CN113447754B - 一种测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种测试装置，包括恒流电源及与其串联连接的多个测试切换单元形成的回路，测试切换单元包括测试夹具，延时断开电路，及延时接通电路；延时断开电路与测试夹具串联构成测试线路；延时接通电路与测试线路并联；延时断开电路及延时接通电路上设置有检测元件，检测元件根据待测试器件工作状态控制延时断开电路延时断开测试夹具，并控制延时接通电路延时接通以短接测试线路；或检测元件根据待测试器件工作状态控制延时断开电路保持接通，控制延时接通电路保持断开。本发明的有益效果体现在：可以实现多路待检测器件均工作在恒电流模式中，采用一套恒流电源即实现了同时检测多路产品的需求，可靠性高，大大降低了成本。

Description

一种测试装置
技术领域
本发明属于器件测试技术领域，尤其涉及一种测试装置。
背景技术
当半导体器件制作完成后，一般都需要对其进行性能的测试，其中包括对半导体器件是否可以正常工作，例如点亮、启闭等的测试。业界通常采用的是通过恒流电源进行点亮测试，使产品在恒电流模式下工作，以查看发光情况和参数。
但当产线上的产品数量众多时，如果通过产品与恒流电源采用一一对应配套使用，不仅需要足够大的安装控件，还会导致最终硬件接线电路复杂。同时，由于可靠的恒流电源往往价格较高，一一对应更会带来高昂的成本。当然，也有采用手动将恒流电源进行间隔使用，通过分时间段测试产品，但此种方式，可靠性不高。因此，开发一种可靠测试装置以方便快速的进行众多产品的检测显得尤为重要。
发明内容
为了解决现有技术的不足，本发明提供了一种测试装置及其测试方法。
本发明的目的通过以下技术方案来实现：
一种测试装置，包括恒流电源及与所述恒流电源串联连接的多个测试切换单元形成的回路，所述测试切换单元包括用于连接待测试器件的测试夹具，延时断开电路，及延时接通电路；所述延时断开电路与所述测试夹具串联，构成测试线路；所述延时接通电路与所述测试线路并联连接；所述延时断开电路及所述延时接通电路上设置有用于监测所述待测试器件的检测元件，所述检测元件根据待测试器件的工作状态控制所述延时断开电路延时断开所述测试夹具，并控制所述延时接通电路延时接通以短接所述测试线路；或者所述检测元件根据待测试器件的工作状态控制所述延时断开电路保持接通，并控制所述延时接通电路保持断开。
优选地，所述待测试器件为显示器或灯片，所述检测元件为光电传感器。
优选地，所述延时断开电路包括第一延时开关，及与所述第一延时开关并联的第一光电开关。
优选地，所述延时接通电路包括第二延时开关，及与所述第二延时开关串联的第二光电开关。
优选地，所述第一延时开关触点常闭，所述第一光电开关触点常开。
优选地，所述第二延时开关触点常开，第二光电开关触点常闭。
优选地，所述第一延时开关和第二延时开关均包括延时继电器和动作开关，所述第一光电开关及第二光电开关均包括光电继电器和动作开关。
优选地，所述延时接通电路的延时时间不大于所述延时断开电路的延时时间。
优选地，所述回路上还串联连接有防短路负载。
本发明的有益效果体现在：本装置可以实现多路待检测器件均工作在恒电流模式中，采用一套恒流电源即实现了同时检测多路产品的需求，可靠性高，大大降低了成本。
附图说明
图1：本发明电路示意图。
具体实施方式
以下结合实施例具体阐述本发明的技术方案，本发明揭示了一种测试装置，结合图1所示，包括恒流电源及根据所述恒流电源的不同功率按需与所述恒流电源进行串联连接的多个测试切换单元形成的回路。所述恒流电源能在恒电流模式下工作，其电压随负载改变而变化，但电流保持为设定值。
每个所述测试切换单元均包括用于连接待测试器件的测试夹具、与所述测试夹具串联构成测试线路的延时断开电路、及与所述测试线路并联连接的延时接通电路。所述延时接通电路的延时时间不大于所述延时断开电路的延时时间，保证其中一个待测试器件损坏需要将延时断开电路切换至延时接通电路时，其余待测试器件不会受到影响
所述回路上还串联连接有防短路负载，防止所有待测试器件器件故障而造成整个回路短路。
所述延时断开电路及所述延时接通电路上设置有用于监测所述待测试器件的检测元件，所述检测元件根据待测试器件的工作状态控制所述延时断开电路延时断开所述测试夹具，并控制所述延时接通电路延时接通以短接所述测试线路；或者所述检测元件根据待测试器件的工作状态控制所述延时断开电路保持接通，并控制所述延时接通电路保持断开。所述待测试器件为显示器或灯片，所述检测元件为光电传感器。
所述延时断开电路包括延时开关，及与所述延时开关并联的光电开关。且所述延时断开电路中的延时开关触点常闭，光电开关触点常开。所述延时接通电路包括另一延时开关，及与所述该延时开关串联的另一光电开关。所述延时接通电路中的延时开关触点常开，光电开关触点常闭。
所述延时断开电路及所述延时接通电路中的延时开关包括动作开关及控制所述动作开关的延时继电器。延时开关的触点会在得电后设定的时间控制动作开关动作。光电开关包括动作开关及控制所述动作开关的光电继电器。光电开关的触点在收到光源满足条件的情况下控制动作开关进行触发而动作。
本实施例中所述的测试切换单元设置有两个，分别为第一测试切换单元及第二测试切换单元。待测试器件为灯片。
所述第一测试切换单元具体包括设置有灯片L1的第一测试夹具、由延时开关KT1-1及与所述延时开关KT1-1并联的光电开关G1-1构成的第一延时断开电路；由延时开关KT3-1及与所述延时开关KT3-1串联的光电开关G1-2构成的第一延时接通电路。
相应的，所述第二测试切换单元具体包括设置有灯片L2的第二测试夹具、由延时开关KT2-1及与所述延时开关KT2-1并联的光电开关G2-1构成的第二延时断开电路；由延时开关KT3-2及与所述延时开关KT3-2串联的光电开关G2-2构成的第二延时接通电路。
其中，所述延时开关KT1-1和所述延时开关KT2-1触点常闭。所述光电开关G1-1和所述光电开关G2-1触点常开。延时开关KT1-1的一端与恒流电源P的正极连接，另一端与第一测试夹具一端连接，第一测试夹具的另一端与延时开关KT2-1一端连接，延时开关KT2-1另一端与第二测试夹具的一端连接，第二测试夹具的另一端与恒流电源P的负极连接。
为更好的理解本发明，以下阐述下当存在两个测试切换单元时所述测试装置的工作过程：
S1、设定延时开关KT1-1及延时开关KT2-1的延时时间为2秒。
S2、恒流电源P刚输出时，电流通过延时开关KT1-1、延时开关KT2-1的常闭触点，与测试夹具上的灯片L1及灯片L2形成回路，灯片L1和灯片L2正常工作。
S3、当灯片L1和灯片L2正常工作，光电开关G1-1和光电开关G2-1接收信号被触发使得其常开触点吸合，电流通过灯片L1和灯片L2与光电开关G1-1和光电开关G2-1形成新的回路。
S4、当时间达到设定的时间时，所述延时开关KT1-1和延时开关KT2-1常闭触点断开，若灯片L1和灯片L2工作，则电流通过灯片L1和灯片L2和光电开关G1-1和光电开关G2-1形成回路；测试切换单元中的两个灯片彼此串联，同时在恒电流模式工作；
S4、当其中一个测试切换单元中的灯片故障，灯片断路或者发光参数异常时，对应的所述测试切换单元中光电开关不触发，电流通过所述测试切换单元中常闭触点的光电开关及延时开关与另一个测试切换单元中的灯片形成回路，故障灯片被短路而停止工作，另一测试切换单元中灯片通过延时接通电路持续在恒电流模式工作，此时，通过肉眼观察即可判断故障灯片与良好灯片，安全且快捷方便。
具体的，当灯片L1故障时，此时，对应的光电开关G1-1不被触发，电流通过光电开关G1-2和延时开关KT3-1与灯片L2形成回路，保证L2持续工作。同样的，灯片L2故障时也会进行以上动作。
可以理解，所述测试单元为3个或更多个时，工作过程相同，这样采用一台恒流电源即可同时测试多个灯片，节约成本，提高工作效率。
当然本发明尚有多种具体的实施方式，在此就不一一列举。凡采用等同替换或者等效变换而形成的所有技术方案，均落在本发明要求保护的范围之内。

Claims (4)

1.一种测试装置，其特征在于，包括恒流电源及与所述恒流电源串联连接的多个测试切换单元形成的回路，所述测试切换单元包括用于连接待测试器件的测试夹具，延时断开电路，及延时接通电路；所述延时断开电路与所述测试夹具串联，构成测试线路；所述延时接通电路与所述测试线路并联连接；所述延时断开电路及所述延时接通电路上设置有用于监测所述待测试器件的检测元件，所述检测元件根据待测试器件的工作状态控制所述延时断开电路延时断开所述测试夹具，并控制所述延时接通电路延时接通以短接所述测试线路；或者所述检测元件根据待测试器件的工作状态控制所述延时断开电路保持接通，并控制所述延时接通电路保持断开；所述延时断开电路包括第一延时开关，及与所述第一延时开关并联的第一光电开关；
所述延时接通电路包括第二延时开关，及与所述第二延时开关串联的第二光电开关；
所述第一延时开关触点常闭，所述第一光电开关触点常开；
所述第二延时开关触点常开，第二光电开关触点常闭；所述延时接通电路的延时时间不大于所述延时断开电路的延时时间。
2.如权利要求1所述的一种测试装置，其特征在于，所述待测试器件为显示器或灯片，所述检测元件为光电传感器。
3.如权利要求2所述的一种测试装置，其特征在于，所述第一延时开关和第二延时开关均包括延时继电器和动作开关，所述第一光电开关及第二光电开关均包括光电继电器和动作开关。
4.如权利要求1所述的一种测试装置，其特征在于，所述回路上还串联连接有防短路负载。
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