CN113254285A - 复合式测试装置、设备接口测试的方法及*** - Google Patents

复合式测试装置、设备接口测试的方法及*** Download PDF

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Abstract

本发明提供一种复合式测试装置、设备接口测试的方法及***，其中，复合式测试装置包括：至少两个多选一选择器和至少两组控制测试模块，不同组的控制测试模块分别支持不同的测试用例，多选一选择器包括：一个第一接口和至少两个第二接口；在任一个多选一选择器中，第一接口与所述至少两个第二接口选择性通信连接，所述第一接口与待测设备的待测接口通信连接，所述至少两个第二接口分别与不同组的控制测试模块通信连接；其中，每组控制测试模块均包括至少一个用于提供测试用例的控制器；所述复合式测试装置用于在接收到切换指令时控制第一接口与所述至少两个第二接口的通信连接关系。本发明能够提高设备接口测试的效率。

Description

复合式测试装置、设备接口测试的方法及***
技术领域
本发明涉及电子设备兼容性测试技术领域，尤其涉及一种复合式测试装置、设备接口测试的方法及***。
背景技术
随着科技的快速发展，电子设备能够支持不同类型的接口协议，从而使得电子设备的接口能够支持多种功能。
以电子设备中的USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)接口为例，现有USB测试工具(MUTT)使用支持USB2.0协议的设备控制器，只支持LS(Low Speed，低速)、FS(FullSpeed，全速)和HS(High Speed，高速)的USB速度。超级USB测试工具(Super MUTT)则使用USB3.0协议的设备控制器，只支持HS和SS(Super Speed，超速)USB速度。而这两种设备控制器均不能完整地支持LS、FS、HS、SS和SSP(Super Speed Plus，超速升级版)USB速度，即不能只用其中一种设备控制器完成所有USB接口的兼容性测试，如此将会导致在进行xHCI兼容性测试时需要测试人员手动插拔不同的设备控制器，从而造成时间和人力浪费，且每种设备控制器只能连接一个待测设备的待测接口，降低了设备接口测试的效率。
发明内容
为解决上述问题，本发明提供的复合式测试装置、设备接口测试的方法及***，能够自动的完成待测接口在多个控制测试模块间进行切换，并能够使得多个待测接口同时进行测试，提高了待测接口的测试效率。
第一方面，本发明提供一种复合式测试装置，所述复合式测试装置包括：至少两个多选一选择器和至少两组控制测试模块，不同组的控制测试模块分别支持不同的测试用例，多选一选择器包括：一个第一接口和至少两个第二接口；
在任一个多选一选择器中，第一接口与所述至少两个第二接口选择性通信连接，所述第一接口用于与待测设备的待测接口通信连接，所述至少两个第二接口分别与不同组的控制测试模块通信连接；
其中，每组控制测试模块均包括至少一个用于提供测试用例的控制器；所述复合式测试装置用于在接收到切换指令时控制第一接口与所述至少两个第二接口的通信连接关系。
可选地，所述至少两组控制测试模块包括：LS控制器模块、FS控制器模块、HS控制器模块、SS控制器模块和SSP控制器模块中的至少两组。
可选地，所述复合式测试装置还包括：处理模块和多路复用控制模块；
所述处理模块与所述至少两组控制测试模块通信连接，所述多路复用控制模块与所述处理模块和所述至少两个多选一选择器通信连接；
所述处理模块用于通过所述多路复用控制模块控制第一接口与所述至少两个第二接口的通信连接关系。
可选地，所述复合式测试装置还包括：多路复用选择模块；
所述多路复用选择模块与所述多路复用控制模块和所述至少两个多选一选择器通信连接；
所述多路复用控制模块用于通过所述多路复用选择模块选择所述至少两个多选一选择器中的至少一个进行控制。
可选地，所述复合式测试装置还包括：存储模块；
所述存储模块与所述处理模块通信连接；
所述存储模块用于存储模式配置信息，以使所述处理模块根据模式配置信息控制第一接口与所述至少两个第二接口的通信连接关系。
第二方面，本发明提供一种设备接口测试的方法，基于上述任一项所述的复合式测试装置来实现，所述方法包括：
获取模式配置信息，所述模式配置信息包括：待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系；
根据所述模式配置信息，判断待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求；
若待测接口与所述当前控制器的通信连接关系满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，则控制所述当前控制器对所述待测接口进行当前控制器所对应的测试用例的测试；
若待测接口与所述当前控制器的通信连接关系不满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，则控制与待测接口相对应的多选一选择器切换所述控制测试模块，并控制切换后的控制测试模块中的当前控制器对所述待测接口进行切换后的当前控制器所对应的测试用例的测试；
其中，所述当前控制器为控制测试模块中与第一接口通信连接的控制器。
可选地，在根据所述模式配置信息，判断待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求之前，所述方法还包括：
将默认模式配置信息保存至所述复合式测试装置中；
触发所述复合式测试装置进行上电操作，以使所述复合式测试装置在进行上电操作的过程中，读取保存在所述复合式测试装置中的默认模式配置信息，并根据默认模式配置信息调整第一接口与第二接口的通信连接关系。
可选地，所述控制与待测接口相对应的多选一选择器切换所述控制测试模块，包括：
发送模式切换指令和新的模式配置信息至所述复合式测试装置，以使所述复合式测试装置将新的模式配置信息替代原保存在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息；
触发所述复合式测试装置进行上电操作，以使所述复合式测试装置读取保存在所述复合式测试装置中的模式配置信息，并使所述复合式测试装置根据保存的模式配置信息切换所述控制测试模块。
可选地，所述模式配置信息进一步包括：至少一个模式配置子信息；
每个模式配置子信息均包括一个待测接口与所述至少两组控制测试模块的通信连接关系；
所述根据所述模式配置信息，判断待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，包括：
根据所述模式配置子信息，判断每个待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求；
所述若待测接口与所述当前控制器的通信连接关系不满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，则控制与待测接口相对应的多选一选择器切换所述当前控制器，并控制切换后的当前控制器对所述待测接口进行切换后的当前控制器所对应的测试用例的测试，包括：
若存在至少一个待测接口与所述当前控制器的通信连接关系不满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，则控制与所述至少一个待测接口相对应的多选一选择器切换所述控制测试模块，并控制切换后的控制测试模块中的当前控制器对所述待测接口进行切换后的当前控制器所对应的测试用例的测试。
可选地，所述发送模式切换指令和新的模式配置信息至所述复合式测试装置，以使所述复合式测试装置将新的模式配置信息替代原保存在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息，包括：
发送模式切换指令和新的模式配置信息至所述复合式测试装置；以使所述复合式测试装置判断新的模式配置信息是否与原保持在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息相同；
若新的模式配置信息与原保持在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息不相同，则将新的模式配置信息替代原保存在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息。
第三方面，本发明提供一种设备接口测试的***，所述***应用于上述任一项所述的复合式测试装置；
所述***应用于软件模块，所述***包括：
获取模块，被配置为获取模式配置信息，所述模式配置信息包括：待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系；
判断模块，被配置为根据所述模式配置信息，判断待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求；
第一控制模块，被配置为若待测接口与所述当前控制器的通信连接关系满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，则控制所述当前控制器对所述待测接口进行当前控制器所对应的测试用例的测试；
第二控制模块，被配置为若待测接口与所述当前控制器的通信连接关系不满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，则控制与待测接口相对应的多选一选择器切换所述控制测试模块，并控制切换后的控制测试模块中的当前控制器对所述待测接口进行切换后的当前控制器所对应的测试用例的测试；
其中，所述当前控制器为控制测试模块中与第一接口通信连接的控制器。
可选地，所述***还包括：
保存模块，被配置为在根据所述模式配置信息，判断待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求之前，将默认模式配置信息保存至所述复合式装置中；
触发模块，被配置为触发所述复合式测试装置进行上电操作，以使所述复合式测试装置在进行上电操作的过程中，读取保存在所述复合式测试装置中的默认模式配置信息，并根据默认模式配置信息调整第一接口与第二接口的通信连接关系。
可选地，所述第二控制模块包括：
发送子模块，被配置为发送模式切换指令和新的模式配置信息至所述复合式测试装置，以使所述复合式测试装置将新的模式配置信息替代原保存在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息；
触发子模块，被配置为触发所述获取模块，以使所述复合式测试装置读取保存在所述复合式测试装置中的模式配置信息，并使所述复合式测试装置根据保存的模式配置信息切换所述控制测试模块。
可选地，所述模式配置信息进一步包括：至少一个模式配置子信息；
每个模式配置子信息均包括一个待测接口与所述至少两组控制测试模块的通信连接关系；
所述判断模块，进一步被配置为根据所述模式配置子信息，判断每个待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求；
所述第二控制模块，进一步被配置为若存在至少一个待测接口与所述当前控制器的通信连接关系不满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，则控制与所述至少一个待测接口相对应的多选一选择器切换所述控制测试模块，并控制切换后的控制测试模块中的当前控制器对所述待测接口进行切换后的当前控制器所对应的测试用例的测试。
可选地，所述发送子模块，包括：
发送单元，被配置为发送模式切换指令和新的模式配置信息至所述复合式测试装置；以使所述复合式测试装置判断新的模式配置信息是否与原保持在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息相同；
替代单元，被配置为若新的模式配置信息与原保持在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息不相同，则将新的模式配置信息替代原保存在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息。
本发明实施例提供的复合式测试装置、设备接口测试的方法及***，能够自动的完成待测接口在多个控制测试模块间进行切换，并能够使得多个待测接口同时进行测试，提高了待测接口的测试效率。
附图说明
图1为本申请一实施例的复合式测试装置使用状态下的示意性结构图；
图2为本申请一实施例的复合式测试装置使用状态下的示意性结构图；
图3为本申请一实施例为体现复合式测试装置的工作原理的示意性流程图；
图4为本申请一实施例的设备接口测试的方法的示意性流程图；
图5为本申请一实施例的设备接口测试的***的示意性结构图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
第一方面，本实施例提供一种复合式测试装置。所述复合式测试装置包括：至少两个多选一选择器、至少两组控制测试模块、处理模块、多路复用控制模块、多路复用选择模块和存储模块。
多选一选择器包括：一个第一接口和至少两个第二接口。在任一个多选一选择器中，第一接口与所述至少两个第二接口选择性通信连接，所述第一接口用于与待测设备的待测接口通信连接，所述至少两个第二接口分别与不同组的控制测试模块通信连接。其中，不同组的控制测试模块分别支持不同的测试用例，每组控制测试模块均包括至少一个用于提供测试用例的控制器。
除此之外，所述处理模块与所述至少两组控制测试模块通信连接，所述多路复用控制模块与所述处理模块和所述至少两个多选一选择器通信连接；所述处理模块用于通过所述多路复用控制模块控制第一接口与所述至少两个第二接口的通信连接关系。所述多路复用选择模块与所述多路复用控制模块和所述至少两个多选一选择器通信连接；所述多路复用控制模块用于通过所述多路复用选择模块选择所述至少两个多选一选择器中的至少一个进行控制。所述存储模块与所述处理模块通信连接；所述存储模块用于存储模式配置信息，以使所述处理模块根据模式配置信息控制第一接口与所述至少两个第二接口的通信连接关系。
进一步的，所述至少两组控制测试模块包括：LS控制器模块、FS控制器模块、HS控制器模块、SS控制器模块和SSP控制器模块中的至少两组。
在本实施例中，处理模块为中央处理器；多路复用控制模块为MUX(多路复用)控制器；多路复用选择模块为MUX选择器；存储模块包括：Nand(计算机闪存设备)存储器和RAM(随机存取存储器)。
结合图1和图2，所述复合式测试装置包括：一个中央处理器、一个MUX控制器、一个MUX选择器、一个Nand存储器、一个RAM、四个多选一选择器和五组控制测试模块。
其中，MUX控制器、Nand存储器、RAM和五组控制测试模块均与中央处理器通信连接；MUX控制器通过MUX选择器与四个多选一选择器通信连接，以使所有的第二接口与所有的控制测试模块形成多对多的矩阵互联；四个多选一选择器均包括：一个第一接口和五个第二接口。在任一个多选一选择器中，第一接口与五个第二接口选择性通信连接，所述第一接口用于与待测设备的待测接口通信连接，每个第二接口分别与不同组的控制测试模块通信连接。
进一步的，中央处理器用于对其他器件进行数据传递和控制；RAM用于为该复合式测试装置中的固件程序运行提供空间；Nand存储器用于存储模式配置信息，所述模式配置信息包括：待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系；MUX控制器用于通过中央处理器读取Nand存储器中的模式配置信息，同时MUX控制器还用于在中央处理器的控制下，通过MUX选择器对四个多选一选择器中的第一接口和第二接口的连通关系进行控制；不同组的控制测试模块分别用于支持不同的测试用例，每组控制测试模块均包括至少一个用于提供测试用例的控制器。
在本实施例中，五组控制测试模块包括：LS控制器模块、FS控制器模块、HS控制器模块、SS控制器模块和SSP控制器模块。LS控制器模块包括多个LS控制器，在本实施例中，LS控制器模块包括三个LS控制器，三个LS控制器均用于向待测接口提供LS测试用例；FS控制器模块包括多个FS控制器，在本实施例中，FS控制器模块包括三个FS控制器，三个FS控制器均用于向待测接口提供FS测试用例；HS控制器模块包括多个HS控制器，在本实施例中，HS控制器模块包括三个HS控制器，三个HS控制器均用于向待测接口提供HS测试用例；SS控制器模块包括多个SS控制器，在本实施例中，SS控制器模块包括三个SS控制器，三个SS控制器均用于向待测接口提供SS测试用例；SSP控制器模块包括多个SSP控制器，在本实施例中，SSP控制器模块包括三个SSP控制器，三个SSP控制器均用于向待测接口提供SSP测试用例。
进一步的，在本实施例中，五个控制测试模块分别提供一个选择接口；每个控制测试模块中的控制器均与相应的选择接口通信连接；同时，五个选择接口作为用于与四个多选一选择器进行共享使用的第二接口，与五个第一接口选择性通信连接。通过设置选择接口能够降低控制测试模块与多选一选择器连接的复杂程度，从而提高了复合式测试装置测试效率。
该复合式测试装置用于对USB主机上的一个或多个xHCI(Extensive HostController Interface，扩展的主机控制器接口)控制器中的USB接口进行速度兼容性的测试。其中，每个xHCI控制器包括一个或多个待测接口。在本实施例中，待测设备即为USB主机，待测接口即为USB接口。
进一步的，所述复合式测试装置可与软件模块或逻辑控制器件模块通信连接。其中，软件模块和逻辑控制器件模块均可以实现本发明中对所述复合式测试装置进行的动态操作；所述逻辑控制器件包括：FPGA(Field Programmable Gate Array，现场可编程逻辑门阵列)或CPLD(Complex Programming logic device，复杂可编程逻辑器件)。在本实施例中，以所述复合式测试装置与软件模块通信连接为例。
具体的，软件模块内部设置有测试软件，所述软件模块用于根据预先设定的模式配置信息，判断USB接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，并在不满足相应测试需求时，给该复合式测试装置发送切换指令和相应的模式配置信息，以使该复合式测试装置根据切换指令和相应的模式配置信息，控制与相应USB接口连接的多选一选择器进行接口切换，以使重新与USB接口连通的控制器所对应的测试用例的测试需求，与USB接口相匹配。其中，当前控制器为控制测试模块中与第一接口通信连接的控制器，当前控制器包括一个或多个控制器；软件模块配置在待测设备内。在本实施例中，软件模块配置在USB主机内；所述第一接口与USB主机上任意四个USB接口通信连接，所述第一接口通过相应的USB接口接收由软件模块发出的切换指令和相应的模式配置信息。
进一步的，每个控制器上均包括：一个PHY(Physical，端口物理层)和多个可编程的USB端点控制器。端点0(EP0)作为USB端点控制器中只支持控制传输的端点，用于响应待测设备的标准请求命令，以及特殊定义的用于控制设备工作模式的请求命令，包括：切换指令和模式配置信息。USB端点控制器中其余的每一个端点均是可编程的，支持中断传输、bulk传输、同步传输，可由软件模块自定义为某一种传输类型。每当正在工作的控制测试模块接收到待测设备发送的包含有切换指令和模式配置信息的传输请求时，会将此传输请求以中断的形式通知中央处理器，由中央处理器控制复合测试装置中的器件进行相应的响应。
结合图3，该复合式测试装置的工作原理如下：
复合式测试装置在启用的开始，中央处理器会根据存储在Nand存储器中指定区域的默认模式配置信息，对四个多选一选择器进行初始化处理，即将四个多选一选择器中的每个第一接口通过指定的第二接口与相应的控制测试模块通信连接；由软件模块判断USB接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求；在由软件模块判断出USB接口与所述控制测试模块的通信连接关系不满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求时，该复合式测试装置通过相应的多选一选择器的第一接口接收切换指令和相应的模式配置信息，并将接收到的切换指令和相应的模式配置信息通过端点0发送至中央处理器；中央处理器在接收到切换指令和相应的模式配置信息时，将相应的模式配置信息存储到Nand存储器中的指定区域，并触发该复合式测试装置进行上电操作；在该复合式测试装置进行上电操作的过程中，中央处理器读取存储在Nand存储器的指定区域的模式配置信息，并根据读取到的模式配置信息控制MUX控制器通过MUX选择器对相应的多选一选择器中的第一接口和第二接口的连通关系进行控制，以使第一接口通过切换与其连接的第二接口，使得相应的USB接口和能够提供与其测试需求相匹配的控制器进行通信连接，并由中央处理器控制所述当前控制器对所述USB接口进行当前控制器所对应的测试用例的测试；在由软件模块判断出USB接口与所述控制测试模块的通信连接关系满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求时，同样由中央处理器控制所述当前控制器对所述USB接口进行当前控制器所对应的测试用例的测试。在中央处理器控制所述当前控制器对所述USB接口完成当前控制器所对应的测试用例的测试后，继续由软件模块判断USB接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，直至所有的USB接口均完成了相应的测试。如此该复合式测试装置则能够完成对一个或多个USB接口进行多种测试用例的测试。
其中，该复合式测试装置的启用可以由操作人员手动操作，以完成相应的上电操作；而在之后的中央处理器在接收到切换指令和相应的模式配置信息时进行的上电操作，则是由软件模块控制中央处理器自动完成的。
该复合式测试装置支持多个USB速度，通过增加多个多选一选择器，可将多个USB主机上的xHCI控制器映射到相应的第一接口上，也可将一个USB主机上的多个xHCI控制器映射到相应的第一接口上，且每一个第一接口在每次配置后只会与一个xHCI控制器进行连接。本实施例以一个USB主机上的多个xHCI控制器映射到相应的第一接口上为例，该复合式测试装置最终可使一个USB主机同时提供多个待测接口，且每一个待测接口都可以工作在不同速度、不同传输类型下。进而使得该复合式测试装置能够同时对多个待测接口进行测试，并且能够自动为待测接口提供不同测试功能的测试用例，从而减少了测试时间，降低了测试成本，提高了对待测接口进行测试的效率。
第二方面，本实施例提供一种设备接口测试的方法，结合图4，所述方法基于第一方面中的复合式测试装置来实现。
所述方法应用于软件模块，所述方法包括步骤S101至步骤S104，具体如下：
步骤S101：获取模式配置信息，所述模式配置信息包括：待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系。
在本实施例中，所述模式配置信息是由设计人员预先设置完成的，并存储于软件模块中。其中，模式配置信息具体限定了每个待测接口需要与哪些测试用例完成测试，并限定了每种测试用例需要进行对相应待测接口进行测试的次数。例如，模式配置信息限定了待测接口1需要与LS控制器模块、FS控制器模块和HS控制器模块所提供的测试用例进行测试，且每种测试用例需要对待测接口1进行三次测试；同时模式配置信息还限定了待测接口2需要与HS控制器模块、SS控制器模块和SSP控制器模块所提供的测试用例进行测试，且每种测试用例需要对待测接口2进行五次测试。
步骤S102：根据所述模式配置信息，判断待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求。
其中，测试用例的测试需求包括：测试用例的所需的硬件环境。通过模式配置信息能够判断出当前控制器是否为对应的待测接口所需要进行测试的控制器，或者当前控制器中的测试用例是否已经完成了对对应的待测接口的测试，从而能够使复合式测试装置自动进行当前控制器的切换。
在一种可选的实施例中，在根据所述模式配置信息，判断待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求之前，所述方法还包括：将默认模式配置信息保存至所述复合式测试装置中；通过切换指令触发所述复合式测试装置进行上电操作，以使所述复合式测试装置在进行上电操作的过程中，读取保存在所述复合式测试装置中的默认模式配置信息，并根据默认模式配置信息调整第一接口与第二接口的通信连接关系。
通过在复合式测试装置对待测接口进行测试之前，根据默认模式配置信息调整第一接口与第二接口的连接关系；如此能够使得复合式测试装置在使用前可以满足一般的待测设备上的绝大多数待测接口对测试用例的初始测试需求，从而在复合式测试装置对待测接口进行测试时，只需要对部分多选一控制器进行切换控制即可，不但能够减少功耗，同时还能够提高测试的效率。
步骤S103：若待测接口与所述当前控制器的通信连接关系满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，则控制所述当前控制器对所述待测接口进行当前控制器所对应的测试用例的测试。
步骤S104：若待测接口与所述当前控制器的通信连接关系不满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，则控制与待测接口相对应的多选一选择器切换所述控制测试模块，并控制切换后的控制测试模块中的当前控制器对所述待测接口进行切换后的当前控制器所对应的测试用例的测试。
在一种可选的实施例中，所述控制与待测接口相对应的多选一选择器切换所述控制测试模块，包括：发送模式切换指令和新的模式配置信息至所述复合式测试装置，以使所述复合式测试装置将新的模式配置信息替代原保存在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息；触发所述复合式测试装置进行上电操作，以使所述复合式测试装置读取保存在所述复合式测试装置中的模式配置信息，并使所述复合式测试装置根据保存的模式配置信息切换所述控制测试模块。
在当前控制器不是对应的待测接口所需要进行测试的控制器的情况下，或者在当前控制器中的测试用例已经完成了对对应的待测接口的测试的情况下，软件模块能够通过向复合式测试装置发送模式切换指令和新的模式配置信息，从而将新的模式配置信息保存至Nand存储器的指定区域，并触发该复合式测试装置进行上电操作，进而使得复合式测试装置根据新的模式配置信息对第一接口与第二接口的连通关系进行调整，实现了复合式测试装置在对多个待测接口进行测试的同时，还能够自动为待测接口提供不同测试功能的测试用例，从而减少了测试时间，降低了测试成本，提高了对待测接口进行测试的效率。
在一种可选的实施例中，所述模式配置信息进一步包括：至少一个模式配置子信息。每个模式配置子信息均包括一个待测接口与所述至少两组控制测试模块的通信连接关系。即模式配置子信息与待测接口一一对应，每个模式配置子信息包括了一个待测接口在通过该复合式测试装置进行测试所需要的测试用例的信息。
在此基础上，所述根据所述模式配置信息，判断待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，包括：根据所述模式配置子信息，判断每个待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求；
所述若待测接口与所述当前控制器的通信连接关系不满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，则控制与待测接口相对应的多选一选择器切换所述当前控制器，并控制切换后的当前控制器对所述待测接口进行切换后的当前控制器所对应的测试用例的测试，包括：若存在至少一个待测接口与所述当前控制器的通信连接关系不满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，则控制与所述至少一个待测接口相对应的多选一选择器切换所述控制测试模块，并控制切换后的控制测试模块中的当前控制器对所述待测接口进行切换后的当前控制器所对应的测试用例的测试。
通过针对每个待测接口，将模式配置信息分为多个独立的模式配置子信息，如此在任意一个或多个待测接口先于其他待测接口完成一个控制器的测试时，能够单独的进行控制器的切换，从而无需等待其他的待测接口均完成相应的控制器的测试，即可提前进行切换，进而能够进一步提高测试的效率。
在一种可选的实施例中，所述发送模式切换指令和新的模式配置信息至所述复合式测试装置，以使所述复合式测试装置将新的模式配置信息替代原保存在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息，包括：
发送模式切换指令和新的模式配置信息至所述复合式测试装置；以使所述复合式测试装置判断新的模式配置信息是否与原保持在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息相同；
若新的模式配置信息与原保持在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息不相同，则将新的模式配置信息替代原保存在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息；若新的模式配置信息与原保持在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息相同，则中断对应待测接口的测试，并触发报警模块。
通过在复合测试装置判断新的模式配置信息是否与原保持在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息相同，能够在对待测接口进行切换操作之前进行二次判断，从而保证了软件模块执行根据所述模式配置信息，判断待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求的步骤的准确性，进而能够避免软件模块判断失误的情况发生，提高了测试的稳定性和准确性。
在一种可选的实施例中，所述方法还包括：记录当前控制器对待测接口的测试日志和测试结果；根据模式配置信息，在待测接口完成相应的所有测试用例的测试后，结束对待测接口的测试。其中，通过记录当前控制器对待测接口的测试日志和测试结果，能够便于后期根据测试日志和测试结果，评估待测设备的性能，同时还便于对待测接口的维护。
第三方面，本发明提供一种设备接口测试的设备接口测试的***200，结合图5，所述设备接口测试的***200应用于上述的复合式测试装置。
所述设备接口测试的***200应用于软件模块，所述设备接口测试的***200包括：
获取模块201，被配置为获取模式配置信息；
判断模块202，被配置为根据所述模式配置信息，判断待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求；
第一控制模块203，被配置为若待测接口与所述当前控制器的通信连接关系满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，则控制所述当前控制器对所述待测接口进行当前控制器所对应的测试用例的测试；
第二控制模块204，被配置为若待测接口与所述当前控制器的通信连接关系不满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，则控制与待测接口相对应的多选一选择器切换所述控制测试模块，并控制切换后的控制测试模块中的当前控制器对所述待测接口进行切换后的当前控制器所对应的测试用例的测试。
其中，当前控制器为控制测试模块中与第一接口通信连接的控制器。
在一种可选的实施例中，所述设备接口测试的***200还包括：
保存模块，被配置为在根据所述模式配置信息，判断待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求之前，将默认模式配置信息保存至所述复合式装置中；
触发模块，被配置为触发所述复合式测试装置进行上电操作，以使所述复合式测试装置在进行上电操作的过程中，读取保存在所述复合式测试装置中的默认模式配置信息，并根据默认模式配置信息调整第一接口与第二接口的通信连接关系。
在一种可选的实施例中，所述第二控制模块204包括：
发送子模块，被配置为发送模式切换指令和新的模式配置信息至所述复合式测试装置，以使所述复合式测试装置将新的模式配置信息替代原保存在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息；
触发子模块，被配置为触发所述获取模块，以使所述复合式测试装置读取保存在所述复合式测试装置中的模式配置信息，并使所述复合式测试装置根据保存的模式配置信息切换所述控制测试模块。
在一种可选的实施例中，所述模式配置信息进一步包括：至少一个模式配置子信息；
每个模式配置子信息均包括一个待测接口与所述至少两组控制测试模块的通信连接关系；
所述判断模块202，进一步被配置为根据所述模式配置子信息，判断每个待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求；
所述第二控制模块204，进一步被配置为若存在至少一个待测接口与所述当前控制器的通信连接关系不满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，则控制与所述至少一个待测接口相对应的多选一选择器切换所述控制测试模块，并控制切换后的控制测试模块中的当前控制器对所述待测接口进行切换后的当前控制器所对应的测试用例的测试。
在一种可选的实施例中，所述发送子模块，包括：
发送单元，被配置为发送模式切换指令和新的模式配置信息至所述复合式测试装置；以使所述复合式测试装置判断新的模式配置信息是否与原保持在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息相同；
替代单元，被配置为若新的模式配置信息与原保持在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息不相同，则将新的模式配置信息替代原保存在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息。
在一种可选的实施例中，所述设备接口测试的***200还包括：记录模块、被配置为记录当前控制器对待测接口的测试日志和测试结果。
该设备接口测试的***200可以用于对USB主机控制器进行测试，一个设备接口测试的***200就能完成多种USB速度的兼容性测试，且多个第一接口可以同时工作，即可以同时测试多个USB主机接口或主机控制器。软件模块通过相应的控制命令配置待测设备中的每一个待测接口的速度和传输类型，即软件模块通过相应的控制命令配置待测设备中的每一个待测接口的模式配置子信息。测试过程中不再需要手动多次进行插拔，从而在芯片设计中提高了芯片的验证效率，减少了人力成本。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。

Claims (13)

1.一种复合式测试装置，其特征在于，所述复合式测试装置包括：至少两个多选一选择器和至少两组控制测试模块，不同组的控制测试模块分别支持不同的测试用例，多选一选择器包括：一个第一接口和至少两个第二接口；
在任一个多选一选择器中，第一接口与所述至少两个第二接口选择性通信连接，所述第一接口用于与待测设备的待测接口通信连接，所述至少两个第二接口分别与不同组的控制测试模块通信连接；
其中，每组控制测试模块均包括至少一个用于提供测试用例的控制器；所述复合式测试装置用于在接收到切换指令时控制第一接口与所述至少两个第二接口的通信连接关系。
2.根据权利要求1所述的复合式测试装置，其特征在于，所述至少两组控制测试模块包括：LS控制器模块、FS控制器模块、HS控制器模块、SS控制器模块和SSP控制器模块中的至少两组。
3.根据权利要求1所述的复合式测试装置，其特征在于，所述复合式测试装置还包括：处理模块和多路复用控制模块；
所述处理模块与所述至少两组控制测试模块通信连接，所述多路复用控制模块与所述处理模块和所述至少两个多选一选择器通信连接；
所述处理模块用于通过所述多路复用控制模块控制第一接口与所述至少两个第二接口的通信连接关系。
4.根据权利要求3所述的复合式测试装置，其特征在于，所述复合式测试装置还包括：多路复用选择模块；
所述多路复用选择模块与所述多路复用控制模块和所述至少两个多选一选择器通信连接；
所述多路复用控制模块用于通过所述多路复用选择模块选择所述至少两个多选一选择器中的至少一个进行控制。
5.根据权利要求3所述的复合式测试装置，其特征在于，所述复合式测试装置还包括：存储模块；
所述存储模块与所述处理模块通信连接；
所述存储模块用于存储模式配置信息，以使所述处理模块根据模式配置信息控制第一接口与所述至少两个第二接口的通信连接关系。
6.一种设备接口测试的方法，其特征在于，基于权利要求1至5任一项所述的复合式测试装置来实现，所述方法包括：
获取模式配置信息，所述模式配置信息包括：待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系；
根据所述模式配置信息，判断待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求；
若待测接口与所述当前控制器的通信连接关系满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，则控制所述当前控制器对所述待测接口进行当前控制器所对应的测试用例的测试；
若待测接口与所述当前控制器的通信连接关系不满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，则控制与待测接口相对应的多选一选择器切换所述控制测试模块，并控制切换后的控制测试模块中的当前控制器对所述待测接口进行切换后的当前控制器所对应的测试用例的测试；
其中，所述当前控制器为控制测试模块中与第一接口通信连接的控制器。
7.根据权利要求6所述的设备接口测试的方法，其特征在于，在根据所述模式配置信息，判断待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求之前，所述方法还包括：
将默认模式配置信息保存至所述复合式测试装置中；
触发所述复合式测试装置进行上电操作，以使所述复合式测试装置在进行上电操作的过程中，读取保存在所述复合式测试装置中的默认模式配置信息，并根据默认模式配置信息调整第一接口与第二接口的通信连接关系。
8.根据权利要求7所述的设备接口测试的方法，其特征在于，所述控制与待测接口相对应的多选一选择器切换所述控制测试模块，包括：
发送模式切换指令和新的模式配置信息至所述复合式测试装置，以使所述复合式测试装置将新的模式配置信息替代原保存在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息；
触发所述复合式测试装置进行上电操作，以使所述复合式测试装置读取保存在所述复合式测试装置中的模式配置信息，并使所述复合式测试装置根据保存的模式配置信息切换所述控制测试模块。
9.根据权利要求6所述的设备接口测试的方法，其特征在于，所述模式配置信息进一步包括：至少一个模式配置子信息；
每个模式配置子信息均包括一个待测接口与所述至少两组控制测试模块的通信连接关系；
所述根据所述模式配置信息，判断待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，包括：
根据所述模式配置子信息，判断每个待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求；
所述若待测接口与所述当前控制器的通信连接关系不满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，则控制与待测接口相对应的多选一选择器切换所述当前控制器，并控制切换后的当前控制器对所述待测接口进行切换后的当前控制器所对应的测试用例的测试，包括：
若存在至少一个待测接口与所述当前控制器的通信连接关系不满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，则控制与所述至少一个待测接口相对应的多选一选择器切换所述控制测试模块，并控制切换后的控制测试模块中的当前控制器对所述待测接口进行切换后的当前控制器所对应的测试用例的测试。
10.一种设备接口测试的***，其特征在于，所述***应用于权利要求1至5任一项所述的复合式测试装置；
所述***包括：
获取模块，被配置为获取模式配置信息，所述模式配置信息包括：待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系；
判断模块，被配置为根据所述模式配置信息，判断待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求；
第一控制模块，被配置为若待测接口与所述当前控制器的通信连接关系满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，则控制所述当前控制器对所述待测接口进行当前控制器所对应的测试用例的测试；
第二控制模块，被配置为若待测接口与所述当前控制器的通信连接关系不满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，则控制与待测接口相对应的多选一选择器切换所述控制测试模块，并控制切换后的控制测试模块中的当前控制器对所述待测接口进行切换后的当前控制器所对应的测试用例的测试；
其中，所述当前控制器为控制测试模块中与第一接口通信连接的控制器。
11.根据权利要求10所述的设备接口测试的***，其特征在于，所述***还包括：
保存模块，被配置为在根据所述模式配置信息，判断待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求之前，将默认模式配置信息保存至所述复合式装置中；
触发模块，被配置为触发所述复合式测试装置进行上电操作，以使所述复合式测试装置在进行上电操作的过程中，读取保存在所述复合式测试装置中的默认模式配置信息，并根据默认模式配置信息调整第一接口与第二接口的通信连接关系。
12.根据权利要求11所述的设备接口测试的***，其特征在于，所述第二控制模块包括：
发送子模块，被配置为发送模式切换指令和新的模式配置信息至所述复合式测试装置，以使所述复合式测试装置将新的模式配置信息替代原保存在所述复合式测试装置中的模式配置信息或默认模式配置信息；
触发子模块，被配置为触发所述获取模块，以使所述复合式测试装置读取保存在所述复合式测试装置中的模式配置信息，并使所述复合式测试装置根据保存的模式配置信息切换所述控制测试模块。
13.根据权利要求10所述的设备接口测试的***，其特征在于，所述模式配置信息进一步包括：至少一个模式配置子信息；
每个模式配置子信息均包括一个待测接口与所述至少两组控制测试模块的通信连接关系；
所述判断模块，进一步被配置为根据所述模式配置子信息，判断每个待测接口与所述控制测试模块的通信连接关系是否满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求；
所述第二控制模块，进一步被配置为若存在至少一个待测接口与所述当前控制器的通信连接关系不满足当前控制器所对应的测试用例的测试需求，则控制与所述至少一个待测接口相对应的多选一选择器切换所述控制测试模块，并控制切换后的控制测试模块中的当前控制器对所述待测接口进行切换后的当前控制器所对应的测试用例的测试。
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2909278Y (zh) * 2005-05-09 2007-06-06 明基电通股份有限公司 可同时测试多个待测物的装置
CN103577293A (zh) * 2012-07-31 2014-02-12 广达电脑股份有限公司 复合功能接口测试***及方法
US20140280960A1 (en) * 2013-03-15 2014-09-18 Apple, Inc. Methods and apparatus for dynamically allocating devices between multiple controllers
CN106844268A (zh) * 2017-02-15 2017-06-13 深圳怡化电脑股份有限公司 一种usb设备测试***、测试方法及测试装置
CN206920530U (zh) * 2017-06-05 2018-01-23 广州视源电子科技股份有限公司 一种usb端口测试***
CN213122241U (zh) * 2020-09-18 2021-05-04 苏州物明科技有限公司 一种用于usb3.0接口测试的自动化测试***

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2909278Y (zh) * 2005-05-09 2007-06-06 明基电通股份有限公司 可同时测试多个待测物的装置
CN103577293A (zh) * 2012-07-31 2014-02-12 广达电脑股份有限公司 复合功能接口测试***及方法
US20140280960A1 (en) * 2013-03-15 2014-09-18 Apple, Inc. Methods and apparatus for dynamically allocating devices between multiple controllers
CN106844268A (zh) * 2017-02-15 2017-06-13 深圳怡化电脑股份有限公司 一种usb设备测试***、测试方法及测试装置
CN206920530U (zh) * 2017-06-05 2018-01-23 广州视源电子科技股份有限公司 一种usb端口测试***
CN213122241U (zh) * 2020-09-18 2021-05-04 苏州物明科技有限公司 一种用于usb3.0接口测试的自动化测试***

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