CN113572468A - 一种双输入信号同步检测电路 - Google Patents
一种双输入信号同步检测电路 Download PDFInfo
- Publication number
- CN113572468A CN113572468A CN202110780358.0A CN202110780358A CN113572468A CN 113572468 A CN113572468 A CN 113572468A CN 202110780358 A CN202110780358 A CN 202110780358A CN 113572468 A CN113572468 A CN 113572468A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- signal
- input
- output
- module
- pin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 91
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 title claims abstract description 22
- 102100036285 25-hydroxyvitamin D-1 alpha hydroxylase, mitochondrial Human genes 0.000 claims abstract description 22
- 101000875403 Homo sapiens 25-hydroxyvitamin D-1 alpha hydroxylase, mitochondrial Proteins 0.000 claims abstract description 22
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 12
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 9
- 101100489713 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) GND1 gene Proteins 0.000 claims description 8
- 101100489717 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) GND2 gene Proteins 0.000 claims description 7
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 claims 8
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 9
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 8
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 6
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 4
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 4
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 238000005034 decoration Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000012163 sequencing technique Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0175—Coupling arrangements; Interface arrangements
- H03K19/017509—Interface arrangements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
本发明公开了一种双输入信号同步检测电路,包括信号输入模块;信号输入模块的输入端IN1和输入端IN2,分别连接外部电子电路的第一检测信号输出端和第二检测信号输出端;信号输入模块的电源输入端VDD1,连接第一电源模块的电源输出端;信号输入模块的输出端Z1,连接信号输出模块的输入端1;信号输入模块的输出端,连接信号输出模块的输入端2;信号输入模块的输出端Z3,连接信号输出模块的输入端3;信号输出模块的电源输入端VDD2,连接第二电源模块的电源输出端;信号输出模块的输出端OUT,与检测芯片的一个输入输出端口相连接;本发明通过一个输出端口即可表征两个输入信号的四种组合状态,节约了宝贵的检测芯片硬件资源。
Description
技术领域
本发明涉及电子电路技术领域,特别是涉及一种双输入信号同步检测电路。
背景技术
目前,电子电路的输入信号通常包括多路信号,对于每路输入信号都有独立的信号检测电路。每个信号检测电路都具备一个信号输出端口,用于给检测芯片输出信号,该输出信号通常只有高电平和低电平两种状态。
当输入信号数量较多,而使得输出信号数量相应增多时,会造成检测芯片的输入输出端口资源紧张,甚至端口资源不足。
因此,迫切地需要开发一种技术,能够让现有的检测芯片(如单片机),在现有端口资源下,能够同时检测更多数量的输入信号。
发明内容
本发明的目的是针对现有技术存在的技术缺陷,提供一种双输入信号同步检测电路。
为此,本发明提供了一种双输入信号同步检测电路,其包括信号输入模块、信号输出模块、第一电源模块、第二电源模块和检测芯片,其中:
信号输入模块的输入端IN1,连接外部电子电路的第一检测信号输出端,用于接收外部电子电路提供的输入信号S1;
信号输入模块的输入端IN2,连接外部电子电路的第二检测信号输出端,用于接收外部电子电路提供的输入信号S2;
信号输入模块的电源输入端VDD1,连接第一电源模块的电源输出端,用于接收直流电源VDD1;
信号输入模块的输出端Z1,连接信号输出模块的输入端1,用于通过调节输出端Z1的状态,来控制所述信号输出模块的输入端1是否有电流流过;
信号输入模块的输出端Z2,连接信号输出模块的输入端2,用于通过调节输出端Z2的状态,来控制所述信号输出模块的检测输出信号OUT的状态变化;
信号输入模块的输出端Z3,连接信号输出模块的输入端3,用于通过调节输出端Z3的状态,来控制所述信号输出模块的第一输入端是否有电流流过;
信号输出模块的电源输入端VDD2,连接第二电源模块的电源输出端,用于接收直流电源VDD2;
信号输出模块的输出端OUT,与检测芯片的一个输入输出端口相连接,用于为检测芯片提供检测输出信号OUT;
该检测输出信号OUT具有四种状态:高电平A1、低电平A2、高电平B1和低电平B2。
优选地,检测芯片,用于预先存储并设置四种不同状态的检测输出信号OUT与两个输入信号S1和S2具有的不同状态组合之间的对应关系,并根据当前接收到的检测输出信号OUT的状态,对应判断检测两个输入信号S1和S2的状态。
优选地,按其电压幅值排序:低电平B2<低电平A2<高电平B1<高电平A1。
优选地,信号输入模块包括:电阻R1~R6、电阻R14~R15、稳压管D1、开关管Q1~Q2和光耦Q6~Q7,其中:
电阻R1的第1管脚,作为信号输入模块的输入端IN1,与外部电子电路的第一检测信号输出端相连接,用于接收外部电子电路提供的输入信号S1;
电阻R1的第2管脚,分别连接电阻R2的第1管脚和开关管Q1的栅极G;
电阻R2和电阻R14的第2管脚,分别连接接地端GND1,该接地端GND1是第一电源模块电源输出的负极端;
开关管Q1的源极S,连接接地端GND1;
开关管Q1的漏极D,分别连接光耦Q6的第2管脚;
光耦Q6的第1管脚,分别连接电阻R5的第2管脚和电阻R14的第1管脚;
光耦Q6的第3管脚,作为信号输入模块的输出端Z1,连接信号输出模块中电阻R7的第1管脚;
光耦Q6的第4管脚,作为信号输入模块的输出端Z2,连接信号输出模块中电阻R12的第1管脚;
光耦Q6的第4管脚,还连接稳压管D1的阴极;
稳压管D1的阳极,作为信号输入模块的输出端Z3,连接信号输出模块中电阻R12的第2管脚;
稳压管D1的阳极,还连接光耦Q7的第3管脚;
光耦Q7的第4管脚,连接接地端GND2,该GND2是第二电源模块电源输出端的负极端;
光耦Q7的第1管脚,分别连接电阻R6的第2管脚和电阻R15的第1管脚;
光耦Q7的第2管脚,连接开关管Q2的漏极D;
开关管Q2的源极S,连接接地端GND1;
开关管Q2的栅极G,分别连接电阻R4的第1管脚和电阻R3的第2管脚;
电阻R4和电阻R15的第2管脚,分别连接接地端GND1;
电阻R3的第1管脚,作为信号输入模块的输入端IN2,与外部电子电路的第二检测信号输出端相连接,用于接收外部电子电路提供的输入信号S2;
电阻R6和电阻R5的第1管脚,作为信号输入模块的电源输入端VDD1,连接第一电源模块的电源输出端,用于接收直流电源VDD1。
优选地,所述信号输出模块包括:电阻R7~R13、电容C1和开关管Q3~Q5,其中:
电阻R13的第2管脚,作为信号输出模块的电源输入端VDD2,连接第二电源模块的电源输出端,用于接收直流电源VDD2;
电阻R13的第2管脚,还分别连接开关管Q3的发射极E和电阻R10的第1管脚;
电阻R13的第1管脚,作为信号输出模块的输入端1,连接信号输入模块的输出端Z1;
电阻R13的第1管脚,还连接电阻R7的第1管脚;
电阻R7的第2管脚,连接开关管Q3的集电极C;
开关管Q3的基极B,连接电阻R9的第1管脚;
电阻R9的第2管脚,连接Z4端;
Z4端,还分别连接电阻R10的第2管脚、开关管Q5的漏极D和开关管Q4的源极S;
开关管Q5的栅极G,作为信号输出模块的输入端2,连接信号输入模块的输出端Z2,用于接收由信号输入模块的输出端Z2端所输入的电压和电流;
开关管Q5的栅极G,还分别连接电阻R11和电阻R12的第1管脚;
开关管Q5的源极S,作为信号输出模块的输入端3,连接信号输入模块的输出端Z3;
开关管Q5的源极S,还分别连接开关管Q4的栅极G和电阻R12的第2管脚;
电阻R11的第2管脚,作为信号输出模块的输出端OUT,用于给检测芯片输出四种不同状态的检测输出信号OUT;
电阻R11的第2管脚,还分别连接电容C11的第1管脚、电阻R8的第1管脚和开关管Q4的漏极D;
电容C1的第2管脚,连接接地端GND2;
电阻R8的第2管脚,连接接地端GND2。
优选地,包括以下工作模式:
一、当外部电子电路没有提供输入信号S1和输入信号S2时,使得所述信号输入模块的输入端IN1和IN2都为高阻态,或者提供的输入信号S1和信号B都为低电平时,控制所述第一电源模块输出的VDD1电源电流不能流过所述信号输入模块,使得所述信号输入模块的输出端Z1、Z2和Z3均为高阻态,则所述第二电源模块所输出的VDD2电源电流,不能通过所述信号输出模块的输入端1流过所述信号输入模块的输出端Z1~Z3,从而使所述信号输出模块的输出端OUT为低电平B2,其电压幅值为0V;
在此条件下,检测芯片根据输出信号OUT的低电平B2状态,对应判断输入信号S1和S2为高阻态或低电平。
优选地,包括以下工作模式:
二、当外部电子电路提供的输入信号S1和输入信号S2都为高电平时,使得所述信号输入模块的输入端IN1和IN2都为高电平时,控制所述第一电源模块输出的VDD1电源电流流过所述信号输入模块,使得所述信号输入模块的输出端Z1为导通态、输出端Z2为导通态2、输出端Z3为导通态,使所述第二电源模块所输出的VDD2电源电流,通过所述信号输出模块的输入端1流过所述信号输入模块的输出端Z1~Z3,从而使所述信号输出模块的输出端OUT为高电平B1,其电压幅值大于低电平A2而小于高电平A1;
在此条件下,检测芯片根据检测输出信号OUT的高电B1状态,对应判断输入信号S1、S2都为高电平。
优选地,包括以下工作模式:
三、当外部电子电路提供的输入信号S1为低电平,而输入信号S2为高电平时,使得所述信号输入模块的输入端IN1为低电平,而输入端IN2为高电平时,控制所述第一电源模块输出的VDD1电源电流流过所述信号输入模块,使得所述信号输入模块的输出端Z1为高阻态、输出端Z2为高阻态、输出端Z3为导通态;高阻态的输出端Z1,使得所述第二电源模块所输出的VDD2电源电流,不能通过所述信号输出模块的输入端1流过所述信号输入模块的输出端Z1~Z3,从而使得所述信号输出模块的输出端OUT为高电平A1,其电压幅值接近于电源电压VDD2;
在此条件下,检测芯片根据输出信号OUT的高电平A1状态,对应判断输入信号S1为低电平,而输入信号S2为高电平。
优选地,包括以下工作模式:
四、当外部电子电路提供的输入信号S1为高电平,且输入信号S2为低电平时,使得所述信号输入模块的输入端IN1为高电平,而输入端IN2为低电平时,控制所述第一电源模块输出的VDD1电源电流流过所述信号输入模块,使得所述信号输入模块的输出端Z1为导通态、输出端Z2为导通态1、输出端Z3为高阻态,所述第二电源模块所输出的VDD电源电流通过所述信号输出模块的输入端1,只流过所述信号输入模块的输出端Z1~Z2,而不流过输出端Z3,从而使得所述信号输出模块的输出端OUT为低电平A2,其电压幅值大于低电平B2而小于高电平B1;
在此条件下,检测芯片根据输出信号OUT的低电平A2状态,对应判断输入信号S1为高电平,而输入信号S2为低电平。
由以上本发明提供的技术方案可见,与现有技术相比较,本发明提供了一种双输入信号同步检测电路,其设计科学,可以实现一个输出端口具有四种状态的信号量,通过一个输出端口即可表征两个输入信号的四种组合状态,能够显著减少需要占用的检测芯片的输入输出端口数量(只需要占用一个),节约了宝贵的检测芯片的硬件资源,具有重大的生产实践意义。
对于本发明,其输出端口具有的高、低电平的电压幅值,可以根据实际需要灵活调节,既便于芯片识别信号状态,又有利于减少需要占用的检测芯片(例如单片机)的输入输出端口数量。
对于本发明的技术方案,硬件电路设计科学,电子元器件为普遍应用型号,易于选型且元器件价格低廉,因此,本发明的技术方案具有很强的实用价值和市场推广价值。
附图说明
图1为本发明提供的一种双输入信号同步检测电路的结构方框图;
图2为本发明提供的一种双输入信号同步检测电路的具体原理图。
具体实施方式
下面将结合本发明的实施例,对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。
参见图1、图2,本发明提供了一种双输入信号同步检测电路,包括信号输入模块10、信号输出模块20、第一电源模块30、第二电源模块40和检测芯片50,其中:
信号输入模块10的输入端IN1,连接外部电子电路的第一检测信号输出端,用于接收外部电子电路提供的输入信号S1;
需要说明的是,外部电子电路应与本发明中的信号输入模块10共地,也就是都由同一个直流电源VDD1供电。外部电子电路提供的输入信号S1、S2包括高电平、低电平和高阻态三种状态,其中,高电平和低电平的电压幅值需根据电源VDD1来设定,高阻态说明没有接入输入信号S1和S2。
具体实现上,外部电子电路可以是现有的、能够提供三态信号(即包括高电平、低电平和高阻态等三种基本逻辑状态的信号)的任意一种电路。
信号输入模块10的输入端IN2,连接外部电子电路的第二检测信号输出端,用于接收外部电子电路提供的输入信号S2;
信号输入模块10的电源输入端VDD1,连接第一电源模块30的电源输出端,用于接收直流电源VDD1;
信号输入模块10的输出端Z1,连接信号输出模块20的输入端1,用于通过调节输出端Z1的状态,来控制所述信号输出模块20的输入端1是否有电流流过,从而分别控制所述信号输入模块10输出端Z2的状态变化和所述信号输出模块20的检测输出信号OUT的变化;
需要说明的是,输出端Z1的状态包括:高阻态和导通态,其中,高阻态是指输出端Z1、Z2之间没有电气连通,Z1、Z2两端之间电阻无穷大;而导通态是指输出端Z1、Z2之间有电气连通,Z1、Z2两端之间会有电压差,如0.3V左右。
信号输入模块10的输出端Z2,连接信号输出模块20的输入端2,用于通过调节输出端Z2的状态,来控制所述信号输出模块20的检测输出信号OUT的状态变化;
需要说明的是,输出端Z2的状态有三种:高阻态、导通态1和导通态2,其中,高阻态,是指输出端Z2与输出端Z1、Z3之间都没有电气连通;导通态1,是指输出端Z2与输出端Z1之间有电气连通,而与输出端Z3之间没有电气连通,Z1、Z2两端之间会有电压差(如0.3V左右),Z2、Z3两端之间电阻无穷大;导通态2,是指输出端Z1与输出端Z2、Z3之间都有电气连通,当流过输出端Z1、Z2和Z3的电流足够大时,输出端Z2与输出端Z3之间串联的稳压管D1(见图2)被击穿后,使Z2端为稳压管D1的稳压值。
信号输入模块10的输出端Z3,连接信号输出模块20的输入端3,用于通过调节输出端Z3的状态,来控制所述信号输出模块20的第一输入端是否有电流流过,从而分别控制所述信号输入模块10输出端Z2的状态变化和所述信号输出模块20的检测输出信号OUT的变化;
需要说明的是,输出端Z3的状态包括:高阻态和导通态,其中,高阻态,是指输出端Z3与所述第三电源模块50的接地端GND(见图2)之间没有电气连通,Z3、GND两端之间电阻无穷大;而导通态,是指输出端Z3与所述第三电源模块50的接地端GND(见图2)之间有电气连通,Z3、GND两端之间会有电压差,如0.3V左右。
信号输出模块20的电源输入端VDD2,连接第二电源模块40的电源输出端,用于接收直流电源VDD2;
信号输出模块20的输出端OUT,与检测芯片50(如单片机MCU)的一个输入输出端口相连接,用于为检测芯片50(如单片机MCU)提供检测输出信号OUT,该检测输出信号OUT具有四种状态:高电平A1、低电平A2、高电平B1和低电平B2,便于检测芯片50对信号状态的识别。
在本发明中,检测输出信号OUT的四种状态与输入信号S1和S2具有的不同状态组合之间的对应关系,具体如下:
1,输入信号S1、S2都为低电平时,输出信号OUT为低电平B2;
2,输入信号S1、S2都为高电平时,输出信号OUT为高电平B1;
3,输入信号S1为低电平且输入信号S2为高电平时,输出信号OUT为高电平A1;
4,输入信号S1为高电平且输入信号S2为低电平时,输出信号OUT为低电平A2;
按其电压幅值排序:低电平B2<低电平A2<高电平B1<高电平A1,其中低电平B2为0V,高电平A1接近于电源VDD2电压;
需要说明的是,检测芯片50,用于预先存储并设置四种不同状态的检测输出信号OUT与两个输入信号S1和S2具有的不同状态组合之间的对应关系,并根据当前接收到的检测输出信号OUT的状态,对应判断检测两个输入信号S1和S2的状态。
在本发明中,具体实现上,需要说明的是,检测芯片50中的单片机芯片,可以采用目前普遍应用的品牌、系列和型号,如恩智浦的MC9S12系列等,检测芯片50及其单片机芯片的型号不在本发明保护范围内。
在本发明中,具体实现上,需要说明的是,第一电源模块30和第二电源模块40可以采用现有的电源模块,例如可以采用现有电池管理***BMS技术方案中普遍应用的电源电路,技术人员无需创新即可轻松获得并应用,其技术方案均不属于本发明的技术方案,故在此不作具体解释。
参见图1,对于本发明提供的双输入信号同步检测电路,具体工作原理如下:
一、当外部电子电路没有提供输入信号S1和输入信号S2时,使得所述信号输入模块10的输入端IN1和IN2都为高阻态(悬空态),或者提供的输入信号S1和信号B都为低电平时,控制所述第一电源模块30输出的VDD1电源电流不能流过所述信号输入模块10,使得所述信号输入模块10的输出端Z1、Z2和Z3均为高阻态(三端之间互不电气连通),则所述第二电源模块40所输出的VDD2电源电流,不能通过所述信号输出模块20的输入端1流过所述信号输入模块10的输出端Z1~Z3,从而使所述信号输出模块20的输出端OUT为低电平B2,其电压幅值为0V;
在此条件下,检测芯片50根据输出信号OUT的低电平B2状态,可以对应判断输入信号S1和S2为高阻态或低电平。
二、当外部电子电路提供的输入信号S1和输入信号S2都为高电平时,使得所述信号输入模块10的输入端IN1和IN2都为高电平时,控制所述第一电源模块30输出的VDD1电源电流流过所述信号输入模块10,使得所述信号输入模块10的输出端Z1为导通态(输出端Z1、Z2之间有电气连通)、输出端Z2为导通态2(输出端Z2、Z3之间为稳压管D1的稳压值)、输出端Z3为导通态(输出端Z3、GND之间有电气连通),可以使所述第二电源模块40所输出的VDD2电源电流,可以通过所述信号输出模块20的输入端1流过所述信号输入模块10的输出端Z1~Z3,从而使所述信号输出模块20的输出端OUT为高电平B1,其电压幅值大于低电平A2而小于高电平A1;
在此条件下,检测芯片50根据检测输出信号OUT的高电B1状态,可以对应判断输入信号S1、S2都为高电平。
三、当外部电子电路提供的输入信号S1为低电平,而输入信号S2为高电平时,使得所述信号输入模块10的输入端IN1为低电平,而输入端IN2为高电平时,控制所述第一电源模块30输出的VDD1电源电流流过所述信号输入模块10,使得所述信号输入模块10的输出端Z1为高阻态(输出端Z1、Z2之间没有电气连通)、输出端Z2为高阻态(与输出端Z2、Z3之间都没有电气连通)、输出端Z3为导通态(输出端Z3、GND之间有电气连通);高阻态的输出端Z1,使得所述第二电源模块40所输出的VDD2电源电流,不能通过所述信号输出模块20的输入端1流过所述信号输入模块10的输出端Z1~Z3,从而使得所述信号输出模块20的输出端OUT为高电平A1,其电压幅值接近于电源电压VDD2;
在此条件下,检测芯片50根据输出信号OUT的高电平A1状态,可以对应判断输入信号S1为低电平,而输入信号S2为高电平。
四、当外部电子电路提供的输入信号S1为高电平,且输入信号S2为低电平时,使得所述信号输入模块10的输入端IN1为高电平,而输入端IN2为低电平时,控制所述第一电源模块30输出的VDD1电源电流流过所述信号输入模块10,使得所述信号输入模块10的输出端Z1为导通态(输出端Z1、Z2之间有电气连通)、输出端Z2为导通态1(与输出端Z1之间有电气连通而与Z3之间没有电气连通)、输出端Z3为高阻态(输出端Z3、GND之间没有电气连通),所述第二电源模块40所输出的VDD电源电流可以通过所述信号输出模块20的输入端1,只流过所述信号输入模块10的输出端Z1~Z2,而不流过输出端Z3,从而使得所述信号输出模块20的输出端OUT为低电平A2,其电压幅值大于低电平B2而小于高电平B1;
在此条件下,检测芯片50根据输出信号OUT的低电平A2状态,可以对应判断输入信号S1为高电平,而输入信号S2为低电平。
在本发明中,具体实现上,参见图2,信号输入模块10包括:电阻R1~R6、电阻R14~R15、稳压管D1、开关管Q1~Q2和光耦Q6~Q7,其中:
电阻R1的第1管脚,作为信号输入模块10的输入端IN1,与外部电子电路的第一检测信号输出端相连接,用于接收外部电子电路提供的输入信号S1;
电阻R1的第2管脚,分别连接电阻R2的第1管脚和开关管Q1的栅极G;
电阻R2和电阻R14的第2管脚,分别连接接地端GND1,该接地端GND1是第一电源模块30电源输出的负极端;
开关管Q1的源极S,连接接地端GND1;
开关管Q1的漏极D,分别连接光耦Q6的第2管脚;
光耦Q6的第1管脚,分别连接电阻R5的第2管脚和电阻R14的第1管脚;
光耦Q6的第3管脚,作为信号输入模块10的输出端Z1,连接信号输出模块20中电阻R7的第1管脚(即电阻R7的第1管脚作为信号输出模块20的输入端1);
光耦Q6的第4管脚,作为信号输入模块10的输出端Z2,连接信号输出模块20中电阻R12的第1管脚(即电阻R12的第1管脚作为信号输出模块20的输入端2);
光耦Q6的第4管脚,还连接稳压管D1的阴极;
稳压管D1的阳极,作为信号输入模块10的输出端Z3,连接信号输出模块20中电阻R12的第2管脚(即电阻R12的第2管脚作为信号输出模块20的输入端3);
稳压管D1的阳极,还连接光耦Q7的第3管脚;
光耦Q7的第4管脚,连接接地端GND2,该GND2是第二电源模块40电源输出端的负极端;
光耦Q7的第1管脚,分别连接电阻R6的第2管脚和电阻R15的第1管脚;
光耦Q7的第2管脚,连接开关管Q2的漏极D;
开关管Q2的源极S,连接接地端GND1;
开关管Q2的栅极G,分别连接电阻R4的第1管脚和电阻R3的第2管脚;
电阻R4和电阻R15的第2管脚,分别连接接地端GND1;
电阻R3的第1管脚,作为信号输入模块10的输入端IN2,与外部电子电路的第二检测信号输出端相连接,用于接收外部电子电路提供的输入信号S2;
电阻R6和电阻R5的第1管脚,作为信号输入模块10的电源输入端VDD1,连接第一电源模块30的电源输出端,用于接收直流电源VDD1。
在本发明中,具体实现上,所述信号输入模块10的工作原理如下:
一、当外部电子电路没有提供输入信号S1和输入信号S2,使得所述信号输入模块10的输入端IN1和IN2都为高阻态(悬空态),或者提供的输入信号S1和输入信号S2都为低电平时,所述开关管Q1的栅极G被所述电阻R2下拉为与接地端GND1相等的低电位而截止,从而使所述光耦Q6截止;同理,所述开关管Q2的栅极G被所述电阻R4下拉为与接地端GND1相等的低电位而截止,从而使所述光耦Q7截止,则所述信号输入模块10的输出端Z1、Z2和Z3均为高阻态,控制所述信号输出模块20的输出端OUT为低电平B,其电压幅值为0V;
当电源VDD1电压为高压时,所述电阻R5和R14将VDD1分压后,可以降低所述开关管Q1漏极D和源极S之间所承受的电压,便于所述开关管Q1选择中低压的型号。
二、当外部电子电路提供的输入信号S1和输入信号S2都为高电平时,使输出端Z1、Z2和Z3不再处于高阻态;高电平信号S1和信号S2,使得所述开关管Q1~Q2、所述光耦Q6~Q7都导通,使输出端Z1、Z3为导通态,使输出端Z2为导通态2(稳压管D1被击穿的稳压值Z2),控制所述信号输出模块20的输出端OUT为高电平B1,其电压幅值大于低电平A2小于高电平A1;
需要说明的是,流过稳压管D1的电流,需要能够使稳压管D1进入稳压区,稳压值Z2根据VDD2电源电压来确定。例如,VDD2为5V,则稳压值Z2可以取3.3V。
三、当外部电子电路提供的输入信号S1为低电平,且输入信号S2为高电平时,所述开关管Q1截止而开关管Q2导通,从而使所述光耦Q6截止而所述光耦Q7导通;所述截止的光耦Q6,使输出端Z1、Z2都为高阻态,而所述导通的光耦Q7,使输出端Z3为导通态,控制所述信号输出模块20的输出端OUT为高电平A1,其电压幅值接近于电源电压VDD2。
四、当外部电子电路提供的输入信号S1为高电平,且输入信号S2为低电平时,所述开关管Q1导通而开关管Q2截止,从而使所述光耦Q6导通而所述光耦Q7截止;所述导通的光耦Q6,使输出端Z1为高阻态、Z2为导通态1(输出端Z1、Z2之间有电气连通),而所述导通的光耦Q7,使输出端Z3为导通态,控制所述信号输出模块20的输出端OUT为低电平A2,其电压幅值大于低电平B2而小于高电平B1。
在本发明中,具体实现上,参见图2,所述信号输出模块20包括:电阻R7~R13、电容C1和开关管Q3~Q5,其中:
电阻R13的第2管脚,作为信号输出模块20的电源输入端VDD2,连接第二电源模块40的电源输出端,用于接收直流电源VDD2;
电阻R13的第2管脚,还分别连接开关管Q3的发射极E和电阻R10的第1管脚;
电阻R13的第1管脚,作为信号输出模块20的输入端1,连接信号输入模块10的输出端Z1,Z1端的电平状态,决定了是否有电流流过信号输出模块20的输入端1和信号输入模块10的输出端Z1;
电阻R13的第1管脚,还连接电阻R7的第1管脚;
电阻R7的第2管脚,连接开关管Q3的集电极C;
开关管Q3的基极B,连接电阻R9的第1管脚;
电阻R9的第2管脚,连接Z4端;
Z4端,还分别连接电阻R10的第2管脚、开关管Q5的漏极D和开关管Q4的源极S;
开关管Q5的栅极G,作为信号输出模块20的输入端2,连接信号输入模块10的输出端Z2,用于接收由信号输入模块10的输出端Z2端所输入的电压和电流;
开关管Q5的栅极G,还分别连接电阻R11和电阻R12的第1管脚;
开关管Q5的源极S,作为信号输出模块20的输入端3,连接信号输入模块10的输出端Z3,Z3端的电平状态,决定了是否有电流流过信号输出模块20的输入端3和信号输入模块10的输出端Z3;
开关管Q5的源极S,还分别连接开关管Q4的栅极G和电阻R12的第2管脚;
电阻R11的第2管脚,作为信号输出模块20的输出端OUT,用于给检测芯片50输出四种不同状态的检测输出信号OUT,包括高电平B1、低电平B2、高电平A1和低电平A2,按其电压幅值排序:低电平B2<低电平A2<高电平B1<高电平A1,其中低电平B2为0V,高电平A1接近于电源VDD2电压;检测芯片50根据输出信号OUT的电平状态,可以判断出输入信号S1和S2的电平状态。
电阻R11的第2管脚,还分别连接电容C11的第1管脚、电阻R8的第1管脚和开关管Q4的漏极D;
电容C1的第2管脚,连接接地端GND2;
电阻R8的第2管脚,连接接地端GND2。
在本发明中,具体实现上,所述信号输出模块20的工作原理如下:
一、当外部电子电路没有提供输入信号S1和输入信号S2时,使得所述信号输入模块10的输入端IN1、IN2都为高阻态(悬空态),或者提供的输入信号S1和输入信号B都为低电平时,使所述信号输入模块10的输出端Z1、Z2和Z3均为高阻态;高阻态的Z2和Z3使所述开关管Q3~Q5截止,则所述输入模块10的输出端OUT被所述电阻R8拉低为与接地端GND2的电位相等,使输出端OUT为低电平B2,其电压幅值为0V;
检测芯片50根据低电平B2的检测输出信号OUT,可以判定输入信号S1和、S2为高阻态或为低电平。
二、当外部电子电路提供的输入信号S1和输入信号S2都为高电平时,所述信号输入模块10的输出端Z1、Z3都为导通态,而输出端Z2为导通态2;所以有:所述开关管Q3~Q4导通,使电源VDD2的电流流过Z1、Z2和Z3端,该电流使所述稳压管D1击穿后,使Z2端等于稳压值Z2,稳压值Z2能够使所述开关管Q5导通,从而使所述开关管Q4截止;但是,导通的开关管Q5和导通态的Z3端,使所述开关管Q3继续保持导通,进而使Z2端保持稳压值Z2不变,使所述信号输出模块20的输出端OUT为高电平B1,其电压幅值等于所述电阻R8和R11将稳压值Z2分压后的电压值,该电压值大于低电平A2而小于高电平A1。
检测芯片50根据高电平B1的检测输出信号OUT,可以判定输入信号S1和S2都为高电平。
三、当外部电子电路提供的输入信号S1为低电平,且输入信号S2为高电平时,所述信号输入模块10的输出端Z1~Z2为高阻态,而Z3为导通态;输入信号S1为低电平,使Z1端为高阻态,因此Z1、Z2端没有电流流过,所述电阻R12使Z2端与Z3端电位相等,则所述开关管Q5截止;输入信号S2为高电平,使Z3端为导通态,使所述开关管Q3~Q4导通,使所述信号输出模块20的输出端OUT为高电平A1,其电压幅值等于所述电阻R8和R9将电源电压VDD2分压后的电压值,减去所述开关管Q3发射极E与基极B之间导通压降后所得到的电压,该电压值接近于电源电压VDD2;
检测芯片50根据高电平A1的检测输出信号OUT,可以判定输入信号S1为低电平且输入信号S2为高电平。
四、当外部电子电路提供的输入信号S1为高电平,且输入信号S2为低电平时,所述信号输入模块10的输出端Z1为导通态、Z2为导通态1、Z3为高阻态;输入信号S2为低电平使Z3端为高阻态,使所述开关管Q3~Q4截止,所述开关管Q3中没有电流流过,稳压管D1也不会被稳压击穿;输入信号S1为高电平,使Z1~Z2端有电流流过,该电流流过所述电阻R13、R11和R8,此时Z2端电压等于所述电阻R8、R11与R13将电源VDD2分后的电压值,该电压可以使所述开关管Q5导通,进一步使所述开关管Q4保持截止状态,同时高阻态的Z3端使所述开关管Q3保持截止状态,因此,所述信号输出模块20的输出端OUT为低电平A1,其电压幅值等于所述电阻R8和R11将Z2端电压分压后的电压值;
检测芯片50根据低电平A1的检测输出信号OUT,可以判定输入信号S1为高电平且输入信号S2为低电平。
综上所述,与现有技术相比较,本发明提供的一种双输入信号同步检测电路,其设计科学,可以实现一个输出端口具有四种状态的信号量,通过一个输出端口即可表征两个输入信号的四种组合状态,能够显著减少需要占用的检测芯片的输入输出端口数量(只需要占用一个),节约了宝贵的检测芯片的硬件资源,具有重大的生产实践意义。
对于本发明,其输出端口具有的高、低电平的电压幅值,可以根据实际需要灵活调节,既便于芯片识别信号状态,又有利于减少需要占用的检测芯片(例如单片机)的输入输出端口数量。
对于本发明的技术方案,硬件电路设计科学,电子元器件为普遍应用型号,易于选型且元器件价格低廉,因此,本发明的技术方案具有很强的实用价值和市场推广价值。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (9)
1.一种双输入信号同步检测电路,其特征在于,包括信号输入模块(10)、信号输出模块(20)、第一电源模块(30)、第二电源模块(40)和检测芯片(40),其中:
信号输入模块(10)的输入端IN1,连接外部电子电路的第一检测信号输出端,用于接收外部电子电路提供的输入信号S1;
信号输入模块(10)的输入端IN2,连接外部电子电路的第二检测信号输出端,用于接收外部电子电路提供的输入信号S2;
信号输入模块(10)的电源输入端VDD1,连接第一电源模块(30)的电源输出端,用于接收直流电源VDD1;
信号输入模块(10)的输出端Z1,连接信号输出模块(20)的输入端1,用于通过调节输出端Z1的状态,来控制所述信号输出模块(20)的输入端1是否有电流流过;
信号输入模块(10)的输出端Z2,连接信号输出模块(20)的输入端2,用于通过调节输出端Z2的状态,来控制所述信号输出模块(20)的检测输出信号OUT的状态变化;
信号输入模块(10)的输出端Z3,连接信号输出模块(20)的输入端3,用于通过调节输出端Z3的状态,来控制所述信号输出模块(20)的第一输入端是否有电流流过;
信号输出模块(20)的电源输入端VDD2,连接第二电源模块(40)的电源输出端,用于接收直流电源VDD2;
信号输出模块(20)的输出端OUT,与检测芯片(40)的一个输入输出端口相连接,用于为检测芯片(40)提供检测输出信号OUT;
该检测输出信号OUT具有四种状态:高电平A1、低电平A2、高电平B1和低电平B2。
2.如权利要求1所述的双输入信号同步检测电路,其特征在于,检测芯片(40),用于预先存储并设置四种不同状态的检测输出信号OUT与两个输入信号S1和S2具有的不同状态组合之间的对应关系,并根据当前接收到的检测输出信号OUT的状态,对应判断检测两个输入信号S1和S2的状态。
3.如权利要求1所述的双输入信号同步检测电路,其特征在于,按其电压幅值排序:低电平B2<低电平A2<高电平B1<高电平A1。
4.如权利要求1所述的双输入信号同步检测电路,其特征在于,信号输入模块(10)包括:电阻R1~R6、电阻R14~R15、稳压管D1、开关管Q1~Q2和光耦Q6~Q7,其中:
电阻R1的第1管脚,作为信号输入模块(10)的输入端IN1,与外部电子电路的第一检测信号输出端相连接,用于接收外部电子电路提供的输入信号S1;
电阻R1的第2管脚,分别连接电阻R2的第1管脚和开关管Q1的栅极G;
电阻R2和电阻R14的第2管脚,分别连接接地端GND1,该接地端GND1是第一电源模块(30)电源输出的负极端;
开关管Q1的源极S,连接接地端GND1;
开关管Q1的漏极D,分别连接光耦Q6的第2管脚;
光耦Q6的第1管脚,分别连接电阻R5的第2管脚和电阻R14的第1管脚;
光耦Q6的第3管脚,作为信号输入模块(10)的输出端Z1,连接信号输出模块(20)中电阻R7的第1管脚;
光耦Q6的第4管脚,作为信号输入模块(10)的输出端Z2,连接信号输出模块(20)中电阻R12的第1管脚;
光耦Q6的第4管脚,还连接稳压管D1的阴极;
稳压管D1的阳极,作为信号输入模块(10)的输出端Z3,连接信号输出模块(20)中电阻R12的第2管脚;
稳压管D1的阳极,还连接光耦Q7的第3管脚;
光耦Q7的第4管脚,连接接地端GND2,该GND2是第二电源模块(40)电源输出端的负极端;
光耦Q7的第1管脚,分别连接电阻R6的第2管脚和电阻R15的第1管脚;
光耦Q7的第2管脚,连接开关管Q2的漏极D;
开关管Q2的源极S,连接接地端GND1;
开关管Q2的栅极G,分别连接电阻R4的第1管脚和电阻R3的第2管脚;
电阻R4和电阻R15的第2管脚,分别连接接地端GND1;
电阻R3的第1管脚,作为信号输入模块(10)的输入端IN2,与外部电子电路的第二检测信号输出端相连接,用于接收外部电子电路提供的输入信号S2;
电阻R6和电阻R5的第1管脚,作为信号输入模块(10)的电源输入端VDD1,连接第一电源模块(30)的电源输出端,用于接收直流电源VDD1。
5.如权利要求1所述的双输入信号同步检测电路,其特征在于,所述信号输出模块(20)包括:电阻R7~R13、电容C1和开关管Q3~Q5,其中:
电阻R13的第2管脚,作为信号输出模块(20)的电源输入端VDD2,连接第二电源模块(40)的电源输出端,用于接收直流电源VDD2;
电阻R13的第2管脚,还分别连接开关管Q3的发射极E和电阻R10的第1管脚;
电阻R13的第1管脚,作为信号输出模块(20)的输入端1,连接信号输入模块(10)的输出端Z1;
电阻R13的第1管脚,还连接电阻R7的第1管脚;
电阻R7的第2管脚,连接开关管Q3的集电极C;
开关管Q3的基极B,连接电阻R9的第1管脚;
电阻R9的第2管脚,连接Z4端;
Z4端,还分别连接电阻R10的第2管脚、开关管Q5的漏极D和开关管Q4的源极S;
开关管Q5的栅极G,作为信号输出模块(20)的输入端2,连接信号输入模块(10)的输出端Z2,用于接收由信号输入模块(10)的输出端Z2端所输入的电压和电流;
开关管Q5的栅极G,还分别连接电阻R11和电阻R12的第1管脚;
开关管Q5的源极S,作为信号输出模块(20)的输入端3,连接信号输入模块(10)的输出端Z3;
开关管Q5的源极S,还分别连接开关管Q4的栅极G和电阻R12的第2管脚;
电阻R11的第2管脚,作为信号输出模块(20)的输出端OUT,用于给检测芯片(40)输出四种不同状态的检测输出信号OUT;
电阻R11的第2管脚,还分别连接电容C11的第1管脚、电阻R8的第1管脚和开关管Q4的漏极D;
电容C1的第2管脚,连接接地端GND2;
电阻R8的第2管脚,连接接地端GND2。
6.如权利要求1至5中任一项所述的双输入信号同步检测电路,其特征在于,包括以下工作模式:
一、当外部电子电路没有提供输入信号S1和输入信号S2时,使得所述信号输入模块(10)的输入端IN1和IN2都为高阻态,或者提供的输入信号S1和信号B都为低电平时,控制所述第一电源模块(30)输出的VDD1电源电流不能流过所述信号输入模块(10),使得所述信号输入模块(10)的输出端Z1、Z2和Z3均为高阻态,则所述第二电源模块(40)所输出的VDD2电源电流,不能通过所述信号输出模块(20)的输入端1流过所述信号输入模块(10)的输出端Z1~Z3,从而使所述信号输出模块(20)的输出端OUT为低电平B2,其电压幅值为0V;
在此条件下,检测芯片(40)根据输出信号OUT的低电平B2状态,对应判断输入信号S1和S2为高阻态或低电平。
7.如权利要求1至5中任一项所述的双输入信号同步检测电路,其特征在于,包括以下工作模式:
二、当外部电子电路提供的输入信号S1和输入信号S2都为高电平时,使得所述信号输入模块(10)的输入端IN1和IN2都为高电平时,控制所述第一电源模块(30)输出的VDD1电源电流流过所述信号输入模块(10),使得所述信号输入模块(10)的输出端Z1为导通态、输出端Z2为导通态2、输出端Z3为导通态,使所述第二电源模块(40)所输出的VDD2电源电流,通过所述信号输出模块(20)的输入端1流过所述信号输入模块(10)的输出端Z1~Z3,从而使所述信号输出模块(20)的输出端OUT为高电平B1,其电压幅值大于低电平A2而小于高电平A1;
在此条件下,检测芯片(40)根据检测输出信号OUT的高电B1状态,对应判断输入信号S1、S2都为高电平。
8.如权利要求1至5中任一项所述的双输入信号同步检测电路,其特征在于,包括以下工作模式:
三、当外部电子电路提供的输入信号S1为低电平,而输入信号S2为高电平时,使得所述信号输入模块(10)的输入端IN1为低电平,而输入端IN2为高电平时,控制所述第一电源模块(30)输出的VDD1电源电流流过所述信号输入模块(10),使得所述信号输入模块(10)的输出端Z1为高阻态、输出端Z2为高阻态、输出端Z3为导通态;高阻态的输出端Z1,使得所述第二电源模块(40)所输出的VDD2电源电流,不能通过所述信号输出模块(20)的输入端1流过所述信号输入模块(10)的输出端Z1~Z3,从而使得所述信号输出模块(20)的输出端OUT为高电平A1,其电压幅值接近于电源电压VDD2;
在此条件下,检测芯片(40)根据输出信号OUT的高电平A1状态,对应判断输入信号S1为低电平,而输入信号S2为高电平。
9.如权利要求1至5中任一项所述的双输入信号同步检测电路,其特征在于,包括以下工作模式:
四、当外部电子电路提供的输入信号S1为高电平,且输入信号S2为低电平时,使得所述信号输入模块(10)的输入端IN1为高电平,而输入端IN2为低电平时,控制所述第一电源模块(30)输出的VDD1电源电流流过所述信号输入模块(10),使得所述信号输入模块(10)的输出端Z1为导通态、输出端Z2为导通态1、输出端Z3为高阻态,所述第二电源模块(40)所输出的VDD电源电流通过所述信号输出模块(20)的输入端1,只流过所述信号输入模块(10)的输出端Z1~Z2,而不流过输出端Z3,从而使得所述信号输出模块(20)的输出端OUT为低电平A2,其电压幅值大于低电平B2而小于高电平B1;
在此条件下,检测芯片(40)根据输出信号OUT的低电平A2状态,对应判断输入信号S1为高电平,而输入信号S2为低电平。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110780358.0A CN113572468B (zh) | 2021-07-09 | 2021-07-09 | 一种双输入信号同步检测电路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110780358.0A CN113572468B (zh) | 2021-07-09 | 2021-07-09 | 一种双输入信号同步检测电路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN113572468A true CN113572468A (zh) | 2021-10-29 |
CN113572468B CN113572468B (zh) | 2024-06-11 |
Family
ID=78164537
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202110780358.0A Active CN113572468B (zh) | 2021-07-09 | 2021-07-09 | 一种双输入信号同步检测电路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN113572468B (zh) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1618022A (zh) * | 2001-12-10 | 2005-05-18 | 米克罗恩技术公司 | 用于电压电平检测的输入缓冲器和方法 |
JP2008067224A (ja) * | 2006-09-08 | 2008-03-21 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | レベルシフト回路及びdc−dcコンバータ |
JP2012044538A (ja) * | 2010-08-20 | 2012-03-01 | Renesas Electronics Corp | 出力バッファ回路及びその制御方法 |
CN208537681U (zh) * | 2018-06-13 | 2019-02-22 | 茂睿芯(深圳)科技有限公司 | 同步整流芯片及其供电的自动检测电路、同步整流电路 |
CN216216832U (zh) * | 2021-07-09 | 2022-04-05 | 力神(青岛)新能源有限公司 | 一种双输入信号同步检测电路 |
-
2021
- 2021-07-09 CN CN202110780358.0A patent/CN113572468B/zh active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1618022A (zh) * | 2001-12-10 | 2005-05-18 | 米克罗恩技术公司 | 用于电压电平检测的输入缓冲器和方法 |
JP2008067224A (ja) * | 2006-09-08 | 2008-03-21 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | レベルシフト回路及びdc−dcコンバータ |
JP2012044538A (ja) * | 2010-08-20 | 2012-03-01 | Renesas Electronics Corp | 出力バッファ回路及びその制御方法 |
CN208537681U (zh) * | 2018-06-13 | 2019-02-22 | 茂睿芯(深圳)科技有限公司 | 同步整流芯片及其供电的自动检测电路、同步整流电路 |
CN216216832U (zh) * | 2021-07-09 | 2022-04-05 | 力神(青岛)新能源有限公司 | 一种双输入信号同步检测电路 |
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
傅莉;: "光伏并网发电模拟装置研制", 电子科技, no. 06, 15 June 2011 (2011-06-15) * |
张铁民;刘汉旭;张建桃;马先明;: "直线超声波电动机的测控***", 微特电机, no. 04, 28 April 2006 (2006-04-28) * |
王玉坤;刘晶冰;张明艳;: "基于ISO 26262的BMS电压检测模块设计", 电源世界, no. 08, 15 August 2018 (2018-08-15) * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN113572468B (zh) | 2024-06-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN216216832U (zh) | 一种双输入信号同步检测电路 | |
WO2017113550A1 (zh) | 运算放大器、驱动接口、测控设备、驱动电路和驱动器 | |
CN113572468A (zh) | 一种双输入信号同步检测电路 | |
CN216052060U (zh) | 一种三态输入信号的检测电路 | |
CN216209685U (zh) | 一种接触器通断检测电路 | |
CN209841987U (zh) | 一种用于电解电容正负极的检测电路及检测装置 | |
CN111934275A (zh) | 过流保护电路、控制电路、芯片及控制方法 | |
CN113567847A (zh) | 一种接触器通断检测电路 | |
CN115865073A (zh) | 转换电路 | |
CN210428581U (zh) | 一种具备mipi屏接口和lvds屏接口的转接电路 | |
CN110518543B (zh) | 一种短路保护电路和供电*** | |
CN216013585U (zh) | 一种具有多态输出的信号检测电路 | |
CN110890883A (zh) | 一种红外光电开关信号的转换装置及*** | |
CN207939200U (zh) | 一种钳位保护电路 | |
CN212008731U (zh) | 一种无需外部供电的多功能电压检测装置 | |
CN113359017A (zh) | 一种具有多态输出的信号检测电路 | |
US20200212913A1 (en) | Level converter and a method for converting level values in vehicle control devices | |
CN218335991U (zh) | 一种开发板电源切换模块及开发板 | |
CN113595193B (zh) | 一种通信协议认证装置及连接线 | |
CN113359016A (zh) | 一种三态输入信号的检测电路 | |
CN109801604A (zh) | 供电控制电路、供电电路及显示装置 | |
CN214409235U (zh) | 一种模块电源的全参数一键测试装置 | |
CN220526324U (zh) | 一种usb接口切换电路 | |
CN216351092U (zh) | 一种电子开关信号的采集电路 | |
CN214960126U (zh) | 一种检测电路以及装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20220120 Address after: 266500 Minshan Road, Huangdao District, Qingdao, Shandong Applicant after: LISHEN (QINGDAO) NEW ENERGY CO.,LTD. Address before: 300384 Tianjin Binhai New Area Binhai high tech Industrial Development Zone Huayuan science and Technology Park (outer ring) 38 Haitai South Road Applicant before: LISHEN POWER BATTERY SYSTEMS Co.,Ltd. |
|
TA01 | Transfer of patent application right | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |