CN113302855A - 用于测试数据分组信号收发器的***和方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种测试数据分组信号收发器(DUT)的性能的***和方法。多个DUT信号，其中各自具有相应DUT发射功率(RDTPn)，该相应DUT发射功率由测试器接收并且对应于多个预期DUT发射功率中的一者(IDTPn)，对于n＝1、…、m，其具有等于最小IDTP、最大IDTP或介于其间的中间IDTP的功率。在每个RDTPn与其IDTPn的相关联之后，发送具有触发帧和测试器发射输出功率(TTOP)的测试器信号。该触发帧包括对应于报告测试器发射功率(RTTP)以及将由该测试器接收的DUT数据分组信号的期望信号强度(TRSS)的数据。接收具有RDTPn的返回DUT信号，根据其确定对应于该RDTPn的IDTPn并且将该IDTP与RTTP‑TTOP+TRSS进行比较。针对该TTOP、RTTP和DRSS的值的多个组合的此类测试器信号和DUT信号及IDTPn比较的连续重复使得能够测试该DUT的接收性能，包括提取RSSI测量值，其中测试器与DUT之间存在最小信号交互。

Description

用于测试数据分组信号收发器的***和方法

背景技术

本发明涉及测试数据分组信号收发器被测设备(DUT)，并且具体地讲，涉及通过测试器与DUT之间的最小所需信号交互来测试DUT的发射和/或接收性能。

现今的许多电子设备使用无线信号技术来实现连接和通信的目的。由于无线设备发送和接收电磁能，并且由于两个或更多个无线设备的信号频率和功率谱密度有可能相互干扰对方的操作，因此这些设备以及其无线信号技术必须遵守各种无线信号技术标准规范。

在设计此类无线设备时，工程师极其小心地确保此类设备将达到或超过每一种所包括的无线信号技术的规定标准规范。此外，当这些设备后来被大量生产时，还需要对它们进行测试，以确保制造缺陷将不会导致不当的操作，包括它们遵守所包括的无线信号技术标准规范。

此类无线设备的测试通常涉及测试被测设备(DUT)的接收和发射子***。测试***将(例如)采用不同的频率、功率级和/或信号调制技术向DUT发送规定的测试数据包信号序列，以确定DUT接收子***是否正常运行。类似地，DUT将以多种频率、功率级和/或调制技术发送测试数据包信号，供测试***接收和处理，以确定DUT传输子***是否正常运行。

为了在制造和组装之后测试这些设备，现在的无线设备测试***通常采用具有各种子***的测试***来为每个被测设备(DUT)提供测试信号并分析从每个DUT接收的信号。一些***(通常称为“测试器”)至少包括用于提供待发射到DUT的源信号的一个或多个测试信号源(例如，以矢量信号发生器(VSG)形式)和用于分析DUT所产生的信号的一个或多个接收器(例如，以矢量信号分析仪(VSA)形式)。由VSG产生测试信号以及由VSA执行信号分析通常可以编程(例如，通过使用内部可编程控制器或外部可编程控制器，诸如个人计算机)，这样每一者都可用于使用不同的频率范围、带宽和信号调制特性来测试多种设备是否遵守多种无线信号技术标准。

IEEE 802.11规范集中的最近无线局域网(WLAN)标准(称为IEEE802.11ax)在现有2.4GHz和5GHz频谱中操作，并且将结合介于1GHz和7GHz之间的附加频带(在它们变得可用时)。除了使用MIMO和MU-MIMO之外，已引入OFDMA以改善总体频谱效率，并引入较高阶1024-QAM调制支持以改善吞吐量。虽然标称数据速率仅比IEEE802.11ac高37％，但预期由于更有效的频谱利用和针对密集部署的改善而实现对于平均用户吞吐量的4倍增加。然而，对设备的发射(TX)功率和接收信号强度指示器(RSSI)读数的802.11ax功率准确性的要求显著更具限制，以确保其与WLAN的兼容性和WLAN内的操作。

因此，TX功率和RSSI必须进行校准和测试，作为制造过程的一部分。虽然TX功率测试通常可能是简单的并且通过如MPS(多分组测试)的技术针对效率进行优化，但RSSI测试通常需要查询DUT的其测量或报告的RSSI值。然而，由于需要附加的测试时间来适应查询和回复分组的交换，因此查询DUT是低效的。

另外，通过DUT校准通常在芯片组制造商之间以及在制造商的芯片组与芯片组之间不同地实现的事实，用于制造测试的开发软件显著复杂化。例如，如所指出的，由于需要查询DUT的其接收器操作状态和/或性能，因此对接收(RX)信号操作的校准通常是特别耗时的。

发明内容

本发明提供了一种用于测试数据分组信号收发器被测设备(DUT)的接收性能的***和方法。由测试器接收的多个连续DUT数据分组信号，其中每个DUT数据分组信号具有相应DUT发射功率(RDTPn)，该相应DUT发射功率由该测试器接收并且对应于多个预期DUT发射功率中的相应一者(IDTPn)，对于n＝1、…、m，其具有等于最小IDTP、或最大IDTP、或介于最小IDTP与最大IDTP之间的中间IDTP的功率。在每个RDTPn与其对应IDTPn的相关联之后，发送包括触发帧并且具有测试器发射输出功率(TTOP)的测试器数据分组信号，其中该触发帧包括对应于该测试器数据分组信号的报告测试器发射功率(RTTP)以及将由该测试器从该DUT接收的DUT数据分组信号的期望接收信号强度(TRSS)的数据。接收具有RDTPn的返回DUT数据分组信号，根据其确定对应于该RDTPn的IDTPn并且将该IDTP与RTTP-TTOP+TRSS进行比较。针对该TTOP、RTTP和DRSS的值的多个组合的此类测试器数据分组信号和DUT数据分组信号及IDTPn比较的连续重复使得能够测试该DUT的接收性能，包括提取RSSI测量值，其中测试器与DUT之间存在最小信号交互。

根据示例性实施方案，一种测试数据分组信号收发器被测设备(DUT)的接收性能的方法包括：通过测试器接收源自DUT的多个连续DUT数据分组信号，其中该多个连续DUT数据分组信号中的每一者具有相应DUT发射功率(RDTPn)，该相应DUT发射功率由该测试器接收并且对应于多个预期DUT发射功率中的相应一者(IDTPn)，对于n＝1、…、m，其具有等于最小IDTP、或最大IDTP、或介于该最小IDTP与该最大IDTP之间的至少一个中间IDTP中的一者的功率；通过该测试器将每个RDTPn与其对应IDTPn相关联；通过该测试器对于该DUT发射测试器数据分组信号，该测试器数据分组信号包括触发帧并且具有测试器发射输出功率(TTOP)，其中该触发帧包括对应于以下的数据：该测试器数据分组信号的报告测试器发射功率(RTTP)，其中该RTTP和该TTOP不相等，以及将由该测试器从该DUT接收的DUT数据分组信号的期望接收信号强度(TRSS)；通过该测试器从该DUT接收具有RDTPn的DUT数据分组信号；确定对应于通过该测试器从该DUT接收的该RDTPn的IDTPn；将该确定的IDTPn与RTTP-TTOP+TRSS进行比较；以及针对该TTOP、该RTTP和该TRSS的值的多个组合，重复测试器数据分组信号的该发射、DUT数据分组信号的该接收、IDTPn的该确定以及该确定的IDTPn的该比较。

根据另外的示例性实施方案，一种测试数据分组信号收发器被测设备(DUT)的接收性能的方法包括：通过DUT对于测试器发射多个连续DUT数据分组信号，其中该多个连续DUT数据分组信号中的每一者具有相应DUT发射功率(RDTPn)，该相应DUT发射功率用于由该测试器接收并且对应于多个预期DUT发射功率中的相应一者(IDTPn)，对于n＝1、…、m，其具有等于最小IDTP、或最大IDTP、或介于该最小IDTP与该最大IDTP之间的至少一个中间IDTP中的一者的功率；通过该DUT从该测试器接收测试器数据分组信号，该测试器数据分组信号包括触发帧并且具有测试器发射输出功率(TTOP)，其中该触发帧包括对应于以下的数据：该测试器数据分组信号的报告测试器发射功率(RTTP)，其中该RTTP和该TTOP不相等，以及将由该测试器从该DUT接收的DUT数据分组信号的期望接收信号强度(TRSS)；通过该DUT对于该测试器发射具有RDTPn的DUT数据分组信号；以及针对该TTOP、该RTTP和该TRSS的值的多个组合，重复测试器数据分组信号的该发射和DUT数据分组信号的该接收。

根据另外的示例性实施方案，一种测试数据分组信号收发器被测设备(DUT)的接收性能的方法包括：通过DUT发射多个连续DUT数据分组信号，其中该多个连续DUT数据分组信号中的每一者具有相应DUT发射功率(RDTPn)，该相应DUT发射功率由该测试器接收并且对应于多个预期DUT发射功率中的相应一者(IDTPn)，对于n＝1、…、m，其具有等于最小IDTP、或最大IDTP、或介于该最小IDTP与该最大IDTP之间的至少一个中间IDTP中的一者的功率；通过将每个RDTPn与其对应IDTPn相关联来通过测试器对该多个连续DUT数据分组信号的接收作出响应；通过该测试器发射测试器数据分组信号，该测试器数据分组信号包括触发帧并且具有测试器发射输出功率(TTOP)，其中该触发帧包括对应于以下的数据：该测试器数据分组信号的报告测试器发射功率(RTTP)，其中该RTTP和该TTOP不相等，以及将由该测试器从该DUT接收的DUT数据分组信号的期望接收信号强度(TRSS)；通过该DUT接收该测试器数据分组信号；通过该DUT发射具有RDTPn的DUT数据分组信号；通过确定对应于通过该测试器从该DUT接收的该RDTPn的IDTPn来通过该测试器对具有RDTPn的该DUT数据分组信号的接收作出响应；将该确定的IDTPn与RTTP-TTOP+TRSS进行比较；以及针对该TTOP、该RTTP和该TRSS的值的多个组合，重复该测试器数据分组信号的该发射和接收、该DUT数据分组信号的该发射和接收、IDTPn的该确定以及该确定的IDTPn的该比较。

附图说明

图1示出了根据示例性实施方案的用于测试数据分组信号收发器设备的有线或导电测试环境。

图2示出了根据示例性实施方案的用于测试数据分组信号收发器设备的无线或辐射测试环境。

图3示出了根据示例性实施方案的用于测试数据分组信号收发器设备的DUT对具有预定预期功率电平的多个数据分组的发射。

图4示出了图3的数据分组的预定预期功率电平和对应的接收功率电平的表。

图5示出了根据示例性实施方案的用于测试数据分组信号收发器设备的测试器与DUT之间的数据分组信号交换的示例性序列。

图6示出了来自DUT的理想和实际可用发射功率电平(最小值至最大值)的比较曲线图。

图6A定性地示出了根据两个示例性步长分辨率的响应于对应的预期或编程的DUT输出功率而产生的实际DUT输出功率的多个值。

图7示出了DUT的接收信号强度指示(RSSI)测量的理想和实际线性度的比较曲线图。

图8示出了根据示例性实施方案的用于测试数据分组信号收发器设备的测试器与DUT之间的数据分组信号交换的另一个示例性序列。

图9示出了图8的数据分组的预期功率电平和实际功率电平的表。

具体实施方式

以下详细描述是结合附图的受权利要求书保护的本发明的示例性实施方案。关于本发明的范围，此类描述旨在进行示例而非加以限制。对此类实施方案加以详尽的描述，以使得本领域的普通技术人员可以实践该主题发明，并且应当理解，在不脱离本主题发明的精神或范围的前提下，可以实践具有一些变化的其他实施方案。

在本发明全文中，在没有明确指示与语境相反的情况下，应当理解，该单独的电路元件可以是单数或复数。例如，术语“电路”以及“电路***”可以包括单个部件或多个部件，部件为有源的和/或无源的，并且连接或换句话讲耦合到一起(例如，成为一个或多个集成电路芯片)，以提供所描述的功能。另外，术语“信号”可指一个或多个电流、一个或多个电压或数据信号。在图中，相似或相关的元件将具有相似或相关的字母、数字或数字字母混合的指示。此外，虽然在使用分立的电子电路***(优选地为一个或多个集成电路芯片的形式)的具体实施的背景中讨论了本发明，但另选地取决于待处理的信号频率或数据速率，此类电路***的任何部分的功能可使用一个或多个适当编程的处理器来实施。此外，就示出各种实施方案的功能区块的示意图的图示来说，该功能区块未必表示硬件电路***之间的分区。

无线设备诸如蜂窝电话、智能电话、平板电脑等采用基于标准的技术，诸如IEEE802.11a/b/g/n/ac(“WiFi”)、3GPP LTE、蓝牙、Zigbee、Z-Wave等。构成这些技术之基础的标准被设计成提供可靠的无线连接和/或通信。这些标准规定了物理和更高层次的规范，这些规范通常被设计成节能并且最大程度降低使用与无线频谱相近的或共享无线频谱的相同或其他技术的设备之间的干扰。

这些标准所规定的测试意在确保此类设备被设计成符合标准所规定的规范，并且确保所制造的设备一直符合那些规定的规范。大多数设备为包含至少一个或多个接收器和一个或多个发射器的收发器。因此，测试旨在确认接收器和发射器是否均符合要求。DUT的接收器测试(RX测试)通常涉及发送测试分组到接收器的测试***(测试器)以及确定DUT接收器如何响应这些测试分组的某种方式。DUT的发射器测试(TX测试)通过使其发送分组到测试***来执行，该测试***随后可评估来自DUT的信号的各种物理特性。

无线设备诸如Wi-Fi、蓝牙、Zigbee和Z-Wave设备的测试已从测试器和DUT之间的频繁双向消息传递进展到不经常的消息传递，其中使用非链路测试方案在测试器和DUT之间执行和协调测试流程的主要部分，其中只有唯一的设备标识符和PHY的部分是有源的。然而，此类测试的结果通常会经由通信端口和通路从DUT传输至测试器，因为上一级的协议栈不是有源的，从而阻止数据轻易地在传输分组中被传输。因此，在DUT与测试器之间的唯一连接是传导信号路径或辐射信号路径并且交换的数据是经由数据分组进行交换的情况下，如果可能，DUT可能难以使用非链路测试方法向测试器传输测试结果。如下文更详细地描述，根据当前受权利要求书保护的本发明的示例性实施方案，可至少部分地通过在下层网络数据分组信号通信协议进行测试来执行RF数据分组收发器的测试。

参见图1，典型测试环境10a包括测试器12和DUT 16，其中测试数据分组信号2lt和DUT数据分组信号2ld作为经由传导信号路径20a在测试器12和DUT 16之间传送的RF信号进行交换，该传导信号路径通常为同轴RF电缆20c和RF信号连接器20tc、20dc的形式。如上所述，测试器通常包括信号源14g(例如，VSG)和信号分析仪14a(例如，VSA)。测试器12和DUT16还可包括关于预定测试序列的预加载信息，通常体现在测试器12内的固件14f和DUT 16内的固件18f中。这些固件14f、18f内关于预定测试流程的测试细节通常要求测试器12与DUT 16之间通常经由数据分组信号2lt、2ld的某种形式的显式同步。

另选地，测试可由控制器30控制，该控制器可内置于测试器12或者如这里所示外置(例如，本地或联网的编程个人计算机)。控制器30可经由一个或多个信号路径(例如，以太网布线、网络交换机和/或路由器等)3ld与DUT 16通信以传送命令和数据。如果置于测试器12外部，则控制器30还可经由一个或多个附加信号路径(例如，以太网布线、网络交换机和/或路由器等)3lt与测试器12通信，以传送附加命令和数据。

虽然控制器30和测试器12被描绘为单独的设备或***，但在以下讨论中对“测试器”的引用可包括如此处所描绘的单独的设备或***，并且还可包括其中上述控制器30和测试器12的功能和能力可共同位于共同硬件基础设施中的组合的设备或***。因此，除非另外特别要求或限制，否则对各种控制功能和/或命令的引用可被认为源自测试器12、控制器30或组合的测试器/控制器***(未示出)。类似地，命令、数据等的存储可被认为在测试器12、控制器30或组合的测试器/控制器***中进行，或者另选地，在如上所述的经由网络远程定位的存储器设备中进行。

参见图2，另选的测试环境10b使用无线信号路径20b，测试数据分组信号2lt和DUT数据分组信号21d可经由该无线信号路径通过测试器12和DUT 16的相应天线***20ta、20da通信。

如下文更详细讨论的，可有利地使用基于触发的测试(TBT)，其中测试器将包含触发帧的数据分组发送到DUT，由此致使DUT及时以经频率校正的信号回复。如本领域所熟知，根据IEEE 802.11规范集，触发帧可由STA设备(例如，测试环境中的DUT)的接入点(AP，例如，测试环境中的测试器)提供，并且包括关于来自模拟AP接入点的测试器的发射信号的各种类型的信息。例如，由测试器(例如，经由其VSG)发射的实际信号功率可与触发帧中包含的报告测试器功率电平信息分开控制，并且由此模拟不存在路径损耗。另外，期望的RSSI信息可包含在触发帧中，从而识别将由DUT在回复中发送的数据分组信号的强度。DUT可将路径损耗计算为测试器所报告的发射功率与DUT接收信号强度之间的功率差，并且然后将发射功率计算为期望RSSI(在测试器处)加上所计算的路径损耗。

然而，由测试器测量的发射功率受到两个误差的影响：预期发射功率与实际发射功率之间的差值，以及RSSI测量误差。如下文更详细地讨论，这可通过在TBT测试之前由DUT支持的多个TX功率的“强制”发射来补偿。通过使用MPS，预期TX功率可针对被选择用于发射的每个DUT TX功率是先验已知的，并且与在测试器处测量的对应实际接收的TX功率相关联。然后，可在此之后进行传统TBT测试，并且可根据所测量的发射功率确定由DUT选择的预期功率电平，由此使得能够计算DUT必须使用以选择所选的预期发射功率的RSSI(在DUT处)。这使得能够在不查询DUT的情况下确定(例如，推断)DUT RSSI。这可通过针对DUT中的不同RSSI电平重复TBT步骤，并且然后在验证期间扫描RSSI电平来进一步扩展。

例如，DUT的TX功率可针对已知数量的发射功率电平进行扫描和测量(例如，使用MPS)，之后进行针对待测试的不同RSSI电平的TBT测试，在此期间目标功率电平可保持固定或其可变化。保持固定目标功率(如测试器所接收的DUT TX信号的功率)使得能够重复使用测试数据分组(例如，通过改变VSG输出功率电平，由此有效地对DUT所看到的不同路径损耗建模)，但当扫描大RSSI范围时，其可限制DUT内的功率范围。如所指出的，一旦已识别出DUT所选择的TX功率电平，就可计算DUT内的对应RSSI。另选地，可在发射不同触发帧分组(例如，具有修改的报告VSG输出功率和目标测试器RSSI电平)的同时保持恒定VSG输出功率。

参见图3和图4，具有预定预期功率电平102i的多个数据分组信号(例如，每个数据分组根据期望或需要具有单个或多个数据分组)的序列102可由DUT发射并由测试器接收，以确定每次发射的对应实际功率电平102r。例如，MPS可首先用于确定测试器(例如，在VSA处)针对DUT内的给定TX功率设置测量的DUT TX功率。这可有利于验证DUT TX功率准确度。根据期望或需要，DUT可发射单个数据分组或多个数据分组(其数量通常将是先验已知的)，例如，从第一功率TX10(10dbm)开始，然后是一个或多个类似的数据分组发射，例如TX11、TX12、…、TX20。(出于该示例的目的，TX10、TX11、TX12、…、TX20分别指示+10dBm、+11dBm、+12dBm、…、+20dBm的预期功率电平102i，但可根据期望或需要使用其他功率范围。)

测试器(例如，VSA)测量每个发射信号的接收功率102r，并且创建如图所示的相应的对应预期功率电平102i和接收功率电平102r(例如，如由VSA测量)的表。例如，虽然DUTTX信号预期(例如，通过DUT发射器电路的设计)为15dBm，但VSA可将实际接收功率测量为14.5dBm。这些对应值可存储在存储器中(例如，本地存储在测试器内或远程存储在可经由网络访问的存储器内)以供稍后使用(如下所讨论)。然后DUT可被编程以用于在TBT模式下操作。

参见图5，可如图所示交换测试器数据分组信号序列202t和DUT数据分组信号序列202d的示例。这些示例展示了可如何使用不同的设置来将DUT TX功率间接控制为恒定的15dBm。可根据期望或需要使用其他电平和电平的组合。在任何情况下，可能期望保持一个参数恒定以使得能够检测影响性能特性的其他因素(例如，热变化等)。

在第一测试器序列203ta中，测试器可以-40dBm的测试器发射输出功率TTOP发射数据分组信号，其中触发帧包含识别+10dBm的报告测试器发射功率RTTP的数据，以及识别将由测试器接收的DUT数据分组信号的-35dBm的期望或预期的接收信号强度TRSS的数据。在第一DUT序列203da中，DUT将其接收信号强度DRSS确定为-40dBm并且如下计算感知路径损耗PPL：

PPL＝RTTP–DRSS＝+10dBm–(-40dBm)＝50dB

因此，在50dB路径损耗和测试器处的-35dBm的期望RSSI(在考虑到路径损耗之后)的情况下，DUT必须如下发射预期DUT发射功率IDTP：

IDTP＝TRSS+PPL＝-35dBm+50dB＝+15dBm

测试器捕获来自DUT的具有+14.4dBm的接收功率的响应数据分组信号，并且将此与+15dBm的其对应IDTP进行比较(图4)。因此，由于这是预期的，由DUT确定的RSSI被认为是准确的。

在下一个测试器序列203tb中，测试器可以-42dBm的测试器发射输出功率TTOP发射数据分组信号，其中触发帧包含识别+8dBm的报告测试器发射功率RTTP(例如，相对于+10dBm的先前TTOP)的数据，以及识别将由测试器接收的DUT数据分组信号的-35dBm的相同的期望或预期的接收信号强度TRSS的数据。在响应DUT序列203db中，DUT将其接收信号强度DRSS确定为-42dBm并且如下计算感知路径损耗PPL：

PPL＝RTTP–DRSS＝+8dBm–(-42dBm)＝50dB

因此，在50dB路径损耗和测试器处的-35dBm的期望RSSI(在考虑到路径损耗之后)的情况下，DUT必须再次发射+15dBm的预期DUT发射功率IDTP。因此，测试器捕获来自DUT的具有+14.4dBm的接收功率的响应数据分组信号，并且将此与+15dBm的其对应IDTP进行比较(图4)。再次，由于这是预期的，由DUT确定的RSSI被认为是准确的。

在第三测试器序列203tc中，测试器可以-44dBm的测试器发射输出功率TTOP发射数据分组信号，其中触发帧包含识别+10dBm(如在第一序列203ta中)的报告测试器发射功率RTTP的数据，以及识别将由测试器接收的DUT数据分组信号的-39dBm的相同的期望或预期的接收信号强度TRSS的数据。在响应DUT序列203dc中，DUT将其接收信号强度DRSS确定为-44dBm并且如下计算感知路径损耗PPL：

PPL＝RTTP–DRSS＝+10dBm–(-44dBm)＝54dB

因此，在54dB路径损耗和测试器处的-39dBm的期望RSSI(在考虑到路径损耗之后)的情况下，DUT必须再次发射+15dBm的预期DUT发射功率IDTP。因此，测试器捕获来自DUT的具有+14.4dBm的接收功率的响应数据分组信号，并且将此与+15dBm的其对应IDTP进行比较(图4)。再次，由于这是预期的，由DUT确定的RSSI被认为是准确的。

在最后测试器序列203td中，可检测到错误的DUT接收信号强度DRSS。例如，测试器可以-38dBm的测试器发射输出功率TTOP发射数据分组信号，其中触发帧包含识别+10dBm的报告测试器发射功率RTTP的数据，以及识别将由测试器接收的DUT数据分组信号的-33dBm的相同的期望或预期的接收信号强度TRSS的数据。在响应DUT序列203dc中，DUT将其接收信号强度DRSS确定为-39dBm(相对于发射的-38dBm)并且如下计算感知路径损耗PPL：

PPL＝RTTP–DRSS＝+10dBm–(-39dBm)＝49dB

因此，在49dB路径损耗和测试器处的-33dBm的期望RSSI(在考虑到路径损耗之后)的情况下，DUT必须如下发射预期DUT发射功率IDTP：

IDTP＝TRSS+PPL＝-33dBm+49dB＝+16dBm

测试器捕获来自DUT的具有+15.5dBm的接收功率的响应数据分组信号，并且将此与+16dBm的其对应IDTP进行比较(图4)。因此，由于这不是预期的，由DUT确定的RSSI被认为是错误的。

如本领域技术人员将容易理解的，可例如针对TTOP、RTTP和TRSS的值的各种组合来实践该过程的许多变型。例如，虽然DUT TX功率不一定保持恒定，但保持其恒定可有利地使得能够跟踪一阶效应诸如温度和温度补偿机制(例如，如果检测到DUT的TX功率由于增加的温度而降低，则DUT可被设计成增加其TX功率)。

参见图6，虽然DUT可被设计成提供某些发射信号性能特性302i，但其实际性能特性302r通常变化。例如，虽然DUT可被设计成理想地在线性范围303ic(从最小功率303ia到最大功率303ib)内提供发射功率电平，但其实际发射功率电平可替代地在非线性范围303ir(具有不同的最小功率303ir和最大功率303ir)内提供。

参见图6A，如将容易理解的，取决于如测试器指定用于由DUT产生的特定功率电平307、309，可能期望在测试期间指定和测量更大数量的功率电平。因此，为了确保例如在功率电平307b、307f下准确地确定最小实际功率电平303a和最大实际功率电平303b，其中功率随着其从可变功率303c转变到最小功率303a或最大功率303b而变得恒定，可能期望指定更大数量的功率步长。例如，可能优选的是，使用较小输入功率步长间隔303cib，该输入功率步长间隔导致对应的输出功率步长间隔303cob(如通过“正方形”指示的)，其不仅识别最小输出功率电平303a和最大输出功率电平303b初始出现时的功率电平307b、307f，而且还识别超过最小输出功率电平303a和最大输出功率电平303b保持恒定时的功率电平307a、307g。与此形成对比的是，如果使用较大输入功率步长间隔303cia，则对应较大输出功率步长间隔303coa(如通过“圆圈”指示的)可导致无法捕获最小输出功率电平303a和最大输出功率电平303b初始出现时的转变功率电平307b、307f。

参见图7，类似地，虽然DUT可被设计成提供某些接收信号性能特性，但其实际性能特性通常将变化。例如，虽然DUT可被设计成理想地在预期接收信号303ic的范围内线性确定接收信号强度305i，但其实际测量的接收信号强度305r可表现出非线性变化。

根据另外的示例性实施方案，基于触发的测试(TBT)可用于使得呈现给DUT的信息能够控制其行为并允许提取执行校准所需的参数(例如，微调校准的形式，因为通常将在设计和早期制造过程期间执行初始默认校准)。作为TBT的一部分，发送到DUT的分组可包括关于数据分组发射功率(例如，来自测试器)和期望RSSI(在测试器处)的信息。DUT可使用此来确定数据分组的源(测试器)与DUT之间的路径损耗(路径损耗＝数据分组的发射功率–DUT处的RSSI)，利用该路径损耗，DUT可选择适当的DUT TX功率以获得数据分组源处的期望RSSI(DUT TX功率＝测试器RSSI+路径损耗)。使用测试器作为源使得能够进行显著的控制。例如，简单地通过给定数据分组控制DUT的输入功率使得能够控制DUT TX功率。例如，如果相同数据分组以两个不同的测试器发射功率电平发送到DUT，则DUT应估计与两个测试器发射功率电平之间的差值一致的两个不同路径损耗，并且由于数据分组相同，因此所得的DUTTX功率电平理想地应为两个发送的数据分组之间的差值。类似地，实际测试器发射功率可保持恒定，同时改变测试器处的期望RSSI和/或报告测试器发射功率，并且由此致使DUT以不同的TX功率进行发射。

利用这些技术，DUT发射功率的线性度可通过保持RSSI对于DUT恒定(例如，通过使用来自测试器的恒定发射功率)来测量并且控制数据分组内容以致使DUT以不同功率电平进行发射，由此有效地扫描功率控制范围。假设支持的功率范围是已知的(例如，DUT限制其最小功率电平和最大功率电平)，则可确定电平，其中DUT停止校正其发射功率，由此显示出其内部TX值并且基本上使扫描曲线为绝对的。然后，在所使用的RSSI电平也是已知的情况下，并且所使用的TX功率步长是已知的，可确定由DUT测量的RSSI。这然后进一步使得能够扫描到DUT的RSSI输入电平，理想地通过控制数据分组内容来保持DUT TX功率恒定，以迫使DUT针对提供到DUT中的给定RSSI发射相同功率电平。另外，RSSI可以比DUT RSSI电平报告的能力更精细的增量步进以确定切换点的位置。执行完全RSSI扫描将使得能够基于与预期(“理想”)RSSI曲线的偏移来校正实际RSSI曲线。

参见图8和图9，可交换测试器数据分组信号序列402t和DUT数据分组信号序列402d的其他示例(例如，其中每个信号402t、402d根据期望或需要具有单个或多个数据分组)，其中预定预期功率电平402di由DUT发射并由测试器接收，以确定每次发射的对应实际功率电平402dr。例如，一旦确定了对应的预期和实际DUT TX功率电平的表(例如，类似于图4)，就可进行对应RSSI值的类似确定。(该示例在接近功率扫描结束时拾取，因此可在到达测试中的该点之前执行类似的测量。)

在第一测试器序列403ta中，在+17dBm的目标DUT TX功率的情况下，测试器可以-40dBm的测试器发射输出功率TTOP发射数据分组信号，其中触发帧包含识别+10dBm的报告测试器发射功率RTTP的数据，以及识别将由测试器接收的DUT数据分组信号的-33dBm的期望或预期的接收信号强度TRSS的数据。在第一DUT序列403da中，DUT错误地将其接收信号强度DRSS确定为-41dBm并且如下计算感知路径损耗PPL：

PPL＝RTTP–DRSS＝+10dBm–(-41dBm)＝51dB

因此，在错误的51dB路径损耗和测试器处的-33dBm的期望RSSI(在考虑到路径损耗之后)的情况下，DUT必须如下发射预期DUT发射功率IDTP：

IDTP＝TRSS+PPL＝-33dBm+51dB＝+18dBm

测试器(例如，VSA)捕获来自DUT的具有+19.0dBm的接收功率的响应数据分组信号，但无法确定DUT TX功率是否偏移2dB，或者RSSI是否偏移2dB，或者两者是否偏移某种其他组合(例如，每一者偏移1dB)。

在下一个测试器序列403tb中，在+18dBm的目标DUT TX功率的情况下，测试器保持-40dBm的恒定测试器发射输出功率TTOP，其中触发帧包含识别+10dBm的恒定报告测试器发射功率RTTP的数据，以及识别将由测试器接收的DUT数据分组信号的-32dBm的增加的期望或预期的接收信号强度TRSS的数据。在响应DUT序列403db中，DUT再次错误地将其接收信号强度DRSS确定为-41dBm并且再次错误地计算51dB的感知路径损耗PPL。因此，DUT确定其必须如下发射预期DUT发射功率IDTP：

IDTP＝TRSS+PPL＝-32dBm+51dB＝+19dBm

测试器捕获来自DUT的具有+20.0dBm的接收功率的响应数据分组信号，但误差源再次是未知的。

在第三测试器序列403tc中，在+18dBm的目标DUT TX功率的情况下，测试器保持-40dBm的恒定测试器发射输出功率TTOP，其中触发帧包含识别+10dBm的恒定报告测试器发射功率RTTP的数据，以及识别将由测试器接收的DUT数据分组信号的-31dBm的进一步增加的期望或预期的接收信号强度TRSS的数据。在响应DUT序列403dc中，DUT再次错误地将其接收信号强度DRSS确定为-41dBm并且再次错误地计算51dB的感知路径损耗PPL。因此，DUT确定其必须如下发射预期DUT发射功率IDTP：

IDTP＝TRSS+PPL＝-31dBm+51dB＝+20dBm

测试器捕获来自DUT的具有+20.8dBm的接收功率的响应数据分组信号。

在下一个测试器序列403td中，测试器保持-40dBm的恒定测试器发射输出功率TTOP，其中触发帧包含识别+10dBm的恒定报告测试器发射功率RTTP的数据，以及识别将由测试器接收的DUT数据分组信号的-30dBm的进一步增加的期望或预期的接收信号强度TRSS的数据。在响应DUT序列403dd中，DUT再次错误地将其接收信号强度DRSS确定为-41dBm并且再次错误地计算51dB的感知路径损耗PPL。因此，DUT确定其必须如下发射预期DUT发射功率IDTP：

IDTP＝TRSS+PPL＝-30dBm+51dB＝+21dBm

测试器再次捕获来自DUT的具有+20.8dBm的接收功率的响应数据分组信号。

在最后测试器序列403te中，在+20dBm的增加的目标DUT TX功率的情况下，测试器保持-40dBm的恒定测试器发射输出功率TTOP，其中触发帧包含识别+10dBm的恒定报告测试器发射功率RTTP的数据，以及识别将由测试器接收的DUT数据分组信号的-29dBm的进一步增加的期望的接收信号强度TRSS的数据。在响应DUT序列403de中，DUT再次错误地将其接收信号强度DRSS确定为-41dBm并且再次错误地计算51dB的感知路径损耗PPL。因此，DUT确定其必须如下发射预期DUT发射功率IDTP：

IDTP＝TRSS+PPL＝-29dBm+51dB＝+22dBm

测试器再次捕获来自DUT的具有+20.8dBm的接收功率的响应数据分组信号。

然而，由于已知DUT TX功率限于+20dBm的最大值，可以推断，在-31dBm的TRSS导致由DUT发射+20dBm的情况下，DRSS偏移1dB，因为DUT正在发射+20dBm并且由于DUT错误地计算51dB的路径损耗而必须这样做以决定+20dBm的DUT TX功率。因此，可导出对应的预期402di和接收的402dr DUT TX功率的表(图9)。

在不脱离本发明的范围和精神的前提下，本发明的结构和操作方法的各种其他修改和替代对本领域的技术人员将是显而易见的。虽然结合具体的优选实施方案对本发明进行了描述，但应当理解，受权利要求书保护的本发明不应不当地限于此类具体实施方案。其意图是，随附权利要求书限定本发明的范围，并且由此应当涵盖这些权利要求书以及其等同物的范围内的结构和方法。

Claims (17)

1.一种测试数据分组信号收发器被测设备(DUT)的接收性能的方法，包括：

通过测试器接收源自DUT的多个连续DUT数据分组信号，其中所述多个连续DUT数据分组信号中的每一者具有相应DUT发射功率(RDTPn)，所述相应DUT发射功率由所述测试器接收并且对应于多个预期DUT发射功率中的相应一者(IDTPn)，对于n＝1、…、m，其具有等于最小IDTP、或最大IDTP、或介于所述最小IDTP与所述最大IDTP之间的至少一个中间IDTP中的一者的功率；

通过所述测试器将每个RDTPn与其对应IDTPn相关联；

通过所述测试器对于所述DUT发射测试器数据分组信号，所述测试器数据分组信号包括触发帧并且具有测试器发射输出功率(TTOP)，其中所述触发帧包括对应于以下的数据

所述测试器数据分组信号的报告测试器发射功率(RTTP)，其中所述RTTP和所述TTOP不相等，以及

将由所述测试器从所述DUT接收的DUT数据分组信号的期望接收信号强度(TRSS)；

通过所述测试器从所述DUT接收具有RDTPn的DUT数据分组信号；

确定对应于通过所述测试器从所述DUT接收的所述RDTPn的IDTPn；

将所述确定的IDTPn与RTTP-TTOP+TRSS进行比较；以及

针对所述TTOP、所述RTTP和所述TRSS的值的多个组合，重复测试器数据分组信号的所述发射、DUT数据分组信号的所述接收、IDTPn的所述确定以及所述确定的IDTPn的所述比较。

2.根据权利要求1所述的方法，其中针对所述TTOP、所述RTTP和所述TRSS的值的多个组合，所述重复测试器数据分组信号的所述发射、DUT数据分组信号的所述接收、IDTPn的所述确定以及所述确定的IDTPn的所述比较包括重复针对所述RDTPn具有恒定值的DUT数据分组信号的所述接收。

3.根据权利要求1所述的方法，其中针对所述TTOP、所述RTTP和所述TRSS的值的多个组合，所述重复测试器数据分组信号的所述发射、DUT数据分组信号的所述接收、IDTPn的所述确定以及所述确定的IDTPn的所述比较包括重复针对所述RDTPn具有多个相互不同值的DUT数据分组信号的所述接收。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述通过所述测试器将每个RDTPn与其对应IDTPn相关联包括根据其对应IDTPn存储每个RDTPn。

5.根据权利要求1所述的方法，其中所述RTTP大于所述TTOP。

6.一种测试数据分组信号收发器被测设备(DUT)的接收性能的方法，包括：

通过DUT对于测试器发射多个连续DUT数据分组信号，其中所述多个连续DUT数据分组信号中的每一者具有相应DUT发射功率(RDTPn)，所述相应DUT发射功率用于由所述测试器接收并且对应于多个预期DUT发射功率中的相应一者(IDTPn)，对于n＝1、…、m，其具有等于最小IDTP、或最大IDTP、或介于所述最小IDTP与所述最大IDTP之间的至少一个中间IDTP中的一者的功率；

通过所述DUT从所述测试器接收测试器数据分组信号，所述测试器数据分组信号包括触发帧并且具有测试器发射输出功率(TTOP)，其中所述触发帧包括对应于以下的数据

所述测试器数据分组信号的报告测试器发射功率(RTTP)，其中所述RTTP和所述TTOP不相等，以及

将由所述测试器从所述DUT接收的DUT数据分组信号的期望接收信号强度(TRSS)；

通过所述DUT对于所述测试器发射具有RDTPn的DUT数据分组信号；以及

针对所述TTOP、所述RTTP和所述TRSS的值的多个组合，重复测试器数据分组信号的所述发射和DUT数据分组信号的所述接收。

7.根据权利要求6所述的方法，其中针对所述TTOP、所述RTTP和所述TRSS的值的多个组合，所述重复测试器数据分组信号的所述发射和DUT数据分组信号的所述接收包括重复针对所述RDTPn具有恒定值的DUT数据分组信号的所述接收。

8.根据权利要求6所述的方法，其中针对所述TTOP、所述RTTP和所述TRSS的值的多个组合，所述重复测试器数据分组信号的所述发射和DUT数据分组信号的所述接收包括重复针对所述RDTPn具有多个相互不同值的DUT数据分组信号的所述接收。

9.根据权利要求6所述的方法，其中所述RTTP大于所述TTOP。

10.根据权利要求6所述的方法，还包括通过根据其对应IDTPn存储每个RDTPn来通过所述测试器将每个RDTPn与其对应IDTPn相关联。

11.根据权利要求6所述的方法，还包括在所述通过所述DUT对于所述测试器发射具有RDTPn的DUT数据分组信号之后，确定对应于通过所述测试器从所述DUT接收的所述RDTPn的IDTPn。

12.根据权利要求6所述的方法，还包括将所述确定的IDTPn与RTTP-TTOP+TRSS进行比较。

13.一种测试数据分组信号收发器被测设备(DUT)的接收性能的方法，包括：

通过DUT发射多个连续DUT数据分组信号，其中所述多个连续DUT数据分组信号中的每一者具有相应DUT发射功率(RDTPn)，所述相应DUT发射功率由所述测试器接收并且对应于多个预期DUT发射功率中的相应一者(IDTPn)，对于n＝1、…、m，其具有等于最小IDTP、或最大IDTP、或介于所述最小IDTP与所述最大IDTP之间的至少一个中间IDTP中的一者的功率；

通过将每个RDTPn与其对应IDTPn相关联来通过测试器对所述多个连续DUT数据分组信号的接收作出响应；

通过所述测试器发射测试器数据分组信号，所述测试器数据分组信号包括触发帧并且具有测试器发射输出功率(TTOP)，其中所述触发帧包括对应于以下的数据

所述测试器数据分组信号的报告测试器发射功率(RTTP)，其中所述RTTP和所述TTOP不相等，以及

将由所述测试器从所述DUT接收的DUT数据分组信号的期望接收信号强度(TRSS)；

通过所述DUT接收所述测试器数据分组信号；

通过所述DUT发射具有RDTPn的DUT数据分组信号；

通过确定对应于通过所述测试器从所述DUT接收的所述RDTPn的IDTPn来通过所述测试器对具有RDTPn的所述DUT数据分组信号的接收作出响应；

将所述确定的IDTPn与RTTP-TTOP+TRSS进行比较；以及

针对所述TTOP、所述RTTP和所述TRSS的值的多个组合，重复所述测试器数据分组信号的所述发射和接收、所述DUT数据分组信号的所述发射和接收、IDTPn的所述确定以及所述确定的IDTPn的所述比较。

14.根据权利要求13所述的方法，其中针对所述TTOP、所述RTTP和所述TRSS的值的多个组合，所述重复所述测试器数据分组信号的所述发射和接收、所述DUT数据分组信号的所述发射和接收、IDTPn的所述确定以及所述确定的IDTPn的所述比较包括重复针对所述RDTPn具有恒定值的DUT数据分组信号的所述接收。

15.根据权利要求13所述的方法，其中针对所述TTOP、所述RTTP和所述TRSS的值的多个组合，所述重复所述测试器数据分组信号的所述发射和接收、所述DUT数据分组信号的所述发射和接收、IDTPn的所述确定以及所述确定的IDTPn的所述比较包括重复针对所述RDTPn具有多个相互不同值的DUT数据分组信号的所述接收。

16.根据权利要求13所述的方法，其中所述将每个RDTPn与其对应IDTPn相关联包括通过所述测试器根据其对应IDTPn存储每个RDTPn。

17.根据权利要求13所述的方法，其中所述RTTP大于所述TTOP。

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