CN113436652A - 磁盘装置 - Google Patents
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Abstract
本发明的实施方式提供一种能抑制定位数据的解调错误的产生的磁盘装置。实施方式的磁盘装置在无法从由第1读头读出的定位信息检测出第1定位数据的情况下,基于由第2读头读出定位信息而得到的第2定位数据所示的磁盘的半径位置、以及存储于存储部的时间数据,根据由第1读头读出的定位信息确定第1定位数据,基于确定出的第1定位数据来进行磁头的定位。
Description
关联申请
本申请享有以日本专利申请2020-51115号(申请日:2020年3月23日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包括基础申请的所有内容。
技术领域
实施方式涉及磁盘装置。
背景技术
关于磁盘装置已知如下技术:通过采用多个磁传感器而对多个记录磁道同时进行再现,来实现高转送率化。
发明内容
本发明的实施方式提供一种能抑制定位数据的解调错误的产生的磁盘装置。
一实施方式的磁盘装置具有:记录有定位信息的磁盘;具有第1读头和位于与所述第1读头不同的位置的第2读头的磁头;基于第1定位数据来进行所述磁头的定位的控制部,该第1定位数据由所述第1读头读出所述定位信息来得到;以及存储时间数据和评价数据的存储部,该时间数据表示与所述磁盘的半径位置相应地测定所述第1读头与所述第2读头的读出所述定位信息的定时(timing)的偏离量而得的结果,该评价数据是由所述第1读头和所述第2读头分别读出所述定位信息时的评价数据;所述控制部在无法从由所述第1读头读出的所述定位信息检测出所述第1定位数据的情况下,基于由所述第2读头读出所述定位信息而得到的第2定位数据所示的所述磁盘的半径位置、以及存储于所述存储部的所述时间数据,根据由所述第1读头读出的所述定位信息确定所述第1定位数据,基于所述确定出的所述第1定位数据来进行所述磁头的定位。
附图说明
图1是表示实施方式的磁盘装置的构成的一个例子的图。
图2是表示该实施方式的多个读头的配置的一个例子的图。
图3是表示该实施方式的多个读头的配置的一个例子的图。
图4是用于说明该实施方式的读取伺服数据的流程的一个例子的图。
图5是表示该实施方式的伺服数据的生成波形的一个例子的图。
图6是表示该实施方式的从多个读头生成的伺服生成波形的一个例子的图。
图7是表示该实施方式的时间数据的一个例子的图。
图8是表示该实施方式的相对于柱面的按磁道(轨道)间距标准化了的读头间距离的一个例子的图。
图9是表示对该实施方式的合成伺服生成波形的构成进行说明的图形的3个半径位置的图。
图10是表示该实施方式的半径位置处的合成图形的一个例子的图。
图11是表示该实施方式的半径位置处的合成图形的一个例子的图。
图12是表示该实施方式的半径位置处的合成图形的一个例子的图。
图13表示该实施方式的合成系数α的一个例子的图。
图14是表示该实施方式的对生成波形进行解调的处理的一个例子的流程图。
图15是表示该实施方式的对生成波形进行解调的处理的一个例子的流程图。
图16是用于说明该实施方式的缩短“Burst A&B”的部分的长度的图。
图17是表示该实施方式的多个读头的配置的变形例的图。
图18是表示该实施方式的多个读头的配置的变形例的图。
图19是表示该实施方式的多个读头的配置的变形例的图。
具体实施方式
以下,参照附图,对实施方式进行说明。此外,公开只不过是一个例子,并非由以下的实施方式所记载的内容来限定发明。本领域技术人员能容易想到的变形当然包括在公开的范围内。另外,为了使说明更明确,在附图中,有时相对于实际的实施方式改变并示意性地表示各部分的尺寸、形状等。在多个附图中,对于对应的要素赋予相同的参照数字并省略详细的说明。
图1是表示实施方式的磁盘装置1的构成的一个例子的图。
如图1所示,磁盘装置1例如构成为硬盘驱动器(HDD),并具有磁盘2、主轴电机(SPM)3、执行器(致动器)4、音圈电机(VCM)5、磁头10、前置放大器IC11、R/W信道12、硬盘控制器(HDC)13、微处理器(MPU)14、驱动器IC15和存储器16。另外,磁盘装置1能与主机(host)17相连。磁头10具有写入头(记录头:writer)10W、读出头(再现头:reader)10R、以及作为高频振荡元件的自旋转矩振荡器(Spin-Torque Oscillator:STO)100。另外,在本实施方式中,以读出头10R具有2个读头(读出元件)、即作为第1读头的读头R1和作为第2读头的读头R2的情况进行说明。参照图2、图3,在之后对该读头R1、R2的配置进行描述。此外,R/W信道12、HDC13和MPU14可以组装到单芯片的集成电路中。
磁盘2例如具有形成为圆板状的、由非磁性体构成的基板。在基板的各表面,依次层叠有:作为基底层的由示出软磁特性的材料构成的软磁性层;在其上层部的、在相对于盘面垂直的方向上具有磁各向异性的磁记录层;以及在其上层部的保护膜层。在此,将磁头10的方向作为上层。
磁盘2固定于主轴电机(SPM)3,由该SPM3而使其以预定的速度旋转。此外,不限于1张,可以将多张磁盘2设置于SPM3。SPM3由从驱动器IC15供给的驱动电流(或驱动电压)驱动。磁盘2由磁头10来记录再现数据图形。
执行器4自如转动地设置,并且,在其顶端部支承着磁头10。由音圈电机(VCM)5使执行器4转动,从而磁头10移动到磁盘2的所希望的磁道上并被定位。VCM5由从驱动器IC15供给的驱动电流(或驱动电压)驱动。
磁头10具有设置于执行器4的顶端的滑块、形成于滑块的写入头10W、以及读出头10R。磁头10根据磁盘2的张数而设有多个。
前置放大器IC11将与从R/W信道12供给的写入数据相应的写入信号(写入电流)向写入头10W供给。另外,前置放大器IC11将从读出头10R输出的读出信号放大并向R/W信道12传送。
R/W信道12是处理与读出(read)/写入(write)相关联的信号的信号处理电路。R/W信道12包括执行读出数据的信号处理的读出信道和执行写入数据的信号处理的写入信道。读出信道与上述的2个读头R1、R2相应地设有2个(参照:图4)。R/W信道12将读出信号转换成数字数据并从数字数据解调读出数据。R/W信道12对从HDC13转送的写入数据进行编码并将编码后的写入数据向前置放大器IC11转送。
HDC13控制经由磁头10、前置放大器IC11、R/W信道12和MPU14向磁盘2的数据写入、以及从磁盘2的数据读出。HDC13构成磁盘装置1和主机17的接口,执行读出数据和写入数据的转送控制。也就是说,HDC13作为接收从主机17转送的信号且向主机17转送信号的主机接口控制器而发挥作用。另外,HDC13接收从主机17转送的命令(写入命令、读出命令等)并将接收到的命令向MPU14发送。
MPU14是磁盘装置1的主控制器(控制部),执行读出/写入动作的控制和磁头10的定位所需的控制。
驱动器IC15根据MPU14的控制来控制SPM3和VCM5的驱动。通过VCM5驱动,使磁头10位于磁盘2上的目标磁道。
存储器16包括作为非易失性存储器的闪存ROM和作为易失性存储器的DRAM。例如,闪存ROM保存MPU14的处理所需的程序和参数。DRAM被使用作为工作区等。在本实施方式中,在存储器16的非易失性存储器中,设有存储评价函数表格(评价数据)的评价函数表格存储部161,并且,设有时间数据存储部162和读头间距离存储部163。评价函数表格是如下表格:在按照测定对象的半径位置、追随被STW(Servo Track Write,伺服磁道写入)了的磁道地进行控制、使磁头10的位置相对于STW磁道的中心偏移时的、相对于偏移位置的位置灵敏度、NRRO(Non Repeatable Run Out,非重复性振摆)的表格。对读头R1和读头R2分别制作评价函数表格,并将其存储于评价函数表格存储部161。时间数据存储部162存储与磁盘2的半径位置相应地测定了由读头R1和读头R2分别读出伺服数据时的读出开始的定时的偏离量而得的时间数据。此外,作为时间数据的一个例子,能举出读头R1、R2的读出开始的定时的偏离量的测定结果(参照:图7),但也可以不是测定出的偏离量本身而是例如偏离量的大小相对于预定的阈值的指标。读头间距离存储部163存储与磁盘2的半径位置相应地测定了读出伺服数据时的读头R1与读头R2的读头间距离而得的读头间距离数据。分别参照图7、图8,在之后对时间数据和读头间距离的一个例子进行描述。
图2是表示磁头10的读头R1、R2的配置的一个例子的图。在图2中,示出从磁头10的记录面10a侧观察的读头R1、R2的配置。如图2所示,在本实施方式中,读头R1和读头R2在周向和半径方向分别偏离地配置。由于读头R1、R2从图示的下侧读出数据,所以,配置成若是相同的数据,则读头R1在时间上先于读头R2地读数据。
图3是表示读头R1、R2的配置的变形例的图。与图2的情况相比,读头R1和读头R2在半径方向上向相反侧偏离地配置。此外,在磁盘装置1中,磁盘2的两面是记录面10a,在对各记录面设置磁头10的情况下,关于读头R1、R2的配置,可以是一方的记录面10a采用图2的配置而另一方的记录面10a采用图3的配置。
图4是用于说明从读头R1、R2读取伺服数据(定位数据)的流程的一个例子的图。
如图4所示,磁盘2包括多个数据磁道(数据轨道),在该多个数据磁道以预定间隔设有记录有表示磁盘2的位置的伺服数据的伺服区域。如采用图2所述那样,读头R1、R2在磁头10的记录面10a侧在周向和半径方向上偏离地配置。因此,从数据磁道读出伺服数据的定时在时间上偏离。而且,相应于在半径方向上偏离地配置的量,读取数据的范围不同,也就是说,在数据磁道的宽度方向读出的范围偏离。这样由读头R1、R2读出的信号在分别输入前置放大器11并被放大后,由R/W信道12解调。读头R1读出的信号由伺服解调电路C1解调而成为伺服数据D11。另外,读头R2读出的信号由伺服解调电路C2解调而成为伺服数据D12。在采用读头R1、R2的情况下,一般来说,MPU14采用上述的伺服数据D11、D12来执行磁头10的定位控制,而在本实施方式中,MPU14将由读头R1、读头R2读出的伺服数据的生成波形进行合成,并采用该合成的生成波形来执行磁头10的定位控制。
在此,对从读头R1、R2生成的生成波形的一个例子进行说明。图5是表示伺服数据的生成波形(以下,称为“伺服生成波形”。)的一个例子的图。
如图5所示,伺服数据的生成波形S1包括多个信息。多个信息在本实施方式中是“Preamble(前导)”“SM(Servo Sync Mark,伺服同步标记)”、“Sct+Gray(格雷码)”、“Burst(脉冲串)A&B”和“PostCode(后置码)”。对这些信息中的主要的信息进行说明。“Preamble”(第1检测信号、第2检测信号)用于使伺服数据信号的振幅和相位对齐,“SM”是表示伺服数据的开始的信息,通过检测出“Servo Sync Mark”而确定为伺服数据并成为以后的伺服数据的读入的触发。在“Sct+Gray”中,“Sct”表示周向上的位置,“Gray”是表示磁道(磁盘2的半径位置)的信息。“Burst A&B”是表示精度比磁道高的磁盘2上的位置的半径方向上的位置信息。“PostCode”是修正信息。在此,修正信息是在定位的情况下修正磁头10偏离的量的量。因此,准确地来说,由“Burst A&B”和“PostCode”来规定位置信息,但在本实施方式中,为了简化说明,设为能够由“Burst A&B”来确定位置信息。
图6是表示从读头R1、R2生成的伺服生成波形的一个例子的图。如图6所示,从读头R1生成伺服生成波形(第1定位数据)S11,从读头R2生成伺服生成波形(第2定位数据)S12。在本实施方式中,位于周向侧的读头R1在时间上领先地读出伺服数据,因此,将读头R1作为主读头。此外,虽在图6中难以目视确认,但生成波形S11和S12构成为上下非对称。
接下来,参照图7,对测定因读头R1、R2的位置如上述的图2那样偏离而引起的、相对于柱面(cylinder)(换言之,半径位置)的时间的偏离而得的结果进行说明,参照图8,对测定读头R1、R2间的读头间距离而得的结果进行说明。此外,读头R2相对于读头R1在半径方向上的偏离能够通过测定由读头R1进行假想圆控制时的读头R2在半径方向上的位置信息的一周平均值来得到。
图7是时间数据的一个例子,是表示相对于柱面的、按前导周期标准化了的读头间的时间偏离(读出开始的定时的偏离)一个例子的图。在图7中,横轴表示柱面,纵轴表示按前导周期标准化了的读头间的时间偏离。而且,在横轴中,图示的左侧表示磁盘2的半径位置大的情况,图示的右侧表示磁盘2的半径位置小的情况。如图7所示,随着半径位置变小,时间的偏离tDiff(r)变得越大。
图8是表示相对于柱面的、按磁道间距标准化了的读头间距离一个例子的图。在图8中,横轴表示柱面,纵轴表示按磁道间距标准化了的读头间距离(将STW磁道的中心设为零)。在横轴中,图示的左侧表示磁盘2的半径位置大的情况而图示的右侧表示磁盘2的半径位置小的情况,这与图7的情况相同。如图8所示,柱面的半径位置为零时,标准化了的读头间距离rDiff(r)为大约-40%,柱面的半径位置为大致中央附近时,标准化了的距离rDiff(r)为零,进而柱面的半径位置为最小时,标准化了的读头间距离rDiff(r)为大约+40%。
在本实施方式中,由于读头R1、R2的位置如上述的图2那样偏离,产生相对于柱面的时间的偏离,并且,在读头R1与读头R2的读头间距离产生差异。在本实施方式中,将这样测定的时间的偏离tDiff(r)和读头间距离rDiff(r)分别存储于时间数据存储部162和读头间距离存储部163。例如,存储多个半径位置(例如32个部位)的tDiff(r)和距离rDiff(r)的值,在使用时MPU14根据各值执行线性插补,从而再现函数而取得所希望的半径位置的tDiff(r)和距离rDiff(r)。
接下来,对合成伺服生成波形S11、S12的构成进行说明。MPU14将距STW磁道的中心的距离作为参数,参照2个读头R1、R2的评价函数表格,重视2个读头R1、R2的位置信号的特性更好的一方地来进行伺服生成波形S11、S12的合成。
图9是与图8相同的图,但是表示说明对合成伺服生成波形S11、S12的构成进行说明的图形的3个半径位置R10、R20、R30的图。半径位置R10是柱面的半径位置最大、标准化了的读头间距离为大约-40%的位置。半径位置R20是柱面的半径位置为大致中央、标准化了的读头间距离为零的位置。半径位置R30是柱面的半径位置最小、标准化了的读头间距离为大约-40%的位置。以下,参照图10至图12,对这3个合成图形进行说明。
图10是表示半径位置R10处的合成图形的一个例子的图。在图10中,纵轴是位置线性度,越向上侧则位置线性度越好,越向下侧则位置线性度越差。生成波形S11是由读头R1生成的波形,生成波形S12是由读头R2生成的波形。波形S3是将生成波形S11和生成波形S12合成了的波形。在生成波形S3时,MPU14改变读头R1的生成波形(位置信号)S11和读头R2的生成波形(位置信号)S12的混合比率,以使位置线性度变好。具体地说,如图10所示,如区域A11(重视读头R2)、区域A12(重视读头R1)、区域A13(重视读头R2)那样,MPU14按区域A11、A12、A13来改变重视的生成波形。通过这样改变,合成的波形成为波形S3,位置线性度以改善量D1被改善。此外,关于将半径位置R10处的各生成波形S11、S12合成的合成比率(合成系数α)后述。
图11是表示半径位置R20处的合成图形的一个例子的图。在图11中,纵轴是位置线性度,生成波形S11、S12、波形S3的说明与图10的情况相同。在半径位置R20处也同样地,在生成波形S3时,MPU14改变读头R1的生成波形(位置信号)S11和读头R2的生成波形(位置信号)S12的混合比率,以使位置线性度变好。如图11所示,如区域A21(重视读头R1)、区域A22(重视读头R2)、区域A23(重视读头R1)那样,MPU14按区域A21、A22、A23来改变重视的生成波形。通过这样改变,合成的波形成为波形S3,位置线性度以改善量D2被改善。此外,关于将半径位置R20处的各生成波形S11、S12合成的合成比率(合成系数α)后述。
图12是表示半径位置R30处的合成图形的一个例子的图。在图12中,纵轴是位置线性度,生成波形S11、S12、合成波形S3的说明与图10的情况相同。在半径位置R30处也同样地,在生成波形S3时,MPU14改变读头R1的生成波形(位置信号)S11和读头R2的生成波形(位置信号)S12的混合比率,以使位置线性度变好。如图12所示,如区域A31(重视读头R2)、区域A32(重视读头R1)、区域A33(重视读头R2)那样,MPU14按区域A31、A32、A33来改变重视的生成波形。通过这样改变,合成的波形成为波形S3,位置线性度以改善量D3被改善。此外,关于半径位置R30处的合成比率(合成系数α),如图示下侧所示,为1或0(也就是说,仅使用任一方的生成波形的构成)。具体地说,MPU14在区域A31仅采用生成波形S12,在区域A32仅采用生成波形S11,在区域A33仅采用生成波形S12,从而得到波形S3。这样,也能设为根据rDiff(r)的位置而仅采用生成波形S11、S12的一方的合成方法。
接下来,对合成系数α进行说明。图13是表示合成系数α的一个例子的图。在图13中,横轴是上述的rDiff(r),纵轴是合成系数α的值。如图13所示,如半径位置R10、R20、R30那样根据半径位置来规定合成系数α。这样与半径位置相应的合成系数(函数)α存储于存储器16中。
图14、图15是分别表示MPU14执行的对生成波形进行解调的处理的一个例子的流程图。该处理每当对伺服数据进行采样时进行。另外,该处理在没能由读头R1检测出前导(SSMM)的情况下执行。首先,对图14的流程图进行说明,然后,对图15的流程图进行说明。
首先,对图14所示的流程图进行说明。
如图14所示,MPU14对读头R1的位置信息进行解调(ST101)。也就是说,MPU14采用读头R2的前导(SSMM)和读头R1、R2的偏离量来确定读头R1的生成波形S11,确定该生成波形S11所含的Burst A&B,并根据该Burst A&B而对位置信息进行解调。由此,得到PosR1(r)。因此,在没能由主的读头R1检测出前导(SSMM)的情况下,磁盘装置1能够利用读头R2的前导(SSMM),从而能够抑制SSMM的检测失败的产生。也就是说,能利用由读头R1、R2中不受磁盘2的后发微小缺陷等的影响的读头检测出的前导(SSMM)。此外,MPU14能利用上述的图7的表格来取得时间上的偏离量。
接下来,MPU14对读头R2的位置信息进行解调(ST102)。由此,得到PosR2(r)。该步骤ST102的处理实质上与上述的步骤ST101的处理内容相同。
接下来,MPU14算出Diff(r)=Mod((PosR1(r)-PosR2(r))/磁道间距)(ST103)。然后,参照最靠近PosR1(r)的存储于存储器16的合成系数表格,得到符合Diff(r)的合成函数α(r)(ST104)。然后,MPU14计算Pos(r)=αPos(r)+(1-α)PosR2(r)(ST105)。这样,MPU14执行位置信号的解调处理。例如,将由伺服解调电路C1解调的伺服生成波形S11作为合成的波形S3,从而伺服数据D11能够成为基于合成的伺服生成波形的伺服数据D11。MPU14基于该伺服数据D11来进行磁头10的定位,从而能提高磁头10的定位精度。
接下来,对图15所示的流程图进行说明。该处理是在上述的读头R1的特性良好的偏移位置处合成系数α=1、在特性不良的偏移位置处α=0时的处理。也就是说,如上述那样,是参照上述的图12进行了说明的图形时的处理。
如图15所示,MPU14对读头R1的位置信息进行解调(ST201)。由此,得到PosR1(r)。然后,MPU14参照最靠近PosR1的评价函数表格,得到符合PosR1(r)的评价函数PposR1(r)(ST202)。
接下来,MPU14对读头R2的位置信息进行解调(ST203)。由此,得到PosR2(r)。然后,MPU14参照最靠近PosR2的评价函数表格,得到符合PosR2(r)的评价函数PposR2(r)(ST204)。
这样,在取得关于读头R1、R2的评价函数后,MPU14判定PposR1(r)是否比PposR2(r)大(ST205)。此外,在此的PposRx(r)较大的话则特性良好。在此,Rx表示任意的读头。在判定为PposR1(r)比PposR2(r)大的情况下(ST205:是),MPU14设为Pos(r)=PosR1(r)(ST206)。另一方面,在判定为PposR1(r)不比PposR2(r)大的情况下(ST205:否),MPU14设为Pos(r)=PosR2(r)(ST207)。这样,MPU14执行位置信号的解调处理。由此,根据半径位置,采用各生成波形S11、S12中位置线性度好的函数,能够得到上述的合成的波形S3。
此外,在切换了Pos1(r)和Pos2(r)时,有时会产生瞬变(transient)。因此,在切换偏移位置备注中,可以将α设为比1小的值来减小影响。另外,在rDiff(r)的值大的情况(例如,存在多个磁道以上的距离的情况)下,由于考虑到磁道间距的不均影响,所以,可以减小Pos2(r)的比率,也可以在此时MPU14停止写入动作。
通过以上那样进行处理,磁盘装置1在无法由读头R1检测出前导(SSMM)的情况下,也能利用读头R2的前导(SSMM)和偏离量来确定读头R1的生成波形S11的前导,能够根据半径位置来合成这样确定的伺服生成波形S11和读头R2的生成波形S12,根据合成的波形的Burst A&B来确定位置信息。因此,磁盘装置1能够提高伺服生成波形的定位品质。而且,能够在由2个读头R1、R2解调出的半径位置以适当的比率合成生成波形S11、S12,所以,也能改善因STW而引起的磁道间距不均、以及“Burst A&B”信号的上下非对称所导致的噪声的影响。
另外,由于能够提高定位品质,所以,能够缩短伺服生成波形S11、S12的“Burst A&B”的部分的长度。更详细地说,图16是用于说明缩短“Burst A&B”的部分的长度的图。即使如图16所示缩短“Burst A&B”的部分,也能够由上述的合成处理来提高定位品质,所以,能确定位置信息。由此,磁盘装置1能与缩短“Burst A&B”的部分的长度的量相应地提高磁盘2的格式化(format)效率。
而且,如上述那样,在无法检测出读头R1的前导(SSMM)的情况下,MPU14可以减小没能检测出SSMM的读头的合成比率。
而且,在上述实施方式中,对磁头10具有读出头R1、R2的情况进行了说明,但磁头10所具有的读头的数量不限于此。对与上述实施方式不同地配置多个读头的变形例进行说明。图17至图19是表示多个读头的配置的变形例的图。如图17所示,多个读头包括3个读头R1、R2、R3,这些读头R1、R2、R3可以分别在周向和半径方向偏离地配置。在此情况下,分别测定相对于作为主读头的读头的其它读头的时间数据、评价数据和读头间距离并将其存储于存储器16。在进行上述的处理时,关于采用哪一个其它读头的时间数据和读头间距离,例如采用评价数据良好的数据即可。另外,关于读头R1、R2,对在周向和半径方向上分别偏离地配置的情况进行了说明,但位置的偏离方式不限于此。多个读头R1、R2偏离的位置也可以如图18所示,配置成在磁盘2的周向上偏离而在半径方向上并不偏离。而且,也可以如图19所示,配置成在磁盘2的周向并不偏离而在半径方向上偏离。即使这样构成磁盘装置1的磁头10,也能够得到与上述实施方式相同的效果。
而且,在上述实施方式中,对将在时间上领先地读出伺服数据的读头R1作为主的读头的情况进行了说明,但作为主的读头也可以不是在时间上领先地读出伺服数据的读头。例如,也可以以测定读头R1、R2各自的伺服数据的读出品质并将读出品质良好的读头作为主的读头的方式来构成磁盘装置1。
此外,对本发明的几个实施方式进行了说明,但这些实施方式是作为例子而提出的,并非意图用来限定发明的范围。这些新的实施方式能以其它各种方式来实施,在不脱离发明的要旨的范围内能够进行各种省略、置换、改变。这些实施方式及其变形包含在发明的范围、要旨内,并且,包含在与权利要求书所记载的发明及其等同的范围内。
Claims (10)
1.一种磁盘装置,具有:
记录有定位信息的磁盘;
具有第1读头和位于与所述第1读头不同的位置的第2读头的磁头;
基于第1定位数据来进行所述磁头的定位的控制部,该第1定位数据由所述第1读头读出所述定位信息来得到;以及
存储时间数据的存储部,该时间数据表示与所述磁盘的半径位置相应地测定所述第1读头与所述第2读头的开始所述定位信息的读出的定时的偏离量而得的结果;
所述控制部在无法从由所述第1读头读出的所述定位信息检测出所述第1定位数据的情况下,基于由所述第2读头读出所述定位信息而得到的第2定位数据所示的所述磁盘的半径位置、以及存储于所述存储部的所述时间数据,根据由所述第1读头读出的所述定位信息确定所述第1定位数据,基于所述确定出的所述第1定位数据来进行所述磁头的定位。
2.如权利要求1所述的磁盘装置,其特征在于,
所述存储部还存储与所述磁盘的半径位置相应地由所述第1读头和所述第2读头分别读出所述定位信息时的评价数据;
所述控制部基于所述确定出的所述定位数据所示的所述磁盘的半径位置和所述评价数据来决定将所述第1定位数据和所述第2定位数据合成的合成比率,根据基于该决定了的合成比率而合成的定位数据来进行所述磁头的定位。
3.如权利要求2所述的磁盘装置,其特征在于,
所述控制部无法确定所述第1定位数据的情况是无法检测出所述第1定位数据所含的检测所述第1定位数据的第1检测信号的时候。
4.如权利要求3所述的磁盘装置,其特征在于,
所述控制部在无法检测出检测所述第1定位数据的所述第1检测信号时,基于由所述第2读头检测的第2定位数据所含的检测所述第2定位数据的第2检测信号、所述第2定位数据所示的所述磁盘的半径位置、以及所述时间数据所示的偏离量,根据所述第1读头读出的数据确定所述第1定位数据。
5.如权利要求4所述的磁盘装置,其特征在于,
所述控制部在基于由所述第2读头读出的所述第2检测信号而确定了所述第1定位数据的情况下,降低所述第1定位数据的合成比率。
6.如权利要求1所述的磁盘装置,其特征在于,
所述磁头具有向所述磁盘写入数据的写入头;
所述控制部在所述第1读头与所述第2读头的读头间距离大的情况下,停止所述写入头向所述磁盘的写入。
7.如权利要求1所述的磁盘装置,其特征在于,
所述第1读头是在时间上先于所述第2读头地读出所述定位信息的读头。
8.如权利要求1所述的磁盘装置,其特征在于,
所述第1读头是所述定位信息的读出品质比所述第2读头好的读头。
9.如权利要求1所述的磁盘装置,其特征在于,
所述第1读头和所述第2读头在所述磁头的记录面、在所述磁盘的周向和/或半径方向上偏离地配置。
10.一种磁盘装置,具有:
记录有定位信息的磁盘;
具有第1读头和分别位于与所述第1读头不同的位置的多个读头的磁头;
基于第1定位数据来进行所述磁头的定位的控制部,该第1定位数据由所述第1读头读出所述定位信息来得到;以及
存储时间数据的存储部,该时间数据表示与所述磁盘的半径位置相应地测定所述第1读头与所述多个读头各自的开始所述定位信息的读出的定时的偏离量而得的结果;
所述控制部在无法从由所述第1读头读出的所述定位信息检测出所述第1定位数据的情况下,基于由所述多个读头读出所述定位信息而得到的第2定位数据各自所示的所述磁盘的半径位置、以及存储于所述存储部的所述时间数据,根据由所述第1读头读出的所述定位信息确定所述第1定位数据,基于所述确定出的所述第1定位数据来进行所述磁头的定位。
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