CN113570543A - 一种安检包裹识别方法、***、储存介质及设备 - Google Patents

一种安检包裹识别方法、***、储存介质及设备 Download PDF

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CN113570543A CN202110583761.4A CN202110583761A CN113570543A CN 113570543 A CN113570543 A CN 113570543A CN 202110583761 A CN202110583761 A CN 202110583761A CN 113570543 A CN113570543 A CN 113570543A
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Abstract

本申请提供一种安检包裹识别方法、***、存储介质及设备，方法包括：获取安检机采集的连续安检图像；统计各时刻的X光扫描线图的亮度值分布，得到第一直方图；根据第一直方图的峰谷特征，确定待分析的安检图像的横坐标值区间；根据横坐标值区间，从连续安检图像中获取待分析的安检图像；对待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与待分析的安检图像对应的分析结果。上述安检包裹识别方法、***、存储介质及设备，通过确定待分析的安检图像，进行违禁品分析，避免了安检机内物品分析芯片做无用功，降低了损耗，解决了现有技术中物品分析芯片持续工作，导致性能消耗严重，降低了使用寿命的技术问题。

Description

一种安检包裹识别方法、***、储存介质及设备
技术领域
本申请涉及物品识别技术领域，特别涉及一种安检包裹识别方法、***、 储存介质及设备。
背景技术
安检机作为一种安防设备，在各种公共场合广泛运用，一般安检机通过传送带将需要案件的物品送到安检机内部，
通过X射线对行李物品进行成像，然后由操作人员观察显示器上的行李X射线图像快速判断行李内是否有违禁物品。
现有技术当中，安检机的安检方法一般为无论扫描区域上是否有包裹，安 检机内的物品分析芯片都对扫描区域进行物品识别，即物品分析芯片持续在实 行检测工作，这对物品分析芯片的性能消耗很大，降低了物品分析芯片的使用 寿命，间接的降低了安检机的使用寿命。
发明内容
基于此，本发明的目的是提供一种安检包裹识别方法、***、存储介质及 设备，用于解决现有技术中物品分析芯片持续实行检测工作，导致物品分析芯 片性能消耗严重，降低了安检机的使用寿命的技术问题。
本申请一方面提供一种安检包裹识别方法，所述方法包括：
获取安检机采集的连续安检图像，所述连续安检图像由各时刻的X光扫描 线图组成；
统计各时刻的X光扫描线图的亮度值分布，得到以各时刻为横坐标值、以 各时刻的X光扫描线图的亮度值分布为纵坐标值的第一直方图；
根据所述第一直方图的峰谷特征，确定待分析的安检图像的横坐标值区间；
根据所述横坐标值区间，从所述连续安检图像中获取所述待分析的安检图 像；
对所述待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与所述待分析的安检图像 对应的分析结果。
上述安检包裹识别方法，通过获取安检机采集的连续安检图像；统计各时 刻的X光扫描线图的亮度值分布，得到以各时刻为横坐标值、以各时刻的X光 扫描线图的亮度值分布为纵坐标值的第一直方图；根据所述第一直方图的峰谷 特征，确定待分析的安检图像的横坐标值区间；根据所述横坐标值区间，从所 述连续安检图像中获取所述待分析的安检图像；对所述待分析的安检图像进行 违禁品分析，得到与所述待分析的安检图像对应的分析结果。从而根据第一直 方图的峰谷特征确定待分析的安检图像，对待分析的安检图像进行违禁品分析， 提高物品分析芯片对包裹分析的有效性，提高了安检机的使用寿命，避免了安 检机内物品分析芯片做无用功，降低了损耗，解决了现有技术中物品分析芯片 持续实行检测工作，导致物品分析芯片性能消耗严重，降低了安检机的使用寿 命的技术问题。
本申请另一方面提供一种安检包裹识别***，包括：
第一获取模块，用于获取安检机采集的连续安检图像，所述连续安检图像 由各时刻的X光扫描线图组成；
统计模块，用于统计各时刻的X光扫描线图的亮度值分布，得到以各时刻 为横坐标值、以各时刻的X光扫描线图的亮度值分布为纵坐标值的第一直方图；
确定模块，用于根据所述第一直方图的峰谷特征，确定待分析的安检图像 的横坐标值区间；
第二获取模块，用于根据所述横坐标值区间，从所述连续安检图像中获取 所述待分析的安检图像；
分析模块，用于对所述待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与所述待 分析的安检图像对应的分析结果。
本申请另一方面还提供一种安检包裹识别设备，包括存储器、处理器以及 存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序 时实现如上述的安检包裹识别方法。
另外，根据本发明上述的安检包裹识别方法，还可以具有如下附加的技术 特征：
进一步地，从所述连续安检图像中获取待分析的安检图像包括：
截取所述连续安检图像中与所述横坐标值区间对应的片段安检图像；
统计所述片段安检图像中各像素行号对应的线图的亮度值分布，得到以各 像素行号为横坐标值，以各像素行号对应的线图的亮度值分布为纵坐标值的第 二直方图；
根据所述第二直方图的峰谷特征，确定所述待分析的安检图像的纵坐标值 区间；
截取所述片段安检图像中与所述纵坐标值区间对应的安检图像，即为所述 待分析的安检图像。
进一步地，在对所述待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与所述待分 析的安检图像对应的分析结果之前，所述方法还包括：
根据所述第一直方图和/或所述第二直方图的特征信息，生成所述待分析的 安检图像的标识信息，并以所述标识信息为索引存储与所述待分析的安检图像 相关的包裹属性信息，所述包裹属性信息包括所述横坐标值区间和所述纵坐标 值区间；根据所述待分析的安检图像的标识信息，判断所述待分析的安检图像 是否为新的安检图像；
对所述待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与所述待分析的安检图像 对应的分析结果包括：在所述待分析的安检图像为新的安检图像的情况下，对 所述待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与所述待分析的安检图像对应的 分析结果。
进一步地，在对所述待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与所述待分 析的安检图像对应的分析结果之后，所述方法还包括：
以所述标识信息为索引存储所述分析结果，所述分析结果包括：所述待分 析的安检图像中的物品的类别信息和坐标信息。
进一步地，在根据所述待分析的安检图像的标识信息，判断所述待分析的 安检图像是否为新的安检图像之前，所述方法还包括：
统计各时刻的X光扫描线图的色度值分布，得到以各时刻为横坐标值、以 各时刻的X光扫描线图的色度值分布为纵坐标值的第三直方图；统计所述待分 析的安检图像中各像素行号对应的线图的色度值分布，得到以各像素行号为横 坐标值，以各像素行号对应的线图的色度值分布为纵坐标值的第四直方图；获 取所述第三直方图和/或所述第四直方图的特征信息，并以所述标识信息为索引， 存储所述第三直方图和/或所述第四直方图的特征信息；
根据所述待分析的安检图像的标识信息，判断所述待分析的安检图像是否 为新的安检图像还包括：根据所述待分析的安检图像的标识信息，以及所述第 三直方图和/或所述第四直方图的特征信息，判断所述待分析的安检图像是否为 新的安检图像。
进一步地，统计各时刻的X光扫描线图的亮度值分布，得到以各时刻为横 坐标值、以各时刻的X光扫描线图的亮度值分布为纵坐标值的第一直方图包括：
确定亮度值统计区间；
统计各时刻的X光扫描线图中目标像素的个数或目标像素占该X光扫描线 图总像素的比值，将该像素个数或比值作为亮度值分布的值，得到以各时刻为 横坐标值、以各时刻的X光扫描线图的亮度值分布为纵坐标值的第一直方图， 其中，所述目标像素为亮度值处于所述亮度值统计区间内的像素。
进一步地，统计所述片段安检图像中各像素行号对应的线图的亮度值分布， 得到以各像素行号为横坐标值，以各像素行号对应的线图的亮度值分布为纵坐 标值的第二直方图包括：
确定亮度值统计区间；
统计所述片段安检图像中各像素行号对应的线图中目标像素的个数或目标 像素占该线图总像素的比值，将该像素个数或比值作为亮度值分布的值，得到 以各像素行号为横坐标值，以各像素行号对应的线图的亮度值分布为纵坐标值 的第二直方图，其中，所述目标像素为亮度值处于所述亮度值统计区间内的像 素。
进一步地，所述方法还包括：
根据所述横坐标值区间和/或纵坐标值区间，确定所述连续安检图像的背景 区域；
获取所述背景区域的平均亮度值和/或平均色度值；
根据所述平均亮度值和/或平均色度值，调整所述亮度值统计区间。
附图说明
图1为本发明第一实施例中安检包裹识别方法的架构图；
图2为本发明第二实施例中安检包裹识别方法的架构图；
图3为本发明第二实施例中安检包裹识别方法的补充流程图；
图4为本发明第二实施例中从连续安检图像中获取待分析的安检图像的步 骤图；
图5为本发明第三实施例中安检包裹识别***的架构图；
图6为本发明第四实施例中安检包裹识别设备的框架图。
主要元件符号说明：
处理器 10 存储器 20
计算机程序 30 第一获取模块 11
统计模块 12 确定模块 13
第二获取模块 14 分析模块 15
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。 附图中给出了本发明的若干实施例。但是，本发明可以以许多不同的形式来实 现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本 发明的公开内容更加透彻全面。
需要说明的是，当元件被称为“固设于”另一个元件，它可以直接在另一个元 件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可 以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂 直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术 领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术 语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的 术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
实施例一
请参阅图1，所示为本发明第一实施例中的安检包裹识别方法，所述方法包 括步骤S101至步骤S105：
S101、获取安检机采集的连续安检图像。所述连续安检图像由各时刻的X 光扫描线图组成。
在本申请中，当安检机启动后，安检机将持续工作，也将持续获取扫描区 域的图像，进而在显示屏上显示出来，生成连续安检图像。
S102、统计各时刻的X光扫描线图的亮度值分布，得到以各时刻为横坐标 值、以各时刻的X光扫描线图的亮度值分布为纵坐标值的第一直方图；
S103、根据所述第一直方图的峰谷特征，确定待分析的安检图像的横坐标 值区间；
S104、根据所述横坐标值区间，从所述连续安检图像中获取所述待分析的 安检图像；
S105、对所述待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与所述待分析的安 检图像对应的分析结果。
综上，本发明上述实施例当中的安检包裹识别方法，通过获取安检机采集 的连续安检图像；统计各时刻的X光扫描线图的亮度值分布，得到以各时刻为 横坐标值、以各时刻的X光扫描线图的亮度值分布为纵坐标值的第一直方图； 根据所述第一直方图的峰谷特征，确定待分析的安检图像的横坐标值区间；根 据所述横坐标值区间，从所述连续安检图像中获取所述待分析的安检图像；对 所述待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与所述待分析的安检图像对应的 分析结果。从而根据第一直方图的峰谷特征确定待分析的安检图像，对待分析 的安检图像进行违禁品分析，提高物品分析芯片对包裹分析的有效性，提高了 安检机的使用寿命，避免了安检机内物品分析芯片做无用功，降低了损耗，解 决了现有技术中物品分析芯片持续实行检测工作，导致物品分析芯片性能消耗 严重，降低了安检机的使用寿命的技术问题。
实施例二
请查阅图2，所示为本发明第二实施例中的安检包裹识别方法，所述方法包 括步骤S201至步骤S205：
S201、获取安检机采集的连续安检图像。所述连续安检图像由各时刻的X 光扫描线图组成。
S202、统计各时刻的X光扫描线图的亮度值分布，得到以各时刻为横坐标 值、以各时刻的X光扫描线图的亮度值分布为纵坐标值的第一直方图；
统计各时刻的X光扫描线图的亮度值分布，得到以各时刻为横坐标值、以 各时刻的X光扫描线图的亮度值分布为纵坐标值的第一直方图包括：
确定亮度值统计区间；
统计各时刻的X光扫描线图中目标像素的个数或目标像素占该X光扫描线 图总像素的比值，将该像素个数或比值作为亮度值分布的值，得到以各时刻为 横坐标值、以各时刻的X光扫描线图的亮度值分布为纵坐标值的第一直方图， 其中，所述目标像素为亮度值处于所述亮度值统计区间内的像素。
进一步的，请查阅图3，安检包裹识别方法还包括：
S2021、根据所述横坐标值区间和/或纵坐标值区间，确定所述连续安检图像 的背景区域；
S2022、获取所述背景区域的平均亮度值和/或平均色度值；
S2023、根据所述平均亮度值和/或平均色度值，调整所述亮度值统计区间。
具体的，作为一个具体示例，譬如：
之前背景平均亮度为40，亮度值统计区间为60～230；之后由于射线源老化， 背景平均亮度变为35，亮度值统计区间则可变为55～225。
S203、根据所述第一直方图的峰谷特征，确定待分析的安检图像的横坐标 值区间；
S204、根据所述横坐标值区间，从所述连续安检图像中获取所述待分析的 安检图像；
请查阅图4，根据所述横坐标值区间，从所述连续安检图像中获取待分析的 安检图像的步骤包括：
S2041、截取所述连续安检图像中与所述横坐标值区间对应的片段安检图像；
S2042、统计所述片段安检图像中各像素行号对应的线图的亮度值分布，得 到以各像素行号为横坐标值，以各像素行号对应的线图的亮度值分布为纵坐标 值的第二直方图；
统计所述片段安检图像中各像素行号对应的线图的亮度值分布，得到以各 像素行号为横坐标值，以各像素行号对应的线图的亮度值分布为纵坐标值的第 二直方图包括：
确定亮度值统计区间；
统计所述片段安检图像中各像素行号对应的线图中目标像素的个数或目标 像素占该线图总像素的比值，将该像素个数或比值作为亮度值分布的值，得到 以各像素行号为横坐标值，以各像素行号对应的线图的亮度值分布为纵坐标值 的第二直方图，其中，所述目标像素为亮度值处于所述亮度值统计区间内的像 素。
S2043、根据所述第二直方图的峰谷特征，确定所述待分析的安检图像的纵 坐标值区间；
S2044、截取所述片段安检图像中与所述纵坐标值区间对应的安检图像，即 为所述待分析的安检图像。
S205、根据所述第一直方图和/或所述第二直方图的特征信息，生成所述待 分析的安检图像的标识信息，并以所述标识信息为索引存储与所述待分析的安 检图像相关的包裹属性信息，所述包裹属性信息包括所述横坐标值区间和所述 纵坐标值区间；根据所述待分析的安检图像的标识信息，判断所述待分析的安 检图像是否为新的安检图像。
在根据所述待分析的安检图像的标识信息，判断所述待分析的安检图像是 否为新的安检图像之前，所述方法还包括：
统计各时刻的X光扫描线图的色度值分布，得到以各时刻为横坐标值、以 各时刻的X光扫描线图的色度值分布为纵坐标值的第三直方图；统计所述待分 析的安检图像中各像素行号对应的线图的色度值分布，得到以各像素行号为横 坐标值，以各像素行号对应的线图的色度值分布为纵坐标值的第四直方图；获 取所述第三直方图和/或所述第四直方图的特征信息，并以所述标识信息为索引， 存储所述第三直方图和/或所述第四直方图的特征信息。
根据所述待分析的安检图像的标识信息，判断所述待分析的安检图像是否 为新的安检图像还包括：
根据所述待分析的安检图像的标识信息，以及所述第三直方图和/或所述第 四直方图的特征信息，判断所述待分析的安检图像是否为新的安检图像。
S206、对所述待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与所述待分析的安 检图像对应的分析结果。
对所述待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与所述待分析的安检图像 对应的分析结果包括：
在所述待分析的安检图像为新的安检图像的情况下，对所述待分析的安检 图像进行违禁品分析，得到与所述待分析的安检图像对应的分析结果。
S207、以所述标识信息为索引存储所述分析结果。
所述分析结果包括：所述待分析的安检图像中的物品的类别信息和坐标信 息。
综上，本发明上述实施例当中的安检包裹识别方法，通过获取安检机采集 的连续安检图像；统计各时刻的X光扫描线图的亮度值分布，得到以各时刻为 横坐标值、以各时刻的X光扫描线图的亮度值分布为纵坐标值的第一直方图； 根据所述第一直方图的峰谷特征，确定待分析的安检图像的横坐标值区间；根 据所述横坐标值区间，从所述连续安检图像中获取所述待分析的安检图像；对 所述待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与所述待分析的安检图像对应的 分析结果。从而根据第一直方图的峰谷特征确定待分析的安检图像，对待分析 的安检图像进行违禁品分析，提高物品分析芯片对包裹分析的有效性，提高了 安检机的使用寿命，避免了安检机内物品分析芯片做无用功，降低了损耗，解 决了现有技术中物品分析芯片持续实行检测工作，导致物品分析芯片性能消耗 严重，降低了安检机的使用寿命的技术问题。
实施例三
请参阅图5，所示为本发明第三实施例中的安检包裹识别***，所述***包 括：
第一获取模块11，用于获取安检机采集的连续安检图像，所述连续安检图 像由各时刻的X光扫描线图组成；
统计模块12，用于统计各时刻的X光扫描线图的亮度值分布，得到以各时 刻为横坐标值、以各时刻的X光扫描线图的亮度值分布为纵坐标值的第一直方 图；
确定模块13，用于根据所述第一直方图的峰谷特征，确定待分析的安检图 像的横坐标值区间；
第二获取模块14，用于根据所述横坐标值区间，从所述连续安检图像中获 取所述待分析的安检图像；
分析模块15，用于对所述待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与所述 待分析的安检图像对应的分析结果。
进一步的，第二获取模块包括：
第一截取单元，用于截取所述连续安检图像中与所述横坐标值区间对应的 片段安检图像；
第一统计单元，用于统计所述片段安检图像中各像素行号对应的线图的亮 度值分布，得到以各像素行号为横坐标值，以各像素行号对应的线图的亮度值 分布为纵坐标值的第二直方图；
第一确定单元，用于根据所述第二直方图的峰谷特征，确定所述待分析的 安检图像的纵坐标值区间；
第二截取单元，用于截取所述片段安检图像中与所述纵坐标值区间对应的 安检图像，即为所述待分析的安检图像。
在一些可选实施例中，分析模块之前还包括：
判断单元，用于根据所述第一直方图和/或所述第二直方图的特征信息，生 成所述待分析的安检图像的标识信息，并以所述标识信息为索引存储与所述待 分析的安检图像相关的包裹属性信息，所述包裹属性信息包括所述横坐标值区 间和所述纵坐标值区间；根据所述待分析的安检图像的标识信息，判断所述待 分析的安检图像是否为新的安检图像。
进一步的，所述分析模块包括：
分析单元，用于在所述待分析的安检图像为新的安检图像的情况下，对所 述待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与所述待分析的安检图像对应的分 析结果。
在一些可选实施例中，分析模块之后还包括：
存储模块，用于以所述标识信息为索引存储所述分析结果。所述分析结果 包括：所述待分析的安检图像中的物品的类别信息和坐标信息。
在一些可选实施例中，判断单元之前还包括：
存储单元，用于统计各时刻的X光扫描线图的色度值分布，得到以各时刻 为横坐标值、以各时刻的X光扫描线图的色度值分布为纵坐标值的第三直方图； 统计所述待分析的安检图像中各像素行号对应的线图的色度值分布，得到以各 像素行号为横坐标值，以各像素行号对应的线图的色度值分布为纵坐标值的第 四直方图；获取所述第三直方图和/或所述第四直方图的特征信息，并以所述标 识信息为索引，存储所述第三直方图和/或所述第四直方图的特征信息。
进一步的，判断单元还包括：
判断子单元，用于根据所述待分析的安检图像的标识信息，以及所述第三 直方图和/或所述第四直方图的特征信息，判断所述待分析的安检图像是否为新 的安检图像。
进一步的，统计模块包括：
第二确定单元，用于确定亮度值统计区间；
第二统计单元，用于统计各时刻的X光扫描线图中目标像素的个数或目标 像素占该X光扫描线图总像素的比值，将该像素个数或比值作为亮度值分布的 值，得到以各时刻为横坐标值、以各时刻的X光扫描线图的亮度值分布为纵坐 标值的第一直方图，其中，所述目标像素为亮度值处于所述亮度值统计区间内 的像素。
进一步的，第一统计单元包括：
确定子单元，用于确定亮度值统计区间；
统计子单元，用于统计所述片段安检图像中各像素行号对应的线图中目标 像素的个数或目标像素占该线图总像素的比值，将该像素个数或比值作为亮度 值分布的值，得到以各像素行号为横坐标值，以各像素行号对应的线图的亮度 值分布为纵坐标值的第二直方图，其中，所述目标像素为亮度值处于所述亮度 值统计区间内的像素。
在一些可选实施例中，安检包裹识别***还包括：
背景区域确定模块，用于根据所述横坐标值区间和/或纵坐标值区间，确定 所述连续安检图像的背景区域；
第三获取模块，用于获取所述背景区域的平均亮度值和/或平均色度值；
调整模块，用于根据所述平均亮度值和/或平均色度值，调整所述亮度值统 计区间。
综上，本发明上述实施例当中的安检包裹识别***，通过获取安检机采集 的连续安检图像；统计各时刻的X光扫描线图的亮度值分布，得到以各时刻为 横坐标值、以各时刻的X光扫描线图的亮度值分布为纵坐标值的第一直方图； 根据所述第一直方图的峰谷特征，确定待分析的安检图像的横坐标值区间；根 据所述横坐标值区间，从所述连续安检图像中获取所述待分析的安检图像；对 所述待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与所述待分析的安检图像对应的 分析结果。从而根据第一直方图的峰谷特征确定待分析的安检图像，对待分析 的安检图像进行违禁品分析，提高物品分析芯片对包裹分析的有效性，提高了 安检机的使用寿命，避免了安检机内物品分析芯片做无用功，降低了损耗，解 决了现有技术中物品分析芯片持续实行检测工作，导致物品分析芯片性能消耗 严重，降低了安检机的使用寿命的技术问题。
本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序 被处理器执行时，以实现上述的安检包裹识别方法。
实施例四
本发明还提供一种安检包裹识别设备，请参阅图6，所示为本发明第四实施 例当中的安检包裹识别设备，包括存储器20、处理器10以及存储在存储器上并 可在处理器上运行的计算机程序30，所述处理器执行所述程序时实现如上述的 安检包裹识别方法。
其中，处理器10在一些实施例中可以是中央处理器(Central Processing Unit,CPU)、控制器、微控制器、微处理器或其他数据处理芯片，用于运行存储器20 中存储的程序代码或处理数据，例如执行访问限制程序等。
其中，存储器20至少包括一种类型的可读存储介质，所述可读存储介质包 括闪存、硬盘、多媒体卡、卡型存储器(例如，SD或DX存储器等)、磁性存 储器、磁盘、光盘等。存储器20在一些实施例中可以是数据处理设备的内部存 储单元，例如该数据处理设备的硬盘。存储器20在另一些实施例中也可以是数 据处理设备的外部存储装置，例如数据处理设备上配备的插接式硬盘，智能存 储卡(Smart Media Card,SMC)，安全数字(Secure Digital,SD)卡，闪存卡(Flash Card)等。进一步地，存储器20还可以既包括数据处理设备的内部存储单元也 包括外部存储装置。存储器20不仅可以用于存储安装于数据处理设备的应用软件及各类数据，还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
需要指出的是，图6示出的结构并不构成对数据处理设备的限定，在其它 实施例当中，该数据处理设备可以包括比图示更少或者更多的部件，或者组合 某些部件，或者不同的部件布置。
综上，本发明上述实施例当中的安检包裹识别设备，通过获取安检机采集 的连续安检图像；统计各时刻的X光扫描线图的亮度值分布，得到以各时刻为 横坐标值、以各时刻的X光扫描线图的亮度值分布为纵坐标值的第一直方图； 根据所述第一直方图的峰谷特征，确定待分析的安检图像的横坐标值区间；根 据所述横坐标值区间，从所述连续安检图像中获取所述待分析的安检图像；对 所述待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与所述待分析的安检图像对应的 分析结果。从而根据第一直方图的峰谷特征确定待分析的安检图像，对待分析 的安检图像进行违禁品分析，提高物品分析芯片对包裹分析的有效性，提高了 安检机的使用寿命，避免了安检机内物品分析芯片做无用功，降低了损耗，解 决了现有技术中物品分析芯片持续实行检测工作，导致物品分析芯片性能消耗 严重，降低了安检机的使用寿命的技术问题。
本领域技术人员可以理解，在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑 和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表， 可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行***、装置或设备(如 基于计算机的***、包括处理器的***或其他可以从指令执行***、装置或设 备取指令并执行指令的***)使用，或结合这些指令执行***、装置或设备而 使用。就本说明书而言，“计算机可读介质”可以是任何可以包含、存储、通信、 传播或传输程序以供指令执行***、装置或设备或结合这些指令执行***、装 置或设备而使用的装置。
计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或 多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存 储器(RAM)，只读存储器(ROM)，可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪 速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外，计算机 可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以 例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他 合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器 中。
应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。 在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执 行***执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方 式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或它们的组合来实现：具有 用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合 逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA) 等。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具 体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结 构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中， 对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具 体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适 的方式结合。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细， 但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域 的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和 改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附 权利要求为准。

Claims (10)

1.一种安检包裹识别方法，其特征在于，所述方法包括：
获取安检机采集的连续安检图像，所述连续安检图像由各时刻的X光扫描线图组成；
统计各时刻的X光扫描线图的亮度值分布，得到以各时刻为横坐标值、以各时刻的X光扫描线图的亮度值分布为纵坐标值的第一直方图；
根据所述第一直方图的峰谷特征，确定待分析的安检图像的横坐标值区间；
根据所述横坐标值区间，从所述连续安检图像中获取所述待分析的安检图像；
对所述待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与所述待分析的安检图像对应的分析结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述横坐标值区间，从所述连续安检图像中获取待分析的安检图像的步骤包括：
截取所述连续安检图像中与所述横坐标值区间对应的片段安检图像；
统计所述片段安检图像中各像素行号对应的线图的亮度值分布，得到以各像素行号为横坐标值，以各像素行号对应的线图的亮度值分布为纵坐标值的第二直方图；
根据所述第二直方图的峰谷特征，确定所述待分析的安检图像的纵坐标值区间；
截取所述片段安检图像中与所述纵坐标值区间对应的安检图像，即为所述待分析的安检图像。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，
在对所述待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与所述待分析的安检图像对应的分析结果的步骤之前，所述方法还包括：根据所述第一直方图和/或所述第二直方图的特征信息，生成所述待分析的安检图像的标识信息，并以所述标识信息为索引存储与所述待分析的安检图像相关的包裹属性信息，所述包裹属性信息包括所述横坐标值区间和所述纵坐标值区间；根据所述待分析的安检图像的标识信息，判断所述待分析的安检图像是否为新的安检图像；
对所述待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与所述待分析的安检图像对应的分析结果包括：在所述待分析的安检图像为新的安检图像的情况下，对所述待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与所述待分析的安检图像对应的分析结果。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在对所述待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与所述待分析的安检图像对应的分析结果之后，所述方法还包括：
以所述标识信息为索引存储所述分析结果，所述分析结果包括：所述待分析的安检图像中的物品的类别信息和坐标信息。
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，
在根据所述待分析的安检图像的标识信息，判断所述待分析的安检图像是否为新的安检图像之前，所述方法还包括：统计各时刻的X光扫描线图的色度值分布，得到以各时刻为横坐标值、以各时刻的X光扫描线图的色度值分布为纵坐标值的第三直方图；统计所述待分析的安检图像中各像素行号对应的线图的色度值分布，得到以各像素行号为横坐标值，以各像素行号对应的线图的色度值分布为纵坐标值的第四直方图；获取所述第三直方图和/或所述第四直方图的特征信息，并以所述标识信息为索引，存储所述第三直方图和/或所述第四直方图的特征信息；
根据所述待分析的安检图像的标识信息，判断所述待分析的安检图像是否为新的安检图像还包括：根据所述待分析的安检图像的标识信息，以及所述第三直方图和/或所述第四直方图的特征信息，判断所述待分析的安检图像是否为新的安检图像。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，统计各时刻的X光扫描线图的亮度值分布，得到以各时刻为横坐标值、以各时刻的X光扫描线图的亮度值分布为纵坐标值的第一直方图包括：
确定亮度值统计区间；
统计各时刻的X光扫描线图中目标像素的个数或目标像素占该X光扫描线图总像素的比值，将该像素个数或比值作为亮度值分布的值，得到以各时刻为横坐标值、以各时刻的X光扫描线图的亮度值分布为纵坐标值的第一直方图，其中，所述目标像素为亮度值处于所述亮度值统计区间内的像素。
7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，统计所述片段安检图像中各像素行号对应的线图的亮度值分布，得到以各像素行号为横坐标值，以各像素行号对应的线图的亮度值分布为纵坐标值的第二直方图包括：
确定亮度值统计区间；
统计所述片段安检图像中各像素行号对应的线图中目标像素的个数或目标像素占该线图总像素的比值，将该像素个数或比值作为亮度值分布的值，得到以各像素行号为横坐标值，以各像素行号对应的线图的亮度值分布为纵坐标值的第二直方图，其中，所述目标像素为亮度值处于所述亮度值统计区间内的像素。
8.根据权利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
根据所述横坐标值区间和/或纵坐标值区间，确定所述连续安检图像的背景区域；
获取所述背景区域的平均亮度值和/或平均色度值；
根据所述平均亮度值和/或平均色度值，调整所述亮度值统计区间。
9.一种安检包裹识别***，其特征在于，包括：
第一获取模块，用于获取安检机采集的连续安检图像，所述连续安检图像由各时刻的X光扫描线图组成；
统计模块，用于统计各时刻的X光扫描线图的亮度值分布，得到以各时刻为横坐标值、以各时刻的X光扫描线图的亮度值分布为纵坐标值的第一直方图；
确定模块，用于根据所述第一直方图的峰谷特征，确定待分析的安检图像的横坐标值区间；
第二获取模块，用于根据所述横坐标值区间，从所述连续安检图像中获取所述待分析的安检图像；
分析模块，用于对所述待分析的安检图像进行违禁品分析，得到与所述待分析的安检图像对应的分析结果。
10.一种安检包裹识别设备，包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-8任意一项所述的安检包裹识别方法。
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