，包括以下步骤：

步骤一：将待测试的芯片放置在测试腔中的放置台上，测试腔顶部由第一箱盖机构与第二箱盖机构进行封挡后，对放置台上的芯片进行测试；

步骤二：测试结束后，通过驱动机构驱使下，使两侧的内压机构同步向内侧运动，进而挤压第一箱盖机构或第二箱盖机构，使第一箱盖机构或第二箱盖机构向内收折的同时由两侧的限位组件包夹在下方芯片的两侧；

步骤三：由横移机构带动第一箱盖机构或第二箱盖机构向对侧运动，在运动的过程中，由于受到隔板的阻挡，使得限位组件带动芯片向外旋转而脱离测试腔；

步骤四：第一箱盖机构或第二箱盖机构运动至层叠状态时，通过横移机构自锁，取出芯片。

与现有芯片测试技术相比，本发明提供了功率放大器芯片测试***及测试方法，具备以下有益效果：

1、本发明通过在箱体的顶部两侧固定设置挡板，挡板的上方设置两个结构相同且对称放置的第一箱盖机构与第二箱盖机构，通过挡板对第一箱盖机构与第二箱盖机构进行限位，进而封挡测试腔而隔绝外部对芯片在测试时的干扰，另外，在打开第一旋转盖和第二旋转盖的同时可通过限位组件带动芯片翻转，进而便于芯片的取出与放置；

2、本发明通过内压机构挤压第一旋转盖和第二旋转盖，而使第一旋转盖和第二旋转盖依铰接点而转动到一定角度，而使固定板与箱体的顶面相平行时，滚珠与推板的内侧滚动接触，可减少摩擦力，并且两个限位板位于芯片的两侧，并不对芯片有向内的夹持力，进而可保护芯片，避免在将芯片翻转时造成挤压损坏；

3、本发明通过横移机构上的第三电机带动转动板和电动滚轮旋转度后关闭，对第一旋转盖和第二旋转盖进行锁紧固定，避免第一旋转盖和第二旋转盖出现前后移动，通过开启第三电机反转度，可使电动滚轮取消前后方向上的锁定，方便第一旋转盖和第二旋转盖的横移。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制，在附图中：

图1为本发明提出的芯片测试装置第一状态整体结构示意图；

图2为本发明提出的芯片测试装置侧视剖面结构示意图；

图3为本发明提出的芯片测试装置左侧正视剖面结构示意图；

图4为本发明提出的芯片测试装置右侧正视剖面结构示意图；

图5为本发明提出的推板结构示意图；

图6为本发明提出的第一旋转盖与第二旋转盖俯视结构示意图；

图7为本发明提出的第一旋转盖与第二旋转盖仰视结构示意图；

图8为本发明提出的固定板剖面结构示意图；

图9为本发明提出的芯片测试装置第二状态剖面结构示意图；

图10为本发明提出的芯片测试装置第三状态整体结构示意图；

图中：1、箱体；2、隔板；3、放置台；4、芯片；5、通槽；6、滑座；7、第一电机；8、双向螺纹杆；9、连接板；10、U形板；11、推板；12、第二电机；13、第一箱盖机构；14、第二箱盖机构；15、第一旋转盖；16、第二旋转盖；17、斜坡；18、固定板；19、滚珠；20、第三电机；21、转动板；22、电动滚轮；23、凹槽；24、固定杆；25、限位板；26、挡板。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-10，本发明提供一种技术方案：功率放大器芯片测试***，包括箱体1以及固定在箱体1内部的隔板2。隔板2将箱体1的内部空间隔开形成两个测试腔，测试腔的底部固定有放置台3，放置台3的顶端放置有芯片4，箱体1的顶部两侧固定连接有挡板26。挡板26的位置如图1、图3与图4所示，挡板26的上方设置有用于封挡测试腔而隔绝外部干扰的第一箱盖机构13与第二箱盖机构14，第一箱盖机构13与第二箱盖机构14结构相同且左右对称放置，第一箱盖机构13与第二箱盖机构14均包括第一旋转盖15与第二旋转盖16，第一旋转盖15与第二旋转盖16铰接，第一旋转盖15和第二旋转盖16的铰接处及两者形状如图7所示，第一旋转盖15与第二旋转盖16的外端角处均设有斜坡17，当第一箱盖机构13与第二箱盖机构14向对方的方向水平运动时，通过斜坡17可使第一箱盖机构13与第二箱盖机构14彼此叠加，从而可将测试腔打开，第一旋转盖15与第二旋转盖16的外端部均固定连接有两个固定板18，固定板18的外端开设有活动槽，活动槽中活动嵌设有滚珠19，减少摩擦力，方便第一旋转盖15或第二旋转盖16的水平运动。

需要注意的是，第一箱盖机构13与第二箱盖机构14的两侧设置有内压机构，内压机构包括连接板9，连接板9的一端固定连接有U形板10，U形板10的内侧壁上固定连接有第二电机12，第二电机12的输出轴与推板11的一端固定连接，推板11的另一端与U形板10转动连接，推板11的形状如图5所示，推板11可受到第二电机12的驱动作用，由第二电机12输出轴带动推板11进行180度旋转，进而在向内侧运动的过程中可对应挤压第一旋转盖15或第二旋转盖16。

值得了解的是，隔板2的一侧设有用于驱使内压机构运动而使第一箱盖机构13与第二箱盖机构14向内收折的驱动机构，驱动机构包括两个滑座6，隔板2中开设有通槽5，两个滑座6固定在通槽5两侧箱体1的外壁上，箱体1一侧的滑座6内侧壁上固定连接有第一电机7，第一电机7的输出轴固定连接有双向螺纹杆8，双向螺纹杆8与连接板9螺纹连接，连接板9与滑座6滑动连接，在当第一电机7的输出轴带动双向螺纹杆8转动时，通过双向螺纹杆8与连接板9螺纹关系，同时在连接板9与滑座6滑动限位下，两侧的使得连接板9同步向内侧运动。

需要留意的是，第一箱盖机构13与第二箱盖机构14上均设置有用于在收折时包夹在芯片4两侧的限位组件，限位组件包括固定杆24，第一旋转盖15与第二旋转盖16的底部均开设有凹槽23，凹槽23的内侧壁转动连接有固定杆24，固定杆24的一端固定连接有限位板25，限位板25的形状如图7所示，当第一箱盖机构13与第二箱盖机构14向内收折后，能够带动下方的限位组件向内侧靠拢，直至限位组件的限位板25包夹在芯片4两侧，进而在当第一箱盖机构13与第二箱盖机构14水平运动时，可由限位板25带着芯片4同步运动。

值得关注的是，第一箱盖机构13与第二箱盖机构14的两端设置有用于带动芯片4向一侧运动的横移机构，其中横移机构包括转动板21，转动板21与固定板18转动连接，固定板18的底端固定连接有第三电机20，第三电机20的输出轴与转动板21固定连接，转动板21的底端安装有电动滚轮22，且在运动过程中使限位组件带动芯片4向外旋转而脱离测试腔，第一箱盖机构13与第二箱盖机构14运动至层叠状态后限位组件自锁，在当第一箱盖机构13与第二箱盖机构14水平运动时，由限位板25带着芯片4同步运动，在此过程中，由于受到隔板2的阻挡，使得限位组件带动芯片4向外旋转。

芯片的测试方法，包括以下步骤：

步骤一：将待测试的芯片4放置在测试腔中的放置台3上，测试腔顶部由第一箱盖机构13与第二箱盖机构14进行封挡后，对放置台3上的芯片4进行测试；

步骤二：测试结束后，通过驱动机构驱使下，使两侧的内压机构同步向内侧运动，进而挤压第一箱盖机构13或第二箱盖机构14，使第一箱盖机构13或第二箱盖机构14向内收折的同时由两侧的限位组件包夹在下方芯片4的两侧；

步骤三：由横移机构带动第一箱盖机构13或第二箱盖机构14向对侧运动，在运动的过程中，由于受到隔板2的阻挡，使得限位组件带动芯片4向外旋转而脱离测试腔；

步骤四：第一箱盖机构13或第二箱盖机构14运动至层叠状态时，通过横移机构自锁，取出芯片4。

本发明的工作原理及使用流程如下：如图1-图8所示，该装置处于初始状态。该状态下电动滚轮22受挡板26的阻挡，进而避免第一旋转盖15和第二旋转盖16出现滑动，偏离下方的测试腔。

在第一箱盖机构13下方的测试腔内的芯片4测试完毕时，启动第一电机7，第一电机7通过输出轴带动双向螺纹杆8旋转，进而带动两个连接板9向内侧移动，两个连接板9通过U形板10带动两个推板11向内侧移动。两个推板11分别推动第一旋转盖15和第二旋转盖16两侧的固定板18向内侧移动，使第一旋转盖15和第二旋转盖16通过铰接轴进行旋转，并且通过电动滚轮22在箱体1的顶端向内侧移动，同时第一旋转盖15和第二旋转盖16通过固定杆24带动限位板25运动，在第一旋转盖15和第二旋转盖16旋转到一定角度时，关闭第一电机7，此时装置保持第二状态如图9所示，图中固定板18与箱体1的顶面相平行，滚珠19与推板11的内侧滚动接触，并且两个限位板25位于芯片4的两侧，并不是夹紧，只是将芯片4包围住，没有接触。

然后启动第三电机20带动转动板21和电动滚轮22旋转90度后关闭，然后启动电动滚轮22带动第一旋转盖15和第二旋转盖16向第二箱盖机构14的方向移动，通过第二箱盖机构14上的斜坡17可使第一箱盖机构13移动到第二箱盖机构14的顶端，在这个移动的过程中，第一旋转盖15和第二旋转盖16会带动固定杆24一同移动，但固定杆24在移动时会受隔板2的阻挡，因此固定杆24会绕着自身与第一旋转盖15和第二旋转盖16的铰接轴旋转，进而通过限位板25带动芯片4旋转，在第一旋转盖15和第二旋转盖16移动到一定距离时，关闭电动滚轮22，此时的状态如图10所示。图中的第一箱盖机构13中的第一旋转盖15和第二旋转盖16位于第二箱盖机构14中的第一旋转盖15和第二旋转盖16的顶端，并且芯片4从测试腔中旋转出来。此时装置保持第三状态如图10所示，启动第三电机20带动转动板21和电动滚轮22旋转90度后关闭，避免第一旋转盖15和第二旋转盖16出现前后移动，然后将芯片4取出，再将下一个待检测的芯片4放在该位置处（两个限位板25之间），再启动第三电机20带动转动板21和电动滚轮22旋转90度后关闭，使电动滚轮22取消前后方向上的锁定。反向操作，使装置恢复到初始状态，芯片4也会随之放置在放置台3上。

如需要取出第二箱盖机构14下方的测试腔内的芯片4时，需事先启动第二电机12，第二电机12通过输出轴带动推板11旋转180度后停止。其它操作与上述原理相同。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (8)

1.功率放大器芯片测试***，包括箱体（1）以及固定在箱体（1）内部的隔板（2），所述隔板（2）将箱体（1）的内部空间隔开形成两个测试腔，所述测试腔的底部固定有放置台（3），所述放置台（3）的顶端放置有芯片（4），其特征在于：所述箱体（1）的顶部两侧固定连接有挡板（26），所述挡板（26）的上方设置有用于封挡测试腔而隔绝外部干扰的第一箱盖机构（13）与第二箱盖机构（14），所述第一箱盖机构（13）与第二箱盖机构（14）的两侧设置有内压机构，所述隔板（2）的一侧设有用于驱使内压机构运动而使第一箱盖机构（13）与第二箱盖机构（14）向内收折的驱动机构，所述第一箱盖机构（13）与第二箱盖机构（14）上均设置有用于在收折时包夹在芯片（4）两侧的限位组件，所述第一箱盖机构（13）与第二箱盖机构（14）的两端设置有用于带动芯片（4）向一侧运动的横移机构，且在运动过程中使限位组件带动芯片（4）向外旋转而脱离测试腔，所述第一箱盖机构（13）与第二箱盖机构（14）运动至层叠状态后限位组件自锁。

2.根据权利要求1所述的功率放大器芯片测试***，其特征在于：所述第一箱盖机构（13）与第二箱盖机构（14）结构相同且左右对称放置，所述第一箱盖机构（13）与第二箱盖机构（14）均包括第一旋转盖（15）与第二旋转盖（16），所述第一旋转盖（15）与第二旋转盖（16）铰接，所述第一旋转盖（15）与第二旋转盖（16）的外端角处均设有斜坡（17），所述第一旋转盖（15）与第二旋转盖（16）的外端部均固定连接有两个固定板（18）。

3.根据权利要求1所述的功率放大器芯片测试***，其特征在于：所述内压机构包括连接板（9），所述连接板（9）的一端固定连接有U形板（10），所述U形板（10）的内侧壁上固定连接有第二电机（12），所述第二电机（12）的输出轴与推板（11）的一端固定连接，所述推板（11）的另一端与U形板（10）转动连接。

4.根据权利要求3所述的功率放大器芯片测试***，其特征在于：所述驱动机构包括两个滑座（6），所述隔板（2）中开设有通槽（5），两个所述滑座（6）固定在通槽（5）两侧箱体（1）的外壁上，所述箱体（1）一侧的滑座（6）内侧壁上固定连接有第一电机（7），所述第一电机（7）的输出轴固定连接有双向螺纹杆（8），所述双向螺纹杆（8）与连接板（9）螺纹连接，所述连接板（9）与滑座（6）滑动连接。

5.根据权利要求2所述的功率放大器芯片测试***，其特征在于：所述限位组件包括固定杆（24），所述第一旋转盖（15）与第二旋转盖（16）的底部均开设有凹槽（23），所述凹槽（23）的内侧壁转动连接有固定杆（24），所述固定杆（24）的一端固定连接有限位板（25）。

6.根据权利要求2所述的功率放大器芯片测试***，其特征在于：所述固定板（18）的外端开设有活动槽，所述活动槽中活动嵌设有滚珠（19）。

7.根据权利要求2所述的功率放大器芯片测试***，其特征在于：所述横移机构包括转动板（21），所述转动板（21）与固定板（18）转动连接，所述固定板（18）的底端固定连接有第三电机（20），所述第三电机（20）的输出轴与转动板（21）固定连接，所述转动板（21）的底端安装有电动滚轮（22）。

8.功率放大器芯片的测试方法，使用权利要求1中所述的功率放大器芯片测试***，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一，将待测试的芯片（4）放置在测试腔中的放置台（3）上，测试腔顶部由第一箱盖机构（13）与第二箱盖机构（14）进行封挡后，对放置台（3）上的芯片（4）进行测试；

步骤二，测试结束后，通过驱动机构驱使下，使两侧的内压机构同步向内侧运动，进而挤压第一箱盖机构（13）或第二箱盖机构（14），使第一箱盖机构（13）或第二箱盖机构（14）向内收折的同时由两侧的限位组件包夹在下方芯片（4）的两侧；

步骤三，由横移机构带动第一箱盖机构（13）或第二箱盖机构（14）向对侧运动，在运动的过程中，由于受到隔板（2）的阻挡，使得限位组件带动芯片（4）向外旋转而脱离测试腔；

步骤四，第一箱盖机构（13）或第二箱盖机构（14）运动至层叠状态时，通过横移机构自锁，取出芯片（4）。

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