CN113567437B - 一种点胶质量检测装置、检测方法、电子设备和存储介质 - Google Patents

Abstract

本公开提供了一种点胶质量检测装置，该装置包括：检测平台；载物台，可旋转安装于检测平台上；基座，放置在载物台上，设有预设位置用于点胶；固定模块，安装于载物台上，用于固定基座；透镜，放置在基座的预设位置；激光器，固定在透镜上，与基座位于透镜的相对面，激光器用于发出激光；滑动导轨，安装在检测平台上，垂直于载物台和检测平台的接触面；探测模块，安装于滑动导轨上，探测模块的移动方向垂直于载物台和基座的接触面，用于接收激光器发出的激光。本公开通过计算点胶前后激光器照射在探测模块上的光强分布图的中心的偏移来判断点胶的质量，进而根据点胶质量调整出胶量，装置结构简单，检测方便，可以提高检测效率以及点胶质量。

Description

一种点胶质量检测装置、检测方法、电子设备和存储介质

技术领域

本公开涉及到光电器件封装领域，特别涉及到一种点胶质量检测装置、检测方法、电子设备和存储介质。

背景技术

随着5G时代的到来，光通信行业迎来更加蓬勃的发展时期。通信速率不断提高，对光电器件封装也提出了更加严格的要求。在光电器件封装过程中，光电芯片与光学透镜的耦合是决定器件性能的重要因素。两者的耦合主要依靠UV胶的胶结实现，出胶量的多少直接决定了点胶后透镜位置的偏移，进而影响光电芯片与透镜的对准，最终对整体器件性能产生重要影响。在工艺研发初期，如何快速确定点胶的最佳出胶量是亟待解决的重要难题，对该难题的研究具有十分重要的意义。现有的确定最佳出胶量的方案，多采用红外光谱法测量胶滴的吸收峰实现。成本高，且操作不易。

公开内容

(一)要解决的技术问题

针对现有技术的上述不足，本公开的主要目的在于提供一种点胶质量检测装置、检测方法、电子设备和存储介质，以期至少部分地解决上述技术问题中的至少之一。

(二)技术方案

为了实现上述目的，本公开提供了一种点胶质量检测装置，该装置包括：

检测平台；

载物台，可旋转安装于检测平台上；

基座，放置在载物台上，基座上设有预设位置用于点胶；

固定模块，安装于载物台上，固定模块用于固定基座；

透镜，放置在基座的预设位置；

激光器，固定在透镜上，激光器与基座位于透镜的相对面，激光器用于发出激光；

滑动导轨，安装在检测平台上，垂直于载物台和检测平台的接触面；

探测模块，安装于滑动导轨上，探测模块的移动方向垂直于载物台和基座的接触面，探测模块用于接收激光器发出的激光。

在一些实施例中，在检测时，调整探测模块和载物台，使激光器的中心与探测模块的中心在一条水平线上。

在一些实施例中，载物台旋转时的轴线垂直于载物台与检测平台的接触面。

在一些实施例中，固定模块包括至少两个固定块，每个固定块的移动方向垂直于载物台与基座的接触面。

在一些实施例中，滑动导轨包括限位模块，限位模块用于固定探测模块。

在一些实施例中，探测模块包括至少一个探测器，至少一个探测器以阵列的形式分布；

探测器为光电探测器、积分球中任意一种。

另一方面，本公开还提供了一种点胶质量检测方法，利用如上述的点胶质量检测装置，该方法包括：

将基座放置在载物台上；

利用固定模块固定基座；

将透镜放置在基座的预设位置上；

将激光器固定在透镜上；

调整探测模块和载物台，使激光器的中心与探测模块的中心在一条水平线上；

使激光器通电；

记录和保存探测模块接收到的第一光强分布图；

使激光器断电；

移开透镜和激光器；

在基座的预设位置点胶；

将透镜放置在点胶后的预设位置上；

继续执行将激光器固定在透镜上的步骤，直至采集到点胶后探测模块接收到的第二光强分布图；

计算第一光强分布图的中心和第二光强分布图的中心之间的偏移量；

根据偏移量评估点胶质量。

在一些实施例中，计算第一光强分布图的中心和第二光强分布图的中心之间的偏移量，具体包括：

根据第一光强分布图计算得到第一中心Z₁(x₁，y₁)，

根据第二光强分布图计算得到第二中心Z₂(x₂，y₂)，

根据第一中心Z₁(x₁，y₁)和第二中心Z₂(x₂，y₂)计算得到点胶前后的偏移量d，

其中，a_ij表示探测模块第i行第j列得到的光电流，N表示探测模块的行数，M表示探测模块的列数，x_ij表示第i行第j列的探测器的横坐标，y_ij表示第i行第j列的探测器的纵坐标。

另一方面，本公开还提供了一种电子设备，该电子设备包括：

通信器，用于与服务器通信；

处理器；

存储器，其存储有计算机可执行程序，该计算机可执行程序在被处理器执行时，使得处理器执行如上述的点胶质量检测方法。

另一方面，本公开还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机程序被处理器执行时实现如上述的点胶质量检测方法。

(三)有益效果

本公开提供的点胶质量检测装置，通过计算点胶前后激光器照射在探测模块上的光强分布图的中心的偏移来判断点胶的质量，进而根据点胶质量调整出胶量，该装置结构简单，检测方便，可以有效地提高检测效率，以及提高点胶质量。

附图说明

为了更清楚地说明本公开实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开中的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图。

图1示意性示出了本公开一实施例提供的一种点胶质量检测装置的结构示意图；

图2示意性示出了本公开一实施例提供的一种点胶质量检测装置检测时激光器和探测模块的位置的示意图；

图3示意性示出了本公开一实施例提供的一种点胶质量检测装置的载物台的旋转方向示意图；

图4示意性示出了本公开一实施例提供的一种点胶质量检测装置的固定模块的结构示意图；

图5示意性示出了本公开一实施例提供的一种点胶质量检测装置的探测模块的结构示意图；

图6示意性示出了本公开一实施例提供的一种点胶质量检测方法的流程示意图；

图7示意性示出了本公开一实施例提供的根据第一光强分布图和第二光强分布图计算偏移量的方法的流程示意图；

图8示意性示出了本公开一实施例提供的第一中心和第二中心的示意图；

图9示意性示出了根据本公开一实施例提供的实现一种点胶质量检测方法的电子设备的方框图。

附图标记说明

1检测平台；2载物台；3基座；4固定模块；5透镜；6激光器；7滑动导轨；8探测模块；40固定块；70限位模块；80探测器。

具体实施方式

以下，将参照附图来描述本公开的实施例。但是应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本公开的范围。在下面的详细描述中，为便于解释，阐述了许多具体的细节以提供对本公开实施例的全面理解。然而，明显地，一个或多个实施例在没有这些具体细节的情况下也可以被实施。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本公开的概念。

在此使用的术语仅仅是为了描述具体实施例，而并非意在限制本公开。在此使用的术语“包括”、“包含”等表明了所述特征、步骤、操作和/或部件的存在，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、步骤、操作或部件。

在此使用的所有术语(包括技术和科学术语)具有本领域技术人员通常所理解的含义，除非另外定义。应注意，这里使用的术语应解释为具有与本说明书的上下文相一致的含义，而不应以理想化或过于刻板的方式来解释。

附图中示出了一些方框图和/或流程图。应理解，方框图和/或流程图中的一些方框或其组合可以由计算机程序指令来实现。这些计算机程序指令可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器，从而这些指令在由该处理器执行时可以创建用于实现这些方框图和/或流程图中所说明的功能/操作的装置。

图1示意性示出了本公开一实施例提供的一种点胶质量检测装置的结构示意图，如图1所示，在本公开一实施例中，该装置包括：检测平台1、载物台2、基座3、固定模块4、透镜5、激光器6、滑动导轨7和探测模块8。

在本实施例中，在上述检测平台1上可旋转安装有载物台2，上述载物台2用于放置基座3，基座3上设有预设位置用于点胶，载物台2上安装有固定模块4，固定模块4用于固定上述基座3，在上述基座3的预设位置上放置有透镜5，在透镜5上固定有激光器6，激光器6与上述基座3位于透镜5的相对面，激光器6用于发出激光，滑动导轨7也安装在上述检测平台1上，且滑动导轨7垂直于上述载物台2和上述检测平台1的接触面，在滑动导轨7上安装有探测模块8，探测模块8的移动方向垂直于上述载物台2和上述基座3的接触面，探测模块8用于接收上述激光器6发出的激光。

图2示意性示出了本公开一实施例提供的一种点胶质量检测装置检测时激光器和探测模块的位置的示意图，如图2所示，在本公开一实施例中，在检测时，调整上述探测模块8和上述载物台2，使激光器6的中心与探测模块8的中心在一条水平线上。

在本实施例中，为了使激光器6发出的激光尽可能的被上述探测模块8采集，在检测时，需要调整载物台2和探测模块8的位置，例如旋转载物台2，使激光器6的中心和探测模块8的中心在同一垂直平面内，沿滑动导轨7移动探测模块8，使激光器6的中心和探测模块8的中心在一条水平线上。

需要注意的是，图2所示的检测装置中各部件的形状、尺寸、位置以及点胶的位置仅为示例，以帮助本领域技术人员理解本公开的技术内容，但并不意味着本公开提供的检测装置中各部件的形状、尺寸、位置以及点胶的位置仅为图2所示，具体形状、尺寸、位置以及点胶的位置可根据实际需求设定。

图3示意性示出了本公开一实施例提供的一种点胶质量检测装置的载物台的旋转方向示意图，如图3所示，在本公开一实施例中，载物台2旋转时的轴线垂直于载物台2与检测平台1的接触面。

在本实施例中，载物台2和检测平台1之间是可旋转安装，为了使激光器6的中心和探测模块8的中心在同一垂直平面内，载物台2的旋转轴线应与载物台2和检测平台1的接触面相垂直，否则将无法保证检测时激光器6的中心和探测模块8的中心在一条水平线上。

需要注意的是，图3所示的载物台的旋转方向仅为示例，以帮助本领域技术人员理解本公开的技术内容，但并不意味着本公开提供的载物台的转转方向仅为图3所示，具体的旋转方向可根据实际需求设定为逆时针旋转或顺时针旋转。

图4示意性示出了本公开一实施例提供的一种点胶质量检测装置的固定模块的结构示意图，如图4所示，在本公开一实施例中，固定模块4包括至少两个固定块40，每个固定块40的移动方向垂直于载物台2与基座3的接触面。

在本实施例中，固定模块4用于固定基座3，因为基座3固定在载物台2上，而载物台2旋转时的轴线垂直于载物台2与检测平台1的接触面，即基座3在垂直于上述载物台2和检测平台1的接触面的方向上没有运动趋势，只需避免基座3在平行于上述载物台2和检测平台1的接触面的方向上运动即可，因此每个固定块40的移动方向垂直于载物台2与基座3的接触面。

需要注意的是，图4所示的定位模块包括的定位块的数量、尺寸和位置仅为示例，以帮助本领域技术人员理解本公开的技术内容，但并不意味着本公开提供的定位模块的定位块的数量、尺寸和位置仅为图4所示，具体数量、尺寸和位置可根据实际需求设定。

在本公开一实施例中，滑动导轨7包括限位模块70，限位模块70用于固定探测模块8。

在本实施例中，探测模块8安装在滑动导轨7上，在检测时，需要移动探测模块8，使探测模块8的中心和激光器6的中心在一条水平线上，为了避免探测模块8因重力原因在检测的过程中下移而导致检测结果不准确的情况发生，需要设置一个限位装置，使检测过程中探测模块8的位置固定，因此，在滑动导轨7上还设置有限位模块70，用于固定探测模块8。

图5示意性示出了本公开一实施例提供的一种点胶质量检测装置的探测模块的结构示意图，如图5所示，在本公开一实施例中，探测模块8包括至少一个探测器80，至少一个探测器80以阵列的形式分布，探测器80为光电探测器、积分球中任意一种。

在本实施例中，本公开提供的检测装置主要是根据点胶前后激光器6照射在探测模块8上的光强分布图的中心的偏移量来判断点胶质量，因此，为了更准确更全面的采集激光器6发出的激光，本公开提供的探测模块8包括至少一个探测器80，当探测器80的数量不止一个时，探测器80以阵列的形式分布，可以保证尽可能多的采集激光器6发出的激光，本公开提供的探测器80的种类有很多，例如光电探测器、积分球等。

需要注意的是，图5所示的探测模块的探测器的数量和排列方式仅为示例，以帮助本领域技术人员理解本公开的技术内容，但并不意味着本公开提供的探测模块的探测器的数量和排列方式仅为图5所示，具体的数量和排列方式可根据实际需求设定。

另一方面，本公开还提供了一种点胶质量检测方法，图6示意性示出了本公开一实施例提供的一种点胶质量检测方法的流程示意图，利用如上述的点胶质量检测装置，如图6所示，在本公开一实施例中，该检测方法包括：

S601、将上述基座3放置在上述载物台2上；

S602、利用上述固定模块4固定上述基座3；

S603、将上述透镜5放置在上述基座3的预设位置上；

S604、将上述激光器6固定在上述透镜5上；

S605、调整上述探测模块8和上述载物台2，使上述激光器6的中心与上述探测模块8的中心在一条水平线上；

S606、使上述激光器6通电；

S607、记录和保存上述探测模块8接收到的第一光强分布图；

S608、使上述激光器6断电；

S609、移开上述透镜5和上述激光器6；

S610、在上述基座3的上述预设位置点胶；

S611、将上述透镜5放置在点胶后的上述预设位置上；

S612、继续执行上述将上述激光器6固定在上述透镜5上的步骤，直至采集到点胶后上述探测模块8接收到的第二光强分布图；

S613、计算上述第一光强分布图的中心和上述第二光强分布图的中心之间的偏移量；

S614、根据上述偏移量评估点胶质量。

图7示意性示出了本公开一实施例提供的根据第一光强分布图和第二光强分布图计算偏移量的方法的流程示意图，图8示意性示出了本公开一实施例提供的第一中心和第二中心的示意图，如图7和8所示，该方法包括：

S701、根据上述第一光强分布图计算得到第一中心Z₁(x₁，y₁)，

S702、根据上述第二光强分布图计算得到第二中心Z₂(x₂，y₂)，

S703、根据上述第一中心Z₁(x₁，y₁)和上述第二中心Z₂(x₂，y₂)计算得到点胶前后的偏移量d，

其中，a_ij表示探测模块8第i行第j列得到的光电流，N表示探测模块8的行数，M表示探测模块8的列数，x_ij表示第i行第j列的探测器80的横坐标，y_ij表示第i行第j列的探测器80的纵坐标。

在本实施例中，先计算第一光强分布图和第二光强分布图的中心，再计算第一中心和第二中心之间的距离值d，该距离值d即为点胶前后的偏移量，该距离值d的值越小，表示点胶的质量越高。

图9示意性示出了根据本公开实施例的适于实现上文描述的方法的电子设备的方框图，图9示出的电子设备仅仅是一个示例，不应对本公开实施例的功能和使用范围带来任何限制。

如图9所示，在本公开一实施例中，该电子设备900包括：

通信器910，用于与服务器通信；

处理器920；

存储器930，其存储有计算机可执行程序，该程序包含如上文所述一种点胶质量检测方法。

根据本公开的实施例，电子设备1000还可以包括输入/输出(I/O)接口，输入/输出(I/O)接口也连接至总线。电子设备900还可以包括连接至I/O接口的以下部件中的一项或多项：包括键盘、鼠标等的输入部分；包括诸如阴极射线管(CRT)、液晶显示器(LCD)等以及扬声器等的输出部分；包括硬盘等的存储部分；以及包括诸如LAN卡、调制解调器等的网络接口卡的通信部分。通信部分经由诸如因特网的网络执行通信处理。驱动器也根据需要连接至I/O接口。可拆卸介质，诸如磁盘、光盘、磁光盘、半导体存储器等等，根据需要安装在驱动上，以便于从其上读出的计算机程序根据需要被安装入存储部分。

根据本公开的实施例，根据本公开实施例的方法流程可以被实现为计算机软件程序。例如，本公开的实施例包括一种计算机程序产品，其包括承载在计算机可读存储介质上的计算机程序，该计算机程序包含用于执行流程图所示的方法的程序代码。在这样的实施例中，该计算机程序可以通过通信部分从网络上被下载和安装，和/或从可拆卸介质被安装。在该计算机程序被处理器执行时，执行本公开实施例的***中限定的上述功能。根据本公开的实施例，上文描述的***、设备、装置、模块、单元等可以通过计算机程序模块来实现。

处理器920例如可以包括通用微处理器、指令集处理器和/或相关芯片组和/或专用微处理器(例如，专用集成电路(ASIC))，等等。处理器920还可以包括用于缓存用途的板载存储器。处理器920可以是用于执行根据本公开实施例的方法流程的不同动作的单一处理单元或者是多个处理单元。

存储器930，例如可以是能够包含、存储、传送、传播或传输指令的任意介质。例如，可读存储介质可以包括但不限于电、磁、光、电磁、红外或半导体***、装置、器件或传播介质。可读存储介质的具体示例包括：磁存储装置，如磁带或硬盘(HDD)；光存储装置，如光盘(CD-ROM)；存储器，如随机存取存储器(RAM)或闪存；和/或有线/无线通信链路。其存储有计算机可执行程序，该程序在被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如上文所述的一种点胶质量检测方法。

本公开还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序包含如上文所述的一种点胶质量检测方法。该计算机可读存储介质可以是上述实施例中描述的装置/设备中所包含的；也可以是单独存在，而未装配入该装置/设备中。上述计算机可读存储介质承载有一个或者多个程序，当上述一个或者多个程序被执行时，实现根据本公开实施例的方法。

根据本公开的实施例，计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质或者是上述两者的任意组合。计算机可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的***、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子可以包括但不限于：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本公开中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行***、装置或者器件使用或者与其结合使用。而在本公开中，计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行***、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于：无线、有线、光缆、射频信号等等，或者上述的任意合适的组合。

需要说明的是，本公开的技术方案中，所涉及的用户个人信息的获取，存储和应用等，均符合相关法律法规的规定，且不违背公序良俗。同时，本公开提供的一种点胶质量检测方法、装置、电子设备和存储介质可用于金融领域，也可用于除金融领域之外的任意领域，本公开对提供的点胶质量检测方法的应用领域不做限定。

附图中的流程图和框图，图示了按照本公开各种实施例的***、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分，上述模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图或流程图中的每个方框、以及框图或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的***来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

本领域技术人员可以理解，本公开的各个实施例和/或权利要求中记载的特征可以进行多种组合或/或结合，即使这样的组合或结合没有明确记载于本公开中。特别地，在不脱离本公开精神和教导的情况下，本公开的各个实施例和/或权利要求中记载的特征可以进行多种组合和/或结合。所有这些组合和/或结合均落入本公开的范围。

尽管已经参照本公开的特定示例性实施例示出并描述了本公开，但是本领域技术人员应该理解，在不背离所附权利要求及其等同物限定的本公开的精神和范围的情况下，可以对本公开进行形式和细节上的多种改变。因此，本公开的范围不应该限于上述实施例，而是应该不仅由所附权利要求来进行确定，还由所附权利要求的等同物来进行限定。

Claims (7)

1.一种点胶质量检测装置，其特征在于，包括：

检测平台(1)；

载物台(2)，可旋转安装于所述检测平台(1)上，所述载物台(2)旋转时的轴线垂直于所述载物台(2)与所述检测平台(1)的接触面；

基座(3)，放置在所述载物台(2)上，所述基座(3)上设有预设位置用于点胶；

固定模块(4)，安装于所述载物台(2)上，所述固定模块(4)用于固定所述基座(3)，所述固定模块(4)包括至少两个固定块(40)，每个所述固定块(40)的移动方向垂直于所述载物台(2)与所述基座(3)的接触面；

透镜(5)，放置在所述基座(3)的所述预设位置；

激光器(6)，固定在所述透镜(5)上，所述激光器(6)与所述基座(3)位于所述透镜(5)的相对面，所述激光器(6)用于发出激光；

滑动导轨(7)，安装在所述检测平台(1)上，垂直于所述载物台(2)和所述检测平台(1)的接触面；

探测模块(8)，安装于所述滑动导轨(7)上，所述探测模块(8)的移动方向垂直于所述载物台(2)和所述基座(3)的接触面，所述探测模块(8)用于接收所述激光器(6)发出的激光；在检测时，调整所述探测模块(8)和所述载物台(2)，使所述激光器(6)的中心与所述探测模块(8)的中心在一条水平线上。

2.根据权利要求1所述的点胶质量检测装置，其特征在于，所述滑动导轨(7)包括限位模块(70)，所述限位模块(70)用于固定所述探测模块(8)。

3.根据权利要求1所述的点胶质量检测装置，其特征在于，所述探测模块(8)包括至少一个探测器(80)，所述至少一个探测器(80)以阵列的形式分布；

所述探测器(80)为光电探测器、积分球中任意一种。

4.一种点胶质量检测方法，其特征在于，利用如权利要求1-3任一项所述的点胶质量检测装置，所述方法包括：

将所述基座(3)放置在所述载物台(2)上；

利用所述固定模块(4)固定所述基座(3)；

将所述透镜(5)放置在所述基座(3)的预设位置上；

将所述激光器(6)固定在所述透镜(5)上；

调整所述探测模块(8)和所述载物台(2)，使所述激光器(6)的中心与所述探测模块(8)的中心在一条水平线上；

使所述激光器(6)通电；

记录和保存所述探测模块(8)接收到的第一光强分布图；

使所述激光器(6)断电；

移开所述透镜(5)和所述激光器(6)；

在所述基座(3)的所述预设位置点胶；

将所述透镜(5)放置在点胶后的所述预设位置上；

继续执行所述将所述激光器(6)固定在所述透镜(5)上的步骤，直至采集到点胶后所述探测模块(8)接收到的第二光强分布图；

计算所述第一光强分布图的中心和所述第二光强分布图的中心之间的偏移量；

根据所述偏移量评估点胶质量。

5.根据权利要求4所述的点胶质量检测方法，其特征在于，所述计算所述第一光强分布图的中心和所述第二光强分布图的中心之间的偏移量，具体包括：

根据所述第一光强分布图计算得到第一中心Z₁(x₁，y₁)，

根据所述第二光强分布图计算得到第二中心Z₂(x₂，y₂)，

根据所述第一中心Z₁(x₁，y₁)和所述第二中心Z₂(x₂，y₂)计算得到点胶前后的偏移量d，

其中，a_ij表示探测模块(8)第i行第j列的探测器(80)得到的光电流，N表示探测模块(8)的行数，M表示探测模块(8)的列数，x_ij表示第i行第j列的探测器(80)的横坐标，y_ij表示第i行第j列的探测器(80)的纵坐标。

6.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

通信器，用于与服务器通信；

处理器；

存储器，其存储有计算机可执行程序，该计算机可执行程序在被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如权利要求4和5中任一项所述的点胶质量检测方法。

7.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求4和5中任一项所述的点胶质量检测方法。