CN113390957A - 一种基于磁传感探头的防串扰涡流无损探伤检测*** - Google Patents

一种基于磁传感探头的防串扰涡流无损探伤检测*** Download PDF

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CN113390957A CN202110720280.3A CN202110720280A CN113390957A CN 113390957 A CN113390957 A CN 113390957A CN 202110720280 A CN202110720280 A CN 202110720280A CN 113390957 A CN113390957 A CN 113390957A
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汶思敏
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窦爱玉
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Abstract

本发明涉及一种基于磁传感探头的防串扰涡流无损探伤检测***。本发明阵列探头由多个探头单元构成,每个探头单元使用磁屏蔽罩进行包裹后垂直装入阵列骨架的凹槽中;探头阵列采集的模拟电压经多路信号调理模块后通过数据采集卡自动采集后输出到上位机显示检测结果;本发明有效抑制涡流无损检测中的提离距离影响,具有较高的检测速度和较大的检测范围,并且有效的减少了探头单元之间互感的影响,提高抗干扰能力和检测精度,最后利用上位机实时显示检测结果,能够更直观的获得检测的缺陷信息。

Description

一种基于磁传感探头的防串扰涡流无损探伤检测***
技术领域
本发明属于涡流检测技术领域,涉及一种基于磁传感探头的防串扰涡流无损探伤检测***。
背景技术
涡流检测技术是一门新兴的综合应用科学,它不会损坏被测物体的使用性能,广泛应用于航空航天、核电、船舶、交通运输、石油化工等领域中工程材料、零部件和结构件的有效检验和测试。当给线圈施以交流激励信号时,在线圈周围及导电媒质内产生交变磁场,由电磁感应原理可知,在导电媒质内会产生涡旋状的电场,进而形成涡旋状的电流,即涡流。导体结构表面如果存在缺陷,将会引起涡流的变化,从而使涡流所产生的磁场也发生变化,一般通过线圈、霍尔等磁场传感器测量磁场的变化,就可判断导体材料表面缺陷的存在及严重程度。
现有的基于磁传感器的涡流无损检测探头部分为单探头结构,由于面积小、检测时间长,对大面积的检测非常费时费力,而且容易出现漏检与盲视;目前也存在一些阵列涡流检测方法,其探头单元容易受到提离效应的影响,抗干扰能力比较差,且未考虑相邻探头之间电磁耦合,从而造成检测结果的偏差,并且对检测出的信号没有进行更直观的显示。
目前也存在一些涡流阵列式检测的案例,
例如:专利公开号为CN107167516A,名称为双差动式脉冲涡流探头单元、阵列探头及检测装置的发明专利,该发明采用双差动式脉冲涡流探头单元构成的阵列探头的方法,实现一次扫查可以检测结构表面一定区域内多个缺陷的存在,具有较高的检测速度、检测精度以及较大的检测范围。但是没有考虑到相邻探头间的电磁耦合,这会导致相邻探头在被测试件上产生的涡流之间发生衰减,并且探头间距离太大导致阵列式探头整体体积较大不好操作。
专利公开号为CN111812193A,名称为一种主动解除相邻线圈之间电磁耦合的阵列涡流探头的发明专利,该发明提出在探头检测线圈外设置两个与检测线圈同轴的辅助线圈,辅助线圈产生的磁场削弱检测线圈产生的外部磁场,从而减小相邻检测线圈的磁场干扰。该方法在阵列探头的每一个检测线圈***设置两个辅助线圈,这使得***的构造更为复杂,而且在不同应用场景下,需要通过移动辅助线圈上的金属滑片调整辅助线圈磁场对检测线圈磁场的削弱程度,操作过于麻烦,不适合实际应用。
因此需要一种检测精度更加精准、尺寸更小、方便操作的涡流检测方法和装置来解决上述问题。
发明内容
本发明的目的就是提供一种基于磁传感探头的防串扰涡流无损探伤检测***,可以有效抑制涡流无损检测中的提离距离影响,具有较高的检测速度以及较大的检测范围,并且有效的减少了磁传感探头单元之间的电磁耦合,提高抗干扰能力和检测精度;相较于其他磁传感阵列探头,本发明磁传感阵列探头体积较小,便于实际检测,并且对检测结果使用上位机实时显示,能更直观的确定缺陷位置。
本发明包括具有磁屏蔽结构的小尺寸防串扰阵列探头、信号处理电路及上位机;具有磁屏蔽结构的小尺寸防串扰阵列探头,包括多个磁传感探头单元,多个磁传感探头单元垂直固定在阵列骨架下方的凹槽中;多路信号放大模块平行设置于阵列骨架的底面,给每个磁传感探头单元提供相同的输入信号并接收磁传感探头单元的输出,由正下方的第二挡板固定在阵列骨架内部;端盖中心处有通孔,多路信号放大模块的接线从所述通孔中穿出;每个磁传感探头单元中磁传感器的敏感轴方向一致,磁传感器的输出信号通过接线连接到多路信号放大模块进行信号处理,经多路信号放大模块处理后的每一路信号经数据采集卡自动采集后输出到上位机显示;
探头单元包括线圈骨架、激励线圈、磁传感器、PCB板、接线端头、磁屏蔽罩、第一挡板;所述线圈骨架内侧含有两个用于固定PCB板的第一挡板,第一挡板为条形结构,并处于同一水平线,外侧绕制用于产生交变磁场的激励线圈,激励线圈的外层完全包裹一层磁屏蔽罩;PCB板置于线圈骨架内部,被固定在挡板上方,呈圆饼状,其半径略小于线圈骨架的内半径;磁传感器固定在PCB板中心位置,传感器敏感轴方向垂直于PCB板;磁传感器的引脚经过PCB板下方的接线端头与外部电路相连。
所述探头单元的线圈骨架为开口圆管,第一挡板与线圈骨架为一体,第一挡板与线圈骨架选用光敏树脂材料3D打印或陶瓷纤维材料。
所述探头单元的激励线圈是漆包铜线圆形空心线圈,由漆包铜线绕制而成。
所述探头单元的磁屏蔽罩为可弯曲薄片,完全包裹激励线圈外表面,由镍系、钴系或铁系软磁材料制成。
所述探头单元的磁传感器采用巨磁阻传感器或磁隧道结传感器。
所述探头单元的第一挡板距离线圈骨架顶部距离为7.0mm~8.0mm;PCB板使用胶水固定在第一挡板上,磁传感器设置在PCB板上方。
所述阵列骨架、端盖和第二挡板由光敏树脂材料3D打印或由陶瓷纤维材料制成。
相邻所述阵列探头中探头单元间距为2.0mm~4.0mm,对应阵列骨架大小为120mm×40mm×100mm。
所述磁传感器产生的差分信号由多路信号调理模块进行放大处理,多路信号调理模块包括多个仪表放大器芯片AD623与低通滤波器。
该芯片是一款增益可调的集成单电源仪表放大器,能够在单电源电压为+3V到+12V之间下输出满电源幅度的信号,通过改变电阻大小进行增益编程,可得到比较好的灵活性。
所述阵列探头采集的模拟电压经多路信号调理模块后再通过数据采集卡自动采集输出到上位机;上位机将获取的每一路采样信号转换为像素点,随着探头的不断移动,最终形成了平面图像,对缺陷进行实时、直观成像显示。
本发明的有益效果是:
(1)磁传感器被焊接在PCB板上,在被检试件无缺陷时,磁传感器输出保持不变,可以有效抑制提离效应。
(2)阵列探头的使用大幅提高了检测装置的检测效率与检测范围,增大检测面积,减少了检测时间,提高了***可靠性,避免了漏检与盲视。
(3)磁传感阵列探头中的探头单元之间使用磁屏蔽罩进行隔离,减少了相邻磁传感探头单元间的电磁耦合,降低了探头单元间的干扰。
(4)PC端上位机显示模块可实时显示检测的结果,如有缺陷出现时,磁传感器传输信号会发生改变,在上位机中对缺陷进行实时成像。
附图说明
图1为本发明磁传感阵列探头的无损探伤检测流程框图;
图2为本发明磁传感阵列探头的正视剖视图;
图3为本发明磁传感阵列探头的俯视剖图和侧视剖图;
图4~5为本发明的基于磁传感器的涡流探头单元正面剖视图和俯视剖图;
图6为本发明采用的单路信号调理模块电路图;
图7为信号调理模块采用的仪表放大器AD623内部结构图;
图8为本发明上位机显示实时采集数据界面图;
图9为本发明上位机实时成像显示检测信号界面图;
图10为本发明的双线圈仿真模型;
图11为本发明在未加磁屏蔽罩线圈间距改变时产生的涡流密度峰值变化图;
图12为本发明在未加磁屏蔽罩线圈间距改变时线圈1下方中心磁感应强度大小变化图;
图13为本发明在未加磁屏蔽罩时被测试件表面涡流密度分布图;
图14为本发明在加磁屏蔽罩后被测试件表面涡流密度分布图;
图15为本发明在未加磁屏蔽罩磁感应强度分布图;
图16为本发明在加磁屏蔽罩后磁感应强度分布图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例,对本发明作进一步说明。
一种基于磁传感探头的防串扰涡流无损探伤检测***包括具有磁屏蔽结构的小尺寸防串扰阵列探头、信号处理电路及上位机;
如图1所示,阵列探头采集信号发生模块发出的模拟电压信号,阵列探头采集的模拟电压经多路信号调理模块后传输到数据采集模块;
信号发生模块使用直接合成数字频率技术(Direct Digital Synthesizer,DDS)产生正弦波信号,在其输出过程中产生的杂波和一些高频信号,通过低通滤波器进行滤波,随后频率稳定的正弦波信号经过功率放大芯片,提高驱动能力;
数据采集模块包括数据采集卡NI USB-6281和上位机,探头阵列采集的模拟电压经多路信号调理模块后通过数据采集卡自动采集传输到PC端(上位机)。
如图2所示,阵列探头包括5个基于磁传感器的高灵敏度探头单元8,探头单元8垂直装入阵列骨架9下方的凹槽中,且处于同一水平线。根据需要,能扩展或更改探头阵列中探头单元数量和排布方式。
如图3所示,探头接线连接到多路信号调理模块10,由第二挡板11固定在阵列骨架内部;端盖12中间有通孔,多路信号调理模块10的接线从所述通孔中穿出。
如图4所示,基于磁传感器的高灵敏度探头单元8包括线圈骨架1、激励线圈2、磁传感器3、PCB板4、接线端头5、磁屏蔽罩6、第一挡板7;所述线圈骨架1和第一挡板7由光敏树脂材料3D打印制成,本实施例中磁屏蔽罩6使用软磁材料坡莫合金1J85制成。
如图5所示,所述线圈骨架1内侧为开口圆管,外侧绕制激励线圈2,激励线圈2的外层包裹一层磁屏蔽罩6;PCB板4位于线圈骨架1内部,呈圆饼状,其半径略小于线圈骨架的内半径;磁传感器3焊接在PCB板4上,且位于PCB板的中心位置,可防止在检测过程中提离距离发生改变影响检测结果,传感器敏感轴方向垂直于PCB板;PCB板4的两侧各设置有一个第一挡板7,这两个第一挡板7处于同一水平线,将PCB板固定在线圈骨架内部;磁传感器的引脚经过PCB板下方的接线端头5与外部电路相连。
磁屏蔽罩很薄,不会影响探头单元体积大小,通过磁屏蔽罩削弱相邻探头单元中激励线圈产生的激励磁场的外部磁场,从而减小阵列式涡流探头相邻探头单元所产生磁场的相互干扰。
探头单元之间通过磁屏蔽罩消除相邻探头单元串扰,使探头单元可以紧密排列防止漏检,减小了探头阵列的尺寸,增大了阵列探头涡流检测的范围;每个探头单元中磁传感器的敏感轴方向一致,磁传感器的输出信号通过接线连接到多路信号放大模块进行信号处理,处理后的每一路信号经数据采集卡自动采集后输出到PC端的上位机显示。
如图6所示,多路信号调理模块主要由5个仪表放大器AD623和低通滤波器组成;放大倍数通过外接的可调电阻RG进行调节。增益可调范围为1~1000倍,通过
Figure BDA0003136686320000061
计算得到。
如图7所示,仪表放大器AD623内PNP晶体管起到电压缓冲器的作用并为输入放大器提供共模信号,经过增益后的差分信号通过输出放大器转变为单端电压。仪表放大器的作用是放大传感器的输出电压值,因为传感器芯片产生的电压属于微小电压一般为毫伏级别,不便于后续处理。放大倍数通过外接可调电阻调节,增益可调范围为1~1000倍。
如图8所示,所述上位机实时采集数据界面的输入为模数转换过后的数字信号,图中横坐标为采样点的位置,纵坐标为电压值,共显示5路信号,对应5个磁传感器的输出。
如图9所示,切换到成像显示界面,图中横坐标为采样点的位置,纵坐标为5个通道对应的像素值输出;输入采集数据的文件路径后点击实时读取开始成像显示,其中的每一路采样数据转换为像素点,随着探头的不断移动,最终形成了平面图像;移动的过程中有缺陷存在的地方对应的像素值会发生变化,就与无缺陷处的像素值区别开来,使缺陷实时成像。
本发明的具体的工作方式是:信号发生模块产生的正弦波信号通入激励线圈2,使其周围产生交变磁场,在该磁场范围内的被测试件产生涡流进而产生次级磁场使磁传感器3周围的磁场发生变化;传感器在被测导体没有缺陷时输出几乎不变,当被测导体有缺陷时,电涡流发生畸变,部分损失,传感器中的电桥平衡被打破,产生差分输出;传感器产生的差分输出信号非常微弱,经过AD623仪表放大器放大后通过数据采集卡自动采集后输出到PC端的上位机实时显示检测结果。
具体为:阵列探头采集的模拟电压经多路信号调理模块10后的信号通过数据采集卡NI USB-6281自动采集后输出到PC端并在上位机显示缺陷位置。上位机使用LabVIEW软件编写;通过LabVIEW成像处理将获取的每一路采样信号转换为像素点,随着探头的不断移动,最终形成了平面图像;移动的过程中有缺陷存在,对应的像素值会发生变化,就与无缺陷处的像素值区别开来,从而可以对缺陷进行实时成像。
如图10所示,在maxwell软件中进行仿真实验,线圈的几何参数、材质完全一致,将阵列式检测的全模型简化成双线圈模型;设置激励线圈内半径为7mm,外半径为8mm,线圈匝数为270匝,材料为铜,给两个线圈施加完全相同的峰值大小37mA、频率1000Hz的正弦波激励电流;设置被测试件大小为100mm×140mm×10mm,材料为铝。
如图11、12所示,随着相邻线圈中心距增大,涡流峰值和测试点磁感应强度越趋近于单线圈模型下的仿真数据,这说明相邻线圈间距越大,它们之间电磁耦合越小;
如图13、14所示,未加磁屏蔽罩时在两线圈的间隔地带,涡流密度发生了衰减,验证了线圈之间会有互感串扰;而在加磁屏蔽罩后线圈间的涡流密度几乎无衰减,说明加磁屏蔽罩后线圈间影响很小。由此可见,加磁屏蔽罩后可减少相邻线圈之间的电磁耦合。
如图15、16所示,加入磁屏蔽罩以后,探头溢出的磁感线明显少于磁屏蔽罩加入前,并且探头产生的磁感应强度大于之前,且线圈间的磁感应强度减少,说明之间的影响减小。由此可知,通过磁屏蔽消除相邻单元影响,可以减小相邻线圈的间距,从而减小阵列探头的尺寸。
上面结合附图对本发明的具体实施例作了详细说明,但是本发明并不限于上述实施例,在本领域普通技术人员所具备的知识范围内,还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化,均在本专利保护范围之内。

Claims (10)

1.一种基于磁传感探头的防串扰涡流无损探伤检测***包括具有磁屏蔽结构的小尺寸防串扰阵列探头、信号处理电路及上位机;
其特征在于:具有磁屏蔽结构的小尺寸防串扰阵列探头,包括多个磁传感探头单元(8),多个磁传感探头单元垂直固定在阵列骨架(9)下方的凹槽中;多路信号放大模块(10)平行设置于阵列骨架的底面,给每个磁传感探头单元提供相同的输入信号并接收磁传感探头单元的输出,由正下方的第二挡板(11)固定在阵列骨架(9)内部;端盖(12)中心处有通孔,多路信号放大模块(10)的接线从所述通孔中穿出;每个磁传感探头单元中磁传感器的敏感轴方向一致,磁传感器的输出信号通过接线连接到多路信号放大模块进行信号处理,经多路信号放大模块处理后的每一路信号经数据采集卡自动采集后输出到上位机显示;
探头单元包括线圈骨架(1)、激励线圈(2)、磁传感器(3)、PCB板(4)、接线端头(5)、磁屏蔽罩(6)、第一挡板(7);所述线圈骨架(1)内侧含有两个用于固定PCB板的第一挡板(7),第一挡板为条形结构,并处于同一水平线,外侧绕制用于产生交变磁场的激励线圈(2),激励线圈的外层完全包裹一层磁屏蔽罩(6);PCB板(4)置于线圈骨架内部,被固定在挡板上方,呈圆饼状,其半径略小于线圈骨架的内半径;磁传感器(3)固定在PCB板中心位置,传感器敏感轴方向垂直于PCB板;磁传感器的引脚经过PCB板下方的接线端头(5)与外部电路相连。
2.如权利要求1所述的基于磁传感探头的防串扰涡流无损探伤检测***,其特征在于:所述探头单元的线圈骨架(1)为开口圆管,第一挡板(7)与线圈骨架为一体,第一挡板(7)与线圈骨架选用光敏树脂材料3D打印或陶瓷纤维材料。
3.如权利要求1所述的基于磁传感探头的防串扰涡流无损探伤检测***,其特征在于:所述探头单元的激励线圈(2)是漆包铜线圆形空心线圈,由漆包铜线绕制而成。
4.如权利要求1所述的基于磁传感探头的防串扰涡流无损探伤检测***,其特征在于:所述探头单元的磁屏蔽罩(6)为可弯曲薄片,完全包裹激励线圈外表面,由镍系、钴系或铁系软磁材料制成。
5.如权利要求1所述的基于磁传感探头的防串扰涡流无损探伤检测***,其特征在于:所述探头单元的磁传感器(3)采用巨磁阻传感器或磁隧道结传感器。
6.如权利要求1所述的基于磁传感探头的防串扰涡流无损探伤检测***,其特征在于:所述探头单元的第一挡板(7)距离线圈骨架(1)顶部距离为7.0mm~8.0mm;PCB板(4)使用胶水固定在第一挡板(7)上,磁传感器(3)设置在PCB板(4)上方。
7.如权利要求1所述的基于磁传感探头的防串扰涡流无损探伤检测***,其特征在于:所述阵列骨架(9)、端盖(12)和第二挡板(11)由光敏树脂材料3D打印或由陶瓷纤维材料制成。
8.如权利要求1所述的基于磁传感探头的防串扰涡流无损探伤检测***,其特征在于:相邻所述探头阵列中探头单元间距为2.0mm~4.0mm,对应阵列骨架(9)大小为120mm×40mm×100mm。
9.如权利要求1所述的基于磁传感探头的防串扰涡流无损探伤检测***,其特征在于:所述磁传感器(3)产生的差分信号由多路信号调理模块(10)进行放大处理,多路信号调理模块(10)包括多个仪表放大器芯片AD623与低通滤波器。
10.如权利要求1所述的基于磁传感探头的防串扰涡流无损探伤检测***,其特征在于:所述阵列探头采集的模拟电压经多路信号调理模块(10)后再通过数据采集卡自动采集输出到上位机;上位机将获取的每一路采样信号转换为像素点,随着探头的不断移动,最终形成了平面图像,对缺陷进行实时、直观成像显示。
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